JP2005217427A - 発光半導体素子 - Google Patents

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Abstract

【課題】動作時にコヒーレント放射を放出し、特別なコストをかけずにコヒーレント放射の主放射方向とは異なる観察方向から動作状態を検出する。
【解決手段】第1活性領域と該第1活性領域に対して垂直方向に後置された第2活性領域とを備えた半導体を有する発光半導体素子であって、前記第1活性領域は第1の波長λの放射を形成するために設けられているものであり、前記第2活性領域は第2の波長λの放射を形成するために設けられているものである形式のものにおいて、前記第1の波長λの放射はコヒーレントであり、前記第2の波長λの放射は非コヒーレントであるようにする。
【選択図】図1

Description

本発明は、第1活性領域と該第1活性領域に対して垂直方向に後置された第2活性領域とを備え、第1活性領域は第1の波長λの放射を形成するために設けられているものであり、第2活性領域は第2の波長λの放射を形成するために設けられているものである形式の発光半導体素子に関する。
この種の発光半導体素子は、例えば特許文献1の場合のように、2つ又はそれより多くの上下に重ねて配置されたエッジエミッションレーザとして実施することができ、動作時の各活性領域は波長λないし波長λのコヒーレント放射を発する。ある一定の波長のコヒーレント放射の放射束は実質的に主放射方向に沿ってしか放射されないので、波長λないし波長λの放射のそれぞれの主放射方向とは異なる方向から発光半導体素子を見る観察者はしばしば、半導体素子が観察時点に放射を発しているか否かを決定できない、又は決定するのが困難なことがありうる。このことはとりわけ波長λ及びλの一方が不可視スペクトル領域内にある場合に当てはまる。
さらに、特許文献2からは、LED構造内に配置された非コヒーレント放射を発する上下に重ねられた複数の活性領域が公知である。ただし、レーザを用いて形成されるような高い強度を必要とする用途には、この種の半導体素子は適合しない、又は不十分にしか適合しない。たしかに、主放射方向を含む比較的大きな立体角領域内では、LEDチップにより形成される非コヒーレント放射は観察者により検出されうる。この立体角領域は半導体素子の主放射方向を入れて例えば60°又はそれより大きな角度を囲うことができる。
DE 100 576 98 EP 0 486 052
それゆえ本発明の課題は、動作時にコヒーレント放射を放出し、特別なコストをかけずにコヒーレント放射の主放射方向とは異なる観察方向からコヒーレント放射の動作状態を検出することのできる冒頭で述べた形式の発光半導体素子を提供することである。
上記課題は、第1活性領域と該第1活性領域に対して垂直方向に後置された第2活性領域とを備えた半導体を有する発光半導体素子であって、前記第1活性領域は第1の波長λの放射を形成するために設けられているものであり、前記第2活性領域は第2の波長λの放射を形成するために設けられているものである形式のものにおいて、前記第1の波長λの放射はコヒーレントであり、前記第2の波長λの放射は非コヒーレントであるようにすることにより解決される。
本発明の枠内では、レーザ放射は間違いなくコヒーレント放射と見なされ、レーザ放射とは異なる半導体によって形成可能な放射は非コヒーレント放射と見なされることに注意されたい。
このことの利点は、波長λの非コヒーレント放射が、波長λのコヒーレント放射に比べて通常はより大きな立体角領域において、また主放射方向から離れて、簡単に観察可能であるということである。非コヒーレント放射がその動作状態−半導体素子が非コヒーレント放射を発しているか否か−に関してコヒーレント放射の動作状態に結合している、又は結合させることができるならば、非コヒーレント放射はコヒーレント放射の動作状態を示すものとして利用することができる。コヒーレント放射を主放射方向において直接観察することは、例えば高い強度のゆえに、観察する人間に対して又は光路内に配置された測定器に対して有害な作用を持ちうるが、上記により有利には回避することができる。さらに、光路内で観察者又は測定器が邪魔になることも防ぐことができる。
非コヒーレント放射及びコヒーレント放射の動作状態は、本発明の枠内では、そのつどの動作状態においてコヒーレント放射及び/又は非コヒーレント放射を放出することのできる半導体素子の相応する動作状態に関係している。これに関して、コヒーレント放射の動作状態と非コヒーレント放射の動作状態は互いに独立であってよい。
第1活性領域及び第2活性領域は有利には半導体内にモノリシックに集積して形成される。それゆえこの半導体は、例えば連続エピタキシャル法のような連続的プロセスによって有利には共通の成長基板上に形成することができる。これは、この種の素子の製造を簡単に行えるという利点を有している。第2活性領域はプロセスの1つのステップにおいて第1活性領域とともに形成され、これにより、第2活性領域を第1活性領域の上に配置する後続のコストのかかる実装ステップを回避することができる。第2活性領域は本発明においては後から第1活性領域の上に配置されてはならない。というのも、これはすでに半導体の製造途中で行われうるからである。
本発明の第1の有利な実施形態では、第1活性領域は、コヒーレント放射を形成する光共振器を包含した半導体構造の中に形成されている。この種の半導体構造は、例えば、エッジエミッションレーザ又はVCSEL(垂直キャビティ表面放射レーザ)又はVECSEL(垂直外部キャビティ表面放射レーザ)のような垂直の放射方向を有する半導体素子に合わせて形成することができる。前記素子は、誘導放出を介して、高い強度を有するコヒーレント放射を形成することができる。
第2活性領域は、周知の方法で容易に発生させることのできる自然放出から非コヒーレント放射を形成するために、有利にはLED構造内に形成されている。LED構造と上述のような半導体構造とを備えた半導体素子の製造コストは、例えば半導体内にLED構造をモノリシックに集積させることなどによって有利には低く抑えることができる。その際、LED構造は半導体構造上にエピタキシャル成長させる。
半導体構造はさらに有利には、InGaAl1−x−yP、InGaAl1−x−yN、又はInGaAl1−x−yAsを含有した少なくとも1つのIII−V族半導体材料を含んでいる。ここで、0≦x≦1、0≦y≦1、及び、x+y≦1である。またLED構造もこれらの材料のうちの1つを含んでいてよい。
本発明の第2の有利な実施形態では、第2活性領域は、第2活性領域が波長λの放射の光路内に配置されるように第1活性領域の上に配置されている。波長λの放射が第2活性領域において吸収されるという不都合を防ぐために、λは特に有利にはλにより大きい。これは各活性領域を適切に形成することにより達成することができる。
波長λは有利には可視スペクトル領域内にある。これは例えばコヒーレント放射の動作状態を視覚化するには有利でありうる。さらに、可視の非コヒーレント放射はコヒーレント放射の光路ないし主放射方向の事前調整に役立てることができる。とりわけ、波長λが不可視スペクトル領域内にある場合に、コヒーレント放射の主放射方向の事前調整が軽減される。コヒーレント放射の視覚化及び/又は事前調整は、有利には、非コヒーレント放射と人間の目で行うことができるので、事前調整のために高価な放射検出用の装置を使用しなくてもよい。
このために、第2活性領域は有利にはコヒーレント放射の光路内に配置され、特に有利には、コヒーレント放射の主放射方向を含んだ立体角領域内の非コヒーレント放射が比較的高い又は最大の強度を有し、それにより、コヒーレント放射の主放射方向の事前調整が大幅に軽減される。これに関して、有利には、両方の活性領域はすでに発光半導体素子の製造途中に適切に形成することができる。第1活性領域と第2活性領域を含んだ半導体は、有利にはモノリシックに集積され、その際、第2活性領域は有利には第1活性領域上にエピタキシャル成長させられる。製造中に、この非コヒーレント放射がコヒーレント放射の主放射方向の領域内で高い又は最大の強度を有するように、第2活性領域内で形成可能な放射の放射特性に影響を与えることもできる。
本発明の第3の有利な実施形態では、第1活性領域と第2活性領域とが共通して電気的に制御可能であるように形成されているので、コヒーレント放射の形成は非コヒーレント放射の形成に結合される。これは、コヒーレント放射の動作状態を非コヒーレント放射の動作状態により一意的に決定することができる、又はこれらの動作状態が互いに一致するという利点を有している。
この結合は、例えば、第1活性領域を第2活性領域に電気的に接続する接続層によって達成することができ、これにより素子の両活性領域を直列に接続することができる。接続層は有利にはトンネル接合を包含している。このトンネル接合は特に有利には半導体素子の製造の過程で半導体内にモノリシックに集積される。この種のトンネル接合は有利には第1活性領域と第2活性領域との間に配置され、及び/又は、例えば高濃度ドーピングによって同じ伝導形(p形又n形)の隣接する層よりも高い電荷担体密度を有する少なくとも1つの層を含んでいる。さらに、半導体素子は有利には両活性領域に対して共通の電気端子を有しており、この共通の電気端子を用いて活性領域が共通に制御される。トンネル接合は前記特許文献1に記載されており、その開示内容の全体は明示的に本明細書の記載に取り入れられる。
本発明の第4の有利な実施形態では、第1活性領域と第2活性領域は別々に電気的に制御可能であるように形成されているので、コヒーレント放射と非コヒーレント放射の動作状態を互いに切り離すことができる。これにより、半導体素子は波長λ及び/又はλの放射を放出することができる。これは、例えば、測定に対する非コヒーレント放射の不利な影響などを防ぐために非コヒーレント放射を発光半導体素子の動作中に遮断しなければならない場合に有利である。さらに、この種の半導体素子は非コヒーレント放射だけが放出されるように制御することができ、コヒーレント放射をこの非コヒーレント放射に接続することができる。
これは例えば、有利には両活性領域の間に配置された及び/又は第1活性領域を第2活性領域から実質的に電気的に絶縁する接続層によって行うことができる。有利には、このために接続層内にバリア接合が形成される。このバリア接合は、素子の動作時に、例えば少なくとも遮断状態のpn接合と同じ程度に電流をバリアによって減少させる。有利には、バリア接合はすでに半導体の製造の際に形成され、バリア接合を半導体内に形成するために付加的な層を製造しなくてもよい。
さらに、この実施形態では、半導体素子は別々の制御を可能にするために有利には両活性領域のための別個の端子を有している。
本発明の別の特徴、利点、及び有効性は、以下の実施例の説明と以下の図とから明らかとなる。図中では、同種の素子及び同じ機能の素子には同じ参照記号が付されている。
図1には、本発明による発光半導体素子の第1の実施例の概略的な断面図が示されている。
半導体3は第1活性領域1と第2活性領域2を包含しており、第1活性領域は波長λのコヒーレント放射を形成し、第2活性領域は波長λの非コヒーレント放射を形成する。第1活性領域1はこの実施例ではVCSELに相当するレーザ構造4内に形成されている。有利にはn形伝導である第1のミラー5と有利にはp形伝導である第2のミラー6は第1活性領域内で形成された放射11のための光共振器7を形成している。なお、前記第1及び第2のミラーはそれぞれ例えばブラッグミラーとして形成されており、異なる屈折率を有する概略的に図示された半導体層の複数の対51,52ないし61,62を有している。第1のミラー5の反射率は、有利には、レーザ構造4からの放射の減結合ミラーとして使用される第2のミラー6の反射率よりも大きい。VCSELに関しては、共振器ミラーの典型的な反射率は98%を超えることがある。
第2活性領域はLED構造8内に配置されている。波長λは、第2活性領域2における波長λの放射の不利な吸収を防ぐために、有利には波長λよりも長い。特に有利には、λは可視スペクトル領域内ではなく、例えば赤外領域内にあり、波長λは特に有利には可視領域内に、例えば黄から赤のスペクトル領域内にある。
このような波長は例えば材料系InGaAl1−x−yP又はInGaAl1−x−yAsにおいて実現することができ、LED構造8及び/又はレーザ構造4は有利にはこの材料系に基づいている。ただし、0≦x≦1、0≦y≦1、及び、x+y≦1である。
LED構造8はレーザ構造4の上にエピタキシャル成長させてあり、レーザ構造4の方は、例えばn形伝導GaAsを含有した成長基板上にエピタキシャルに形成されている。したがって、半導体3はモノリシックに集積して形成されている。
コヒーレント放射の主放射方向は図1では矢印11により示されており、非コヒーレント放射の放射方向は矢印22により示されている。非コヒーレント放射はコヒーレント放射よりも大きな立体角領域内で放射され、したがってコヒーレント放射の主放射方向外の立体角領域内ではコヒーレント放射に比べて容易に検出可能である。とりわけ、図1から見て取れるように、非コヒーレント放射は横方向にも放出される。コヒーレント放射11の主放射方向の周りの領域では、非コヒーレント放射22は、コヒーレント放射11の主放射方向の事前調整を軽減するために、有利には高い強度を有している。これは特に有利にはすでにモノリシック集積半導体の製造過程において実現することできる。
レーザ構造4は第2のミラー6の側で有利にはトンネル接合を包含した接続層10を介してLED構造8と導電性接続されている。トンネル接合は有利には異なる伝導形の少なくとも2つの半導体層12,13を有している。この実施例では、第1活性領域1の側に、第1活性領域の側面に隣接する層よりも高い電荷担体密度(p)を有するp形伝導層12が配置されている。なお、第1活性領域の側面に隣接する層はここではp形伝導の第2のミラー5により示されている。第2活性領域2の側には、高濃度ドーピングによりLED構造8の側でこれに隣接するn形伝導層よりも高い電荷担体密度(n)を有するn形伝導層13が配置されている。なお、LED構造8の側でn形層13に隣接するn形伝導層はここでは例えばLED構造内に形成されたn形伝導の導波層14によって示されている。このようなトンネル接合は有利には半導体内にモノリシックに集積して形成されている。
LED構造8とレーザ構造4はトンネル接合10を介して導電性接続されている。第1活性領域と第2活性領域はnコンタクト15とpコンタクト16とを介して直列に接続されてドライブされる。活性領域1,2はコンタクト15,16を介して共通に制御可能であり、コヒーレント放射11と非コヒーレント放射22の動作状態は一致するので、素子は通常動作時に非コヒーレント放射もコヒーレント放射も放出する。非コヒーレント放射はコヒーレント放射の動作状態に結合しており、コヒーレント放射に対するコントロールとして使用することができる。これに関連して、特に有利には、波長λは赤スペクトル領域内にある。というのも、赤色光は特に人間である観察者に対してその高い信号作用で際だっており、それゆえに例えば赤外のコヒーレントなレーザ放射の存在を示すのに特に適しているからである。
それゆえ、可視放射を形成するLED構造は、例えば赤外レーザの不可視レーザ放射の動作状態に対するコントロールLEDとして使用することができる。その際、コントロールLEDもレーザも半導体又は半導体チップ内にモノリシックに集積することができる。半導体の製造中にLED構造の放射特性に影響を与えることもできる。コントロールLEDは従来の装置においても不可視レーザ放射の動作状態に結合させられる。ただし、このコントロールLEDはレーザとともに共通の半導体内に形成されているのではなく、レーザ構造の外部に配置されている。事前調整のためには、コストをかけてこのようなコントロールLEDの放射特性をレーザ放射の放射特性に合わせなければならない。しかし、本発明においては、有利にはすでに半導体の製造中にこれを行うことができる。
第1活性領域内での放射形成をできるだけ効果的にするために、レーザ構造4内に、有利には第2のミラー6の中に、第1活性領域内に放射形成のために用意される領域を画定する電流縮流層17が配置されている。電流縮流層17は例えばレーザ構造内の材料を意図的に酸化させることにより形成することができる。このために、例えば、図1に示されているような電流縮流層が形成されうるようにするため、電流縮流層が設けられるべき領域において、残りのレーザ構造と比べて酸化が容易になるように、レーザ構造内に例えばAlのような酸化し易い成分を増やしてもよい。電流縮流層は有利には残りのレーザ構造に比べて低い導電性を有しており、それゆえ放射形成は実質的に開口部の下方に位置する第1活性領域内の領域で行われる。特に、これにより、第1活性領域の横縁部領域内で形成される放射がより少なくなり、有利には第1活性領域内でのコヒーレント放射の形成が容易に又はより効率的になる。
pコンタクトは、活性領域により形成された放射がpコンタクトの材料に吸収されるのを防ぐための凹部を中央領域に有している。例えば、pコンタクトはnコンタクトと同様に金属、例えばAuを含有している。LED構造8のp形伝導導波層19上に配置された電流拡散層18はpコンタクト16から第2活性領域2に一様な電流が印加されるように配慮する。こうして、有利には放射形成の効率が特に第2活性領域において向上する。
この電流拡散層18は有利には放射を透過するように形成されている。特に有利には、電流拡散層は、例えばZnO、ITOなどのようなTCO材料(透明導電性酸化物)、又は同様の材料を含有している。TCO材料は、広い波長域にわたって放射透過性を有し、同時に特に横方向に高い導電率を有する点で優れている。例えば、ZnOは特に材料系InGaAl1−x−yPからなる半導体材料を含んだp形伝導性材料に対する電気的コンタクトに特に適しており、p形伝導性材料に対する有利にはオーム性の電気的コンタクトを形成することができる。
導波層14及び19は有利には、第2活性領域内で形成された放射22のうちで第1活性領域の方向に放射される割合ができるだけ小さくなるように、放射22を特に横方向にもガイドするよう形成されている。これにより、第1活性領域における波長λの非コヒーレント放射の吸収が有利には低減される。特に有利には、非コヒーレント放射は水平又は横方向に−実質的にレーザ構造4からのコヒーレントレーザ放射11の垂直の主放射方向に対して垂直に−増倍して放出され、それにより観察者が非コヒーレント放射を容易に検出しうる立体角領域が有利には拡大される。
LED構造をコヒーレント放射の主放射方向の事前調整に使用するのであれば、不必要に横方向の強度を犠牲して非コヒーレント放射の強度をコヒーレント放射の主放射方向に沿って弱めるために、導波層を使用しなくてもよい。
図2には、本発明による発光半導体素子の第2の実施例の概略的な断面図が示されている。
図2に示されている発光半導体素子は図1に示されている発光半導体素子とほぼ一致する。
半導体3は、VCSELに従ってn形又はp形伝導のミラー5及び6により形成された光共振器7で形成されたレーザ構造4を包含している。レーザ構造内には、波長λのコヒーレント放射11を垂直方向に形成することのできる第1活性領域1が形成されている。レーザ構造の上にあるLED構造8には、波長λの非コヒーレント放射22を形成することのできる第2活性領域2が配置されている。なお、非コヒーレント放射22はコヒーレント放射の主放射方向に比べて大きな立体角領域内で放射される。LED構造8によって包囲されたn形又はp形伝導の導波層14及び19は、非コヒーレント放射を増倍して横方向にガイドする。LED構造とレーザ構造とによって包囲された半導体3は、有利にはエピタキシャル成長によってモノリシックに集積して形成されている。まず、レーザ構造4を成長基板9上でエピタキシャル成長させる。その後、LED構造をレーザ構造上にエピタキシャル成長させることができる。
図1に示されている半導体素子とは違って、図2に示されている半導体素子は第1活性領域と第2活性領域とにコンタクトするために別々の端子を有している。第1活性領域1は第2のミラー6の上に配置されたpコンタクト35とnコンタクト15を介して電気的に接続可能であり、その一方で、第2活性領域2はpコンタクト16とnコンタクト36を介して電気的に接続可能である。
LED構造8は、バリア接合を包含した接続層10を介してレーザ構造4と接続されている。バリア接合は、この実施例では、p形伝導の第2のミラー6とn形伝導の導波層14との間のpn接合として実施されており、及び/又は、別の方法で半導体3内にモノリシックに集積することできる。バリア接合はコンタクト15及び16を介した両活性領域の共通のコンタクトに対して遮断するので、図1の場合のような共通のコンタクトは少なくとも著しく困難となり、第1活性領域と第2活性領域の別々の制御が可能になる。
第2活性領域は、この実施例では、第1活性領域よりも横方向の広がりが小さいので、有利には第2のミラー6ないし導波層14におけるコンタクト35及び36の形成が可能になる、又は容易になる。LED構造8とレーザ構造4のpコンタクト35との間には、有利には、短絡を予防する間隙が横方向に設けられている。LED構造8のnコンタクト36は、n形伝導の導波層14を有する突起の上に配置されており、導波層14は、有利には第2活性領域よりも大きいが第1活性領域よりは小さな横方向の広がりを有している。
半導体3のこのような構造化、特にLED構造8のこのような構造化は、例えばマスキング及びエッチングプロセスによって行うことができる。構造化は有利には半導体をモノリシックに集積して形成した後に実行することができる。
LED構造内の第2活性領域とレーザ構造内の第1活性領域は、この実施例では、別個にドライブすることができる。それゆえ、発光半導体素子は波長λ及び/又はλの放射を放出することができ、放射の形成は別個の端子を介して制御することができる。
図1及び2に示されている実施例から離れて、第1活性領域と第2活性領域を共通のnコンタクトと別個のpコンタクトとを介して制御することもできる。これは図2に示されたコンタクト構造においてnコンタクト36を使用しない場合に相当する。この場合、接続層は有利には図1のようにトンネル接合を介して活性領域を導電性接続する。このように形成された発光半導体素子は動作時にコヒーレント放射を放出し、このコヒーレント放射に非コヒーレント放射を接続することができる。この接続は第1活性領域と第2活性領域に対する別個のpコンタクトを介して行うことができる。p側でpコンタクト16を介してLED構造16にコンタクトすると、素子はコヒーレント放射も非コヒーレント放射も放出するが、p側でpコンタクト35を介してレーザ構造4にコンタクトした場合には、コヒーレント放射のみが形成される。
レーザ構造4の成長基板9は半導体素子又は半導体の製造の間に剥離させることができ、適切な支持体に置き換えることができること注意されたい。この支持体は、有利には、半導体内に生じる熱を誘導するための高い熱伝導性、及び/又は支持体を介して半導体に電気的にコンタクトするための高い導電性を有している。
本特許出願は2004年1月30日のドイツ国特許出願第10 2004 004 781.2号の優先権を主張する。上記ドイツ国特許出願の開示内容は再帰的に本出願に明示的に取り入れられる。
本発明は実施例に基づいた記述に限定されない。むしろ本発明は、各々の新たな特徴及び特に特許請求項内の特徴の各々の組合せを内容とする特徴の組合せを、これらの特徴又は組合せ自体が特許請求項又は実施例においては明示的に示されていない場合でも包含する。
本発明による発光半導体素子の第1の実施例の概略的な断面図を示す。
本発明による発光半導体素子の第2の実施例の概略的な断面図を示す。
符号の説明
1 第1活性領域
2 第2活性領域
3 半導体
4 レーザ構造
5 第1のミラー
6 第2のミラー
7 光共振器
8 LED構造
9 成長基板
10 接続層
11 コヒーレント放射
12 トンネル接合
13 トンネル接合
14 n形伝導導波層
15 nコンタクト
16 pコンタクト
17 電流縮流層
18 電流拡散層
19 p形伝導導波層
22 非コヒーレント放射
35 pコンタクト
36 nコンタクト
51,52 異なる屈折率を有する半導体層の対
61,62 異なる屈折率を有する半導体層の対

Claims (14)

  1. 第1活性領域(1)と該第1活性領域に対して垂直方向に後置された第2活性領域(2)とを備えた半導体(3)を有する発光半導体素子であって、前記第1活性領域は第1の波長λの放射を形成するために設けられているものであり、前記第2活性領域は第2の波長λの放射を形成するために設けられているものである形式のものにおいて、前記第1の波長λの放射はコヒーレントであり、前記第2の波長λの放射は非コヒーレントであることを特徴とする発光半導体素子。
  2. 前記第1活性領域と前記第2活性領域は前記半導体内にモノリシックに集積されている、請求項1記載の発光半導体素子。
  3. 前記第2活性領域は波長λの放射の光路内に配置されている、請求項1又は2記載の発光半導体素子。
  4. 波長λは波長λよりも長い、請求項1から3のいずれか1項記載の発光半導体素子。
  5. 波長λは不可視スペクトル領域内にある、請求項1から4のいずれか1項記載の発光半導体素子。
  6. 波長λは可視スペクトル領域内にある、請求項1から5のいずれか1項記載の発光半導体素子。
  7. 前記第1活性領域は、光共振器(7)を包含した半導体構造(4)内に形成されている、請求項1から6のいずれか1項記載の発光半導体素子。
  8. 前記半導体構造は垂直の放射方向を有する半導体素子、とりわけ垂直放射レーザに合わせて形成されている、請求項7記載の発光半導体素子。
  9. 前記第2活性領域はLED構造(8)内に形成されている、請求項1から8のいずれか1項記載の発光半導体素子。
  10. 前記LED構造は接続層(10)を介して前記半導体構造と接続されている、請求項9記載の発光半導体素子。
  11. 前記接続層は、前記LED構造と前記半導体構造とを導電性接続するトンネル接合部(12,13)を包含している、請求項10記載の発光半導体素子。
  12. 前記第1及び第2活性領域は共通して電気的に制御可能であるように形成されている、請求項1から11のいずれか1項記載の発光半導体素子。
  13. 前記接続層は、前記LED構造を前記半導体構造から電気的に絶縁するバリア接合を包含している、請求項10又は12記載の発光半導体素子。
  14. 前記第1及び第2活性領域は別々に電気的に制御可能であるように形成されている、請求項1から13のいずれか1項記載の発光半導体素子。
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