JP2005116340A - 質量分析装置 - Google Patents

質量分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005116340A
JP2005116340A JP2003349174A JP2003349174A JP2005116340A JP 2005116340 A JP2005116340 A JP 2005116340A JP 2003349174 A JP2003349174 A JP 2003349174A JP 2003349174 A JP2003349174 A JP 2003349174A JP 2005116340 A JP2005116340 A JP 2005116340A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ions
orbit
time
data
ion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003349174A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005116340A5 (ja
JP4273917B2 (ja
Inventor
Shinichi Yamaguchi
真一 山口
Morio Ishihara
盛男 石原
Michisato Toyoda
岐聡 豊田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2003349174A priority Critical patent/JP4273917B2/ja
Priority to US10/957,642 priority patent/US7038198B2/en
Publication of JP2005116340A publication Critical patent/JP2005116340A/ja
Publication of JP2005116340A5 publication Critical patent/JP2005116340A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4273917B2 publication Critical patent/JP4273917B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0027Methods for using particle spectrometers
    • H01J49/0036Step by step routines describing the handling of the data generated during a measurement
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/40Time-of-flight spectrometers
    • H01J49/408Time-of-flight spectrometers with multiple changes of direction, e.g. by using electric or magnetic sectors, closed-loop time-of-flight

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

【課題】 周回軌道を有する質量分析装置において採取するデータ量を削減する。
【解決手段】 イオン源1からイオンが出射した時点から、そのイオンが周回軌道Aを所定回数周回して軌道Aを離脱するための電圧をゲート電極21に印加するまでの期間中は、時間計測のみを実行する。そして、計時がTgになってゲート電極21への印加電圧を変更した時点から、データ処理部6ではイオン検出器3による検出データの採取を開始しメモリ61へと格納し始める。計時がTgになるまでは検出器3の出力は有意な変動をしないから、精度等を損なうことなくデータ量を大幅に減らしてメモリを節約することができる。
【選択図】 図1

Description

本発明は質量分析装置に関し、更に詳しくは、分析対象であるイオンが略同一の軌道を周回運動又は往復運動するような飛行空間を有する質量分析装置に関する。
飛行時間型質量分析装置(以下、TOFMS(=Time Of Flight Mass Spectrometer)と呼ぶ)では、一般的に、電場により加速したイオンを電場及び磁場を有さない飛行空間内に導入し、検出器に到達するまでの飛行時間に応じて各種イオンを質量数毎に分離する。或る質量数差を有する2種類のイオンに対する飛行時間の差はイオンの飛行距離が長いほど大きくなるから、質量分解能を高くするためには、できるだけ飛行距離を長く確保することが好ましい。しかしながら、一般に、装置のサイズなどの制約によって直線的な飛行距離を長くとることは困難であるため、従来より、飛行距離を実効的に長くするような各種の構成が提案されている。
例えば特許文献1に記載の装置では、複数のトロイダル型扇形電場を用いて長円形の周回軌道を形成し、この軌道に沿ってイオンを多数回繰り返し周回させることで飛行距離を長くしている。また、特許文献2に記載の装置では、略8の字状の閉じた周回軌道を形成することで、同様に飛行距離を実効的に長くしている。こうしたTOFMSでは、イオンがイオン源を出発してから周回軌道を所定回数、周回した後に検出器に到達して検出されるまでの飛行時間を計測し、その飛行時間に応じてイオンの質量数を算出する。イオンが周回軌道を周回する回数(周回数)が多いほど飛行時間は長くなるため、一般的には、周回数を多くするほど質量分解能が向上する。
一般にTOFMSでは、イオンがイオン源から出発した時点から検出器による検出信号(イオン強度信号)のデータの採取を開始し、そのデータに基づいて飛行時間とイオン強度信号との関係を求める。しかしながら、上記構成のTOFMSではイオンの飛行周回数を多くしたときにそれに比例して飛行時間が長くなるので、採取すべきデータ量が膨大となり、データを記憶するために非常に大きな記憶容量を用意しなければならないという問題があった。
特開平11−297267号公報 特開平11−135061号公報
本発明はかかる課題を解決するために成されたものであり、イオンが複数回、繰り返し飛行する軌道を飛行空間内に有する質量分析装置において、採取したデータを保存するための記憶容量を削減することを目的としている。
上記課題を解決するために成された本発明に係る質量分析装置は、
a)イオン源から出発した各種イオンを、飛行空間内に設定された所定の軌道に沿って複数回繰り返し飛行させる飛行制御手段と、
b)前記軌道を所定回数繰り返し飛行した後のイオンを検出する検出手段と、
c)イオンが前記軌道に沿って飛行している途中の時点若しくは該軌道を離れて前記検出手段に向かう時点、又はそれら時点であると推測される時点のいずれかにおいて、前記検出手段で検出されるイオン強度データの採取を開始するデータ処理手段と、
を備えることを特徴としている。
ここで、飛行空間内に設定された所定の軌道は、狭い飛行空間内で長い飛行距離を確保することを目的として、ほぼ同一の軌道上をイオンが繰り返し飛行することを可能とするものであればその形状を問わず、例えば、円形状、長円形状、8の字形状等の周回軌道、螺旋状等の旋回軌道、或いは、直線又は曲線状等の往復軌道などとすることができる。
なお、ここで言うイオン源とは、必ずしも分子又は原子からイオンを生成する手段を意味するものではなく、イオンを飛行空間に導入するためにイオンに運動エネルギーを付与する手段を含みさえすればよい。
発明の実施の形態、及び効果
本発明に係る質量分析装置において、飛行制御手段の制御の下に、イオン源を出発したイオンは上記軌道に乗るように誘導され、この軌道に沿って複数回の繰り返し飛行を行った後に該軌道を離れて検出手段に向かう。検出手段はそうして到達したイオンの数に応じたイオン強度信号を出力する。従来の質量分析装置ではイオン源からイオンが出発する時点から検出手段で検出されるイオン強度データの採取を開始するが、本発明に係る質量分析装置においてデータ処理手段は、イオンが上記軌道を繰り返し飛行している途中か又は該軌道を離れて検出手段に向かうときにイオン強度データの採取を開始する。イオンの全飛行時間を算出するためには、イオンが出発する時点からイオン強度データの採取を開始するまでに要する時間を別途計測し、この計測時間と上記採取データとを併せて処理すればよい。
分析対象のイオンの種類が既知又は高い確度で推定可能である場合には、イオン源を出発したイオンが軌道上の任意の所定位置近傍や軌道を離脱する位置近傍に達するまでの時間を推算することができる。したがって、イオンがイオン源を発してから、上述のように推定した時間が経過した時点でイオン強度データの採取を開始することにより、イオンが軌道に沿って飛行している途中の時点又は該軌道を離れて前記検出手段に向かう時点でイオン強度データの採取を開始することができる。一方、イオンの飛行軌道に沿った所定位置にイオンの通過を検出可能な非破壊型検出器を設けておき、その検出器の出力に応じてイオン強度データの採取を開始する構成とすることにより、上述したような推定ではなく実際にイオンが所定位置に達した時点でイオン強度データの採取を開始することができる。
いずれにしても本発明に係る質量分析装置によれば、イオンが検出手段に到達するまでの検出信号に変化が生じない期間中のかなりの部分においてデータの採取を行わずに済むので、イオン出射時点からデータ採取を行う場合と比較して、採取したデータを記憶するための記憶領域を大幅に減らすことができる。それによって、データ処理装置のハードウエアに要するコストを削減することができる。また、データ量が減るのでデータ処理の負荷も軽減される。もちろん、こうしたデータ量削減を行っても、分析の精度や感度等を損なうことは全くない。
以下、本発明の一実施例である質量分析装置について、図面を参照して具体的に説明する。
図1は本実施例による質量分析装置の概略構成図である。図1において、図示しない真空室の内部には、イオン源1、飛行空間2、及びイオン検出器3が配置されている。
イオン源1は分析対象である分子をイオン化するものであって、イオン化法は特に限定されない。例えば、本質量分析装置がGS/MSに利用される構成においては、イオン源1は電子衝撃イオン化法や化学イオン化法によって気体分子をイオン化するものである。また、本質量分析装置がLC/MSに利用される構成においては、イオン源1は大気圧化学イオン化法やエレクトロスプレイイオン化法によって液体分子をイオン化するものである。さらにまた、分析対象分子がタンパク質などの高分子化合物である場合にはMALDI(Matrix Assisted Laser Desorption Ionization:マトリクス支援レーザ脱離イオン化法)を利用するとよい。
飛行空間2内にはイオンを略円形状の周回軌道Aに沿って飛行させるための案内電極22と、飛行空間2に導入されたイオンを上記周回軌道Aに乗せるため及び逆に周回軌道Aを飛行しているイオンを周回軌道Aから離脱させるためのゲート電極21とが配置されている。なお、ここでは周回軌道Aを円形状としているが、これに限るものではなく、前述の長円形状又は略8の字状の周回軌道のほか、任意の形状の周回軌道とすることができる。また、完全に同一の軌道でなくとも、例えば徐々に軌道の位置がずれる、例えば螺旋状の旋回軌道や往復軌道でもよい。
イオン検出器3は例えば光電子増倍管などであって、入射したイオンの数(又は量)に応じた信号(イオン強度信号)をデータ処理部6に出力する。データ処理部6は例えばパーソナルコンピュータ上で所定の処理プログラムを実行させることで具現化され、イオン強度信号を受けて横軸を質量数、縦軸をイオン強度とした質量スペクトルを作成し、さらにそれに基づいて定性分析や定量分析を実行する。制御部5はこうした質量分析を行うために、イオン源1や飛行空間2内の電極21、22などを適宜制御する。
次に、上記質量分析装置における特徴的な動作について、図2を参照して説明する。
イオン源1は制御部5による制御の下に、分析対象であるイオンに運動エネルギーを付与する。これによって、イオンはイオン源1から引き出されて飛行を開始する(イオン出射)。データ処理部6は制御部5からイオン出射情報を受けると、時間の計測を開始する。イオン源1から出たイオンは飛行空間2に入り、ゲート電極21に到達する。イオン源1からゲート電極21までの飛行経路(入射軌道)の距離がLinである。ゲート電極21によりイオンは周回軌道Aに乗せられ(周回軌道突入)、案内電極22によって周回軌道A上を飛行する。この周回数は制御部5により制御される。イオンが周回軌道A上を飛行している期間中、上記時間計測は継続される。
ここで分析対象とするイオンの質量数は高い確度で推定可能であって、その推定に基づいて飛行速度も計算することができる。そこで予め、イオンが所望周回数だけ周回軌道Aを周回した後に周回軌道Aを離れるようにゲート電極21に印加する電圧を変更するタイミングを、イオン出射時からの経過時間として推定しておく。具体的には、所望周回数をnとする場合、イオンが(n−1)回周回した後にゲート電極21への印加電圧を変更する必要がある。また、たとえ同一質量数のみのイオンであっても、出発位置のズレや運動エネルギーのばらつきに起因する時間的なジッタも考慮する必要がある。こうしたことを勘案して、ゲート電極21への印加電圧の変更時間Tgを求めておき、計時がそのTgに達したならばゲート電極21への印加電圧を変更するように制御部5に設定する。
こうした制御部5の制御によって、目的とするイオンが所定周回数だけ周回した後、ゲート電極21を通過する際にそのイオンは周回軌道Aを離脱し、イオン検出器3へと向かって進む。また、このゲート電極21への印加電圧の変更の時点で、データ処理部6はイオン検出器3からの検出信号をデジタル化した検出データをデータメモリ61に格納し始める。すなわち、計時がTgとなった時点から検出データの採取を開始する。実際にイオンがイオン検出器3に到達するのは、ゲート電極21を通過したイオンが距離Loutである出射軌道を飛行した後である。したがって、実際には、ゲート電極21への印加電圧を変更してから少し時間が経過した時点から、イオン検出器3の検出信号は変動し始める(図3参照)。
イオンがイオン源1を出発してイオン検出器3に到達するという全行程の中で、イオンが周回軌道Aを離脱した以降の行程の割合はごく僅かである。また、この割合は周回軌道A上の周回数が多いほど低くなる。すなわち、上述したように計時がTgになった時点からデータ採取を開始することによって、イオン出射時点からデータ採取を開始する場合に比べて採取すべきデータ量を格段に少なくすることができる。
なお、上記実施例では、検出データの採取開始のタイミングはイオンの飛行位置の推定に基づいたものであったが、推定ではなく実際にイオンの通過を検出して検出データの採取開始のタイミングを決めるようにしてもよい。具体的には、例えばゲート電極21の近傍に電磁誘導作用などを利用して荷電粒子であるイオンの通過量に対応した電気信号を出力する、いわゆるイオン非破壊型の検出器を設け、この検出器により周回軌道Aを離脱したイオンの通過を検出したならば検出データの採取を開始するといった構成をとることが可能である。これによって、目的とするイオンの質量数が不明であっても、イオンの飛行途中の適宜の時点でデータ採取を開始することができる。
なお、上記実施例は本発明の一実施例であるから、上記記載以外の点においても、本発明の趣旨の範囲で適宜に修正、変更、追加などを行っても本願発明に包含されることは明らかである。
本発明の一実施例による質量分析装置の要部の概略構成図。 本実施例の質量分析装置においてイオンの飛行状態とそれに伴う処理内容を示す模式図。 本実施例の質量分析装置で得られる検出信号の変動状態の一例を示す図。
符号の説明
1…イオン源
2…飛行空間
21…ゲート電極
22…案内電極
3…イオン検出器
5…制御部
6…データ処理部
61…データメモリ
A…周回軌道

Claims (1)

  1. a)イオン源から出発した各種イオンを、飛行空間内に設定された所定の軌道に沿って複数回繰り返し飛行させる飛行制御手段と、
    b)前記軌道を所定回数繰り返し飛行した後のイオンを検出する検出手段と、
    c)イオンが前記軌道に沿って飛行している途中の時点若しくは該軌道を離れて前記検出手段に向かう時点、又はそれら時点であると推測される時点のいずれかにおいて、前記検出手段で検出されるイオン強度データの採取を開始するデータ処理手段と、
    を備えることを特徴とする質量分析装置。
JP2003349174A 2003-10-08 2003-10-08 質量分析装置 Expired - Fee Related JP4273917B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003349174A JP4273917B2 (ja) 2003-10-08 2003-10-08 質量分析装置
US10/957,642 US7038198B2 (en) 2003-10-08 2004-10-05 Mass spectrometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003349174A JP4273917B2 (ja) 2003-10-08 2003-10-08 質量分析装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2005116340A true JP2005116340A (ja) 2005-04-28
JP2005116340A5 JP2005116340A5 (ja) 2006-01-26
JP4273917B2 JP4273917B2 (ja) 2009-06-03

Family

ID=34419693

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003349174A Expired - Fee Related JP4273917B2 (ja) 2003-10-08 2003-10-08 質量分析装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7038198B2 (ja)
JP (1) JP4273917B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012099226A (ja) * 2010-10-29 2012-05-24 Ayabo:Kk Tof質量分析によるhipimsスパッタ源のプラズマ解析方法及びその装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4182844B2 (ja) * 2003-09-03 2008-11-19 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP4758503B2 (ja) 2006-04-13 2011-08-31 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー マススペクトロメータにおけるイオンエネルギばらつき抑圧
GB0607542D0 (en) * 2006-04-13 2006-05-24 Thermo Finnigan Llc Mass spectrometer
GB0622689D0 (en) * 2006-11-14 2006-12-27 Thermo Electron Bremen Gmbh Method of operating a multi-reflection ion trap
US8093555B2 (en) * 2007-11-21 2012-01-10 Shimadzu Corporation Mass spectrometer

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6713758B2 (en) * 1998-08-05 2004-03-30 National Research Council Of Canada Spherical side-to-side FAIMS
US7034286B2 (en) * 2002-02-08 2006-04-25 Ionalytics Corporation FAIMS apparatus having plural ion inlets and method therefore
US6900431B2 (en) * 2003-03-21 2005-05-31 Predicant Biosciences, Inc. Multiplexed orthogonal time-of-flight mass spectrometer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012099226A (ja) * 2010-10-29 2012-05-24 Ayabo:Kk Tof質量分析によるhipimsスパッタ源のプラズマ解析方法及びその装置

Also Published As

Publication number Publication date
US7038198B2 (en) 2006-05-02
JP4273917B2 (ja) 2009-06-03
US20050077461A1 (en) 2005-04-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7211792B2 (en) Mass spectrometer
JP3990889B2 (ja) 質量分析装置およびこれを用いる計測システム
JP4569349B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
JP5303273B2 (ja) フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析法についての方法及び装置
JP4182844B2 (ja) 質量分析装置
JP4182853B2 (ja) 質量分析方法及び質量分析装置
JP2005078987A (ja) 飛行時間型質量分析装置
JP2011119279A (ja) 質量分析装置およびこれを用いる計測システム
US11699578B2 (en) Method of mass spectrometry
US20240203716A1 (en) Methods and apparatus for mass spectrometry
JP4506481B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
US20220373512A1 (en) Duty Cycle Improvement for a Mass Spectrometer Using Ion Mobility Separation
JP4248540B2 (ja) 質量分析装置およびこれを用いる計測システム
JP5126368B2 (ja) 質量分析方法
JP5136650B2 (ja) 質量分析装置
JP2008108739A (ja) 質量分析装置およびこれを用いる計測システム
JP4273917B2 (ja) 質量分析装置
EP2439764A2 (en) Tandem time-of-flight mass spectrometer
JP4506322B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
JP2007335368A (ja) 飛行時間型質量分析方法および装置
JP5327228B2 (ja) 多重周回飛行時間型質量分析装置
WO2019211918A1 (ja) 直交加速飛行時間型質量分析装置
JP2011034981A (ja) 質量分析装置およびこれを用いる計測システム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051206

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051206

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070228

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080311

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080508

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080902

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081104

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20081107

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090210

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090223

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4273917

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120313

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120313

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130313

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140313

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees