JP2005285251A - 光記録/再生システム - Google Patents

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Abstract

【課題】記録層の厚さが従来の光ディスクに比べて厚い3次元光記録/再生に適した球面収差の精度の良い検出が可能であり、また従来の光ピックアップにおける焦点検出方法にシリンドリカルレンズなどを用いた非点収差法のみならず、他の焦点位置誤差検出方法を適用可能にする。
【解決手段】記録媒体に参照用のパターン13と複数の反射率の異なるパターン15aとを形成し、参照用のパターン13の反射光量の測定値と同じになったパターン15aから光スポットSの径を推定し、焦点位置検出を行いながら同時に球面収差の制御により球面収差の補整を行う。
【選択図】図2

Description

本発明は、光学的情報記録媒体と、この記録媒体に対して光スポットを照射して記録および/または再生を行う記録/再生装置とからなる光記録/再生システムに関するものである。
従来の光ピックアップでは、光ディスクを構成する保護層の特性が変化して、光ディスクからの反射光に発生する球面収差が変化しても、これを補償することにより、正確に情報を記録/再生できるようにした技術が、特許文献1などに記載されている。
図7は前記従来の光ピックアップの一例を示す概略構成図である。
図7において、光ピックアップは、記録/再生用の光ビームBを射出するレーザダイオード108と、射出された光ビームBを反射する偏向ビームスプリッタ104と、反射された光ビームBを平行光に変換するコリメータレンズ103と、平行光となった光ビームBの偏波面および当該光ビームBの光ディスク101からの反射光の偏波面を夫々回転させるλ/4板117と、光ビームBに対して透明な保護層101aを有する光ディスク101と、光ビームBを光ディスク101内の情報記録面101bに集光する対物レンズ102と、光ディスク101により反射されて偏向面が回転することにより、対物レンズ102,コリメータレンズ103および偏向ビームスプリッタ104を透過した光ビームBを分割型ディテクタ107上に集光する集光レンズ105と、集光された光ビームBに対して非点収差を発生させるシリンドリカルレンズ106と、非点収差が与えられた光ビームBを受光する分割型ディテクタ107と、球面収差補償用の補償手段としての液晶パネル109と、フォーカスサーボ制御用のアクチュエータ110と、信号処理部111と、情報再生部112と、アンプ113と、補償手段としてのドライバ114と、アンプ115と、フォーカスサーボ用のドライバ116とにより構成されている。
前記光ピックアップでは、光ビームBに対して透明な保護層101aを少なくとも有する光ディスク101に対して、保護層101aを透過させて光ビームBを光ディスク101内の情報記録面101bに照射することにより情報を記録/再生する。
レーザダイオード108から射出する光ビームBにおける光ディスク101からの反射光に基づいて、信号処理部111は、保護層101aの特性に起因して反射光に発生している球面収差を示すと共に極性を有する球面エラー信号Skeを生成する。液晶パネル109では生成された球面エラー信号Skeに基づいて球面収差を補償する。
この従来の光ピックアップでは、保護層101aの特性が変化することで反射光に発生する球面収差が変化しても、当該球面収差の量および極性を即時に把握してこれを補償し、正確に情報を記録/再生することが可能である。
特開2000−57616号公報
しかし、前記従来の構成の光ピックアップを3次元光ディスクに適用した場合、記録層の厚さが従来の光ディスクに比べて厚く、さらに保護層を有しているため、従来例に示された光ピックアップの分割型ディテクタ上におけるスポット変化による検出方法では、そのスポットにおいて、光ピックアップの対物レンズの集光ビーム径との対応が必ずしも一定ではなく、また対物レンズの球面収差の収差特性も単純でないと考えられる。このため従来例の光ピックアップでは球面収差の精度の良い検出は困難と考えられる。
さらに、従来例の光ピックアップにおいては、焦点検出方法にシリンドリカルレンズなどを用いた非点収差法を用いており、他の焦点位置誤差検出方法が適用できず、適用することができる構成が限られるため、低コスト化が図りにくい。
本発明は、前記従来の技術に鑑み、記録層の厚さが従来の光ディスクに比べて厚い3次元光記録/再生に適した球面収差の精度の良い検出が可能であり、また従来の光ピックアップにおける焦点検出方法にシリンドリカルレンズなどを用いた非点収差法のみならず、他の焦点位置誤差検出方法を適用することができるようにした光記録/再生システムを提供することを目的とする。
前記目的を達成するため、請求項1に記載の発明は、記録媒体に対して光スポットを照射する光学系,前記光スポットの位置制御手段,前記光スポットにおける球面収差の補整手段を備え、記録媒体に光スポットを照射して該光スポットの位置および球面収差の制御を行う光記録/再生システムにおいて、反射率の異なるパターンが形成された記録媒体を用い、前記パターンによる反射率の差を用いて前記光スポットの径を測定するスポット径測定手段を備え、焦点位置検出を行いながら同時に球面収差の制御により球面収差の補整を行うことを特徴とし、この構成によって、焦点位置検出を行いながら同時に球面収差の補整を行うことができ、かつ記録媒体上の反射率の異なるパターンによる直接的な光スポット径の測定により、球面収差の変化量を正確に測定することができる。
請求項2に記載の発明は、請求項1記載の光記録/再生システムにおいて、記録媒体に形成された反射率の異なるパターンとして、光スポットの走査方向において前記パターンの形状を変化させ、反射戻り光の光強度変化を測定することにより、前記光スポットの球面収差の変化を検出し、球面収差の補整を行うことを特徴とし、この構成によって、集光スポットの走査方向でパターン形状を変化させるため、球面収差の変化より反射率の変化を高速に変化させることができ、光スポット径の測定の分解能を高めることが可能で、球面収差の変化量をより正確に測定することができる。
請求項3に記載の発明は、請求項1または2記載の光記録/再生システムにおいて、記録媒体に形成された反射率の異なるパターンとして、光スポットの走査方向に対して垂直方向に長さを変化させたパターンを配列し、該パターンからの反射戻り光の光強度変化を測定することにより、焦点位置検出を行うと同時に走査方向に垂直な方向の球面収差の補整を行うことを特徴とし、この構成によって、光スポットの走査方向に長さを変化させたパターンを配列したため、球面収差の変化より反射率を高速に変化させることができ、光スポット径の走査方向の測定分解能を特に高めることが可能で、球面収差に他の非対称収差が混じった状態でも、走査方向の収差の変化量をより正確に測定することができる。
請求項4に記載の発明は、請求項1または2記載の光記録/再生システムにおいて、記録媒体に形成された反射率の異なるパターンとして、光スポットの走査方向に対して垂直方向に幅を変化させたパターンを配列し、該パターンからの反射戻り光の光強度変化を測定することにより、焦点位置検出を行うと同時に走査方向に垂直な方向の球面収差の補整を行うことを特徴とし、この構成によって、光スポットの走査方向に垂直方向に、幅を変化させたパターンを配列したため、球面収差の変化より反射率を高速に変化させることができ、光スポット径の走査方向に垂直の方向の測定分解能を特に高めることが可能で、球面収差に他の非対称収差が混じった状態でも、走査方向に垂直の方向における収差の変化量をより正確に測定することができる。
請求項5に記載の発明は、請求項1〜4いずれか1項記載の光記録/再生システムにおいて、記録媒体に形成された反射率の異なるパターンの他に、該パターンによる反射戻り光の最大反射率を測定する参照パターンを設け、該参照パターン用いて最大反射率を測定することにより、球面収差の変化を検出し、球面収差の補整を行うことを特徴とし、この構成によって、記録媒体上の反射率の異なるパターンによる直接的な光スポット径の測定による球面収差の変化量をさらに正確に測定することができる。
請求項6に記載の発明は、請求項1記載の光記録/再生システムにおいて、記録媒体に形成された反射率の異なるパターンとして、光スポットより面積の大きなパターンを設け、光スポットが該パターンを通過する際の反射戻り光の光強度変化を測定し、光強度変化の時間幅により光スポットの走査方向の径を測定することによって、球面収差の変化を検出し、球面収差の補整を行うことを特徴とし、この構成によって、単純なパターンによる直接的な光スポット径の測定により球面収差の変化量を正確に測定することができ、記録媒体の作製が容易になる。
請求項7に記載の発明は、請求項1〜6いずれか1項記載の光記録/再生システムにおいて、球面収差を変化させる手段として、2つの光学レンズからなるビームエキスパンダを備えたことを特徴とし、この構成によって、光スポットの球面収差の変化を該光学レンズの間隔を機械的変化させるだけで行うことができ、球面収差の制御機構を単純化することができる。
請求項8に記載の発明は、請求項1〜6いずれか1項記載の光記録/再生システムにおいて、球面収差を変化させる手段として、液晶を用いた位相制御手段を備えたことを特徴とし、この構成によって、光スポットの球面収差の変化を、液晶を用いた位相制御手段の追加のみで行うことができるため、光記録再生装置の構成を単純化できて低コスト化を図ることができる。
請求項9に記載の発明は、請求項1〜6いずれか1項記載の光記録/再生システムにおいて、記録媒体として、複数の記録層と中間層からなり、かつ反射率の異なるパターンが前記各記録層に設けられた円盤状の3次元光ディスクを用いたことを特徴とし、この構成によって、複数の記録層間における球面収差の変化量を、直接的な光スポット径の測定により正確に測定することができる。
請求項10に記載の発明は、請求項9記載の光記録/再生システムにおいて、各記録層における最外周部に、反射率の異なるパターンを設けたことを特徴とし、この構成によって、複数の記録層間における順次読み出し/書き込みなどの動作時に、球面収差の変化量をより早く測定することができる。
本発明によれば、焦点位置検出を行いながら同時に球面収差の補整を行うことができ、かつ記録媒体上の反射率の異なるパターンによる直接的な光スポット径の測定により、球面収差の変化量を正確に測定することができる。また、光学系の構成も特異な構成に限定されない。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
(実施形態1)
図1は本発明の光記録/再生システムの実施形態1を説明するための概略構成図である。
図1において、光源1からの出射光は、レンズ2,液晶空間位相変調素子3,偏光ビームスプリッタ4,1/4波長板5を通って対物レンズ6により3次元記録媒体7中に光スポットSとして集光する。3次元記録媒体7からの反射光は、対物レンズ6,1/4波長板5を通って偏光ビームスプリッタ4により反射され、集光レンズ8,シリンドリカルレンズ9を通って4分割光検出器10上に集光する。集光レンズ8とシリンドリカルレンズ9により集光した光線は、非点収差を生じて2つの焦点を持つ。この2つの焦点位置の間に4分割光検出器10の受光面を配置する。
3次元記録媒体7中のピットPは、屈折率変化による屈折率差がついており、例えば対物レンズ6からの光スポットSをピットPの端面に照射することにより、その反射光を用いて、記録信号を検出することができる。
また、液晶空間位相変調素子3は、電界の印加により、2次元平面内に位相変化を生じさせる素子であり、入射ビームの周辺部の位相を進めるか、あるいは遅らせることにより、対物レンズ6により3次元記録媒体7中に集光する光スポットSの球面収差を変化させる。
次に、図2(a)に示すように、光記録媒体である3次元記録媒体7中のピットPと同じ深さに、パターン13,15aを設ける。このパターン13,15aは記録媒体7中の屈折率の違いにより、反射率が変化することにより、この部分からの反射戻り光の光量が変化するようになっている。屈折率を変化させるには、材料の構造変化、あるいは金属反射による屈折率の実部、あるいは虚部の変化によることが考えられる。
この屈折率変化の形状は、図2(a)に示すように、最初に参照用のパターン13を光スポットSが通過し、さらに光スポットSの走査方向に、幅の異なる複数のパターン15aが設けられている。図2(a)では各パターン15aは、その中心が等間隔に配列してあり、光スポットSが各パターン15aを通過したとき、反射光量は図2(c)に示すように変化する。図2(c)においてIは反射光量である。
図2(b)のような時間タイミングで反射光量をサンプリングして、反射光量が参照用のパターン13の反射光量の測定値と同じになったパターン15aから光スポット径を推定する。さらに、液晶空間位相変調素子3を制御し、位相変化量を変えることにより、光学系の焦点位置を変えずに球面収差量のみを可変することができるため、球面収差量を可変したときの光スポット径を前記の方法で測定し、その変化から球面収差が小さくなる液晶空間位相変調素子3の位相変化量を測定することにより、3次元記録媒体7中の光スポットSに関する実際の球面収差量を低減することができる。
前記パターン15aは、光スポットSの走査方向に幅が異なっているため、光スポットSが円形でない場合には、走査方向の球面収差量の変化を検出可能であるが、これとは別に、図3(a)に示したパターン15bを用いることもできる。
図3(a)のパターン15bは、図2(a)のパターン15aと異なり、光スポットSの走査方向に垂直な方向に反射率の異なるパターンの幅が変化するように配置されている。このため特に光スポットSの走査方向に対して垂直な方向の変化を重点的に検出することができ、円形でない光スポットに対しても有効になる。この場合、図3(b)のような時間タイミングで反射光量をサンプリングすることで、反射光量は図3(c)のように変化する。
また、図2(a)および図3(a)のパターン15a,15bを併用することも可能であり、これらのパターンを複数個配列することもできる。また図2,図3において、反射率が異なるパターン15a,15bの変化する順序を小から大でなく、反対にすることも可能である。
また図2(a)および図3(a)のパターン15a,15bにおいて、灰色で示したパターンが反射率が高いことを想定しているが、これに限らず反対に屈折率が小さく反射率も小さくすることも可能であり、球面収差の測定に用いることができる。
さらに、参照用のパターン13に関しては、必ずしも用いなくてもよく、光スポットSの反射戻り光の測定時に検出回路を設けて、光量が飽和したパターン15a,15bが特定できればよい。
(実施形態2)
図4は本発明の光記録/再生システムの実施形態2を説明するための概略構成図であり、図1にて説明した実施形態1の部材に対応する部材には同一符号を付して詳しい説明は省略する。
実施形態2は実施形態1とほぼ同様な構成の球面収差補整機構を備えた3次元記録媒体7への光記録および信号読取り用の光学系を示している。実施形態2が実施形態1と異なる点は、出射光側において、レンズ2と偏光ビームスプリッタ4の間に液晶空間位相変調素子3がなく、その代わりに1/4波長板5と対物レンズ6の間に、球面収差の可変手段として、2つの光学レンズ11,12により構成されたビームエキスパンダを設けている。
光学レンズ11,12の間隔を機械的に可変にすることにより、3次元記録媒体7中の光スポットSの位置が変化すると同時に、球面収差を変化させることができる。これ以外の構成,検出原理は実施形態と同一である。
(実施形態3)
図1,図4および図5を参照して本発明の実施形態3を説明する。図5(a)に示すパターンは、実施形態1,2の図2,図3における反射率の異なるパターン15a,15bと同様に球面収差の測定に用いるものであるが、光スポット系の測定方法が異なる。
図5(a)の光スポットSは、前記パターン15a,15bと同様に、図5(a)の反射率の異なるパターン15cを走査方向に通過するように配置されている。反射率の変化を図5(b)に示す。光スポットSが反射率の異なるパターン15cを横切る際に、反射光量Iが増加して最大値になり、パターン15cから外れる際に反射光量Iが減少する。反射光量Iが増加あるいは減少している時間の間隔をt’とするとき、この時間および3次元記録媒体7に対する光スポットSの線速を測定したり、図5(b)の時間間隔t”を測定したりすることにより、t’とt”の時間の比とパターン15cの長さとの関係から光スポットSの走査方向におけるスポット径を測定することができ、液晶空間位相変調素子3に与えた位相変化量に対する球面収差の変化量を測定することができる。これ以外の構成は実施形態1,2と同一である。
(実施形態4)
図1,図4および図6を参照して本発明の実施形態4を説明する。図6(a),(b)には、実施形態1,2のような球面収差補整機構を備えた3次元記録媒体7への光記録および信号読取り用の光学系を用い、3次元記録媒体7中に記録するビットPと同一の深さに設ける図2,図3に示したパターン15a,15bと同様に反射率の異なるパターン15d,15eを示している。
パターン15d,15eと図2,図3に示すパターン15a,15bとの違いは、光スポットSの走査方向に、反射率さらに直径の異なる円形のパターンを複数個配列している点である。パターン15dとパターン15eとでは、パターンに対する反射率が逆になっている。これ以外の構成,検出原理は実施形態1,2と同一である。
(実施形態5)
本発明の実施形態5を説明する。実施形態5においては、実施形態1〜4とほぼ同様の構成のものであるが、図1,図4における3次元記録媒体7の構成が、記録層と中間層が交互に積層された多層構造とし、記録のピットが記録層中にのみ形成される構成のものである。そして実施形態5では、このような構造の3次元記録媒体7において、図2,図3,図5,図6に示す反射率の異なるパターン15a〜15eが、記録層中のピットと同じ深さ方向の位置に形成されているところが前記実施形態と異なる。実施形態5では、これ以外の構成,検出原理は実施形態1〜4と同一である。
なお、前記反射率の異なるパターン15a〜15eは、光ディスク形状の多層3次元記録媒体7の最外周に配置するようにしてもよい。
本発明は、各種光ディスクなどの光学的情報記録媒体に対して光スポットを照射して記録および/または再生を行う記録/再生装置に適用され、光ファイルシステム,大容量情報処理システムなどに利用可能である。
本発明の光記録/再生システムの実施形態1を説明するための概略構成図 (a)〜(c)は本実施形態におけるマークとパターンとの説明図 (a)〜(c)は本実施形態における他のマークとパターンとの説明図 本発明の光記録/再生システムの実施形態2を説明するための概略構成図 (a),(b)は本実施形態における他のパターンの説明図 (a),(b)は本実施形態における他のパターンの説明図 従来の光ピックアップの一例を示す概略構成図
符号の説明
1 光源
2 レンズ
3 液晶空間位相変調素子
4 偏光ビームスプリッタ
5 1/4波長板
6 対物レンズ
7 3次元記録媒体
8 集光レンズ
9 シリンドリカルレンズ
10 4分割光検出器
11,12 光学レンズ(ビームエキスパンダ)
13,15a〜15e パターン
S 光スポット
P ピット

Claims (10)

  1. 記録媒体に対して光スポットを照射する光学系,前記光スポットの位置制御手段,前記光スポットにおける球面収差の補整手段を備え、記録媒体に光スポットを照射して該光スポットの位置および球面収差の制御を行う光記録/再生システムにおいて、
    反射率の異なるパターンが形成された記録媒体を用い、前記パターンによる反射率の差を用いて前記光スポットの径を測定するスポット径測定手段を備え、焦点位置検出を行いながら同時に球面収差の制御により球面収差の補整を行うことを特徴とする光記録/再生システム。
  2. 前記記録媒体に形成された反射率の異なるパターンとして、光スポットの走査方向において前記パターンの形状を変化させ、反射戻り光の光強度変化を測定することにより、前記光スポットの球面収差の変化を検出し、球面収差の補整を行うことを特徴とする請求項1記載の光記録/再生システム。
  3. 前記記録媒体に形成された反射率の異なるパターンとして、光スポットの走査方向に対して垂直方向に長さを変化させたパターンを配列し、該パターンからの反射戻り光の光強度変化を測定することにより、焦点位置検出を行うと同時に走査方向に垂直な方向の球面収差の補整を行うことを特徴とする請求項1または2記載の光記録/再生システム。
  4. 前記記録媒体に形成された反射率の異なるパターンとして、光スポットの走査方向に対して垂直方向に幅を変化させたパターンを配列し、該パターンからの反射戻り光の光強度変化を測定することにより、焦点位置検出を行うと同時に走査方向に垂直な方向の球面収差の補整を行うことを特徴とする請求項1または2記載の光記録/再生システム。
  5. 前記記録媒体に形成された反射率の異なるパターンの他に、該パターンによる反射戻り光の最大反射率を測定する参照パターンを設け、該参照パターン用いて最大反射率を測定することにより、球面収差の変化を検出し、球面収差の補整を行うことを特徴とする請求項1〜4いずれか1項記載の光記録/再生システム。
  6. 前記記録媒体に形成された反射率の異なるパターンとして、光スポットよりも面積の大きなパターンを設け、光スポットが該パターンを通過する際の反射戻り光の光強度変化を測定し、光強度変化の時間幅により光スポットの走査方向の径を測定することによって、球面収差の変化を検出し、球面収差の補整を行うことを特徴とする請求項1記載の光記録/再生システム。
  7. 前記球面収差を変化させる手段として、2つの光学レンズからなるビームエキスパンダを備えたことを特徴とする請求項1〜6いずれか1項記載の光記録/再生システム。
  8. 前記球面収差を変化させる手段として、液晶を用いた位相制御手段を備えたことを特徴とする請求項1〜6いずれか1項記載の光記録/再生システム。
  9. 前記記録媒体として、複数の記録層と中間層からなり、かつ前記反射率の異なるパターンが前記各記録層に設けられた円盤状の3次元光ディスクを用いたことを特徴とする請求項1〜6いずれか1項記載の光記録/再生システム。
  10. 前記各記録層における最外周部に、前記反射率の異なるパターンを設けたことを特徴とする請求項9記載の光記録/再生システム。
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