JP2005283510A - 鏡面上状態検出装置および水分検出装置 - Google Patents

鏡面上状態検出装置および水分検出装置 Download PDF

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Abstract

【課題】部品点数を少なくし、小型で、組立性が良く、持ち運びにも便利とする。
【解決手段】上端部をJ字型に湾曲させたチューブ17を設ける。チューブ17には発光側の光ファイバ17−1と受光側の光ファイバ17−2とが収容されている。光ファイバ17−1の先端部より鏡10の鏡面10−1に対して斜めに所定の周期でパルス光を照射させる。光ファイバ17−2を介して鏡面10−1からの反射パルス光(散乱光)を受光する。この受光した反射パルス光の上限値と下限値との差を反射パルス光の強度として求め、この反射パルス光の強度に基づいて鏡面10−1上に生じる被測定気体に含まれる水分の露点を検出する。
【選択図】 図1

Description

この発明は、鏡面上の状態を検出する鏡面上状態検出装置および鏡面上に生じる被測定気体に含まれる水分を検出する水分検出装置に関するものである。
従来より、湿度測定法として、被測定気体の温度を低下させ、その被測定気体に含まれる水蒸気の一部を結露させたときの温度を測定することにより露点を検出する露点検出法が知られている。例えば、非特許文献1には、寒剤、冷凍機、電子冷却器などを用いて鏡を冷却し、この冷却した鏡の鏡面上の反射光の強度の変化を検出し、この時の鏡面の温度を測定することによって、被測定気体中の水分の露点を検出する鏡面冷却式露点計について説明されている。
この鏡面冷却式露点計には、利用する反射光の種類によって、2つのタイプがある。1つは、正反射光を利用する正反射光検出方式(例えば、特許文献1参照)、もう1つは、散乱光を利用する散乱光検出方式(例えば、特許文献2参照)である。
〔正反射光検出方式〕
図9に正反射光検出方式を採用した従来の鏡面冷却式露点計の要部を示す。この鏡面冷却式露点計101は、被測定気体が流入されるチャンバ1と、このチャンバ1の内部に設けられた熱電冷却素子(ペルチェ素子)2を備えている。熱電冷却素子2の冷却面2−1には銅製ブロック3を介してボルト4が取り付けられており、熱電冷却素子2の加熱面2−2には放熱フィン5が取り付けられている。銅製ブロック3に取り付けられたボルト4の上面4−1は鏡面とされている。銅製ブロック3の側部には巻線式測温抵抗体(温度検出素子)6が埋め込まれている(図13参照)。また、チャンバ1の上部には、ボルト4の上面(鏡面)4−1に対して斜めに光を照射する発光素子7と、この発光素子7から鏡面4−1に対して照射された光の正反射光を受光する受光素子8とが設けられている。熱電冷却素子2の周囲には断熱材40が設けられている。
この鏡面冷却式露点計101において、チャンバ1内の鏡面4−1は、チャンバ1内に流入される被測定気体に晒される。鏡面4−1に結露が生じていなければ、発光素子7から照射された光はそのほゞ全量が正反射し、受光素子8で受光される。したがって、鏡面4−1に結露が生じていない場合、受光素子8で受光される反射光の強度は大きい。
熱電冷却素子2への電流を増大し、熱電冷却素子2の冷却面2−1の温度を下げて行くと、被測定気体に含まれる水蒸気が鏡面4−1に結露し、その水の分子に発光素子7から照射した光の一部が吸収されたり、乱反射したりする。これにより、受光素子8で受光される反射光(正反射光)の強度が減少する。この鏡面4−1における正反射光の変化を検出することにより、鏡面4−1上の状態の変化、すなわち鏡面4−1上に水分(水滴)が付着したことを知ることができる。さらに、この時の鏡面4−1の温度を温度検出素子6で間接的に測定することにより、被測定気体中の水分の露点を知ることができる。
〔散乱光検出方式〕
図10に散乱光検出方式を採用した従来の鏡面冷却式露点計の要部を示す。この鏡面冷却式露点計102は、正反射光検出方式を採用した鏡面冷却式露点計101とほゞ同構成であるが、受光素子8の取り付け位置が異なっている。この鏡面冷却式露点計102において、受光素子8は、発光素子7から鏡面4−1に対して照射された光の正反射光を受光する位置ではなく、散乱光を受光する位置に設けられている。
この鏡面冷却式露点計102において、鏡面4−1は、チャンバ1内に流入される被測定気体に晒される。鏡面4−1に結露が生じていなければ、発光素子7から照射された光はそのほゞ全量が正反射し、受光素子8での受光量は極微量である。したがって、鏡面4−1に結露が生じていない場合、受光素子8で受光される反射光の強度は小さい。
熱電冷却素子2への電流を増大し、熱電冷却素子2の冷却面2−1の温度を下げて行くと、被測定気体に含まれる水蒸気が鏡面4−1に結露し、その水の分子に発光素子7から照射した光の一部が吸収されたり、乱反射したりする。これにより、受光素子8で受光される乱反射された光(散乱光)の強度が増大する。この鏡面4−1における散乱光の変化を検出することにより、鏡面4−1上の状態の変化、すなわち鏡面4−1上に水分(水滴)が付着したことを知ることができる。さらに、この時の鏡面4−1の温度を温度検出素子6で間接的に測定することにより、被測定気体中の水分の露点を知ることができる。
なお、上述した露点計においては、鏡面4−1に生じる結露(水分)を検出する例で説明したが、同様の構成によって鏡面4−1に生じる結霜(水分)を検出することも可能である。
また、図11や図12に示すように構成すれば、すなわち熱電冷却素子2や温度検出素子6などをなくし、チャンバ1内に鏡9のみを設け、チャンバ1上面に開口部を設けた構成とすれば、雨や雪などの降り始めに鏡面9−1に付着する水分を検出する鏡面上状態検出装置(天気計)として使用することも可能である。この天気計103や104では、雨や雪などがチャンバ1内に引き込まれ、鏡9の鏡面9−1に付着すると、その付着が受光素子8で受光される反射光の強度に基づいて検出される。
特開昭61−75235号公報 特公平7−104304号公報 工業計測ハンドブック、昭和51.9.30、朝倉書店、P297。
しかしながら、上述した従来の鏡面冷却式露点計101や102、天気計103や104では、外乱光による誤動作防止(遮光)のためにチャンバ1が設けられており、大型化が避けられなかった。特に、鏡面冷却式露点計101や102では、チャンバ1内に被測定気体を引き込むための吸引ポンプや吸引用チューブ、排気用チューブ、流量計などを必要とし、部品点数が多く、組立性が悪いという問題があった。また、センサ部が大型化し、重くなり、持ち運びが不便であった。
本発明は、このような課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、部品点数が少なく、小型で、組立性が良く、持ち運びにも便利な鏡面上状態検出装置および水分検出装置を提供することにある。
このような目的を達成するために、本発明の鏡面上状態検出装置は、鏡の鏡面に対して所定の周期でパルス光を照射する発光手段と、発光手段から鏡面に対して照射されたパルス光の反射光を受光する受光手段と、この受光手段が受光する反射光の1パルスの上限値と下限値との差に基づいて鏡面上の状態を検出する手段とを設けたものである。
この発明によれば、発光手段から鏡の鏡面に対して所定の周期でパルス光が照射され、この照射されたパルス光の鏡面からの反射光(正反射光検出方式の場合は正反射光、散乱光検出方式の場合は散乱光)が受光手段で受光され、この受光手段が受光する反射光(反射パルス光)の1パルスの上限値と下限値との差に基づいて鏡面上の状態(例えば、雨や雪の付着)が検出される。この場合、反射光の1パルスの上限値と下限値との差をとることにより、反射光に含まれる外乱光が除去される。
また、本発明の水分検出装置は、鏡面が被測定気体に晒される鏡と、鏡を冷却する冷却手段と、鏡面に対して所定の周期でパルス光を照射する発光手段と、発光手段から鏡面に対して照射されたパルス光の反射光を受光する受光手段と、この受光手段が受光する反射光の1パルスの上限値と下限値との差に基づいて冷却手段によって冷却された鏡の鏡面上に生じる水分を検出する手段とを設けたものである。
この発明によれば、発光手段から鏡の鏡面に対して所定の周期でパルス光が照射され、この照射されたパルス光の鏡面からの反射光(正反射光検出方式の場合は正反射光、散乱光検出方式の場合は散乱光)が受光手段で受光され、この受光手段が受光する反射光(反射パルス光)の1パルスの上限値と下限値との差に基づいて、冷却手段によって冷却された鏡の鏡面上に生じる水分(例えば、結露や結霜)が検出される。この場合、反射光の1パルスの上限値と下限値との差をとることにより、反射光に含まれる外乱光が除去される。
本発明によれば、発光手段から鏡の鏡面に対して所定の周期でパルス光を照射し、この照射したパルス光の鏡面からの反射光を受光手段で受光し、この受光手段が受光する反射光(反射パルス光)の1パルスの上限値と下限値との差に基づいて鏡面上の状態や鏡面上に生じる水分を検出するようにしたので、チャンバを用いることなく反射光に含まれる外乱光を除去することができるようになり、部品点数の削減、小型化、組立性の向上を図ることができ、持ち運びも容易となる。
以下、本発明を図面に基づいて詳細に説明する。
〔実施の形態1:鏡面冷却式露点計(散乱光検出方式)〕
図1はこの発明に係る水分検出装置の一実施の形態を示す鏡面冷却式露点計の概略構成図である。この鏡面冷却式露点計201はセンサ部201Aとコントロール部201Bとを有している。
センサ部201Aでは、熱電冷却素子(ペルチェ素子)2の冷却面2−1に鏡10を取り付けている。鏡10は、例えばシリコンチップとされ、その表面10−1が鏡面とされている。また、鏡10と熱電冷却素子2の冷却面2−1との接合面に、例えば白金による薄膜測温抵抗体(温度検出素子)11を形成している。また、熱電冷却素子2の加熱面2−2に円柱状のヒートシンク18を接合し、このヒートシンク18に沿ってその上端部をJ字型に湾曲させたステンレス製のチューブ17を設けている。
チューブ17としては図2に示すような種々の形で光ファイバを収容したチューブ16を使用することができる。図2(a)では、チューブ16中に、発光側の光ファイバ16−1と受光側の光ファイバ16−2とを同軸に設けている。図2(b)では、チューブ16中に、発光側(あるいは受光側)の光ファイバ16−1と受光側(あるいは発光側)の光ファイバ16−21〜16−24を同軸に設けている。図2(c)では、チューブ16中の左半分を発光側の光ファイバ16a、右半分を受光側の光ファイバ16bとしている。図2(d)では、チューブ16中に、発光側の光ファイバ16cと受光側の光ファイバ16dとを混在させている。図2(e)では、チューブ16中の中心部を発光側(あるいは受光側)の光ファイバ16e、光ファイバ16eの周囲を受光側(あるいは発光側)の光ファイバ16fとしている。
図1に示した鏡面冷却式露点計201では、チューブ17として図2(a)に示されたタイプのチューブ16を使用しており、その内部に発光側の光ファイバ17−1と受光側の光ファイバ17−2とを収容している。発光側の光ファイバ17−1と受光側の光ファイバ17−2のJ字型に湾曲された先端部(発光部、受光部)は、鏡10の鏡面10−1に向けられ、この鏡面10−1に対して所定の傾斜角で傾けられている。この結果、光ファイバ17−1からの光の照射方向(光軸)と光ファイバ17−2での光の受光方向(光軸)とが平行とされ、また隣接して同一の傾斜角とされる。
コントロール部201Bには、露点温度表示部12と、結露検知部13と、ペルチェ出力制御部14と、信号変換部15とが設けられている。露点温度表示部12には温度検出素子11が検出する鏡10の温度が表示される。結露検知部13は、光ファイバ17−1の先端部より鏡10の鏡面10−1に対して斜めに所定の周期でパルス光を照射させるとともに、光ファイバ17−2を介して受光される反射パルス光(散乱光)の上限値と下限値との差を反射パルス光の強度として求め、この反射パルス光の強度に応じた信号S1をペルチェ出力制御部14へ送る。ペルチェ出力制御部14は、結露検知部13からの信号S1を受けて、反射パルス光の強度と予め定められている閾値とを比較し、反射パルス光の強度が閾値に達していない場合には、熱電冷却素子2への電流を信号S1の値に応じて増大させる制御信号S2を、反射パルス光の強度が閾値を超えている場合には、熱電冷却素子2への電流を信号S1の値に応じて減少させる制御信号S2を信号変換部15へ出力する。信号変換部15は、ペルチェ出力制御部14からの制御信号S2で指示される電流S3を熱電冷却素子2へ供給する。
この鏡面冷却式露点計201において、センサ部201Aは被測定気体中に置かれる。また、結露検知部13は、光ファイバ17−1の先端部より、鏡10の鏡面10−1に対して斜めに所定の周期でパルス光を照射させる(図3(a)参照)。鏡面10−1は被測定気体に晒されており、鏡面10−1に結露が生じていなければ、光ファイバ17−1の先端部から照射されたパルス光はそのほゞ全量が正反射し、光ファイバ17−2を介して受光される鏡面10−1からの反射パルス光(散乱光)の量は極微量である。したがって、鏡面10−1に結露が生じていない場合、光ファイバ17−2を介して受光される反射パルス光の強度は小さい。
結露検知部13では、光ファイバ17−2を介して受光される反射パルス光の上限値と下限値との差を反射パルス光の強度として求め、反射パルス光の強度に応じた信号S1をペルチェ出力制御部14へ送る。この場合、反射パルス光の強度はほゞ零であり、閾値に達していないので、ペルチェ出力制御部14は、熱電冷却素子2への電流を増大させる制御信号S2を信号変換部15へ送る。これにより、信号変換部15からの熱電冷却素子2への電流S3が増大し、熱電冷却素子2の冷却面2−1の温度が下げられて行く。
熱電冷却素子2の冷却面2−1の温度、すなわち鏡10の温度を下げて行くと、被測定気体に含まれる水蒸気が鏡10の鏡面10−1に結露し、その水の分子に光ファイバ17−1の先端部から照射されたパルス光の一部が吸収されたり、乱反射したりする。これにより、光ファイバ17−2を介して受光される鏡面10−1からの反射パルス光(散乱光)の強度が増大する。
結露検知部13は、受光される反射パルス光の1パルス毎に、その1パルスの上限値と下限値との差を求め、これを反射パルス光の強度とする。すなわち、図3(b)に示すように、反射パルス光の1パルスの上限値Lmaxと下限値Lminとの差ΔLを求め、このΔLを反射パルス光の強度とする。この結露検知部13での処理により、反射パルス光に含まれる外乱光ΔXが除去され、外乱光による誤動作が防止される。この結露検知部13でのパルス光を用いた外乱光による誤動作防止の処理方式をパルス変調方式と呼ぶ。この処理によって、この鏡面冷却式露点計201では、センサ部201Aからチャンバをなくすことができている。
ここで、光ファイバ17−2を介して受光される反射パルス光の強度が閾値を超えると、ペルチェ出力制御部14は、熱電冷却素子2への電流を減少させる制御信号S2を信号変換部15へ送る。これにより、熱電冷却素子2の冷却面2−1の温度の低下が抑えられ、結露の発生が抑制される。この結露の抑制により、光ファイバ17−2を介して受光される反射パルス光の強度が小さくなり、閾値を下回ると、ペルチェ出力制御部14から熱電冷却素子2への電流を増大させる制御信号S2が信号変換部15へ送られる。この動作の繰り返しによって、光ファイバ17−2を介して受光される反射パルス光の強度が閾値とほゞ等しくなるように、熱電冷却素子2の冷却面2−1の温度が調整される。この調整された温度、すなわち鏡面10−1に生じた結露が平衡状態に達した温度(露点温度)が、露点温度として露点温度表示部12に表示される。
この鏡面冷却式露点計201では、発光側の光ファイバ17−1と受光側の光ファイバ17−2の取り付け部が1箇所にまとめられており、検出部201Aの小型化に貢献している。また、発光側の光ファイバ17−1と受光側の光ファイバ17−2とがチューブ17に収容されているので、発光側の光ファイバ17−1と受光側の光ファイバ17−2との間での位置決めは必要なく、組立時の作業性がよくなる。
また、この鏡面冷却式露点計201では、センサ部201Aからチャンバをなくし、吸引ポンプや吸引用チューブ、排気用チューブ、流量計など省略することができているので、部品点数が削減され、センサ部201Aのさらなる小型化が図られ、組立性が向上し、コストもダウンする。また、吸引ポンプや吸引用チューブ、排気用チューブ、流量計などを装着しなくてもよいので、測定雰囲気中への設置も容易となる。また、センサ部201Aには吸引ポンプや吸引用チューブ、排気用チューブ、流量計などの装着が伴わず、センサ部201Aとコントロール部201Bとの2つの構成となるので、持ち運びが容易となる。
図4にコントロール部201Bをコントロールボックス21に収容した鏡面冷却式露点計201の構成を示す。コントロールボックス21において、収容されたコントロール部201Bへの電源は電池とされており、コントロールボックス21とセンサ部201Aを1組にして現場に赴き、センサ部201Aを測定雰囲気中に設置することにより、すぐに測定を始めることができる。この例では、コントロールボックス21とセンサ部201Aとを別体としているが、センサ部201Aをコントロールボックス21に設け、一体化するようにしてもよい。
なお、図1に示した鏡面冷却式露点計201では、センサ部201Aにおいて発光側の光ファイバ17−1と受光側の光ファイバ17−2とを収容したチューブ17を用いたが、図5に示すセンサ部201A’のように、発光側の光ファイバ17−1に代えて発光ダイオード19を、受光側の光ファイバ17−2に代えてフォトカプラ20を設けるようにしてもよい。
〔実施の形態2:鏡面冷却式露点計(正反射光検出方式)〕
図6はこの発明に係る水分検出装置の他の実施の形態を示す鏡面冷却式露点計の概略構成図である。この鏡面冷却式露点計202では、発光側の光ファイバ17−1と受光側の光ファイバ17−2とを同軸ではなく、鏡10を挾んでその左右に対称に設けている。発光側の光ファイバ17−1と受光側の光ファイバ17−2のJ字型に湾曲された先端部は、鏡10の鏡面10−1に向けられ、この鏡面10−1に対して左右対称に所定の傾斜角で傾けられている。
この鏡面冷却式露点計202において、センサ部202Aは被測定気体中に置かれる。また、結露検知部13は、光ファイバ17−1の先端部より、鏡10の鏡面10−1に対して斜めに所定の周期でパルス光を照射させる。鏡面10−1は被測定気体に晒されており、鏡面10−1に結露が生じていなければ、光ファイバ17−1の先端部から照射されたパルス光はそのほゞ全量が正反射し、光ファイバ17−2を介して受光される。したがって、鏡面10−1に結露が生じていない場合、光ファイバ17−2を介して受光される反射パルス光の強度は大きい。
結露検知部13では、光ファイバ17−2を介して受光される反射パルス光の上限値と下限値との差を反射パルス光の強度として求め、この反射パルス光の強度に応じた信号S1をペルチェ出力制御部14へ送る。この場合、反射パルス光の強度は大きく、閾値を超えているので、ペルチェ出力制御部14は、熱電冷却素子2への電流を増大させる制御信号S2を信号変換部15へ送る。これにより、信号変換部15からの熱電冷却素子2への電流S3が増大し、熱電冷却素子2の冷却面2−1の温度が下げられて行く。
熱電冷却素子2の冷却面2−1の温度、すなわち鏡10の温度を下げて行くと、被測定気体に含まれる水蒸気が鏡10の鏡面10−1に結露し、その水の分子に光ファイバ17−1の先端部から照射されたパルス光の一部が吸収されたり、乱反射したりする。これにより、光ファイバ17−2を介して受光される鏡面10−1からの反射パルス光(正反射光)の強度が減少する。
ここで、光ファイバ17−2を介して受光される反射パルス光の強度が閾値を下回ると、ペルチェ出力制御部14は、熱電冷却素子2への電流を減少させる制御信号S2を信号変換部15へ送る。これにより、熱電冷却素子2の冷却面2−1の温度の低下が抑えられ、結露の発生が抑制される。この結露の抑制によって、光ファイバ17−2を介して受光される反射パルス光の強度が大きくなり、閾値を上回ると、ペルチェ出力制御部14から熱電冷却素子2への電流を増大させる制御信号S2が信号変換部15へ送られる。この動作の繰り返しによって、光ファイバ17−2を介して受光される反射パルス光の強度が閾値とほゞ等しくなるように、熱電冷却素子2の冷却面2−1の温度が調整される。この調整された温度、すなわち鏡面10−1に生じた結露が平衡状態に達した温度(露点温度)が、露点温度として露点温度表示部12に表示される。
この鏡面冷却式露点計202においても、パルス変調方式によって結露検知部13において外乱光による誤動作が防止されるので、センサ部202Aからチャンバをなくすことができている。
なお、上述した実施の形態1や2では、鏡面10−1に生じる結露(水分)を検出するものとしたが、同様の構成によって鏡面10−1に生じる結霜(水分)を検出することも可能である。
また、上述した実施の形態1や2では、鏡10を冷却する冷却手段として熱電冷却素子(ペルチェ素子)2を用いたが、ヘリウム冷凍機などを用いてもよい。
〔実施の形態3:天気計(散乱光検出方式)〕
図7はこの発明に係る鏡面上状態検出装置の一実施の形態を示す天気計の概略構成図である。この天気計203はセンサ部203Aと雨検知部203Bとを有している。センサ部203Aは、鏡10のみを設けた構成とし、実施の形態1と同様にして、上端部をJ字型に湾曲させたチューブ17を設けている。
この天気計203において、雨検知部203Bは、光ファイバ17−1の先端部より鏡10の鏡面10−1に対して斜めに所定の周期でパルス光を照射させるとともに、光ファイバ17−2を介して受光される反射パルス光(散乱光)の上限値と下限値との差を反射パルス光の強度として求め、この反射パルス光の強度と予め定められている閾値とを比較し、反射パルス光の強度が閾値を超えると雨が降り始めた(鏡面10−1に雨が付着した)と判断する。
〔実施の形態4:天気計(正反射光方式)〕
図8はこの発明に係る鏡面上状態検出装置の他の実施の形態を示す天気計の概略構成図である。この天気計204はセンサ部204Aと雨検知部204Bとを有している。センサ部204Aは、鏡10のみを設けた構成とし、実施の形態2と同様にして、上端部をJ字型に湾曲させた発光側の光ファイバ17−1と受光側の光ファイバ17−2とを鏡10を挾んで左右対称に設けている。
この天気計204において、雨検知部204Bは、光ファイバ17−1の先端部より鏡10の鏡面10−1に対して斜めに所定の周期でパルス光を照射させるとともに、光ファイバ17−2を介して受光される反射パルス光(正反射光)の上限値と下限値との差を反射パルス光の強度として求め、この反射パルス光の強度と予め定められている閾値とを比較し、反射パルス光の強度が閾値を下回ると雨が降り始めた(鏡面10−1に雨が付着した)と判断する。
なお、上述した実施の形態3や4では、鏡面10−1上に付着する雨を検出するようにしたが、同様の構成によって鏡面10−1上に付着する雪を検出することも可能である。また、同様の構成によって、雨や雪だけではなく、塵なども検出することが可能である。
本発明に係る水分検出装置の一実施の形態を示す鏡面冷却式露点計の概略構成図(実施の形態1)である。 発光側の光ファイバと受光側の光ファイバとを1つのチューブ中に同軸に設ける構成を例示する図である。 鏡面に対して照射されるパルス光および鏡面から受光される反射パルス光を示す図である。 コントロール部をコントロールボックスに収容した鏡面冷却式露点計の構成を示す図である。 実施の形態1の鏡面冷却式露点計のセンサ部の変形例を示す図である。 本発明に係る水分検出装置の他の実施の形態を示す鏡面冷却式露点計の概略構成図(実施の形態2)である。 本発明に係る鏡面上状態検出装置の一実施の形態を示す天気計の概略構成図(実施の形態3)である。 本発明に係る鏡面上状態検出装置の他の実施の形態を示す天気計の概略構成図(実施の形態4)である。 正反射光検出方式を採用した従来の鏡面冷却式露点計の要部を示す図である。 散乱光検出方式を採用した従来の鏡面冷却式露点計の要部を示す図である。 正反射光検出方式を採用した従来の天気計の要部を示す図である。 散乱光検出方式を採用した従来の天気計の要部を示す図である。 従来の鏡面冷却式露点計における鏡や温度検出素子の取り付け構造を示す斜視図である。
符号の説明
2…熱電冷却素子(ペルチェ素子)、2−1…冷却面、2−2…加熱面、10…鏡、10−1…鏡面、11…温度検出素子(薄膜測温抵抗体)、12…露点温度表示部、13…結露検知部、14…ペルチェ出力制御部、15…信号変換部、17…チューブ、17−1…発光側の光ファイバ、17−2…受光側の光ファイバ、18…ヒートシンク、19…発光ダイオード、20…フォトカプラ、21…コントロールボックス、40…断熱材、201,202…鏡面冷却式露点計、201A,202A,202A’…センサ部、201B,202B…コントロール部、203,204…天気計、203A,204A…センサ部、203B,204B…雨検知部。

Claims (2)

  1. 鏡の鏡面に対して所定の周期でパルス光を照射する発光手段と、
    前記発光手段から前記鏡面に対して照射されたパルス光の反射光を受光する受光手段と、
    この受光手段が受光する反射光の1パルスの上限値と下限値との差に基づいて前記鏡面上の状態を検出する手段と
    を備えたことを特徴とする鏡面上状態検出装置。
  2. 鏡面が被測定気体に晒される鏡と、
    前記鏡を冷却する冷却手段と、
    前記鏡面に対して所定の周期でパルス光を照射する発光手段と、
    前記発光手段から前記鏡面に対して照射されたパルス光の反射光を受光する受光手段と、
    この受光手段が受光する反射光の1パルスの上限値と下限値との差に基づいて前記冷却手段によって冷却された前記鏡の鏡面上に生じる水分を検出する手段と
    を備えたことを特徴とする水分検出装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007127572A (ja) * 2005-11-07 2007-05-24 Yamatake Corp 鏡面上状態検出装置および水分検出装置
JP2009139216A (ja) * 2007-12-06 2009-06-25 Seiko Instruments Inc 鏡面冷却式露点計
JP2009186440A (ja) * 2008-02-08 2009-08-20 Seiko Instruments Inc 鏡面冷却式露点計
US7736051B2 (en) 2004-03-30 2010-06-15 Yamatake Corporation Thermoelectric device and mirror surface state detection device
KR101365879B1 (ko) 2007-04-04 2014-02-21 에스펙 가부시키가이샤 습도계 및 노점계
CN110425094A (zh) * 2019-08-14 2019-11-08 中国华能集团有限公司 一种基于光学原理的风电机组叶片凝冻检测装置及方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7736051B2 (en) 2004-03-30 2010-06-15 Yamatake Corporation Thermoelectric device and mirror surface state detection device
JP2007127572A (ja) * 2005-11-07 2007-05-24 Yamatake Corp 鏡面上状態検出装置および水分検出装置
KR101365879B1 (ko) 2007-04-04 2014-02-21 에스펙 가부시키가이샤 습도계 및 노점계
JP2009139216A (ja) * 2007-12-06 2009-06-25 Seiko Instruments Inc 鏡面冷却式露点計
JP2009186440A (ja) * 2008-02-08 2009-08-20 Seiko Instruments Inc 鏡面冷却式露点計
CN110425094A (zh) * 2019-08-14 2019-11-08 中国华能集团有限公司 一种基于光学原理的风电机组叶片凝冻检测装置及方法

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