JP2005109153A - 塗布膜形成装置 - Google Patents

塗布膜形成装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005109153A
JP2005109153A JP2003340720A JP2003340720A JP2005109153A JP 2005109153 A JP2005109153 A JP 2005109153A JP 2003340720 A JP2003340720 A JP 2003340720A JP 2003340720 A JP2003340720 A JP 2003340720A JP 2005109153 A JP2005109153 A JP 2005109153A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coating
substrate
coated
forming apparatus
film forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2003340720A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuyuki Nakahara
伸之 中原
Junichi Horikawa
順一 堀川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2003340720A priority Critical patent/JP2005109153A/ja
Publication of JP2005109153A publication Critical patent/JP2005109153A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)

Abstract

【課題】被塗布基板の被塗布面上に均一な厚みの膜を形成することができる塗布膜形成装置を提供すること。
【解決手段】スリット状の開口部を持つ塗布ヘッドと被塗布基板とを、塗布ヘッド開口部の長手方向に直交するように相対移動させつつ、該塗布ヘッド開口部から液体を吐出して塗布を行う塗布部と、更に塗布基板に塗布された液体を乾燥固化させる乾燥部とを備える塗布膜形成装置において、前記塗布基板の周辺部側面と隙間なく当接し、該塗布基板の塗布面と均一な面を構成するチャック部を設ける。
【選択図】図1

Description

本発明は、ガラス基板や半導体ウエハ等の板状被処理物の表面にレジスト液、スラリー等の各種液状塗布液を均一な薄膜状態で塗布するための塗布膜形成装置に関するものである。
ガラス基板や半導体ウエハ等の板状被塗布基板表面にレジスト膜やSOG膜を形成する方法として、基板の中央部位にノズルから塗布液を滴下するか、或はノズルを移動しながら塗布液を滴下した後、基板を高速回転させ、回転による遠心力の作用で滴下された塗布液を周囲に拡散することで均一な薄膜を形成する、例えば特開平3−56163号公報に開示されている回転塗布方式と、矩形基板においては例えば短辺、円盤基板においては直径に該当する幅寸法の全長を有するスリット状の開口部を備える塗布ヘッドを用いて開口部から一定量の塗布液を吐出しつつ塗布ヘッド側若しくは基板側を移動することで相対移動による均一な薄膜を形成する、スリットノズル方式が米国特許第4, 696, 885号公報等に記載されている(特許文献1参照)。
回転塗布方式の最大の長所は、簡単な構造で所望の薄膜が高い精度で得られることである。しかし、遠心力に依存し膜形成を行うため、塗布液の消費量が塗膜形成に使用される消費量の10倍〜20倍必要となる欠点がある。又、基板の塗布対象面へ付着されなかった余剰の塗布液は、飛散してミスト粒となり、塗布有効面にゴミとなって付着する問題がある。又、基板サイズの大型化するに連れて塗布膜の均一性は低下してしまうといった問題がある。更に、膜厚を厚くすることが困難であるといった問題もある。
それに対しスリットノズル方式によれば、塗布液の無駄が少なくなり、塗布面へのゴミ付着の問題が解消され、且つ、被膜の膜厚を厚くすることもできる。
しかしながら、スリットノズル方式にあっては、塗布開始位置と塗布終了位置における膜厚が表面張力の影響により他の個所に比べて極端に厚くなるという問題がある。こうした問題に対しては特許文献2に開示された凹部を設けたトレイに基板を嵌め込む方法が提案されている。
米国特許第4,696,885号公報 特開2002−204996号公報
しかしながら、Siウエハ等の基板の場合、その直径、真円度のばらつきが小さくないため、塗布ステージ、若しくはトレイに固定寸法の凹部を設けてウエハを嵌め込んでも隙間ができる。この隙間が或る程度大きいと塗布液体が侵入し、結局はウエハの外周部が塗布領域の外周部となってしまう問題がある。又、隙間の影響により塗布膜の均一性が悪くなってしまうといった問題がある。
本発明は上記問題に鑑みてなされたもので、その目的とする処は、被塗布基板の被塗布面上に均一な厚みの膜を形成することができる塗布膜形成装置を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明は、スリット状の開口部を持つ塗布ヘッドと被塗布基板とを、塗布ヘッド開口部の長手方向に直交するように相対移動させつつ、該塗布ヘッド開口部から液体を吐出して塗布を行う塗布部と、更に塗布基板に塗布された液体を乾燥固化させる乾燥部とを備える塗布膜形成装置において、前記塗布基板の周辺部側面と隙間なく当接し、該塗布基板の塗布面と均一な面を構成するチャック部を備えていることを特徴とする。
本発明によれば、スリット状の開口部を持つ塗布ヘッドと被塗布基板とを、塗布ヘッド開口部の長手方向に直交するように相対移動させつつ、塗布ヘッド開口部から液体を吐出して塗布を行う塗布部と、更に塗布基板に塗布された液体を乾燥固化させる乾燥部とを備える装置において、被塗布基板と当接する側面に弾性体シートが設置されたチャック部材を被塗布基板の塗布面と平行に移動し、被塗布基板側面にチャック部材側面を一定荷重で押し当て、塗布面とチャック部材面により隙間の無い均一な面を構成し、塗布開始位置及び終了位置をチャック部材面にすることにより、被塗布基板面上における膜厚を均一にすることができる。
スリット状の開口部を持つ塗布ヘッドと、被塗布基板とを、塗布ヘッド開口部の長手方向に直交するように相対移動させつつ、塗布ヘッド開口部から液体を吐出して塗布を行う塗布部と、更に塗布基板に塗布された液体を乾燥固化させる乾燥部とを備える装置において、被塗布基板と当接する側面に低摩擦係数のシートが設置され、低摩擦係数シートとチャック部材の間に弾性体シートが設置されたチャック部材側面を被塗布基板側面に一定荷重で押し当てた状態で被塗布基板の塗布面と平行に移動し、塗布面とチャック部材面により隙間の無い均一な面を構成し、塗布開始位置及び終了位置をチャック部材面にすることにより、被塗布基板のサイズによらず、被塗布基板面上における膜厚を均一にすることができる。
以下に本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
図1は本発明の実施形態を示すスリットノズル方式による塗布膜形成装置の概略図である。
図1(a)に示すように、チャック部材8の塗布開始位置に塗布ヘッド2が被塗布基板1とチャック部材8によって構成されている均一面と一定間隔を保った状態で停止している。塗布ヘッド2が停止した状態でスリット部3から塗布液4を吐出し塗布液溜り5を形成する。図1(b)に示すように、被塗布基板1とチャック部材8によって構成されている均一面と塗布ヘッド2を一定間隔に保った状態で塗布ヘッド2が被塗布基板1に対し相対的に移動6するように、被塗布基板1若しくは塗布ヘッド2を移動することにより被塗布基板1に塗布膜7を形成する。図1(c)に示すように、塗布ヘッド2位置がチャック部材8面上に到達したところで停止し塗布液の吐出を停止する。
図2は本実施形態を示すチャック機構の概略図である。
図2(a)に示すように、チャック部材8は移動9することにより被塗布基板1をチャックする。被塗布基板1の側面と接触するチャック部材8の側面10には、図示しないゴムなどの弾性材が取り付けられている。
以上の構成により、図2(b)に示すように、チャックした後は被塗布基板1の塗布面とチャック部材8の面が隙間なく均一面11を構成する。この方法は被塗布基板1が矩形に限らず、円盤状等の様々な形のものを対象とする。
図3は実施の形態2を示すチャック機構の概略図である。
図3(a)に示すように、チャック部材12は被塗布基板1と当接するように移動13する。チャック部材12は、被塗布基板1と当接した状態で被塗布基板1の側面に沿って移動14する。チャック部材12の側面15には、図示しないフッ素樹脂材等の摩擦係数の低い部材が取り付けられている。図示しない低摩擦係数部材とチャック部材12の間には図示しない弾性材が取り付けられている。
以上の構成により、図3(b)に示すように、チャックした後は被塗布基板1の塗布面とチャック部材12の面が隙間なく均一面16を構成する。この方法は被塗布基板1が矩形に限らず、円盤状等の様々な形のものを対象とする。
図4は比較例の実施形態を示すスリットノズル方式による塗布形成装置の概略図である。
図4(a)に示すように、被塗布基板101の塗布開始位置に塗布ヘッド102が被塗布基板101と一定間隔を保った状態で停止している。塗布ヘッド102が停止した状態でスリット部103から塗布液104を吐出し塗布液溜り105を形成する。
次に、図4(b)に示すように、被塗布基板101と塗布ヘッド102を一定間隔に保った状態で塗布ヘッド102が被塗布基板101に対し相対的に移動106するように、被塗布基板101若しくは塗布ヘッド102を移動することにより被塗布基板101に塗布膜107を形成する。
以下、本発明について実施例を用いて具体的に説明する。
被塗布基板には縦10cm×横5cm×厚0. 5cmの青板ガラスを用いた。塗布液粘度は4Pa・secとした。塗布液固形分濃度は18.6wt%とした。塗布ヘッドと被塗布基板の距離は150μmとした。塗布動作時の塗布ヘッドと被塗布基板の相対速度は5mm/secとした。チャック部材は縦20cm×横5cm×厚2cm、縦5cm×横5cm×厚2cmを各2個用いた。チャック部材の被塗布基板との当接面には厚さ0.5mm、硬度45℃のシリコーンゴムを用いた。チャック部材の被塗布基板への押し当て圧は0.196Mpaとした。
以上の条件の下、被塗布基板の周辺部から3cm離れたチャック部面上を塗布開始とし、塗布膜形成を行ったところ、被塗布基板中央部の膜厚は22.1μm、被塗布基板の周辺部から5mmの範囲における塗布膜厚は21.6±0.6μmとなった。
被塗布基板には(1)縦10cm×横5cm×厚0.
5cm、(2)縦15cm×横10cm×厚0. 5cmの青板ガラスをそれぞれ用いた。塗布液粘度は4Pa・secとした。塗布液固形分濃度は18.6wt%とした。塗布ヘッドと被塗布基板の距離は150μmとした。塗布動作時の塗布ヘッドと被塗布基板の相対速度は5mm/secとした。チャック部材は縦20cm×横5cm×厚2cmを4個用いた。チャック部材の被塗布基板との当接面には静摩擦係数0. 1、動摩擦係数0. 05、厚さ0.1mmのフッ素樹脂シートを用いた。フッ素樹脂シートとチャック部材の間には厚さ0.4mm、硬度40℃のシリコーンゴムを用いた。チャック部材の被塗布基板への押し当て圧は0.196Mpaとした。
以上の条件の下、被塗布基板の周辺部から3cm離れたチャック部面上を塗布開始とし、塗布膜形成を行ったところ、被塗布基板中央部の膜厚は(1)21.8μm、(2)22.3μm、被塗布基板の周辺部から5mmの範囲における塗布膜厚は(1)21.9±0.5μm、(2)22.1±0.6μmとなった。
<比較例>
被塗布基板には縦10cm×横5cm×厚0. 5cmの青板ガラスを用いた。被塗布基板は平坦なステージに静電吸着により固定設置した。塗布液粘度は4Pa・secとした。塗布液固形分濃度は18.6wt%とした。塗布ヘッドと被塗布基板の距離は150μmとした。塗布動作時の塗布ヘッドと被塗布基板の相対速度は5mm/secとした。
以上の条件の下、被塗布基板の周辺部から1 cm離れた被塗布基板面上を塗布開始とし、塗布膜形成を行ったところ、被塗布基板中央部の膜厚は22.1μm、被塗布基板の周辺部の最大の塗布膜厚は78μmとなった。
本発明の実施の形態1に係る塗布膜形成装置を示す図である。 本発明の実施の形態1に係る塗布膜形成装置の被塗布基板のチャック機構を示す図である。 本発明の実施の形態2に係る塗布膜形成装置の被塗布基板のチャック機構を示す図である。 比較例に係る塗布膜形成装置を示す図である。
符号の説明
1 被塗布基板
2 塗布ヘッド
3 スリット
4 塗布液
5 塗布液溜り
6 移動方向
7 塗布膜
8 チャック部材
9 移動方向
10 チャック部材の被塗布基板との当接面
11 均一塗布面
12 チャック部材
13 移動方向
14 移動方向
15 チャック部材の被塗布基板との当接面
16 均一塗布面
101 被塗布基板
102 塗布ヘッド
103 スリット
104 塗布液
105 塗布液溜り
106 移動方向
107 塗布膜

Claims (6)

  1. スリット状の開口部を持つ塗布ヘッドと被塗布基板とを、塗布ヘッド開口部の長手方向に直交するように相対移動させつつ、該塗布ヘッド開口部から液体を吐出して塗布を行う塗布部と、更に塗布基板に塗布された液体を乾燥固化させる乾燥部とを備える塗布膜形成装置において、
    前記塗布基板の周辺部側面と隙間なく当接し、該塗布基板の塗布面と均一な面を構成するチャック部を備えていることを特徴とする塗布膜形成装置。
  2. 前記チャック部が前記被塗布基板の塗布面と平行に移動することを特徴とする請求項1記載の塗布膜形成装置。
  3. 前記塗布ヘッドの塗布開始位置及び終了位置が前記チャック部材上面であることを特徴とする請求項2記載の塗布膜形成装置。
  4. 前記チャック部の前記塗布基板との当接面に弾性体シートが設置されていることを特徴とする請求項1〜3の何れかに記載の塗布膜形成装置。
  5. 前記チャック部の前記塗布基板との当接面に低摩擦係数のシートが設置されていることを特徴とする請求項1〜3の何れかに記載の塗布膜形成装置。
  6. 前記チャック部と前記低摩擦係数シートとの間に弾性体シートが設置されていることを特徴とする請求項5記載の塗布膜形成装置。
JP2003340720A 2003-09-30 2003-09-30 塗布膜形成装置 Withdrawn JP2005109153A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003340720A JP2005109153A (ja) 2003-09-30 2003-09-30 塗布膜形成装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003340720A JP2005109153A (ja) 2003-09-30 2003-09-30 塗布膜形成装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005109153A true JP2005109153A (ja) 2005-04-21

Family

ID=34535531

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003340720A Withdrawn JP2005109153A (ja) 2003-09-30 2003-09-30 塗布膜形成装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005109153A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101000299B1 (ko) 2008-11-20 2010-12-13 세메스 주식회사 기판 코팅 장치
KR101014656B1 (ko) * 2008-07-09 2011-02-16 (주)티에스티아이테크 기판 코팅 장치 및 방법
JP2013179219A (ja) * 2012-02-29 2013-09-09 Toshiba Corp パターン形成装置及び半導体装置の製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101014656B1 (ko) * 2008-07-09 2011-02-16 (주)티에스티아이테크 기판 코팅 장치 및 방법
KR101000299B1 (ko) 2008-11-20 2010-12-13 세메스 주식회사 기판 코팅 장치
JP2013179219A (ja) * 2012-02-29 2013-09-09 Toshiba Corp パターン形成装置及び半導体装置の製造方法
US9437414B2 (en) 2012-02-29 2016-09-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Pattern forming device and semiconductor device manufacturing method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR0154610B1 (ko) 반도체기판의 연마방법 및 연마장치
US7101272B2 (en) Carrier head for thermal drift compensation
US7429210B2 (en) Materials for chemical mechanical polishing
KR101817703B1 (ko) 미세 섬모 구조물과 이의 제조방법 및 이를 포함하는 이송 장치
US20220250205A1 (en) Components for a chemical mechanical polishing tool
US20180264621A1 (en) Retainer ring for carrier head for chemical polishing apparatus and carrier head comprising same
TW201429689A (zh) 滾筒
JP2005109153A (ja) 塗布膜形成装置
JP3284814B2 (ja) 薄膜形成装置及び薄膜形成方法
JP2008282870A (ja) 搬送アーム用パッド
US6916226B2 (en) Chemical mechanical polishing apparatus having a stepped retaining ring and method for use thereof
KR100546355B1 (ko) 국부 단차 형성용 삽입 패드를 구비하는 cmp 장치
JP2012076032A (ja) 塗工装置
JP2003051472A (ja) 角形基板
JPH1199471A (ja) 研磨治具およびこれを搭載する研磨装置
JP2008153248A (ja) GaAsウエハへのワックス塗布方法
JP2021501699A (ja) 基板処理システムのための平坦化膜および方法
JPH0319336A (ja) 半導体ウェーハの研磨方法
JP2008221124A (ja) 回転塗布方法
JP2001274227A (ja) ウェーハ保持用セラミック部材の製造法
WO2024142636A1 (ja) 研磨ヘッドおよび研磨装置
JPH0897118A (ja) レジストの塗布方法
JP2001310151A (ja) スリットコーター
JP2001162201A (ja) 塗布剤の塗布装置およびその方法
JP7038342B2 (ja) 研磨部材

Legal Events

Date Code Title Description
RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20060201

A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20061205