JP2005222980A - 真空処理装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】パーティクルの発生要因を排除することで半導体製品の品質低下を防止し、安定した品質の半導体製品を提供する。
【解決手段】真空処理室1と、真空処理室1の開口部10に設けられた真空処理室1内を観察するためのビューポート8とを備える。このビューポート8は透明の第1のガラス板9及び第2のガラス板4から構成され、第1のガラス板9は真空処理室1の外側に設置され、第2のガラス板4は第1のガラス板9と開口部10との間に設置されている。この第2のガラス板4の表面の一部分が真空処理室1内部の雰囲気に暴露しており、第2のガラス板4はスライドして雰囲気に暴露する表面を移動させることができる。また、第2のガラス板4のスライド時に真空処理室1の真空度を維持した状態で行うことができる。
【選択図】図1
【解決手段】真空処理室1と、真空処理室1の開口部10に設けられた真空処理室1内を観察するためのビューポート8とを備える。このビューポート8は透明の第1のガラス板9及び第2のガラス板4から構成され、第1のガラス板9は真空処理室1の外側に設置され、第2のガラス板4は第1のガラス板9と開口部10との間に設置されている。この第2のガラス板4の表面の一部分が真空処理室1内部の雰囲気に暴露しており、第2のガラス板4はスライドして雰囲気に暴露する表面を移動させることができる。また、第2のガラス板4のスライド時に真空処理室1の真空度を維持した状態で行うことができる。
【選択図】図1
Description
本発明は、半導体製造における真空処理装置に関するものである。
半導体基板処理を行う真空処理装置において、真空処理室内の状態を確認するために、真空処理室の壁面にビューポートが設けられている。エッチング処理及び、成膜処理を行なう装置の場合、反応生成物が、ビューポートのガラス窓に付着する。エッチング装置においては、終点検出時に異常が発生する。また、成膜装置においては、成膜処理状態の異常を確認することが出来なくなる。これまでの真空処理室の壁面に設けられたビューポートのガラス窓に付着した反応生成物による不具合の対応策としては、ガラス窓の真空処理室内側に開口部を有する円形シャッター板を設けていた。これにより、開口部裏面に設置されたガラス窓表面に反応生成物が付着し、真空処理室内の確認が出来なくなった際、円形シャッター板が円周方向に回転し、清浄なガラス窓表面を開口部に露出させる方法があった(例えば特許文献1参照)。
特開2002−118063号公報
しかしながら、従来の真空処理室の壁面に設けられた、ビューポートのガラス窓に付着した反応生成物による不具合の対応策には以下の課題がある。エッチング処理及び成膜処理により発生した反応生成物が、ビューポートのガラス窓表面及び円形シャッター板表面に付着する。ビューポートのガラス窓表面に付着した反応生成物により、真空処理室内の確認が出来なくなった際、円形シャッター板を円周方向に回転させて清浄なガラス窓の表面を得る。このとき、円形シャッター板表面に付着した、反応生成物の堆積物が剥れることにより、真空処理室内にパーティクルが発生する。また、円形シャッター板が回転動作をすることから真空処理室内を確認するためのガラス窓の開口位置が変化する。このために、ビューポートを介して、エッチング処理等の終点検出を行なうプロセスでは、確認位置が変化するため、検出精度の信頼性を保証出来ない。本発明は、上記課題を解決するために、真空処理室内と、ガラス窓との間に駆動するシャッター板ではなく、任意の位置にスライドし、常に清浄なガラス窓表面を露出させる、第二のガラス窓を配置させる。これにより、駆動部分に付着した反応生成物の堆積物が剥れることによる真空処理室内でのパーティクル発生を防止し、半導体製品の安定した品質を提供する。
前記従来の課題を解決するため、本発明の真空処理装置は、真空処理室と、真空処理室の開口部に設けられた真空処理室内を観察するためのビューポートとを備え、ビューポートは透明の第1のガラス板及び第2のガラス板から構成され、第1のガラス板は真空処理室の外側に設置され、第2のガラス板は第1のガラス板と開口部との間に設置され、第2のガラス板の表面の一部分が真空処理室内部の雰囲気に暴露しており、第2のガラス板はスライドして雰囲気に暴露する表面を移動させることができるものである。
また、第2のガラス板のスライド時に真空処理室の真空度を維持した状態で行うことを特徴とするものである。
以上のように、本発明の半導体基板処理を行う真空処理装置のビューポートによれば、真空処理室内と、ガラス窓との間にシャッター板ではなく、任意の位置にスライドし、常に清浄なガラス窓表面を露出させる、第二のガラス窓を配置させる。そして、シャッター板の表面に付着した反応生成物の堆積物がシャッター板の駆動時に剥れ、パーティクル発生となる要因となることを防止した。これにより、突発的なパーティクル発生による、半導体製品の品質低下を防止することで安定した品質の半導体製品を提供することが可能となる。
以下、本発明の実施の形態を、図1を参照しながら説明する。
図1は、本発明の実施の形態における真空処理装置のビューポートを示す概略図である。図1(a)は正面図、図1(b)は断面図、図1(c)は第二のガラス窓スライド時における正面図である。
図1(a)及び図1(b)に示すように、真空処理室1内の内壁に、真空処理室1内部の状態を観察するための開口部10が設けられ、前記開口部10面には、第二のガラス窓4を収納する第二のガラス窓収納部2が固定されている。第二のガラス窓収納部2には、真空処理室1に設けられた開口部10と同じ形状の開口部10が水平に施され、真空処理室1と第二のガラス窓収納部2の固定部と反対側に第一のガラス窓9を収納するビューポート8が固定されている。この第一のガラス窓9からは、第二のガラス窓4を介して、真空処理室1内を確認することが出来る。また、第二のガラス窓収納部2の内部下面には、スライドレール5が配置されており、スライドレール5上に設置された第二のガラス窓4は、駆動伝達部6と駆動軸7によって、任意の位置に移動する(図1(c))。
真空処理室1内で基板15を成膜及びエッチング処理した際、反応生成物が真空処理室1内の内壁に付着する。真空処理室1内に設置されている第二のガラス窓4の真空処理室1側表面にも同様に反応生成物が付着する。第一のガラス窓9及び反応生成物が堆積した第二のガラス窓4を介して、第一のガラス窓9の外側に設置した反射型センサー11が真空処理室1の内部を、常時監視している。第二のガラス窓4が清浄な状態では、反射型センサー11は機能しないため、通信ケーブル14を介して、センサーアンプ12にエラー信号を送信している。第二のガラス窓4の表面に反応生成物が堆積されると、反射型センサー11が機能し、通信ケーブル14を介して、センサーアンプ12に正常動作信号を送信する。その後、センサーアンプ12は、正常動作信号を通信ケーブル14を介し、装置コントローラー13に送信する。信号を受信した装置コントローラー13は、駆動伝達部6及び駆動軸7を作動させる指示を出すことにより、スライドレール5上に配置された第二のガラス窓4を反応生成物が付着していない清浄な面を開口部に位置するまでスライドさせる。同様の動作を、真空処理室1内のメンテナンス実施まで繰り返す。真空処理室1のメンテナンスに併せて、第二のガラス窓収納部2の上部に設置された第二のガラス窓収納部上蓋3を開け、第二のガラス窓収納部2内の第二のガラス窓4を交換する。
なお、実施の形態で、第二のガラス窓4を横にスライドする方式で説明したが、上下に動作する方式においても同様の効果が得られることはいうまでもない。
なお、実施の形態で、反射型センサー11を用いて説明したが、透過型センサーを用いても同様の効果が得られることはいうまでもない。
なお、実施の形態で、第一のガラス窓9と、第二のガラス窓4が一箇所の構成で説明したが、一つの真空処理室に複数のビューポートを有する設備においても同様の効果が得られることはいうまでもない。
なお、実施の形態で、成膜及び、エッチング処理を用いて説明したが、ビューポートを使用して、真空処理室1内の状態を確認する全ての装置において、同様の効果が得られることはいうまでもない。
本発明の半導体基板処理を行う真空処理装置のビューポートは、真空処理室内と、ガラス窓との間に駆動するシャッター板を設置することなく、任意の位置にスライドし、常に清浄なガラス窓表面を露出させる、第二のガラス窓を有することで、駆動部分に付着した反応生成物の剥れによる真空処理室内のパーティクル発生を防止する方法として有用である。
1 真空処理室
2 第二のガラス窓収納部
3 第二のガラス窓収納部上蓋
4 第二のガラス窓
5 スライドレール
6 駆動伝達部
7 駆動軸
8 ビューポート
9 第一のガラス窓
10 開口部
11 反射型センサー
12 センサーアンプ
13 装置コントローラー
14 通信ケーブル
15 基板
2 第二のガラス窓収納部
3 第二のガラス窓収納部上蓋
4 第二のガラス窓
5 スライドレール
6 駆動伝達部
7 駆動軸
8 ビューポート
9 第一のガラス窓
10 開口部
11 反射型センサー
12 センサーアンプ
13 装置コントローラー
14 通信ケーブル
15 基板
Claims (2)
- 真空処理室と、
前記真空処理室の開口部に設けられた前記真空処理室内を観察するためのビューポートとを備え、
前記ビューポートは透明の第1のガラス板及び第2のガラス板から構成され、
前記第1のガラス板は前記真空処理室の外側に設置され、
前記第2のガラス板は前記第1のガラス板と前記開口部との間に設置され、
前記第2のガラス板の表面の一部分が前記真空処理室内部の雰囲気に暴露しており、
前記第2のガラス板はスライドして前記雰囲気に暴露する表面を移動させることができることを特徴とする真空処理装置。 - 前記第2のガラス板のスライド時に前記真空処理室の真空度を維持できることを特徴とする請求項1記載の真空処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004026427A JP2005222980A (ja) | 2004-02-03 | 2004-02-03 | 真空処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004026427A JP2005222980A (ja) | 2004-02-03 | 2004-02-03 | 真空処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005222980A true JP2005222980A (ja) | 2005-08-18 |
Family
ID=34998409
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004026427A Pending JP2005222980A (ja) | 2004-02-03 | 2004-02-03 | 真空処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005222980A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102012107497A1 (de) * | 2012-08-16 | 2014-02-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Beobachtungseinrichtung für eine Vakuumvorrichtung |
DE102013100443A1 (de) * | 2012-08-14 | 2014-05-15 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Schutzfenstervorrichtung für eine Beschichtungsanlage |
CN109882427A (zh) * | 2017-12-06 | 2019-06-14 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 分子泵摆阀组件安装装置 |
-
2004
- 2004-02-03 JP JP2004026427A patent/JP2005222980A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE102013100443A1 (de) * | 2012-08-14 | 2014-05-15 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Schutzfenstervorrichtung für eine Beschichtungsanlage |
DE102012107497A1 (de) * | 2012-08-16 | 2014-02-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Beobachtungseinrichtung für eine Vakuumvorrichtung |
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