JP2005132676A - 単結晶製造方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 坩堝内の半径方向の温度差や坩堝壁面の温度勾配により発生する対流が、固液界面近傍の温度を擾乱し、結晶の品質を悪化させたり、バウンダリーを発生させたりする要因になっている。
【解決手段】 坩堝内の融液中に水平に平板部材を配置し、該平板部材を固液界面に対して微小距離を隔てて保持することにより、該平板部材と固液界面との間では対流が無くなり、その結果、固液界面近傍の温度が安定して、大口径で高品質の単結晶の製造が可能となる。
【選択図】 図1
【解決手段】 坩堝内の融液中に水平に平板部材を配置し、該平板部材を固液界面に対して微小距離を隔てて保持することにより、該平板部材と固液界面との間では対流が無くなり、その結果、固液界面近傍の温度が安定して、大口径で高品質の単結晶の製造が可能となる。
【選択図】 図1
Description
本発明は単結晶成長技術に関わるもので、特に半導体露光装置のレンズ材料として用いられる蛍石単結晶を育成するための、垂直ブリッジマン法(VB法)による単結晶製造方法、及び単結晶製造装置に関するものである。
近年、半導体集積回路の高集積化にともない、超微細パタ−ン形成への要求がますます高まっている。微細パタ−ンをウェハ上に転写するリソグラフィー装置としては、縮小投影露光装置が多用されている。高集積化するためには、投影レンズの解像度を上げる必要がある。そして、投影レンズの解像力を上げるには、短波長の露光光を用い、投影レンズの開口数を大きく(大口径化)する必要がある。
露光光の短波長化は、g線(波長436nm)、i線(365nm)、KrFエキシマレ−ザ−光(248nm)、ArFエキシマレ−ザ−光(193nm)と進み、今後は、F2レーザー(157nm)の使用が有望視されている。i線までの波長域では、光学系に従来の光学レンズを使用することが可能であったが、KrFエキシマレーザー、ArFエキシマレーザー、F2レーザー光の波長域では、透過率が低く、従来の光学ガラスを使用することは不可能である。このため、エキシマレーザー露光装置の光学系には、短波長光の透過率が高い石英ガラスまたは蛍石を使用するのが一般的になっており、特にF2レーザー露光装置では、蛍石が必須とされている。
また、投影レンズを構成する各レンズは、極限の面精度で研磨されるが、多結晶になっていると結晶方位によって研磨速度が異なるため、レンズの面精度を確保することが困難になる。更に多結晶の場合には、結晶界面に不純物が偏析し易く、屈折率の均一性を損ねたり、レ−ザ−照射により蛍光を発したりする。このような理由で、大口径高品質の単結晶蛍石が望まれている。
蛍石は通常、米国特許2214976(特許文献1)に示されたように、垂直ブリッジマン法(VB法)で製造されており、その製造装置は図7(a)に示すような構成になっている。図7(a)に於いて、1は炉本体、2は炉本体1内を高温領域1aと低温領域1bに分割する断熱部材、3aは上ヒーター、3bは下ヒーター、4は炉本体1の底を貫通する支持棒、5は支持棒4の上端に取り付けられた坩堝である。この坩堝5に原料を入れ、炉内を真空にし、炉温を蛍石の融点以上、通常摂氏1390〜1450度まで上げ熔融する。図7(b)は、炉本体1の上ヒーター3a、下ヒーター3bの鉛直方向に沿った温度分布を示したグラフである。縦軸は炉本体1の位置を、横軸は温度分布を示している。図7(b)に示すように、断熱部材2の位置が融点温度T1になるように設定されている。結晶成長させる時は、0.1〜5mm/時ぐらいの速度で坩堝5を高温領域1aから低温領域1bに降下させ、下部の方から結晶化させていく。図7(a)は、この坩堝降下の途中の状態を示しており、6は融液、8は固化した結晶、7は固液界面である。
米国特許2214976
しかしながら前記のような従来の垂直ブリッジマン法では、近年要求が高まっている大口径の蛍石、例えば直径300mm以上になると、高品質の単結晶が出来難くなる。その原因として坩堝は外側からの加熱により、融液の半径方向、あるいは坩堝壁面と融液の間に温度差により起こる対流を挙げる事ができる。図7(a)に於いて、9は代表的な対流のパターンを示す。このような対流が起こるメカニズムは次のように説明される。先ず、融液の半径方向に温度差があると半径方向の密度差をもたらし対流が誘起される。その結果、融液が均熱化する。一方、坩堝壁面の温度は固液界面部7から上方に徐々に高温になっているので、坩堝壁面温度と融液温度を比較すると次のような状況になる。即ち、下部(固液界面7の近傍)では坩堝壁面温度が融液温度より低く、上部では坩堝壁面温度が融液温度より高くなる。この結果、融液は、下部では壁面に沿った下降流、上部では壁面に沿った上昇流となる。
このようにして発生する対流は、坩堝が大型になり半径方向の温度差や坩堝壁面の温度勾配が大きくなるにつれて強くなる。そして、この対流が、固液界面近傍の温度を擾乱し、結晶の品質を悪化させたり、バウンダリーを発生させたりする要因になっている。
本発明の目的は、このような融液の対流の影響を無くし、大口径で高品質の単結晶を製造できる単結晶製造方法及びその装置を提供することにある。
前記の課題を解決するために、本発明の単結晶製造方法は、坩堝内の原料を溶融し温度勾配を利用して融液を下端から徐々に固化させて柱状の単結晶を育成する垂直ブリッジマン法による単結晶製造方法に於いて、該坩堝内の融液中に水平に平板部材を配置し、且つ該平板部材を、該融液と結晶との境界に形成される固液界面に対して微小距離に維持しながら単結晶を育成することを特徴とする。
また、本発明の単結晶製造装置は、坩堝内の原料を溶融し温度勾配を利用して融液を下端から徐々に固化させて柱状の単結晶を育成する垂直ブリッジマン法による単結晶製造装置に於いて、該坩堝内の融液中に水平に配置された平板部材と、平板部材を融液と結晶との境界に形成される固液界面に対して微小距離を隔てた上方に維持して保持する保持手段とを有することを特徴とする。
本発明によれば、坩堝内の融液中に水平に平板部材を配置し、該平板部材を固液界面に対して微小距離を隔てて保持することにより、該平板部材と固液界面との間では対流が無くなり、その結果、固液界面近傍の温度が安定して、大口径で高品質の単結晶の製造が可能となる。
(実施例1)
図1(a)は、本発明の実施例1に関わる単結晶製造装置の断面図である。図1(a)に於いて、1は炉本体、2は炉本体1内を高温領域1aと低温領域1bに分割する断熱部材、3aは上ヒーター、3bは下ヒーター、4は炉本体1の底を貫通する支持棒、5は支持棒4の上端に取りつけた坩堝、10は平板部材、11は平板部材10の保持手段となる支柱である。支柱11の上端は炉本体1に固定されている。
図1(a)は、本発明の実施例1に関わる単結晶製造装置の断面図である。図1(a)に於いて、1は炉本体、2は炉本体1内を高温領域1aと低温領域1bに分割する断熱部材、3aは上ヒーター、3bは下ヒーター、4は炉本体1の底を貫通する支持棒、5は支持棒4の上端に取りつけた坩堝、10は平板部材、11は平板部材10の保持手段となる支柱である。支柱11の上端は炉本体1に固定されている。
図1(a)の構成に於いて、結晶は次のようにして育成される。先ず、坩堝5に原料を入れ、高温領域1aで溶融する。図1(b)は、炉本体1の上ヒーター3a、下ヒーター3bの鉛直方向に沿った温度分布を示したグラフである。図1(b)に示すように、断熱部材2の位置が融点温度T1になるように、ヒーター3a、3bを制御する。次に坩堝5を高温領域1aから低温領域1bに降下させ、下部の方から結晶化させていく。図1は、この坩堝降下の途中の状態を示しており、6は融液、8は固化した結晶、7は固液界面である。固液界面7の位置は、上記の温度分布によってほぼ一定位置Z1に固定されるので、支柱11の長さを調整して、平板部材10を固液界面7の上方に距離dを保つように保持できる。この平板部材10によって融液6は上下に分断される。
平板部材10の上方の融液では対流9が発生するが、この対流は固液界面7に影響しない。むしろ、対流によって平板部材10が均熱化し、平板部材10の下方の融液の対流を抑制する効果がある。平板部材10の下側では、距離dを小さくするとにより固液界面7との間の融液温度の融点温度に対する増分を低減できる。それは対流の駆動エネルギーの低減を意味し、対流を抑制する。固液界面7に対する対流の影響が無くなると、固液界面近傍の温度が安定する。且つ又、固液界面7における温度勾配は平板部材10の有無に関わらず維持されるので温度擾乱に対する固液界面位置の安定性も維持されている。その結果、大口径で高品質の単結晶の製造が可能となる。
尚、距離dは可能な限り小さくするのが良いが、坩堝降下の過程における固液界面7の位置変動を見越して、固液界面7と平板部材10が接触することがないように支柱11の長さを設定する必要がある。この値は、実験やシミュレーションによって決定可能である。発明者らの検討結果によると、内径250〜350mmの坩堝に対して、d=10〜150mmとするのが良い。
また、平板部材10の上下の融液は流通可能になっていなければならない。その流通経路を確保する方法の1つは、平板部材10の外径と坩堝5の内径の間に隙間を取ることである。発明者らの検討結果によると、内径250〜350mmの坩堝に対して、隙間の大きさは片側50mm以下とするのが良い。流通経路を確保する他の方法として、平板部材10に1つ以上の小穴を設けても良い。
また、平板部材10は静止しているのが望ましいが、融液温度を擾乱させない限りに於いて回転あるいは微小上下動させても構わない。また、融液に触れる部材の材料は高純度カーボンであることが望ましい。また、平板部材10の下面の形状は必ずしも真の平面である必要は無く、図2に示すように上にやや凸、或は図3に示すように周辺部に下向きの小さな段が付いた形状になっていても良い。図2或は図3のような形状にすると、固液界面7の形状を上に凸にする効果がある。
(実施例2)
図4は、本発明の実施例2に関わる単結晶製造装置の断面図である。図4に於いて、20は平板部材、21は平板部材20保持する支柱、22は平板部材20に固定された温度センサー、23は支柱22を上下に駆動する支柱駆動手段、24は温度センサー22の信号を受けて支柱駆動手段23に駆動量を出力する演算手段である。その他の部分は実施例1の図1と同じである。図2の構成に於いて、温度センサー22、演算手段24、支柱駆動手段23はフィードバック制御系を成し、次のように制御される。即ち、温度センサー22は平板部材20の直下の融液温度を検出し、演算手段24は温度センサー22の検出温度が常に融点温度+α(αは微小温度)となるように駆動量を演算してその値を支柱駆動手段23に出力する。固液界面7の近傍では上方に正の温度勾配があるので、平板部材20は固液界面7の僅か上方に維持される。その結果、平板部材20と固液界面7との間の融液の対流が抑制され、固液界面近傍の温度が安定して、大口径で高品質の単結晶の製造が可能となる。第二の実施の形態では、坩堝降下の過程における固液界面7の位置変動に対して、平板部材20の位置が自動補正されるので、固液界面7と平板部材20が接触する危険性が少ない。
図4は、本発明の実施例2に関わる単結晶製造装置の断面図である。図4に於いて、20は平板部材、21は平板部材20保持する支柱、22は平板部材20に固定された温度センサー、23は支柱22を上下に駆動する支柱駆動手段、24は温度センサー22の信号を受けて支柱駆動手段23に駆動量を出力する演算手段である。その他の部分は実施例1の図1と同じである。図2の構成に於いて、温度センサー22、演算手段24、支柱駆動手段23はフィードバック制御系を成し、次のように制御される。即ち、温度センサー22は平板部材20の直下の融液温度を検出し、演算手段24は温度センサー22の検出温度が常に融点温度+α(αは微小温度)となるように駆動量を演算してその値を支柱駆動手段23に出力する。固液界面7の近傍では上方に正の温度勾配があるので、平板部材20は固液界面7の僅か上方に維持される。その結果、平板部材20と固液界面7との間の融液の対流が抑制され、固液界面近傍の温度が安定して、大口径で高品質の単結晶の製造が可能となる。第二の実施の形態では、坩堝降下の過程における固液界面7の位置変動に対して、平板部材20の位置が自動補正されるので、固液界面7と平板部材20が接触する危険性が少ない。
(実施例3)
図5は、実施例3に関わる単結晶製造装置の断面図である。図5に於いて、30は平板部材、31は平板部材30保持する支柱、32は平板部材30に固定されたギャップセンサー、33は支柱32を上下に駆動する支柱駆動手段、34はギャップセンサー32の信号を受けて支柱駆動手段33に駆動量を出力する演算手段である。その他の部分は実施例1の図1と同じである。図5の構成に於いて、ギャップセンサー32、演算手段34、支柱駆動手段33はフィードバック制御系を成し、次のように制御される。即ち、ギャップセンサー32は平板部材30と固液界面7の間隔dを検出し、演算手段34はギャップセンサー32の検出値が一定の微小量となるように駆動量を演算してその値を支柱駆動手段33に出力する。実施例3では、坩堝降下の過程における固液界面7の位置変動に対して、平板部材30の位置が自動補正されるので、固液界面7と平板部材30が接触する危険性が少ない。また、間隔dを直接検出しているため、その値を微小に設定できる。その結果、平板部材30と固液界面7との間の融液の対流が抑制され、固液界面近傍の温度が安定して、大口径で高品質の単結晶の製造が可能となる。
図5は、実施例3に関わる単結晶製造装置の断面図である。図5に於いて、30は平板部材、31は平板部材30保持する支柱、32は平板部材30に固定されたギャップセンサー、33は支柱32を上下に駆動する支柱駆動手段、34はギャップセンサー32の信号を受けて支柱駆動手段33に駆動量を出力する演算手段である。その他の部分は実施例1の図1と同じである。図5の構成に於いて、ギャップセンサー32、演算手段34、支柱駆動手段33はフィードバック制御系を成し、次のように制御される。即ち、ギャップセンサー32は平板部材30と固液界面7の間隔dを検出し、演算手段34はギャップセンサー32の検出値が一定の微小量となるように駆動量を演算してその値を支柱駆動手段33に出力する。実施例3では、坩堝降下の過程における固液界面7の位置変動に対して、平板部材30の位置が自動補正されるので、固液界面7と平板部材30が接触する危険性が少ない。また、間隔dを直接検出しているため、その値を微小に設定できる。その結果、平板部材30と固液界面7との間の融液の対流が抑制され、固液界面近傍の温度が安定して、大口径で高品質の単結晶の製造が可能となる。
(実施例4)
図6は、実施例4に関わる単結晶製造装置の断面図である。図4に於いて、40は内坩堝、41は内坩堝40の底面、42は内坩堝40を保持する支柱である。その他の部分は実施例1の図1と同じである。第四の実施の形態は、坩堝5の内側に内坩堝40を設けたもので、その底面41が、実施例1の平板部材10に相当する。また、図示は無いが、底面41には融液の流通経路として少なくとも1つの小孔が設けられている。第四の実施の形態では、坩堝5の引き下げ過程に於いて、内坩堝40の位置はヒーター3a、3bに対して変わらない。従って、坩堝5の引き下げに伴う内坩堝40の温度変化が少ない。その結果、融液6の温度がより安定するという効果がある。
図6は、実施例4に関わる単結晶製造装置の断面図である。図4に於いて、40は内坩堝、41は内坩堝40の底面、42は内坩堝40を保持する支柱である。その他の部分は実施例1の図1と同じである。第四の実施の形態は、坩堝5の内側に内坩堝40を設けたもので、その底面41が、実施例1の平板部材10に相当する。また、図示は無いが、底面41には融液の流通経路として少なくとも1つの小孔が設けられている。第四の実施の形態では、坩堝5の引き下げ過程に於いて、内坩堝40の位置はヒーター3a、3bに対して変わらない。従って、坩堝5の引き下げに伴う内坩堝40の温度変化が少ない。その結果、融液6の温度がより安定するという効果がある。
1 本体
1a 高温領域
1b 低温領域
2 断熱部材
3a 上ヒーター
3b 下ヒーター
4 支持棒
5 坩堝
6 融液
7 固液界面
8 結晶
9 対流
10 平板部材
11 支柱
20 平板部材
21 支柱
22 温度センサー
23 支柱駆動手段
24 演算手段
30 平板部材
31 支柱
32 ギャップセンサー
33 支柱駆動手段
34 演算手段
40 内坩堝
41 内坩堝底面
42 支柱
1a 高温領域
1b 低温領域
2 断熱部材
3a 上ヒーター
3b 下ヒーター
4 支持棒
5 坩堝
6 融液
7 固液界面
8 結晶
9 対流
10 平板部材
11 支柱
20 平板部材
21 支柱
22 温度センサー
23 支柱駆動手段
24 演算手段
30 平板部材
31 支柱
32 ギャップセンサー
33 支柱駆動手段
34 演算手段
40 内坩堝
41 内坩堝底面
42 支柱
Claims (2)
- 坩堝内の原料を溶融した融液を下端から徐々に固化させて柱状の単結晶を育成する垂直ブリッジマン法による単結晶製造方法に於いて、該坩堝内の融液中に水平に平板部材を配置し、且つ該平板部材を、該融液と結晶との境界に形成される固液界面に対して微小距離に維持しながら単結晶を育成することを特徴とする単結晶製造方法。
- 坩堝内の原料を溶融し温度勾配を利用して融液を下端から徐々に固化させて柱状の単結晶を育成する垂直ブリッジマン法による単結晶製造装置に於いて、該坩堝内の融液中に水平に配置された平板部材と、該平板部材が該融液と結晶との境界に形成される固液界面に対して常に微小距離を隔てた上方に維持されるように保持する保持手段とを有することを特徴とする単結晶製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003370642A JP2005132676A (ja) | 2003-10-30 | 2003-10-30 | 単結晶製造方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003370642A JP2005132676A (ja) | 2003-10-30 | 2003-10-30 | 単結晶製造方法及び装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005132676A true JP2005132676A (ja) | 2005-05-26 |
Family
ID=34647597
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003370642A Withdrawn JP2005132676A (ja) | 2003-10-30 | 2003-10-30 | 単結晶製造方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005132676A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115216831A (zh) * | 2022-07-15 | 2022-10-21 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 一种可控温度梯度的晶体生长装置及方法 |
-
2003
- 2003-10-30 JP JP2003370642A patent/JP2005132676A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN115216831A (zh) * | 2022-07-15 | 2022-10-21 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 一种可控温度梯度的晶体生长装置及方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20070109 |