JP2005062597A - 光走査装置、画像形成装置及びカラー画像形成装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】1以上の光ビームを発生する光源装置18と、光源装置からの光ビームを偏向走査する偏向器14と、光ビームを略等速に走査させる走査光学系15を備えた光走査装置において、複数のセンサを並べて配置し少なくとも2つの互いに対向する辺縁が平行で直線をなし各々のセンサの対向する辺縁のうち少なくとも一方の辺は主走査方向と非平行な角度を持って配置した光ビーム位置検出手段19と、光ビーム位置検出手段からのビーム位置検出信号に基づいて副走査方向の走査位置(又はビーム間隔)を検出する検出手段21,22と、検出手段で検出した走査位置が規定の位置からずれていた場合に走査位置を制御して規定の走査位置に戻す制御手段23,29を具備する構成とした。
【選択図】図1
Description
この種の光走査装置を用いて高速に記録を行うには、光走査装置の光偏向のためのポリゴンミラーを高速に回転させる必要があるが、ポリゴンミラーの高速回転は、振動や騒音のために限界がある。そこで、ポリゴンミラーの回転数を上げない代わりに、複数個の光ビームを用いて、1回の走査で複数ラインを一括して記録を行う方法が従来から種々提案されている。
特許文献1に記載の発明では、光ビーム位置検知に光ビーム検知領域の走査開始端の辺が互いに非平行な複数のセンサを用い、光ビームを個別に点灯させて複数のセンサの開始端をよぎる光ビームの時間間隔を計測して、その時間間隔の差を各ビーム間の副走査ピッチに換算する。しかしながら、この方法では、温度あるいは電源電圧の変動等による光ビームのパワー変動やセンサの感度の変動等により検出位置が変動し、走査位置、副走査ビームピッチの測定値にバラツキが生じるという欠点がある。
すなわち特許文献1に記載の発明では、光ビーム位置検知に光ビーム検知領域の走査開始端の辺が互いに非平行な2個のセンサーを用い、各々のセンサを光ビームが通過するときに出力される光ビーム位置検出信号の時間差から光ビームの副走査の走査位置を検出している。このため、光ビーム位置検出信号は温度や光ビームの光量変動で検出位置がずれるために検出した副走査の走査位置、ひいては検出した副走査ビームピッチの誤差が大きくなる。
本発明の第1の構成は、光ビームを発生させる光源と、該光源からの光ビームを偏向させ走査する光偏向手段と、前記光ビームを略等速に走査させる走査光学系とを備えた光走査装置において、複数のセンサを並べて配置し、少なくとも2つの互いに対向する辺縁が平行で直線をなし、各々のセンサの対向する辺縁のうち少なくとも一方の辺は主走査方向と非平行な角度を持って配置した前記複数光ビームの位置を検出する光ビーム位置検出手段と、前記光ビーム位置検出手段からのビーム位置検出信号に基づいて副走査方向の走査位置を検出する副走査位置検出手段と、前記副走査位置検出手段で検出した副走査の走査位置が規定の位置からずれていた場合に副走査方向の走査位置を制御して、規定の走査位置に戻す走査位置制御手段とを具備する構成としたものである。
また、本発明の第5の構成は、第1乃至第4のいずれか一つの構成の光走査装置において、光ビーム位置検出手段の各々のセンサの対向する辺縁のうち少なくとも一方の辺は主走査方向と垂直な角度を持って配置した構成としたものである。
さらに、本発明の第6の構成は、第1乃至第5のいずれか一つの構成の光走査装置において、光ビーム位置検出手段の各々のセンサの対向する辺縁の間隔は光ビームのビームスポット径よりも小さい構成としたものである。
さらに、本発明の第7の構成は、第4の構成の光走査装置において、光ビーム位置検出手段の各々のセンサの光ビーム未検出時の信号レベルを走査終了端側のセンサの信号レベルほど高く設定した構成としたものである。
さらに、本発明の第8の構成は、光走査装置であり、第1乃至第7のいずれか一つの構成の光走査装置を主走査方向に並置し、1走査ラインを各々分割して走査する構成としたものである。
また、本発明の第10の構成は、カラー画像形成装置であり、第9の構成の画像形成装置を複数備えた構成としたものである。
また、第2の構成の光走査装置においては、複数の光ビームを用いた場合に、各光ビームのうち副走査方向のビーム間隔を計測し、制御することにより、温度、振動等によるビーム走査位置ずれのない良好な画像を得ることができる。
さらに、第3の構成の光走査装置においては、複数の光ビームを用いた場合に、各光ビームのうち副走査方向のビーム間隔を計測し、所定ピッチからずれている場合はオペレータ等に通報することにより、簡便な方法でビーム走査位置ずれのない良好な画像を得ることができる。
また、第5の構成の光走査装置においては、第1乃至第4のいずれか一つの構成及び効果に加え、光ビーム位置検出手段の各々のセンサの対向する辺縁のうち少なくとも一方の辺は主走査方向と垂直な角度を持って配置することにより、主走査の書込み開始(ライン同期)検知も同時に可能とすることができる。
さらに、第6の構成の光走査装置においては、第1乃至第5のいずれか一つの構成及び効果に加え、光ビーム位置検出手段の各々のセンサの対向する辺縁の間隔を光ビームのビームスポット径よりも小さくすることにより2つの信号を確実にクロスさせることができる。
さらに、第7の構成の光走査装置においては、第4の構成及び効果に加え、光ビーム位置検出手段の各々のセンサの光ビーム未検出時の信号レベルを、走査終了端側のセンサの信号レベルほど高く設定することにより、ノイズ等による検出信号の誤出力を防止することができる。
さらに、第8の構成の光走査装置においては、第1乃至第7のいずれか一つの構成の光走査装置を主走査方向に並置し、1走査ラインを各々分割して走査することにより、つなぎ目のスムースな光走査装置を得ることができる。
また、第10の構成の画像形成装置においては、第9の構成の画像形成装置を複数備えた構成としたことにより、高品質なカラー画像を出力するカラー画像形成装置を得ることができる。
尚、図1では2本の光ビームを同時に走査する例を示しているが、これに限るものではなく、1ビームでも、あるいは3以上の複数ビームでも良い。
また、図1において光源装置18は、半導体レーザ11a,11bとカップリングレンズ12a,12bにより構成されているが、このような構成に限定されるわけではない。
また、偏向器(ポリゴンミラー)14に入射する2本の光ビームL1,L2は、主走査断面内にて互いに平行ではない構成である。
このような構成により、被走査面16における2つのビームスポットの主走査方向の間隔:PY を確保することができる。従って変調開始タイミングを設定するための同期検知信号を、(一つの同期検知板19を用いて)両光ビームに対して独立に検出することが可能となる。
環境(温度/湿度)変動や経時の影響等により、上記ビームピッチ:PZ は変動する恐れがある。このために、光源装置18は光ビーム偏向素子29を具備する。また、光ビーム位置検出手段(同期検知板)19においてPZ を検出できるようなセンサを追加し、後述するビーム位置検出回路にてビーム位置を検出し、各ビームスポット間の間隔(ビームピッチ:PZ )をビーム間隔計測回路21にて計測し、所定のピッチからのずれをビーム間隔演算回路22にて算出し、所定ピッチからのずれが有ればビーム偏向素子駆動回路23にて光ビーム偏向素子29を駆動し、当該ビームをビームスポットが所定のピッチになるように偏向させる。
図3は光ビーム偏向素子29として「楔形プリズム」を用いて光ビームを偏向させる一例を示す図である。頂角αを持つ楔形プリズム30とリング超音波モータ31を保持部材29aに取り付け、リング超音波モータ31により楔形プリズム30をγ回転させる。その時の回転角により光ビームが光軸に対してφだけ変化する。
尚、光ビーム偏向素子29としては、楔形プリズム30に限られるものではなく、例えば、電気信号にて駆動される液晶素子を光ビームの光路に配設してビームを偏向させても良い。
図4(a)に示すように、この光ビーム位置検出手段(同期検知板)19−1では、2つのセンサ(フォトセンサ)PD1,PD2を主走査方向に配置し、2つのセンサPD1,PD2の互いに対向する辺縁が平行で直線をなし、各々のセンサの対向する辺縁のうち少なくとも一方の辺は主走査方向(光ビームの走査方向)と非平行な角度θ(0<θ<90)を持って配置し、他方の辺は主走査方向と垂直な角度を持って配置する。そして2つのセンサPD1,PD2の出力信号をそれぞれ増幅器AMP1,AMP2により電流電圧変換と電圧増幅を行った後、比較器(コンパレータ)CMPにて電圧比較を行い、増幅器AMP2の出力信号レベルが増幅器AMP1の出力信号レベルより低くなったときにビーム位置検出信号を出力する。
ΔP=v×(T2−T1)/tanθ ・・・(1)
(但し、vはビームの走査速度を表す)
尚、上記副走査ピッチΔPは複数ビームのピッチに限らず、1ビームの副走査の走査位置を検出する手段としても応用することができる。
また、図4、図5の実施例においては、2つのセンサPD1,PD2の隣接する辺縁の間隔をビームスポット径より小さくすることにより、センサPD1でのビーム検知が終わらないうちにセンサPD2でのビーム検知が始まるので、増幅器AMP1と増幅器AMP2の出力信号を確実にクロスさせることができる。
さらに図4、図5の実施例においては、2つの増幅器AMP1,AMP2のビームを検知していないときの信号レベルを、増幅器AMP2の方が増幅器AMP1よりも高く設定する。このように信号レベルに差があるときは、信号にノイズが混入しても誤った信号を出力することはないので耐ノイズ性能が高くなる。
図6において、符号24は基準クロック発生部、25は画像クロック発生部、26は半導体レーザ制御回路であり、光源装置18の2つの半導体レーザLD1,LD2は画像データに応じて半導体レーザ制御回路26により発光を制御される。
光ビーム位置検出手段(同期検知板)19−1のビーム位置検出回路から出力されるビーム位置検出信号は基準クロック発生部24から生成された計測クロックにより、パルス間隔計測回路21で2つのセンサPD1,PD2の2つの間隙を光ビームが通過する際の2つのパルスの時間間隔を計測する。パルス間隔計測回路21で計測されたパルス間隔をパルス間隔演算回路22で所定のパルス間隔と比較する。もし計測したパルス間隔が所定のパルス間隔に対して一定の間隔以上ずれていた場合、ビーム偏向素子駆動回路23にて駆動信号を発生させて図3に示す光ビーム偏向素子29に出力し、光ビーム偏向素子29でそのずれ量を0にするようにリング超音波モータ31にて楔形プリズム30を回転させ、光ビームを偏向させて副走査ビームピッチが所定のピッチとなるように制御する。
また、図7は図5に示す光ビーム位置検出手段(同期検知板)19−2を使った時の副走査ビームピッチの制御系の一例を示すブロック図である。図7では、計測対象がパルス幅である他は図6と同様であるので説明を省略する。
次に上述した構成の光走査装置の適用例(1)について説明する。
図8は本発明の光走査装置が適用される画像形成装置の一例を示す概略構成図である。この画像形成装置は、像担持体の一例である感光体ドラム16と、感光体ドラム16を帯電する帯電器(例えば帯電ローラ)41と、帯電した感光体ドラム16に光ビームを照射して静電潜像を形成する光書込手段20と、感光体ドラム16に形成された静電潜像を現像剤(例えばトナー)で現像して顕像化する現像器42と、感光体ドラム上の顕像(トナー像)を記録材(例えば記録紙)Sに転写する転写装置44と、記録材Sに転写されたトナー像を定着する定着器48と、転写後に感光体ドラム16上に残留したトナー等を清掃するクリーニング器46と、クリーニング後の感光体ドラム16を除電する除電器47を備え、前記光書込手段20として、上述した構成の光走査装置を備えた構成としたものである。
このようにオペレータが出力画像によりその画像品質を確認する構成とすることで、光走査装置におけるビームスポット配列の変動が出力画像に及ぼす影響のみならず、現像/転写/定着などの工程が出力画像に及ぼす影響を含めて、出力画像の劣化を補正することが可能となる。
さらにビームスポット配列検出手段または制御手段の一方あるいは両方を省略することも可能となり、光走査装置の低コスト化を図ることができる。
本発明よる光走査装置はカラー画像形成装置にも好適に適用することができる。
デジタルカラー複写機、カラープリンタ等のカラー画像形成装置においては、例えば図10(a)に示す例のように、各色(例えば、ブラック:K、シアン:C、マゼンタ:M、イエロー:Y)に対応する感光手段(例えば感光体ドラム16K,16C,16M,16Y)を、記録材(例えば記録紙)の搬送方向に直列に配列したタンデム方式が採用されることが多い。より具体的には、図8に示したような画像形成装置の作像部(感光体ドラム16、帯電器41、光走査装置20、現像器42、転写バイアスローラ45、クリーニング器46、除電器47等)を、記録材搬送方向に直列に4つ並設し(すなわち、転写装置44を搬送方向に長尺に設け、転写装置44に沿って4つの作像部を並設する)、各作像部でK,C,M,Yの各色の画像形成を行ない、転写装置44で搬送される記録材Sに各色の画像を順次重ねて転写し、4色転写後に定着器48で定着してカラー画像を形成する。このような構成により、1感光体ドラム型の画像形成装置の場合(4色に対応して4回の書込みが必要)と比較して、4倍の速さで出力画像を得ることが可能となる。
尚、カラー画像形成装置の構成としては、各作像部で形成した各色の画像を直接記録材に転写する構成の他、各色の画像を一旦、中間転写体(中間転写ベルト等)に転写し、中間転写体上で4色重ね合わせのカラー画像を形成した後、このカラー画像を記録材に一括して転写し、定着してカラー画像を得る構成としてもよい。
図9に本発明の光走査装置のさらに別の適用例を示す。この例では図示するように、光走査装置20を被走査面(感光体)の主走査方向に並列して配備し、有効書き込み幅を分割して走査する構成としたものである。すなわち、前述した構成の光走査装置を主走査方向に並置し、1走査ラインを各々分割して走査することにより、つなぎ目のスムースな光走査装置を得ることができる。また、このように光走査装置20を並列して配備することにより、有効書き込み幅を大きくでき、例えばA1版やA0版等の広幅用紙にも画像形成が可能な画像形成装置を提供することができる。さらに、同じ有効書き込み幅であれば、光学素子、偏向器を小型化でき、メカ公差や温度変動によるビームウエスト位置変動が小さくなり、波面収差が低減でき、高画質な画像形成が可能となる。
図9に示す構成の光走査装置は、図10に示したようなカラー画像形成装置にも適用でき、広幅用紙にも画像形成が可能なカラー画像形成装置や、高画質なカラー画像形成装置を提供することができる。
12,12a,12b:カップリングレンズ
13:シリンドリカルレンズ
14:ポリゴンミラー(偏向器)
15:走査光学系
15a,15b:走査レンズ
15c:折返しミラー
16,16K,16C,16M,16Y:感光体ドラム(被走査面)
17:折返しミラー
18:光源装置
19:光ビーム位置検出手段(同期・副走査位置検知センサ:同期検知板)
20,20K,20C,20M,20Y,20A1,20A2,20B1,20B2:光走査装置
21:ビーム間隔計測回路(パルス幅計測回路)
22:ビーム間隔演算回路(パルス幅演算回路)
23:ビーム偏向素子駆動回路
24:基準クロック発生部
25:画像クロック発生部
26:半導体レーザ制御回路
29:光ビーム偏向素子
29a:保持部材
30:楔形プリズム
31:リング超音波モータ
AMP1,AMP2:増幅器
BS1,BS2:ビームスポット
CMP:比較器
PD1,PD2:光ビーム位置検出手段(同期検知板)のセンサ
S:記録材
Claims (10)
- 光ビームを発生させる光源と、該光源からの光ビームを偏向させ走査する光偏向手段と、前記光ビームを略等速に走査させる走査光学系とを備えた光走査装置において、
複数のセンサを並べて配置し、少なくとも2つの互いに対向する辺縁が平行で直線をなし、各々のセンサの対向する辺縁のうち少なくとも一方の辺は主走査方向と非平行な角度を持って配置した前記複数光ビームの位置を検出する光ビーム位置検出手段と、
前記光ビーム位置検出手段からのビーム位置検出信号に基づいて副走査方向の走査位置を検出する副走査位置検出手段と、
前記副走査位置検出手段で検出した副走査の走査位置が規定の位置からずれていた場合に副走査方向の走査位置を制御して、規定の走査位置に戻す走査位置制御手段と、
を具備することを特徴とする光走査装置。 - 複数の光ビームを発生させる光源と、該光源からの複数の光ビームを偏向させ一括走査する光偏向手段と、前記光ビームを等速に走査させる走査光学系とを備えた光走査装置において、
複数のセンサを並べて配置し、少なくとも2つの互いに対向する辺縁が平行で直線をなし、各々のセンサの対向する辺縁のうち少なくとも一方の辺は主走査方向と非平行な角度を持って配置した前記複数光ビームの位置を検出する光ビーム位置検出手段と、
前記光ビーム位置検出手段からのビーム位置検出信号に基づいて副走査方向のピッチを検出する副走査ピッチ検出手段と、
前記副走査ピッチ検出手段で検出したピッチが規定のピッチからずれていた場合に副走査方向のピッチを制御して、規定のピッチに戻すピッチ制御手段と、
を具備することを特徴とする光走査装置。 - 複数の光ビームを発生させる光源と、該光源からの複数の光ビームを偏向させ一括走査する光偏向手段と、前記光ビームを等速に走査させる走査光学系とを備えた光走査装置において、
複数のセンサを並べて配置し、少なくとも2つの互いに対向する辺縁が平行で直線をなし、各々のセンサの対向する辺縁のうち少なくとも一方の辺は主走査方向と非平行な角度を持って配置した前記複数光ビームの位置を検出する光ビーム位置検出手段と、
前記光ビーム位置検出手段からのビーム位置検出信号に基づいて副走査方向のピッチを検出する副走査ピッチ検出手段と、
前記副走査ピッチ検出手段で検出したピッチが規定のピッチからずれていた場合にオペレータに通報する通報手段と、
を具備することを特徴とする光走査装置。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか一つに記載の光走査装置において、
光ビーム位置検出手段のビーム位置検出は各々のセンサの出力をコンパレータで比較し出力値が略一致した時点をもって光ビーム位置とすることを特徴とする光走査装置。 - 請求項1乃至請求項4のいずれか一つに記載の光走査装置において、
光ビーム位置検出手段の各々のセンサの対向する辺縁のうち少なくとも一方の辺は主走査方向と垂直な角度を持って配置したことを特徴とする光走査装置。 - 請求項1乃至請求項5のいずれか一つに記載の光走査装置において、
光ビーム位置検出手段の各々のセンサの対向する辺縁の間隔は光ビームのビームスポット径よりも小さいことを特徴とする光走査装置。 - 請求項4記載の光走査装置において、
光ビーム位置検出手段の各々のセンサの光ビーム未検出時の信号レベルを走査終了端側のセンサの信号レベルほど高く設定したことを特徴とする光走査装置。 - 請求項1乃至請求項7のいずれか一つに記載の光走査装置を主走査方向に並置し、1走査ラインを各々分割して走査することを特徴とする光走査装置。
- 像担持体と、該像担持体を帯電する帯電手段と、帯電した像担持体に光ビームを照射して潜像を形成する光書込手段と、像担持体に形成された潜像を現像して顕像化する現像手段と、像担持体上の顕像を記録材に直接または中間転写体を介して転写する転写手段とを備えた画像形成装置において、
前記光書込手段として、請求項1乃至請求項8のいずれか一つに記載の光走査装置を備えたことを特徴とする画像形成装置。 - 請求項9記載の画像形成装置を複数備えたことを特徴とするカラー画像形成装置。
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