JP2005116734A - 基板処理装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】基板処理装置において搬送時の衝突等の回避等や、搬送異常の原因特定を速やか
に特定できることを目的とする。
【解決手段】基板処理装置に、基板保持具に複数枚の基板を垂直方向に積層して処理する
処理室と、前記処理室を加熱する加熱手段と、前記基板を搬送する基板搬送手段と該基板
を収納する基板収納容器と前記基板収納容器を搬送する基板収納容器搬送手段と
前記基板の位置あるいは形状状態情報を得られる画像情報取得手段と該画像情報取得手段
から得られた状態情報を保存する画像保存部とを備えた。
【選択図】図4
に特定できることを目的とする。
【解決手段】基板処理装置に、基板保持具に複数枚の基板を垂直方向に積層して処理する
処理室と、前記処理室を加熱する加熱手段と、前記基板を搬送する基板搬送手段と該基板
を収納する基板収納容器と前記基板収納容器を搬送する基板収納容器搬送手段と
前記基板の位置あるいは形状状態情報を得られる画像情報取得手段と該画像情報取得手段
から得られた状態情報を保存する画像保存部とを備えた。
【選択図】図4
Description
本発明は、基板(半導体ウエハやガラス基板等、以下ウエハという)を熱処理や成膜処
理をするための基板処理装置に係り、ウエハ及びウエハを収納する基板収納容器(以下ポ
ッドという)の位置あるいは形状状態情報を備えている基板処理装置に関する。
理をするための基板処理装置に係り、ウエハ及びウエハを収納する基板収納容器(以下ポ
ッドという)の位置あるいは形状状態情報を備えている基板処理装置に関する。
近年、半導体デバイスの製造工程では、例えば熱拡散工程やアニール工程やCVD処理
工程で使用される基板処理装置としては、縦型熱処理装置や枚葉式の熱処理装置が主流と
なっている。その中で縦型熱処理装置は、複数のシリコン等のウエハを熱処理やCVD処
理等する処理装置を形成し、特にCVD処理装置は、ウエハを保持する基板保持具(以下
ボートという)、ボートと同心状に内管(以下インナーチューブという)、外管(以下ア
ウターチューブという)、加熱源としての加熱手段(以下ヒータという)を有するものが
知られている。
工程で使用される基板処理装置としては、縦型熱処理装置や枚葉式の熱処理装置が主流と
なっている。その中で縦型熱処理装置は、複数のシリコン等のウエハを熱処理やCVD処
理等する処理装置を形成し、特にCVD処理装置は、ウエハを保持する基板保持具(以下
ボートという)、ボートと同心状に内管(以下インナーチューブという)、外管(以下ア
ウターチューブという)、加熱源としての加熱手段(以下ヒータという)を有するものが
知られている。
前記した縦型熱処理装置においては、複数枚のウエハがボートによって長く整列されてい
た状態でアウターチューブ内に下端の炉口から搬入(ボートローディング)され、アウタ
ーチューブ内に原料ガスが導入されるとともに、ヒータによって内部が加熱されることに
より、ウエハにCVD成膜処理が施される。
た状態でアウターチューブ内に下端の炉口から搬入(ボートローディング)され、アウタ
ーチューブ内に原料ガスが導入されるとともに、ヒータによって内部が加熱されることに
より、ウエハにCVD成膜処理が施される。
前記した縦型熱処理装置を用いて、ウエハ及びポッドを搬送する際、ウエハやボートなど
が所定の位置からずれていても搬送ロボットはずれを認識することが出来ないため、その
まま搬送作業を続けた結果、衝突などを起こしウエハやボート、基板載置具(以下ツイー
ザという)を破損させることがある。また、搬送作業において、異常発生、トラブル発生
時には、搬送状態を記録したログ情報や他の装置情報を収集して原因特定を行う必要があ
るため、作業者の経験に頼る部分が大きく、非常に時間がかかってしまっていた。
が所定の位置からずれていても搬送ロボットはずれを認識することが出来ないため、その
まま搬送作業を続けた結果、衝突などを起こしウエハやボート、基板載置具(以下ツイー
ザという)を破損させることがある。また、搬送作業において、異常発生、トラブル発生
時には、搬送状態を記録したログ情報や他の装置情報を収集して原因特定を行う必要があ
るため、作業者の経験に頼る部分が大きく、非常に時間がかかってしまっていた。
本発明の目的は、上記事情を考慮し、搬送時の衝突等の回避等や、搬送異常の原因を速や
かに特定できるようにした機能を備えた基板処理装置を提供することを目的とする。
かに特定できるようにした機能を備えた基板処理装置を提供することを目的とする。
本発明に係る基板処理装置は、基板保持具に複数枚の基板を垂直方向に積層して処理する
処理室と、前記処理室を加熱する加熱手段と、前記基板を搬送する基板搬送手段と前記基
板を収納する基板収納容器と該基板収納容器を搬送する基板収納容器搬送手段と
前記基板の位置あるいは形状状態情報を得られる画像情報取得手段と該画像情報取得手段
から得られた状態情報を保存する画像保存部とを備えていることを特徴とする。
処理室と、前記処理室を加熱する加熱手段と、前記基板を搬送する基板搬送手段と前記基
板を収納する基板収納容器と該基板収納容器を搬送する基板収納容器搬送手段と
前記基板の位置あるいは形状状態情報を得られる画像情報取得手段と該画像情報取得手段
から得られた状態情報を保存する画像保存部とを備えていることを特徴とする。
本発明においては、搬送異常発生時には、画像情報取得手段から得られた位置あるいは形
状状態情報が画像保存部に保存されているため、保存された画像にて状況を確認できる。
簡単に状況を確認できることにより、ため、経験が浅い作業者でも容易に原因特定を行う
ができ、原因特定に掛かる時間を短くすることができる。
好適には、搬送ロボットが常に周囲の状況を確認しながら搬送を行うため、搬送時のトラ
ブルがなくなる。それにより、ウエハやボート、ツイーザなどの破損がなくなり、生産性
が向上する。
好適には、搬送ロボット自体にカメラ(CCDカメラ等)を設置するため、被写体となるウ
エハが搬送ロボットに載置されている場合にも搬送ロボットおよびウエハと同様に動作す
ることができる。それにより、例えば筐体等の非動作部に固定し、さまざまな角度から画
像を得る方法に比べ、カメラの数を減らすことができる。
状状態情報が画像保存部に保存されているため、保存された画像にて状況を確認できる。
簡単に状況を確認できることにより、ため、経験が浅い作業者でも容易に原因特定を行う
ができ、原因特定に掛かる時間を短くすることができる。
好適には、搬送ロボットが常に周囲の状況を確認しながら搬送を行うため、搬送時のトラ
ブルがなくなる。それにより、ウエハやボート、ツイーザなどの破損がなくなり、生産性
が向上する。
好適には、搬送ロボット自体にカメラ(CCDカメラ等)を設置するため、被写体となるウ
エハが搬送ロボットに載置されている場合にも搬送ロボットおよびウエハと同様に動作す
ることができる。それにより、例えば筐体等の非動作部に固定し、さまざまな角度から画
像を得る方法に比べ、カメラの数を減らすことができる。
本発明の基板処理装置の構成を図面を用いて説明する。尚、以下の説明では、基板処理装
置として基板にCVD処理などを行う縦型の装置(以下、単に処理装置とも表す)を適用
した場合について述べる。図1は、本発明に適用される一例である処理装置の外観斜視図
である。尚、この図は透視図として描かれている。また、図2は本発明に適用される一例
である図1に示す処理装置の側面図である。また、図3は本発明に適用される一例となる
図1に示す処理装置のCVD処理装置断面側面図である。また、図4は本発明に適用され
る一例となる図1に示す処理装置のシステム構成図である。
置として基板にCVD処理などを行う縦型の装置(以下、単に処理装置とも表す)を適用
した場合について述べる。図1は、本発明に適用される一例である処理装置の外観斜視図
である。尚、この図は透視図として描かれている。また、図2は本発明に適用される一例
である図1に示す処理装置の側面図である。また、図3は本発明に適用される一例となる
図1に示す処理装置のCVD処理装置断面側面図である。また、図4は本発明に適用され
る一例となる図1に示す処理装置のシステム構成図である。
本発明の基板処理装置は、シリコン等からなるウエハ200を収納したポッド100を、
外部から筐体101内へ挿入するため、およびその逆に筐体101内から外部へ払出すた
めのI/Oステージ(保持具授受部材)105が筐体101の前面に付設され、筐体10
1内には挿入されたポッド100を保管するためのカセット棚(載置手段)109が敷設
されている。また、ウエハ200の搬送エリアであり、後述のボート217のローディン
グ、アンローディング空間となるN2パージ室(気密室)102が設けられている。ウエ
ハ200に処理を行うときのN2パージ室102の内部は、ウエハ200の自然酸化膜を
防止するためにN2ガスなどの不活性ガスが充満されるように、N2パージ室102は密
閉容器となっている。
外部から筐体101内へ挿入するため、およびその逆に筐体101内から外部へ払出すた
めのI/Oステージ(保持具授受部材)105が筐体101の前面に付設され、筐体10
1内には挿入されたポッド100を保管するためのカセット棚(載置手段)109が敷設
されている。また、ウエハ200の搬送エリアであり、後述のボート217のローディン
グ、アンローディング空間となるN2パージ室(気密室)102が設けられている。ウエ
ハ200に処理を行うときのN2パージ室102の内部は、ウエハ200の自然酸化膜を
防止するためにN2ガスなどの不活性ガスが充満されるように、N2パージ室102は密
閉容器となっている。
上述したポッド100としては、現在FOUPというタイプが主流で使用されており、ポ
ッド100の一側面に設けられた開口部を蓋体(図示せず)で塞ぐことで大気からウエハ
200を隔離して搬送でき、蓋体を取り去る事でポッド100内へウエハ200を入出さ
せることができる。このポッド100の蓋体を取外し、ポッド内の雰囲気とN2パージ室
102の雰囲気とを連通させるために、N2パージ室102の前面側には、ポッドオープ
ナ(開閉手段)108が設けられている。ポッドオープナ108、カセット棚109、お
よびI/Oステージ105間のポッド100の搬送は、カセット移載機114(基板収容
容器搬送手段)によって行なわれる。このカセット移載機114によるポッド100の搬
送空間には、筐体101に設けられたクリーンユニット(図示せず)によって清浄化した
空気をフローさせるようにしている。さらに、カセット移載機114には、ポッド100
がカセット移載機114に載置されるおよび載置状態および手放す状態の画像を得る、保
存できる位置にカメラ300が設置されている。
ッド100の一側面に設けられた開口部を蓋体(図示せず)で塞ぐことで大気からウエハ
200を隔離して搬送でき、蓋体を取り去る事でポッド100内へウエハ200を入出さ
せることができる。このポッド100の蓋体を取外し、ポッド内の雰囲気とN2パージ室
102の雰囲気とを連通させるために、N2パージ室102の前面側には、ポッドオープ
ナ(開閉手段)108が設けられている。ポッドオープナ108、カセット棚109、お
よびI/Oステージ105間のポッド100の搬送は、カセット移載機114(基板収容
容器搬送手段)によって行なわれる。このカセット移載機114によるポッド100の搬
送空間には、筐体101に設けられたクリーンユニット(図示せず)によって清浄化した
空気をフローさせるようにしている。さらに、カセット移載機114には、ポッド100
がカセット移載機114に載置されるおよび載置状態および手放す状態の画像を得る、保
存できる位置にカメラ300が設置されている。
N2パージ室102の内部には、複数のウエハ200を多段に積載するボート217と、
ウエハ200のノッチ(又はオリエンテーションフラット)の位置を任意の位置に合わせ
る基板位置合わせ装置106と、ポッドオープナ108上のポッド100と基板位置合わ
せ装置106とボート217との間でウエハ200の搬送を行うウエハ移載機(基板搬送
手段)112とが設けられている。また、N2パージ室102の上部にはウエハ200を
処理するための処理炉202が設けられており、ボート217はボートエレベータ(昇降
手段)115によって処理炉202へローディング、又は処理炉202からアンローディ
ングすることができる。これら、I/Oステージ105やカセット移載機114ポッドオ
ープナ108等の搬送ロボット9は、駆動制御部(搬送コントロール部3)(図3)によ
り制御する。さらに、ウエハ移載機112には、ウエハ200がツイーザ264に載置さ
れるおよび載置状態および手放す状態の画像を得る、保存できる位置にカメラ300が設
置されている。このカメラ300はそれぞれのツイーザ264に載置されているウエハ2
00の状態およびウエハ200を受け渡しする対象となるボート217やポッド100の
位置および形状の状態の画像を得るように設置されるのが好ましい。尚、本実施形態では
、ツイーザ264の枚数は5枚となっているが、それぞれについて、個々に対応するよう
、同数のカメラ300を設置するようにすることが好ましいが、5枚分を1つのカメラ3
00で対応させてもよいし、5枚分をその動きに合わせて、分け、同様の動きをするツイ
ーザ264は同じカメラ300を用いるようにしてもよい。
ウエハ200のノッチ(又はオリエンテーションフラット)の位置を任意の位置に合わせ
る基板位置合わせ装置106と、ポッドオープナ108上のポッド100と基板位置合わ
せ装置106とボート217との間でウエハ200の搬送を行うウエハ移載機(基板搬送
手段)112とが設けられている。また、N2パージ室102の上部にはウエハ200を
処理するための処理炉202が設けられており、ボート217はボートエレベータ(昇降
手段)115によって処理炉202へローディング、又は処理炉202からアンローディ
ングすることができる。これら、I/Oステージ105やカセット移載機114ポッドオ
ープナ108等の搬送ロボット9は、駆動制御部(搬送コントロール部3)(図3)によ
り制御する。さらに、ウエハ移載機112には、ウエハ200がツイーザ264に載置さ
れるおよび載置状態および手放す状態の画像を得る、保存できる位置にカメラ300が設
置されている。このカメラ300はそれぞれのツイーザ264に載置されているウエハ2
00の状態およびウエハ200を受け渡しする対象となるボート217やポッド100の
位置および形状の状態の画像を得るように設置されるのが好ましい。尚、本実施形態では
、ツイーザ264の枚数は5枚となっているが、それぞれについて、個々に対応するよう
、同数のカメラ300を設置するようにすることが好ましいが、5枚分を1つのカメラ3
00で対応させてもよいし、5枚分をその動きに合わせて、分け、同様の動きをするツイ
ーザ264は同じカメラ300を用いるようにしてもよい。
次に、本発明の処理装置の動作について説明する。
先ず、AGVやOHTなどにより筐体101の外部から搬送されてきたポッド100は
、I/Oステージ105に載置される。I/Oステージ105に載置されたポッド100
は、カセット移載機114によって、直接ポッドオープナ108上に搬送されるか、また
は、一旦カセット棚109にストックされた後にポッドオープナ108上に搬送される。
この祭、カセット移載機114取付けられたカメラ300が、ポッド100の状態の画像
を得て、カメラ部8、画像保存部7に画像データを送る。ポッドオープナ108上に搬送
されたポッド100は、ポッドオープナ108によってポッド100の蓋体を取外され、
ポッド100の内部雰囲気がN2パージ室102の雰囲気と連通される。
先ず、AGVやOHTなどにより筐体101の外部から搬送されてきたポッド100は
、I/Oステージ105に載置される。I/Oステージ105に載置されたポッド100
は、カセット移載機114によって、直接ポッドオープナ108上に搬送されるか、また
は、一旦カセット棚109にストックされた後にポッドオープナ108上に搬送される。
この祭、カセット移載機114取付けられたカメラ300が、ポッド100の状態の画像
を得て、カメラ部8、画像保存部7に画像データを送る。ポッドオープナ108上に搬送
されたポッド100は、ポッドオープナ108によってポッド100の蓋体を取外され、
ポッド100の内部雰囲気がN2パージ室102の雰囲気と連通される。
次に、ウエハ搬送機112によって、N2パージ室102の雰囲気と連通した状態のポ
ッド100内からウエハ200を取出す。この祭、ウエハ搬送機112に取付けられたカ
メラ300が、ウエハ200の状態の画像を得て、カメラ部8、画像保存部7に画像デー
タを送る。取出されたウエハ200は、基板位置合わせ装置106によって任意の位置に
ノッチが定まる様に位置合わせが行なわれ、位置合わせ後、ボート217へ搬送される。
ッド100内からウエハ200を取出す。この祭、ウエハ搬送機112に取付けられたカ
メラ300が、ウエハ200の状態の画像を得て、カメラ部8、画像保存部7に画像デー
タを送る。取出されたウエハ200は、基板位置合わせ装置106によって任意の位置に
ノッチが定まる様に位置合わせが行なわれ、位置合わせ後、ボート217へ搬送される。
ボート217へのウエハ200の搬送が完了させる。この祭、ウエハ搬送機112に取
付けられたカメラ300が、ウエハ200の状態の画像を得て、カメラ部8、画像保存部
7に画像データを送る。その後、処理室201の炉口シャッタ116を開けて、ボートエ
レベータ115によりウエハ200を搭載したボート217をローディングする。
ローディング後は、処理炉202にてウエハ200に任意の処理が実施され、処理後は上
述の逆の手順で、ウエハ200およびポッド100は筐体101の外部へ払出される。
付けられたカメラ300が、ウエハ200の状態の画像を得て、カメラ部8、画像保存部
7に画像データを送る。その後、処理室201の炉口シャッタ116を開けて、ボートエ
レベータ115によりウエハ200を搭載したボート217をローディングする。
ローディング後は、処理炉202にてウエハ200に任意の処理が実施され、処理後は上
述の逆の手順で、ウエハ200およびポッド100は筐体101の外部へ払出される。
次に図3に示した減圧CVD処理装置について説明する。アウターチューブ205は例え
ば石英(SiO2)等の耐熱性材料からなり、上端が閉塞され、下端に開口を有する円筒
状の形態である。インナーチューブ204は、上端及び下端の両端に開口を有する円筒状
の形態を有し、アウターチューブ205内に同心円状に配置されている。アウターチュー
ブ205とインナーチューブ204の間の空間は筒状空間250を成す。インナーチュー
ブ204の上部開口から上昇したガスは、筒状空間250を通過して排気管231から排
気されるようになっている。
ば石英(SiO2)等の耐熱性材料からなり、上端が閉塞され、下端に開口を有する円筒
状の形態である。インナーチューブ204は、上端及び下端の両端に開口を有する円筒状
の形態を有し、アウターチューブ205内に同心円状に配置されている。アウターチュー
ブ205とインナーチューブ204の間の空間は筒状空間250を成す。インナーチュー
ブ204の上部開口から上昇したガスは、筒状空間250を通過して排気管231から排
気されるようになっている。
アウターチューブ205およびインナーチューブ204の下端には、例えばステンレス等
よりなるマニホールド209が係合され、このマニホールド209にアウターチューブ2
05およびインナーチューブ204が保持されている。このマニホールド209は保持手
段(以下ヒータベース251)に固定される。アウターチューブ205の下端部およびマ
ニホールド209の上部開口端部には、それぞれ環状のフランジが設けられ、これらのフ
ランジ間には気密部材(以下Oリング220)が配置され、両者の間が気密にシールされ
ている。
よりなるマニホールド209が係合され、このマニホールド209にアウターチューブ2
05およびインナーチューブ204が保持されている。このマニホールド209は保持手
段(以下ヒータベース251)に固定される。アウターチューブ205の下端部およびマ
ニホールド209の上部開口端部には、それぞれ環状のフランジが設けられ、これらのフ
ランジ間には気密部材(以下Oリング220)が配置され、両者の間が気密にシールされ
ている。
マニホールド209の下端開口部には、例えばステンレス等よりなる円盤状の蓋体(以下
シールキャップ219)がOリング220を介して気密シール可能に着脱自在に取付けら
れている。シールキャップ219には、ガスの供給管232が貫通するよう設けられてい
る。これらのガスの供給管232により、処理用のガスがアウターチューブ205内に供
給されるようになっている。これらのガスの供給管232はガスの流量制御手段(以下マ
スフローコントローラ(MFC)241)に連結されており、MFC241はガス流量制
御部(ガス流量コントロール部5)に接続されており、供給するガスの流量を所定の量に
制御し得る。
シールキャップ219)がOリング220を介して気密シール可能に着脱自在に取付けら
れている。シールキャップ219には、ガスの供給管232が貫通するよう設けられてい
る。これらのガスの供給管232により、処理用のガスがアウターチューブ205内に供
給されるようになっている。これらのガスの供給管232はガスの流量制御手段(以下マ
スフローコントローラ(MFC)241)に連結されており、MFC241はガス流量制
御部(ガス流量コントロール部5)に接続されており、供給するガスの流量を所定の量に
制御し得る。
マニホールド209の上部には、圧力調節器(例えばAPC、N2バラスト制御器があり
、以下ここではAPC242とする)及び、排気装置(以下真空ポンプ246)に連結さ
れたガスの排気管231が接続されており、アウターチューブ205とインナーチューブ
204との間の筒状空間250を流れるガスを排出し、アウターチューブ205内をAP
C242により圧力を制御することにより、所定の圧力の減圧雰囲気にするよう圧力検出
手段(以下圧力センサ245)により検出し、圧力制御部(圧力コントロール部6)によ
り制御する。
、以下ここではAPC242とする)及び、排気装置(以下真空ポンプ246)に連結さ
れたガスの排気管231が接続されており、アウターチューブ205とインナーチューブ
204との間の筒状空間250を流れるガスを排出し、アウターチューブ205内をAP
C242により圧力を制御することにより、所定の圧力の減圧雰囲気にするよう圧力検出
手段(以下圧力センサ245)により検出し、圧力制御部(圧力コントロール部6)によ
り制御する。
シールキャップ219には、回転手段(以下回転軸254)が連結されており、回転軸2
54により、ボート217及びボート217上に保持されているウエハ200を回転させ
る。又、シールキャップ219はボートエレベータ115に連結されていて、ボート21
7を昇降させる。回転軸254、及びボートエレベータ115などの搬送ロボット9等は
所定のスピードにするように、駆動制御部(搬送コントロール部3)により制御する。
54により、ボート217及びボート217上に保持されているウエハ200を回転させ
る。又、シールキャップ219はボートエレベータ115に連結されていて、ボート21
7を昇降させる。回転軸254、及びボートエレベータ115などの搬送ロボット9等は
所定のスピードにするように、駆動制御部(搬送コントロール部3)により制御する。
アウターチューブ205の外周にはヒータ207が同心円状に配置されている。ヒータ2
07は、アウターチューブ205内の温度を所定の処理温度にするよう温度検出手段(以
下熱電対263)により温度を検出し、温度制御部(温度コントロール部4)により制御す
る。
07は、アウターチューブ205内の温度を所定の処理温度にするよう温度検出手段(以
下熱電対263)により温度を検出し、温度制御部(温度コントロール部4)により制御す
る。
次に、図3に示した処理装置による減圧CVD処理方法の一例を説明すると、まず、ボー
トエレベータ115によりボート217を下降させる。ボート217に複数枚のウエハ2
00を保持する。次いで、ヒータ207により加熱しながら、アウターチューブ205内
の温度を所定の処理温度にする。ガスの供給管232に接続されたMFC241により予
めアウターチューブ205内を不活性ガスで充填しておき、ボートエレベータ115によ
り、ボート217を上昇させてアウターチューブ205内に移し、アウターチューブ20
5の内部温度を所定の処理温度に維持する。アウターチューブ205内を所定の真空状態
まで排気した後、回転軸254により、ボート217及びボート217上に保持されてい
るウエハ200を回転させる。同時にガスの供給管232から処理用のガスを供給する。
供給されたガスは、アウターチューブ205内を上昇し、ウエハ200に対して均等に供
給される。
トエレベータ115によりボート217を下降させる。ボート217に複数枚のウエハ2
00を保持する。次いで、ヒータ207により加熱しながら、アウターチューブ205内
の温度を所定の処理温度にする。ガスの供給管232に接続されたMFC241により予
めアウターチューブ205内を不活性ガスで充填しておき、ボートエレベータ115によ
り、ボート217を上昇させてアウターチューブ205内に移し、アウターチューブ20
5の内部温度を所定の処理温度に維持する。アウターチューブ205内を所定の真空状態
まで排気した後、回転軸254により、ボート217及びボート217上に保持されてい
るウエハ200を回転させる。同時にガスの供給管232から処理用のガスを供給する。
供給されたガスは、アウターチューブ205内を上昇し、ウエハ200に対して均等に供
給される。
減圧CVD処理中のアウターチューブ205内は、排気管231を介して排気され、所定
の真空になるようAPC242により圧力が制御され、所定時間減圧CVD処理を行う。
の真空になるようAPC242により圧力が制御され、所定時間減圧CVD処理を行う。
このようにして減圧CVD処理が終了すると、次のウエハ200の減圧CVD処理に移る
べく、アウターチューブ205内のガスを不活性ガスで置換するとともに、圧力を常圧に
し、その後、ボートエレベータ115によりボート217を下降させて、ボート217及
び処理済のウエハ200をアウターチューブ205から取出す。アウターチューブ205
から取出されたボート217上の処理済のウエハ200は、未処理のウエハ200と交換
され、再度前述同様にしてアウターチューブ205内に上昇され、減圧CVD処理が成さ
れる。
べく、アウターチューブ205内のガスを不活性ガスで置換するとともに、圧力を常圧に
し、その後、ボートエレベータ115によりボート217を下降させて、ボート217及
び処理済のウエハ200をアウターチューブ205から取出す。アウターチューブ205
から取出されたボート217上の処理済のウエハ200は、未処理のウエハ200と交換
され、再度前述同様にしてアウターチューブ205内に上昇され、減圧CVD処理が成さ
れる。
なお、一例まで、本実施例のCVD装置にて処理される処理条件は、Si3N4膜の成膜
において、ウエハ温度750度、処理用のガスの種類および供給量はNH3を800SC
CM、SiH2CL2を80SCCM、インナーチューブ204のガス導入部30への不
活性ガスのガス種および供給量はN2を500SCCMとし、処理圧力は40Paである
。
において、ウエハ温度750度、処理用のガスの種類および供給量はNH3を800SC
CM、SiH2CL2を80SCCM、インナーチューブ204のガス導入部30への不
活性ガスのガス種および供給量はN2を500SCCMとし、処理圧力は40Paである
。
次に図4にシステムの構成を示す。メインコントローラ1は、タッチパネルなどの表示お
よび入力手段を持ち、ユーザに対し装置情報表示機能および装置へのデータ入力機能を提
供する。サブコントロール部には、カメラ300から得た情報を処理し、保存されている
正常な装置状況の画像と比較する画像処理部2、搬送制御を担当とする搬送コントローラ
部3、温度制御を担当する温度コントロール部4、ガス流量制御を担当するガス流量コン
トロール部5、圧力制御を担当する圧力コントロール部6がある。さらにカメラ300を
有するカセット搬送ロボット(カセット移載機114(基板収容器搬送手段))とウエハ搬
送ロボット(ウエハ移載機112(基板搬送手段))、(これらカセット移載機114及
びウエハ搬送ロボットを、搬送ロボット9と称する。)搬送ロボット9に付けられたカメ
ラ300から得られた情報を保存する画像保存部7からなる。カメラ300は振動を伴う
搬送ロボットに取付けるため、手ぶれ防止機能を有するカメラとする。
よび入力手段を持ち、ユーザに対し装置情報表示機能および装置へのデータ入力機能を提
供する。サブコントロール部には、カメラ300から得た情報を処理し、保存されている
正常な装置状況の画像と比較する画像処理部2、搬送制御を担当とする搬送コントローラ
部3、温度制御を担当する温度コントロール部4、ガス流量制御を担当するガス流量コン
トロール部5、圧力制御を担当する圧力コントロール部6がある。さらにカメラ300を
有するカセット搬送ロボット(カセット移載機114(基板収容器搬送手段))とウエハ搬
送ロボット(ウエハ移載機112(基板搬送手段))、(これらカセット移載機114及
びウエハ搬送ロボットを、搬送ロボット9と称する。)搬送ロボット9に付けられたカメ
ラ300から得られた情報を保存する画像保存部7からなる。カメラ300は振動を伴う
搬送ロボットに取付けるため、手ぶれ防止機能を有するカメラとする。
搬送ロボット9に取付けられたカメラから得た情報は画像保存部7において保存されると
同時に、画像処理部2にてリアルタイムで画像処理され、対象となるウエハ、ウエハを格
納しているポッド、カセットやボートなどの位置を決定する。決定された位置情報を搬送
コントロール部3に送り、搬送ロボット9の制御を行う。ロボットの動作可能範囲では調
節が困難な大きなウエハずれやボート位置のずれ、障害物等の存在が認められた時は速や
かに動作を止め、その旨のタッチパネルなどの表示手段を通じユーザに通知する。
同時に、画像処理部2にてリアルタイムで画像処理され、対象となるウエハ、ウエハを格
納しているポッド、カセットやボートなどの位置を決定する。決定された位置情報を搬送
コントロール部3に送り、搬送ロボット9の制御を行う。ロボットの動作可能範囲では調
節が困難な大きなウエハずれやボート位置のずれ、障害物等の存在が認められた時は速や
かに動作を止め、その旨のタッチパネルなどの表示手段を通じユーザに通知する。
さらにメインコントローラ1は外部I/F機能を内部に備え、例えば、信号ケーブル接続
やLAN(ローカルエリアネットワーーク)やインターネット等を介し、外部との接続が
可能となっている。これにより、例えば、同種の基板処理装置を複数台ある場合に集中監
視システムとして監視することも可能となり、例えばユーザからバイヤー(装置について
より詳しい者等)に対してインターネット等の回線を通じて画像を送受信し、瞬時により
経験の深い者によって、トラブル原因を特定することもできる。
また、何らかの搬送トラブルが発生した際には画像保存部に保存されている画像を再生し
、搬送ロボットの視点から見た搬送状態を確認、トラブルの原因を特定することができる
。
尚、搬送ロボットは、カセット搬送ロボットとウエハ搬送ロボットについて説明したが、
本発明の実施形態は、これに限らず、被写体が動く際に被写体と同様に動作可能な搬送ロ
ボットにカメラを設置すればよく、それにより同様の効果を奏する事が出来る。
やLAN(ローカルエリアネットワーーク)やインターネット等を介し、外部との接続が
可能となっている。これにより、例えば、同種の基板処理装置を複数台ある場合に集中監
視システムとして監視することも可能となり、例えばユーザからバイヤー(装置について
より詳しい者等)に対してインターネット等の回線を通じて画像を送受信し、瞬時により
経験の深い者によって、トラブル原因を特定することもできる。
また、何らかの搬送トラブルが発生した際には画像保存部に保存されている画像を再生し
、搬送ロボットの視点から見た搬送状態を確認、トラブルの原因を特定することができる
。
尚、搬送ロボットは、カセット搬送ロボットとウエハ搬送ロボットについて説明したが、
本発明の実施形態は、これに限らず、被写体が動く際に被写体と同様に動作可能な搬送ロ
ボットにカメラを設置すればよく、それにより同様の効果を奏する事が出来る。
前記実施の形態ではバッチ式縦形ホットウオール形減圧CVD装置に適用した場合につ
いて説明したが、それに限定されるものではなく、横形ホットウオール形減圧CVD装置
および他の熱処理装置(furnace )等の半導体製造装置全般に適用することができる。
いて説明したが、それに限定されるものではなく、横形ホットウオール形減圧CVD装置
および他の熱処理装置(furnace )等の半導体製造装置全般に適用することができる。
1 メインコントローラ
2 画像処理部
3 搬送コントロール部
4 温度コントロール部
5 ガス流量コントロール部
6 圧力コントロール部
7 画像保存部
9 搬送ロボット
100 ポッド(基板収納容器)
101 筐体
102 N2パージ室(密閉室)
105 I/Oステージ(保持具授受部材)
106 基板位置合わせ装置
108 ポッドオープナ(開閉手段)
109 カセット棚
112 ウエハ移載機(搬送手段)
114 カセット移載機
115 ボートエレベータ(昇降手段)
116 炉口シャッタ
200 ウエハ(基板)
202 処理炉
204 内管(インナーチューブ)
205 外管(アウターチューブ)
207 加熱手段(ヒータ)
209マニホールド
217 ボート(基板保持手段)
219 蓋体(シールキャップ)
220 気密部材(Oリング)
231 排気管
232 供給管
241 流量調整手段(マスフローコントローラ(MFC))
242 圧力調整器(APC)
245 圧力検出手段(圧力センサ)
246 排気装置(真空ポンプ)
250 筒状空間
251 保持手段(ヒータベース)
254 回転手段(回転軸)
263 温度検出手段(熱電対)
264 ツイーザ(基板載置具)
2 画像処理部
3 搬送コントロール部
4 温度コントロール部
5 ガス流量コントロール部
6 圧力コントロール部
7 画像保存部
9 搬送ロボット
100 ポッド(基板収納容器)
101 筐体
102 N2パージ室(密閉室)
105 I/Oステージ(保持具授受部材)
106 基板位置合わせ装置
108 ポッドオープナ(開閉手段)
109 カセット棚
112 ウエハ移載機(搬送手段)
114 カセット移載機
115 ボートエレベータ(昇降手段)
116 炉口シャッタ
200 ウエハ(基板)
202 処理炉
204 内管(インナーチューブ)
205 外管(アウターチューブ)
207 加熱手段(ヒータ)
209マニホールド
217 ボート(基板保持手段)
219 蓋体(シールキャップ)
220 気密部材(Oリング)
231 排気管
232 供給管
241 流量調整手段(マスフローコントローラ(MFC))
242 圧力調整器(APC)
245 圧力検出手段(圧力センサ)
246 排気装置(真空ポンプ)
250 筒状空間
251 保持手段(ヒータベース)
254 回転手段(回転軸)
263 温度検出手段(熱電対)
264 ツイーザ(基板載置具)
Claims (1)
- 基板保持具に複数枚の基板を垂直方向に積層して処理する処理室と、前記処理室を加熱
する加熱手段と、前記基板を搬送する基板搬送手段と前記基板を収納する基板収納容器と
該基板収納容器を搬送する基板収納容器搬送手段と
前記基板の位置あるいは形状状態情報を得られる画像情報取得手段と該画像情報取得手段
から得られた状態情報を保存する画像保存部とを備えていることを特徴とする基板処理装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003348144A JP2005116734A (ja) | 2003-10-07 | 2003-10-07 | 基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003348144A JP2005116734A (ja) | 2003-10-07 | 2003-10-07 | 基板処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005116734A true JP2005116734A (ja) | 2005-04-28 |
Family
ID=34540427
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003348144A Withdrawn JP2005116734A (ja) | 2003-10-07 | 2003-10-07 | 基板処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005116734A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013030747A (ja) * | 2011-06-24 | 2013-02-07 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置 |
CN110797288A (zh) * | 2018-08-03 | 2020-02-14 | 株式会社国际电气 | 衬底处理系统、衬底处理装置及半导体器件的制造方法 |
-
2003
- 2003-10-07 JP JP2003348144A patent/JP2005116734A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013030747A (ja) * | 2011-06-24 | 2013-02-07 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置 |
US10132757B2 (en) | 2011-06-24 | 2018-11-20 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Substrate processing device |
CN110797288A (zh) * | 2018-08-03 | 2020-02-14 | 株式会社国际电气 | 衬底处理系统、衬底处理装置及半导体器件的制造方法 |
US10903098B2 (en) | 2018-08-03 | 2021-01-26 | Kokusai Electric Corporation | Substrate processing system and substrate processing apparatus |
CN110797288B (zh) * | 2018-08-03 | 2023-10-10 | 株式会社国际电气 | 衬底处理系统、衬底处理装置及半导体器件的制造方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060929 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20080325 |