JP2005321245A - 分光光度計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】繰り返し連続測定前にその測定中に使用される又は使用される可能性のある基本測定条件が入力設定されると、制御部4はその基本測定条件を1つずつ設定して暗電流測定、バックグラウンド測定、横軸変換処理などを実行して基準データを取得し、基準データ保存部31に保存しておく。試料の繰り返し測定時、データ処理部3では使用される基本測定条件に応じて対応する基準データを読み出し、そのデータに基づく処理を実行する。
【選択図】 図1
Description
a)繰り返し連続測定時に使用する又は使用する可能性のある1乃至複数の基本測定条件を測定者が入力するための入力手段と、
b)該入力手段により入力された1乃至複数の基本測定条件の下での測定に対応したデータ処理を実行する際に必要な情報を、その繰り返し連続測定の実行前に収集して記憶手段に保存しておく情報収集手段と、
c)前記繰り返し連続測定実行時に、所定の測定条件変更条件に基づき必要に応じて基本測定条件の設定を変更しながら測定を実行する測定制御手段と、
d)該測定制御手段により設定される基本測定条件の下での測定に応じた情報を前記記憶手段から読み出して、1回毎の測定により取得されたデータに対して該情報を用いたデータ処理を実行するデータ処理手段と、
を備えることを特徴としている。
(1)個数・時間評価方式
(2)測光値評価方式
(3)外部信号トリガ方式
この実施例では(1)個数・時間評価方式による基本測定条件の切替えを行うものとし、他の2つの方式については後で説明する。
(1)例えば外部指示信号が入力された時点で蓄積中の電荷に基づくデータについてはその直前つまり変更前の基本測定条件(電荷蓄積時間)に則って読み出しまで実行し、その読み出し終了後に変更後の新しい基本測定条件を設定する。
(2)例えば外部指示信号が入力されると、基本測定条件の変更がその時点で蓄積中である電荷に基づくデータの読み出しに間に合うか否かを判定し、間に合う場合には変更を実行し、間に合わない場合に上記(1)の処理を実行する。
C4 ≡ C1+(C2−C3)≧0
であるか否かを調べる。上記条件が満たされればその時点で蓄積中の電荷に基づくデータから電荷蓄積時間の変更が可能であると判断し、直ちに変更後の新しいカウント値C4をタイマに設定する。一方、上記条件が満たされなければ、その時点でのデータ読み出しが終了するまで待って、その後に変更後の新しいカウント値C4をタイマに設定する。
11…重水素ランプ
12…ハロゲンランプ
13…光路切替部
14…試料セル
15…分光器
16…PDA検出器
2…A/D変換部
3…データ処理部
31…基準データ保存部
4…制御部
41…基本測定条件保存部
5…入力部
6…表示部
Claims (5)
- 同一又は複数の試料に対して複数回の繰り返し連続測定を行う分光光度計において、
a)繰り返し連続測定時に使用する又は使用する可能性のある1乃至複数の基本測定条件を測定者が入力するための入力手段と、
b)該入力手段により入力された1乃至複数の基本測定条件の下での測定に対応したデータ処理を実行する際に必要な情報を、その繰り返し連続測定の実行前に収集して記憶手段に保存しておく情報収集手段と、
c)前記繰り返し連続測定実行時に、所定の測定条件変更条件に基づき必要に応じて基本測定条件の設定を変更しながら測定を実行する測定制御手段と、
d)該測定制御手段により設定される基本測定条件の下での測定に応じた情報を前記記憶手段から読み出して、1回毎の測定により取得されたデータに対して該情報を用いたデータ処理を実行するデータ処理手段と、
を備えることを特徴とする分光光度計。 - 前記測定制御手段は、繰り返し連続測定時に、測定開始からの経過時間、測定回数等、測定結果とは無関係な予め定めた測定条件変更条件に基づいて基本測定条件を変更することを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。
- 時間経過に対する測定値の特定の変動状態を判断するために予め定められた評価関数を記憶しておく評価関数記憶手段と、繰り返し連続測定の実行中、各測定毎に前記評価関数を用いて測定値から評価値を算出する評価値算出手段と、をさらに備え、前記測定制御手段は、該評価値算出手段により算出された評価値又は所定の基準に照らした該評価値の判断結果を測定条件変更条件として基本測定条件を変更することを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。
- 前記測定制御手段は、繰り返し連続測定時に、外部から特定の信号が入力されることを測定条件変更条件として、該信号の入力を契機として基本測定条件を変更することを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。
- 試料を透過した又は反射した光を波長分散させ、その波長分散光をフォトダイオードアレイ検出器により検出する分光光度計であって、前記基本測定条件は該フォトダイオードアレイ検出器の電荷蓄積時間を含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の分光光度計。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7787120B2 (en) | 2007-06-28 | 2010-08-31 | Hitachi High-Technologies Corporation | Spectrophotometer and liquid chromatography system |
JP2014089092A (ja) * | 2012-10-30 | 2014-05-15 | Shimadzu Corp | 分析装置の制御装置 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62242822A (ja) * | 1986-04-14 | 1987-10-23 | Minolta Camera Co Ltd | 色彩測定装置 |
JPH0315749A (ja) * | 1989-03-10 | 1991-01-24 | Unitika Ltd | 金属洗浄液の分析方法及び装置 |
JPH04125430A (ja) * | 1990-09-17 | 1992-04-24 | Hitachi Ltd | 多波長分光光度計 |
JPH075040A (ja) * | 1993-06-17 | 1995-01-10 | Juki Corp | 色彩計 |
JPH0763610A (ja) * | 1993-08-24 | 1995-03-10 | Jasco Corp | 積算型分光光度計 |
JPH0815013A (ja) * | 1994-06-29 | 1996-01-19 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
JPH11344380A (ja) * | 1998-06-02 | 1999-12-14 | Nippon Applied Technology:Kk | 微弱発光分析装置の検出器ノイズ削減機構 |
JP2000074826A (ja) * | 1998-08-28 | 2000-03-14 | Perkin Elmer Ltd | シングルビ―ム型の分光計及びシングルビ―ム型の分光計の操作方法 |
JP2001027605A (ja) * | 1999-07-13 | 2001-01-30 | Hamamatsu Photonics Kk | 蛍光測定装置 |
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62242822A (ja) * | 1986-04-14 | 1987-10-23 | Minolta Camera Co Ltd | 色彩測定装置 |
JPH0315749A (ja) * | 1989-03-10 | 1991-01-24 | Unitika Ltd | 金属洗浄液の分析方法及び装置 |
JPH04125430A (ja) * | 1990-09-17 | 1992-04-24 | Hitachi Ltd | 多波長分光光度計 |
JPH075040A (ja) * | 1993-06-17 | 1995-01-10 | Juki Corp | 色彩計 |
JPH0763610A (ja) * | 1993-08-24 | 1995-03-10 | Jasco Corp | 積算型分光光度計 |
JPH0815013A (ja) * | 1994-06-29 | 1996-01-19 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
JPH11344380A (ja) * | 1998-06-02 | 1999-12-14 | Nippon Applied Technology:Kk | 微弱発光分析装置の検出器ノイズ削減機構 |
JP2000074826A (ja) * | 1998-08-28 | 2000-03-14 | Perkin Elmer Ltd | シングルビ―ム型の分光計及びシングルビ―ム型の分光計の操作方法 |
JP2001027605A (ja) * | 1999-07-13 | 2001-01-30 | Hamamatsu Photonics Kk | 蛍光測定装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7787120B2 (en) | 2007-06-28 | 2010-08-31 | Hitachi High-Technologies Corporation | Spectrophotometer and liquid chromatography system |
JP2014089092A (ja) * | 2012-10-30 | 2014-05-15 | Shimadzu Corp | 分析装置の制御装置 |
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Publication number | Publication date |
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