JP2005098936A - 形状測定機 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】形状測定機101は、測定機のフレーム120と、被測定物113の形状に沿って走査されるプローブ102と、プローブ102と一体に構成された先端球103と、プローブ102を支持する静圧空気軸受104と、静圧空気軸受104をZ軸方向に駆動するZステージ107と、Zステージ107をX軸方向に駆動するXステージ110と、フレーム120に固定されたZ基準ミラー109と、フレーム120に固定されたX基準ミラー112と、プローブ102のZ軸方向の位置を測長するZレーザ測長器108と、プローブ102のX軸方向の位置を測長するXレーザ測長器111とを有し、Xレーザ測長器111のプリズム部111bはX軸に平行な線と交わるように配置されている。
【選択図】 図1
Description
図1は、本発明の第一実施形態の形状測定機の基本構成を概略的に示している。
図1に示されるように、本実施形態の形状測定機101は、測定機のフレーム120、プローブ102、先端球103、静圧空気軸受104、板ばね114、板ばね保持部115、Zステージ107、Xステージ110、マイクロリニアスケール105、Z基準ミラー109、X基準ミラー112、Zレーザ測長器108及びXレーザ測長器111を備える。
次に、この形状測定機101の作用について説明する。
本実施形態によれば、Xレーザ測長器111のプリズム部111bがプローブ102に固定されており、かつXレーザ測長器111の測長軸111cの延長線が先端球103の中心付近を通るように構成されている。これにより、プローブ102が静圧空気軸受104に対して傾いたり、横ずれが生じたりした場合でも、先端球103の中心(すなわち、プローブ102による被測定物113の測定位置)の移動量を測長できるので、より高精度な形状測定が行える。
本実施形態の各構成は、当然、種々の変形や変更が施されてもよい。
図3は、本発明の第二実施形態の形状測定機の基本構成を概略的に示している。図3において、図1に示された部材と同一の参照符号で指示された部材は同様の部材である。
図3に示されるように、本実施形態の形状測定機101Aは、測定機のフレーム120、プローブ102、先端球103、静圧空気軸受104、Xステージ110、Zリニアスケール121及びXレーザ測長器111を備えている。
次に、この形状測定機101Aの作用について説明する。
本実施形態によれば、第一実施形態の効果に加えて、以下の効果を有している。
本実施形態の各構成は、当然、種々の変形や変更が施されてもよい。
Claims (7)
- プローブと、
該プローブを第一の方向に移動させる第一の移動機構と、
前記第一の方向と所定の角度をもつ方向に移動させる第二の移動機構と、
前記プローブの前記第一の方向への移動量を測長する第一の測長器と、
前記プローブの前記第二の方向への移動量を測長する第二の測長器とを備えた形状測定機であって、
前記プローブの先端部近傍に設けられた保持部材をさらに有し、該保持部材は前記第二の測長器の構成部材を保持し、前記構成部材は所定の基準軸と交わるように配置されていることを特徴とする形状測定機。 - 前記所定の基準軸は、前記第二の方向に平行で前記プローブによる被測定物の測定位置を通過する延長線であることを特徴とする請求項1記載の形状測定機。
- 前記第二の測長器は干渉計であり、該干渉計は、光源と、基準面と、前記光源と前記基準面との間の光路上に配置された光偏向素子とを含み、該光偏向素子は前記構成部材であり、前記基準面は前記光偏向素子を挟んで前記プローブ先端と反対側に配置され、前記干渉計の測長軸すなわち前記光偏向素子と前記基準面との間の光軸が前記所定の基準軸と略一致することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の形状測定機。
- 前記第二の測長器はリニアスケールであり、該リニアスケールは読み取り部とスケール部を有し、該スケール部は前記構成部材であり、前記読み取り部は前記スケール部を挟んで前記プローブ先端と反対側に配置され、前記リニアスケールの測長軸が前記所定の基準軸と略一致することを特徴とする請求項1に記載の形状測定機。
- 前記プローブが接触式プローブであることを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれかひとつに記載の形状測定機。
- 前記第一の移動機構が静圧空気軸受方式であることを特徴とする請求項5記載の形状測定機。
- 前記プローブと前記第一の移動機構が自重傾斜方式であることを特徴とする請求項6記載の形状測定機
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2003
- 2003-09-26 JP JP2003335468A patent/JP2005098936A/ja active Pending
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