JP2005127794A - 電子部品の測定治具及び電子部品の測定方法 - Google Patents
電子部品の測定治具及び電子部品の測定方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】基板11と、基板11上に、その各辺に沿って配置して設けられた複数のピンプローブ12、13と、これらのピンプローブ12、13に囲まれた突起部14とを備えている。
【選択図】図1
Description
11、31 基板(治具本体)
12、13 ピンプローブ(測定用電極)
14、34 突起部
20 電子部品
22、23 外部電極
32、33 測定用電極(金属電極)
35 異方導電性ゴム
Claims (8)
- 治具本体と、この治具本体に、電子部品の複数の外部電極に対応して設けられた複数の測定用電極とを備え、上記電子部品の電気的特性を測定する際に、上記電子部品に押圧力を付与して上記複数の外部電極と上記複数の測定用電極とを電気的に接触させるために用いられる電子部品の測定治具であって、上記複数の測定用電極を上記押圧力の付与方向に収縮自在に構成すると共に、上記複数の測定用電極の収縮時に上記電子部品と面接触する突起部を上記治具本体に設けたことを特徴とする電子部品の測定治具。
- 上記突起部は、上記電子部品の中央部に接触する位置に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の電子部品の測定治具。
- 上記突起部は、上記電子部品と接触する部分を複数箇所に有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の電子部品の測定治具。
- 上記突起部は、金属または樹脂によって形成されたことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の電子部品の測定治具。
- 上記突起部は、金属によって形成され且つ接地されていることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の電子部品の測定治具。
- 上記各測定用電極は、それぞれピンプローブからなることを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載の電子部品の測定治具。
- 上記各測定用電極は、それぞれ金属電極と異方導電性ゴムとを有することを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載の電子部品の測定治具。
- 請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載の測定治具を用いて電子部品の電気的特性を測定する方法であって、上記電子部品の複数の外部電極と上記測定治具の収縮可能な複数の測定用電極とを接触させた後、上記電子部品を押圧して上記電子部品と上記測定治具の突起部とを面接触させることを特徴とする電子部品の測定方法。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009001731A1 (ja) * | 2007-06-22 | 2008-12-31 | Nhk Spring Co., Ltd. | 導電性接触子ホルダおよび導電性接触子ユニット |
JP2014006097A (ja) * | 2012-06-22 | 2014-01-16 | Advantest Corp | ソケット、トレイ、基板組立体、及び電子部品試験装置 |
CN111751583A (zh) * | 2019-03-27 | 2020-10-09 | 旺矽科技股份有限公司 | 探针头及探针卡 |
-
2003
- 2003-10-22 JP JP2003362016A patent/JP2005127794A/ja active Pending
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US11733267B2 (en) | 2019-03-27 | 2023-08-22 | Mpi Corporation | Probe head and probe card |
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