JP2003194524A - 検出装置 - Google Patents

検出装置

Info

Publication number
JP2003194524A
JP2003194524A JP2001394322A JP2001394322A JP2003194524A JP 2003194524 A JP2003194524 A JP 2003194524A JP 2001394322 A JP2001394322 A JP 2001394322A JP 2001394322 A JP2001394322 A JP 2001394322A JP 2003194524 A JP2003194524 A JP 2003194524A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
detection device
detection
light receiving
transparent member
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001394322A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003194524A5 (ja
Inventor
Koichi Takenaka
晃一 竹中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Rayon Co Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Rayon Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Rayon Co Ltd filed Critical Mitsubishi Rayon Co Ltd
Priority to JP2001394322A priority Critical patent/JP2003194524A/ja
Publication of JP2003194524A publication Critical patent/JP2003194524A/ja
Publication of JP2003194524A5 publication Critical patent/JP2003194524A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単且つ安価な構成で、広い範囲での物体の
検出、または、物体の形状計測が可能な検出装置を提供
すること。 【解決手段】 検出用の光線を発生させる光源12と、
前記光線の照射範囲に設けられた検出範囲に沿って延び
るように配置された受光手段16、22であって、受光
した光を前記検出範囲に沿って一端まで伝達し該一端か
ら出射させる受光手段と、前記一端から出射された光を
検出する光検出手段18と、を備え、前記光源と受光手
段との間の被検出物を検出することを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、検出装置に関し、
より詳細には、物体の有無、形状等を検出することがで
きる検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】工場の生産ラインでは、各工程毎にライ
ン上で物体の有無の検出が行われ、また、完成した製品
には外形検査で物体の一次元、二次元の形状計測が行わ
れている。このような物体の有無の検出には、接触式の
センサ、磁界を計測する近接スイッチ、光の透過、反射
を検出する光センサ等が使用される。光センサの場合
は、発光素子、受光素子同士を直接、或いは発光素子、
受光素子が接続された光ファイバの端面同士を、対向し
て配置させている。また、物体の形状計測では、ライン
CCDカメラ、エリアCCDカメラが使用されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の検出
には、物体の検出が可能な範囲が、スイッチに接触する
狭い領域あるいは受光素子、光ファイバ等が対向してい
る狭い領域等に限定されてしまうという問題がある。
【0004】また、ラインCCDカメラ、エリアCCD
カメラは、物体の形状計測、広い範囲での物体の検出が
可能であるが、システムが高価且つ複雑になるという問
題がある。
【0005】本発明はこれらの問題に鑑みてなされたも
のであり、簡単且つ安価な構成で、広い範囲での物体の
検出、または、物体の形状計測が可能な検出装置を提供
することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、検出用
の光線を発生させる光源と、前記光線の照射範囲に設け
られた検出範囲に沿って延びるように配置された受光手
段であって、受光した光を前記検出範囲に沿って一端ま
で伝達し該一端から出射させる受光手段と、前記一端か
ら出射された光を検出する光検出手段と、を備え、前記
光源と受光手段との間の被検出物を検出することを特徴
とする検出装置が提供される。
【0007】このような構成によれば、受光手段が受光
した光を光検出手段に向けて伝達する構成であるので、
ラインCCDカメラ、エリアCCDカメラ等の高価な機
器、複雑なシステムを使用することなく、比較的広い検
出範囲が確保される。
【0008】本発明の好ましい態様によれば、前記光源
が前記光線を一次元的または二次元的に走査させる走査
手段を備えている。走査手段は、ポリゴンミラーまたは
ガルバノミラーを備えているのが好ましい。さらに、走
査手段によって走査された光線を平行光として前記被検
出物に照射させる光学系を備えているのが好ましい。
【0009】本発明の他の好ましい態様によれば、光検
出手段が、受光手段への光の入射に基づいて、前記被検
出物の有無を検出する。また、本発明の別の好ましい態
様によれば、前記光検出手段が、受光手段から光の受光
出力を時分割して前記検出範囲における走査光の位置と
前記受光出力とに基づいて、前記被検出物の形状を検出
する。
【0010】本発明の他の好ましい態様によれば、前記
受光手段が、透明部材と、該透明部材の長手方向に沿っ
て配置された拡散材層とを備えている。さらに、前記拡
散材層が白塗料によって形成されているのが好ましい。
また、受光手段が、透明部材と、該透明部材に設けられ
た蛍光物質層とを備えていてもよい。さらに、受光手段
が、透明部材と、該透明部材内に設けられた乱反射物質
とを備えていてもよい。あるいは、前記受光手段が、透
明部材と、該透明部材に設けられたプリズムとを備えて
いてもよい。前記透明部材が、透明円柱または透明板で
あるのがよい。
【0011】本発明の好ましい態様によれば、光検出手
段が、前記受光手段からの出力レベルによって、被検出
物の有無を判断する。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の好
ましい実施形態の検出装置を説明する。
【0013】まず、図1に沿って本発明の第1実施形態
の検出装置10の説明をする。図1は、検出装置10の
構成を示す概略的な図面である。
【0014】図1に示されているように、検出装置10
は、レーザ光源12と、ポリゴンミラー14と、中実の
透明円柱16と、光センサ18とを備えている。ポリゴ
ンミラー14は、矢印A方向に回転し、レーザ光源12
から出射されるレーザ光20を反射しながら透明円柱1
6の側面を一次元的に走査するように、レーザ光20の
光路上に配置されている。本実施形態では、レーザ光2
0の走査範囲が、光線の照射範囲であり、且つ、検出装
置10の検出範囲となる。透明円柱16は、樹脂、ガラ
ス等の公知の材料で構成されている。
【0015】レーザ光20によって走査される透明円柱
16の側面には、例えば、バインダ中に透明円柱16よ
りも屈折率が小さな微細粉末が混入され、光を乱反射さ
せる性質を有する白塗料が、透明円柱16の軸線(長
手)方向に延びるように帯状に塗布され、この白塗料が
拡散材層22を形成している。このように、透明円柱1
6および拡散材層22は、検出範囲に沿って延びるよう
に配置されている。この拡散材層22は、入射したレー
ザ光を乱反射させて、透明円柱16内を反射させ、検出
範囲において受光したレーザ光の少なくとも一部分を検
出範囲に沿って透明円柱16の一端まで伝達し出射させ
るように構成されている。光センサ18は、透明円柱1
6の一端から出射してきた光を検出できるように、透明
円柱16の一端側に配置されている。光センサ18に
は、光センサ18の出力、ポリゴンミラー14の回転状
態等が入力される、マイコン等の制御装置(図示せず)
が接続されている。本実施形態では、光センサ18、マ
イコン等で、光検出手段が構成されている。
【0016】検出装置10では、被検出物24の搬送経
路がポリゴンミラー14と透明円柱16との間を通過す
るように配置されている。したがって、被検出物24
が、間欠的に、図1に示されているように、ポリゴンミ
ラー14と透明円柱16との間に配置されることにな
る。ポリゴンミラー14と透明円柱16との間に被検出
物24が配置されていないときには、光センサ18の出
力が高い状態である。一方、被検出物24が、ポリゴン
ミラー14と透明円柱16との間に配置されると、透明
円柱16の拡散材層22を走査しているレーザ光は被検
出物によって一時的に遮断され、光センサ18への光の
伝送が中断され、光センサ18の出力が低下する。従っ
て、光センサ18からの出力をモニタすることによっ
て、被検出物24の有無を検出することができる。
【0017】また、走査されているレーザ光の位置をポ
リゴンミラー14の回転から算出し、これを光センサ1
8の出力状態と照らし合わせることにより、被検出物2
4の幅(一次元的な形状)を計測することもできる。す
なわち、光センサ18の出力モニタを、レーザ光の走査
時間より短い時間で複数回行う、すなわち、光センサの
出力を時分割することにより、レーザ光の位置と光セン
サ18の出力状態を関係付け、これらに基づいて、被検
出物24の幅(一次元的な形状)を計測することができ
る。透明円柱16の長さ、レーザの走査速度、光センサ
の出力のサンプリング速度等は、使用対象等に応じて適
宜変更可能である。また、透明円柱16に代えて、図2
に示されているような、レーザ光の捜査範囲にわたって
延びる、樹脂やガラス等からなる細長い透明板26を受
光手段として配置してもよい。
【0018】透明板26は、裏面側に全長にわたって延
びる白塗料の拡散材層28が形成されている。透明板2
6を使用した実施形態では、拡散材層28に入射したレ
ーザ光は、透明板26内を伝達して、透明板26の一端
側に設けられて光センサに入射する。
【0019】また、図3に示されているように、透明板
26aの表側に透明な蛍光物質を塗布した層30を形成
して、入射したレーザ光20で蛍光を発生させ、この蛍
光を透明板26aの一端まで伝達させて、光センサで検
出する構成でもよい。
【0020】さらに、図4に示されているように、透明
板26bに透明な蛍光物質を含んだ部材32を分布さ
せ、入射したレーザ光20で蛍光を発生させ、この蛍光
を透明板の一端まで伝達させて、光センサで検出する構
成でもよい。
【0021】さらにまた、図5に示されているように、
透明板26cに、銀、アルミニウム、硫酸バリウム、マ
グネシウム、チタニア等からなる反射物質を含んだ部材
34を分布させ、入射したレーザ光20を反射させて透
明板26の一端まで伝達させて、光センサで検出する構
成でもよい。
【0022】また、図6に示されているように、透明板
26dの表側にプリズム部35を配置して、入射したレ
ーザ光20を透明板26dの一端まで伝達させて、光セ
ンサで検出する構成でもよい。このような構成では、プ
リズム部35の傾斜面35aに入射し、或る角度以上屈
折したレーザ光20が、透明板26d内で全反射し、透
明板26dの一端まで伝達されるので、一端に光センサ
を配置することにより、透明板26dへのレーザ光20
の入射を検出できる。
【0023】変型例として、図7に示されているよう
に、走査されたレーザ光20が平行光線として透明円柱
16に達するように、レンズ(系)36をポリゴンミラ
ーと透明円柱16(または透明板)の間に配置してもよ
い。レンズ36は、レンズ36の焦点位置とポリゴンミ
ラー14とレーザ光20との交点とが一致するように配
置される。このような構成によれば、レンズ36から透
明円柱までの検出範囲が四角形となり、検出範囲の認識
が容易となる。また、平行光を遮る被検出物の影の大き
さが、被検出物の位置によって変化しないので、被検出
物の形状測定を行う場合に、特に適している。
【0024】次に、図8及び図10に沿って、本発明の
第2実施態様の検出装置40の説明をする。図8は検出
装置40の構成を示す概略的な平面図であり、図9は検
出装置40の構成を示す概略的な側面図であり、図10
は、透明板上の走査位置を示す図面である。
【0025】検出装置40は、互いに直交した回転軸を
有する2つのポリゴンミラーを有し、光源からの光線を
二次元的に走査することにより、被検出物の2次元形状
を計測する装置である。図8及び図9に示されているよ
うに、検出装置40は、レーザ光源42と、第1及び第
2のポリゴンミラー44、46と、矩形の透明板48
と、光センサ50とを備えている。図8において、第1
のポリゴンミラー44の回転軸線は紙面と平行に上下方
向に延び、第2のポリゴンミラー46の回転軸線は紙面
と直交する方向に延びている。
【0026】第1のポリゴンミラー44は、矢印B方向
に回転して、レーザ光源42から出射されるレーザ光5
2を反射して、第2のポリゴンミラー46の表面を一次
元的に走査するように配置されている。また、第2のポ
リゴンミラー46は、矢印C方向に回転して、第1のポ
リゴンミラー44からのレーザ光52を透明板48に向
けて反射する。本実施形態は、第2のポリゴンミラー4
6が一回転する間に、第1のポリゴンミラー44が1/
6回転するように構成されている。この結果、第2ポリ
ゴンミラー44からレーザ光52は、図10に点線で示
すように、二次元的に走査される。
【0027】透明板48の裏面のレーザ光52によって
二次元的に走査させる領域には、白塗料が矩形状に塗布
され、この白塗料が拡散材層54を形成している。この
拡散材層54は、入射したレーザ光52を乱反射させ
て、透明板48内を反射させ、受光したレーザ光の少な
くとも一部分を透明板48の一端に設けられた光センサ
50に入射させるように構成されている。
【0028】検出装置40では、被検出物56の搬送経
路が第2のポリゴンミラー46と透明板48との間を通
過するように配置されている。したがって、被検出物5
6が、間欠的に、図8ないし図10に示されているよう
に、第2のポリゴンミラー46と透明板48との間に配
置されることになる。第2のポリゴンミラー46と透明
板48との間に被検出物56が配置されていないときに
は、光センサ50の出力が高い状態である。一方、被検
出物56が、第2のポリゴンミラー46と透明板48と
の間に配置されると、透明板48の拡散材層54に入射
しているレーザ光52が、被検出物56によって一時的
に遮断され、光センサ50への光の伝送が中断され、光
センサ50の出力が低下する。従って、光センサ50か
らの出力をモニタすることによって、被検出物56の有
無を検出することができる。
【0029】また、走査されているレーザ光52の位置
を第1及び第2のポリゴンミラー44、46の回転から
算出し、これを光センサ50の出力状態と照らし合わせ
ることにより、被検出物56の形状(二次元的な形状)
を計測することもできる。すなわち、光センサ50の出
力モニタを、レーザ光の走査時間より短い時間で複数回
行う、即ち、光センサの出力を時分割することにより、
レーザ光の位置と光センサ50の出力状態を関係付け、
これらに基づいて、被検出物56の形状(二次元的な形
状)を計測することができる。透明板48の寸法、レー
ザの走査速度、光センサの出力のサンプリング速度等
は、使用対象等に応じて適宜変更可能である。
【0030】次に、図11に沿って本発明の第3実施形
態の検出装置60の説明をする。図11は、検出装置6
0の構成を示す概略的な図面である。
【0031】図11に示されているように、検出装置6
0は、白熱電球等で構成される光源62と、透明板64
と、光センサ66とを備えている。透明板64は、光源
62からの光線の照射範囲の一部を遮るように配置され
ている。
【0032】光源からの光線68によって走査される透
明板64の裏面領域には、光を乱反射させる性質を有す
る白塗料が、全長にわたって延びる帯状に塗布され、こ
の白塗料が拡散材層70を形成している。この拡散材層
70は、入射した光を乱反射させて、透明板64内を反
射させ、受光した光線の少なくとも一部分を透明板64
の一端まで伝達し、光センサ66に入射させるように構
成されている。光センサ66は、拡散材層70が伝達し
てきた光を検出するように、透明板64の一端側に配置
されている。従って、拡散材層70に入射する光線68
の範囲が、検出装置60の検出範囲となる。光センサ6
6には、光センサ66の出力等が入力される、マイコン
等の制御装置(図示せず)が接続されている。
【0033】検出装置60では、被検出物72の搬送経
路が光源62と透明板64との間を通過するように配置
されている。したがって、図11に示されているよう
に、被検出物72が、間欠的に、光源62と透明板64
との間に配置されることになる。光源62と透明板64
との間に被検出物72が配置されていないときには、光
センサ66の出力が高い状態である。一方、被検出物7
2が、光源62と透明板64との間に配置されると、透
明板64の拡散材層72に入射している光線68は、そ
の一部が、被検出物72によって一時的に遮断され、光
センサ66への光の伝送量が減少し、光センサ66の出
力が低下する。従って、光センサ66からの出力値(レ
ベル)をモニタすることによって、被検出物72の有無
を検出することができる。
【0034】本発明は、上記実施形態に限定されず特許
請求の範囲に記載した範囲内で種々の変更、変形が可能
である。例えば、上記第1及び第2実施形態ではレーザ
光源を光源として使用したが、光のビームを発生させる
ことができる他の光源をすることもできる。また、上記
第3実施形態では、光源として白熱電球を使用したが、
LED、蛍光灯などの他の光源を利用してもよい。
【0035】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、簡単且
つ安価な構成で、広い範囲での物体の検出、または、物
体の形状計測が可能な検出装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態の検出装置の構成を示す
概略的な図面である。
【図2】第1実施形態の変型例で使用される透明板26
の断面図である。
【図3】第1実施形態の変型例で使用される透明板26
aの断面図である。
【図4】第1実施形態の変型例で使用される透明板26
bの断面図である。
【図5】第1実施形態の変型例で使用される透明板26
cの断面図である。
【図6】第1実施形態の変型例で使用される透明板26
dの断面図である。
【図7】第1実施形態の変型例の検出装置の構成を示す
概略的な図面である。
【図8】本発明の第2実施態様の検出装置の構成を示す
概略的な平面図である。
【図9】第2実施態様の検出装置の構成を示す概略的な
側面図である。
【図10】第2実施態様の検出装置の透明板上の走査位
置を示す図面である。
【図11】本発明の第3実施形態の検出装置の構成を示
す概略的な図面である。
【符号の説明】
10:検出装置 12:レーザ光源 14:ポリゴンミラー 16:透明円柱 18:光センサ 20:レーザ光 22:拡散材層

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 検出用の光線を発生させる光源と、 前記光線の照射範囲に設けられた検出範囲に沿って延び
    るように配置された受光手段であって、受光した光を前
    記検出範囲に沿って一端まで伝達し該一端から出射させ
    る受光手段と、 前記一端から出射された光を検出する光検出手段と、を
    備え、 前記光源と受光手段との間の被検出物を検出すること、 を特徴とする検出装置。
  2. 【請求項2】 前記光源が前記光線を一次元的に走査さ
    せる走査手段を備えている、 請求項1に記載の検出装置。
  3. 【請求項3】 前記光源が前記光線を二次元的に走査さ
    せる走査手段を備えている、 請求項1に記載の検出装置。
  4. 【請求項4】 前記走査手段が、ポリゴンミラーまたは
    ガルバノミラーを備えている、 請求項2または請求項3に記載の検出装置。
  5. 【請求項5】 前記走査手段によって走査された光線を
    平行光として前記被検出物に照射させる光学系を備えて
    いる、 請求項2ないし請求項4のいずれか1項に記載の検出装
    置。
  6. 【請求項6】 前記光検出手段が、受光手段への光の入
    射に基づいて、前記被検出物の有無を検出する、 請求項1ないし請求項5の何れか1項に記載の検出装
    置。
  7. 【請求項7】 前記光検出手段が、受光手段から光の受
    光出力を時分割して前記検出範囲における走査光の位置
    と前記受光出力とに基づいて、前記被検出物の形状を検
    出する、 請求項2ないし請求項6の何れか1項に記載の検出装
    置。
  8. 【請求項8】 前記受光手段が、透明部材と、該透明部
    材の長手方向に沿って配置された拡散材層とを備えてい
    る、 請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載の検出装
    置。
  9. 【請求項9】 前記拡散材層が白塗料によって形成され
    ている、請求項8または請求項9に記載の検出装置。
  10. 【請求項10】 前記受光手段が、透明部材と、該透明
    部材に設けられた蛍光物質層とを備えている、 請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載の検出装
    置。
  11. 【請求項11】 前記受光手段が、透明部材と、該透明
    部材内に設けられた乱反射物質とを備えている、 請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載の検出装
    置。
  12. 【請求項12】 前記受光手段が、透明部材と、該透明
    部材に設けられたプリズムとを備えている、 請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載の検出装
    置。
  13. 【請求項13】 前記透明部材が、透明円柱または透明
    板である、請求項8ないし請求項12の何れか1項に記
    載の検出装置。
  14. 【請求項14】 前記光検出手段が、前記受光手段から
    の出力レベルによって、被検出物の有無を判断する、 請求項1ないし13のいずれか1項に記載の検出装置。
JP2001394322A 2001-12-26 2001-12-26 検出装置 Pending JP2003194524A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001394322A JP2003194524A (ja) 2001-12-26 2001-12-26 検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001394322A JP2003194524A (ja) 2001-12-26 2001-12-26 検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003194524A true JP2003194524A (ja) 2003-07-09
JP2003194524A5 JP2003194524A5 (ja) 2005-07-28

Family

ID=27601088

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001394322A Pending JP2003194524A (ja) 2001-12-26 2001-12-26 検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003194524A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5406060A (en) Bar code reader for sensing at an acute angle
RU2186372C2 (ru) Блок датчика для контроля поверхности объекта и способ для осуществления этого контроля
US7990584B2 (en) Rod-shaped light guide and image reading device
KR101028623B1 (ko) 이미지 데이터의 분석을 위한 이미지 캡쳐링 시스템
JP5417723B2 (ja) 方位測定方法及び方位測定装置
EP1561084B1 (en) Structured light projector
JP2013537976A (ja) 物体を検査するための装置および方法
WO2017160236A1 (en) Lighting device and inspection apparatus
JP2005121638A (ja) 光電子検出装置
JP2008275689A (ja) 導光体および線状光源装置
JP2024012418A (ja) 投受光装置及び測距装置
US20180059401A1 (en) Method and apparatus for imaging the inner contour of a tube
EP1185822B1 (en) Continuous extended optical sources and receivers and optical barriers using said sources and said receivers
JP2003194524A (ja) 検出装置
CN109211828A (zh) 测定装置
JP6671938B2 (ja) 表面形状測定装置、欠陥判定装置、および表面形状の測定方法
JP2000028944A5 (ja)
JPH11108615A (ja) 鏡面材料並びに透光性材料の表面位置検出方法及び装置
JPS5853449B2 (ja) ハンシヤガタコウデンスイツチ
JP2005351684A (ja) 検査用受光装置
KR19990025817A (ko) 형광물질 광특성 측정장치
JP2002195808A (ja) 表面変位検出装置
JPH0344504A (ja) 表面三次元形状測定方法及びその装置
JP2002304595A (ja) 情報読取り装置および情報読取り方法
JPH10190955A (ja) スキャナー光学系

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041221

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041221

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060804

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060814

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20061211