JP2005116340A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 イオン源1からイオンが出射した時点から、そのイオンが周回軌道Aを所定回数周回して軌道Aを離脱するための電圧をゲート電極21に印加するまでの期間中は、時間計測のみを実行する。そして、計時がTgになってゲート電極21への印加電圧を変更した時点から、データ処理部6ではイオン検出器3による検出データの採取を開始しメモリ61へと格納し始める。計時がTgになるまでは検出器3の出力は有意な変動をしないから、精度等を損なうことなくデータ量を大幅に減らしてメモリを節約することができる。
【選択図】 図1
Description
a)イオン源から出発した各種イオンを、飛行空間内に設定された所定の軌道に沿って複数回繰り返し飛行させる飛行制御手段と、
b)前記軌道を所定回数繰り返し飛行した後のイオンを検出する検出手段と、
c)イオンが前記軌道に沿って飛行している途中の時点若しくは該軌道を離れて前記検出手段に向かう時点、又はそれら時点であると推測される時点のいずれかにおいて、前記検出手段で検出されるイオン強度データの採取を開始するデータ処理手段と、
を備えることを特徴としている。
イオン源1は制御部5による制御の下に、分析対象であるイオンに運動エネルギーを付与する。これによって、イオンはイオン源1から引き出されて飛行を開始する(イオン出射)。データ処理部6は制御部5からイオン出射情報を受けると、時間の計測を開始する。イオン源1から出たイオンは飛行空間2に入り、ゲート電極21に到達する。イオン源1からゲート電極21までの飛行経路(入射軌道)の距離がLinである。ゲート電極21によりイオンは周回軌道Aに乗せられ(周回軌道突入)、案内電極22によって周回軌道A上を飛行する。この周回数は制御部5により制御される。イオンが周回軌道A上を飛行している期間中、上記時間計測は継続される。
2…飛行空間
21…ゲート電極
22…案内電極
3…イオン検出器
5…制御部
6…データ処理部
61…データメモリ
A…周回軌道
Claims (1)
- a)イオン源から出発した各種イオンを、飛行空間内に設定された所定の軌道に沿って複数回繰り返し飛行させる飛行制御手段と、
b)前記軌道を所定回数繰り返し飛行した後のイオンを検出する検出手段と、
c)イオンが前記軌道に沿って飛行している途中の時点若しくは該軌道を離れて前記検出手段に向かう時点、又はそれら時点であると推測される時点のいずれかにおいて、前記検出手段で検出されるイオン強度データの採取を開始するデータ処理手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003349174A JP4273917B2 (ja) | 2003-10-08 | 2003-10-08 | 質量分析装置 |
US10/957,642 US7038198B2 (en) | 2003-10-08 | 2004-10-05 | Mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003349174A JP4273917B2 (ja) | 2003-10-08 | 2003-10-08 | 質量分析装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005116340A true JP2005116340A (ja) | 2005-04-28 |
JP2005116340A5 JP2005116340A5 (ja) | 2006-01-26 |
JP4273917B2 JP4273917B2 (ja) | 2009-06-03 |
Family
ID=34419693
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003349174A Expired - Fee Related JP4273917B2 (ja) | 2003-10-08 | 2003-10-08 | 質量分析装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7038198B2 (ja) |
JP (1) | JP4273917B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012099226A (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-24 | Ayabo:Kk | Tof質量分析によるhipimsスパッタ源のプラズマ解析方法及びその装置 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4182844B2 (ja) * | 2003-09-03 | 2008-11-19 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
JP4758503B2 (ja) | 2006-04-13 | 2011-08-31 | サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー | マススペクトロメータにおけるイオンエネルギばらつき抑圧 |
GB0607542D0 (en) * | 2006-04-13 | 2006-05-24 | Thermo Finnigan Llc | Mass spectrometer |
GB0622689D0 (en) * | 2006-11-14 | 2006-12-27 | Thermo Electron Bremen Gmbh | Method of operating a multi-reflection ion trap |
US8093555B2 (en) * | 2007-11-21 | 2012-01-10 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6713758B2 (en) * | 1998-08-05 | 2004-03-30 | National Research Council Of Canada | Spherical side-to-side FAIMS |
US7034286B2 (en) * | 2002-02-08 | 2006-04-25 | Ionalytics Corporation | FAIMS apparatus having plural ion inlets and method therefore |
US6900431B2 (en) * | 2003-03-21 | 2005-05-31 | Predicant Biosciences, Inc. | Multiplexed orthogonal time-of-flight mass spectrometer |
-
2003
- 2003-10-08 JP JP2003349174A patent/JP4273917B2/ja not_active Expired - Fee Related
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2004
- 2004-10-05 US US10/957,642 patent/US7038198B2/en active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012099226A (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-24 | Ayabo:Kk | Tof質量分析によるhipimsスパッタ源のプラズマ解析方法及びその装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7038198B2 (en) | 2006-05-02 |
JP4273917B2 (ja) | 2009-06-03 |
US20050077461A1 (en) | 2005-04-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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