JP2005241329A - 検査方法、及び検査装置 - Google Patents

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009236652A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Hitachi Communication Technologies Ltd 検査評価システムおよび検査評価方法
WO2012046310A1 (ja) * 2010-10-06 2012-04-12 オリンパス株式会社 内視鏡装置
WO2012046321A1 (ja) * 2010-10-07 2012-04-12 オリンパス株式会社 内視鏡装置
CN111581683A (zh) * 2020-04-27 2020-08-25 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板信息提取方法、装置及电子设备
KR102262930B1 (ko) * 2020-12-01 2021-06-09 주식회사 딥노이드 상대 좌표 추출 장치 및 방법
JP2024061334A (ja) * 2022-10-21 2024-05-07 アンリツ株式会社 重量測定装置及び重量選別装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01277239A (ja) * 1988-04-28 1989-11-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd ２値画像の記録方法およびその装置
JPH0361839A (ja) * 1989-07-31 1991-03-18 Ibiden Co Ltd プリント配線基板の検査装置
JPH04307313A (ja) * 1991-04-03 1992-10-29 Fujitsu Ltd プリント板ユニットの検査支援システム
JPH08219996A (ja) * 1995-02-16 1996-08-30 Nippondenso Co Ltd 物品検査装置
JPH09184715A (ja) * 1995-12-28 1997-07-15 Hitachi Ltd パターン形状検査装置
JPH11312242A (ja) * 1998-04-28 1999-11-09 Nippon Avionics Co Ltd 検査状況表示方法
JP2001304836A (ja) * 1992-12-01 2001-10-31 Hitachi Ltd 半導体パッケージ外観検査装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01277239A (ja) * 1988-04-28 1989-11-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd ２値画像の記録方法およびその装置
JPH0361839A (ja) * 1989-07-31 1991-03-18 Ibiden Co Ltd プリント配線基板の検査装置
JPH04307313A (ja) * 1991-04-03 1992-10-29 Fujitsu Ltd プリント板ユニットの検査支援システム
JP2001304836A (ja) * 1992-12-01 2001-10-31 Hitachi Ltd 半導体パッケージ外観検査装置
JPH08219996A (ja) * 1995-02-16 1996-08-30 Nippondenso Co Ltd 物品検査装置
JPH09184715A (ja) * 1995-12-28 1997-07-15 Hitachi Ltd パターン形状検査装置
JPH11312242A (ja) * 1998-04-28 1999-11-09 Nippon Avionics Co Ltd 検査状況表示方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009236652A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Hitachi Communication Technologies Ltd 検査評価システムおよび検査評価方法
WO2012046310A1 (ja) * 2010-10-06 2012-04-12 オリンパス株式会社 内視鏡装置
WO2012046321A1 (ja) * 2010-10-07 2012-04-12 オリンパス株式会社 内視鏡装置
CN111581683A (zh) * 2020-04-27 2020-08-25 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板信息提取方法、装置及电子设备
US11880910B2 (en) 2020-04-27 2024-01-23 Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Method for extracting information from a display panel, device, and electronic device
KR102262930B1 (ko) * 2020-12-01 2021-06-09 주식회사 딥노이드 상대 좌표 추출 장치 및 방법
JP2024061334A (ja) * 2022-10-21 2024-05-07 アンリツ株式会社 重量測定装置及び重量選別装置
JP7774542B2 (ja) 2022-10-21 2025-11-21 アンリツ株式会社 重量測定装置及び重量選別装置

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