JP2005140589A - 干渉計 - Google Patents
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Abstract
【課題】干渉計本体の小型化が可能であり、また、干渉縞像の大きさを変化させても干渉縞像が暗くならないようにすること。
【解決手段】干渉計本体1は、レーザー光源2と、該レーザー光源2の光射出側光路に配置された偏光ビームスプリッタ5と、該偏光ビームスプリッタ5により分岐された光路のうち一方の光路中に配置され、複数のレンズ群7A,7B,7C,7Dで構成され、上記レーザー光源2からの光を平行光束にして射出するコリメータ光学系7と、上記レーザー光源2から上記偏光ビームスプリッタ5に至る光路と交差する方向に配置された干渉縞観察光学系11とを備え、上記コリメータ光学系7は、上記複数のレンズ群7A,7B,7C,7Dのうち、少なくとも1つのレンズ群、例えば7B,7Cの位置を変化させる移動機構として、レンズ枠18,19、カム枠20、及びツマミ21を備える。
【選択図】 図1
【解決手段】干渉計本体1は、レーザー光源2と、該レーザー光源2の光射出側光路に配置された偏光ビームスプリッタ5と、該偏光ビームスプリッタ5により分岐された光路のうち一方の光路中に配置され、複数のレンズ群7A,7B,7C,7Dで構成され、上記レーザー光源2からの光を平行光束にして射出するコリメータ光学系7と、上記レーザー光源2から上記偏光ビームスプリッタ5に至る光路と交差する方向に配置された干渉縞観察光学系11とを備え、上記コリメータ光学系7は、上記複数のレンズ群7A,7B,7C,7Dのうち、少なくとも1つのレンズ群、例えば7B,7Cの位置を変化させる移動機構として、レンズ枠18,19、カム枠20、及びツマミ21を備える。
【選択図】 図1
Description
本発明は、被測定物の表面形状や透過波面等を測定する干渉計に関する。
従来から、レンズ等の被測定物の表面形状や透過波面を測定する測定機として干渉計が用いられている。かかる干渉計には、干渉縞を観察する光学系にズームレンズを用いる例が多い(例えば、特許文献1参照)。
その一例として、例えば図7に示すようなフィゾー型干渉計がある。図7において、干渉計本体100の内部には、He−Neレーザー光源101が設けられ、直線偏光であるレーザー光が射出される。このレーザー光源101から射出されたレーザー光は、ビームエキスパンダ102でビーム径が広げられ、発散レンズ103により発散光束となる。この発散光束は、偏光ビームスプリッタ104で反射され、さらにハーフミラー105で反射され、1/4波長板106を透過する。この1/4波長板106を透過するとき、レーザー光は直線偏光から円偏光になる。こうして円偏光となったレーザー光が、コリメータレンズ107に入射し平行光束となり、干渉計本体100より射出される。そして、この射出された平行光束中に設置された参照レンズ108の参照面108aでレーザー光の一部が反射するとともに、該参照レンズ108を透過したレーザー光の他の一部が被測定物109の被測定面109aで反射する。
これら参照面108aと被測定面109aのそれぞれで反射されたレーザー光が、再び参照レンズ108を透過して平行光束となり、干渉計本体100に入射する。この平行光束は、上記コリメータレンズ107により収束光束となり、上記1/4波長板106を透過する。このとき、レーザー光は円偏光から直線偏光となる。但しこの場合、この直線偏光は、上記レーザー光源101を射出したレーザー光とはその偏光方向が90度異なる直線偏光となっている。
この収束光束の一部は、上記ハーフミラー105を透過し、ミラー114で反射してスクリーン115上に集光する。このスクリーン115の像がアライメントレンズ116、ミラー117、結像レンズ113からなるアライメント光学系を通してカメラ118により観察できる。これにより、上記参照レンズ108の傾きや、上記被測定物109の位置、傾きを調整することができる。
一方、上記ハーフミラー105を透過せずに反射した他の収束光束は、上記偏光ビームスプリッタ104に入射する。ここで、この収束光束は、上記レーザー光源101を射出したレーザー光とはその偏光方向が90度異なるので、上記偏光ビームスプリッタ104を透過して、干渉縞観察光学系に入射する。この干渉縞観察光学系に入射したレーザー光は、フォーカスレンズ110、ズームレンズ111、光路切り換えミラー112、及び上記結像レンズ113を通して上記カメラ118に入射し、該カメラ118の撮像面上に干渉縞を形成する。この干渉縞像を不図示のモニターで観察して干渉縞の様子を目視にて確認したり、不図示の解析装置により干渉縞を解析することにより、上記被測定物109の上記被測定面109aの形状を測定できる。
ここで、モニターで観察される干渉縞像が小さい場合には、モータ119を駆動して上記ズームレンズ111のズーム比を変える(拡大する)ことにより、干渉縞像を拡大して上記被測定面109aの形状測定を行う。
特開平7−113609号公報
図7に示す従来技術では、コリメータレンズ107とは別に、干渉縞観察光学系にズームレンズ111を配置することにより干渉縞像の拡大を可能としている。このため、干渉縞観察光学系の全長が長くなってしまう。
また、干渉縞像を拡大すると干渉縞像が暗くなるという問題点もある。これを図8(A)及び(B)を参照して説明する。なお、これらの図は、この干渉計本体100のズームレンズ111と結像レンズ113及びカメラ118の撮像面の関係を示す概念図であり、特に、(A)はズームレンズ111のズーム比が低倍時の状態、(B)はズーム比が高倍時の状態を示している。即ち、図8(A)に示すように、ズーム比が低倍時のズームレンズ111から射出されるレーザー光の直径(口径)をψとし、結像レンズ113から射出されるレーザー光の角度をθとすると、図8(B)に示すように、ズーム比が高倍時には、ズームレンズ111から射出されるレーザー光の口径はψ’(ψ’>ψ)となり、結像レンズ113から射出されるレーザー光の角度はθ’(θ’>θ)となる。そして、結像レンズ113から射出したレーザー光の内、カメラ118の撮像面に入射する光だけを観察している。従って、干渉縞像を拡大すると、カメラ118の撮像面に入射する光量が減少してしまい、干渉縞像が暗くなる。干渉縞像が暗くなると、被測定面の形状を正確に測定できない可能性がある。
本発明は、上記の点に鑑みてなされたもので、干渉縞観察光学系の全長を短くすることにより干渉計本体の小型化が可能であり、また、干渉縞像の大きさを変化させても干渉縞像が暗くならない干渉計を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明の一態様による干渉計は、
光源と、
該光源の光射出側光路に配置された光分岐素子と、
該光分岐素子により分岐された光路のうち、一方の光路中に配置されたコリメータ光学系と、
上記光源から上記光分岐素子に至る光路と交差する方向に配置された観察光学系と、
を備えた干渉計であって、
上記コリメータ光学系は、
複数のレンズ群で構成され、上記光源からの光を平行光束にして射出するものであって、
該複数のレンズ群のうち、少なくとも1つのレンズ群の位置を変化させる移動機構を備える、
ことを特徴とする。
光源と、
該光源の光射出側光路に配置された光分岐素子と、
該光分岐素子により分岐された光路のうち、一方の光路中に配置されたコリメータ光学系と、
上記光源から上記光分岐素子に至る光路と交差する方向に配置された観察光学系と、
を備えた干渉計であって、
上記コリメータ光学系は、
複数のレンズ群で構成され、上記光源からの光を平行光束にして射出するものであって、
該複数のレンズ群のうち、少なくとも1つのレンズ群の位置を変化させる移動機構を備える、
ことを特徴とする。
本発明によれば、干渉縞観察光学系の全長を短くすることにより干渉計本体の小型化が可能であり、また、干渉縞像の大きさを変化させても干渉縞像が暗くならない干渉計を提供することができる。
以下、本発明を実施するための最良の形態を図面を参照して説明する。
[第1実施形態]
図1は、本発明の第1実施形態にかかる干渉計の概念図であり、同図に示すように、干渉計本体1には、レーザー光源2と、発散レンズ3と、ピンホール4と、偏光ビームスプリッタ5と、1/4波長板6と、コリメータ光学系7と、干渉縞観察光学系11と、カメラ14とが備えられている。
図1は、本発明の第1実施形態にかかる干渉計の概念図であり、同図に示すように、干渉計本体1には、レーザー光源2と、発散レンズ3と、ピンホール4と、偏光ビームスプリッタ5と、1/4波長板6と、コリメータ光学系7と、干渉縞観察光学系11と、カメラ14とが備えられている。
ここで、コリメータ光学系7は、レンズ群7D,7C,7B,7Aで構成されている。また、上記干渉縞観察光学系11は、絞り12とフォーカスレンズ13とから構成されている。絞り12は、上記偏光ビームスプリッタ5を透過したレーザー光の集光点に配置されている。また、フォーカスレンズ13は、上記光軸8方向に移動可能に構成されている。
また、この干渉計本体1には、アライメント光学系15が設けられている。アライメント光学系15は、スクリーン16とアライメントレンズ17とから構成されている。このアライメント光学系15は、不図示の切り換え部によって、上記干渉縞観察光学系11と入れ換え可能となっている。なお、入れ換えが行われるのは、上記偏光ビームスプリッタ5とカメラ14の間である。
また、上記コリメータ光学系7は、固定配置された2つのレンズ群7A,7Dと、上記光軸8方向にそれぞれ移動可能な2つのレンズ群7B,7Cとから構成されている。即ち、上記レンズ群7B及び7Cは、それぞれレンズ枠18,19内に固定されており、それらレンズ枠18及び19は、内周にカム溝が形成されたカム枠20の内部に保持されている。よって、上記レンズ枠18に取り付けたツマミ21を移動させることにより、上記レンズ群7Bは光軸8方向に移動する。このとき、上記カム枠20の内周のカム溝は、上記レンズ群7Bの位置に対して上記レンズ群7Cが所望の位置となるように形成されており、上記レンズ群7Bの移動に連動して、上記レンズ群7Cが光軸8方向に移動する構成となっている。また、上記カム枠20には、上記ツマミ21の移動範囲を規制するストッパー22,23が設けられている。
このような構成の干渉計本体1外には、上記コリメータ光学系7から射出された平行光束中に位置するように、平面用参照レンズ9と被測定物10とが配置されている。平面用参照レンズ9と被測定物10は、平面用参照レンズ9の参照平面9aと被測定物10の被測定面10aとが対面するように配置されている。
また、上記干渉計本体1には、モニター24が接続されている。モニター24は、上記カメラ14により撮像される干渉縞像25を表示するために用いられる。
次に、上記構成からなる本実施形態にかかる干渉計の作用を説明する。
レーザー光源2からは、直線偏光のレーザー光が射出される。この直線偏光のレーザー光は、発散レンズ3により一旦集光される。この集光位置には、ピンホール4が配置されている。よって、ピンホール4を通過する際、不要なレーザー光がここでカットされる。また、ピンホールから射出するレーザー光は、ピンホール4を中心とした発散レーザー光となる。この発散レーザー光は、偏光ビームスプリッタ5により反射される。反射された方向には、1/4波長板6が配置されている。よって、発散レーザー光は、1/4波長板6を通過したときに、直線偏光から円偏光に変換される。続いて、円偏光となった発散レーザー光は、コリメータ光学系7に入射する。コリメータ光学系7に入射した発散レーザー光は、ここで直径がφの平行光束に変換される。このようにして、レーザー光源2から射出されたレーザー光は、直径がφの平行光束となって該干渉計本体1から射出する。この干渉計本体1から射出したレーザー光は、平面用参照レンズ9に入射する。そして、その一部が参照平面9aで反射されて参照光束となる。一方、残りのレーザー光は平面用参照レンズ9を透過し、被測定物10の被測定面10aに入射する。被測定面10aに入射したレーザー光は、その一部が被測定面10aで反射され、測定光束となって平面用参照レンズ9に戻る。ここで、参照平面9aで反射された参照光束を、単に参照光束とする。また、被測定面10aで反射して平面用参照レンズ9を透過した測定光束を、単に測定光束とする。
レーザー光源2からは、直線偏光のレーザー光が射出される。この直線偏光のレーザー光は、発散レンズ3により一旦集光される。この集光位置には、ピンホール4が配置されている。よって、ピンホール4を通過する際、不要なレーザー光がここでカットされる。また、ピンホールから射出するレーザー光は、ピンホール4を中心とした発散レーザー光となる。この発散レーザー光は、偏光ビームスプリッタ5により反射される。反射された方向には、1/4波長板6が配置されている。よって、発散レーザー光は、1/4波長板6を通過したときに、直線偏光から円偏光に変換される。続いて、円偏光となった発散レーザー光は、コリメータ光学系7に入射する。コリメータ光学系7に入射した発散レーザー光は、ここで直径がφの平行光束に変換される。このようにして、レーザー光源2から射出されたレーザー光は、直径がφの平行光束となって該干渉計本体1から射出する。この干渉計本体1から射出したレーザー光は、平面用参照レンズ9に入射する。そして、その一部が参照平面9aで反射されて参照光束となる。一方、残りのレーザー光は平面用参照レンズ9を透過し、被測定物10の被測定面10aに入射する。被測定面10aに入射したレーザー光は、その一部が被測定面10aで反射され、測定光束となって平面用参照レンズ9に戻る。ここで、参照平面9aで反射された参照光束を、単に参照光束とする。また、被測定面10aで反射して平面用参照レンズ9を透過した測定光束を、単に測定光束とする。
上記参照光束と上記測定光束は、それぞれコリメータ光学系7(レンズ群7A,7B,7C,7D)を透過し、収束レーザー光となる。そして、収束レーザー光(収束された参照光束と測定光束)は、上記1/4波長板6に入射する。ここで、収束レーザー光は円偏光から直線偏光となる。なお、収束レーザー光の偏光方向は、上記レーザー光源2から射出されたレーザー光の偏光方向とは90°異なっている。1/4波長板6を透過した収束レーザー光は、偏光ビームスプリッタ5に入射する。この時、上記のように偏光方向が90°異なるので、収束レーザー光は、該偏光ビームスプリッタ5を透過する。ここで、上記偏光ビームスプリッタ5を挟んで、上記コリメータ光学系7とは反対側には、干渉縞観察光学系11が配置されている。よって、収束レーザ光は、干渉縞観察光学系11の方向に進行することになる。なお、この干渉縞観察光学系11は、上記コリメータ光学系7の光軸8上に配置されている。また、該干渉縞観察光学系11の結像面には、像を撮像する撮像面を備えたカメラ14が配置されている。
ここで、被測定面10aの形状を測定するときは、まず、干渉縞観察光学系11をアライメント光学系15に切り換える。これにより、参照光束と測定光束は、アライメント光学系15のスクリーン16上に集光する。このスクリーン16の像がアライメントレンズ17によりカメラ14の撮像面上に結像され、モニター24に映し出される。そこで、測定者は、このスクリーン16の像を見ながら、平面用参照レンズ9の参照平面9aと被測定物10の被測定面10aとのアライメントを行う。具体的には、参照平面9aによる輝点と被測定面10aによる輝点が一致するように、平面用参照レンズ9と被測定物10との傾きや位置を調整する。
その後、アライメント光学系15を干渉縞観察光学系11に切り換える。このとき、参照光束と測定光束は、干渉縞観察光学系11の絞り12を通る。これにより、参照光束と測定光束に含まれる不要なノイズ光がカットされる。そして、絞り12を通った参照光束と測定光束は、フォーカスレンズ13を透過して、カメラ14の撮像面上に干渉縞を形成する。このとき、フォーカスレンズ13を光軸8方向に移動して、干渉縞像のピントが被測定面10aに合うように調整する。そして、モニター24に映し出された干渉縞像25を観察あるいは解析することにより、被測定物10の被測定面10aの形状測定を行う。
ここで、図2(A)に示すように、コリメータ光学系7から射出される平行光束の直径φ1に対して、被測定面10aが小さい場合には、モニター24上の干渉縞像25も小さくなってしまう。そこで、このような場合には、ツマミ21を移動して、コリメータ光学系7のレンズ群7Bと7Cとを光軸8方向に移動(レンズ群7A,7Dは固定)して、図2(B)に示すような配置とする。これにより、コリメータ光学系7から射出される平行光束の直径を、φ2(φ2<φ1)にすることができる。その結果、モニター24上での干渉縞像25は大きくなる。更に必要であれば、ツマミ21により、コリメータ光学系7のレンズ群7Bと7Cとを光軸8方向に更に移動(レンズ群7A,7Dは固定)して、図2(C)に示すような配置とするればよい。これにより、コリメータ光学系7から射出される平行光束の直径を、φ3(φ3<φ2)にすることができる。その結果、モニター24上での干渉縞像25を更に大きくすることができる。
ここで、図2(A)乃至(C)に示すように、レンズ群7B及び7Cを光軸8方向に移動すると、コリメータ光学系7から射出される平行光束の直径は、φ1→φ2→φ3というように変化する。そこで、本実施形態にかかる干渉計では、偏光ビームスプリッタ5に入射するレーザー光束の直径を変化させても、干渉縞観察光学系11に入射するレーザー光の角度αは常に略一定であるように、コリメータ光学系7のレンズ群7A,7B,7C,7Dが構成されている。あるいは、偏光ビームスプリッタ5に入射するレーザー光束の直径を変化させても、干渉縞観察光学系11に入射するレーザー光のNA(開口数)が略一定となるように、コリメータ光学系7は構成されている。従って、偏光ビームスプリッタ5に入射するレーザー光束の直径を変化させても、カメラ14の撮像面に入射するレーザー光の光量は変化しない。偏光ビームスプリッタ5に入射するレーザー光束の直径を変化させることは、干渉縞像25の大きさを変化させることになる。よって、本実施形態にかかる干渉計では、例えば、干渉縞像25の大きさを変化させても、カメラ14の撮像面に入射するレーザー光の光量は変化しない。なお、図1では、干渉縞観察光学系11に入射するレーザー光は、絞り12の位置で集光している。よって、図1では、干渉縞観察光学系11に入射するレーザー光の角度αとは、絞り12に入射するレーザ光における角度になる。また、干渉縞観察光学系11に入射するレーザー光のNAとは、絞り12に入射するレーザ光におけるNAになる。
ところで、可干渉距離が長いレーザー光を用いた干渉計の場合、干渉計を構成する各光学素子の表面反射による干渉縞がノイズ縞となって現われることが多い。これを防ぐために、干渉計を構成する各光学素子の表面に、レーザー光の波長に対する反射防止処理を施すことが一般的に行われる。しかしながら、レーザー光の表面反射を完全に無くすことは困難である。この場合、コリメータ光学系を構成するレンズ群のうち、任意のレンズ面で光の反射が生じる。そうすると、この反射光が、正確な測定の妨げになることがある。図3に、一例を示す。図3において、Lm及びLsは、コリメータ光学系中のレンズ面である。なお、レンズ面Lsは、レンズ面Lmとは別のレンズ面である。ここで、レンズ面Lmは曲率半径がRmで、曲率中心(あるいは、見かけの曲率中心)がPmである。また、レンズ面Lsは曲率半径がRsで、曲率中心(あるいは、見かけの曲率中心)がPsである。なお、見かけの曲率中心とは、曲率中心を光学系を介して観察したときに見える像(曲率中心の像)のことである。図3では、曲率中心Pmと曲率中心Psが、非常に接近している。このように両者が非常に接近した状態になるか、あるいは両者が一致するとノイズ縞が現われる。このノイズ縞は、モニター24でも確認することができる。すると、本来観察したい被測定物の干渉縞に、ノイズ縞が重なってしまうことになる。その結果、被測定面の表面形状、あるいは透過波面を正確に測定できない恐れがある。
そこで、本実施形態にかかる干渉計では、カム枠20に、ツマミ21の移動範囲を制限するストッパー22,23を設けている。このようにすることで、コリメータ光学系7のレンズ群7B及び7Cを光軸8方向に移動しても、レンズ群7B及び7Cを構成するレンズの各面の曲率中心が、他の面の曲率中心と一致しないようにすることができる。つまり、これらストッパー22と23とで規制されている範囲の中では、レンズ群7B及び7Cを移動して干渉縞像25の大きさを変化させても、レンズ群7B及び7Cを構成するレンズの各面の曲率中心Pmは他の面の曲率中心Psとは一致しないようになっている。
本実施形態では、従来技術のようにコリメータ光学系とズームレンズを別々に設けることなく、コリメータ光学系に変倍機能を持たせている。そのため、本実施形態によれば、干渉縞観察光学系の短縮が可能となることから、干渉計本体の小型化が図れる。また、干渉縞像の大きさを変化させても、干渉縞観察光学系に入射するレーザー光の光量は変化しないので、干渉縞が暗くならない。更に、干渉縞像の大きさを変化させても、干渉計本体を構成するレンズの曲率中心が一致することがないので、不要なノイズ縞の発生を防ぐことができる。
なお本実施形態では、被測定面の表面形状を測定する干渉計として説明したが、被測定物の透過波面を測定する干渉計であっても良い。また、図2(A)の状態から図2(C)の状態への変化は、干渉縞を拡大したことになる。一方、図2(C)の状態から図2(A)の状態への変化は、干渉縞を縮小したことになる。よって、干渉縞の大きさを変化させるということは、拡大と縮小の2つが含まれる。ただし、本実施形態では、リメータ光学系7から射出される平行光束の直径φ1に対して、被測定面10aが小さい場合を想定している。すなわち、本実施形態では、干渉縞像を拡大させることを想定している。よって、本実施形態では、干渉縞像を拡大させても干渉縞観察光学系に入射するレーザー光の光量は変化しないので、干渉縞が暗くならない。更に、干渉縞像を拡大させても、干渉計本体を構成するレンズの曲率中心が一致することがないので、不要なノイズ縞の発生を防ぐことができる。
表1において、面1〜面2,面3〜面4,面5〜面10,面11〜面12が、それぞれレンズ群7A,7B,7C,7Dを構成するレンズである。面13〜面14は1/4波長板6であり、面14〜面15は偏光ビームスプリッタ5であり、面17は絞り12の位置を示している。なお、Rは各面の曲率半径(Infinityは平面)、Dは面間隔、nはレーザー光源2の波長633nmにおける屈折率を示している。
表1に示す実施例では、レーザー光源2から射出されたレーザー光は、コリメータ光学系7から直径がφ60.8mmの平行光束として射出される。このときのコリメータ光学系7の配置図を図4(A)に示す。
次に、表1に示すコリメータ光学系において、レンズ群7B及び7Cをそれぞれ光軸8方向に移動し、面2の面間隔:125.532mm、面4の面間隔:22.741mm、面10の面間隔:16.727mm、とする。このとき、コリメータ光学系7から射出される平行光束の直径はφ39.8mmとなる。このときのコリメータ光学系7の配置図を図4(B)に示す。
更に、表1に示すコリメータ光学系において、レンズ群7B及び7Cをそれぞれ光軸8方向に移動し、面2の面間隔:89.292mm、面4の面間隔:67.246mm、面10の面間隔:8.462mm、とする。このとき、コリメータ光学系7から射出される平行光束の直径はφ15.2mmとなる。このときのコリメータ光学系7の配置図を図4(C)に示す。
図4(A)乃至(C)に示す何れの場合も、偏光ビームスプリッタ5を透過し干渉縞観察光学系11の絞り12に入射するレーザー光の角度αは一定であり、NA(開口数)=約0.0624である。
また、コリメータ光学系7から射出される平行光束の口径はφ60.8mmからφ15.2mmまで変更が可能であり、干渉縞像の大きさを4倍まで拡大することができる。
[第2実施形態]
図5は、本発明の第2実施形態にかかる干渉計の概念図であり、同図に示すように、干渉計本体31には、レーザー光源32と、ビームエキスパンダ33と、ピンホール34と、偏光ビームスプリッタ35と、1/4波長板36と、コリメータ光学系37と、フォーカスレンズ41と、カメラ42とが備えられている。ここで、コリメータ光学系37は、レンズ群37A,37B,37C,37Dで構成されている。また、フォーカスレンズ41は干渉縞観察光学系であって、上記コリメータ光学系37の光軸38方向に移動可能となっている。
図5は、本発明の第2実施形態にかかる干渉計の概念図であり、同図に示すように、干渉計本体31には、レーザー光源32と、ビームエキスパンダ33と、ピンホール34と、偏光ビームスプリッタ35と、1/4波長板36と、コリメータ光学系37と、フォーカスレンズ41と、カメラ42とが備えられている。ここで、コリメータ光学系37は、レンズ群37A,37B,37C,37Dで構成されている。また、フォーカスレンズ41は干渉縞観察光学系であって、上記コリメータ光学系37の光軸38方向に移動可能となっている。
なお図示しないが、該干渉計本体31には、第1実施形態と同様に、干渉縞観察光学系と入れ換え可能なアライメント光学系か設けられている。
上記コリメータ光学系37は、固定配置された2つのレンズ群37A,37Dと、光軸38方向にそれぞれ移動可能な2つのレンズ群37B,37Cとから構成されている。レンズ群37B及び37Cは、それぞれ該干渉計本体31に設けた移動ステージ43上に載置されている。そして、上記レンズ群37Bは不図示のモータにより光軸38方向に移動可能である。また、上記レンズ群37Cも、不図示のモータによりレンズ群37Bの移動と連動して所望の位置となるように、光軸38方向に移動する構成となっている。また、上記移動ステージ43には、上記レンズ群37Bの移動範囲を規制する2つのリミットセンサー44と、上記レンズ群37Bが所定位置に来たことを検出する位置検出センサー45とが設けられている。
このような構成の干渉計本体31外には、上記コリメータ光学系37から射出された平行光束中に位置するように、球面用参照レンズ39と被測定物40とが配置されている。そして、それら球面用参照レンズ39と被測定物40とは、上記球面用参照レンズ39の参照球面39aと上記被測定物40の被測定面40aとが対面するように配置されている。
また、上記干渉計本体31には、モニター46が接続されている。このモニター46は、上記カメラ42により撮像される干渉縞像47を表示するために用いられる。
次に、上記構成からなる本実施形態にかかる干渉計の作用を説明する。
レーザー光源32から射出された直線偏光のレーザー光は、ビームエキスパンダ33により光束径が広げられ、直径(口径)がφ’の平行光束となる。ここで、ビームエキスパンダ33内の集光位置には、ピンホール34が配置されている。よって、ピンホール34に入射したレーザ光のうち、不要なレーザー光がピンホール34でカットされる。上記ビームエキスパンダ33を透過したレーザー光は、偏光ビームスプリッタ35により1/4波長板36の方向に反射される。反射されたレーザー光は、その1/4波長板36に入射する。ここで、レーザー光は直線偏光から円偏光に変換される。そして、この1/4波長板36を透過したレーザー光は、コリメータ光学系37を透過する。その際、コリメータ光学系37によって直径がφの平行光束に変換され、この干渉計本体31から射出する。この干渉計本体31から射出したレーザー光は、上記球面用参照レンズ39に入射し、その一部が参照球面39aで反射され参照光束となる。また入射したレーザー光のうち、残りのレーザー光は、該球面用参照レンズ39を透過した後、被測定物40の被測定面40aに入射する。そして、その一部が被測定面40aで反射され測定光束となり、該球面用参照レンズ39に戻る。ここで、参照球面39aで反射した参照光束を、単に、参照光束とする。また、被測定面40aで反射し球面用参照レンズ39を透過した測定光束を、単に、測定光束とする。
レーザー光源32から射出された直線偏光のレーザー光は、ビームエキスパンダ33により光束径が広げられ、直径(口径)がφ’の平行光束となる。ここで、ビームエキスパンダ33内の集光位置には、ピンホール34が配置されている。よって、ピンホール34に入射したレーザ光のうち、不要なレーザー光がピンホール34でカットされる。上記ビームエキスパンダ33を透過したレーザー光は、偏光ビームスプリッタ35により1/4波長板36の方向に反射される。反射されたレーザー光は、その1/4波長板36に入射する。ここで、レーザー光は直線偏光から円偏光に変換される。そして、この1/4波長板36を透過したレーザー光は、コリメータ光学系37を透過する。その際、コリメータ光学系37によって直径がφの平行光束に変換され、この干渉計本体31から射出する。この干渉計本体31から射出したレーザー光は、上記球面用参照レンズ39に入射し、その一部が参照球面39aで反射され参照光束となる。また入射したレーザー光のうち、残りのレーザー光は、該球面用参照レンズ39を透過した後、被測定物40の被測定面40aに入射する。そして、その一部が被測定面40aで反射され測定光束となり、該球面用参照レンズ39に戻る。ここで、参照球面39aで反射した参照光束を、単に、参照光束とする。また、被測定面40aで反射し球面用参照レンズ39を透過した測定光束を、単に、測定光束とする。
そして、参照光束と測定光束は、それぞれコリメータ光学系37を透過する。そして、参照光束と測定光束は、直径がφ’の平行光束となり、1/4波長板36に入射する。1/4波長板36を通過することで、レーザー光は円偏光から直線偏光に変換される。但し、偏光方向は、レーザー光源32から射出されたレーザー光の偏光方向とは90°異なっている。1/4波長板36を透過したレーザー光は、偏光ビームスプリッタ35に入射する。この時、上記のように偏光方向が90°異なるので、該偏光ビームスプリッタ35を透過し、フォーカスレンズ41の方向に進行する。フォーカスレンズ41を透過した参照光束と測定光束は、カメラ42の撮像面上に干渉縞を形成する。そしてモニター46に映し出された干渉縞像47を観察あるいは解析することにより、被測定物40の被測定面40aの形状測定を行う。なお、この場合も、上記第1実施形態と同様にして、球面用参照レンズ39の参照球面39aと被測定物40の被測定面40aとのアライメントを行うことは言うまでもない。
ここで、図6(A)に示すように、干渉計本体31のコリメータ光学系37から射出される平行光束の直径φ1に対して、被測定面40aが小さい場合(参照球面39aから射出される光束のNAに対して被測定面40aのNAが小さい場合)には、モニター46上の干渉縞像47も小さくなってしまう。そこで、このような場合には、不図示のモータを駆動してコリメータ光学系37のレンズ群37B及び37Cを光軸38方向に移動(レンズ群37A,37Dは固定)して、図6(B)に示すような配置とすることにより、コリメータ光学系37から射出される平行光束の直径をφ2(φ2<φ1)にすることができる。これにより、モニター46上での干渉縞像47は大きくなる。更に必要であれば、不図示のモーターを駆動してコリメータ光学系37のレンズ群37B及び37Cを更に光軸38方向に移動(レンズ群37A,37Dは固定)して、図6(C)に示すような配置とする。これにより、コリメータ光学系37から射出される平行光束の直径をφ3(φ3<φ2)にすることができる。その結果、モニター46上での干渉縞像47は更に大きくなる。
ここで、レンズ群37B及び37Cを光軸38方向に移動し、コリメータ光学系37から射出される平行光束の口径を変化させても、偏光ビームスプリッタ35を透過してフォーカスレンズ41に入射するレーザー光の光束径φ’は、常に略一定であるようにコリメータ光学系37のレンズ群37A,37B,37C,37Dは構成されている。従って、干渉縞像47の大きさを変化させても、フォーカスレンズ41によりカメラ42の撮像面に入射するレーザー光の光量は変化しない。なお、図6(A)乃至(C)では、コリメータ光学系37から射出される平行光束の口径を、φ1→φ2→φ3というように変化させている。この場合、干渉縞像47は拡大されていることになる。よって、本実施形態では、干渉縞像を拡大させても、フォーカスレンズ41に入射するレーザー光の光束径φ’は、常に略一定である。その結果、カメラ42の撮像面に入射するレーザー光の光量は変化しないので、干渉縞が暗くならない。
また、本実施形態においても、上記第1実施形態と同様に、移動ステージ43に、レンズ群37Bの移動範囲を制限する2つのリミットセンサー44を設けている。よって、コリメータ光学系37のレンズ群37B及び37Cを光軸38方向に移動しても、レンズ群37B及び37Cを構成するレンズの各面の曲率中心が他の面の曲率中心と一致しない。つまり、2つのリミットセンサー44で規制されている範囲の中では、レンズ群37B及び37Cを移動して、干渉縞像47の大きさを変化させても、レンズ群37Bと37Cを構成するレンズの各面の曲率中心は他の面の曲率中心とは一致しないようになっている。よって、本実施形態では、干渉縞像を拡大させても、不要なノイズ縞の発生を防ぐことができる。
なお、干渉縞像のズーム比を大きくしたい場合には、レンズ群37Bあるいは37Cの移動範囲を大きくする必要がある。この場合、移動範囲内においてレンズ面同士の曲率中心が一致することを避けられない場合もある。このような場合には、曲率中心が一致するレンズ群37Bあるいは37Cの位置に位置検出センサー45を設置しておく。そして、レンズ群37Bを移動して停止させた位置において、位置検出センサー45が作動した場合には、不図示のモータを駆動して位置検出センサー45が作動しない位置までレンズ群37Bを移動させる。つまり、レンズ群37Bあるいは37Cの移動範囲内において、曲率中心が一致する場所だけレンズ群を停止しないようにモータを制御する。
本実施形態によれば、上記第1実施形態の効果に加えて、曲率中心が一致する場所だけレンズ群を停止しないように制御を行うので、より大きなズーム比を得ることができると共に、ノイズ縞の発生を防ぐことができる。
以上実施形態に基づいて本発明を説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形や応用が可能なことは勿論である。
(付記)
上記の具体的実施形態から、以下のような構成の発明を抽出することができる。
上記の具体的実施形態から、以下のような構成の発明を抽出することができる。
(1) 光源と、
該光源の光射出側光路に配置された光分岐素子と、
該光分岐素子により分岐された光路のうち、一方の光路中に配置されたコリメータ光学系と、
上記光源から上記光分岐素子に至る光路と交差する方向に配置された観察光学系と、
を備えた干渉計であって、
上記コリメータ光学系は、
複数のレンズ群で構成され、上記光源からの光を平行光束にして射出するものであって、
該複数のレンズ群のうち、少なくとも1つのレンズ群の位置を変化させる移動機構を備える、
ことを特徴とする干渉計。
該光源の光射出側光路に配置された光分岐素子と、
該光分岐素子により分岐された光路のうち、一方の光路中に配置されたコリメータ光学系と、
上記光源から上記光分岐素子に至る光路と交差する方向に配置された観察光学系と、
を備えた干渉計であって、
上記コリメータ光学系は、
複数のレンズ群で構成され、上記光源からの光を平行光束にして射出するものであって、
該複数のレンズ群のうち、少なくとも1つのレンズ群の位置を変化させる移動機構を備える、
ことを特徴とする干渉計。
(対応する実施形態)
この(1)に記載の干渉計に関する実施形態は、第1及び第2実施形態が対応する。ここで、上記光源は、第1実施形態ではレーザー光源2に対応し、第2実施形態ではレーザー光源32に対応する。上記光分岐素子は、第1実施形態では偏光ビームスプリッタ5に対応し、第2実施形態では偏光ビームスプリッタ35に対応する。上記コリメータ光学系は、第1実施形態ではコリメータ光学系7に対応し、第2実施形態ではコリメータ光学系37に対応する。上記観察光学系は第1実施形態では干渉縞観察光学系11に対応し、第2実施形態ではフォーカスレンズ41に対応する。上記移動機構は、第1実施形態ではレンズ枠18,19,カム枠20,及びツマミ21に対応し、第2実施形態では移動ステージ43及び不図示モータに対応する。なお、各構成要素は、同様の機能を実現するものであれば、それら実施形態における対応物以外のものであっても構わないことは勿論である。
この(1)に記載の干渉計に関する実施形態は、第1及び第2実施形態が対応する。ここで、上記光源は、第1実施形態ではレーザー光源2に対応し、第2実施形態ではレーザー光源32に対応する。上記光分岐素子は、第1実施形態では偏光ビームスプリッタ5に対応し、第2実施形態では偏光ビームスプリッタ35に対応する。上記コリメータ光学系は、第1実施形態ではコリメータ光学系7に対応し、第2実施形態ではコリメータ光学系37に対応する。上記観察光学系は第1実施形態では干渉縞観察光学系11に対応し、第2実施形態ではフォーカスレンズ41に対応する。上記移動機構は、第1実施形態ではレンズ枠18,19,カム枠20,及びツマミ21に対応し、第2実施形態では移動ステージ43及び不図示モータに対応する。なお、各構成要素は、同様の機能を実現するものであれば、それら実施形態における対応物以外のものであっても構わないことは勿論である。
(作用効果)
この(1)に記載の干渉計によれば、コリメータ光学系を構成する複数のレンズ群のうち、少なくとも1つのレンズ群の位置を変化させることにより、干渉縞観察光学系にズームレンズを用いなくとも干渉縞像の大きさを変化(拡大あるいは縮小)させることが可能である。従って、干渉縞観察光学系の全長を短くすることが可能であり、干渉計本体の小型化が図れる。
この(1)に記載の干渉計によれば、コリメータ光学系を構成する複数のレンズ群のうち、少なくとも1つのレンズ群の位置を変化させることにより、干渉縞観察光学系にズームレンズを用いなくとも干渉縞像の大きさを変化(拡大あるいは縮小)させることが可能である。従って、干渉縞観察光学系の全長を短くすることが可能であり、干渉計本体の小型化が図れる。
(2) 上記移動機構は、上記コリメータ光学系の上記観察光学系側における開口数が常に略一定となるように、上記少なくとも1つのレンズ群を移動させることを特徴とする(1)に記載の干渉計。
(対応する実施形態)
この(2)に記載の干渉計に関する実施形態は、第1実施形態が対応する。
この(2)に記載の干渉計に関する実施形態は、第1実施形態が対応する。
(作用効果)
この(2)に記載の干渉計によれば、干渉縞観察光学系側における開口数が常に略一定であることから、干渉縞像の大きさを変化させても干渉縞像が暗くならない。
この(2)に記載の干渉計によれば、干渉縞観察光学系側における開口数が常に略一定であることから、干渉縞像の大きさを変化させても干渉縞像が暗くならない。
(3) 上記移動機構は、上記コリメータ光学系の上記観察光学系側における光束径が常に略一定となるように、上記少なくとも1つのレンズ群を移動させることを特徴とする(1)に記載の干渉計。
(対応する実施形態)
この(3)に記載の干渉計に関する実施形態は、第2実施形態が対応する。
この(3)に記載の干渉計に関する実施形態は、第2実施形態が対応する。
(作用効果)
この(3)に記載の干渉計によれば、干渉縞観察光学系側における光束径が常に略一定であることから、干渉縞像の大きさを変化させても干渉縞像が暗くならない。
この(3)に記載の干渉計によれば、干渉縞観察光学系側における光束径が常に略一定であることから、干渉縞像の大きさを変化させても干渉縞像が暗くならない。
(4) 上記移動機構は、上記少なくとも1つのレンズ群を光軸に沿って移動させることを特徴とする(1)に記載の干渉計。
(対応する実施形態)
この(4)に記載の干渉計に関する実施形態は、第1及び第2実施形態が対応する。
この(4)に記載の干渉計に関する実施形態は、第1及び第2実施形態が対応する。
(作用効果)
この(4)に記載の干渉計によれば、コリメータ光学系を構成する複数のレンズ群のうち、少なくとも1つのレンズ群の位置を、移動機構により光軸方向に沿って移動させることにより、干渉縞像の大きさを変化させることが可能である。
この(4)に記載の干渉計によれば、コリメータ光学系を構成する複数のレンズ群のうち、少なくとも1つのレンズ群の位置を、移動機構により光軸方向に沿って移動させることにより、干渉縞像の大きさを変化させることが可能である。
(5) 上記コリメータ光学系は、上記移動機構による上記少なくとも1つのレンズ群の移動量を規制する規制部材を更に備えることを特徴とする(4)に記載の干渉計。
(対応する実施形態)
この(5)に記載の干渉計に関する実施形態は、第1及び第2実施形態が対応する。ここで、上記規制部材は、第1実施形態ではストッパー22,23に対応し、第2実施形態ではリミットセンサー44及び位置検出センサー45に対応する。勿論、同様の機能を実現するものであれば、それら実施形態における対応物以外のものであっても構わない。
この(5)に記載の干渉計に関する実施形態は、第1及び第2実施形態が対応する。ここで、上記規制部材は、第1実施形態ではストッパー22,23に対応し、第2実施形態ではリミットセンサー44及び位置検出センサー45に対応する。勿論、同様の機能を実現するものであれば、それら実施形態における対応物以外のものであっても構わない。
(作用効果)
この(5)に記載の干渉計によれば、コリメータ光学系を構成する複数のレンズ群のうち、少なくとも一部のレンズを光軸方向に移動させるとき、レンズの面の曲率中心が他の面の曲率中心と一致するような位置まで移動しないよう規制するので、不要なノイズ縞の発生を防ぐことができる。
この(5)に記載の干渉計によれば、コリメータ光学系を構成する複数のレンズ群のうち、少なくとも一部のレンズを光軸方向に移動させるとき、レンズの面の曲率中心が他の面の曲率中心と一致するような位置まで移動しないよう規制するので、不要なノイズ縞の発生を防ぐことができる。
(6) 上記コリメータ光学系を構成するレンズ面の各々の曲率中心位置が常に異なるように、上記規制部材の位置が設定されていることを特徴とする(5)に記載の干渉計。
(対応する実施形態)
この(6)に記載の干渉計に関する実施形態は、第2実施形態が対応する。
この(6)に記載の干渉計に関する実施形態は、第2実施形態が対応する。
(作用効果)
この(6)に記載の干渉計によれば、コリメータ光学系を構成する複数のレンズ群のうち、少なくとも一部のレンズを光軸方向に移動しても、レンズの面の曲率中心が他の面の曲率中心と一致する位置だけは回避するように規制部材の位置が設定されているので、不要なノイズ縞の発生を防ぐことができる。
この(6)に記載の干渉計によれば、コリメータ光学系を構成する複数のレンズ群のうち、少なくとも一部のレンズを光軸方向に移動しても、レンズの面の曲率中心が他の面の曲率中心と一致する位置だけは回避するように規制部材の位置が設定されているので、不要なノイズ縞の発生を防ぐことができる。
1,31…干渉計本体、 2,32…レーザー光源、 3…発散レンズ、 4,34…ピンホール、 5,35…偏光ビームスプリッタ、 6,36…1/4波長板、 7,37…コリメータ光学系、 7A,7B,7C,7D,37A,37B,37C,37D…レンズ群、 8,38…光軸、 9…平面用参照レンズ、 9a…参照平面、 10,40…被測定物、 10a,40a…被測定面、 11…干渉縞観察光学系、 12…絞り、 13,41…フォーカスレンズ、 14,42…カメラ、 15…アライメント光学系、 16…スクリーン、 17…アライメントレンズ、 18,19…レンズ枠、 20…カム枠、 21…ツマミ、 22,23…ストッパー、 24,46…モニター、 25,47…干渉縞像、 33…ビームエキスパンダ、 39…球面用参照レンズ、 39a…参照球面、 43…移動ステージ、 44…リミットセンサー、 45…位置検出センサー。
Claims (6)
- 光源と、
該光源の光射出側光路に配置された光分岐素子と、
該光分岐素子により分岐された光路のうち、一方の光路中に配置されたコリメータ光学系と、
前記光源から前記光分岐素子に至る光路と交差する方向に配置された観察光学系と、
を備えた干渉計であって、
前記コリメータ光学系は、
複数のレンズ群で構成され、前記光源からの光を平行光束にして射出するものであって、
該複数のレンズ群のうち、少なくとも1つのレンズ群の位置を変化させる移動機構を備える、
ことを特徴とする干渉計。 - 前記移動機構は、前記コリメータ光学系の前記観察光学系側における開口数が常に略一定となるように、前記少なくとも1つのレンズ群を移動させることを特徴とする請求項1に記載の干渉計。
- 前記移動機構は、前記コリメータ光学系の前記観察光学系側における光束径が常に略一定となるように、前記少なくとも1つのレンズ群を移動させることを特徴とする請求項1に記載の干渉計。
- 前記移動機構は、前記少なくとも1つのレンズ群を光軸に沿って移動させることを特徴とする請求項1に記載の干渉計。
- 前記コリメータ光学系は、前記移動機構による前記少なくとも1つのレンズ群の移動量を規制する規制部材を更に備えることを特徴とする請求項4に記載の干渉計。
- 前記コリメータ光学系を構成するレンズ面の各々の曲率中心位置が常に異なるように、前記規制部材の位置が設定されていることを特徴とする請求項5に記載の干渉計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003375940A JP2005140589A (ja) | 2003-11-05 | 2003-11-05 | 干渉計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003375940A JP2005140589A (ja) | 2003-11-05 | 2003-11-05 | 干渉計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2005140589A true JP2005140589A (ja) | 2005-06-02 |
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JP2003375940A Withdrawn JP2005140589A (ja) | 2003-11-05 | 2003-11-05 | 干渉計 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2005140589A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008082781A (ja) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Mitsutoyo Corp | 干渉型表面形状測定装置 |
JP2009535645A (ja) * | 2006-05-02 | 2009-10-01 | クオリティー ヴィジョン インターナショナル インコーポレイテッド | レーザーレンジセンサシステムの光学アダプタおよび方法 |
CN115597483A (zh) * | 2022-09-30 | 2023-01-13 | 南京理工大学(Cn) | 一种干涉仪扩束准直装置 |
-
2003
- 2003-11-05 JP JP2003375940A patent/JP2005140589A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN115597483B (zh) * | 2022-09-30 | 2024-02-06 | 南京理工大学 | 一种干涉仪扩束准直装置 |
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