JP2005276333A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 光ピックアップ装置は、集光レンズ32とフォトダイオード30の間に配置された光軸補正部20を備えている。光軸補正部20は、バイナリー型の回折光学素子と、回折光学素子のバイナリー段部に密着するようにして配置された液晶体とを有している。液晶体の屈折率は、複数の光源から射出されるレーザービームに応じて液晶回路によって調整されている。液晶回路は、回折光学素子におけるレーザービームの回折効率を上げるようにして液晶体の屈折率を調整している。
【選択図】 図3
Description
図1は、本実施の形態の光ピックアップ装置10の全体構成を示す図である。
本実施の形態の光ピックアップ装置10は、光学式情報記録媒体のうちCD、DVD、およびHD DVDを互換的に再生させることができるように設けられている。
光軸補正部20は、集光レンズ32の出射側に設けられており、光学式情報記録媒体14によって反射されたレーザービームが入射する位置に配置されたバイナリー型の回折光学素子46と、回折光学素子46に密着した状態で配置された液晶体48と、を有している。
655nmのレーザービームの場合 n1=1.607 式(3)
785nmのレーザービームの場合 n1=1.603 式(4)
まず、光学式情報記録媒体14に記録されている情報を再生させる際の光ピックアップ装置10の全体の作用について説明する。
t0 = λ/(n1−n0) 式(6)
t−1 = (2/3)*λ/(n1−n0) 式(7)
t0 = 0.868μm 式(9)
t−1 = 0.949μm 式(10)
η0 = 90.5% 式(12)
η−1 = 53.7% 式(13)
655nmのレーザービームの場合 n0=1.352 式(15)
785nmのレーザービームの場合 n0=1.45 式(16)
t0 = 1.714μm 式(18)
t−1 = 1.712μm 式(19)
η0 = 100% 式(21)
η−1 = 68% 式(22)
上述の実施の形態では、回折光学素子46として、3ステップのバイナリー段部50を有するバイナリー型の回折光学素子46が用いられている場合について説明したが、他の回折光学素子46を用いることも可能である。以下、4ステップのバイナリー段部50を有するバイナリー型の回折光学素子46が用いられる場合について説明する。
t+2=t−2= 2/4*λ/(n1−n0) 式(24)
t+1=t−3= 1/4*λ/(n1−n0) 式(25)
t0 = λ/(n1−n0) 式(26)
655nmのレーザービームの場合 n0=1.332 式(28)
785nmのレーザービームの場合 n0=1.493 式(29)
t0 = 1.789μm 式(31)
t−1 = 1.786μm 式(32)
η0 = 100% 式(34)
η−1 = 81% 式(35)
本実施の形態において、上述の第1の実施の形態と同一部分には同一符号を付して詳細な説明は省略する。
本実施の形態では、光軸補正部20が、集光レンズ32とフォトダイオード30の間に配置される代わりに、偏光ビームスプリッタ22と集光レンズ32の間に配置されている。従って、光軸補正部20は、集光レンズ32の入射側に設けられている。
本実施の形態の光ピックアップ装置10においても、各光源から射出され光学式情報記録媒体14において反射されたレーザービームは、光軸補正部20において光軸の方向が補正される。この時、各レーザービームは、光軸補正部20の回折光学素子46において回折され、光軸が集光レンズ32等の光学系の中心軸に一致させられる。
Claims (6)
- 光ビームを射出可能な2以上の光源を含む発光手段と、
前記発光手段から射出される光ビームを光学式情報記録媒体に照射する光ビーム照射手段と、
前記光学式情報記録媒体によって反射された光ビームの光軸を補正する光軸補正手段と、
前記光軸補正手段において光軸が補正された光ビームが照射され、前記光学式情報記録媒体に記録されている情報を照射された光ビームに基づいて検知する光情報検知手段と、を備え、
前記光軸補正手段は、
前記光学式情報記録媒体によって反射された光ビームが入射する位置に配置され、光ビームが前記光情報検知手段の所定位置に照射されるように、入射した光ビームの光軸を補正する回折光学素子と、
前記回折光学素子に密着した状態で配置され、印加される電圧に応じて屈折率を変化させる屈折率可変部材と、
前記発光手段から射出される光ビームに応じて、前記屈折率可変部材に対する電圧印加状態を変化させて前記屈折率可変部材の屈折率を調節する屈折率調整手段と、を有することを特徴とする光ピックアップ装置。 - 前記屈折率調整手段は、前記回折光学素子における光ビームの回折効率を上げるようにして、前記屈折率可変部材に対する電圧印加状態を変化させて当該屈折率可変部材の屈折率を調節することを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。
- 前記回折光学素子は、バイナリー型の回折光学素子であることを特徴とする請求項1または2に記載の光ピックアップ装置。
- 前記発光手段は、3以上の光源を含み、
前記屈折率調整手段は、前記発光手段から射出される光ビームに応じて、前記屈折率可変部材に対する電圧印加状態を変化させて前記屈折率可変部材の屈折率を調節することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の光ピックアップ装置。 - 前記発光手段から射出可能な光ビームの各々は、異なる色のスペクトル範囲に属することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
- 前記光情報検知手段に照射される光ビームの強度を検出する光ビーム強度検出手段、を更に備え、
前記屈折率調整手段は、前記光ビーム強度検出手段の検出結果を考慮して、前記屈折率可変部材に対する電圧印加状態を調節することを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
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JP2004088740A JP3970254B2 (ja) | 2004-03-25 | 2004-03-25 | 光ピックアップ装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006117724A1 (en) * | 2005-05-03 | 2006-11-09 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Multi-radiation beam optical scanning device |
JP2009245473A (ja) * | 2008-03-28 | 2009-10-22 | Citizen Holdings Co Ltd | 液晶光学素子及び光ピックアップ装置 |
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2004
- 2004-03-25 JP JP2004088740A patent/JP3970254B2/ja not_active Expired - Fee Related
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