JP2005346908A - データピンを通じて受信された制御ビットを利用して、メモリ装置の動作特性を変更する方法と関連した装置及びシステム - Google Patents
データピンを通じて受信された制御ビットを利用して、メモリ装置の動作特性を変更する方法と関連した装置及びシステム Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】メモリセルアレイ、複数のデータ入出力ピン、及びそれぞれのデータ入出力ピンとそれぞれ結合された複数の入出力回路を備える集積回路メモリ装置である。入出力回路は、書き込み動作の間に、それぞれのデータ入出力ピンからメモリセルアレイに書き込まれるそれぞれのデータビットを受信するように構成され、読み取り動作の間に、メモリセルアレイからそれぞれのデータ入出力ピンに読み取られるそれぞれのデータビットを提供するように構成される。また、モードセット動作の間に、入出力回路は、それぞれのデータ入出力ピンを通じて受信されるそれぞれの制御ビットに応答して、その動作特性を変更するように構成される。また、関連した方法及びシステムが説明される。
【選択図】図3A
Description
113 メモリセルアレイ
115−1,115−2,115−n 入力回路
117−1,117−2,117−n 入出力バッファ
119−1,119−2,119−n 入出力ピン
121 アドレスバッファ
123 モードセット制御器
125−1,125−2,125−n 出力回路
126 コマンドデコーダ
127−1,127−2,127−n ラッチ
151 メモリ制御器
Claims (73)
- メモリセルアレイと、
複数のデータ入出力ピンと、
それぞれの入出力ピンに結合される複数の入出力回路と、を備え、
前記入出力回路は、書き込み動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピンから前記メモリセルアレイに書き込まれるそれぞれのデータビットを受信するように構成され、読み取り動作の間に、前記メモリセルアレイから前記それぞれのデータ入出力ピンに読み取られるそれぞれのビットを提供するように構成され、モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピンを通じて受信される制御ビットに応答して、その動作特性を変更するように構成されることを特徴とする集積回路メモリ装置。 - それぞれの前記入出力回路は、
書き込み動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピンからメモリセルアレイに書き込まれるデータビットを受信するように構成され、モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピンを通じて受信される制御ビットを受信するように構成される入力回路と、
前記読み取り動作の間に、前記メモリセルアレイから前記それぞれのデータ入出力ピンに読み取られるデータを提供するように構成される出力回路と、
前記モードセット動作の間に、前記入力回路により受信される制御ビットをラッチするように構成されるラッチ回路と、を備えることを特徴とする請求項1に記載の集積回路メモリ装置。 - それぞれの入出力回路は、前記それぞれのラッチ回路にラッチされる制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路のドライバー強度を変更するように構成されることを特徴とする請求項2に記載の集積回路メモリ装置。
- それぞれの前記入出力回路は、前記それぞれのラッチ回路にラッチされる制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路の遅延を変更するように構成されることを特徴とする請求項2に記載の集積回路メモリ装置。
- それぞれの前記入出力回路は、前記それぞれのラッチ回路にラッチされる制御ビットに応答して、前記それぞれの入力回路の遅延を変更するように構成されることを特徴とする請求項2に記載の集積回路メモリ装置。
- それぞれの前記入出力回路は、前記モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピンを通じて受信されるそれぞれの制御ビットをラッチするように構成されるそれぞれのラッチ回路を備えることを特徴とする請求項1に記載の集積回路メモリ装置。
- 前記モードセット動作の間に、モードセットコードを受信するように構成されるモードセットデコーダをさらに備え、
前記モードセットデコーダは、前記モードセットコードに応答してラッチ信号を発生させるようにさらに構成され、前記ラッチ回路は、前記モードセット動作の間に、前記ラッチ信号に応答して、前記それぞれのデータ入出力ピンを通じて受信される前記制御ビットをラッチするようにさらに構成されることを特徴とする請求項6に記載の集積回路メモリ装置。 - 複数のアドレスピンをさらに備え、
前記書き込み動作の間に、前記複数のアドレスピンから受信される書き込みアドレスは、前記入出力回路から受信されるデータビットが書き込まれる前記メモリセルアレイの位置を定義し、前記読み取り動作の間に、前記複数のアドレスピンから受信される読み取りアドレスは、前記データ入出力ピンに提供されるデータビットが読み取られる前記メモリセルアレイの位置を定義し、前記モードセット動作の間に、前記モードセットコードは、前記複数のアドレスピンを通じて、前記モードセットデコーダにより受信されることを特徴とする請求項7に記載の集積回路メモリ装置。 - メモリセルアレイ、複数のデータ入出力ピン、及びそれぞれのデータ入出力ピンに結合される複数の入出力回路を備える集積回路メモリ装置であって、前記入出力回路は、書き込み動作の間に、前記メモリセルアレイに書き込むために、前記それぞれのデータ入出力ピンからそれぞれのデータビットを受信するように構成され、前記入出力回路は、読み取り動作の間に、前記メモリセルアレイから前記それぞれのデータ入出力ピンに読み取られるそれぞれのデータビットを提供するように構成され、少なくとも一つの前記入出力回路は、モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピンを通じて受信される制御ビットに応答して、その動作特性を変更するように構成される集積回路メモリ装置と、
前記集積回路メモリ装置に結合されるメモリ制御器であって、前記メモリ制御器は、前記書き込み動作の間に、前記データ入出力ピンに前記メモリセルで書き込まれるデータビットを提供するように構成され、前記読み取り動作の間に、前記データ入出力ピンからデータビットを受信するように構成され、そして、前記モードセット動作の間に、前記入出力ピンに前記制御ビットを提供するように構成され、前記少なくとも一つの入出力回路の動作特性を変更するメモリ制御器と、を備えることを特徴とするメモリシステム。 - それぞれの前記入出力回路は、
前記書き込み動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピンから前記メモリセルアレイに書き込まれるデータビットを受信するように構成され、前記モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピンから受信される制御ビットを受信するように構成される入力回路と、
前記読み取り動作の間に、前記メモリセルアレイから前記それぞれのデータ入出力ピンに読み取られるデータビットを供給するように構成される出力回路と、
前記モードセット動作の間に、前記入力回路により受信される制御ビットをラッチするように構成されるラッチ回路と、を備えることを特徴とする請求項9に記載のメモリシステム。 - それぞれの入出力回路は、前記それぞれのラッチ回路にラッチされる前記制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路のドライバー強度を変更するように構成されることを特徴とする請求項10に記載のメモリシステム。
- それぞれの入出力回路は、前記それぞれのラッチ回路にラッチされる前記制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路の遅延を変更するように構成されることを特徴とする請求項10に記載のメモリシステム。
- それぞれの入出力回路は、前記それぞれのラッチ回路にラッチされる前記制御ビットに応答して、前記それぞれの入力回路の遅延を変更するように構成されることを特徴とする請求項10に記載のメモリシステム。
- それぞれの入出力回路は、前記モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピンを通じて受信される前記制御ビットをラッチするように構成されるそれぞれのラッチ回路を備えることを特徴とする請求項9に記載のメモリシステム。
- 前記モードセット動作の間に、モードセットコードを受信するように構成されるモードセットデコーダをさらに備え、
前記モードセットデコーダは、前記モードセットコードに応答してラッチ信号を発生させるようにさらに構成され、前記ラッチ回路は、前記モードセット動作の間に、前記ラッチ信号に応答して、前記それぞれのデータ入出力ピンを通じて受信される前記制御ビットをラッチするように構成されることを特徴とする請求項14に記載のメモリシステム。 - 前記集積回路メモリ装置は、複数のアドレスピンを備え、
前記書き込み動作の間に、前記複数のアドレスピンから受信される書き込みアドレスは、前記入出力回路から受信される前記データビットが書き込まれる前記メモリセルアレイの位置を定義し、前記読み取り動作の間に、前記複数のアドレスピンから受信される読み取りアドレスは、前記データ入出力ピンに提供される前記データビットが読み取られる前記メモリセルアレイの位置を定義し、そして、モードセット動作の間に、前記モードセットコードは、前記複数のアドレスピンを通じて前記モードセットデコーダに受信されることを特徴とする請求項15に記載のメモリシステム。 - 第2メモリセルアレイ、第2複数のデータ入出力ピン、及び第2複数の入出力回路を備える第2集積回路メモリ装置をさらに備え、
前記第2複数の入出力回路は、前記第2集積回路メモリ装置のそれぞれのデータ入出力ピンと結合され、
前記第2複数の入出力回路は、前記書き込み動作の間に、前記第2メモリセルアレイに書き込むために、それぞれの前記第2複数のデータ入出力ピンからそれぞれのデータビットを受信するように構成され、そして、前記第2複数の入出力回路は、前記読み取り動作の間に、前記第2メモリセルアレイからそれぞれの前記第2複数のデータ入出力ピンに読み取られるデータビットを提供するように構成され、前記第2複数の入出力回路は、前記モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピンを通じて受信されるそれぞれの制御ビットに応答して、その動作特性を変更するように構成されることを特徴とする請求項9に記載のメモリシステム。 - メモリセルアレイ、複数のデータ入出力ピン、及び前記メモリセルアレイとそれぞれのデータ入出力ピンとの間に結合される複数の入出力回路を備える集積回路メモリ装置の動作方法において、
書き込み動作の間に、前記メモリセルアレイに書き込むために、それぞれの入出力回路で前記データ入出力ピンからデータビットを受信するステップと、
それぞれの入出力回路から前記データ入出力ピンにデータビットを提供するステップであって、前記データビットは、読み取り動作の間に、前記メモリセルアレイから読み取られるデータビットを提供するステップと、
モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピンを通じて受信される制御ビットに応答して、少なくとも一つの前記入出力回路の動作特性を変更するステップと、を含むことを特徴とする集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記入出力回路は、それぞれの入力回路及びそれぞれの出力回路を備え、
前記書き込み動作の間に、データビットを受信するステップは、前記それぞれの入力回路で前記データビットを受信するステップを含み、
前記読み取り動作の間に、データビットを提供するステップは、前記それぞれの出力回路から前記データビットを提供するステップを含み、
前記動作特性を変更するステップは、前記それぞれの入力回路で前記制御ビットを受信するステップを含むことを特徴とする請求項18に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記入出力回路は、それぞれのラッチ回路を備え、
前記動作特性を変更するステップは、前記それぞれのラッチ回路に前記制御ビットをラッチするステップを含むことを特徴とする請求項19に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記動作特性を変更するステップは、前記制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路のドライバー強度を変更するステップを含むことを特徴とする請求項19に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。
- 前記動作特性を変更するステップは、前記制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路の遅延を変更するステップを含むことを特徴とする請求項19に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。
- 前記動作特性を変更するステップは、前記制御ビットに応答して、前記それぞれの入力回路の遅延を変更するステップを含むことを特徴とする請求項19に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。
- 前記入出力回路は、それぞれのラッチ回路を備え、
前記動作特性を変更するステップは、前記それぞれのラッチ回路に前記制御ビットをラッチするステップを含むことを特徴とする請求項18に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記動作特性を変更するステップは、
前記モードセット動作の間に、モードセットコードを受信するステップと、
前記モードセットコードに応答して、ラッチ信号を発生させるステップと、
前記モードセット動作の間に、前記ラッチ信号に応答して、前記それぞれのデータ入出力ピンを通じて前記制御ビットをラッチするステップと、を含むことを特徴とする請求項24に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記集積回路メモリ装置は、複数のアドレスピンをさらに備え、
前記書き込み動作の間に、前記複数のアドレスピンで前記データビットが書き込まれるメモリセルアレイの位置を定義する書き込みアドレスを受信するステップと、
前記読み取り動作の間に、前記複数のアドレスピンで前記データビットが読み取られる前記メモリセルアレイの位置を定義する読み取りアドレスを受信するステップと、
前記モードセット動作の間に、前記複数のアドレスピンを通じてモードセットコードを受信するステップと、を含むことを特徴とする請求項25に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - メモリセルアレイ、複数のデータ入出力ピン、複数の入出力回路、及び複数のアドレスピンを備える集積回路メモリ装置の制御方法において、前記入出力回路は、前記メモリセルアレイとそれぞれのデータ入出力ピンとの間に結合され、前記集積回路メモリ装置の制御方法は、
書き込み動作の間に、前記アドレスピンに書き込みアドレスを提供し、前記データ入出力ピンに、前記メモリセルアレイに書き込まれる書き込みデータを提供するステップであって、前記書き込みアドレスは、前記書き込みデータが書き込まれる前記メモリセルアレイの位置を定義するステップと、
読み取り動作の間に、前記複数のアドレスピンに読み取りアドレスを提供し、前記入出力ピンから読み取りデータを受信するステップであって、前記読み取りアドレスは、前記読み取りデータが読み取られる前記メモリセルアレイの位置を定義するステップと、
モードセット動作の間に、前記アドレスピンを通じてモードセットコードを提供し、それぞれの前記入出力ピンに制御ビットを提供するステップであって、それぞれの制御ビットは、前記それぞれの入出力回路の動作特性を定義するステップと、を含むことを特徴とする集積回路メモリ装置の制御方法。 - 前記動作特性は、前記それぞれの入出力回路のドライバー強度を備えることを特徴とする請求項27に記載の集積回路メモリ装置の制御方法。
- 前記動作特性は、前記入出力回路の遅延を備えることを特徴とする請求項27に記載の集積回路メモリ装置の制御方法。
- メモリセルアレイと、
複数のデータ入力ピンと、
それぞれのデータ入力ピンに結合される複数の入出力回路と、を備え、
前記入出力回路は、書き込み動作の間に、前記それぞれのデータ入力ピンから前記メモリセルアレイに書き込まれるデータビットを受信するように構成され、前記入出力回路は、モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入力ピンを通じて受信される制御ビットに応答して、その動作特性を変更するように構成されることを特徴とする集積回路メモリ装置。 - 前記入出力回路を通じて、前記メモリセルアレイに結合される複数のデータ出力ピンをさらに備えることを特徴とする請求項30に記載の集積回路メモリ装置。
- 前記入出力回路は、それぞれの入力回路、出力回路、及びラッチ回路を備え、前記それぞれの入力回路は、前記書き込み動作の間に、前記それぞれのデータ入力ピンからデータビットを受信し、前記モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入力ピンから制御ビットを受信するように構成され、前記それぞれの出力回路は、読み取り動作の間に、前記メモリセルアレイから前記それぞれのデータ出力ピンに読み取られるデータビットを提供するように構成され、そして、前記それぞれのラッチ回路は、前記モードセット動作の間に、前記それぞれの入力回路から制御ビットをラッチするように構成されることを特徴とする請求項31に記載の集積回路メモリ装置。
- 前記入出力回路は、前記それぞれの制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路のドライバー強度を変更するように構成されることを特徴とする請求項32に記載の集積回路メモリ装置。
- 前記入出力回路は、前記それぞれの制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路の遅延を変更するように構成されることを特徴とする請求項32に記載の集積回路メモリ装置。
- 前記入出力回路は、前記それぞれの制御ビットに応答して、前記それぞれの入力回路の遅延を変更するように構成されることを特徴とする請求項32に記載の集積回路メモリ装置。
- 前記入出力回路は、前記モードセット動作の間に、受信されるそれぞれの制御ビットをラッチするように構成されるそれぞれのラッチ回路を備えることを特徴とする請求項30に記載の集積回路メモリ装置。
- 前記モードセット動作の間に、モードセットコードを受信するように構成されるモードセットデコーダをさらに備え、
前記モードセットデコーダは、前記モードセットコードに応答してラッチ信号を発生させるようにさらに構成され、前記ラッチ回路は、前記モードセット動作の間に、前記ラッチ信号に応答して前記それぞれの制御ビットをラッチするように構成されることを特徴とする請求項36に記載の集積回路メモリ装置。 - 複数のアドレスピンをさらに備え、
前記書き込み動作の間に、前記複数のアドレスピンから受信される書き込みアドレスは、データビットが書き込まれるメモリセルアレイの位置を定義し、そして、前記モードセット動作の間に、モードセットコードは、前記複数のアドレスピンを通じて前記モードセットデコーダにより受信されることを特徴とする請求項37に記載の集積回路メモリ装置。 - メモリセルアレイ、複数のデータ入力ピン、及び前記メモリセルアレイとそれぞれのデータ入力ピンとの間に結合される複数の入出力回路を備える集積回路メモリ装置の動作方法において、
書き込み動作の間に、前記メモリセルアレイに書き込むために、それぞれの入出力回路で前記データ入出力ピンからデータビットを受信するステップと、
モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入力ピンを通じて受信される制御ビットに応答して、少なくとも一つの前記入出力回路の動作特性を変更するステップと、を含むことを特徴とする集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記集積回路メモリ装置は、それぞれの入出力回路を通じて、前記メモリセルアレイと結合される複数のデータ出力ピンをさらに備え、
それぞれの入出力回路からデータ出力ピンにデータビットを提供するステップであって、前記データビットは、読み取り動作の間に、前記メモリセルアレイから読み取られるステップをさらに含むことを特徴とする請求項39に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記入出力回路は、それぞれの入力及び出力回路を備え、
前記書き込み動作の間に、データビットを受信するステップは、前記それぞれの入力回路で前記データビットを受信するステップを含み、
前記読み取り動作の間に、データビットを提供するステップは、前記それぞれの出力回路からデータビットを提供するステップを含み、
前記動作特性を変更するステップは、前記モードセット動作の間に、前記それぞれの入力回路で前記制御ビットを受信するステップを含むことを特徴とする請求項40に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - それぞれの前記入出力回路は、それぞれのラッチ回路を備え、
前記動作特性を変更するステップは、前記モードセット動作の間に、前記それぞれのラッチ回路に前記制御ビットをラッチするステップを含むことを特徴とする請求項41に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記動作特性を変更するステップは、
前記制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路のドライバー強度を変更するステップを含むことを特徴とする請求項41に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路の遅延を変更するステップを含むことを特徴とする請求項41に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。
- 前記制御ビットに応答して、前記それぞれの入力回路の遅延を変更するステップを含むことを特徴とする請求項41に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。
- それぞれの入出力回路は、ラッチ回路を備え、
前記動作特性を変更するステップは、前記それぞれのラッチ回路に前記制御ビットをラッチするステップを含むことを特徴とする請求項39に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記動作特性を変更するステップは、
前記モードセット動作の間に、モードセットコードを受信するステップと、
前記モードセットコードに応答して、ラッチ信号を発生させるステップと、
前記モードセット動作の間に、前記ラッチ信号に応答して、前記それぞれのデータ入出力回路を通じて受信された制御ビットをラッチするステップと、を含むことを特徴とする請求項46に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記集積回路メモリ装置は、複数のアドレスピンをさらに備え、
前記書き込み動作の間に、前記複数のアドレスピンでデータビットが書き込まれる前記メモリセルアレイの位置を定義する書き込みアドレスを受信するステップと、
モードセット動作の間に、前記複数のアドレスピンを通じてモードセットコードを受信するステップと、を含むことを特徴とする請求項47に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - メモリセルアレイと、
複数のデータ入力ピンと、
それぞれのデータ入力ピンに結合される複数の入力回路と、を備え、
前記入力回路は、書き込み動作の間に、前記それぞれのデータ入力ピンから前記メモリセルアレイに書き込まれるデータビットを受信するように構成され、そして、前記入力回路は、モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入力ピンを通じて受信される制御ビットに応答して、その動作特性を変更するように構成されることを特徴とする集積回路メモリ装置。 - 前記入力回路は、前記それぞれの制御ビットに応答して、その遅延を変更するように構成されることを特徴とする請求項49に記載の集積回路メモリ装置。
- それぞれの入力回路に対応するラッチ回路をさらに備え、
前記ラッチ回路は、前記モードセット動作の間に、受信される前記それぞれの制御ビットにラッチするように構成されることを特徴とする請求項49に記載の集積回路メモリ装置。 - 前記モードセット動作の間に、モードセットコードを受信するように構成されるモードセットデコーダをさらに備え、
前記モードセットデコーダは、前記モードセットコードに応答してラッチ信号を発生させるようにさらに構成され、前記ラッチ回路は、前記モードセット動作の間に、前記ラッチ回路に応答して前記それぞれの制御ビットをラッチするようにさらに構成されることを特徴とする請求項51に記載の集積回路メモリ装置。 - 複数のアドレスピンをさらに備え、
前記複数のアドレスピンから受信される書き込みアドレスは、書き込み動作の間に、前記データビットが書き込まれる前記メモリセルアレイの位置を定義し、そして、前記モードセット動作の間に、前記モードセットコードは、前記複数のアドレスピンを通じて前記モードセットデコーダにより受信されることを特徴とする請求項52に記載の集積回路メモリ装置。 - メモリセルアレイ、複数のデータ入力ピン、及び前記メモリセルアレイとそれぞれのデータ入力ピンとの間に結合される複数の入力回路を備える集積回路メモリ装置の動作方法において、
書き込み動作の間に、前記メモリセルアレイに書き込むために、それぞれの入力回路で前記データ入力ピンからデータビットを受信するステップと、
モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入力ピンを通じて受信される制御ビットに応答して、少なくとも一つの前記入力回路の動作特性を変更するステップと、を含むことを特徴とする集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記集積回路メモリ装置は、それぞれの出力回路を通じて前記メモリセルアレイに結合される複数のデータ出力ピンをさらに備え、
読み取り動作の間に、それぞれの出力回路からデータ出力ピンにデータビットを提供するステップであって、前記データビットは、前記メモリセルアレイから読み取られるステップをさらに含むことを特徴とする請求項54に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記書き込み動作の間に、データビットを受信するステップは、前記それぞれの入力回路で前記データビットを受信するステップをさらに含み、前記読み取り動作の間に、データビットを提供するステップは、前記それぞれの出力回路から前記データビットを提供するステップを含み、そして、前記動作特性を変更するステップは、前記モードセット動作の間に、前記それぞれの入力回路で前記制御ビットを受信するステップを含むことを特徴とする請求項55に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。
- 前記集積回路メモリ装置は、前記複数の入力回路に対応する複数のラッチ回路を備え、
前記動作特性を変更するステップは、前記モードセット動作の間に、前記それぞれのラッチ回路に前記制御ビットをラッチするステップを含むことを特徴とする請求項54に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記動作特性を変更するステップは、前記制御ビットに応答して、前記それぞれの入力回路の遅延を変更するステップを含むことを特徴とする請求項54に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。
- 前記動作特性を変更するステップは、
前記モードセット動作の間に、モードセットコードを受信するステップと、
前記モードセットコードに応答して、ラッチ信号を発生させるステップと、
前記モードセット動作の間に、前記ラッチ信号に応答して、前記それぞれのデータ入力回路を通じて受信された制御ビットをラッチするステップと、を含むことを特徴とする請求項54に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記集積回路メモリ装置は、複数のアドレスピンをさらに備え、
前記書き込み動作の間に、前記複数のアドレスピンで前記データビットが書き込まれる前記メモリセルアレイの位置を定義する書き込みアドレスを受信するステップと、
前記モードセット動作の間に、前記複数のアドレスピンを通じて前記モードセットコードを受信するステップと、をさらに含むことを特徴とする請求項59に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - メモリセルアレイと、
複数のデータ出力ピンと、
複数のデータ入力ピンと、
それぞれのデータ出力ピンに結合される複数の出力回路であって、前記出力回路は、読み取り動作の間に、前記メモリセルアレイから前記それぞれのデータ出力ピンに読み取られるデータビットを提供するように構成される複数の出力回路と、
それぞれのデータ入力ピンに結合される複数の入力回路であって、前記入力回路は、書き込み動作の間に、前記それぞれのデータ入力ピンから前記メモリセルアレイに書き込まれるデータビットを受信するように構成され、前記入力回路は、モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入力ピンを通じて受信される制御ビットに応答して、それぞれの出力回路の動作特性を変更するように構成される複数の入力回路と、を備えることを特徴とする集積回路メモリ装置。 - 前記入力回路は、前記それぞれの制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路のドライバー強度を変更することを特徴とする請求項61に記載の集積回路メモリ装置。
- 前記入力回路は、前記それぞれの制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路等の遅延を変更することを特徴とする請求項61に記載の集積回路メモリ装置。
- 前記モードセット動作の間に、受信された前記それぞれの制御ビットをラッチするように構成されるラッチ回路をさらに備えることを特徴とする請求項61に記載の集積回路メモリ装置。
- 前記モードセット動作の間に、モードセットコードを受信するように構成されるモードセットデコーダをさらに備え、
前記モードセットデコーダは、前記モードセットコードに応答してラッチ信号を発生させるように構成され、前記ラッチ回路は、前記モードセット動作の間に、前記ラッチ信号に応答して、前記それぞれの制御ビットをラッチするように構成されることを特徴とする請求項64に記載の集積回路メモリ装置。 - 複数のアドレスピンをさらに備え、
前記書き込み動作の間に、前記複数のアドレスピンから受信される書き込みアドレスは、前記データビットが書き込まれる前記メモリセルアレイの位置を定義し、前記モードセット動作の間に、前記モードセットコードは、前記複数のアドレスピンを通じて前記モードセットデコーダにより受信されることを特徴とする請求項65に記載の集積回路メモリ装置。 - メモリセルアレイ、複数のデータ入力ピン、複数のデータ出力ピン、前記メモリセルアレイとそれぞれのデータ入力ピンとの間に結合される複数の入力回路、及び前記メモリセルアレイとそれぞれの出力ピンとの間に結合される複数の出力回路を備える集積回路メモリ装置の動作方法において、
それぞれの出力回路からデータ出力ピンにデータビットを提供するステップであって、前記データビットは、読み取り動作の間に、前記メモリセルアレイから読み取られるステップと、
書き込み動作の間に、前記メモリセルアレイに書き込むために、それぞれの入力回路で前記データ入力ピンからデータビットを受信するステップと、
モードセット動作の間に、少なくとも一つの前記データ入力ピンを通じて受信される制御ビットに応答して、少なくとも一つの前記出力回路の動作特性を変更するステップと、を含むことを特徴とする集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記動作特性を変更するステップは、前記制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路のドライバー強度を変更するステップを含むことを特徴とする請求項67に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。
- 前記動作特性を変更するステップは、前記制御ビットに応答して、前記それぞれの出力回路の遅延を変更するステップを含むことを特徴とする請求項67に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。
- 前記集積回路メモリ装置は、前記入力回路に対応する複数のラッチ回路を備え、
前記動作特性を変更するステップは、前記モードセット動作の間に、前記それぞれのラッチ回路に前記制御ビットをラッチするステップを含むことを特徴とする請求項67に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記動作特性を変更するステップは、
前記モードセット動作の間に、モードセットコードを受信するステップと、
前記モードセットコードに応答して、ラッチ信号を発生させるステップと、
前記モードセット動作の間に、前記ラッチ信号に応答して、前記それぞれのデータ入力回路を通じて受信された制御ビットをラッチするステップと、をさらに含むことを特徴とする請求項70に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - 前記集積回路メモリ装置は、複数のアドレスピンをさらに備え、
書き込み動作の間に、前記複数のアドレスピンで前記データビットが書き込まれるメモリセルアレイの位置を定義する書き込みアドレスを受信するステップと、
前記モードセット動作の間に、前記複数のアドレスピンを通じて前記モードセットコードを受信するステップと、をさらに含むことを特徴とする請求項71に記載の集積回路メモリ装置の動作方法。 - メモリセルアレイ、複数の入出力ピン、及び前記メモリセルアレイとそれぞれのデータ入出力ピンとの間に結合される複数の入出力回路を備える集積回路メモリ装置の動作方法において、それぞれの前記入出力回路は、一対の直列に結合されたラッチを備え、前記方法は、
書き込み動作の間に、前記メモリセルアレイに書き込むために、それぞれの入出力回路で前記データ入出力ピンからデータビットを受信するステップと、
それぞれの入出力回路から前記データ入出力ピンにデータビットを提供するステップであって、読み取り動作の間に、前記データビットは、前記メモリセルアレイから読み取られるステップと、
モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピンを通じて直列に受信される第1制御ビット及び第2制御ビットに応答して、前記入出力回路の動作特性を変更するステップと、を含み、
前記動作特性を変更するステップは、
前記モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピン及び入出力回路を通じて、前記第1制御ビットを受信するステップと、
前記第1制御ビットを受信するステップ以後に、前記モードセット動作の間に、前記それぞれのデータ入出力ピン及び入出力回路を通じて、前記第2制御ビットを受信するステップと、
前記モードセット動作の間に、前記直列に結合されたラッチのそれぞれの対に、前記第1制御ビット及び前記第2制御ビットをラッチするステップと、を含むことを特徴とする集積回路メモリ装置の動作方法。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005346908A true JP2005346908A (ja) | 2005-12-15 |
Family
ID=35499108
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2005164544A Pending JP2005346908A (ja) | 2004-06-03 | 2005-06-03 | データピンを通じて受信された制御ビットを利用して、メモリ装置の動作特性を変更する方法と関連した装置及びシステム |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2005346908A (ja) |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A601 | Written request for extension of time |
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|
A521 | Written amendment |
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A602 | Written permission of extension of time |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
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