JP2005092162A - 積層パネルおよび積層基板 - Google Patents
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Abstract
【課題】 位置ズレを簡単に、素早く発見する。位置ズレ量を高精度に求める。
【解決手段】 積層パネルは、第1アライメントマーク7を有するセグメント電極基板2と、第1アライメントマーク7と位置合わせされる第2アライメントマーク6を有し、かつセグメント電極基板2に対向して配置されたコモン電極基板1とを備える。第1アライメントマーク7は、x方向に延びるx方向パターン7a,7cと、x方向に交差するy方向に延び、かつx方向パターン7a,7cと交差するy方向パターン7b,7dとを有する。第2アライメントマーク6は、x方向に対して45°未満の角度αをなして交差する方向に延びる第1線分を有する第1パターン6a,6d,6e,6hと、y方向に対して45°未満の角度βをなして交差する方向に延びる第2線分を有する第2パターン6b,6c,6f,6gとを有する。
【選択図】 図1
【解決手段】 積層パネルは、第1アライメントマーク7を有するセグメント電極基板2と、第1アライメントマーク7と位置合わせされる第2アライメントマーク6を有し、かつセグメント電極基板2に対向して配置されたコモン電極基板1とを備える。第1アライメントマーク7は、x方向に延びるx方向パターン7a,7cと、x方向に交差するy方向に延び、かつx方向パターン7a,7cと交差するy方向パターン7b,7dとを有する。第2アライメントマーク6は、x方向に対して45°未満の角度αをなして交差する方向に延びる第1線分を有する第1パターン6a,6d,6e,6hと、y方向に対して45°未満の角度βをなして交差する方向に延びる第2線分を有する第2パターン6b,6c,6f,6gとを有する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、2枚以上の基板が貼り合わされた積層パネルおよび2層以上の膜を有する積層基板に関する。
液晶表示パネルは、一対の基板を位置合わせし、貼り合わせて製造される。例えば、透過型の液晶表示パネルは、一方の透光性基板の面上にコモン電極および配向膜が順次積層されたコモン電極基板と、他方の透光性基板の面上にセグメント電極および配向膜が順次積層されたセグメント電極基板とを位置合わせし、貼り合わせて製造される。
コモン電極およびセグメント電極は、それぞれ互いに平行で等間隔に設けられた複数の帯状電極である。コモン電極基板とセグメント電極基板は、コモン電極とセグメント電極とが互いに直交し、かつ対向するように、所定の間隔を空けて貼り合わされる。両基板の間隙には液晶材料が注入されて、液晶層が形成される。
液晶表示パネルは、予め設定されるマトリクス状の絵素領域を基準にして、各部材が形成される。コモン電極とセグメント電極とが重なる矩形領域が絵素領域であり、このような絵素領域を予め設定して、透光性基板上に各部材が所定の領域に形成される。したがって、両基板の貼り合わせに位置ズレが生じると、表示品位を著しく損なうこととなり、液晶表示パネルの歩留りが低下する。このような不都合を低減するために、一対で位置の整合性を判別することができるアライメントマークを両基板に分けて形成し、互いのアライメントマークを用いることによって、両基板の貼り合わせを高い位置精度で行なう技術が、下記の特許文献1〜3に開示されている。
図6は、特許文献1に開示されたアライメントマークの配置を示す図であり、図6(A)はセグメント電極基板に設けられたアライメントマークを示す平面図、図6(B)はコモン電極基板に設けられたアライメントマークを示す平面図、図6(C)は両基板を重ね合わせた状態を示す平面図である。セグメント電極基板とコモン電極基板とを重ね合わせて、図6(C)に示すように、セグメント電極基板に設けられた輪状アライメントマーク25および円状アライメントマーク26の中心軸と、コモン電極基板に設けられた輪状アライメントマーク26の中心軸とが一致するように、両基板の位置合わせを行なう。これにより、高い位置精度で両基板を貼り合わせることができる。
図7は、特許文献2に開示されたアライメントマークを示す平面図である。一方の基板上には、一定間隔で複数のT字状アライメントマーク27が設けられ、他方の基板上には、T字状アライメントマーク27の間隔と異なった間隔で複数の逆T字状アライメントマーク28が設けられている。1つの逆T字状アライメントマーク28を基準にして、両アライメントマーク27,28の隙間が基準位置から段階的に変化し、かつ左右対象に均等になるように、両基板の位置合わせを行なう。これにより、高い位置精度で両基板を貼り合わせることができる。
図8は、特許文献3に開示されたアライメントマークを示す平面図である。一方の基板に設けられた主尺目盛り29と、他方の基板に設けられた副尺目盛り30との位置関係から、ノギスのように、貼り合わせた後の両基板の位置ズレ量を簡単に素早く求めることができる。
大量生産を行なう場合には、最初の貼り合わせ時に、貼り合わせ装置を構成する各種機構、例えばテーブル移動機構の調整を厳密に行い、最初の調整に従って以降の貼り合わせを行なうので、効率よく貼り合わせを行なうことができる。しかし、時間の経過に伴って、テーブル移動機構の部品の消耗、貼り合わせる基板のロットの違い、あるいは製造環境の違いなどによって、位置ズレが生じるおそれがある。したがって、時間の経過に伴って生じる僅かなズレであっても、早期に発見する必要がある。
また、ロット毎のズレ量、時間帯毎のズレ量、日々または月々のズレ量、製造装置毎のズレ量などを把握することができれば、そのような違いに応じて自動的にテーブルの移動量などを調整することができるので、効率よく高い位置精度で基板を貼り合わせることができる。したがって、位置ズレの有無だけでなく、位置ズレ量を測定することが望ましい。
しかし、特許文献1のアライメントマークでは、僅かな位置ズレを発見することは困難である。また、位置ズレ量を読み取ることができないので、位置ズレ量を求めるには、大掛かりな撮影装置や画像処理装置が必要となる。特許文献2のアライメントマークでは、位置ズレ量を求めることが可能であるが、僅かな位置ズレを発見することは困難である。また、目盛りの形状が複雑で、ズレ量が読み取りにくいという欠点がある。特許文献3のアライメントマークでは、僅かな位置ズレを発見することができるとともに、位置ズレ量も求めることができるが、主尺目盛りや副尺目盛りの各パターン形成に複雑かつ高精細な技術が必要とされる。したがって、パターニング精度により、ズレ量の測定結果が大きく影響されるという欠点がある。
本発明の目的は、位置ズレを簡単に、素早く発見することである。本発明の他の目的は、位置ズレ量を高精度に求めることである。
本発明の積層パネルは、第1アライメントマークを有する第1基板と、前記第1アライメントマークと位置合わせされる第2アライメントマークを有し、かつ前記第1基板に対向して配置された第2基板とを備える積層パネルであって、前記第1アライメントマークは、x方向に延びるx方向パターンと、前記x方向に交差するy方向に延び、かつ前記x方向パターンと交差するy方向パターンとを有しており、前記第2アライメントマークは、前記x方向に対して45°未満の角度αをなして交差する方向に延びる第1線分を有する第1パターンと、前記y方向に対して45°未満の角度βをなして交差する方向に延びる第2線分を有する第2パターンとを有している。
本発明によれば、第1アライメントマークのx方向パターンと、第2アライメントマークの第1パターンとが45°未満の角度αをなして交差する。また、第1アライメントマークのy方向パターンと、第2アライメントマークの第2パターンとが45°未満の角度βをなして交差する。したがって、第1および第2アライメントマークの相対位置のズレが拡大して表示される。具体的には、第1基板と第2基板との間のx方向のズレは、アライメントマーク相対位置のy方向のズレとして、また第1基板と第2基板との間のy方向のズレは、アライメントマーク相対位置のx方向のズレとして、それぞれ表される。そして、y方向およびx方向のズレ量の各拡大率は、それぞれ cosα/sinαおよび cosβ/sinβで与えられ、角度αおよびβを適宜設定することによって、拡大率を自在に設定することができる。例えば、角度αおよびβを適宜設定することによって、10倍を越える拡大率に設定することができ、僅かな位置ズレを簡単に、素早く発見することができる。また、例えば拡大率が10倍となるような角度αおよびβを設定すれば、測定精度は1桁上がり、極めて高精度にズレ量を測ることができる。例えば、x方向のズレ量は、y方向に10倍に拡大されるので、y方向のズレ量を測定することによって、x方向のズレ量を直接測定する場合よりも、精度を1桁高く測定することができる。
前記第1アライメントマークおよび/または前記第2アライメントマークは、定ピッチで一列に配列されたパターン(以下、各パターンを定ピッチパターンともいう。)をさらに有していることが好ましい。これにより、拡大したズレ量を容易に測定することができる。定ピッチパターンの大きさを上記拡大率と等しくなるように設定しておけば、第1および第2アライメントマークの交点から基準位置までの間に存在する定ピッチパターンの個数を数えることによって、ズレ量を容易に数値化することができる。例えば、定ピッチパターンの大きさを10μm、拡大率を10倍に設定した場合、1ピッチパターンが1μmのズレに相当する。この場合、第1および第2アライメントマークの交点から基準位置までの間に定ピッチパターンが5個存在していれば、ズレ量は5μmとなる。すなわち、定ピッチパターンの個数がそのままズレ量となる。但し、定ピッチパターンの大きさと拡大率は必ずしも10である必要はなく、定ピッチパターンの大きさ(μm)が拡大率(倍)
と等しければ、1ピッチパターンが1μmのズレを測る目盛りに相当する。
と等しければ、1ピッチパターンが1μmのズレを測る目盛りに相当する。
前記x方向と前記y方向とが互いに略直交しており、前記角度αと前記角度βとが略等しくても良い。
前記第1パターンは、前記第1線分の一方端から前記x方向に略直交する方向に延びる線分を底辺とする二等辺三角形であり、前記第2パターンは、前記第2線分の一方端から前記y方向に略直交する方向に延びる線分を底辺とする二等辺三角形であることが好ましい。これにより、第1アライメントマークのx方向パターンと、第2アライメントマークの第1パターンの両斜辺が45°未満の角度αで交差するように配置することができる。したがって、第1パターンの頂角を基準位置として、x方向パターンが第1パターンのいずれの斜辺と交差しているかによって、y方向のズレの正負方向が容易に目視確認できる。同様に、第1アライメントマークのy方向パターンと、第2アライメントマークの第2パターンの両斜辺が45°未満の角度βで交差するように配置することができる。したがって、第2パターンの頂角を基準位置として、y方向パターンが第2パターンのいずれの斜辺と交差しているかによって、x方向のズレの正負方向が容易に目視確認できる。
前記第1基板および前記第2基板は、それぞれ矩形状であり、前記第1基板の四隅近傍に、前記x方向パターンと前記y方向パターンとの交差部がそれぞれ配置され、前記第2基板の四隅近傍に、前記第1パターンおよび前記第2パターンの各頂点がそれぞれ配置されていることが好ましい。これにより、x方向およびy方向の基板の位置ズレを容易にかつ確実に発見することができる。その結果を以降の貼り合わせ工程にフィードバックすることによって、x方向およびy方向の位置合わせを高い精度で行なうことができる。
前記x方向パターンおよび前記y方向パターンは、それぞれ帯状であっても良い。また、定ピッチで一列に配列された複数の穴を有する帯状であっても良い。定ピッチで一列に配列された複数の穴(ピンホール)は、アライメントマークの形成と同一プロセスで形成することができる。したがって、アライメントマーク上に、定ピッチパターン用の専用材質を新たに設け、専用プロセスにて定ピッチパターンを形成する必要がないので、製造プロセスの増加を抑えることができる。
前記x方向パターンおよび前記y方向パターンは、それぞれが帯状で互いに略直交し、前記第1パターンおよび前記第2パターンは、各頂点が共通し、前記第1基板と前記第2基板とが合致したとき、前記x方向パターンと前記y方向パターンとが略直交することにより形成される四隅のうちの1つの交点に、前記第1パターンおよび前記第2パターンの各頂点が合致することが好ましい。これにより、高精度のアライメントを行なうことができると共に、第1および第2パターンの共通する頂点を基準位置とすることで、両基板の位置ズレが発生したときの位置関係を視認しやすい。なお、「第1基板と第2基板とが合致したとき」とは、両基板が設計通りに(位置ズレすることなく)貼り合わされたときを言い、両基板の縁が一致したときに限定されない。
本発明の表示パネルは、本発明の積層パネルと、前記第1基板と前記第2基板との間に介在する表示媒体層とを有する。積層パネルは、第1基板と第2基板とが高い位置合わせ精度で貼り合わされるので、このようにして作成された表示パネルは高い表示品位が得られる。また表示パネルの歩留りが向上する。なお、表示媒体層とは、互いに対向する電極間の電位差により光透過率が変調される層、または互いに対向する電極間を流れる電流により自発光する層である。表示媒体層は、例えば液晶層、無機または有機EL層、発光ガス層、電気泳動層、エレクトロクロミック層などである。
上述の通り、本発明の積層パネルは、第1アライメントマークを有する第1基板と、前記第1アライメントマークと位置合わせされる第2アライメントマークを有する第2基板とを備える。しかし、本発明の構成は、第1および第2基板を有する場合だけでなく、パターン形成される複数の膜が積層された単一の積層基板にも適用することができる。この場合にも、本発明の積層パネルと同様の効果が得られる。
本発明の積層基板は、第1アライメントマークを有する第1膜と、前記第1アライメントマークと位置合わせされる第2アライメントマークを有し、かつ前記第1膜上に積層された第2膜とを少なくとも含む積層基板であって、前記第1アライメントマークは、x方向に延びるx方向パターンと、前記x方向に交差するy方向に延び、かつ前記x方向パターンと交差するy方向パターンとを有しており、前記第2アライメントマークは、前記x方向に対して45°未満の角度αをなして交差する方向に延びる第1線分を有する第1パターンと、前記y方向に対して45°未満の角度βをなして交差する方向に延びる第2線分を有する第2パターンとを有している。
前記第1アライメントマークおよび/または前記第2アライメントマークは、定ピッチで一列に配列されたパターンをさらに有していることが好ましい。
前記第1パターンは、前記第1線分の一方端から前記x方向に略直交する方向に延びる線分を底辺とする二等辺三角形であり、前記第2パターンは、前記第2線分の一方端から前記y方向に略直交する方向に延びる線分を底辺とする二等辺三角形であることが好ましい。
前記基板は矩形状であり、前記基板の四隅近傍に、前記x方向パターンと前記y方向パターンとの交差部がそれぞれ配置され、かつ前記第1パターンおよび前記第2パターンの各頂点がそれぞれ配置されていることが好ましい。
前記x方向パターンおよび前記y方向パターンは、それぞれ帯状であっても良い。また、定ピッチで一列に配列された複数の穴を有する帯状であっても良い。
前記x方向パターンおよび前記y方向パターンは、それぞれが帯状で互いに略直交し、前記第1パターンおよび前記第2パターンは、各頂点が共通し、前記第1膜と前記第2膜とが合致したとき、前記x方向パターンと前記y方向パターンとが略直交することにより形成される四隅のうちの1つの交点に、前記第1パターンおよび前記第2パターンの各頂点が合致することが好ましい。なお、「第1膜と第2膜とが合致したとき」とは、両膜が設計通りに(位置ズレすることなく)積層されたときを言う。
本発明によれば、位置ズレ量を拡大することができるので、位置ズレを簡単に、素早く発見することができる。また、本発明のある態様によれば、位置ズレ量を高精度に求めることができる。位置ズレ量に基づいて、以降に貼り合わせられる基板や積層される膜の位置を補正することによって、歩留りが向上する。
以下、図面を参照しながら本発明による実施形態を説明する。以下の実施形態では、液晶表示パネルを例にして説明するが、本発明の積層パネルは、PDP(Plasma Display Panel)、有機または無機EL(Electro Luminescence)表示装置、エレクトロクロミック表示装置などにも適用することができる。また、以下に示す液晶表示パネルは、パッシブ(マルチプレックス)駆動型であるが、TFT(Thin Film Transistor)やMIM(Metal Insulator Metal) などを用いたアクティブ駆動型でも良い。さらに、透過型に限らず、反射型や反射透過両用型のいずれのタイプでも良い。なお、以下に示す参照符号において、同族的な構成要素を総括的に表すために、英字を省略して数字のみを表記することがある。例えば、アライメントマーク6a〜6hを総括的にアライメントマーク6と表記することがある。
(実施形態1)
図1(A)および(B)は、本実施形態の液晶表示パネルを構成するコモン電極基板1とセグメント電極基板2をそれぞれ模式的に示す平面図である。コモン電極基板1およびセグメント電極基板2は、ガラスや樹脂などの透光性基板3,4をそれぞれ有する。コモン電極基板1は、行方向に延びる複数行のコモン電極および配向膜を有する。また、セグメント電極基板2は、行方向に対して交差する列方向に延びる複数列のセグメント電極および配向膜を有する。コモン電極基板1とセグメント電極基板2とを貼り合わせて構成される液晶表示パネルの中央部には、矩形の表示領域5が設定される。セグメント電極とコモン電極との交差領域が画素領域を規定し、マトリクス状に配列された複数の画素領域から表示領域5が形成される。
図1(A)および(B)は、本実施形態の液晶表示パネルを構成するコモン電極基板1とセグメント電極基板2をそれぞれ模式的に示す平面図である。コモン電極基板1およびセグメント電極基板2は、ガラスや樹脂などの透光性基板3,4をそれぞれ有する。コモン電極基板1は、行方向に延びる複数行のコモン電極および配向膜を有する。また、セグメント電極基板2は、行方向に対して交差する列方向に延びる複数列のセグメント電極および配向膜を有する。コモン電極基板1とセグメント電極基板2とを貼り合わせて構成される液晶表示パネルの中央部には、矩形の表示領域5が設定される。セグメント電極とコモン電極との交差領域が画素領域を規定し、マトリクス状に配列された複数の画素領域から表示領域5が形成される。
ズレ量強調用アライメントマーク6は、コモン電極基板1の表示領域5以外の領域に形成され、ズレ量測定用アライメントマーク7は、セグメント電極基板2の表示領域5以外の領域に形成されている。すなわち、両アライメントマーク6,7は、実際の表示に悪影響を及ぼさないように形成されている。
ズレ量強調用アライメントマーク6は、矩形状の透光性基板3の四隅近傍にそれぞれ1組配置される。1組のズレ量強調用アライメントマーク6は、第1パターン6a,6d,6e,6hと第2パターン6b,6c,6f,6gとから構成される。第1パターンおよび第2パターンは、それぞれ二等辺三角形の形状を有しており、各頂点9が共通する。また、第1パターンと第2パターンは、底辺が互いに略直交し、かつ透光性基板3の端3a,3bに略直交するようにする位置に配置されている。
ズレ量測定用アライメントマーク7は、矩形状の透光性基板4の四隅にそれぞれ配置される。各隅に配置されるズレ量測定用アライメントマーク7は、x方向に延びるx方向パターン7a,7cと、x方向に交差するy方向に延び、かつx方向パターンと交差するy方向パターン7b,7dとを有する。x方向パターン7a,7cは、透光性基板4の端4aに平行となるように配置されている。また、y方向パターン7b,7dは、透光性基板4の端4bに平行となるように配置されている。x方向パターン7a,7cおよびy方向パターン7b,7dは、それぞれ定ピッチで一列に配列された複数のピンホール8を有する帯状である。言い換えれば、ズレ量測定用アライメントマーク7内には、帯状マークの各辺に平行に、かつ等間隔にピンホール8が配列されている。ピンホール8の径およびピンホール8のピッチは、所定値に予め設定されている。
図2は、本実施形態の液晶表示パネルを模式的に示す断面図である。図2を参照しながら、液晶表示パネルの製造工程について簡単に説明する。まず、下地膜12,17が形成された透光性基板3,4を用意する。印刷法、染色法、電着法などにより、透光性基板3の下地膜12上にカラーフィルタ13を形成する。さらに、スピンコーター法などにより、カラーフィルタ13上にオーバーコート膜14を形成する。両透光性基板3,4上にITO(インジウム錫酸化物)などの透明導電膜をそれぞれ形成した後、パターニングをそれぞれ行なって、コモン電極基板(透光性基板3)上に、ズレ量強調用アライメントマーク6および表示電極(コモン電極)15を形成し、セグメント電極基板(透光性基板4)上に、ズレ量測定用アライメントマーク7および表示電極(セグメント電極)18を形成する。アライメントマーク6,7は表示電極15,18と同じ材料から形成されるので、例えばフォトリソグラフィ法や印刷法などのパターニングによって、アライメントマーク6,7および表示電極15,18を同時に作成することができる。特に、フォトリソグラフィ法を採用することによって、高精細な加工が可能である。
透光性基板3上に配向膜16を形成し、透光性基板4上にトップコート膜19および配向膜20を形成する。コモン電極基板1またはセグメント電極基板2上に、スペーサ22を散布し、シール材層21を形成する。両基板1,2の位置合わせを行なった後、両基板1,2の貼り合わせを行なう。貼り合わせは、基板1,2を加圧しながら、加熱または紫外線照射して行われる。これにより、シール材層21が硬化する。このようにして、スペーサ22によって規制された空間を有する液晶セルが作成される。
両アライメントマーク6,7を用いて、位置ズレ量やズレ方向を測定する。この測定は、固定された顕微鏡などを用いて、搬送経路上の所定の位置で行なわれる。位置ズレ量やズレ方向が許容範囲内であれば、液晶セル内へ液晶材料を注入した後、注入口を封止して、液晶層23を形成する。以上の工程を経て、本実施形態の液晶表示パネルが製造される。
一方、先の測定により得られた位置ズレ量やズレ方向に従って、貼り合わせ装置などの製造装置の設定を調整することによって、次に作成する液晶表示パネルの製造工程にフィードバックする。これにより、不良品の発生が抑えられ、歩留りが向上する。
以上のように、本実施形態によれば、コモン電極基板1およびセグメント電極基板2を貼り合わせた後、大掛かりな測定装置を用いずに、両基板1,2の位置ズレ量を測定することができる。ズレ量強調用アライメントマーク6とズレ量測定用アライメントマーク7とを組み合わせることによって、位置ズレ量を拡大測定でき、測定した位置ズレ量に基づいて基板の貼り合わせの位置精度を評価することができる。この評価結果を用いて、以降の基板の貼り合わせ位置を補正すると、高い位置合わせ精度で基板を貼り合わせることができる。このようにして作成された表示パネルは高い表示品位が得られる。また表示パネルの歩留りが向上する。
図3は、両アライメントマーク6,7を用いて、位置ズレ量を測定する方法を説明するため平面図であり、図3(A)は位置ズレが生じていない状態を示す図、図3(B)はy方向に位置ズレが生じている状態を示す図である。図3を参照しながら、両基板1,2を貼り合わせた後に、ズレ量強調用アライメントマーク6を有するコモン電極基板1を基準として、ズレ量測定用アライメントマーク7を有するセグメント電極基板2の位置ズレ量を測定する方法を説明する。
図3(A)に示すように、位置ズレが生じていない状態では、x方向パターン7aとy方向パターン7bとが略直交することにより形成される四隅のうちの1つの交点10に、第1パターン6aおよび第2パターン6bの各頂点9が合致している。なお、交点10は、帯状のx方向パターン7aの一辺7a1と、帯状のy方向パターン7bの一辺7b1とが交わる点である。
図3(B)に示すように、帯状のx方向パターン7aの一辺7a1と二等辺三角形の第1パターン6aとの交点11aが、第1パターン6aの斜辺6a1上にある場合、図3(B)の紙面において下方向に、セグメント電極基板2が位置ズレしていると判断することができる。一方、第1パターン6aの斜辺6a2上に交点11aがある場合には、図3(B)の紙面において上方向に、セグメント電極基板2が位置ズレしていると判断することができる。このように、x方向パターン7aの一辺7a1と第1パターン6aとの交点11aが、第1パターン6aのいずれの斜辺に存在するかによって、セグメント電極基板2が上方向または下方向に位置ズレしていることを判断することができる。
また、y方向におけるズレ量Y1、すなわち交点10から頂点9までの距離は、交点10から交点11aまでの距離X1から算出することができる。第1パターン6aの斜辺6a1は、帯状のx方向パターン7aに対して角度αをなして交差するので、距離X1は、ズレ量Y1と拡大率 cosα/sinαとの積となる。二等辺三角形の第1パターン6aの頂角が鋭角の場合、言い換えれば第1パターン6aの底角が45°よりも大きい場合、角度αは45°未満となるので、拡大率 cosα/sinαは1よりも大きい値となる。したがって、距離X1は、ズレ量Y1よりも大きな値となる。言い換えれば、ズレ量Y1は、距離X1に拡大される。このように、位置ズレ量Y1は、ズレ量強調用アライメントマーク6の二等辺三角形の形状によって、強調する拡大率を自在に設定することができる。
さらに、ズレ量測定用アライメントマーク7aに形成されたピンホール8の径およびピンホール8のピッチは、所定値に予め設定されているので、交点10から交点11aまでに含まれるピンホール8の数を読み取ることによって、距離X1が求められる。このように、ズレ量測定用アライメントマーク7内に、ピンホールを等間隔に形成することによって、貼り合わされた基板の詳しいズレ量およびズレ方向が目視で容易に判断できる。
例えば、 cosα/sinα=10となるように、ズレ量強調用アライメントマーク6aの形状を設計し、ズレ量測定用アライメントマーク7aに形成するピンホール8の間隔(ピンホール8の径とピッチの和)を10μm とすれば、ピンホール8の間隔の1/10、すなわち1μm 単位でズレ量Y1を計測することが可能となる。したがって、極めて高精度なズレ量を容易に測定することができる。
本実施形態では、ズレ量測定用アライメントマーク7a内にピンホール8を形成しているが、ズレ量測定用アライメントマーク7a自体が目盛りとして機能するものでも良い。例えば、サイズが予め判明している複数のアライメントマークをx方向に等間隔で並べて、破線状のアライメントマークを形成しても良い。
次に、図4を参照しながら、x方向のズレ量を測定する方法について説明する。図4(A)は位置ズレが生じていない状態を示す図、図4(B)はx方向に位置ズレが生じている状態を示す図である。なお、図4(A)は、図3(A)と同じなので、説明を省略する。
図4(B)に示すように、帯状のy方向パターン7bの一辺7b1と二等辺三角形の第2パターン6bとの交点11bが、第2パターン6bの斜辺6b2上にある場合、図4(B)の紙面において右方向に、セグメント電極基板2が位置ズレしていると判断することができる。一方、第2パターン6bの斜辺6b1上に交点11bがある場合には、図4(B)の紙面において左方向に、セグメント電極基板2が位置ズレしていると判断することができる。このように、y方向パターン7bの一辺7a1と第2パターン6bとの交点11bが、第2パターン6bのいずれの斜辺に存在するかによって、セグメント電極基板2が右方向または左方向に位置ズレしていることを判断することができる。
また、x方向におけるズレ量X2、すなわち交点10から頂点9までの距離は、交点10から交点11bまでの距離Y2から算出することができる。第2パターン6bの斜辺6b2は、帯状のy方向パターン7bに対して角度βをなして交差するので、距離Y2は、ズレ量X2と拡大率 cosβ/sinβとの積となる。二等辺三角形の第2パターン6bの頂角が鋭角の場合、言い換えれば第2パターン6bの底角が45°よりも大きい場合、角度βは45°未満となるので、拡大率 cosβ/sinβは1よりも大きい値となる。したがって、距離Y2は、ズレ量X2よりも大きな値となる。言い換えれば、ズレ量X2は、距離Y2に拡大される。
さらに、ズレ量測定用アライメントマーク7bに形成されたピンホール8の径およびピンホール8のピッチは、所定値に予め設定されているので、交点10から交点11bまでに含まれるピンホール8の数を読み取ることによって、距離Y2が求められる。したがって、極めて高精度なズレ量を容易に測定することができる。
このように、コモン電極基板1の四隅近傍に設けた1組のズレ量強調用アライメントマーク6a,6bによって、複数方向への基板の位置ズレ量を容易に測定することができる。測定結果に従って、さらに高精度に貼り合わせ位置を補正すると、高い表示品位の液晶表示パネルを効率良く製造することができる。
(実施形態2)
実施形態1では、ズレ量強調用アライメントマーク6を有するコモン電極基板1と、ズレ量強調用アライメントマーク6と位置合わせされるズレ量測定用アライメントマーク7を有するセグメント電極基板2とを備えた積層パネルについて説明した。しかし、本発明の構成は、コモン電極基板1およびセグメント電極基板2を有する場合だけでなく、パターン形成される複数の膜が積層された単一の積層基板にも適用することができる。本実施形態では、表示電極と配向膜の2つのパターン膜を有する積層基板について説明する。ただし、本発明の積層基板は、位置合わせを必要とする膜(典型的にはパターン形成される膜)が複数積層された基板に適用され、実施形態1で示した液晶表示パネルに用いられる積層基板に限定されない。
実施形態1では、ズレ量強調用アライメントマーク6を有するコモン電極基板1と、ズレ量強調用アライメントマーク6と位置合わせされるズレ量測定用アライメントマーク7を有するセグメント電極基板2とを備えた積層パネルについて説明した。しかし、本発明の構成は、コモン電極基板1およびセグメント電極基板2を有する場合だけでなく、パターン形成される複数の膜が積層された単一の積層基板にも適用することができる。本実施形態では、表示電極と配向膜の2つのパターン膜を有する積層基板について説明する。ただし、本発明の積層基板は、位置合わせを必要とする膜(典型的にはパターン形成される膜)が複数積層された基板に適用され、実施形態1で示した液晶表示パネルに用いられる積層基板に限定されない。
図5は、本実施形態の積層基板を模式的に示す断面図である。本実施形態の積層基板は、下地膜12を有する矩形状の基板3と、下地膜12上に形成された表示電極15およびズレ量強調用アライメントマーク6と、表示電極15およびアライメントマーク6を覆う配向膜16とを有する。配向膜16には、ズレ量測定用アライメントマーク71が形成されている。図示しないが、両アライメントマーク6,71は、それぞれ実施形態1で示したアライメントマーク6,7と同様のパターン形状を有している。
ズレ量測定用アライメントマーク71は、例えば、アライメントマーク71のパターンが予め形成された版に配向膜材料を塗布し、基板3に配向膜材料を印刷することによって、形成することができる。これにより、配向膜16の形成と同時に、アライメントマーク71がズレ量強調用アライメントマーク6a上にパターン形成される。ズレ量強調用アライメントマーク6は、実施形態1で説明した通り、表示電極15と同じ材料から形成され、アライメントマーク6および表示電極15を同時に作成することができる。
本実施形態によれば、表示電極15に対する配向膜16の位置ズレ量やズレ方向を評価することができる。また、実施形態1と同様に、ズレ量測定用アライメントマーク71内に、ピンホールを等間隔に形成することによって、配向膜16の詳しい位置ズレ量やズレ方向が目視で容易に判断できる。さらに、基板3の四隅近傍に、一対のズレ量強調用アライメントマーク6a,6bをそれぞれ設けることによって、パターン膜の位置ズレ量を容易に測定することができる。したがって、測定された位置ズレ量に従って、パターン膜の形成位置を高精度に調整することができる。
本実施形態では、表示電極15の層および配向膜16の層の2層にアライメントマーク6,7が形成されているが、3層以上のパターン膜にアライメントマーク6,7が形成されていても良い。例えば、第1乃至第4のパターン膜が順次積層された積層基板の場合、第1のパターン膜にズレ量強調用アライメントマーク6を形成し、第2乃至第4のパターン膜のそれぞれにズレ量測定用アライメントマーク7を形成しても良い。第2パターン膜の測定結果に基づいて、第3以降のパターン膜の形成位置を調整すると、高い位置合わせ精度の積層基板が得られる。
さらに、実施形態1および2を組み合わせても良い。例えば、実施形態1におけるコモン電極基板1として実施形態2で示した積層基板を用いても良い。これにより、コモン電極基板1の各パターン膜の位置ズレを評価するとともに、コモン電極基板1とセグメント電極基板2との相対的な位置ズレを評価することができる。また、実施形態1において、ズレ量測定用アライメントマーク7をそれぞれ有する複数のパターン膜が積層されたセグメント電極基板2を用いても良い。これにより、コモン電極基板1に対するセグメント電極基板2の各パターン膜の位置ズレ量や方向を評価することができる。
なお、上記のように、ズレ量強調用アライメントマーク6を基準として、複数のパターン膜にそれぞれ形成されたズレ量測定用アライメントマーク7のズレを評価しても良いし、ズレ量測定用アライメントマーク7を基準として、複数のパターン膜にそれぞれ形成されたズレ量強調用アライメントマーク6のズレを評価しても良い。
本発明の積層パネルは、液晶表示パネル、PDP、有機または無機EL表示装置、エレクトロクロミック表示装置などに利用することができる。また、本発明の積層基板は、これら表示装置の基板に、あるいは各層間で位置合わせが必要とされる、複数の層が積層された基板に、利用することができる。
1 コモン電極基板(第2基板)
2 セグメント電極基板(第1基板)
3,4 透光性基板
5 表示領域
6 ズレ量強調用アライメントマーク(第2アライメントマーク)
6a,6d,6e,6h 第1パターン
6a1,6a2 第1パターンの斜辺(第1線分)
6b,6c,6f,6g 第2パターン
6b1,6b2 第2パターンの斜辺(第2線分)
7 ズレ量測定用アライメントマーク(第1アライメントマーク)
7a,7c x方向パターン
7b,7d y方向パターン
8 ピンホール
9 第1および第2パターンの頂点
10 x方向パターンとy方向パターンとの交点
11a x方向パターンと第1パターンとの交点
11b y方向パターンと第2パターンとの交点
23 液晶層
2 セグメント電極基板(第1基板)
3,4 透光性基板
5 表示領域
6 ズレ量強調用アライメントマーク(第2アライメントマーク)
6a,6d,6e,6h 第1パターン
6a1,6a2 第1パターンの斜辺(第1線分)
6b,6c,6f,6g 第2パターン
6b1,6b2 第2パターンの斜辺(第2線分)
7 ズレ量測定用アライメントマーク(第1アライメントマーク)
7a,7c x方向パターン
7b,7d y方向パターン
8 ピンホール
9 第1および第2パターンの頂点
10 x方向パターンとy方向パターンとの交点
11a x方向パターンと第1パターンとの交点
11b y方向パターンと第2パターンとの交点
23 液晶層
Claims (17)
- 第1アライメントマークを有する第1基板と、前記第1アライメントマークと位置合わせされる第2アライメントマークを有し、かつ前記第1基板に対向して配置された第2基板とを備える積層パネルであって、
前記第1アライメントマークは、x方向に延びるx方向パターンと、前記x方向に交差するy方向に延び、かつ前記x方向パターンと交差するy方向パターンとを有しており、
前記第2アライメントマークは、前記x方向に対して45°未満の角度αをなして交差する方向に延びる第1線分を有する第1パターンと、前記y方向に対して45°未満の角度βをなして交差する方向に延びる第2線分を有する第2パターンとを有している、積層パネル。 - 前記第1アライメントマークおよび/または前記第2アライメントマークは、定ピッチで一列に配列されたパターンをさらに有する、請求項1に記載の積層パネル。
- 前記x方向と前記y方向とが互いに略直交しており、前記角度αと前記角度βとが略等しい、請求項1または2に記載の積層パネル。
- 前記第1パターンは、前記第1線分の一方端から前記x方向に略直交する方向に延びる線分を底辺とする二等辺三角形であり、前記第2パターンは、前記第2線分の一方端から前記y方向に略直交する方向に延びる線分を底辺とする二等辺三角形である、請求項1から3のいずれか1項に記載の積層パネル。
- 前記第1基板および前記第2基板は、それぞれ矩形状であり、前記第1基板の四隅近傍に、前記x方向パターンと前記y方向パターンとの交差部がそれぞれ配置され、前記第2基板の四隅近傍に、前記第1パターンおよび前記第2パターンの各頂点がそれぞれ配置されている、請求項4に記載の積層パネル。
- 前記x方向パターンおよび前記y方向パターンは、それぞれ帯状である、請求項1から5のいずれか1項に記載の積層パネル。
- 前記x方向パターンおよび前記y方向パターンは、それぞれ定ピッチで一列に配列された複数の穴を有する帯状である、請求項1から5のいずれか1項に記載の積層パネル。
- 前記x方向パターンおよび前記y方向パターンは、それぞれが帯状で互いに略直交し、前記第1パターンおよび前記第2パターンは、各頂点が共通し、前記第1基板と前記第2基板とが合致したとき、前記x方向パターンと前記y方向パターンとが略直交することにより形成される四隅のうちの1つの交点に、前記第1パターンおよび前記第2パターンの各頂点が合致する、請求項4に記載の積層パネル。
- 請求項1から8のいずれか1項に記載の積層パネルと、前記第1基板と前記第2基板との間に介在する表示媒体層とを有する、表示パネル。
- 第1アライメントマークを有する第1膜と、前記第1アライメントマークと位置合わせされる第2アライメントマークを有し、かつ前記第1膜上に積層された第2膜とを少なくとも含む積層基板であって、
前記第1アライメントマークは、x方向に延びるx方向パターンと、前記x方向に交差するy方向に延び、かつ前記x方向パターンと交差するy方向パターンとを有しており、
前記第2アライメントマークは、前記x方向に対して45°未満の角度αをなして交差する方向に延びる第1線分を有する第1パターンと、前記y方向に対して45°未満の角度βをなして交差する方向に延びる第2線分を有する第2パターンとを有している、積層基板。 - 前記第1アライメントマークおよび/または前記第2アライメントマークは、定ピッチで一列に配列されたパターンをさらに有する、請求項10に記載の積層基板。
- 前記x方向と前記y方向とが互いに略直交しており、前記角度αと前記角度βとが略等しい、請求項10または11に記載の積層基板。
- 前記第1パターンは、前記第1線分の一方端から前記x方向に略直交する方向に延びる線分を底辺とする二等辺三角形であり、前記第2パターンは、前記第2線分の一方端から前記y方向に略直交する方向に延びる線分を底辺とする二等辺三角形である、請求項10から12のいずれか1項に記載の積層基板。
- 前記基板は矩形状であり、前記基板の四隅近傍に、前記x方向パターンと前記y方向パターンとの交差部がそれぞれ配置され、かつ前記第1パターンおよび前記第2パターンの各頂点がそれぞれ配置されている、請求項13に記載の積層基板。
- 前記x方向パターンおよび前記y方向パターンは、それぞれ帯状である、請求項10から14のいずれか1項に記載の積層基板。
- 前記x方向パターンおよび前記y方向パターンは、それぞれ定ピッチで一列に配列された複数の穴を有する帯状である、請求項10から14のいずれか1項に記載の積層基板。
- 前記x方向パターンおよび前記y方向パターンは、それぞれが帯状で互いに略直交し、前記第1パターンおよび前記第2パターンは、各頂点が共通し、前記第1膜と前記第2膜とが合致したとき、前記x方向パターンと前記y方向パターンとが略直交することにより形成される四隅のうちの1つの交点に、前記第1パターンおよび前記第2パターンの各頂点が合致する、請求項13に記載の積層基板。
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JP2003329266A JP2005092162A (ja) | 2003-09-22 | 2003-09-22 | 積層パネルおよび積層基板 |
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JP2003329266A Pending JP2005092162A (ja) | 2003-09-22 | 2003-09-22 | 積層パネルおよび積層基板 |
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CN102135680A (zh) * | 2010-01-27 | 2011-07-27 | 索尼公司 | 液晶显示装置和电子设备 |
-
2003
- 2003-09-22 JP JP2003329266A patent/JP2005092162A/ja active Pending
Cited By (3)
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CN102135680A (zh) * | 2010-01-27 | 2011-07-27 | 索尼公司 | 液晶显示装置和电子设备 |
JP2011154155A (ja) * | 2010-01-27 | 2011-08-11 | Sony Corp | 液晶表示装置および電子機器 |
CN102135680B (zh) * | 2010-01-27 | 2015-01-14 | 株式会社日本显示器西 | 液晶显示装置和电子设备 |
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