JP2005205433A - 留置針用かしめピンの穿孔装置および穿孔方法 - Google Patents

留置針用かしめピンの穿孔装置および穿孔方法 Download PDF

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Abstract

【課題】医療用留置針の外針をハブにかしめて固着するかしめピンを製造する穿孔工程において、長時間停止させずに稼働させることのできる生産性の高い留置針用かしめピンの穿孔装置および穿孔方法を提供することを目的とする。
【解決手段】かしめピン1を穿孔位置に固定する台2と、かしめピン1の先端を穿孔して貫通するポンチ4と、ポンチ先端部3をダイス穴部5を通過させたのち引上げることにより穿孔屑6を排出し屑上がりを防止するダイス7とを備え、ダイス7がウレタンゴムであり、ダイス穴部5の内径がポンチ4の外径より僅かに小さいことを特徴とする。穿孔方法は上記の穿孔装置を用いることを特徴とする。ダイス7のウレタンゴムは70℃程度の工作油で約3時間加熱し硬化させた。ダイス7はゴム硬度90±5のウレタンゴムである。ダイス7は金属製の基台10に固定される。
【選択図】図1

Description

この発明は、医療用の留置針の外針後端をハブの内部にかしめて固着するためのステンレス製かしめピンの製造において、かしめピンの中央に輸液用の孔をあけるための、留置針用かしめピンの穿孔装置および穿孔方法に関するものである。
留置針の外針の後端をハブの内部にて固定するためのかしめピンは、上方が円錐状に開き下端が細い管状に形成されており、その下端部の孔の内径は0.5mm以下である。このかしめピンの製造は、先ず、材料である0.1mm程度の非常に薄いステンレス板を絞り加工で漏斗状に形成し、次に、かしめピン穿孔装置で下端に孔をあける順序でおこなわれる。留置針に使用されるかしめピンの需要は年々伸びており、生産性の向上が求められている。ステンレス板を漏斗状に加工する工程には現在のところ特に問題はないが、穿孔工程には生産性を向上させる上で改善を必要とする問題点が残されていた。従来の穿孔工程における最大の課題は、長時間停止させずに稼働させ続けることのできる、生産性の高い穿孔装置および穿孔方法が無かったということである。(なお、特許文献1の穴抜き金型は、ポンチとダイスを用いる点は従来のかしめピン穿孔装置と同じであるが、ポンチ2は鉄板に穴抜きしてダイス1の中には入らずすぐに元に戻る構造で、微小な穿孔屑がダイス1から下には排出されず鉄板5やポンチ2に付着し放題であるため、かしめピンの穿孔装置としては使用することはできない。)
従来の穿孔装置は、ポンチ刃を形成した先端部25を有する金属製のポンチ21と、金属製のダイス22と、かしめピン23を載せて固定する台24とを備えており(図5参照。)、ダイス穴部26の内径は通過しやすいようにポンチ21外径よりやや大きく形成されていた。一例として、穿孔が0.5mmの場合、ポンチ21の外径は0.5mm、ダイス穴部26の内径は0.55mm程度であった。
従来の穿孔方法は、上記した穿孔装置を用い、先ず、台24の上に漏斗状のかしめピン23を固定した状態にし(図5参照。)、次に、ポンチ21を軸方向に前進させて先端部25でかしめピン23の下端を穿孔し(図6参照。)、次に、かしめピン23を穿孔したポンチ先端部25をダイス穴部26に挿入し反対側まで通過させ(図7参照。)、その際、穿孔屑27をダイス穴部26から排出し、次に、ポンチ21をスタート地点まで引き戻し(図8参照。)、その際、ポンチ21がダイス穴部26に引込む時にポンチ21に付着した穿孔屑27をダイス22の裏面で取除く、というものであった。しかし、ポンチ21とダイス22の金属同士の摩擦により、ダイス22が磨耗してダイス穴部26の内径が広がり、ポンチ21の外径が細くなり、ポンチ先端部25が損傷を起こし、ついには排出されるはずの穿孔屑27が排出されず、引上げたポンチ先端部25とともにダイス穴部26を素通りして上がってしまい、ポンチ21を引上げた穿孔済みのかしめピン23に付着したり、ポンチ21を押下げた穿孔時に穿孔屑27がかしめピン23に付着したり傷付けたりするようになり、そうなると装置を止めるまでの間に穿孔されたかしめピン23はすべて使い物にならず処分されてしまっていた。
特開2000−263150
上記した従来の留置針のかしめピン穿孔装置および穿孔方法には次のような問題点があった。第1に、穿孔作業を繰り返すと、ダイス22とポンチ21が激しく磨耗することである(図9、図10参照。)。磨耗の原因は、ダイス22とポンチ21が直接接触する金属同士の摩擦によるものである。磨耗が激しい理由は、ポンチ21とダイス穴部26が0.5mm程度の細さ小ささであるため、磨耗が速く進むものと考えられる。
第2に、かしめピン23を穿孔して発生した穿孔屑27が一旦はダイス穴部26に入るものの、ポンチ21に付着したまま引き上げられる屑上がりが起こる(図9、図10参照。)。穿孔屑27がポンチ21に付着して問題となる場所は、ポンチ21の側面と、ポンチ先端部25との境界付近である。ポンチ21の外径よりダイス穴部26の内径の方がもともと少し大きめであることがまず問題である。ポンチ21とダイス穴部26の隙間が磨耗で大きくなると、穿孔屑27が上にあがるのをまったく阻止できなくなる。穿孔屑27がポンチ21の側面に付着して屑上がりする原因の一つとして、ポンチ21を押下げて穿孔した時点では穿孔屑27はポンチ先端部25に集中しているが、ダイス穴部26を通過する際にダイス穴部26とポンチ21の隙間に穿孔屑27が入ってダイス穴部26とポンチ21の側面に付着することが考えられる。穿孔屑27の大きさは0.5mmに近いものから0.1mmに満たない微小なものまで様々である。ダイス22とポンチ21が磨耗してダイス穴部26とポンチ21の隙間が大きくなるにつれ、大きな穿孔屑27までもが引上げたポンチ先端部25とともにダイス穴部26を素通りして上がってくるようになる。
第3に、金属製ダイスとの摩擦や衝撃によってポンチ先端部25が傷ついて、穿孔に支障をきたす場合がある。これは必ずしも磨耗の度合いが進んだときだけに起こる現象ではなく、かえって磨耗が少ない時のほうが衝撃が強いため傷つきやすい。
第4に、引上げたポンチ21とともにダイス穴部26を素通りして上がってしまった穿孔屑27が穿孔したばかりのかしめピン23に付着してしまったり、穿孔屑27のついたポンチ21を押下げて穿孔する時に穿孔屑27がかしめピン23に付着したり穿孔屑27がかしめピン23に傷を付けることがある(図9、図10参照。)。かしめピン23は留置針で人体に輸液する際の薬液の流路に当たっており、わずかな穿孔屑27の付着も許されない。穿孔屑27が排出されずにダイス穴部26を素通りするようになった時点から、穿孔装置を止めるまでに穿孔されたかしめピン23はすべて不良品として処分される。その分、生産コストが高くなる。
第5に、上記した第1から第4の原因により、穿孔装置を頻繁に停止させて作業を中断しなければならないため、生産性を向上させることは非常に困難であった。穿孔装置は、磨耗したダイス22の交換作業、磨耗や破損によるポンチ21の交換作業、ダイス穴部26から上に出てしまった穿孔屑27の除去作業、等のたびに止められていた。穿孔装置を止めると、その前工程に置かれた絞り加工装置も停止せざるを得ず、その間かしめピンの全製造ラインが止められていた。従来の穿孔装置と穿孔方法によれば、これらの作業を頻繁におこなわなけらばならないため、大量のかしめピンを高速で生産することができなかった。
本発明は、上記した従来の問題点を解決するための留置針用かしめピンの穿孔装置および穿孔方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1記載のかしめピン穿孔装置は、ステンレス製の薄板を絞り加工して下端に細管を有する漏斗状に加工した未穿孔のかしめピンの先端に孔を開けるための装置であって、かしめピンを穿孔位置に固定する台と、台に固定されたかしめピンの中心軸に沿ってポンチ先端部を押下げ細管の先端を穿孔して貫通するポンチと、かしめピンを貫通したポンチ先端部をそのまま押下げてダイス穴部を通過させたのち引上げることにより穿孔屑を排出し屑上がりを防止するためのダイスとを備え、ダイスがウレタンゴムであり、ダイス穴部の内径がポンチの外径より僅かに小さいことを特徴とする。
また、請求項2記載のかしめピン穿孔装置は、前記請求項1記載のかしめピン穿孔装置において、ダイスが70℃程度の工作油で約3時間加熱することにより硬度を高めたウレタンゴムであることを特徴とする。
また、請求項3記載のかしめピン穿孔装置は、前記請求項1又は2記載のかしめピン穿孔装置において、ダイスがゴム硬度90±5のウレタンゴムであることを特徴とする。
また、請求項4記載のかしめピン穿孔装置は、前記請求項1、2又は3記載のかしめピン穿孔装置において、ダイスの外径より大きな外径を有し、下側にポンチの外径よりも大きく且つダイスの外径よりも小さな内径の空間部を有し、空間部と連続した上側にはダイスと同じ外径の嵌入溝を有した、金属製の基台の嵌入溝に、ダイスが装着固定され、ダイスのダイス穴部周辺部分はフリーな状態であることを特徴とする。
また、請求項5記載のかしめピン穿孔方法は、前記請求項1、2、3又は4に記載されたかしめピン穿孔装置を用い、ステンレス製の薄板を絞り加工して下端に細管を有する漏斗状に加工した未穿孔のかしめピンを台で穿孔位置に固定する工程と、台に固定されたかしめピンの中心軸に沿ってポンチ先端部を押下げ細管の先端を穿孔して貫通する工程と、かしめピンを貫通したポンチ先端部をそのまま押下げポンチでダイス穴部の内径を広げダイス穴部がポンチの側面に密着した状態で通過させ穿孔屑を下方から排出させる工程と、ポンチを引上げてダイス穴部がポンチの側面に密着した状態でポンチ側面に付着している穿孔屑を除去しポンチ先端部が抜ける瞬間にダイス穴部の内径が復元してポンチの側面とポンチ先端部との境界付近に付着している穿孔屑を除去する工程とを有することを特徴とする。
上記の留置針用かしめピンの穿孔装置および穿孔方法によれば、つぎのような効果が得られる。第1に、金属同士の摩擦がないのでダイスとポンチの磨耗を防止することができる。耐摩耗性に優れているウレタンゴムで形成されたダイスは、金属製のポンチがダイス穴部を通過しても磨耗しない。金属製のポンチは、ダイス穴部内を通過してもウレタンゴムとの摩擦なので磨耗しない。
第2に、ダイスとポンチが磨耗せず、ダイス穴部の内径がポンチの外径より僅かに小さいため、常に穿孔屑をダイスの下から排出して屑上がりを防止することができる。穿孔時に生じた穿孔屑はポンチ先端部に集中したまま、ダイス穴部を通過する際もダイス穴部とポンチが密着して隙間が無いためポンチ先端部に集中しており、そのまま下に排出することができる。ポンチを引上げる際にダイス穴部がポンチの側面に密着しているため、万が一ポンチの側面に付着した穿孔屑があっても拭い取って除去し屑上がりを防止することができる。また、ポンチがダイスから抜ける際にダイス穴部が元の内径に戻るため、ポンチの側面とポンチ先端部との境界付近に付着している穿孔屑までも拭い落として除去することができる。
第3に、ダイスがウレタンゴムなので、接触や摩擦による衝撃はほとんどなく、ポンチ先端部が破損することはない。
第4に、屑上がりがないので、穿孔屑がかしめピンに付着することも、かしめピンが穿孔屑で傷つくこともない。留置針の安全性を確保できる。屑上がりで不良品として処分されるかしめピンがなくなるので、その分の生産コストを低くすることができる。
第5に、ポンチとダイスの磨耗や屑上がりやポンチ先端部の損傷がなく、その分、非生産的な作業時間が減り、生産性が大幅に向上し、大量のかしめピンを高速で生産できるようになる。装置を長時間停止させずに稼働させることができる。それらは生産コストの削減につながる。
以下、添付図面に基づき本発明に係わる留置針用かしめピンの穿孔装置および穿孔方法について説明するが、本発明は以下の形態にのみ限定されるべきものではないことはいうまでもない。
かしめピンの穿孔装置について説明する。図中4は、ポンチ先端部3にポンチ刃を形成したポンチである。かしめピン穿孔は0.5mm以下であり、ここではポンチ4の外径を0.5mmとする。図中1は、厚さ0.1mm程度のステンレス製の薄板を絞り加工して形成されたかしめピンである。漏斗状に開いた上部の外径が約4mm、下の細管部分の外径が約0.7mm、内径が約0.5mmである。かしめピン1は、図1では穿孔する前の状態、図2ではポンチ4を押下げて穿孔した瞬間の状態、図4では穿孔後にポンチ4を引上げて穿孔が終了した状態である。図中2は、かしめピン1を穿孔位置に固定するための台である。かしめピン1の製造は、絞り加工と穿孔加工が連続しているので、台2は絞り加工で使用したものを継続して用いてもよい。台2は中央に竪孔を有するすり鉢状に形成され、かしめピン1の細管を竪孔に挿入した状態で固定する。図中10は基台であり、図中7は基台10に固定されているダイスである。基台10は金属製で、ダイス7の外径より大きな外径を有し、下側にポンチ4の外径よりも大きく且つダイス7の外径よりも小さな内径の空間部8を有し、空間部8と連続した上側にはダイス7と同じ外径の嵌入溝9を有している。ダイス7は、中央にポンチ4の外径より僅かに小さい内径のダイス穴部5を有したウレタンゴムである。ダイス7の硬度はゴム硬度90程度であり、70℃程度の工作油で約3時間加熱して硬度を高めたウレタンゴムである。ダイス7は、ダイス穴部5周辺部分はフリーな状態で、基台10の嵌入溝9に装着固定される。ダイス7自体は弾性を有するウレタンゴムであるが、金属製の基台10がダイス穴部5の周辺以外の部分のダイス7をしっかりと固定し、強度的に補強する役割も有している。ダイス穴部5の内径はポンチ4の外径より0.1mm小さく、0.4mmとする。ポンチ4と台2とかしめピン1とダイス7の中心軸は正確に一致している。穿孔装置は、ポンチ4を中心軸に沿って押下げ、穿孔位置に固定された未穿孔のかしめピン1の下端を貫通しダイス穴部5を通過し空間部8に達し、その後は元の位置まで引上げ、次に別の未穿孔のかしめピン1を穿孔位置に固定して、これを何度も繰り返す。ポンチ4を押下げてダイス7を通過するときダイス穴部5の内径は僅かに広げられ、ポンチ4を引上げてダイス7から離れるときダイス穴部5の内径は元に戻る。
上記した穿孔装置を用いたかしめピンの穿孔方法について説明する。先ず、ステンレス製の薄板を絞り加工して下端に細管を有する漏斗状に加工した未穿孔のかしめピン1を台2で穿孔位置に固定する。この時、ポンチ4とかしめピン1と台2とダイス穴部5の中心軸が一致している。次に、台2に固定されたかしめピン1の中心軸に沿ってポンチ先端部3を押下げ、ポンチ4を細管に挿入し、細管の先端を穿孔して貫通させる。穿孔した輸液用の孔の内径は0.5mmである。次に、かしめピン1を貫通したポンチ4をそのまま押下げて、ダイス穴部5の内径を広げてダイス穴部5に密着しながら通過し、ダイス7を突き抜けたポンチ4が穿孔屑6を下方に排出させる。ポンチ4とダイス穴部5に隙間ができないため、穿孔屑6はポンチ先端部3に集中したままダイス穴部5を通過して排出される。次に、ポンチ4を元の位置まで引上げる。これにより、万一ポンチ4の側面に穿孔屑6が付着した場合でも、ダイス穴部5がポンチ4の側面に密着しているので穿孔屑6を除去することができる。また、ポンチ4の側面とポンチ先端部3の境界付近に付着している穿孔屑6は、ポンチ先端部3が抜けると同時にダイス穴部5の内径が復元する時に除去される。以上を繰り返すことにより、連続的にかしめピン1の穿孔作業を行うことができる。この穿孔装置を用いた穿孔方法によれば、ダイス7の磨耗とポンチ4の破損や磨耗と屑上がりと穿孔屑6による不良製品がないため、長時間停止させずに稼働させることができ、かしめピン1を効率よく大量に生産することが可能となる。
本発明の穿孔装置で未穿孔のかしめピンを穿孔位置に固定した状態をあらわす説明図。 本発明の穿孔装置でかしめピンに穿孔した状態をあらわす説明図。 本発明の穿孔装置でポンチがダイスを通過した状態をあらわす説明図。 本発明の穿孔装置でポンチを引上げた状態をあらわす説明図。 従来の穿孔装置で未穿孔のかしめピンを穿孔位置に固定した状態をあらわす説明図。 従来の穿孔装置でかしめピンに穿孔した状態をあらわす説明図。 従来の穿孔装置でポンチがダイスを通過した状態をあらわす説明図。 従来の穿孔装置でポンチを引上げた状態をあらわす説明図。 磨耗した従来の穿孔装置でポンチがダイスを通過した状態をあらわす説明図。 磨耗した従来の穿孔装置でポンチを引上げた状態をあらわす説明図。
符号の説明
1 かしめピン
2 台
3 ポンチ先端部
4 ポンチ
5 ダイス穴部
6 穿孔屑
7 ダイス
8 空間部
9 嵌入溝
10 基台

Claims (5)

  1. ステンレス製の薄板を絞り加工して下端に細管を有する漏斗状に加工した未穿孔のかしめピン(1)の先端に孔を開けるための装置であって、かしめピン(1)を穿孔位置に固定する台(2)と、台(2)に固定されたかしめピン(1)の中心軸に沿ってポンチ先端部(3)を押下げ細管の先端を穿孔して貫通するポンチ(4)と、かしめピン(1)を貫通したポンチ先端部(3)をそのまま押下げてダイス穴部(5)を通過させたのち引上げることにより穿孔屑(6)を排出し屑上がりを防止するためのダイス(7)とを備え、ダイス(7)がウレタンゴムであり、ダイス穴部(5)の内径がポンチ(4)の外径より僅かに小さいことを特徴とするかしめピン穿孔装置。
  2. ダイス(7)が70℃程度の工作油で約3時間加熱することにより硬度が高められたウレタンゴムであることを特徴とする請求項1記載のかしめピン穿孔装置。
  3. ダイス(7)がゴム硬度90±5のウレタンゴムであることを特徴とする請求項1又は2記載のかしめピン穿孔装置。
  4. ダイス(7)の外径より大きな外径を有し、下側にポンチ(4)の外径よりも大きく且つダイス(7)の外径よりも小さな内径の空間部(8)を有し、空間部(8)と連続した上側にはダイス(7)と同じ外径の嵌入溝(9)を有した、金属製の基台(10)の嵌入溝(9)に、ダイス(7)が装着固定され、ダイス(7)のダイス穴部(5)周辺部分はフリーな状態であることを特徴とする請求項1、2又は3記載のかしめピン穿孔装置。
  5. 前記請求項1、2、3又は4に記載されたかしめピン穿孔装置を用い、ステンレス製の薄板を絞り加工して下端に細管を有する漏斗状に加工した未穿孔のかしめピン(1)を台(2)で穿孔位置に固定する工程と、台(2)に固定されたかしめピン(1)の中心軸に沿ってポンチ先端部(3)を押下げ細管の先端を穿孔して貫通する工程と、かしめピン(1)を貫通したポンチ先端部(3)をそのまま押下げポンチ(4)でダイス穴部(5)の内径を広げダイス穴部(5)がポンチ(4)の側面に密着した状態で通過させ穿孔屑(6)を下方から排出させる工程と、ポンチ(4)を引上げてダイス穴部(5)がポンチ(4)の側面に密着した状態でポンチ(4)側面に付着している穿孔屑(6)を除去しポンチ先端部(3)が抜ける瞬間にダイス穴部(5)の内径が復元してポンチ(4)の側面とポンチ先端部(3)との境界付近に付着している穿孔屑(6)を除去する工程とを有することを特徴とするかしめピン穿孔方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN113454340A (zh) * 2019-03-01 2021-09-28 三菱电机株式会社 压缩机的制造方法

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