JP4909603B2 - 画像形成装置 - Google Patents
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Description
特許文献4及び5は、副走査方向のビーム位置検出についてであり、1ライン単位のレジスト調整で傾き及び曲がりについては対応できていない。
とし、その平均値を検出結果とすると、効果的である。
請求項4の構成によれば、環境変化や機内変化等によるビーム位置変動の色ずれに対しても、追従可能となる。
請求項6の構成によれば、ポリゴンモータ等の発熱によるビーム位置変動を一枚ごとに補正できる。
図1に、本発明を適用した、カラー画像を形成可能な画像形成装置の概略を示す。
図2は光走査装置20の概略を示す図であり、走査レンズ方式を採用しているが、走査レンズ、走査ミラー方式のいずれにも対応可能である。また図2においては、図示の便宜上、2ステーションを示し、これに沿って以下説明するが、偏向手段としてのポリゴンミラー26,27を中心に左右対称に構成することで4ステーションとすることができ、これを画像形成装置1に用いている。画像形成装置1が本実施例のようにカラー画像を形成可能であるため、画像形成装置1がカラー画像を形成する場合には、光走査装置20はカラー画像を形成するために用いられるものである。
ビームスポット位置検知手段300a、300bの配置は、感光体1A(または2A)に照射されるビーム位置との相関をとるため、レンズや反射ミラー等の光学素子をすべて共通に作用させて、ビーム位置を測定できる位置としている。すなわち、感光体1A(または2A)に照射されるビームの位置をビームスポット位置検知手段300a、300bで他の光学素子を経由させることなく直接検知することができるようになっている。
<副走査レジストの色ずれ補正方法>
図6において、検出モード時に色ずれ検知用センサ330からの検知信号、ビームスポット位置検知手段300a、300bを同期検知手段とした場合の検知信号がインターフェイスI/F340を介してCPU341に入力され、その信号から得られた色ずれ補正値がメモリ手段であるメモリ342に格納される。そして、画像形成時、すなわちプリント時のそのメモリ342に格納した色ずれ補正値に基づいて書き込みが補正される。なお、具体的な補正方法については後に詳述する。
図8において、ポリゴンの回転を開始し(S1)、その回転が安定すると(S2)、LDを発光する(S3)。そして、各ビームの主走査同期を検出した後(S4)、副走査方向のビーム位置をビームスポット位置検知手段300a、もしくはビームスポット位置検知手段300a,300bのセンサで測定する(S5)。このときの測定回数は、ポリゴンミラー1回転内でミラーの面倒れが異なることより、正確には1面ごとに微小に変化し、センサの読み取り誤差等によるばらつきがあるため、ポリゴンミラー面数(1回転)×n(整数)とすることで正確に平均位置を測定できる。
<傾き補正>
<曲がり補正>
1A〜4A 感光体
5 中間転写体
20 光走査装置
21,22 LDユニット
26,27 偏向手段(ポリゴンミラー)
110、111 書き込み開始位置補正手段
300a、300b ビーム検知手段
330 色ずれ検知用センサ
LD レーザ発光素子
Claims (7)
- 複数のレーザ光源から出射されたレーザビームを結像手段と主走査方向に偏向する偏向手段と介して感光体上へ導く光走査装置と、複数の感光体に該光走査装置により書き込まれた画像を顕像として形成する画像形成手段と、前記感光体に形成された顕像を担持可能な中間転写体もしくは記録紙搬送体を有する画像形成装置において、
前記感光体へ照射するレーザ位置を副走査方向に偏向する副走査偏向手段と、
前記感光体へ照射するレーザの副走査位置を検出する副走査位置検出手段と、
前記画像形成手段により前記中間転写体もしくは記録紙搬送体上に形成したパターンを検出するパターン検出手段と、
前記副走査位置検出手段で検出したレーザ照射位置に対して色ずれを補正した狙いの照射位置及び前記パターン検出手段の検出出力によって得られた色ずれ補正値を格納するメモリ手段と、
各色間の色ずれを補正する制御手段とを有し、
副走査位置検出手段は、2箇所に設けられてレーザの主走査方向の先端と後端の照射位置を検出し、
該制御手段は、前記副走査位置検出手段により検出された狙いの照射位置を前記メモリ手段に格納し、さらに検出モード時において前記画像形成手段により前記中間転写体もしくは記録紙搬送体上に色ずれ検出パターンを形成してこれを前記パターン検出手段で検出し、その検出出力によって得られた色ずれ補正値を前記メモリ手段に格納し、
画像形成時には前記メモリ手段に格納した色ずれ補正値と狙いの照射位置を読み出し、補正値に応じて補正したときのレーザ照射位置が狙いの照射位置になるように制御することを特徴とする画像形成装置。 - 請求項1に記載の画像形成装置において、前記副走査位置検出手段がレーザビームの照射方向において前記感光体へレーザビームを導く全ての光学素子以降で、且つ光走査装置内に配置されていることを特徴とする画像形成装置。
- 請求項1に記載の画像形成装置において、前記制御手段が前記検出モードの実行時に前記副走査位置検出手段により各ビームの副走査方向のビーム位置を検出し、前記色ずれ補正値の算出後に狙いの副走査方向のビーム位置を算出してメモリ手段に値を格納することを特徴とする画像形成装置。
- 請求項1に記載の画像形成装置において、前記制御手段が通常の画像形成時において潜像形成以前に副走査方向のレーザ照射位置を検出する検出手段により各ビームの副走査方向のビーム位置を検出し、格納している狙いの副走査方向のビーム位置を読み出し、その値と測定した値を比較して副走査方向に偏向する偏向素子を制御し狙いのビーム位置にすることを特徴とする画像形成装置。
- 請求項1ないし4の何れかに記載の画像形成装置において、前記副走査位置検出手段による各ビームの副走査方向のビーム位置の検出で測定する回数をポリゴンミラー面数(1回転)×n(整数)
とし、その平均値を検出結果とすることを特徴とする画像形成装置。 - 請求項1ないし5の何れかに記載の画像形成装置において、前記制御手段は、通常の画像形成時の各画像形成間隔に副走査方向のレーザ照射位置を検出する検出手段により各ビームの副走査方向のビーム位置を検出し、格納している狙いの副走査方向のビーム位置を読み出し、その値と測定した値を比較して副走査方向に偏向する偏向素子を制御し狙いのビーム位置にすることを特徴とする画像形成装置。
- 請求項1ないし6の何れかに記載の画像形成装置において、前記制御手段は、通常の画像形成時の各ジョブ間隔に副走査方向のレーザ照射位置を検出する検出手段により各ビームの副走査方向のビーム位置を検出し、格納している狙いの副走査方向のビーム位置を読み出し、その値と測定した値を比較して副走査方向に偏向する偏向素子を制御し狙いのビーム位置にすることを特徴とする画像形成装置。
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