JP2005334431A - 放射線断層撮影装置および放射線断層撮影方法、検出器素子位置ズレ量測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】検出器素子の位置ズレによる断層像のアーチファクトの発生を防止し、断層像の画質を向上する。
【解決手段】X線管によって被検体にX線を照射し、多列X線検出器またはエリア状X線検出器の検出器面に配置されている検出器素子により再構成領域Pを透過するX線を検出し投影データを出力する。そして、あらかじめ測定されて記憶している検出器素子の位置ズレ量に基づいて、位置ズレ補正手段によりX線検出器の各々の検出器素子による投影データを補正する。
【選択図】図１１

Description

本発明は、放射線断層撮影装置および放射線断層撮影方法、検出器素子位置ズレ量測定装置に関するものである。

放射線断層撮影装置として、放射線であるX線を用いて被検体の断層面の画像を画像再構成するX線CT（Computed Tomography）装置が知られている。X線CT装置は、人体や物体などを被検体とし、医療用途や産業用途などの広範な用途で利用されている。

X線CT装置は、たとえば、被検体の体軸方向を軸として被検体の周囲を走査して、複数のビュー（view）方向から被検体にX線管を用いてX線を照射する。この時、X線管から照射されるX線をコリメータ（collimator）により遮って、被検体の撮影領域に照射するようにX線を制御する。そして、コリメータを通った複数のビュー方向から被検体を透過するX線を、それぞれのビュー方向ごとに多列X線検出器で検出し、多列X線検出器が検出したX線透過データ（投影データ）に基づいて被検体の撮影領域の断層像を画像再構成する。ここで、画像再構成される断層像は、アーチファクト（artifact）がなく、高いコントラスト(contrast)でノイズ（noise）の少ない、スライス厚さが一定であるなどの画像品質（画質）が求められる。

従来は、断層像にアーチファクトが発生することを防止し、優れた画質を得るために、様々な方法が提案されている（たとえば、特許文献1参照）。
特開２００３−２６００５１号公報

ところで、X線CT装置は、被検体の撮影部位が様々で、撮影目的が多様化してきており、解像度などの画質の向上や撮影の高速化が要求されている。このような要求に応えるため、X線CT装置は、被撮影体の周囲を一回転走査する間に複数枚の断層像を得ることができるように、複数の検出器素子が2次元マトリクス状に配列された多列X線検出器を持つようになり、配置される検出器素子数が増加してきている。また、このような多列X線検出器は、X線を検出する検出器素子が2次元マトリクス状に複数配列されているX線検出器モジュール（module）を複数持ち、製造性を容易にするために、複数のX線検出器モジュールがチャネル（channel）方向と列（row）方向とのそれぞれに隣接して配置されて構成されている。そして、さらに、多列X線検出器は、解像度をチャネル方向にもz方向にも向上させるために、複数の検出器素子が高密度に配置されている。

このように多列X線検出器は複数の検出器素子が高密度に配置されてきているため、特に、複数のX線検出器モジュールが1次元または2次元に隣接して配置される多列X線検出器においては、X線検出器モジュールを基準位置に精度良く配置することが製造上困難となり、各検出器素子は基準位置から外れて位置ズレして配置される場合があった。

このため、X線CT装置は、位置ズレしている検出器素子からの投影データを含む投影データに基づいて断層像を画像再構成することになるため、断層像にアーチファクトが発生し、画質が劣化する可能性がある。

したがって、本発明の目的は、検出器素子が基準位置から位置ズレしている場合であっても、画像のアーチファクトの発生を防止し、画質を向上し、また、各検出器素子の基準位置からの位置ズレ量を測定し、補正することができる放射線断層撮影装置および放射線断層撮影方法、検出器素子位置ズレ量測定装置を提供することにある。

上記目的を達成するため、本発明の放射線断層撮影装置は、被検体の撮影領域に放射線を照射する放射線照射手段と、撮影領域を透過する放射線を検出し投影データを出力する検出器素子が検出器面に配置されている放射線検出手段と、検出器素子が基準位置から外れている位置ズレ量を記憶する位置ズレ量記憶手段と、前記記憶手段が記憶している前記位置ズレ量に基づいて前記投影データを補正する位置ズレ補正手段とを有する。

以上の本発明の放射線断層撮影装置においては、放射線照射手段によって被検体の撮影領域に放射線を照射し、放射線検出手段の検出器面に配置されている検出器素子により撮影領域を透過する放射線を検出し投影データを出力し、位置ズレ量記憶手段により、検出器素子が基準位置から外れている位置ズレ量が記憶されている。そして、位置ズレ補正手段により、位置ズレ量記憶手段が記憶している位置ズレ量に基づいて、検出器素子による投影データを補正する。

上記目的を達成するために、本発明の放射線断層撮影方法は、検出器素子が配置されている放射線検出手段によって被検体の撮影領域に照射され透過した放射線が検出されて出力される投影データに基づいて、前記撮影領域の画像を画像再構成する放射線撮影方法であって、前記検出器素子が基準位置から外れている位置ズレ量を測定する工程と、前記測定された前記位置ズレ量に基づいて前記投影データを補正する工程とを有する。

以上の本発明の放射線撮影方法においては、放射線検出手段の検出器素子が基準位置から外れている位置ズレ量を測定し、測定された位置ズレ量に基づいて、放射線検出手段によって出力される撮影領域の投影データを位置ズレ補正し、撮影領域の画像を画像再構成する。

上記目的を達成するために、本発明の検出器素子位置ズレ量測定装置は、放射線を検出し投影データを出力する検出器素子が検出器面に配置されている放射線検出手段において、前記検出器素子が基準位置から外れている位置ズレ量を測定する検出器素子位置ズレ量測定装置であって、放射線検出手段の検出器面に前記放射線が照射されるように放射線検出手段の検出器素子に放射線を照射する放射線照射手段と、放射線検出手段の所定の検出器素子に照射しないように放射線照射手段からの放射線を遮蔽する放射線遮蔽手段と、放射線遮蔽手段を放射線検出手段の検出器面に沿って走査し放射線を放射線検出手段の検出器面に照射することにより放射線遮蔽手段の投影データを収集し、放射線遮蔽手段の投影データに基づいて位置ズレ量を測定する位置ズレ量測定手段とを有する。

以上の本発明の検出器素子位置ズレ量測定装置は、放射線検出手段の検出器面に沿って放射線遮蔽手段を走査し、放射線照射手段を用いて放射線を放射線検出手段の検出器面に照射することにより放射線遮蔽手段の投影データを取得し、放射線遮蔽手段の投影データに基づいて位置ズレ量を測定する。

第1の観点では、被検体の撮影領域に放射線を照射する放射線照射手段と、前記被検体を透過する前記放射線を検出し投影データを出力する検出器素子が検出器面に配置されている放射線検出手段と、前記検出器素子が基準位置から外れている位置ズレ量を記憶する位置ズレ量記憶手段と、前記記憶手段が記憶している前記位置ズレ量に基づいて前記投影データを補正する位置ズレ補正手段とを有することを特徴とする放射線断層撮影装置を提供する。

第2の観点では、前記放射線照射手段と前記放射線検出手段とを撮影領域（以下xy平面とする）に垂直な方向（以下z方向とする）を軸として撮影領域の周囲に回転させる回転手段を有し、前記位置ズレ量記憶手段は、回転される放射線検出手段のz方向の位置に対応して位置ズレ量を記憶することを特徴とする第1の観点に記載の放射線断層撮影装置を提供する。

第3の観点では、前記検出手段は、複数の検出器素子が2次元マトリクス状に配置されている検出器モジュールを有し、検出器モジュールの複数が1次元または2次元に近接して配置されており、前記補正手段は、検出器モジュール各々における位置ズレ量を算出し、各々の検出器モジュールの位置ズレ量に基づいて検出器モジュールの検出器素子による投影データを補正することを特徴とする第1または第2の観点に記載の放射線断層撮影装置を提供する。

第4の観点では、前記位置ズレ量を測定する位置ズレ量測定手段を有し、前記位置ズレ量記憶手段は、前記位置ズレ量測定手段が測定した位置ズレ量を記憶することを特徴とする、第1から第3のいずれかの観点に記載の放射線断層撮影装置を提供する。

第5の観点では、位置ズレ量測定手段は、前記回転手段によって回転される前記放射線検出手段の3次元位置に対応した位置ズレ量、またはチャネル方向とz方向の位置に対応した位置ズレ量を測定し、前記記憶手段は、位置ズレ量測定手段が測定した位置ズレ量を前記放射線検出手段の3次元位置、またはチャネル方向とz方向の位置に対応して記憶することを特徴とする第2の観点に記載の放射線断層撮影装置を提供する。

上記第1から第5までの観点による放射線断層撮影装置では、本発明は、放射線照射手段によって被検体の撮影領域に放射線を照射し、放射線検出手段の検出面に配置されている検出器素子により撮影領域を透過する放射線を検出し投影データを出力し、位置ズレ量記憶手段により、検出器素子が基準位置から外れている位置ズレ量が記憶されている。そして、位置ズレ補正手段により、位置ズレ記憶手段が記憶している位置ズレ量に基づいて、検出器素子による投影データを補正することができる。

第6の観点では、前記放射線検出手段の所定の検出器素子に照射しないように前記放射線照射手段からの放射線を遮蔽する放射線遮蔽手段を有し、前記位置ズレ量測定手段は、遮蔽手段を放射線検出手段の検出器面と放射線照射手段の間の撮影領域をz方向に沿って走査し、放射線を放射線検出手段の検出器面に照射することにより放射線遮蔽手段の投影データを取得し、放射線遮蔽手段の投影データに対して前記位置ズレ量を測定することを特徴とする第4または第5の観点に記載の放射線断層撮影装置を提供する。

第7の観点では、前記放射線遮蔽手段は、前記放射線検出手段の全検出器素子への照射を遮蔽するようなチャネル方向長さと、z方向の走査長さで形成されていることを特徴とする第6の観点に記載の放射線断層撮影装置を提供する。

第8の観点では、前記位置ズレ量測定手段は、前記放射線検出手段のチャネル方向に対して棒形状、または線状の前記放射線遮蔽手段の軸方向が斜めとなるようにしてz方向に沿って走査することを特徴とする第7の観点に記載の放射線断層撮影装置を提供する。

第9の観点では、前記位置ズレ補正手段により補正された投影データに基づいて撮影領域の画像を画像再構成する前記画像再構成手段を有することを特徴とする第1から第8のいずれかの観点に記載の放射線断層撮影装置を提供する。

第10の観点では、前記画像再構成手段が画像再構成する撮影領域の画像を表示する画像表示手段を有することを特徴とする第1から第9のいずれかの観点に記載の放射線断層撮影装置を提供する。

第11の観点では、前記照射手段は、前記放射線としてX線を照射する第1から第10のいずれかの観点に記載の放射線断層撮影装置を提供する。

上記第6から第11までの観点による放射線断層撮影装置では、本発明は、放射線を検出し投影データを出力する検出素子が検出面に配置されている放射線検出手段において、前記検出素子が基準位置から外れている位置ズレ量を測定する検出素子位置ズレ量測定装置であって、放射線検出手段の検出面に前記放射線が照射されるように放射線検出手段の検出器素子に放射線を照射する放射線照射手段と、放射線検出手段の所定の検出素子に照射しないように放射線照射手段からの放射線を遮蔽する放射線遮蔽手段と、放射線遮蔽手段を放射線検出手段の検出面に沿って走査し放射線を放射線検出手段の検出面に照射することにより放射線遮蔽手段の投影データを収集し、放射線遮蔽手段の投影データに基づいて位置ズレ量を測定する位置ズレ量測定手段とを有することができる。

第12の観点では、マトリクス状に検出器素子が配置されている放射線検出手段によって被検体の撮影領域に照射され透過した放射線が放射線検出手段により検出される投影データに基づいて、撮影領域の画像を画像再構成する放射線撮影方法であって、検出器素子が基準位置から外れている位置ズレ量を測定する工程と、測定された位置ズレ量に基づいて投影データを補正する工程とを有することを特徴とする放射線撮影方法を提供する。

上記第12の観点による放射線断層撮影方法では、本発明は、放射線検出手段の検出器素子が基準位置から外れている位置ズレ量を測定し、測定された位置ズレ量に基づいて、放射線検出手段によって出力される撮影領域の投影データを位置ズレ補正し、撮影領域の画像を画像再構成することができる。

第13の観点では、放射線を検出し投影データを出力する検出器素子が検出器面に1次元または2次元に近接して配置されている放射線検出手段において、前記検出器素子が基準位置から外れている位置ズレ量を測定する検出器素子位置ズレ量測定装置であって、前記放射線検出手段の前記検出器素子に放射線を照射する放射線照射手段と、放射線検出手段の前記検出器素子に放射線が照射されないように前記放射線照射手段からの放射線を遮蔽する放射線遮蔽手段と、前記放射線遮蔽手段を前記放射線検出手段の検出器面と放射線照射手段との間の撮影領域をz方向に沿って走査し、放射線を前記放射線検出手段の検出器面に照射することにより前記放射線遮蔽手段の投影データを取得し、前記放射線遮蔽手段の投影データに基づいて前記位置ズレ量を測定する位置ズレ量測定手段とを有することを特徴とする検出器素子位置ズレ量測定装置を提供する。

第14の観点では、前記放射線照射手段と前記放射線検出手段とを撮影領域に垂直な方向を軸として回転させる回転手段を有し、前記位置ズレ量測定手段は、回転される前記放射線検出手段のz方向の位置に対応して位置ズレ量を記憶することを特徴とする第13の観点に記載の検出器素子位置ズレ量測定装置を提供する。

第15の観点では、前記放射線遮蔽手段は、前記放射線検出手段の全検出器素子への照射を遮蔽するようなチャネル方向長さと、z方向の走査長さで形成されていることを特徴とする第14の観点に記載の検出器素子位置ズレ量測定装置を提供する。

第16の観点では、前記位置ズレ測定手段は、前記放射線検出手段の所定のチャネル方向に対して棒形状、または線状の放射線遮蔽手段の軸方向が斜めとなるようにしてz方向に沿って走査することを特徴とする第15の観点に記載の検出器素子位置ズレ量測定装置を提供する。

第17の観点では、前記放射線照射手段は、前記放射線としてX線を照射する第13から第16のいずれかの観点に記載の検出器素子位置ズレ量測定装置を提供する。
上記第13から第17までの観点による検出器素子位置ズレ量測定装置では、本発明は、放射線を検出し投影データを出力する検出素子が検出面に配置されている放射線検出手段において、前記検出素子が基準位置から外れている位置ズレ量を測定する検出素子位置ズレ量測定装置であって、放射線検出手段の検出面に前記放射線が照射されるように放射線検出手段の検出器素子に放射線を照射する放射線照射手段と、放射線検出手段の所定の検出素子に照射しないように放射線照射手段からの放射線を遮蔽する放射線遮蔽手段と、放射線遮蔽手段を放射線検出手段の検出面に沿って走査し放射線を放射線検出手段の検出面に照射することにより放射線遮蔽手段の投影データを収集し、放射線遮蔽手段の投影データに基づいて位置ズレ量を測定する位置ズレ量測定手段とを有することができる。

従って、本発明によれば、検出器素子が基準位置から位置ズレしている場合であっても、画像のアーチファクトの発生を防止し、画質を向上でき、また、各検出器素子の基準位置からの位置ズレ量を容易に測定可能な放射線断層撮影装置および放射線断層撮影方法、検出器素子位置ズレ量測定装置を提供することができる。

以下、図面を参照して本発明にかかる実施形態を詳細に説明する。

まず、本発明にかかる実施形態の放射線断層撮影装置の構成について説明する。図1は、本発明にかかる実施形態の放射線断層撮影装置としてのX線CT装置1の全体構成を示すブロック図である。また、図2は、本発明にかかる実施形態の放射線断層撮影装置としてのX線CT装置1の要部を示す構成図である。

図1に示すように、本実施形態のX線CT装置100は、走査ガントリ20と走査コンソール1と撮影テーブル10より構成されている。

走査ガントリ20は、X線管21とコリメータ23と多列X線検出器24と遮蔽ワイヤ101とデータ収集部25（DAS：Data Acquisition System）とX線コントローラ22と回転部コントローラ26とワイヤコントローラ102と回転部15とから構成されている。ここで、X線管21と多列X線検出器24とは、撮影領域を間に対向して配置されている。

なお、走査ガントリ20のうち、X線管21は本発明における放射線照射手段にあたり、多列X線検出器24は本発明における放射線検出手段にあたる。遮蔽ワイヤ101は本発明における放射線遮蔽手段にあたる。

X線管21は、X線コントローラ22からの制御信号CTL221に基づいて、X線の強度を制御し、コリメータ23を介して被検体の撮影領域に照射する。

コリメータ23は、X線管21と多列X線検出器24との間に配置されており、回転部コントローラ26からの制御信号CTL221に基づいて、X線管21から放射されたX線を、多列X線検出器24のチャネル方向（x方向）と列方向（z方向）とのそれぞれにおいて遮り、チャネル方向（x方向）と列方向（z方向）とに所定X線ビーム幅を有するコーン状のX線ビームに制御してX線の照射範囲を調整する。ここで、X線の照射範囲は、制御信号CTL221に基づいてコリメータ23のアパーチャのz方向の開口幅を調節することにより設定される。コリメータ23のアパーチャ開口幅の調節は、たとえば、列方向zの前後にそれぞれ設けられた2枚の板を移動させることにより行うことが可能である。

X線検出器アレイ23は、1モジュール16チャネル×64列の検出器モジュールが、たとえば、8つのX線検出器モジュール23A，23B，23C，23D，23E，23F，23G，23Hを有しており、8つのX線検出器モジュール23A，23B，23C，23D，23E，23F，23G，23Hが、AからHの順に列方向zに隣接して並列し配置されている。

図3（a）は、本実施形態における多列X線検出器24を構成する8つのX線検出器モジュール23A，23B，23C，23D，23E，23F，23G，23Hのうち、A列のX線検出器モジュール24Aを示す構成図である。図3に示すように、X線検出器モジュール24Aは、X線を検出する検出器素子24aがチャネル方向（x方向）と列方向（z方向）とに2次元マトリクス状に配列されている。2次元配列された複数の検出器素子24aは、全体として、円弧面状に湾曲したX検出器面を形成している。ここで、チャネル方向x方向には、たとえば、1000個の検出器素子24aが配列されており、列方向z方向には、たとえば、64列の検出器素子24aが配列されている。なお、B列からH列のX線検出器モジュール23B，23C，23D，23E，23F，23G，23Hも、図3に示すA列のX線検出器モジュール23Aと同様であり、合わせて64列×8モジュールの512列の検出器列が配列されている。

検出器素子24aは、たとえば、検出したX線を変換するシンチレータ（図3（b）参照）と、シンチレータが変換した光を電荷に変換するフォトダイオード（図3（b）参照）から構成される固体X線検出器である。なお、検出器素子24aは、これに限定されるものではなく、たとえば、カドミウム・テルル（CdTe）等を利用した半導体固体検出器素子の検出器素子24aであって良い。

遮蔽ワイヤ101は、多列X線検出器24の位置ズレ量を測定する際に、X線管21からのX線が多列X線検出器24の所定の検出器素子24aの一部分を照射しないようにX線遮蔽するために設けられている。遮蔽ワイヤ101は、X線遮蔽するために、たとえば、タングステンを用いて形成されており、多列X線検出器アレイ24のチャネル方向（x方向）に並ぶ検出器素子24aを全チャネル遮蔽するような長さを持っており、列方向（z方向）にも全列を遮蔽するような長さを走査する。ここで、遮蔽ワイヤ101は、制御信号CTL221に基づいて多列X線検出器24の検出器面に沿ってz方向に走査される。

図4は、X線管21とコリメータ23と多列X線検出器アレイ24と遮蔽ワイヤ101との相互関係を示す図である。図4において、図4（a）は図2に示す列方向zを視線とした側から見た状態を示す図であり、図4（b）は図2に示すチャネル方向（x方向）を視線とした側から見た状態を示す図である。また、図5は、図2に示すX線照射方向（y方向）を視線とし、多列X線検出器24の検出器素子24aの位置ズレを測定する場合の状態を示す図である。なお、図5では、図示を簡略化するために、多列X線検出器24において5×5の配列を有するX線検出器モジュール24A，24Bの2つが近接して配置されている部分を示し、一方のX線検出器モジュール24Bのそれぞれの検出器素子24aが、点線で示す基準位置SOから外れて配置されていることを示している。そして、図6は、図4（b）と同様にチャネル方向（x方向）を視線とし、被検体を撮影する場合の状態を示す図である。

図4（a），図4（b）に示すように、X線管21から放射されたX線は、コリメータ23によって所定のコーン角を有するコーン状のX線ビームとなるように成形され、多列X線検出器24に照射されるようになっている。そして、多列X線検出器24の位置ズレ量を測定する際には、コリメータ23と多列X線検出器24の間に遮蔽ワイヤ101が配置され、X線管21からのX線が多列X線検出器24の所定の検出器素子24aに照射しないようにX線を遮蔽する。

そして、図5に示すように、多列X線検出器24の位置ズレ量を測定する際には、遮蔽ワイヤ101は、ワイヤコントローラ102からの指令に基づき、多列X線検出器24の検出器素子24aの基準配列のチャネル方向（x方向）に対して遮蔽ワイヤ101の軸方向が所定の角度θを有するように斜めの状態とされて検出器面に沿ってz方向に走査される。この時、X線管21からX線が照射され、多列X線検出器24は、遮蔽ワイヤ101の投影データを出力する。

また、図6に示すように、被検体6を撮影する場合においては、撮影テーブル10のクレードル12上に載せられた被検体が走査ガントリ20の開口部内に搬入され、z方向を軸として被検体の周囲をデータ収集系がスキャンして、被検体の撮影領域にX線管21からX線照射される。そして、X線管21から照射されたX線は、コリメータ23を通して被検体を透過して多列X線検出器24の検出素子24aで検出される。そして、多列X線検出器24の検出素子24aは、被検体を透過して検出されるX線に基づいて撮影領域の投影データを収集する。

DAS（データ収集部）25は、多列X線検出器アレイ24の個々の検出素子24aによる投影データを収集し、操作コンソール1に出力する。図2に示すように、DAS（データ収集部）25は、例えば、アナログ−デジタル変換器（ADC）25Aとを有する。、アナログ−デジタル変換器25Aは、多列X線検出器24からの投影データをアナログ信号からデジタル信号に変換して、スリップリング30を経由して操作コンソール1のデータ収集バッファ5に出力する。

X線コントローラ22は、操作コンソール1の中央処理装置3からの制御信号CTL301を回転部コントローラ26を経由して制御信号CTL401として受け、X線管21に対し制御信号CTL221を出力してX線出力制御を行う。

回転部コントローラ26は、操作コンソール1の中央処理装置3による制御信号CTL301に応じて、コリメータ22に対して制御信号CTL261を出力しコリメータ22の開口幅を調整して、X線管21から放射されたX線を制御して多列X線検出器24の所望の領域に照射させる。

ワイヤコントローラ102は、操作コンソール1の中央処理装置3による制御信号CTL303に応じて、遮蔽ワイヤ101に対して制御信号CTL262を出力し、遮蔽ワイヤ101を投影データ収集に同期させてz方向に走査して、多列X線検出器24の検出器素子24aの基準配列のチャネル方向（x方向）に対して遮蔽ワイヤ101の軸方向が所定の角度θを有するように斜めの状態とし、また、検出器面に沿ってz方向に走査する。

回転部15は、回転部コントローラ26による制御信号に基づいて所定の方向に回転する。この回転部15には、X線管21とコリメータ23と多列X線検出器24とDAS（データ収集部）25とX線コントローラ22とが搭載されており、これらの構成要素は、回転部15の回転に伴って撮影領域に対して位置関係が変化する。被検体の撮影領域を撮影する際には、回転部15を回転させることにより、z方向を軸とし複数のビュー方向からX線を照射して、被検体を透過したX線ビームが検出され、撮影領域の投影データが出力される。また、多列X線検出器24の検出器素子24aの位置ズレ量を測定する際は、回転部15を回転させずに例えば0度方向（y方向）で固定しながら、撮影テーブル10上のクレードル12に取りつけられてz方向にクレードル12と共に動いて、多列X線検出器24の検出器素子24aが遮蔽ワイヤ101の投影データを収集する。その投影データに基づいて回転方向の位置に対応する位置ズレ量が測定される。

回転部コントローラ26は、操作コンソール1の中央処理装置3による制御信号CTL304に応じて、回転部15に対し制御信号を出力して、所定の方向に所望の回転数で、所望の速度で回転させることができる。

操作コンソール1は、中央処理装置3と入力装置2とモニタ6と記憶装置7とを主構成要素として有している。

中央処理装置3は、たとえば、マイクロコンピュータ、CPU等により構成され、各種の機能に応じたプログラムを有する。中央処理装置3は、入力装置2から入力される指示に応じて、被検体が載せられた撮影テーブル10のクレードルに走査ガントリ20の開口部に対して搬入または搬出させるために、制御信号を撮影テーブル10に出力する。

そして、中央処理装置3は、入力装置2から入力されるスキャン開始指示を受けて、走査ガントリ20の回転部コントローラ26に制御信号CTL301を出力して、走査ガントリ20の回転部15を所定方向に指示に応じた回数に回転させる。

また、中央処理装置3は、走査ガントリ20のX線管21にX線を出力させるために、制御信号CTL301を回転部コントローラ26経由で制御信号CTL401としてX線コントローラ25に出力する。

そして、中央処理装置3は、入力装置2から入力される被検体6の撮影領域の情報に応じて、多列X線検出器24の検出器素子24aの検出器素子の組合せのモードを指定するために、制御信号をDAS（データ収集部）25経由で多列X線検出器24に出力する。また、中央処理装置3はDAS（データ収集部）25が収集した投影データに、オフセット補正などの前処理を施す。

また、本実施形態の中央処理装置3は、位置ズレ補正部４１と位置ズレ量測定部４２と画像再構成部４３を有する。なお、本実施形態の位置ズレ補正部４１は、本発明における位置ズレ補正手段に相当する。また、位置ズレ量測定部４２は、本発明における位置ズレ量測定手段に相当し、画像再構成部４３は、本発明にかかる画像再構成手段に相当する。

位置ズレ補正部４１は、中央処理装置3にプログラムとして構成されている。位置ズレ補正部４１は、記憶装置7が記憶している各検出器素子24aの基準位置からの位置ズレ量を用いることにより、撮影領域の投影データを補正する。

本実施形態において、位置ズレ補正部４１は、X線検出器モジュール24Bの各々の検出器素子24aによる位置ズレ量を算出し、算出された位置ズレ量を用いてX線検出器モジュール24Bの検出器素子24aによる撮影領域の投影データを補正する。

位置ズレ量測定部４２は、中央処理装置3にプログラムとして構成されており、位置ズレ量を測定し、記憶装置7に記憶されている位置ズレ量を更新する場合に用いる。位置ズレ量測定部４２は、被検体が撮影領域に存在しない状態において、前述したように、多列X線検出器24の検出器素子24aの基準配列のチャネル方向(x方向)に対して遮蔽ワイヤ101の軸方向が所定の角度θを有するように斜めの状態とし、遮蔽ワイヤ101をX線検出器アレイ23の検出器面に沿ってz方向に走査する。そして、X線管21からX線を多列X線検出器24の検出器面に照射することにより撮影領域にある遮蔽ワイヤ101による投影データを収集し、遮蔽ワイヤ101による投影データに基づいて位置ズレ量を測定する。たとえば、記憶装置7に記憶されている基準位置における投影データと比較して、その差分を位置ズレ量とする。

また、本実施形態においては、位置ズレ量測定部４２は、回転部15を回転させることにより、多列X線検出器24の回転方向の位置に対応して検出器素子24aが出力する遮蔽ワイヤ101の投影データを取得し、その投影データに基づいて回転方向の位置に対応する位置ズレ量を測定する。なお、測定された各検出器素子の基準位置からの位置ズレ量は、記憶装置7に記憶されている位置ズレ量と置換されて記憶される。

画像再構成部４３は、中央処理装置3にプログラムとして構成されている。画像再構成部４３は、図7（b），（c）に示すように投影データの前処理、フィルタ関数重畳を行った後、複数のビュー方向からの投影データに基づいて画像再構成を行い、複数の断層像の画像を画像再構成する。本実施形態においては、前処理の中で位置ズレ補正処理を行ない、補正された投影データを用いる。また、画像再構成部４３における画像再構成には、たとえば、フィルタード・バックプロジェクション（filtered back projection）法が用いられる。そして、画像再構成部４３によって画像再構成された画像は、モニタ6に画像表示される。

入力装置2は、撮影条件等の情報を中央処理装置3に入力するために設けられており、たとえば、キーボードやマウスにより構成される。

モニタ6は、中央処理装置3からの指令に基づき、画像再構成された断層像やその他の各種情報を表示する。なお、本実施形態のモニタ6は、本発明における画像表示手段に相当する。

記憶装置7は、各種のデータや再構成画像およびプログラム等を記憶し、記憶データが、必要に応じて中央処理装置3によりアクセスされる。さらに、本実施形態において、記憶装置7は、多列X線検出器24の検出器素子24aが基準位置から外れている位置ズレ量を記憶する。たとえば、本実施形態の記憶装置7は、後述の検出器素子位置ズレ量率測定装置によって、あらかじめ測定された位置ズレ量を多列X線検出器24の3次元方向、またはチャネル方向とz方向の2次元方向の位置に対応して記憶している。そして、本実施形態の位置ズレ量測定部４２によって位置ズレ量が測定された場合は、記憶装置7に記憶されている位置ズレ量が更新されて記憶される。なお、本実施形態の記憶装置7の一部は、本発明にかかる位置ズレ量記憶手段に相当する。

つぎに、本発明における実施形態の検出器素子位置ズレ測定処理について説明する。本実施形態の検出器素子位置ズレ量測定処理は、図1に示すX線CT装置にて用いられる多列X線検出器24において、検出器素子24aが基準位置から外れている位置ズレ量を測定する。

本実施形態の検出器素子位置ズレ量測定処理では、撮影テーブル10のクレードル12の先、または上に遮蔽ワイヤ101を取りつけて、走査ガントリ20内の回転部15は0度方向(y方向)に固定したままで、クレードル12をz方向に走査しながらデータ収集が行なわれる。収集された投影データを中央処理装置3で処理することにより、検出器モジュール24aの各検出器の位置ズレ情報が得られる。

つぎに、上記の本実施形態の検出器素子位置ズレ量測定処理を用いる位置ズレ量測定方法について説明する。

図7（a）は、本実施形態の位置ズレ量測定方法の工程フローを示す工程フロー図である。本実施形態においては、説明を明確とするため、前述の図5に示した多列X線検出器24を用いて位置ズレ量測定方法を説明する。

前述したように、図5は、多列X線検出器24において、チャネル方向(x方向)と列方向（z方向）とにそれぞれ5列の検出器素子24aの配列を有するX線検出器モジュール24A，24Bの2つが近接して配置されている部分を示しており、一方のX線検出器モジュール24Bのそれぞれの検出器素子24aが、点線で示している基準位置SOから外れて配置されていることを示している。たとえば、X線検出器モジュール24Bにおいてチャネル方向（x方向）および列方向（z方向）のそれぞれ1列目に配置されている検出器素子24aについては位置B11に配置されており、基準位置B11'と異なっている。なお、図5においては、説明を明確とするため、基準位置SOとしては、B11からB15に配置されている検出器素子24aのみについて表記している。

まず、図7（ａ）に示すように、遮蔽ワイヤ101による投影データを取得する(P1)。本工程においては、始めに撮影テーブル10のクレードル12の先、または上に遮蔽ワイヤ101を図5のように、x軸に対してθだけ傾けて配置して取付けて、走査ガントリ20内の回転部15は0度方向（y方向）に固定した状態でスキャンを行なう。そして、位置ズレ量測定の開始の指示を入力装置2に入力する。位置ズレ量測定の開始の指示が入力された入力装置2は、中央処理装置3の位置ズレ量測定処理に位置ズレ量測定の開始の指示を出力する。そして、位置ズレ量測定処理は、走査ガントリ20内の回転部15を0度方向(y方向)に向くように、回転部15を制御する。そして、被検体が撮影領域に存在しない状態において、位置ズレ量測定処理により、多列X線検出器24の検出器素子24aの基準配列のチャネル方向（x方向）に対して遮蔽ワイヤ101の軸方向が、たとえば、角度θ＝23度であるように傾けた状態とする。そして、位置ズレ量測定処理によりクレードルをz方向に移動させ、遮蔽ワイヤ101を多列X線検出器24の検出器面に沿って列方向（z方向）へ一定速度で走査する。そして、X線管21からX線を多列X線検出器24の検出器面に照射することにより遮蔽ワイヤ101による投影データをそれぞれの検出器素子24aにより収集する。

つぎに、収集された投影データに基づいて、位置ズレ量の算出を行う（P2）。

図8は、B11に配置されている検出器素子24aが出力する遮蔽ワイヤ101による投影データを示しており、X線検出器モジュール24Aのチャネル方向（x方向）および列方向(z方向)のそれぞれ1列目の位置A11にある検出器素子24aを基準として遮蔽ワイヤ101が進行した距離を横軸に示し、投影データの強度を縦軸に示している。ここで、図8（a）は、多列X線検出器24の検出器面が0°方向を向いてチャネル方向（x方向）において実測される投影データP_B11，0°を実線で示し、基準位置での投影データPO _B11を破線より示している。また、図8（b）は、多列X線検出器24の検出器面が0度方向を向いて列方向zにおいて実測される投影データP_B11，0°を実線で示し、基準位置での投影データPO _B11を破線より示している。

B11に配置されている検出器素子24aは、多列X線検出器24のチャネル方向（x方向）において基準位置B11'より外れて別の位置B11に配置されているため、図8（a）に示すように、基準位置B11'のチャネル方向（x方向）の距離であるX'_B11でなく、別の位置B11のチャネル方向xの距離であるX _B11，0°において投影データP_B11，0°のピーク値が検出される。一方、図8（b）に示すように、B11に配置されている検出器素子24aは、多列X線検出器24の列方向zにおいて基準位置B11'と同じ位置である位置B11に配置されているため、基準位置B11'の列方向zの距離であるZ' _B11と同様に、位置B11の列方向zの距離であるZ _B11，0°に投影データP _B11，0°のピーク値が検出される。このため、多列X線検出器24のチャネル方向xおよび列方向zにおいて、位置ズレ量DX _B11，0°，DZ _B11，0°を、DX _B11，0°＝X _B11，0°−X' _B11，DZ _B11，0°＝Z _B11，0°−Z' _B11のようにして、それぞれについて基準位置との差分をとって算出する。

同様にして、B12〜15，B21〜25，B31〜35，B41〜45，B51〜55に配置されている検出器素子24aに対応する位置ズレ量を求め、最終的にDX _B11，0°〜DX _B55，0°，DZ _B11，0°〜DZ _B55，0°を算出する。

そして検出器面が重力方向と反対側となる0度位置にある多列X線検出器24を、回転部15を回転することにより、さまざまな方向となるように回転させる。たとえば、検出器面が重力方向と同じ方向となる180度位置になるように多列X線検出器24を配置する。そして、同様にして、B12〜15，B21〜25，B31〜35，B41〜45，B51〜55に配置されている検出器素子24aに対応する位置ズレ量DX _B11，180°〜DX _B55，180°，DZ _B11，180°〜DZ _B55，180°を算出する。

そして、算出された位置ズレ量率を、検出器素子位置ズレ量測定処理により求め、記憶装置7に記憶させる。

そして、上記のごとく、本実施形態の検出器素子位置ズレ量測定処理を用いて測定され記憶されている位置ズレ量は、位置ズレ量が測定された多列X線検出器24が本実施形態のX線CT装置100に設置される際に、そのX線CT装置100の記憶装置7に記憶されて利用される。

つぎに、上記の本実施形態のX線CT装置100を用いる放射線断層撮影方法としてのX線断層撮影方法について説明する。

図7（b），（c）は、本実施形態の放射線断層撮影方法としてのX線断層撮影方法の工程フローを示す工程フロー図である。

X線断層撮影方法においては、まず、図7（b）に示すように、被検体の撮影領域にX線管21からのX線ビームをさまざまなビュー方向から照射し、撮影領域を透過するX線ビームを多列X線検出器24の検出器素子24aにより検出して撮影領域の投影データを取得する（S1）。

ここでは、撮影領域の投影データの取得に先がけて、まず、オペレータにより入力装置2を介して被検体の撮影領域の情報が中央処理装置3に入力される。そして、中央処理装置3は、入力装置2から入力される情報に基づいて、被検体が載せられた撮影テーブル10のクレードル12を走査ガントリ20の開口部に搬入または搬出させるための制御信号を撮影テーブル10のクレードル12に出力し、被検体の撮影領域が走査ガントリ20の開口部の所望の位置となるように位置決めする。また、中央処理装置3は、制御信号CTL301を回転部コントローラ26経由でX線コントローラ22に出力して、X線コントローラ22にX線管21へ制御信号CTL221を出力させて、X線管21からのX線の出力を制御する。さらに、この時、中央処理装置3は、回転部コントローラ20に制御信号CTL301を出力し、コリメータ22の開口幅を制御する制御信号CTL261を出力する。

本実施形態においては、たとえば、図5に示すように、X線検出器モジュール24A，24Bの2つが近接して配置されている多列X線検出器24の検出器面を重力方向と反対の方向である0度方向に向けた状態において、A11〜15，A21〜25，A31〜35，A41〜45，A51〜55，B11〜15，B21〜25，B31〜35，B41〜45，B51〜55に配置されている検出器素子24ａによって被撮影体6の撮影領域Rを透過したX線が検出され、投影データR _A11，0°〜R _A55，0°，R _B11，0°〜R _B55，0°を取得する。そして、取得された投影データR _A11，0°〜R _A55，0°，R _B11，0°〜R _B55，0°は、DAS（データ収集部）25を介してデータ収集バッファ5に出力される。

つぎに、取得された投影データR _A11，0°〜R _A55，0°，R _B11，0°〜R _B55，0°に対して中央処理装置3が前処理を施す（S2）。前処理としては、図7（c）に示すように、オフセット補正（S21）、対数変換（S22）、X線線量補正（S23）、感度補正（S24）、ビームハードニング補正（S25）を行ない、最後に位置ズレ補正（S26）を行なう。これらの前処理により、投影データR _A11，0°〜R _A55，0°，R _B11，0°〜R _B55，0°から、前処理後の投影データR' _A11，0°〜R' _A55，0°，R' _B11，0°〜R' _B55，0°が得られる。

つぎに、前処理の最後の処理として中央処理装置3の位置ズレ量補正処理が、記憶装置7に記憶されている位置ズレ量に基づいて、位置ズレ補正を行なう（S26）。本実施形態においては、図5に示すように、2つのX線検出器モジュール24A，24Bのうち、一方のX線検出器モジュール24A，24Bの検出器素子24aが基準位置から外れている。このため、位置ズレ補正処理（S26）により、X線検出器モジュール24Bの検出器素子24aによる位置ズレ量DX _B12，0°〜DX _B55，0°，DZ _B21，0°〜DZ _B55，0°を用いてチャネル方向（x方向）と列方向（z方向）とのそれぞれにおける平均値ADX _B，0°，ADZ _B，0°を算出し、算出された位置ズレ量の平均値ADX _B，0°，ADZ _B，0°を用いてX線検出器モジュール24Bの検出器素子24aによる撮影領域の投影データR' _B11，0°〜R' _B55，0°を補正する。

また、各検出器モジュールの傾きθは、例えば以下の数式（１）のようにして求められる。

ここで投影データの位置ズレ補正について説明を行なう。

上記の投影データR' _B11，0°〜R' _B55，0°を全検出器モジュールについて結合し、投影データDet（ch，row，view）とする。ただしchはチャネル，rowは列，viewはビュー角度を示す。Det（ch，row，view）に対し、図10に示す理想的な多列X線検出器データをD（chproj，rowproj，view）にデータ変換を行なうとすると、この時のデータ変換は以下の数式（２）のようなアドレス変換を行なう。

具体的に図11，12，13に示す場合のアドレス変換は以下のようになる。

図11においてある検出器モジュールがz軸方向にdzずれていた場合、検出器の各列のピッチをpzとすると、下記の数式（３）のようなアドレス変換をすればよい。

図13において、多列Ｘ線検出器全体が回転方向にθずれていた場合、下記の数式（４）のようなアドレス変換を行なえばよい。

図12においては図14に示すように、多列Ｘ線検出器の検出器モジュールのch方向の幅をDx、１チャンネルの幅をdx、センタの検出器モジュールの番号を０、前後の検出器モジュール番号を−１、＋１とすると、nモジュール目は、以下の数式（５）の分だけ列方向(row方向)にずれる。

ｎは、以下の数式（６）となる。

ただし、chcenterはセンターチャンネルのチャンネル番号、Int〔 〕は正数の場合は整数に切り下げ、負の場合は絶対値の大きい方に整数化する関数とする。

上記の数式（７）のようなアドレス変換を行なえばよい。図9は、B11に配置されている検出器素子24aが出力する撮影領域の投影データを示しており、X線検出器モジュール24Aのチャネル方向（x方向）および列方向（z方向）のそれぞれ1列目の位置A11にある検出器素子24aを基準とした距離を横軸に示し、投影データの強度を縦軸に示している。ここで、図9（a）は、多列X線検出器24の検出器面が0度方向を向いてチャネル方向（x方向）において実測される補正前の投影データR' _B11，0°を破線で示し、補正後の投影データR'' _B11，0°を実線より示している。また、図9（b）は、多列X線検出器24の検出器面が0度方向を向いて列方向zにおいて実測される補正前の投影データR' _B11，0°を破線で示し、補正後の投影データR'' _B11，0°を実線より示している。

図9に示すように、B11の位置に配置されている検出器素子24aによる投影データR' _B11，0°については、基準位置B11'のチャネル方向xの距離であるX' _B11に位置ズレ量の平均値ADX _B，0°を加算してX'' _B11，0°の位置へと補正し、また、基準位置B11'の列方向zの距離であるZ' _B11に位置ズレ量の平均値ADZ _B，0°を加算してZ'' _B11，0°の位置へと補正して、補正後の投影データR'' _B11，0°を出力する。なお、図5に示したように、B11の位置に配置されている検出器素子24aは、チャネル方向（x方向）において基準位置B11'から外れているため、チャネル方向（x方向）への補正量が大きくなっている。

つぎに、図7（b）に示すように、位置ズレの補正を含んだ前処理後の投影データに対して、中央処理装置3は再構成関数重畳処理（S3）を行なう。

つぎに、再構成関数重畳処理後の投影データに対して、中央処理装置3が逆投影処理S4を行い、被検体の撮影領域の画像を画像再構成する（S4）。

つぎに、中央処理装置3が後処理を実施する（S5）。後処理としては、たとえば、CT値変換などの処理を実行する。

つぎに、後処理された画像データを中央処理装置3がモニタ6に出力して、被検体の撮影領域の画像が表示される（S6）。

以上のように、本実施形態は、検出器素子位置ズレ量率測定処理を用いることにより、多列X線検出器24の検出器面に沿ってz方向に遮蔽ワイヤ101を走査し、X線管21を用いてX線を多列X線検出器24の検出器面に照射することにより遮蔽ワイヤ101の投影データを収集し、遮蔽ワイヤ101の投影データに基づいて位置ズレ量を測定する。

そして、本実施形態は、X線CT装置100を用いることにより、X線管21によって被検体の撮影領域にX線を照射し、多列X線検出器24の検出器面に配置されている検出器素子24aにより撮影領域を透過するX線を検出し投影データを出力する。そして、記憶装置7が記憶している位置ズレ量に基づいて、位置ズレ補正処理S26により検出器素子24aによる投影データを補正する。

本実施形態は、簡易な構成からなる遮蔽ワイヤ101の投影データを用いて測定するため、各検出器素子の基準位置からの位置ズレ量を簡易に測定することができる。そして、その位置ズレ量に基づいて、位置ズレ補正処理により検出器素子24aによる投影データを補正するため、検出器素子が基準位置から位置ズレしている場合であっても、断層像のアーチファクトを低減させ、断層像の画質を向上できる。

また、本実施形態においてX線CT装置100は、検出器素子位置ズレ量率測定処理を有しているため、多列X線検出器24について各検出器素子24aの位置ズレ量を容易に測定して利用することが可能となり、また、あらかじめ記憶されている位置ズレ量を容易に更新して利用することができ、検出器素子24aの位置ズレによる断層像のアーチファクトの発生を防止し断層像の画質を向上できる。

また、本実施形態においては、X線管21と多列X線検出器24とを撮影領域のz方向を軸として撮影領域の周囲を回転させる回転部15を有し、回転される多列X線検出器24の回転方向の位置に対応して位置ズレ量が記憶装置7により記憶されている。このため、回転される多列X線検出器24の回転方向の位置によって検出器素子24aが重力などの影響を受けて位置ズレ量が異なる場合であっても、多列X線検出器24の回転方向の位置に対応して投影データを補正することができるため、断層像のアーチファクトの発生を防止し、断層像の画質を向上できる。

また、本実施形態においては、多列X線検出器24は、複数の検出器素子24aが2次元マトリクス状に配置されているX線検出器モジュール24A，24Bを有し、X線検出器モジュール24A，24Bの複数が近接して1次元または2次元配置されている。そして、位置ズレ補正処理は、各々のX線検出器モジュール24Bの各チャネルにおける位置ズレ量を算出し、位置ズレ量に基づいて所定のX線検出器モジュール24Bの検出器素子24aによる投影データのそれぞれを補正する。X線検出器モジュール24Bにおける位置ズレ量を用いて位置ズレ補正を行うために、断層像のアーチファクトの発生を防止し、断層像の画質を向上できる。

また、本実施形態においては、位置ズレ量測定処理は、多列X線検出器24のチャネル方向に対して遮蔽ワイヤ101の軸方向がx軸に対してθだけ傾いて斜めとなるようにして、多列X線検出器24の検出器面に沿って走査し位置ズレ量を測定する。多列X線検出器24の所定の配列方向に対して遮蔽ワイヤ101の軸方向を斜めとしているために、多列X線検出器24の列方向の一端部から他端部まで遮蔽ワイヤ101を1回z方向に走査することにより、2次元マトリクス状に配列されている検出器素子24aのチャネル方向（x方向）と列方向（z方向）との両方向の位置ズレ量を測定できるため、位置ズレ量を容易に測定して位置ズレ量の補正が簡単にできる。このため、断層像のアーチファクトの発生を防止し、断層像の画質を向上できる。

なお、本発明の実施に際しては、上記した実施の形態に限定されるものではなく、種々の変形形態を採用することができる。

たとえば、上記の実施形態において、位置ズレ量測定手段は、遮蔽手段を用いて位置ズレ量を測定しているが、これに限定されず、コリメータをz方向に走査して放射線検出手段の検出器素子24aを撮像して位置ズレを測定してもよい。

また、たとえば、上記の実施形態において、遮蔽手段は、検出手段の所定の配列方向にある検出器素子24aへの照射を遮蔽するような長さの棒形状の遮蔽ワイヤを用いていたが、これに限定されず、板形状遮蔽手段であってもよい。

また、たとえば、上記の実施形態においては、放射線としてX線を用いた例について説明したが、放射線はX線に限るものではなく、ガンマ線等の放射線であっても良い。

また、たとえば、上記実施形態においては、放射線照射手段としてX線管を用いたが、線形加速器を用いても良い。

また、図15，図16，図17のように、検出器列方向に多数の検出器モジュールを組合わせた場合も同様にチャネル，列の位置ズレ量補正は行なえる。

図1は、本発明の実施形態に係る放射線断層撮影装置としてのX線CT装置の全体構成を示すブロック図である。 図2は、本発明の実施形態に係る放射線断層撮影装置としてのX線CT装置の一部を示す構成図である。 図3は、本発明の実施形態に係る放射線断層撮影装置としてのX線CT装置におけるX線検出器モジュールの構成図である。 図4は、本発明の実施形態に係る放射線断層撮影装置としてのX線CT装置において、X線管とコリメータと多列X線検出器の相互関係を示す図である。 図5は、本発明の実施形態に係る放射線断層撮影装置としてのX線CT装置において、X線照射方向（y方向）を視線とし多列X線検出器の検出器素子の位置ズレを測定する場合の状態を示す図である。 図6は、本発明の実施形態に係る放射線断層撮影装置としてのX線CT装置において、X線管とコリメータと多列X線検出器の相互関係を示す図である。 図7は、本発明における実施形態の検出器素子位置ズレ量測定装置により、位置ズレ量を測定する際の工程フローを示す工程フロー図である。 図8は、本発明における実施形態の検出器素子位置ズレ量測定装置により、位置ズレ量を測定する際に、所定の検出器素子が出力する遮蔽ワイヤによる投影データを示す図である。 図9は、本発明における実施形態の放射線断層撮影装置により、断層撮影する際に、所定の検出器素子が出力する撮影領域の投影データのプロファイルを示す図である。 複数の検出器モジュールを接合し、多列X線検出器を構成した図である。 検出器モジュールの組合せ実施例1である。 検出器モジュールの組合せ実施例2である。 検出器モジュールの組合せ実施例3である。 検出器列方向に多数の検出器モジュールを組合わせた場合の組合せ実施例4である。 検出器列方向に多数の検出器モジュールを組合わせた場合の組合せ実施例5である。 検出器列方向に多数の検出器モジュールを組合わせた場合の組合せ実施例6である。 検出器列方向に多数の検出器モジュールを組合わせた場合の組合せ実施例7である。

符号の説明

１：操作コンソール
２：入力装置
３：中央処理装置
５：データ収集バッファ
６：モニタ
７：記憶装置
１０：撮影テーブル
１２：クレードル
１５：回転部
２０：走査ガントリ
２１：Ｘ線管
２２：Ｘ線コントローラ
２３：コリメータ
２４：多列Ｘ線検出器
２４a：検出器素子
２５：DAS（データ収集装置）
２５A：ADC（アナログ−デジタル変換器）
２６：回転部コントローラ
２９：制御コントローラ
３０：スリップリング
４１：位置ズレ補正部
４２：位置ズレ測定部
４３：画像再構成部
１０１：遮蔽ワイヤ
１０２：ワイヤコントローラ
ｄｐ：検出器面
Ｐ：再構成領域
ｐｐ：投影面

Claims (17)

1. 被検体の撮影領域に放射線を照射する放射線照射手段と、
   前記被検体を透過する前記放射線を検出し投影データを出力する検出器素子が検出器面に配置されている放射線検出手段と、
   前記検出器素子が基準位置から外れている位置ズレ量を記憶する位置ズレ量記憶手段と、
   前記記憶手段が記憶している前記位置ズレ量に基づいて前記投影データを補正する位置ズレ補正手段と、
   を有することを特徴とする
   放射線断層撮影装置。
2. 前記放射線照射手段と前記放射線検出手段とを撮影領域（以下xy平面とする）に垂直な方向（以下z方向とする）を軸として撮影領域の周囲に回転させる回転手段
   を有し、
   前記位置ズレ量記憶手段は、回転される放射線検出手段のz方向の位置に対応して位置ズレ量を記憶することを特徴とする
   請求項1に記載の放射線断層撮影装置。
3. 前記検出手段は、複数の検出器素子が2次元マトリクス状に配置されている検出器モジュールを有し、検出器モジュールの複数が1次元または2次元に近接して配置されており、
   前記補正手段は、検出器モジュール各々における位置ズレ量を算出し、各々の検出器モジュールの位置ズレ量に基づいて検出器モジュールの検出器素子による投影データを補正することを特徴とする
   請求項1または2に記載の放射線断層撮影装置。
4. 前記位置ズレ量を測定する位置ズレ量測定手段
   を有し、
   前記位置ズレ量記憶手段は、前記位置ズレ量測定手段が測定した位置ズレ量を記憶することを特徴とする
   請求項1から3のいずれかに記載の放射線断層撮影装置。
5. 位置ズレ量測定手段は、前記回転手段によって回転される前記放射線検出手段の3次元位置に対応した位置ズレ量、またはチャネル方向とz方向の位置に対応した位置ズレ量を測定し、
   前記位置ズレ量記憶手段は、位置ズレ量測定手段が測定した位置ズレ量を前記放射線検出手段の3次元位置、またはチャネル方向とz方向の位置に対応して記憶することを特徴とする
   請求項４に記載の放射線断層撮影装置。
6. 前記放射線検出手段の所定の検出器素子に照射しないように前記放射線照射手段からの放射線を遮蔽する放射線遮蔽手段
   を有し、
   前記位置ズレ量測定手段は、遮蔽手段を放射線検出手段の検出器面と放射線照射手段の間の撮影領域をz方向に沿って走査し、放射線を放射線検出手段の検出器面に照射することにより放射線遮蔽手段の投影データを取得し、放射線遮蔽手段の投影データに対して前記位置ズレ量を測定することを特徴とする
   請求項4または5に記載の放射線断層撮影装置。
7. 前記放射線遮蔽手段は、前記放射線検出手段の全検出器素子への照射を遮蔽するようなチャネル方向長さと、z方向の走査長さで形成されていることを特徴とする
   請求項6に記載の放射線断層撮影装置。
8. 前記位置ズレ量測定手段は、前記放射線検出手段のチャネル方向に対して棒形状、または線状の前記放射線遮蔽手段の軸方向が斜めとなるようにしてz方向に沿って走査することを特徴とする
   請求項7に記載の放射線断層撮影装置。
9. 前記位置ズレ補正手段により補正された投影データに基づいて撮影領域の画像を画像再構成する前記画像再構成手段
   を有することを特徴とする
   請求項1から8のいずれかに記載の放射線断層撮影装置。
10. 前記画像再構成手段が画像再構成する撮影領域の画像を表示する画像表示手段
    を有することを特徴とする
    請求項1から9のいずれかに記載の放射線断層撮影装置。
11. 前記照射手段は、前記放射線としてX線を照射する
    請求項1から10のいずれかに記載の放射線断層撮影装置。
12. マトリクス状に検出器素子が配置されている放射線検出手段によって被検体の撮影領域に照射され透過した放射線が検出され出力される投影データに基づいて、撮影領域の画像を画像再構成する放射線撮影方法であって、
    検出器素子が基準位置から外れている位置ズレ量を測定する工程と、
    測定された位置ズレ量に基づいて投影データを補正する工程と
    を有することを特徴とする
    放射線撮影方法。
13. 放射線を検出し投影データを出力する検出器素子が検出器面に1次元または2次元に近接して配置されている放射線検出手段において、前記検出器素子が基準位置から外れている位置ズレ量を測定する検出器素子位置ズレ量測定装置であって、
    前記放射線検出手段の前記検出器素子に放射線を照射する放射線照射手段と、
    前記放射線検出手段の前記検出器素子に放射線が照射されないように前記放射線照射手段からの放射線を遮蔽する放射線遮蔽手段と、
    前記放射線遮蔽手段を前記放射線検出手段の検出器面と前記放射線照射手段との間の撮影領域をz方向に沿って走査し、放射線を前記放射線検出手段の検出器面に照射することにより前記放射線遮蔽手段の投影データを取得し、前記放射線遮蔽手段の投影データに基づいて前記位置ズレ量を測定する位置ズレ量測定手段と
    を有することを特徴とする
    検出器素子位置ズレ量測定装置。
14. 前記放射線照射手段と前記放射線検出手段とを撮影領域に垂直な方向を軸として回転させる回転手段
    を有し、
    前記位置ズレ量測定手段は、回転される前記放射線検出手段のz方向の位置に対応して位置ズレ量を記憶することを特徴とする
    請求項13に記載の検出器素子位置ズレ量測定装置。
15. 前記放射線遮蔽手段は、前記放射線検出手段の全検出器素子への照射を遮蔽するようなチャネル方向長さと、z方向の走査長さで形成されていることを特徴とする
    請求項14に記載の検出器素子位置ズレ量測定装置。
16. 前記位置ズレ測定手段は、前記放射線検出手段の所定のチャネル方向に対して棒形状、または線状の放射線遮蔽手段の軸方向が斜めとなるようにしてz方向に沿って走査することを特徴とする
    請求項15に記載の検出器素子位置ズレ量測定装置。
17. 前記放射線照射手段は、前記放射線としてX線を照射する
    請求項13から16のいずれかに記載の検出器素子位置ズレ量測定装置。
    

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