JP2005294834A - リソグラフィック装置及びデバイス製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】リソグラフィック装置は、照明システムに放射を提供するようになされた放射源であって、第1の波長範囲の放射及び第1の波長範囲とは異なる第2の波長範囲の放射を提供するようになされた放射源を備えている。サポートは、放射の断面にパターンを付与するようになされたパターン化デバイスを支持するようになされている。基板テーブルは、基板を保持するようになされ、投影システムは、パターン化された放射を基板の目標部分に投射するようになされている。第1の波長範囲は、リソグラフィック装置の一次波長である。第2の波長範囲は、リソグラフィック装置のセットアップに使用することができる。このセットアップには、較正、認定、性能試験及びアラインメントのうちの1つ又は複数が含まれている。また、第2の波長範囲を使用して他の基板を露光することも可能である。
【選択図】図1
Description
1.ステップ・モード
基本的にマスク・テーブルMT及び基板テーブルWTが静止状態に維持され、投影ビームに付与されたパターン全体が目標部分に1回で投影される(つまり単一静止露光)。次に、基板テーブルWTがX及び/又はY方向にシフトされ、異なる目標部分が露光される。ステップ・モードでは、露光視野の最大サイズによって、単一静止露光で画像化される目標部分のサイズが制限される。
2.走査モード
投影ビームに付与されたパターンが目標部分に投影されている間、マスク・テーブルMT及び基板テーブルWTが同期走査される(つまり単一動的露光)。マスク・テーブルMTに対する基板テーブルWTの速度及び方向は、投影システムPLの倍率(縮小率)及び画像反転特性によって決定される。走査モードでは、露光視野の最大サイズによって、単一動的露光における目標部分の幅(非走査方向の)が制限され、また、走査運動の長さによって目標部分の高さ(走査方向の)が決定される。
3.その他のモード
プログラム可能パターン化デバイスを保持するべくマスク・テーブルMTが基本的に静止状態に維持され、投影ビームに付与されたパターンが目標部分に投影されている間、基板テーブルWTが移動若しくは走査される。このモードでは、通常、パルス放射源が使用され、走査中、基板テーブルWTが移動する毎に、或いは連続する放射パルスと放射パルスの間に、必要に応じてプログラム可能パターン化デバイスが更新される。この動作モードは、上で参照したタイプのプログラム可能ミラー・アレイなどのプログラム可能パターン化デバイスを利用しているマスクレス・リソグラフィに容易に適用することができる。
2、3 放射源エレメント
4 可動ミラー
5 フィルタ
IF1、IF2 位置センサ
IL 照明システム(イルミネータ)
LP リソグラフィック装置
M1、M2 マスク位置合せマーク
MA パターン化デバイス(マスク)
MT 第1のサポート(マスク・テーブル)
P1、P2 基板位置合せマーク
PB 放射ビーム
PL 投影システム(「レンズ」)
PM 第1の位置決めデバイス
PW 第2の位置決めデバイス
SO 放射源
W 基板(レジスト被覆ウェハ)
WT 基板テーブル
Claims (22)
- 照明システムに放射を提供するようになされた放射源であって、第1の波長範囲の放射及び第1の波長範囲とは異なる第2の波長範囲の放射を提供するようになされた放射源と、
前記放射の断面にパターンを付与するようになされたパターン化デバイスを支持するようになされたサポートと、
基板を保持するようになされた基板テーブルと、
パターン化された放射を前記基板の目標部分に投射するようになされた投影システムとを備えたリソグラフィック装置。 - 前記放射源が、前記第1及び第2の両方の波長範囲の放射を提供することができる放射源と、前記第1若しくは第2の波長範囲の前記放射を提供するようになされた取外し可能フィルタとをさらに備えた、請求項1に記載のリソグラフィック装置。
- 前記放射源が、前記第1の波長範囲の放射を提供するようになされた第1の放射源エレメントと、前記第2の波長範囲の放射を提供するようになされた第2の放射源エレメントと、前記第2の放射源エレメントから前記照明システムへ放射を導くようになされた取外し可能放射ディレクタとをさらに備えた、請求項1に記載のリソグラフィック装置。
- 前記第1の波長範囲が、制御された環境で使用される波長範囲であり、前記第2の波長範囲が、前記制御された環境が確立されていない場合に使用される波長範囲である、請求項1に記載のリソグラフィック装置。
- 前記第1の波長範囲がEUV領域に存在する、請求項1に記載のリソグラフィック装置。
- 第1の波長が約13nmである、請求項5に記載のリソグラフィック装置。
- 前記第1の波長範囲がUV領域に存在する、請求項1に記載のリソグラフィック装置。
- 前記第1の波長が約157nmと193nmの間の範囲に存在する、請求項7に記載のリソグラフィック装置。
- 前記第2の波長範囲が前記リソグラフィック装置のセットアップに使用され、前記セットアップが、較正、認定、性能試験及びアラインメントのうちの1つ又は複数からなる、請求項1に記載のリソグラフィック装置。
- 前記第1の波長範囲を使用して前記基板が露光され、前記第2の波長範囲を使用して他の基板が露光される、請求項1に記載のリソグラフィック装置。
- 前記第2の波長範囲が約150nmと350nmの間の範囲に存在する、請求項1に記載のリソグラフィック装置。
- 基板を提供するステップと、
第1の波長範囲の放射及び前記第1の波長範囲とは異なる第2の波長範囲の放射を提供するステップと、
前記放射の断面をパターン化するステップと、
パターン化された放射を前記基板の目標部分に投射するステップとを含むデバイス製造方法。 - 前記第1若しくは第2の波長範囲の放射をフィルタ除去するステップをさらに含む、請求項12に記載の方法。
- 前記第1若しくは第2の波長範囲の放射を照明システムに導くステップをさらに含む、請求項12に記載の方法。
- 前記第1の波長範囲が、制御された環境中を放射が伝搬する波長範囲であり、前記第2の波長範囲が、前記制御された環境が確立されていない場合に放射が伝搬する波長範囲である、請求項12に記載の方法。
- 前記第1の波長範囲がEUV領域に存在する、請求項12に記載の方法。
- 第1の波長が約13nmである、請求項16に記載の方法。
- 前記第1の波長範囲がUV領域に存在する、請求項12に記載の方法。
- 前記第1の波長が約157nmと193nmの間の範囲に存在する、請求項18に記載の方法。
- リソグラフィック装置のセットアップに前記第2の波長範囲を使用するステップをさらに含み、前記セットアップが、較正、認定、性能試験及びアラインメントのうちの1つ又は複数からなる、請求項12に記載の方法。
- 前記基板の露光に前記第1の波長範囲を使用するステップと、他の基板の露光に前記第2の波長範囲を使用するステップとをさらに含む、請求項12に記載の方法。
- 前記第2の波長範囲が約150nmと350nmの間の範囲に存在する、請求項12に記載の方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/813,682 US7265366B2 (en) | 2004-03-31 | 2004-03-31 | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005294834A true JP2005294834A (ja) | 2005-10-20 |
JP4429201B2 JP4429201B2 (ja) | 2010-03-10 |
Family
ID=34887710
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005098186A Expired - Fee Related JP4429201B2 (ja) | 2004-03-31 | 2005-03-30 | リソグラフィック装置及びデバイス製造方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7265366B2 (ja) |
EP (1) | EP1582927A1 (ja) |
JP (1) | JP4429201B2 (ja) |
KR (1) | KR100695555B1 (ja) |
CN (1) | CN100520588C (ja) |
SG (1) | SG115815A1 (ja) |
TW (1) | TWI265384B (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7265366B2 (en) * | 2004-03-31 | 2007-09-04 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US7632012B2 (en) * | 2005-09-01 | 2009-12-15 | Siemens Energy, Inc. | Method of measuring in situ differential emissivity and temperature |
US9052615B2 (en) | 2008-08-29 | 2015-06-09 | Gigaphoton Inc. | Extreme ultraviolet light source apparatus |
JP5474522B2 (ja) * | 2009-01-14 | 2014-04-16 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光源システム |
WO2010124910A1 (en) | 2009-04-27 | 2010-11-04 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and detector apparatus |
CN101634815B (zh) * | 2009-08-31 | 2011-06-29 | 上海微电子装备有限公司 | 一种基于多个不同波长的对准方法 |
TWI448830B (zh) | 2010-02-09 | 2014-08-11 | Asml Netherlands Bv | 微影裝置及元件製造方法 |
CN105372940A (zh) * | 2014-08-28 | 2016-03-02 | 上海微电子装备有限公司 | 用于光刻设备的光源切换装置 |
CN106773540A (zh) * | 2016-11-29 | 2017-05-31 | 四川大学 | 一种大面积纳米缝隙阵列及其制作方法 |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2006501660A (ja) * | 2002-09-30 | 2006-01-12 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | 照明の同定用のセンサを備える波長≦193nm用の照明システム |
EP1434092A1 (en) * | 2002-12-23 | 2004-06-30 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic apparatus, device manufacturing method, and device manufactured thereby |
TWI264620B (en) * | 2003-03-07 | 2006-10-21 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
EP1517183A1 (en) * | 2003-08-29 | 2005-03-23 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic apparatus, device manufacturing method, and device manufactured thereby |
US7081992B2 (en) * | 2004-01-16 | 2006-07-25 | Euv Llc | Condenser optic with sacrificial reflective surface |
US7265366B2 (en) * | 2004-03-31 | 2007-09-04 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
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US7414722B2 (en) * | 2005-08-16 | 2008-08-19 | Asml Netherlands B.V. | Alignment measurement arrangement and alignment measurement method |
-
2004
- 2004-03-31 US US10/813,682 patent/US7265366B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-03-23 TW TW094108958A patent/TWI265384B/zh not_active IP Right Cessation
- 2005-03-30 KR KR1020050026260A patent/KR100695555B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2005-03-30 SG SG200501975A patent/SG115815A1/en unknown
- 2005-03-30 CN CNB2005100595681A patent/CN100520588C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2005-03-30 EP EP05075741A patent/EP1582927A1/en not_active Withdrawn
- 2005-03-30 JP JP2005098186A patent/JP4429201B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100695555B1 (ko) | 2007-03-14 |
US7265366B2 (en) | 2007-09-04 |
CN1677239A (zh) | 2005-10-05 |
EP1582927A1 (en) | 2005-10-05 |
SG115815A1 (en) | 2005-10-28 |
US20050218342A1 (en) | 2005-10-06 |
TWI265384B (en) | 2006-11-01 |
JP4429201B2 (ja) | 2010-03-10 |
TW200604752A (en) | 2006-02-01 |
KR20060044966A (ko) | 2006-05-16 |
CN100520588C (zh) | 2009-07-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20060904 |
|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425 Effective date: 20070614 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080527 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080812 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090218 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090514 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091202 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091215 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121225 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S802 | Written request for registration of partial abandonment of right |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R311802 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121225 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131225 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |