JP2005351684A - 検査用受光装置 - Google Patents

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和利 高橋
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Abstract

【課題】 被検査物からの反射光、又は被検査物を透過した透過光の入射位置による光量レベルの変動をなくして、検査精度を向上することができる、検査用受光装置を提供する。
【解決手段】 光が照射される被検査物の線状の検査位置に対向して線状に延在する受光面25を含み、受光面25の延在方向に延在する棒状の導光部材24と、導光部材24の外周面24sに沿って間隔を設けて配置され、導光部材24に対向する面26aが拡散反射面である第1の拡散反射部材26と、導光部材24の延在方向の少なくとも一方側の端面24bに対向して配置され、端面24bから出射した光を検出する光検出器30とを備える。
【選択図】図4

Description

本発明は検査用受光装置に関する。
従来、紙、プラスチック、金属などの被検査物の表面に、小さなスポットに集光したレーザビームを移動させながら照射し、被検査物の表面からの反射光(又は、被検査物の内部を透過した透過光)を受光して、表面や内部の傷、ピンホールなどの欠陥を検出する表面検査装置(又は、内部欠陥検査装置)において、反射光(又は、透過光)の受光面は、レーザビームの走査方向に対応して連続的な形状に形成されている。
すなわち、どの照射位置からの反射光(又は、透過光)も受光面で受光し、受光した光を光検出器に導くようになっている。例えば、多数本の光ファイバの一端を受光面として所定形状に束ね、他端に光検出器を配置したり、棒状のライトガイドの外周面で反射光を受光し、ライトガイドの端面に光検出器を配置したりしている(例えば、特許文献1参照)。
特開平5−340743号公報
光ファイバを束ねた場合、光ファイバの隙間では反射光が受光されない上、光ファイバへの入射位置によっても光伝達率が異なるため、レーザビームの走査に伴って光検出信号が変動する位相ノイズが発生する。そのため、微小な欠陥を高精度で検査することは困難である。
ライトガイドの場合には、光ファイバを束ねた場合のような位相ノイズはないが、反射光の入射位置によって、光検出器で受光する光量レベルが変わり、検出感度に差が生じる。このような感度差は、検査精度をさらに向上する際に障害となる。
本発明は、かかる実情に鑑み、被検査物からの反射光、又は被検査物を透過した透過光の入射位置による光量レベルの変動をなくして、検査精度を向上することができる、検査用受光装置を提供しようとするものである。
本発明は、上記課題を解決するため、以下のように構成した検査用受光装置を提供する。
検査用受光装置は、光が照射される被検査物の線状の検査位置に対向して線状に延在する受光面を有し、該受光面から入射した光を検出するタイプのものである。検査用受光装置は、上記受光面を含み、上記受光面の延在方向に延在する棒状の導光部材と、上記導光部材の外周面に沿って間隔を設けて配置され、上記導光部材に対向する面が拡散反射面である第1の拡散反射部材と、上記導光部材の延在方向の少なくとも一方側の端面に対向して配置され、該端面から出射した光を検出する光検出器とを備える。
上記構成において、被検査物に光が照射されると、被検査物の線状の検査位置からの反射光又は透過光の一部は、導光部材の受光面に入射する。導光部材に入射した光は、導光部材の内部で全反射を繰り返し、一方側の端面から出射すると、光検出器で検出される。導光部材に入射した光が、全反射せずに、導光部材の外周面から出射すると、第1の拡散反射部材の拡散反射面で反射される。第1の拡散反射部材の拡散反射面で様々な方向に反射された光は、導光部材の外周面から、再び導光部材に入射する。このようにして導光部材に入射した光の大部分は、導光部材の外周面に対して斜めに傾いているため、導光部材の内部で全反射を繰り返す。
第1の拡散反射部材の拡散反射面の反射特性を適宜に選択すれば、導光部材に入射した光が、導光部材の外周面から出射しても、効率よく導光部材に戻し、導光部材内で全反射させることができる。これにより、検査物からの光を、導光部材に入射する位置によらずに高い効率で光検出器に導き、光検出器の受光レベルを、被検査物からの光が導光部材に入射する位置によらずに略一定にすることができる。
したがって、導光部材への入射位置によって検査感度が変わることを防止することができる。
好ましくは、上記導光部材の上記外周面と上記第1の拡散反射部材との間に配置され、光を透過し、少なくとも上記導光部材の上記外周面に対向する面が拡散反射面である、第1の拡散透過部材を備える。
第1の拡散反射部材の拡散反射面は、どの方向から見ても同じ輝度となる理想的な均等拡散反射の状態ではなく、実際には、入射光に対して幾分かの正反射成分が現れる。第1の拡散反射部材の拡散反射面をある程度粗くすると、検査物からの反射光が導光部材に入射する位置による光検出器の検出レベルの差が生じないようにすることができる。これは、光検出器の受光レベルが検査物からの反射光入射位置により変動する主な要因と考えられる拡散反射面の法線方向の正反射成分が小さくなり、斜めに反射する成分が増えるためと思われる。
この場合、第1の拡散反射部材の拡散反射面の表面粗さの影響で、光検出器の検出信号にノイズが現れる。第1の拡散透過部材によって、このノイズを緩和し、検出精度を向上することができる。
なお、上記構成において、第1の拡散透過部材の導光部材に対向する面での正反射が大きいと、第1の反射部材の拡散透過面を設けた意味がなくなる。そのため、第1の拡散透過部材の拡散反射面は、少なくとも、導光部材の外周面に対向する面に形成する必要がある。
好ましくは、上記導光部材の延在方向の他方側の端面に対向して配置され、該端面に対向する面が拡散反射面である第2の拡散反射部材を備える。
導光部材の延在方向の他方側の端面から出射した光を導光部材側に効率よく戻すために、この端面に対向して反射率が高い鏡面を設けることが考えられる。しかし、そのような構成において、検査物からの反射光が受光面の端部付近に入射したときに、端面に対向する鏡面の影響で、光検出器の光検出信号が急に大きくなることがある。このような光検出信号のレベル変動を防止するには、導光部材の受光面の端部と導光部材の端部との間にある程度以上の距離を設ける必要があり、それだけ、受光部が大きくなる。
上記構成によれば、導光部材の受光面の端部と導光部材の端面との間の距離を小さくしても、光検出器の光検出信号のレベル変動が生じない。したがって、検査用受光装置を小型化することができる。
好ましくは、上記導光部材の上記他方側の端面と上記第2の拡散反射部材との間に配置され、光を透過し、少なくとも上記導光部材の上記他方側の端面に対向する面が拡散反射面である、第2の拡散透過部材を有する。
第2の拡散反射部材の拡散反射面は、どの方向から見ても同じ輝度となる理想的な均等拡散反射の状態ではなく、実際には、入射光に対して幾分かの正反射成分が現れる。第2の拡散反射部材の拡散反射面をある程度粗くすると、検査物からの反射光が導光部材に入射する位置による光検出器の受光レベルの差が生じないようにすることができる。これは、光検出信号のレベル変動の主な要因と考えられる拡散反射面の法線方向の正反射成分が小さくなり、斜めに反射する成分が増えるからと思われる。
この場合、第2の拡散反射部材の拡散反射面の表面粗さの影響で、光検出器の検出信号にノイズが現れる。第2の拡散透過部材によって、このノイズを緩和し、検出精度を向上することができる。
なお、上記構成において、第2の拡散透過部材の導光部材に対向する面での正反射が大きいと、第2の反射部材の拡散透過面を設けた意味がなくなる。そのため、第2の拡散透過部材の拡散反射面は、少なくとも、導光部材に対向する面に形成する必要がある。
好ましくは、上記導光部材の上記外周面は、少なくとも上記受光面に対向する部分が艶消し処理される。
上記構成によれば、導光部材の外周面の一部又は全部に光拡散性を持たせるための艶消し処理部分の粗さを適宜に選択することにより、表面が粗い被検査物の地合いノイズを低減することができる。
好ましくは、上記各構成の検査用受光装置は、上記被検査物の上記検査位置上を、光束を往復移動させる発光装置とともに用いられる。
本発明の検査用受光装置によれば、被検査物からの反射光、又は被検査物を透過した透過光の入射位置による光量レベルの変動をなくして、検査精度を向上することができる。
以下、本発明の実施の形態として実施例を、図1〜図9を参照しながら説明する。
図1に示すように、受光装置16は、発光装置14及び制御装置12とともに、検査システム10で用いられる。発光装置14が被検査物2の表面3の検査位置3aに光束15を照射し、検査位置3aからの反射光17を受光装置16で受光し、検出する。図2に示すように、受光装置16と発光装置14の間に被検査物2を配置し、被検査物2を透過した透過光17'を受光装置16で受光するようにしてもよい。
被検査物2を搬送しながら検査位置3aに光束15を照射することにより、被検査物2に光束15を照射する位置を変えながら、被検査物2からの反射光17又は透過光17'を受光装置16で検出する。被検査物2の表面や内部に欠陥があると、反射光17又は透過光17'の光量が変化し、受光装置16からの光検出信号の出力が変化することを利用して、制御装置12は良否判定を行う。
発光装置14は、例えば、レーザビームをポリゴンミラーで反射し、コリメータレンズで平行に揃え、fθレンズで扇状に広げて、検査位置3a上を往復移動(スキャン)させる。検査位置3aは、検査目的に応じて適宜位置に設定すればよいが、例えば被検査物2の搬送経路を横断する方向に、光束15としてレーザビームを線状にスキャンする。発光装置14からは、往復移動するレーザビームに代えて、スリットを通して面状にした定常的な平行光を、光束15として照射してもよい。
受光装置16は、筒状の受光部20の一端に光検出器30を備えている。
受光部20は、被検査物2の表面3の検査位置3aに沿って平行に配置される。図3の軸直角断面図及び図4の軸方向断面図に示すように、受光部20は、筒状の外筒22と、円柱状のライトガイド24と、第1の拡散反射部材26と、第1の拡散透過部材28とを備える。
外筒22には、被検査物2の表面3の検査位置3aに沿って延在するスリット22aが軸方向に形成されている。スリット22aは、外筒22の内部と外部とを遮断する透明なガラス板23で覆われている。ガラス板23の外面には、スリット21aが形成されたマスクシート21が配置されている。
第1の拡散反射部材26は、外筒22の内周面22sに沿って配置される。第1の拡散透過部材28は、第1の拡散反射部材26に沿って内側に配置されている。第1の拡散反射部材26の表面26a(第1の拡散透過部材28側の面)は、拡散反射面である。第1の拡散透過部材28は、光を透過する。第1の拡散透過部材28の内側の表面28a(第1の拡散反射部材26とは反対側の面)は、凹凸が形成され、正反射成分が少ない艶消し仕上げの拡散反射面であり、透過した光を拡散するようになっている。
第1の拡散透過部材28は、第1の拡散反射部材26側の面28bについては、凹凸が形成された拡散反射面であっても、平滑な面であってもよい。第1の拡散透過部材28は、内部に光を散乱する微粒子を含む拡散板であってもよい。
ライトガイド24は、外筒22の中空穴に、第1の拡散透過部材28との間に隙間を設け、外筒22と同軸に配置されている。ライトガイド24の両側の端面24a,24b及び外周面24sは、後述する拡散面27を除き、平滑に仕上げられている。ライトガイド24の外周面24sのうち、外筒22のスリット22aに対向する部分は、被検査物2からの反射光17や透過光17'が入射する受光面25となる。拡散面27は、ライトガイド24の中心軸に関して受光面25と反対側に、受光面25と対向して延在する。拡散面27は、光拡散性を持たせる艶消し処理(例えば、すりガラスのように梨地状に凹凸を形成する処理)が施されている。
図4に示すように、ライトガイド24の一方側の端面24aに対向して、第2の拡散反射部材40が配置され、ライトガイド24の端面24aと第2の拡散反射部材40との間に第2の拡散透過部材42が配置されている。第2の拡散反射部材40の表面40a(ライトガイド24の端面24a側の面)は、拡散反射面である。第2の拡散透過部材42は、光を透過し、内側の表面42a(ライトガイド24の端面24a側の面)は、いわゆる艶消し仕上げの拡散反射面であり、透過した光を拡散するようになっている。
光検出器30は、ライトガイド24の他方側の端面24bに隣接して配置され、ライトガイド24の端面24bから出射した光を検出すると光検出信号を出力する。光検出器30の光検出信号の出力レベルは、受光量に応じて変化する。
被検査物2に照射する光束15や、受光装置16で受光する反射光17や透過光17'の角度は、検査内容に応じて適宜に設定する。受光装置16で受光する反射光17は、被検査物2の表面3からの正反射光であっても、拡散反射光であってもよい。後者の場合には、異常部分からの乱反射光で欠陥検出が可能である。
制御装置12は、検査システム10全体の制御を統括する。制御装置12は、被検査物2の搬送に同期して発光装置14のレーザビームのスキャン動作を制御し、受光装置16の光検出器30からの光検出信号に基づいて良否判定を行う。制御装置12は、被検査物2を搬送する搬送装置(図示せず)と通信し、被検査物2について不良判定をした位置に関する情報を出力できるようになっている。
次に、受光装置20について、さらに説明する。
被検査物2からの反射光17(又は透過光17')は、マスクシート21のスリット21a、ガラス板23、外筒22のスリット22aを通り、ライトガイド24の受光面25から入射し、拡散面27に到達する。そして、拡散面27では、反射又は出射(透過)する。拡散面27は、反射光も透過光も拡散する。
ライトガイド24に入射した光は、ライトガイド24内で反射を繰り返しながら軸方向に進行する。そして、ライトガイド24の端部24bに達し、端部24bから出射すると、光検出器30により検出される。
ライトガイド24に入射した光の全てが内部で全反射を繰り返すのではなく、一部はライトガイド24から出射する。この出射光は、第1の拡散透過部材28の表面28aや第1の拡散反射部材26の表面26aで拡散反射され、再び、ライトガイド24の外周面24sからライトガイド24に入射する。ライドガイド24に入射せず、ライトガイド24の外周面24sで反射しても、第1の拡散透過部材28の表面28aや第1の拡散反射部材26の表面26aで、再び、ライトガイド24に向けて拡散反射される。この繰り返しにより、ライトガイド24の外周面24sから出射した光を、ライトガイド24に効率よく戻すことができる。
図8の比較例に示すように、ライトガイド6の外周面6sに対向する外筒4の内周面4aを鏡面にすると、図9において実線1bで模式的に示すように、外部からの光が外筒4のスリット4sを通ってライトガイド6に入射する位置が、ライトガイド6の光検出器8側の端部6bから離れるほど、光検出器8の光検出信号の出力レベル(ゲイン)、すなわち、光検出器8での受光量が低下する。これは、ライトガイド6の中心軸に対して略垂直にライトガイド6から出射した光が、外筒4の内周面4aでの正反射により、ほとんど角度を変えずにライトガイド6に向かうため、ライトガイド6に入射しても、ライトガイド6の内部で反射せずに再びライトガイド6から出射する成分が多く、ライトガイド6内で反射した成分であって、その進行方向はライトガイド6の中心軸に対して略直角となるため、光路長が長くなるからではないかと考えられる。
また、図8の比較例において、外筒4の内周面4aの鏡面に微小な傷があると、図9において符号1cで模式的に示したように、光検出器8の光検出信号にノイズが発生する。そのため、外筒4の内周面4aは高精度に鏡面仕上げを行う必要があり、製造コストが高くなる。
さらに、図8の比較例において、ライトガイド6の端面6aから出射した光をライトガイド6に戻すため、外筒4の内側端面4bを鏡面にした場合、外筒4のスリット4sと外筒4の内側端面4bとの間の距離Tが小さくなると、図9において符号1aで示したように、光検出器8の光検出信号が外筒4の内側端面4b側、すなわち光検出器8とは反対側で、急に増大する。これを防止するためには、スリット4sと外筒4の内側端面4bとの間の距離Tをある程度以上に大きくする必要がある。そのため、外筒4を短くして小型化するには、限界がある。
これに対して、本発明によれば、第1の拡散反射部材26の表面26aを適度な散乱面にすると、第1の拡散反射部材26の表面26aで反射した光は、ライトガイド24の中心軸に対して斜めにライトガイド24に入射する成分が増え、ライトガイド24に入射した後に、再び、ライトガイド24から出射する成分が減り、ライトガイド24内で反射する成分が増え、光検出器30まで短い光路長で到達する成分が増える。つまり、ライトガイド24から出射した光の大部分が、再度、ライトガイド24に入射すると、ライトガイド24内で反射するようになる。また、ライトガイド24内で反射する光は、ライトガイド24の中心軸に対して小さい角度で、すなわちライトガイド24の中心軸と略平行に進行するので、光路長も短くなる。これにより、光検出器30側の端部24bからの距離に関係なく、光検出器30の受光量は略一定となり、光検出信号のレベルはライトガイド24への入射位置にかかわらず略一定となる。
図5は、ライトガイドの周囲に、適宜な反射率の拡散反射面を配置した場合(実線)と、鏡面を配置した場合(破線)とについて、光検出信号のレベル(ゲイン)と入射位置との関係を示している。図5から、ライトガイドの周囲に、適宜な反射率の拡散反射面を配置することにより、光検出信号のレベルは入射位置にかかわらず略一定になることが分かる。
ところで、光検出器30の受光量を略一定にするためには、上記のように、第1の拡散反射部材26の表面26aは、ライトガイド24の中心軸に対して略垂直にライトガイド24から出射した光を拡散反射し、ライトガイド24の中心軸に対してできるだけ傾け、ライトガイド24の中心軸に対して略平行となる方向に反射する成分を増やし、ライトガイド24の中心軸に対して略垂直方向に正反射する成分を少なくする必要がある。そのため、第1の拡散反射部材26の表面26aは、ある程度、粗くすることが好ましい。
しかし、光検出器30のゲイン(受光量)が略一定となっても、第1の拡散反射部材26の表面26aが粗いと、第1の拡散反射部材26だけでは、電気信号のゲインを拡大した実際の出力波形(地合いノイズ)は、図7に示すように、第1の拡散反射部材26の表面26aの粗さに起因するノイズ成分が大きくなり、検査精度を高めるには、S/N比を改善する必要がある。
そこで、ライトガイド24の外周面24sと第1の拡散反射部材26との間に、第1の拡散透過部材28を配置すると、図6に示すように、ノイズを緩和し、S/N比を改善することができる。
このとき、第1の拡散透過部材28がライトガイド24に対向する内側の表面28aは、拡散反射面とする必要がある。鏡面では、前述したように、入射位置による光量レベルの変動を引き起こすからである。第1の拡散透過部材28が第1の拡散反射部材26に対向する側の面28bは、鏡面であっても、拡散反射面であっても、影響は認められない。
また、ライトガイド24の端面24a側に第2の拡散反射部材40を設けることにより、ライトガイド24の端面24aと、スリット21a,22aとの間の距離Tが短くなっても、比較例のような光検出信号の急激な信号レベル変動が見られないようになる。この場合、ライトガイド24の端面24aと第2の拡散反射部材40との間に、第2の拡散透過部材42を設けることにより、第1の拡散透過部材28の場合と同様に、光検出信号のS/N比を改善する効果が得られる。
ところで、被検査物2の表面3が粗いと、地合いノイズが大きくなる。このようなときには、光拡散性を持たせるためのライトガイド24の拡散面27の艶消し処理を加減することにより、地合いノイズを低減することができる。すなわち、被検査物2の表面3の粗さに応じて、拡散面27の粗さを適宜に選択することにより、地合いノイズを低減することができる。この場合、艶消し処理の面積は適宜に選択すればよく、ライトガイド24の外周面24sの一部又は全部に艶消し処理を行う。
次に、具体例を説明する。
拡散反射部材26,40には、ケイト紙、タント紙などのシート状の紙を用いる。第1の拡散反射部材26は、ライトガイド24の中心軸に垂直な正反射成分を少なくすることで光検出器30の光検出信号のレベルが、ライトガイド24への光入射位置にかかわらず略一定にするので、この目的が達成できるように、被検査物2からの反射光17や透過光17'に応じて、表面26aの反射率や粗さを適宜に選択する。拡散透過部材28,42は、表面28a,42aに凹凸が形成された、光を透過する樹脂シートを用いる。平面状の第1の拡散透過部材28を丸めて外筒22内に配置し、弾力で広がろうとする第1の拡散透過部材28が、第1の拡散反射部材26を外筒22の内周面22sに付勢するようにする。これにより、第1の拡散反射部材26を、第1の拡散透過部材28と外筒22の内周面22sとの間に挟持する。
第1の拡散透過部材28の表面28aは、第1の拡散反射部材26の表面26aに比べて、肌理が細かい。つまり、第1の拡散透過部材28の表面28aの粗さは、第1の拡散反射部材26の表面26aの粗さよりも小さい。これにより、第1の拡散反射部材26の表面26aの粗さに起因する光検出信号のノイズを、第1の拡散透過部材28によって低減する効果を高めることができる。
ライトガイド24には、アクリル系透明樹脂を用いる。拡散面27には、ショット加工により凹凸を形成する。このとき、ショットするビーズサイズを被検査物2の表面3の粗さに応じて選択し、地合いノイズを低減した。光検出器30には、ホトマル(光電子増倍管)を用いる。発光装置14は、レーザビームをスキャンするタイプのものを用いる。ホトマルは、極めて高感度、高速応答であるので、レーザビームをスキャンする発光装置14と組み合わせて用いる場合に、特に好適である。
以上に説明したように、光学的な構成を工夫して、被検査物2からの反射光17、又は被検査物2を透過した透過光17'の入射位置による光検出器30の光検出信号(受光量)のレベル変動をなくすことにより、どの入射位置についても、等しく高精度で検査を行うことができる。さらに、光検出信号のノイズを拡散透過部材を用いて低減することにより、より一層、検査精度を向上することができる。
なお、本発明の検査用受光装置は、上記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加えることができる。
例えば、拡散反射部材や拡散透過部材は、適宜な材料を選択すればよい。光束を被検査物に線状に照射すればよく、直線状に限らず、折れ曲がったり湾曲したりしてもよいので、受光装置のライトガイドは、これに応じて折れ曲がったり湾曲した形状にすればよい。
また、被検査物は、シート状や板状等に限らず、粉体や粒状物などであってもよい。この場合、例えばコンベア上に被検査物(薬品等の顆粒、粉末、塩や砂糖の結晶、砂状素材等)を薄く撒き、レーザビームを照射して反射光を受光することにより、混入した髪の毛や、色・粒径・形状が異なる異物を検出することができる。
検査用受光装置を用いる検査システムの全体構成図である。(実施例) 検査用受光装置を用いる検査システムの全体構成図である。(変形例) 検査用受光装置の軸直角断面図である。(実施例) 検査用受光装置の軸方向断面図である。(実施例) 検査用受光装置の光検出信号のグラフである。(実施例、比較例) 検査用受光装置の光検出信号のグラフである。(実施例) 検査用受光装置の光検出信号のグラフである。(比較例1) 検査用受光装置の軸方向断面図である。(比較例2) 検査用受光装置の光検出信号を模式的に示すグラフである。(比較例2)
符号の説明
2 被検査物
3a 検査位置
14 発光装置
15 光束(光)
16 受光装置(検査用受光装置)
22 外筒
24 ライトガイド(導光部材)
24s 外周面
25 受光面
26 第1の拡散反射部材
26a 表面(拡散反射面)
27 拡散面(受光面に対向する部分)
28 第1の拡散透過部材
28a 表面(拡散反射面)
30 光検出器
40 第2の拡散反射部材
40a 表面(拡散反射面)
42 第1の拡散透過部材
42a 表面(拡散反射面)

Claims (6)

  1. 光が照射される被検査物の線状の検査位置に対向して線状に延在する受光面を有し、該受光面から入射した光を検出する、検査用受光装置において、
    上記受光面を含み、上記受光面の延在方向に延在する棒状の導光部材と、
    上記導光部材の外周面に沿って間隔を設けて配置され、上記導光部材に対向する面が拡散反射面である第1の拡散反射部材と、
    上記導光部材の延在方向の少なくとも一方側の端面に対向して配置され、該端面から出射した光を検出する光検出器とを備えたことを特徴とする、検査用受光装置。
  2. 上記導光部材の上記外周面と上記第1の拡散反射部材との間に配置され、光を透過し、少なくとも上記導光部材の上記外周面に対向する面が拡散反射面である、第1の拡散透過部材を備えたことを特徴とする、請求項1に記載の検査用受光装置。
  3. 上記導光部材の延在方向の他方側の端面に対向して配置され、該端面に対向する面が拡散反射面である第2の拡散反射部材を備えたことを特徴とする、請求項1又は2に記載の検査用受光装置。
  4. 上記導光部材の上記他方側の端面と上記第2の拡散反射部材との間に配置され、光を透過し、少なくとも上記導光部材の上記他方側の端面に対向する面が拡散反射面である、第2の拡散透過部材を有することを特徴とする、請求項3に記載の検査用受光装置。
  5. 上記導光部材の上記外周面は、少なくとも上記受光面に対向する部分が艶消し処理されることを特徴とする、請求項1乃至4のいずれか一つに記載の検査用受光装置。
  6. 上記被検査物の上記検査位置上を、光束を往復移動させる発光装置とともに用いられることを特徴とする、請求項1乃至5のいずれか一つに記載の検査用受光装置。
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WO2010058680A1 (ja) * 2008-11-21 2010-05-27 タカノ株式会社 シリコンウェハ欠陥検査装置

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