JP2005277211A - 基板処理装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】処理液吐出部からの処理液の長時間に渡るぼた落ちを抑制または防止することができ、これにより基板処理の品質を向上できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】処理液配管25を保持した揺動アーム19の先端部に処理液吐出部15が保持されている。処理液吐出部15は、処理液配管25の先端部分41で形成したアップ・ダウン流路45と、このアップ・ダウン流路45の出口に結合したノズルヘッド42とを有している。アップ・ダウン流路45は、第1ダウン流路46と、アップ流路47と、第2ダウン流路48とを有している。処理液配管25への処理液の供給を停止すると、アップ流路47と第2ダウン流路48との境界部55で処理液が分離し、第2ダウン流路48側の微量の処理液のみがノズルヘッド42から落下する。
【選択図】 図2

Description

この発明は、基板に対して処理液を用いた処理を施す基板処理装置に関する。処理の対象となる基板には、たとえば、半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基板、プラズマディスプレイ用ガラス基板、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板などが含まれる。
半導体装置や液晶表示装置の製造工程では、半導体ウエハ等の基板に対して処理液を用いた処理を施す基板処理装置が用いられる。このような基板処理装置には、複数枚の基板に対して一括して処理を施すバッチ型のものと、1枚ずつの基板に対して処理を施す枚葉型のものとがある。
枚葉型の基板処理装置は、基板をほぼ水平に保持して回転させるスピンチャックと、このスピンチャックに保持された基板に対して処理液を供給する処理液ノズルとを備えている。たとえば、処理液ノズルとしては、一定の位置に吐出部が固定された固定ノズルや、スピンチャックに保持された基板に沿って揺動する揺動アームの先端付近に吐出部を保持し、揺動アームの揺動によって処理液供給位置を基板上でスキャンさせるスキャン型ノズルなどが用いられる。
図6は、処理液の供給のための構成を示す図解図である。処理液ノズルの吐出部1には、処理液配管5が接続され、この処理液配管5には処理液バルブ6が介装されている。そして、この処理液バルブ6の開閉によって、基板Wへの処理液10の供給および供給停止を制御するようになっている。
吐出部1は、水平部2と、この水平部2から垂下した垂下部3とを有し、この垂下部3の下端が処理液吐出口4となっている。
処理液バルブ6と吐出部1との間の処理液配管5からは、吸引配管7が分岐している。この吸引配管7は、吸引バルブ8を介して吸引装置(図示せず)に接続されている。
処理液バルブ6を閉じて処理液10の供給を停止するときには、吸引バルブ8が開かれ、処理液バルブ6よりも吐出部1側の処理液が吸引される。
特開平11−147067号公報
ところが、吸引配管7を介する吸引によっては、吐出部1内の処理液を吸引し尽くすことができない場合があり、吐出部1から基板W上に処理液10がぼた落ちする場合がある。とくに、バッファードふっ酸のような粘性の低い処理液の場合には、表面張力が弱いため、吸引配管7を介する吸引を開始したときに、水平部2内の不定の位置において処理液10が分離し、垂下部3から基板上へ5〜6秒間にわたってぼた落ちすることがある。
また、垂下部3の内壁に処理液の液滴9が残留すると、この液滴9は基板W上に落下して汚染源となるおそれがある。
したがって、処理液の吐出停止のタイミングを正確に規定することができず、基板の処理が不良になったり、基板毎に処理にばらつきが生じたりするおそれがある。
また、スキャン型ノズルの場合には、スピンチャックの側方のプリディスペンスポッドにおいてプリディスペンスが行われ、その後に、揺動アームの揺動によって吐出部が基板上に導かれる。この場合に、プリディスペンス直後の吐出部から処理液がぼた落ちすれば、処理液による処理開始のタイミングを正確に規定することができない。より具体的には、吐出部が処理開始位置に達するまでに、基板上への処理液のぼた落ちが生じ、基板に対する処理が不良になるおそれがある。
そこで、この発明の目的は、処理液吐出部からの処理液の長時間に渡るぼた落ちを抑制または防止することができ、これにより基板処理の品質を向上できる基板処理装置を提供することである。
上記の目的を達成するための請求項1記載の発明は、基板(W)をほぼ水平に保持する基板保持機構(11)と、処理液吐出口(42a)を有し、前記基板保持機構に保持された基板上に前記処理液吐出口から処理液を吐出する処理液吐出部(15)と、この処理液吐出部を保持する吐出部保持機構(16)と、この吐出部保持機構に保持された前記処理液吐出部に処理液を供給する処理液供給機構と(17)、前記処理液吐出部に設けられ、前記処理液供給機構から供給された処理液を一旦上方に導いた後に下方に導くアップ・ダウン流路(45,70,80,90)を形成するアップ・ダウン流路形成部材(25,96)とを含むことを特徴とする基板処理装置である。なお、括弧内の英数字は後述の実施形態における対応構成要素等を表す。以下、この項において同じ。
この構成によれば、吐出部保持機構に保持された処理液吐出部には、アップ・ダウン流路が形成されている。すなわち、処理液は、その吐出直前に、一旦上方に導かれた後に、下方に導かれて基板上に吐出されることになる。そのため、処理液供給機構から処理液吐出部への処理液の供給を停止すると、アップ・ダウン流路において上方に向かうアップ流路と、下方に向かうダウン流路とに処理液が分離し、ダウン流路側に分離した微量の処理液が処理液吐出口から吐出されるものの、アップ流路から上流側の処理液が処理液吐出口から吐出されることがない。これにより、処理液の供給をすみやかに停止させることができ、5〜6秒などという長時間にわたって処理液がぼた落ちする事態を回避できる。
また、処理液の分離は、常に、アップ流路とダウン流路との境界部において生じるから、処理液供給停止後に処理液吐出口から吐出される処理液の量が既知であり、これを見越して処理液の供給停止タイミングを定めることが可能である。このようにして、正確なタイミングで処理液の供給を停止できる。
前記アップ・ダウン流路形成部材は、処理液を供給する処理液配管の先端部分(41)で構成してもよい。つまり、処理液配管の先端部分を整形することによって、アップ・ダウン流路を形成するようにしてもよい。また、アップ・ダウン流路形成部材は、内部にアップ・ダウン流路を形成した加工品(たとえばブロック状の部品)で構成してもよい。さらに、前記アップ・ダウン流路は、処理液配管の先端に結合されるノズルヘッド内に形成されてもよい。
請求項2記載の発明は、前記処理液吐出部は、前記アップ・ダウン流路の出口(たとえば、アップ・ダウン流路を処理液配管の先端部で形成する場合には当該処理液配管の先端)に結合され、前記処理液吐出口を有するノズルヘッド(42,42A)を備えており、このノズルヘッドは、前記アップ・ダウン流路の内壁から落下する液滴を受ける液滴受け部(62)を有していることを特徴とする請求項1記載の基板処理装置である。
この構成により、ノズルヘッド内の液滴受け部において、アップ・ダウン流路の内壁の液滴を受けることができるので、この液滴がぼた落ちすることを防止できる。これにより、処理液のぼた落ちをより確実に抑制または防止できる。
たとえば、処理液として薬液を基板に供給する場合に、基板に対する薬液の供給を停止した後、処理液流路の内壁に付着した微量の薬液液滴が基板上に落下しても大きな問題はない。なぜなら、薬液処理後には純水等のリンス液によるリンス処理が行われるのが通常だからである。これに対して、基板に対する薬液処理の開始直前に処理液のプリディスペンスを行い、その後に、基板に対して処理液を供給するときは、処理液流路の内壁に付着した薬液の液滴が基板上に落下することは、基板面内における処理の均一性を損なうので、回避することが好ましい。このような場合に、この発明の構成を採用することによって、処理液による基板処理の開始直前における処理液の落下を確実に抑制または防止でき、基板の処理品質を向上できる。
請求項3記載の発明は、前記アップ・ダウン流路形成部材は、環状ループ形状の流路によって前記アップ・ダウン流路を形成しているものであることを特徴とする請求項1または2記載の基板処理装置である。
アップ・ダウン流路は、環状ループ形状の流路で構成できるほか、上方に凸の略半円弧形状のループ形状の流路で構成してもよく、また、上下に波打ったジグザグ形状の流路(たとえば、上に凸の略半円弧形状の第1ループ部と、下に凸の略半円弧形状の第2ループ部とを有するもの。)によって構成することもできる。環状のループ形状の流路には、少ないスペースでアップ・ダウン流路を形成することができるという利点がある。
請求項4記載の発明は、前記吐出部保持機構は、前記基板保持機構に保持された基板の上方でほぼ水平に揺動される揺動アーム(19)を備え、この揺動アームの先端部に前記処理液吐出部を保持するものであることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の基板処理装置である。
この構成では、スキャン型ノズルに、この発明が適用され、揺動アームの先端部に保持された処理液吐出部からの処理液のぼた落ちを防止できる。
とくに、基板保持機構の側方のプリディスペンスポッドで処理液のプリディスペンスを行い、その後に、処理液吐出部を基板保持機構に保持された基板の上方に導いて処理液による処理を開始する場合に、処理液吐出部の移動過程で基板上に処理液がぼた落ちすることを抑制または防止できる。
以下では、この発明の実施の形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1は、この発明の一実施形態に係る基板処理装置の構成を説明するための概念図である。この基板処理装置は、半導体ウエハ等の円形の基板Wをほぼ水平に保持して回転するスピンチャック11と、このスピンチャック11を回転駆動する回転駆動機構12と、スピンチャック11に保持されている基板Wの表面に処理液を吐出する処理液吐出部15と、この処理液吐出部を保持する吐出部保持機構16と、処理液吐出部15に対して処理液を供給する処理液供給機構17とを備えている。
吐出部保持機構16は、ほぼ鉛直方向に沿って配置された回動軸18と、この回動軸18に対して水平方向に沿って取り付けられた揺動アーム19と、回動軸18を鉛直軸線まわりに所定の回動角度範囲で往復回動させることによって揺動アーム19を揺動させる揺動駆動機構20とを備えている。揺動アーム19の先端部に、処理液吐出部15を保持する保持部21が配置されている。したがって、揺動駆動機構20を作動させて、揺動アーム19を水平面に沿って揺動させることにより、処理液吐出部15から供給される処理液の着液点は、スピンチャック11に保持された基板Wの回転中心および周端縁を含む円弧形状の軌跡22を描いて移動することになる。これによって、処理液吐出部15によって基板Wをスキャンしながらその表面に処理液を供給することができる。
処理液供給機構17は、処理液吐出部15に処理液を供給する処理液配管25と、処理液を貯留した処理液タンク26と、処理液タンク26から処理液を汲み出して処理液配管25へと送り込むポンプ27とを備えている。処理液配管25には、処理液の供給/停止を切り換えるための処理液バルブ28および処理液の流量を計測するための流量計29ならびに処理液配管25に送り込まれる処理液の温度を調整するための温度調節器30が介装されている。
処理液配管25において温度調節器30と処理液バルブ28との間には、処理液を処理液タンク26へと帰還させるためのリターン配管31が分岐接続されている。処理液バルブ28が閉じられているときには、ポンプ27によって汲み出された処理液は、温度調節器30を通り、さらにリターン配管31を通って処理液タンク26へと帰還されることによって循環され、これにより、処理液の温度を基板Wの処理に適した一定の温度に保持することができるようになっている。
一方、処理液バルブ28の下流側、この実施形態では流量計29の下流側には、処理液バルブ28よりも処理液吐出部15側の処理液配管25内の処理液を吸引するための吸引配管32が分岐接続されている。この吸引配管32は、吸引バルブ33を介して吸引装置34へと接続されている。
スピンチャック11の側方には、基板Wの処理に先立ち、処理液吐出部15から処理液をプリディスペンスするためのプリディスペンスポッド38が配置されている。このプリディスペンスポッド38は、処理液吐出部15からプリディスペンスされる処理液を受けて、排液配管39へと導くようになっている。処理液のプリディスペンスを行うことにより、処理液配管25内に非温度調節状態の処理液が存在していれば、これを予め排出し尽くした後に、適切に温度調節された処理液を処理開始当初から基板Wに供給することができる。
未処理の基板Wは、基板搬送ロボット(図示せず)によって、当該基板処理装置の処理室内へと搬入され、スピンチャック11に受け渡される。基板搬送ロボットのハンドが処理室から退出した後、回転駆動機構12によってスピンチャック11が回転される。
揺動アーム19は、初期状態において、処理液吐出部15をプリディスペンスポッド38上に配置した退避位置にある。この状態で、処理液バルブ28が一定時間だけ開かれることにより、処理液バルブ28よりも上流側の処理液が処理液配管25を介して処理液吐出部15へと導かれ、処理液配管25内は温度調節された状態の処理液で満たされる。
このプリディスペンスを終了すると、処理液バルブ28が閉じられ、代わって、吸引バルブ33が開かれる。これにより、常時作動状態とされている吸引装置34の働きにより、処理液バルブ28と処理液吐出部15との間の処理液配管25内に存在する処理液が吸引して排除される。その後、揺動駆動機構20が作動され、揺動アーム19がスキャン開始位置へと移動させられる。スキャン開始位置は、たとえば、処理液吐出部15が基板Wの回転中心の直上に配置される位置であってもよいし、処理液吐出部15が基板Wの周縁部の直上に配置される位置であってもよい。
この状態から、吸引バルブ33が閉じられ、代わって、処理液バルブ28が開かれる。それとともに、揺動駆動機構20は、基板Wの回転中心およびその周端部を含む所定の揺動範囲(基板Wの半径に相当する範囲または直径に相当する範囲)にわたって処理液の着液点が移動するように、往復揺動させられる。これにより、処理液配管25を介して処理液吐出部15から吐出される処理液が基板Wの全域に導かれ、この基板Wの表面に対する処理が行われる。
処理液タンク26に処理液としてバッファードふっ酸などの薬液を貯留し、この薬液を処理液吐出部15から基板W上に吐出した後には、揺動アーム19は、上述の退避位置へと退避させられ、その後、純水ノズル13から基板Wの回転中心に向けて純水(脱イオン水)が供給される。この純水は、回転状態の基板W上で遠心力を受けてその全域へと広がり、基板W上の薬液を置換することになる。
こうして一定時間の純水リンス処理を行った後には、純水の供給を停止するとともに、回転駆動機構12によりスピンチャック11を高速回転させて、基板Wの表面の水滴を振り切るための乾燥処理が行われる。この乾燥処理の後、基板搬送ロボットにより、処理済の基板Wが当該基板処理装置の処理室から払い出される。
図2は、処理液吐出部15の構成を拡大して示す図である。揺動アーム19には処理液配管25が固定されており、この処理液配管25の先端部分41と、処理液配管25の先端に結合されたノズルヘッド42とによって、処理液吐出部15が形成されている。処理液配管の先端部分41は、この実施形態では、環状ループ形状のアップ・ダウン流路45を形成している。
より具体的には、アップ・ダウン流路45は、揺動アーム19上に水平に配置された処理液配管25の水平部分から揺動アーム19の先端付近において下方へと向かう第1ダウン流路46と、この第1ダウン流路46の下端に連設され、ほぼ半円弧形状を描いて上方へと向かうアップ流路47と、このアップ流路47の上端に連設され、ほぼ4分の1円弧形状を描いて下方に向かうとともに、さらにノズルヘッド42に向かって鉛直下方に垂下する第2ダウン流路48とを備えている。第2ダウン流路48の直線流路部49の下端(アップ・ダウン流路45の出口)に、ノズルヘッド42がその処理液吐出口42aを鉛直下方に設けて取り付けられている。
処理液吐出部15を保持するための保持部21は、揺動アーム19の先端に固定されたブラケット51を備えている。アップ・ダウン流路45の上記直線流路部49は、ブラケット51のノズル取り付け部52に取り付け板53をボルト54で締結することによって固定されている。ノズル取り付け部52は、直線流路部49を鉛直方向に沿ってガイドするようになっており、これにより、直線流路部49は、その取り付け状態において鉛直方向に沿うことになる。
処理液の供給を停止して吸引配管32から処理液配管25内の処理液を吸引するとき、環状ループ形状に形成されたアップ・ダウン流路45では、アップ流路47と第2ダウン流路48との境界部55において処理液が分離する。すなわち、境界部55よりも上流側の処理液は処理液配管25から吸引配管32を介して吸引されて排出される。一方、境界部55よりも下流側、すなわち第2ダウン流路48内の処理液は、自重により、ノズルヘッド42の処理液吐出口42aから落下することになる。
境界部55から処理液吐出口42aに至る流路長は、たとえば100mm以下とすることができ、これにより、処理液の供給停止(処理液バルブ28の閉成)後における処理液吐出口42aからの処理液の落下は、たとえば1秒以内に停止する。また、境界部55から処理液吐出口42aに至る流路長は既知であるから、処理液バルブ28を閉じた後に処理液吐出口42aから落下する処理液量およびその落下時間を見越して、処理液バルブ28の閉成タイミングを定めることによって、処理液供給停止タイミングを正確に規定することができる。
図3は、ノズルヘッド42の構成を説明するための拡大断面図である。ノズルヘッド42は、処理液配管25の先端部分41で形成されたアップ・ダウン流路45の先端(第2ダウン流路の下端)に内嵌される配管取り付け部60を上方に有し、その下端に処理液吐出口42aを有している。ノズルヘッド42の内部には、処理液配管25の内部空間と連通するとともに下端に処理液吐出口42aを有する直線状の処理液流路61を内部に有している。
処理液流路61は、処理液配管25と同軸であって、この処理液配管25よりも小径の円筒面によって区画されている。この処理液流路61の上端の周縁部には、処理液配管25の内壁に付着した液滴を受けるための液滴受け部62が形成されている。この液滴受け部62は、処理液流路61の上端を取り囲む環状の溝となっており、その底壁は、処理液流路61の中心軸から離れるに従って下方に向かうテーパ面となっている。
液滴受け部62は、処理液配管25からの処理液が落下した後に、処理液配管25の内壁に残留する液滴65の落下を受け止め、処理液の液滴65が基板W上に不用意に落下することを抑制または防止する。
以上のように、この実施形態によれば、処理液バルブ28を閉じて処理液の供給を停止した後には、アップ・ダウン流路45の境界部55から下流側に残る微量の処理液が落下するのみであり、処理液の粘性がひくく、その表面張力が弱い場合であっても、処理液吐出口42aからの処理液の落下を速やかに停止させることができる。しかも、ノズルヘッド42には、処理液配管25の内壁に付着した液滴65を受ける液滴受け部62が設けられているから、処理液の供給停止後に基板W上に液滴が不用意に落下することも併せて防止することができる。このようにして、処理液の供給停止後に長時間に渡って処理液が基板W上にぼた落ちするような不具合を抑制または防止できる。また、アップ・ダウン流路45の境界部55よりも下流側の処理液が落下する時間を見越して処理液バルブ28の閉成タイミングを定めておけば、基板Wに対する処理液供給停止のタイミングをさらに正確に規定することができる。
また、プリディスペンスポッド38において処理液のプリディスペンスを行った後に、揺動アーム19をスキャン開始位置に移動させる過程で、処理液がぼた落ちしたり、液滴が基板W上に不用意に落下したりすることを抑制または防止できるので、基板Wに対する処理液の供給を予め定めた供給開始位置から確実に行うことができる。これにより、基板Wに対する処理の面内均一性を向上できるから、基板Wの処理品質をより一層向上することができる。
図4は、処理液吐出部15に設けることができるアップ・ダウン流路の形態例を説明するための図解図である。
図4(A)には、上述のような環状ループ形状のアップ・ダウン流路45が示されている。
図4(B)には、図4(A)の環状ループ形状のアップ・ダウン流路を展開して、上下のジグザグのループ形状としたアップ・ダウン流路70が示されている。このアップ・ダウン流路70は、揺動アーム19に保持された処理液配管25の水平部分から下方に向かう第1ダウン流路71と、この第1ダウン流路の下端に連設され、上方に向かうアップ流路72と、このアップ流路72の上端に連設され、再び下方に向かってノズルヘッド42へと連なる第2ダウン流路73とを有している。第1ダウン流路71およびアップ流路72の連設部分は下に凸の半円弧形状をなすループを形成しており、アップ流路72と第2ダウン流路73との連設部分は上に凸の半円弧形状のループを形成している。
処理液の供給を停止すると、アップ流路72と第2ダウン流路73との境界部75において処理液が分離し、この境界部75よりも下流側の微量の処理液のみが処理液吐出口42aから落下することになる。
図4(B)のアップ・ダウン流路70は、図4(A)のアップ・ダウン流路45に比較して、流路の横幅Hが広いため、図4(A)のアップ・ダウン流路45に比較して水平方向により多くのスペースを確保する必要がある。
図4(C)のアップ・ダウン流路80は、揺動アーム19に保持された処理液配管25の水平部分から上方に立ち上がるアップ流路81と、このアップ流路81の上端に連なり、ノズルヘッド42へと下がるダウン流路82とを有している。そして、アップ流路81およびダウン流路82の連設部分に上方に凸のループ流路が形成されている。この構成の場合、アップ流路81とダウン流路82との境界部85において処理液の分離が生じ、この境界部85よりも下流側の処理液が処理液供給停止後に落下することになる。
この図4(C)のアップ・ダウン流路80の場合には、図4(A)のアップ・ダウン流路45に比較して、高さVが大きくなるから、鉛直方向により多くのスペースを準備する必要がある。
図5は、アップ・ダウン流路の他の構成例を説明するための図解的な断面図である。この構成例では、内部にアップ・ダウン流路90を形成したブロック状の流路形成部品96が用いられている。アップ・ダウン流路90は、上下にジグザグの流路となっており、処理液配管25の先端に結合される第1ダウン流路91と、この第1ダウン流路91の下端に結合され上方に向かうアップ流路92と、このアップ流路92の上端に結合され、下方へと向かう第2ダウン流路93とを有している。流路形成部品96の下面には、第2ダウン流路93の出口93aに整合するように上述のノズルヘッド42とほぼ同様なノズルヘッド42Aが取り付けられている。このノズルヘッド42Aは、第2ダウン流路93の出口93aよりも小径の処理液流路61を有し、この処理液流路61の上端の周縁部に第2ダウン流路93の内壁に付着した液滴を受ける環状溝からなる液滴受け部62を有している。
このような構成により、処理液の供給を停止すると、アップ流路92と第2ダウン流路93との境界部95付近で処理液が分離し、この境界部95よりも下流側の処理液のみが処理液吐出口42aから落下することになる。また、第2ダウン流路93の内壁に付着している液滴は、液滴受け部62によって受けられ、このような液滴が不用意に基板W上に落下することを抑制または防止できるようになっている。
以上、この発明の一実施形態について説明したが、この発明は他の形態で実施することもできる。たとえば、上記の実施形態では、ノズルヘッド42,42Aの液滴受け部62の底壁を、テーパ状に形成しているが、この底壁を水平面に沿う平坦面として、処理液流路61の上端の周縁部に断面矩形の環状溝を形成して、これを液滴受け部としてもよい。
また、上記の実施形態では、ノズルヘッドとアップ・ダウン流路とが別の部材で構成される例について説明したが、ノズルヘッド内にアップ・ダウン流路を形成して、アップ・ダウン流路形成部材とノズルヘッドとを一体化してもよい。
さらに、上記の実施形態では、スキャン型ノズルにこの発明が適用される例について説明したが、この発明は、処理室内に固定配置される固定ノズルに対しても同様に適用することができる。
その他、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能である。
この発明の一実施形態に係る基板処理装置の構成を説明するための概念図である。 処理液吐出部の構成を拡大して示す図である。 ノズルヘッドの構成を説明するための拡大断面図である。 処理液吐出部に設けることができるアップ・ダウン流路の形態例を説明するための図解図である。 アップ・ダウン流路の他の構成例を説明するための図解的な断面図である。 処理液の供給のための従来技術を示す図解図である。
符号の説明
11 スピンチャック
12 回転駆動機構
13 純水ノズル
15 処理液吐出部
16 吐出部保持機構
17 処理液供給機構
18 回動軸
19 揺動アーム
20 揺動駆動機構
21 保持部
22 着液点の軌跡
25 処理液配管
26 処理液タンク
27 ポンプ
28 処理液バルブ
29 流量計
30 温度調節器
31 リターン配管
32 吸引配管
33 吸引バルブ
34 吸引装置
38 プリディスペンスポッド
39 排液配管
41 処理液配管の先端部分
42 ノズルヘッド
42a 処理液吐出口
42A ノズルヘッド
45 アップ・ダウン流路
46 第1ダウン流路
47 アップ流路
48 第2ダウン流路
49 直線流路部
51 ブラケット
52 取り付け部
53 取り付け板
54 ボルト
55 境界部
60 配管取り付け部
61 処理液流路
62 液滴受け部
65 液滴
70 アップ・ダウン流路
71 第1ダウン流路
72 アップ流路
73 第2ダウン流路
75 境界部
80 アップ・ダウン流路
81 アップ流路
82 ダウン流路
85 境界部
90 アップ・ダウン流路
91 第1ダウン流路
92 アップ流路
93 第2ダウン流路
93a 出口
95 境界部
96 流路形成部品
H アップ・ダウン流路の横幅
V アップ・ダウン流路の高さ
W 基板

Claims (4)

  1. 基板をほぼ水平に保持する基板保持機構と、
    処理液吐出口を有し、前記基板保持機構に保持された基板上に前記処理液吐出口から処理液を吐出する処理液吐出部と、
    この処理液吐出部を保持する吐出部保持機構と、
    この吐出部保持機構に保持された前記処理液吐出部に処理液を供給する処理液供給機構と、
    前記処理液吐出部に設けられ、前記処理液供給機構から供給された処理液を一旦上方に導いた後に下方に導くアップ・ダウン流路を形成するアップ・ダウン流路形成部材とを含むことを特徴とする基板処理装置。
  2. 前記処理液吐出部は、前記アップ・ダウン流路の出口に結合され、前記処理液吐出口を有するノズルヘッドを備えており、
    このノズルヘッドは、前記アップ・ダウン流路の内壁から落下する液滴を受ける液滴受け部を有していることを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。
  3. 前記アップ・ダウン流路形成部材は、環状ループ形状の流路によって前記アップ・ダウン流路を形成しているものであることを特徴とする請求項1または2記載の基板処理装置。
  4. 前記吐出部保持機構は、前記基板保持機構に保持された基板の上方でほぼ水平に揺動される揺動アームを備え、この揺動アームの先端部に前記処理液吐出部を保持するものであることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の基板処理装置。
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