JP2005291883A - 光学フィルムの検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 剥離性フィルムの剥離性を良好にして光学フィルムの欠陥検査の効率を向上できる光学フィルムの検査方法を提供すること。
【解決手段】 本発明は、剥離性フィルム１２と剥離性フィルム１４が貼り付けられ液晶フィルム２を含む光学フィルム１を備えた剥離性フィルム付き光学フィルム１２から、ロール１６Ｄを用いて剥離性フィルム１４を剥離し光学フィルム１を検査する方法において、ロール１６Ｄの外径を３０ｍｍ以下とする。この方法によれば、剥離性フィルム１４の剥離時に、光学フィルム１の表面への剥離残りの散在を十分に防止できる。このため、光学フィルム１を２枚の偏光板１８ａ，１８ｂで挟み、光源２０で光を偏光板１８ａ、光学フィルム１、偏光板１８ｂに通す欠陥検査工程で、剥離残りに起因する輝点の出現が十分に防止されるため、光学フィルム１の欠陥について的確な検査が可能となる。
【選択図】 図２

Description

本発明は、液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法に関する。

液晶フィルムを含む光学フィルムは、その製造工程中、当該光学フィルム表面を保護するため、保護層として剥離性フィルムが最外層となるように製造される。従って、光学フィルムの品質等を検査する際には、保護層として機能している剥離性フィルムを剥離しなければ光学フィルム自体の当該検査等を行うことができない

光学フィルムの検査工程において、剥離性フィルムは、ロールを用い、光学フィルムの引張り方向と所定角度をなす方向に引っ張ることにより剥離される。

しかしながら、前述した従来の光学フィルムの検査方法は、以下に示す課題を有していた。

即ち、従来の光学フィルムの検査方法では、剥離性フィルムの剥離後、光学フィルムの表面に剥離性フィルムの剥離残りが散在する場合があった。この剥離残りは、光学フィルムを２枚の偏光板で挟み、バックライトで光を偏光板、光学フィルム及び偏光板に通す欠陥検査工程において、光学フィルムに含まれる液晶フィルムが欠陥を有していない場合でも輝点として現れる場合があった。そのため、光学フィルムの欠陥検査に支障を与えることとなり、欠陥の的確な検査の妨げとなっていた。従って、欠陥検査に手間がかかり、検査効率が低下していた。

本発明は、剥離性フィルムの剥離性を良好にして光学フィルムの欠陥検査の効率を向上させることができる光学フィルムの検査方法を提供することを目的とする。

本発明者らは、上記課題を解決するため鋭意研究を重ねた結果、剥離性フィルムと光学フィルムとの分離時に使用するロールの外径が剥離性フィルムと光学フィルムとの剥離性に大きく影響することを見出し、本発明を完成するに至った。

即ち本発明は、剥離性フィルムと、前記剥離性フィルムが貼り付けられ液晶フィルムを含む光学フィルムとを備えた剥離性フィルム付き光学フィルムから、ロールを用いて剥離性フィルムを剥離して光学フィルムを検査する光学フィルムの検査方法において、前記ロールの外径を３０ｍｍ以下とすることを特徴とする。

この検査方法によれば、剥離性フィルムと光学フィルムとの分離時に、分離された光学フィルムの表面への剥離残りの散在を十分に防止することができる。このため、光学フィルムを２枚の偏光板で挟み、光源で光を偏光板、光学フィルム、偏光板に通す欠陥検査工程において、剥離残りに起因する輝点の出現が十分に防止される。このため、光学フィルムの欠陥について的確な検査を行うことが可能となる。

なお、ロールの外径が３０ｍｍを超えると、光学フィルムからの剥離性フィルムの剥離性が悪くなり、光学フィルムの欠陥検査の効率が低くなる。また剥離性フィルムの剥離時において、剥離性フィルムとともに光学フィルムの一部（例えば液晶フィルム）が剥離除去されてしまうおそれがあり、光学フィルム製品の歩留り低下を招いてしまう。

上記検査方法においては、前記剥離性フィルムの剥離時において、ロールの外径は５ｍｍ以上であることが好ましい。ロールの外径が５ｍｍ未満では、外径が５ｍｍ以上である場合に比べて、検査対象となる光学フィルムにしわが生じるおそれがある。またロールの外径が５ｍｍ未満では、外径が５ｍｍ以上である場合に比べて、剥離性フィルムの剥離時において、剥離性フィルムとともに光学フィルムの一部（例えば液晶フィルム）が剥離除去されてしまうおそれがあり、光学フィルム製品の歩留り低下を招いてしまう。

上記検査方法においては、前記剥離性フィルムの剥離時において、光学フィルムの引張方向と、前記剥離性フィルムの引張り方向とのなす剥離角を９０°以上とすることが好ましく、１２０°以上とすることがより好ましい。剥離角が９０°未満では、剥離角が上記範囲内にある場合と比べて剥離状態が不安定となり、剥離残り等の発生が生じることがあり、その結果、例えば欠陥検査等の検査を的確に行うことができなくなるおそれがある。また剥離角が９０°未満では、剥離角が上記範囲内にある場合と比べて、剥離性フィルムの剥離時において、剥離性フィルムとともに光学フィルムの一部（例えば液晶フィルム）が剥離除去されてしまうおそれがあり、光学フィルム製品の歩留り低下を招いてしまう。

上記検査方法においては、前記剥離性フィルムの剥離時において、前記剥離性フィルムの張力を７．５〜３１０Ｎ／ｍとすることが好ましい。張力が上記範囲を外れると、張力が上記範囲内にある場合に比べて、光学フィルムにしわやたるみが生じるおそれがある。

本発明の光学フィルムの検査方法によれば、剥離性フィルムの剥離性を良好にして光学フィルムの欠陥検査の効率を向上させることができる。

以下、添付図面とともに、本発明の光学フィルムの検査方法の実施形態について詳細に説明する。

まず本発明の検査方法において検査対象となる光学フィルムについて図１を参照して説明する。

図１に示すように、光学フィルム１は、液晶フィルム２を含む。液晶フィルム２としては、例えば厚さ方向に沿って配向軸がねじれるねじれ配向液晶フィルムを用いることができる。

光学フィルム１は、液晶フィルム２を含むものであればよく、従って、液晶フィルム２のほかに、他のフィルムを含んでいてもよい。他のフィルムには通常、図１に示すように、液晶フィルム２を挟むオーバーコート層４及びアンダーコート層６のほか、液晶フィルム２、オーバーコート層４及びアンダーコート層６からなる積層体８と貼り合わせられるフィルム１０などがある。このようなフィルム１０としては、ＴＡＣ、ＰＥＴなどがあるが、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンサルファイド、ポリアリレート、ポリエチレンサルファイド、アモルファスポリエチレンなども用いることができる。

一方、本発明の検査方法では、図１に示す剥離性フィルム付き光学フィルム１２から剥離性フィルム１４を剥離する。剥離性フィルム付き光学フィルム１２においては、剥離性フィルム１４は、光学フィルム１の運搬中、その表面を保護するために直接、またはアクリル樹脂等の接着剤１６を介して光学フィルム１に貼り合わせられている。剥離性フィルム１４としては一般にはＰＥＴが用いられるが、ＰＥＴのほか、例えばポリメチルメタクリレート、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンサルファイド、ポリアリレート、ポリエチレンサルファイド、アモルファスポリエチレン、トリアセチルセルロースなども用いることができる。

図２は、光学フィルム１が、剥離性フィルム１４を剥離されて欠陥検査されるまでの流れを示す工程図である。

図２に示すように、剥離性フィルム付き光学フィルム１２は、ロール１６Ａに巻かれてロール状となっており、剥離性フィルム付き光学フィルム１２は、ロール１６Ｂ、１６Ｃ、１６Ｄ、１６Ｅ、１６Ｆ、１６Ｇ、１６Ｈを経て繰り出され、ロール１６Ｄを通された後であってロール１６Ｅに到達する前に、剥離性フィルム１４を剥離される。このとき、剥離性フィルム１４は、光学フィルム１の引張り方向と所定角度をなす方向に引っ張ることにより剥離される。ここで、ロール１６Ｄの外径Ｒは３０ｍｍ以下となっている（図３参照）。

ロール１６Ｄで剥離性フィルム１４を剥離されて露出された光学フィルム１は、例えばロール１６Ｅとロール１６Ｆとの間で検査される。具体的には、光学フィルム１に含まれる液晶フィルム２における液晶の欠陥が検査されることになる。

液晶の欠陥の検査は、例えば次のようにして行う。即ち光学フィルム１にバックライト２０を対向配置し、バックライト２０と光学フィルム１との間に、偏光板１８ａを配置する。そして、バックライト２０を点灯し、光学フィルム１に対してバックライト２０と反対側で、偏光板１８ｂ越しに光学フィルム１を覗き込み、光学フィルム１に含まれる液晶フィルム２における液晶欠陥を検査する。このとき、偏光板１８ｂは、偏光板１８ａ、光学フィルム１に対して、液晶フィルム２における液晶に欠陥がない場合に偏光板１８ｂを透過する光の強度が最小となるように配置する。すると、液晶に欠陥がある場合には、その欠陥部分が輝点として現れるので、これにより欠陥を検査することができる。このとき、欠陥が発見されたら、マーカー１７を使用してマーキングを行い、マーキングインクを乾燥装置１９で乾燥させる。

このとき、上記のようにロール１６Ｄの外径Ｒを３０ｍｍ以下とすることにより、剥離性フィルム１４の剥離時において、光学フィルム１の表面への剥離残りの散在が十分に防止されている。このため、剥離残りに起因する輝点の出現が十分に防止される。このため、液晶自体に起因する欠陥が輝点として現れることとなり、光学フィルム１の欠陥について的確な検査を行うことが可能となる。よって、光学フィルム１の欠陥検査の効率を向上させることができる。またロール１６Ｄの外径Ｒを３０ｍｍ以下とすることにより、剥離性フィルム１４の剥離時において、剥離性フィルム１４とともに光学フィルム１の一部（例えば液晶フィルム）が剥離除去されることを十分に防止することもできる。このため、光学フィルム１のうち製品とすることができない部分を十分に減らすことができ、製品の歩留まりを十分に向上させることができる。

なお、ロール１６Ｄの外径Ｒが３０ｍｍを超えると、光学フィルム１からの剥離性フィルム１４の剥離性が悪くなり、光学フィルム１の欠陥検査の効率が低くなる。またロール１６Ｄの外径Ｒが３０ｍｍを超えると、剥離性フィルム１４の剥離時において、剥離性フィルム１４とともに光学フィルム１の一部（例えば液晶フィルム）が剥離除去されてしまい、光学フィルム１のうち製品とすることができない部分を減らすことができず、製品の歩留まりを十分に向上させることができない。

上記剥離性フィルム１４の剥離時において、ロール１６Ｄの外径Ｒは５ｍｍ以上であることが好ましい。

ロール１６Ｄの外径Ｒが５ｍｍ未満では、外径Ｒが５ｍｍ以上である場合に比べて、剥離性フィルム１４がたわみ、検査対象となる光学フィルム１にしわが生じるおそれがある。

また上記剥離性フィルム１４の剥離時においては、図３に示すように、光学フィルム１の引張方向Ａと、剥離性フィルム１４の引張り方向Ｂとのなす剥離角αを９０°以上とすることが好ましく、１２０°以上とすることがより好ましい。

剥離角αが９０°未満では、剥離角αが上記範囲内にある場合と比べて剥離角αが上記範囲内にある場合と比べて剥離状態が不安定となり、剥離残り等の発生が生じることがあり、その結果、例えば欠陥検査等の検査を的確に行うことができなくなるおそれがある。

更に剥離性フィルム１４の剥離時においては、剥離性フィルム１４の引張り方向Ａに沿った引張り張力を７．５〜３１０Ｎ／ｍとすることが好ましい。張力が上記範囲を外れると、張力が上記範囲内にある場合に比べて、光学フィルムにしわやたるみが生じるおそれがある。

本発明の光学フィルムの検査方法に用いる剥離性フィルム付き光学フィルムの一例を示す概略側面図である。 本発明の光学フィルムの検査方法に用いる光学フィルムが、剥離性フィルムを剥離されて欠陥検査されるまでの流れを示す工程図である。 剥離性フィルムがロールを用いて光学フィルムから剥離される状態を示す工程図である。

符号の説明

１…光学フィルム、２…液晶フィルム、１２…剥離性フィルム付き光学フィルム、１４…剥離性フィルム、１６Ｄ…ロール、Ｒ…ロールの外径、Ａ…光学フィルムの引張方向、Ｂ…剥離性フィルムの引張り方向、α…剥離角。

Claims (4)

1. 剥離性フィルムと、前記剥離性フィルムが貼り付けられ液晶フィルムを含む光学フィルムとを備えた剥離性フィルム付き光学フィルムから、ロールを用いて前記剥離性フィルムを剥離して前記光学フィルムを検査する光学フィルムの検査方法において、
   前記ロールの外径を３０ｍｍ以下とすることを特徴とする光学フィルムの検査方法。
2. 前記剥離性フィルムの剥離時において、前記ロールの外径を５ｍｍ以上とすることを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの検査方法。
3. 前記剥離性フィルムの剥離時において、前記光学フィルムの引張方向と、前記剥離性フィルムの引張り方向とのなす剥離角を９０°以上とすることを特徴とする請求項１又は２に記載の光学フィルムの検査方法。
4. 前記剥離性フィルムの剥離時において、前記剥離性フィルムの張力を７．５〜３１０Ｎ／ｍとすることを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の光学フィルムの検査方法。

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