JP2002032920A - ビーム光強度分布測定方法および光情報記録再生装置におけるビーム光強度分布測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ピックアップが照射するレーザビームが光
ディスクの記録面上に形成するビームスポットの光強度
分布および径を、容易かつ正確に求める。 【解決手段】 線速一定で回転駆動される光ディスク上
にレーザビームが形成するビームスポット径よりも長い
所定長のピットおよびランドからなるピット−ランドパ
ターンから得たＲＦ信号の微分波形からレーザビームの
光強度分布を求め、この光強度分布に基づきこのレーザ
ビームの有効スポット径を求める。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、ビーム光強度分
布測定方法および光情報記録再生装置におけるビーム光
強度分布測定装置に関し、特に、光ピックアップから出
力される読取信号（ＲＦ信号）に基づき光ビームのスポ
ット径を含む光強度分布を簡易かつ正確に測定すること
ができるようにしたビーム光強度分布測定方法および光
情報記録再生装置におけるビーム光強度分布測定装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、この種の光情報記録再生装置に
おいて、光ビームのスポット径および光強度分布の正確
な検出は、 １）光ディスク記録再生装置のイコライザの制御 ２）ドライブ製造工程における光ピックアップの取り付
け角検査 ３）ドライブ内におけるチルトサーボの制御 ４）光ピックアップ生産ラインにおける光スポットの検
査 ５）ストラテジ制御 ６）メディア検査機の制御 等において非常に重要である。

【０００３】従来、ビームスポット径の一般的な測定方
法としては、ナイフエッジを使用するものがある。

【０００４】この測定方法は、集光されたレーザビーム
のビームウェストをその光軸に対して垂直に一定速度で
移動するナイフエッジで遮っていき、このときナイフエ
ッジを透過してくるレーザビームの光量変化のプロファ
イルを測定し、その変化量からビームスポット径を求め
るというものである。

【０００５】しかし、このナイフエッジを用いる方法に
よって正確なビームスポット径を測定するには、ナイフ
エッジがビームウェストの最も細くなる場所を、このレ
ーザビームの光軸に対して正確に垂直に遮る必要があ
る。

【０００６】さらに、正確なビームスポット径を算出す
るためには、ナイフエッジの移動量を正確に測定する必
要があり、このため、ナイフエッジを使用する従来の方
法では、測定のための労力および時間がかかり、また精
度もあまり良くないという問題を抱えていた。

【０００７】上記の問題を解決する方法として、光学ヘ
ッドから照射されるレーザビームのビームスポットを光
学的に検知するための測定エッジを回転基板に設けて、
この測定エッジがビームスポットを通過する時間間隔を
検知し、この時間間隔と測定エッジの移動速度からビー
ムスポット径を測定する方法が特開昭６２−２８４２２
１号公報に開示されている。

【０００８】このような方法によると、容易かつ再現性
良く光ディスク用光学ヘッドから照射されるレーザビー
ムのビームスポット径を測定することができる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかし、特開昭６２−
２８４２２１号公報に開示された方法においても、ビー
ムスポット径測定のための専用の回転基板および専用の
測定装置を用意して、光ヘッドを単体で発光させて測定
しなければならず効率が良くない。

【００１０】そこで、この発明は、光ビームの光強度分
布を簡易かつ正確に測定することができるようにしたビ
ーム光強度分布測定方法および光情報記録再生装置にお
けるビーム光強度分布測定装置を提供することを目的と
する。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
ため、この発明のビーム光強度分布測定方法は、光情報
記録媒体上を照射する光ビームの光強度分布を測定する
ビーム光強度分布測定方法において、前記光情報記録媒
体の記録トラック上を前記光ビームにより線速一定で走
査するとともに、前記光情報記録媒体の記録トラック上
に予め記録された前記光ビームの予測スポット径より長
いピットが前記光ビームの予測径より長い間隔をおいて
記録されたピットパターンを前記光ビームにより読み取
り、該読み取りにより得た読取信号のエッジ波形に基づ
き前記光ビームの光強度分布を測定することを特徴とす
る。

【００１２】ここで、上記読取信号は、一般にＲＦ信号
と呼ばれるもので、この種の光情報記録再生装置の光ピ
ックアップから直接得られるアナログ信号である。

【００１３】また、光情報記録媒体の記録トラック上に
おける光ビームの走査は、光情報記録媒体を移動させて
も、光ビームを移動させてもよいが、この発明は、光情
報記録媒体上記録トラックと光ビームとの相対走査速度
が線速一定であることが前提となっている。

【００１４】また、光ビームの予測スポット径より長い
ピットとは、予測される光ビームのスポット径より長い
ピットのことで、この発明が成立するためには、光ビー
ムの予測スポット径より長いピットを読み取ることが必
須になる。

【００１５】このピットは、光情報記録媒体の所定の記
録トラック上に予め記録されたものを用いてもよいし、
また、この条件を満たせば、光情報記録媒体の任意の記
録トラック上に記録されたピットも用いることができ
る。

【００１６】一般に、この光ビームの予測スポット径よ
り長いピットとしては、この光情報記録媒体の最大長ピ
ットが用いられる。

【００１７】また、読取信号のエッジ波形とは、読取信
号（ＲＦ信号）の立ち上がり部の波形若しくは立下り部
の波形で、この発明では、ＲＦ信号の立ち上がり部の波
形若しくは立下り部の波形のいずれかか一方を用いても
よいし、また両者を用いてもよい。

【００１８】また、この発明のビーム光強度分布測定方
法は、上記構成において、前記読取信号を微分して該読
取信号の微分波形を求め、該微分波形の前記読取信号の
エッジ波形に対応する波形から前記光ビームの光強度分
布を測定することを特徴とする。

【００１９】上記読取信号を微分して該読取信号の微分
波形を求めることにより、光ビームの光強度分布に対応
する波形を求めることができ、この波形から、光ビーム
のスポット径を含む光強度分布を簡易かつ正確に測定す
ることができる。

【００２０】また、この発明は、上記構成において、前
記微分波形の前記読取信号のエッジ波形に対応する波形
の波形幅に基づき前記光ビームの有効スポット径を求め
ることを特徴とするまた、この発明は、上記構成におい
て、前記光情報記録媒体は、光ディスクからなり、前記
光ビームは、前記光情報記録媒体に近接して配設された
光ピックアップから前記光ディスクに照射され、前記光
ディスクを線速一定で回転させることにより前記光ピッ
クアップから読取信号を得て、該読取信号のエッジ波形
に基づき前記光ビームの光強度分布を測定することを特
徴とする。

【００２１】また、この発明のビーム光強度分布測定装
置は、光情報記録媒体上の記録トラック上を光ビームに
より線速一定で走査することにより前記光情報記録媒体
上に情報の記録、再生を行う光情報記録再生装置におけ
るビーム光強度分布測定装置において、前記光情報記録
媒体上に予め記録された前記光ビームの予測スポット径
より長いピットが前記光ビームの予測径より長い間隔を
おいて記録されたピットパターンを前記光ビームにより
読み取る読取手段と、前記読取手段から出力される読取
信号のエッジ波形に基づき前記光ビームの光強度分布を
測定する光強度分布測定手段とを具備することを特徴と
する。

【００２２】ここで、前記光強度分布測定手段は、前記
再生信号を微分して該読取信号の微分波形を求める微分
手段と、前記微分手段で得た前記読取信号の微分波形の
前記再生信号のエッジ波形に対応する波形を解析する解
析手段と、前記解析手段の解析結果に基づき前記光ビー
ムの光強度分布を判別する判別手段とを具備することを
特徴とする。

【００２３】ここで、前記解析手段は、前記微分手段か
ら出力される前記読取信号の微分波形の前記再生信号の
エッジ波形に対応する波形の波形幅を解析し、前記判別
手段は、前記解析手段で解析したに前記読取信号の微分
波形の前記読取信号のエッジ波形に対応する波形の波形
幅に基づき前記光ビームの有効スポット径を判別するこ
とを特徴とする。

【００２４】また、前記光情報記録媒体は、光ディスク
からなり、前記光ビームは、前記光情報記録媒体に近接
して配設された光ピックアップから前記光ディスクに照
射され、前記読取手段は、前記光ピックアップの読取出
力に基づき前記読取信号を得ることを特徴とする。

【００２５】また、前記ピットパターンは、前記光ディ
スクの予め設定された所定の領域に記録されていること
を特徴とする。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下、この発明に係わるビーム光
強度分布測定方法および光情報記録再生装置におけるビ
ーム光強度分布測定装置の実施の形態を添付図面を参照
して詳細に説明する。

【００２７】この実施の形態においては、光情報記録媒
体が光ディスクから構成される場合について説明する。

【００２８】一般に、光ディスクは、その記録面に、記
録トラックに沿ってピットが形成され、このピットとピ
ット以外の部分（ランド）によるピット−ランドパター
ンとして情報の記録がなされている。

【００２９】そして、レーザビームを記録トラックに沿
って照射すると、上記ピット−ランドパターンによって
レーザビームが変調され、この変調によるレーザビーム
の光ディスクからの戻り光の光量の変化を受光素子にお
いて検出し、この光量の変化に基づいてＲＦ信号が生成
される。

【００３０】ここで、レーザビームがピットを照射する
ときの戻り光の光量は、ランドを照射するときの戻り光
の光量よりも少ない。

【００３１】したがって、レーザビームが光ディスクの
記録面に形成するビームスポット内にピットが存在しな
いときに戻り光の光量は最大となり、逆に、ピット長手
方向においてビームスポットが自身の径よりも長いピッ
トによって飽和しているときに戻り光の光量は最少とな
る。

【００３２】そして、レーザビームの予測スポット径よ
り長いピット、例えば、この光ディスクの最大長ピット
を読んだときに得られるＲＦ信号は、記録トラックに対
するレーザビームの走査速度が線速一定である場合を考
えると、レーザビームのスポットの中にこのピットの先
端が進入してから飽和するまでの波形にこのレーザビー
ムの光強度分布に対応する情報が含まれることになる。

【００３３】同様に、レーザビームのスポットがこのピ
ットで飽和されてから、このピットがこのレーザビーム
のスポットから脱出する場合のＲＦ信号の波形にもこの
レーザビームの光強度分布に対応する情報が含まれるこ
とになる。

【００３４】この発明は上記現象を利用してレーザビー
ムのスポット径を含む光強度分布を簡易かつ正確に測定
することができるようにしたものである。

【００３５】図１および図２は、ビームスポット３１が
ランドからピットへ若しくはピットからランドへ移行す
る様子、つまり、ビームスポット３１内をピットエッジ
が通過する様子と、ＲＦ信号の変化との関係を示した図
である。

【００３６】ここでは、図１および図２に示すピット３
２のピット長、および、このピット３２と前後するラン
ドのランド長は、ビームスポット３１の径よりも長いも
のとする。

【００３７】すなわち、図１は、ビームスポット３１が
ランドからピットへと移行する様子、即ち、ピット３２
の前エッジがビームスポット３１を通過するときの様子
を（ａ）〜（ｄ）に時系列で示している。

【００３８】図１（ａ）では、ビームスポット３１内に
ピット３２が存在しないので戻り光の光量は最大とな
る。図１（ｂ）、図１（ｃ）では、ピットエッジがビー
ムスポット３１内を通過する過程にあり、この場合、ピ
ット３２がビームスポット３１内に進入してくるので、
戻り光の光量が減ってゆく。そして、図１（ｄ）に示す
ように、ついにはビームスポット３１はピット長方向に
おいてピット３２で飽和し、このとき、戻り光の光量は
最小になる。

【００３９】この、図１（ａ）〜（ｄ）に示すビームス
ポット３１からの戻り光の光量の変化に対応したＲＦ信
号の波形を図１（ｅ）にグラフ１で示す。

【００４０】なお、図１（ｅ）に示すグラフ１において
矢印で示すｅ〜ｈの部分は、図１（ａ）〜（ｄ）に示す
それぞれの状態におけるビームスポット３１からの戻り
光に対応するＲＦ信号である。

【００４１】同様に、図２は、ビームスポット３１がピ
ットからランドへ移行する様子、即ち、ピット３２の後
エッジがビームスポット３１を通過するときの様子を
（ａ）〜（ｄ）に時系列で示したものであり、図２
（ａ）に示すように、ピット長方向においてビームスポ
ット３１がピット３２で飽和しているときに戻り光の光
量は最小となり、図２（ｂ）、図２（ｃ）に示すよう
に、ビームスポット３１内からピット３２が出ていくに
したがって戻り光の光量は増えてゆき、図２（ｄ）に示
すように、ビームスポット３１内に完全にピット３２が
存在しなくなったときに戻り光の光量は最大になる。

【００４２】この、図２（ａ）〜（ｄ）に示すビームス
ポット３１からの戻り光の光量の変化に対応したＲＦ信
号の波形を図２（ｅ）にグラフ２に示す。

【００４３】なお、図２（ｅ）に示すグラフ２において
矢印で示すａ〜ｄの部分は、図２（ａ）〜（ｄ）に示す
それぞれの状態におけるビームスポット３１からの戻り
光に対応するＲＦ信号である。

【００４４】ここで、光ディスクは線速度一定で回転駆
動されるので、ピットエッジはビームスポット３１内を
一定速度で通過する。

【００４５】したがって、グラフ１およびグラフ２にお
いて、ＲＦ信号の時間軸は、そのまま光ディスク上の距
離に換算できる。

【００４６】ここで、ピット３２の幅、および深さを一
定とすると、グラフ１およびグラフ２において、ＲＦ信
号の立ち上がり部、若しくは立ち下がり部の波形（以
下、エッジ波形と称す。）の各時点における変化量（傾
き）は、その時間軸に対応するビームスポット径上の各
点の光強度に対応する。

【００４７】例えば、図１において、ＲＦ信号のｂ点に
おける変化量は、ビームスポット３１の破線ｂと記録ト
ラックの中心線ｏとの交点における光強度に対応し、Ｒ
Ｆ信号のｃ点における変化量は、ビームスポット３１の
破線ｃと記録トラックの中心線ｏとの交点における光強
度に対応する。

【００４８】このような理由により、ＲＦ信号のエッジ
波形の変化量のプロファイルを得ることで、ビームスポ
ット３１の光強度分布、および径を知ることができる。

【００４９】図３は、図１（ｅ）に示したグラフ１およ
び図２（ｅ）に示したグラフ２を統合したグラフであ
り、ＲＦ信号波形を太線５１、その微分（差分）信号波
形を細線５２で示している。

【００５０】つまり、細線５２で示す微分信号波形は、
ＲＦ信号波形（太線５１）の変化量のプロファイルを示
しており、特に、このＲＦ信号波形（太線５１）のエッ
ジ波形部分の微分信号波形（細線５２）は、ＲＦ信号波
形（太線５１）を読み取ったビームスポットの光強度分
布に対応している。

【００５１】すなわち、このＲＦ信号波形（太線５１）
のエッジ波形部分の微分信号波形（細線５２）からこの
ビームスポットの光強度分布を求めることができる。

【００５２】また、このＲＦ信号波形（太線５１）の立
ち上がり部、若しくは立ち下がり部に対応する微分信号
波形（細線５２）において（立ち下がり部に対応する微
分波形はその絶対値の波形において）、ピーク値の１／
ｅ２の値を持つ２点（ｔ１とｔ２およびｔ３とｔ４）を
検出し、この２点間の時間をｔ、光ディスクの回転速度
をｖ（一定）とすると、ＲＦ信号５１を読み取ったビー
ムスポットの有効スポット径ｓｌは、 ｓｌ＝ｖ×ｔ として求めることができる。

【００５３】ここで、実際には、ＲＦ信号は種々の外乱
によって時間軸方向に誤差（この誤差をジッタとい
う。）を生じており、また、実際のピットは幅、深さと
もに一定ではないため、ＲＦ信号のエッジ波形の変化量
にはピットの幅および深さの変動量も含まれている。

【００５４】したがって、予想されるビームスポット径
よりも長いピットおよびランドからなるピット−ランド
パターンに対応するＲＦ信号を多数サンプリングし、こ
のＲＦ信号のエッジ波形の変化量の平均値を求め、求め
た平均値からビームスポットの光強度分布およびビーム
スポット径を求めることが望ましい。

【００５５】図４は、この発明のビーム光強度分布測定
方法で用いられる光ディスクの一例を示した図である。

【００５６】図４において、光ディスク４は、所望の情
報が記録される若しくは記録された領域であるデータ領
域４２の最内周に、スポット測定領域４１を有してい
る。

【００５７】スポット測定領域４１には、予測されるレ
ーザビームのスポット径より長いピットが、予測される
レーザビームのスポット径より長い間隔をおいて記録さ
れており（以下、スポット測定用ピットパターンと称
す）、一般に、この予測されるレーザビームのスポット
径より長いピットとしては、光ディスク４の最大長ピッ
トが用いられる。

【００５８】例えば、ＤＶＤのスポット測定領域４１に
は、図５に示すように、１４Ｔピット−１４Ｔランドの
パターンをスポット測定用ピットパターンとして予め記
録しておく。

【００５９】図６は、この発明のビーム光強度分布測定
装置を具備する光ディスク記録再生装置の一実施例の概
略構成を示すブロック図である。

【００６０】図６に示す光ディスク記録再生装置は、図
示しないディスク挿入口から光ディスク４を挿入し、ス
ピンドルモータ１１によりこのディスク４を線速一定に
回転して、光ピックアップ１３によりディスク４に対す
る情報の記録再生を行う。

【００６１】ここで、ディスク４の回転速度、すなわち
スピンドルモータ１１の回転速度は、周波数信号発生器
（ＦＧ）１２により検出され、スピンドルモータ１１
は、モータドライバ１４を介して制御される。

【００６２】光ピックアップ１３は、フォーカス制御機
能およびトラッキング制御機能を有しており、この光ピ
ックアップ１３のフォーカス制御機能は、フォーカス制
御回路２０により制御され、トラッキング制御機能は、
トラッキング制御回路２１により制御される。

【００６３】また、この光ピックアップ１３は、送りモ
ータ１５によりディスク４の半径方向に移動可能に構成
されており、この送りモータ１５は送り制御回路２２に
よりモータドライバ１６を介して制御される。

【００６４】この光ピックアップ１３によってディスク
４から読み取られる信号には、フォーカスエラー信号Ｆ
Ｅ、トラッキングエラー信号ＴＥが含まれており、ヘッ
ドアンプ１８は、フォーカスエラー信号ＦＥをフォーカ
ス制御回路２０に加え、光ピックアップ１３のフォーカ
ス制御機能を制御し、また、トラッキングエラー信号Ｔ
Ｅに基づきトラッキング制御回路２１を制御して光ピッ
クアップ１３のトラッキング制御機能を制御するととも
に、送り制御回路２２と協働して光ピックアップ１３の
ディスク４の半径方向における位置を制御する。

【００６５】また、信号処理回路１９は、ディスク４か
ら読み取られた情報の内のＲＦ信号、若しくはウォブル
信号に基づき記録位置データとしての絶対時間情報ＡＴ
ＩＰ（ＡＴ）を再生し、ＣＬＶ制御回路２３に加え、デ
ィスク４を線速一定で回転制御する。

【００６６】図７は、図６に示した光ディスク記録再生
装置におけるビーム光強度分布測定の動作を説明するフ
ローチャートである。

【００６７】光ディスク記録再生装置に光ディスク４が
挿入され、コントローラ２５からビームスポットの光強
度分布測定指令が出力されると（ステップ６０１でＹＥ
Ｓ）、送り制御回路２２は送りモータ１５を制御して光
ピックアップ１３を光ディスク４のスポット測定領域４
１の直下にまで移動する（ステップ６０２）。

【００６８】次に、光ピックアップ１３は、トラッキン
グ制御回路２１およびフォーカス制御回路２０の制御に
よって、光ディスク４のスポット測定領域４１に記録さ
れているスポット測定用ピットパターンの先頭部に対し
てレーザビームを適切に集光して、ＲＦ信号の読み取り
を開始する（ステップ６０３）。

【００６９】スポット測定領域４１から読みとられたＲ
Ｆ信号は、ヘッドアンプ１８に入力されるとともに、直
接コントローラ２５にも入力される。

【００７０】コントローラ２５は、まず、入力されたＲ
Ｆ信号を微分して微分波形を生成し（ステップ６０
４）、生成した微分波形からＲＦ信号のエッジ波形に対
応する部分の微分波形を抽出する（ステップ６０５）。

【００７１】ここで、１つのピットに対応するＲＦ信号
から前エッジ、後エッジに対応する２つの微分波形が抽
出されるため、スポット測定用ピットパターン全体のピ
ット数の２倍の数の微分波形がステップ６０５において
抽出され、したがって、抽出された微分波形を平均化し
て次の処理に用いる。

【００７２】この微分波形を平均化する方法としては、
次の３通りの方法が適用可能である。

【００７３】１）前エッジに対応する微分波形だけを平
均化する。

【００７４】２）後エッジに対応する微分波形だけを平
均化する。

【００７５】３）前エッジに対応する微分波形および後
エッジに対応する微分波形の両者を用いて平均化する。

【００７６】なお、後エッジに対応する微分波形は、極
性が逆になるので、その絶対値の波形を平均化する。

【００７７】次に、コントローラ２５は、抽出して平均
化した微分波形を解析する（ステップ６０６）。

【００７８】この微分波形の解析においては、例えば、
この微分波形のピーク値の１／ｅ２の値を持つ２点を検
出して、検出した２点間の時間を求め、この２点間の時
間とＦＧ１２から得られる光ディスク４の回転速度とに
より、光ピックアップ１３が射出するレーザビームの有
効スポット径を算出する。

【００７９】なお、上記ステップ６０６においては、上
記レーザビームの有効スポット径だけでなく、レーザビ
ームの光強度分布も求めることができる。

【００８０】また、上記では、コントローラ２５におい
て取り込んだＲＦ信号を個々に微分することによって得
られた微分波形を平均化し、平均化した微分波形からレ
ーザビームの有効スポット径および光強度分布を求める
方法を説明したが、取り込んだＲＦ信号を平均化してこ
の平均化したＲＦ信号を微分することによって前エッ
ジ、後エッジに対応する２つの微分波形を抽出して解析
しても同様の効果が得られる。

【００８１】

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、通常の光ディスクから得られる再生信号を用いてビ
ームスポットの光強度分布および径を求められるので、
ビームスポット径を求めるための専用の装置およびディ
スクが要らずビームスポット径測定のための手間を大幅
に省くことができるだけでなく、ビームスポットの光強
度分布をも検出することができるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の原理を説明する図である。

【図２】この発明の原理を説明する図である。

【図３】ＲＦ信号とその微分（差分）信号との関係を示
す図である。

【図４】この発明で用いる光ディスクの一例を示した図
である。

【図５】図４に示す光ディスクのスポット測定領域に形
成されるピット列の一例を示した図である。

【図６】この発明に係る光ディスク記録再生装置の構成
を示すブロック図である。

【図７】図６に示す光ディスク記録再生装置におけるス
ポット測定動作を説明するフローチャートである。

【符号の説明】

４ 光ディスク １１ スピンドルモータ １３ 光ピックアップ １４ モータドライバ １５ モータ １６ モータドライバ １８ ヘッドアンプ １９ 信号処理回路 ２０ フォーカス制御回路 ２１ トラッキング制御回路 ２２ 送り制御回路 ２３ ＣＬＶ制御回路 ２５ コントローラ ３１ ビームスポット ３２ ピット ４１ スポット測定領域 ４２ データ領域

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光情報記録媒体上を照射する光ビームの
   光強度分布を測定するビーム光強度分布測定方法におい
   て、 前記光情報記録媒体の記録トラック上を前記光ビームに
   より線速一定で走査するとともに、 前記光情報記録媒体の記録トラック上に予め記録された
   前記光ビームの予測スポット径より長いピットが前記光
   ビームの予測径より長い間隔をおいて記録されたピット
   パターンを前記光ビームにより読み取り、 該読み取りにより得た読取信号のエッジ波形に基づき前
   記光ビームの光強度分布を測定することを特徴とするビ
   ーム光強度分布測定方法。
2. 【請求項２】 前記読取信号を微分して該読取信号の微
   分波形を求め、 該微分波形の前記読取信号のエッジ波形に対応する波形
   から前記光ビームの光強度分布を測定することを特徴と
   する請求項１記載のビーム光強度分布測定方法。
3. 【請求項３】 前記微分波形の前記読取信号のエッジ波
   形に対応する波形の波形幅に基づき前記光ビームの有効
   スポット径を求めることを特徴とする請求項２記載のビ
   ーム光強度分布測定方法。
4. 【請求項４】 前記光情報記録媒体は、光ディスクから
   なり、 前記光ビームは、前記光情報記録媒体に近接して配設さ
   れた光ピックアップから前記光ディスクに照射され、 前記光ディスクを線速一定で回転させることにより前記
   光ピックアップから読取信号を得て、 該読取信号のエッジ波形に基づき前記光ビームの光強度
   分布を測定することを特徴とする請求項１記載のビーム
   光強度分布測定方法。
5. 【請求項５】 光情報記録媒体上の記録トラック上を光
   ビームにより線速一定で走査することにより前記光情報
   記録媒体上に情報の記録、再生を行う光情報記録再生装
   置におけるビーム光強度分布測定装置において、 前記光情報記録媒体上に予め記録された前記光ビームの
   予測スポット径より長いピットが前記光ビームの予測径
   より長い間隔をおいて記録されたピットパターンを前記
   光ビームにより読み取る読取手段と、 前記読取手段から出力される読取信号のエッジ波形に基
   づき前記光ビームの光強度分布を測定する光強度分布測
   定手段とを具備することを特徴とする光情報記録再生装
   置におけるビーム光強度分布測定装置。
6. 【請求項６】 前記光強度分布測定手段は、 前記再生信号を微分して該読取信号の微分波形を求める
   微分手段と、 前記微分手段で得た前記読取信号の微分波形の前記再生
   信号のエッジ波形に対応する波形を解析する解析手段
   と、 前記解析手段の解析結果に基づき前記光ビームの光強度
   分布を判別する判別手段とを具備することを特徴とする
   請求項５記載の光情報記録再生装置におけるビーム光強
   度分布測定装置。
7. 【請求項７】 前記解析手段は、 前記微分手段から出力される前記読取信号の微分波形の
   前記再生信号のエッジ波形に対応する波形の波形幅を解
   析し、 前記判別手段は、 前記解析手段で解析したに前記読取信号の微分波形の前
   記読取信号のエッジ波形に対応する波形の波形幅に基づ
   き前記光ビームの有効スポット径を判別することを特徴
   とする請求項６記載の光情報記録再生装置におけるビー
   ム光強度分布測定装置。
8. 【請求項８】 前記光情報記録媒体は、 光ディスクからなり、 前記光ビームは、 前記光情報記録媒体に近接して配設された光ピックアッ
   プから前記光ディスクに照射され、 前記読取手段は、 前記光ピックアップの読取出力に基づき前記読取信号を
   得ることを特徴とする請求項５記載の光情報記録再生装
   置におけるビーム光強度分布測定装置。
9. 【請求項９】 前記ピットパターンは、 前記光ディスクの予め設定された所定の領域に記録され
   ていることを特徴とする請求項８記載の光情報記録再生
   装置におけるビーム光強度分布測定装置。