JP2005221420A - 漏洩検知装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】漏洩検知装置は、パルスレーザ光を集光し検査対象物表面に照射する集光照射手段1と、照射された検査対象物に含まれる原子から放出される蛍光を集光する蛍光集光手段2と、集光された蛍光の波長およびその強度から検査対象物に含有した元素を定量する蛍光分光測定手段3と、を有している。
検査対象物は内部に液体を密閉可能であり、パルスレーザ光をその検査対象物表面へ照射し、その液体の漏れの有無を検知する。
【選択図】 図1
Description
この発明は以上の点に鑑みなされたもので、その目的は、漏洩検知精度の優れた漏洩検知装置を提供することにある。
図1に示すように、漏洩検知装置は、集光照射手段1と、蛍光集光手段2と、蛍光分光測定手段3と、を有している。集光照射手段1は、発振器としてのEd:YAGレーザ発振器10、このYAGレーザ発振器から出力されるパルスレーザ光を検査対象物表面まで伝送するレーザ伝送手段20、およびその検査対象物表面に照射されるパルスレーザ光の集光点を走査する走査手段としてのスライダ30を有している。
図1および図2に示すように、リチウム2次電池100が所定の位置にセットした後、集光照射手段1のYAGレーザ発振器10によりパルスレーザ光を出力する。出力されたパルスレーザ光は、各レーザ伝送手段20により分岐し、そのレーザ伝送光ファイバ23により、リチウム2次電池100表面まで伝送される。
上記したことから、リチウム2次電池に生じるリチウム電解液の漏洩を、安価で効率良く、かつ、高感度、高精度に行なうことができる。
図3に示すように、集光径φ0.5mmのパルスレーザ光を照射し、そのパルスレーザ光の照射エネルギが20mJ未満では蛍光強度の測定感度が低いことがわかる。上記したことはバックグランド強度が高いためである。また、パルスレーザ光の照射エネルギが50mJを超えた場合、リチウム2次電池100を構成するアルミニウムからなる容器101および蓋102に大きな損傷を与えることは明らかである。上記したことから、集光されたパルスレーザ光の照射エネルギは、蛍光強度の測定感度、バックグランド強度、およびリチウム2次電池100の損傷から、20mJないし50mJが選定される。
図4に示すように、パルスレーザ光の集光径を小さくしてリチウム2次電池100の溶接線Aに沿った領域の多数の箇所に照射し、これら多数の箇所から放出される蛍光を測定する場合、溶接線から幅方向への無駄な照射エネルギを削減できることがわかる。
パルスレーザ光の集光径Dは、漏洩検知に必要な検査長L、YAGレーザ発振器の繰り返し周波数Q、検知判定時間S、および分岐数(集光本数)nから次に示す関係式(1)により示すことができる。
L=Q×S×D×n −−−−−−(1)
例えば、漏洩検知に必要な検査長Lを40mm、周波数Qを10Hz、検知判定時間Sを1secとした場合、分岐数nは10(台)、集光径Dはφ0.4mmとなり、照射エネルギは12.8mJ必要となる。集光径Dを小さくすると分岐数nまたは周波数Qを大きくする必要があり、高価になることがわかる。
この図に示すように、例えば、集光径を1/2のφ0.2mmとすると分岐数nか周波数Qを2倍にする必要があり、また分岐数のみを増加させると20(台)となる。集光径Dをφ0.6mmと1.5倍にすると、分岐数nを1/1.5の7(台)に削減できるが、必要な照射エネルギは約2.25倍の29mJ必要となり、総照射エネルギは193mJと約1.5倍必要となる。ここで、集光径Dをφ0.5mmとすると、分岐数nは8、照射エネルギは約20mJ、総照射エネルギは160mJと約1.25倍必要となる。
P=E×D2×π/4×n −−−−−−(2)
必要な照射エネルギ密度Eを15J/cm2、集光径Dを0.4mm、分岐数nを10(台)とすると、総照射エネルギPは約190mJとなる。蛍光の強度を大きくするために照射エネルギ密度Eを大きくする場合、総照射エネルギPを大きくする必要が生じるため、高価になってしまう。上記したことからも、必要な照射エネルギ密度E等により、最適なリチウム電解液の漏洩検知装置のシステムが選定されることがわかる。
図6に示すように、パルスレーザ光を同一箇所に照射した場合、リチウムの蛍光強度が低下することが明らかになった。すなわち、この蛍光強度の低下は、漏洩したリチウム電解液の量が少ないため、パルスレーザ光の照射を多く行なうと、蒸発や、飛散によりリチウム電解液が無くなるためである。上記したことから、パルスレーザ光は、同一箇所に10回以内照射することが重要である。
Claims (13)
- パルスレーザ光を集光し検査対象物表面に照射する集光照射手段と、前記照射された検査対象物に含まれる原子から放出される蛍光を集光する蛍光集光手段と、前記集光された蛍光の波長およびその強度から前記検査対象物に含有した元素を定量する蛍光分光測定手段と、を有し、
前記検査対象物は内部に液体を密閉可能であり、前記パルスレーザ光をその検査対象物表面へ照射し、その液体の漏れの有無を検知することを特徴とする漏洩検知装置。 - 前記パルスレーザ光を前記検査対象物表面の複数箇所に集光照射することを特徴とする請求項1に記載の漏洩検知装置。
- 前記集光して照射されるパルスレーザ光の集光径は0.2mm以上であることを特徴とする請求項1に記載の漏洩検知装置。
- 前記集光して照射されるパルスレーザ光の集光径は0.8mm以下であることを特徴とする請求項3の漏洩検知装置。
- 前記集光照射手段は分配光学系を有し、前記集光して照射されるパルスレーザ光は、前記分配光学系により分岐して複数箇所に照射されることを特徴とする請求項1に記載の漏洩検知装置。
- 前記集光して照射されるパルスレーザ光は、前記検査対象物表面を時間的に走査することを特徴とする請求項1に記載の漏洩検知装置。
- 前記集光して照射されるパルスレーザ光の照射エネルギは、20mJないし50mJであることを特徴とする請求項1に記載の漏洩検知装置。
- 前記集光して照射されるパルスレーザ光のエネルギ密度は、5J/cm2ないし25J/cm2であることを特徴とする請求項1に記載の漏洩検知装置。
- 前記集光して照射されるパルスレーザ光のパワー強度は、0.83GW/cm2ないし4.2GW/cm2であることを特徴とする請求項1に記載の漏洩検知装置。
- 前記検査対象物表面に溶接箇所を有し、前記集光して照射されるパルスレーザ光は、前記溶接箇所から2mmの範囲内に照射されることを特徴とする請求項1に記載の漏洩検知装置。
- 前記集光照射手段は複数のレーザ伝送光ファイバを有し、
前記パルスレーザ光は分岐して複数箇所に照射されるとともに、各パルスレーザ光は、前記レーザ伝送光ファイバにより前記検査対象物表面まで伝送されることを特徴とする請求項1に記載の漏洩検知装置。 - 前記パルスレーザ光は分岐して複数箇所に集光照射され、
前記分岐した各パルスレーザ光は、複数箇所に集光して照射されるとともに、これらパルスレーザ光のパルス繰り返し周波数分を走査することを特徴とする請求項1に記載の漏洩検知装置。 - 前記集光して照射されるパルスレーザ光は、同一箇所に10回以内照射されることを特徴とする請求項1の漏洩検知装置
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