JP2005055441A - 試験対象デバイスの光学特性を調べる方法およびシステム - Google Patents
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Abstract
【課題】デバイスの能動的特性と受動的特性の両方の光デバイスを調べる方法を提供すること。
【解決手段】 光デバイスの能動的および受動的特性を調べることは、局部発信器信号をDUT(202,702,802)に印加して、局部発信器信号の一部(基準局部発信器信号)を直接光分析器(214,718,814)に供給する。基準局部発信器信号を光分析器に供給すると、直接計測が得られるとともに、DUTに関連する干渉測定が可能となる。干渉測定は、DUTに基準局部発信器信号を印加した局部発信器信号の一部の合成結果である。干渉測定は、分離装置(224,724,824)によって使用され、DUTの受動特性を示し、直接測定はDUTの能動特性を示すのに使用される。
【選択図】図5
【解決手段】 光デバイスの能動的および受動的特性を調べることは、局部発信器信号をDUT(202,702,802)に印加して、局部発信器信号の一部(基準局部発信器信号)を直接光分析器(214,718,814)に供給する。基準局部発信器信号を光分析器に供給すると、直接計測が得られるとともに、DUTに関連する干渉測定が可能となる。干渉測定は、DUTに基準局部発信器信号を印加した局部発信器信号の一部の合成結果である。干渉測定は、分離装置(224,724,824)によって使用され、DUTの受動特性を示し、直接測定はDUTの能動特性を示すのに使用される。
【選択図】図5
Description
本発明は概して光デバイスの特性を調べることに関し、特に光デバイスの能動的光学特性および受動的光学特性を調べる方法に関する。
光デバイスは、能動的と受動的の両方の光学特性を有し得る。例えば、光増幅器は、伝送損失や伝送利得や偏波依存損失や戻り損失や偏波モード分散や色分散等の主に受動的な光学特性だけでなく、増幅器の能動域内で生ずる光ノイズ量や被増幅自然放出(ASE;amplified spontaneous emission)等の能動的光学特性もまた有する。一般に、光スペクトル分析器(OSA;optical spectrum analyzer)を用いて光デバイスの能動的特性を調べ、その一方で個別光回路網分析器(ONA;optical network analyzer)を用いて光デバイスの受動的特性を完全に調べる。光デバイスの特性を調べる二つの異なる試験システムの使用は、二つの異なる試験システムの保守管理費用や増大した起動時間や様々な試験組織編制への複数の光学的結線からの追加的な計測不確実性や試験期間中の安定装置および/または試験システム特性に対する信頼性を含む欠点を有する。
光デバイスの光学特性を完全に調べる(characterize)必要性に鑑み、必要とするのは光デバイスの能動的特性と受動的特性の両方を調べることに関する有効な技法である。
光デバイスの能動的特性と受動的特性を調べることには、試験対象デバイス(DUT)への局部発振器信号の印加と、光分析器への局部発振器信号の一部(基準局部発振器信号と呼ぶ)の直接供給が含まれる。光分析器への基準局部発振器信号の供給により、受動的DUT特性の干渉計測値をDUTの能動的特性と共に調べることができるようになる。DUTの光出力は、直接検出帯域と受動的特性解明周波数帯域からなる分割検出法を用いて分離することのできる能動的成分および受動的成分の混合からなる。DUT出力の分離された能動的成分および受動的成分が、DUTの能動的特性と受動的特性の計測値を規定する。
説明中、同様の要素を表わすのに同様の参照符号が用いられよう。図1は、信号源104からの信号を増幅するのに用いる光増幅器102を表わす図である。光増幅器の特性調査の関心事である光学特性には、能動的特性と受動的特性が含まれる。能動的特性には、増幅器内で発生し増幅器の入力ポートおよび/または出力ポートへ伝わるノイズ(例えば、被増幅自然放出(ASE))や二重レイリー後方散乱が含まれる。増幅器の受動的特性には、増幅器から出力される光の伝送利得や伝送損失や反射や偏波依存損失や戻り損失や偏波モード分散や色分散が含まれる。
図2は、光増幅器等のDUTの能動的特性および受動的特性を調べるためのシステム200を表わす図である。このシステムには、光学的飽和トーン発生器204と光スイッチSW1,SW2と変調器206と局部発振源208とカプラ210,212と光分析器214が含まれる。このシステムは、光増幅器等のDUT202へ光学的に接続可能である。増幅器を図2に図示し例示目的に説明したが、下記のシステムおよび方法は他の光デバイスへ適用可能である。
飽和トーン発生器204は、増幅器202へ光信号を供給する複数のレーザダイオード216を含む。一実施形態では、照射された飽和トーンの波長は、波長分割多重(WDM)通信網内の信号を模擬するよう選択してあり、その振幅は試験の要求に応じて個別設定される。例えば、飽和トーンは1.3ミクロンまたは1.5ミクロン帯域で照射される。例えば、1.5ミクロン帯域内では、1以上の光飽和トーンを標準的なITU(国際電気通信連合)周波数格子間隔に配置することができる。飽和トーン発生器の他の実施形態は、代替要素を用いて増幅器飽和状態を設定する。代替例には、DWDM試験条件を模擬すべく等化することのできるスペクトル内容をもって増幅器利得あるいは広帯域光源の過渡応答に比べ素早く掃引する高速レーザが含まれる。
光スイッチSWl,SW2は、増幅器202で発生するASEの計測に用いられる。WDM通信チャンネルに対応する特定波長(ここではチャンネルとも呼ぶ)のASEを計測することが、望ましい。エルビウムをドープ処理した光増幅器の利得が光信号を変調または光学的にゲート制御できるレートに比べ比較的緩慢に変換することは、周知である。この応答性の違いが原因で、チャンネルにおけるASEは、飽和トーンを増幅器に印加し、飽和トーンを遮断(例えば、スイッチSW1の開成により)し、続いて受信ASEを計測することで正確に計測することができる。この変調器は、周知の時間領域減衰法に従ってASEの特性解明を可能にする仕方でもってスイッチの開閉成を制御するのに用いられる。
局部発振源208は、一定の波長範囲にわたって連続的に可調整な高度にコヒーレントな可調整レーザである。動作期間中、局部発振源は一定範囲の周波数あるいは波長にわたってDUT202の光学特性を特性解明すべく一定範囲の周波数あるいは波長にわたって調整あるいは連続的に掃引することのできる高度にコヒーレントな光局部発振器信号を生成する。一実施形態では、1.5ミクロン帯域の局部発振器信号がほぼ40nm/sすなわち6.15MHz/μsで連続的に掃引され、掃引範囲はほぼ100nmとなるが、掃引レートと掃引範囲はより高くあるいはより低くすることができ、数ナノメータの数ITU格子点にわたる掃引を含もう。一実施形態では、波長範囲はDUTの一関数として選択される。局部発振源の出力は強度(intensity)または偏波(polarization)において変調し、例えばASEの検出あるいは偏波分散受信の取得を容易にすることができる。図3Bに関連する実施形態では、能動帯域338を用いてASEを特性調査したときに、局部発振源を瞬間的にゲート遮断し、局部発振源が貢献する追加のパワーとは無関係にASEの計測を可能にすることができる。このゲート制御は、局部発振源に対する内部電流制御を用いるか、あるいは外部光強度変調器を用いることで達成される。例えば、図2において、スイッチを局部発振源208とカプラ210の間に配置し、局部発振器の状態強度をオン状態からオフ状態へ変調することができる。これは、ASEの検出時に飽和信号の影響を低減する以下に説明する周知の時間領域減衰法に類似するものである。この場合、それは図2、図4、図5、図6による受動デバイス特性の計測を可能にする探査信号に適用される。
カプラ210,212は、局部発振源208をDUT202と光分析器214へ光学的に接続する。光分析器内のカプラ220は、DUTからの光に局部発振源208からの基準掃引局部発振器信号を合成する。光カプラは光学的な方向性3dBファイバカプラでよいが、他の周知の光カプラや合成器や偏波分散法を用いることもできる。一実施形態では、光カプラは入力光の波長と偏波とはほぼ無関係である。光カプラは、シングルモード光カプラでよい。
光分析器214は、可調整光フィルタ221やカプラ220や検出器222や分離装置224を含む。可調整フィルタは、帯域ノイズを低減する光学式帯域通過フィルタとして機能する。例示可調整フィルタには、光カプラや光サーキュレータと組み合わせて用いフィルタの帯域阻止機能を帯域通過機能へ変換する可調整ファブリ・ペローフィルタや自由間隙回折格子ベースのフィルタや可調整ブラッグ回折格子フィルタ、さらに塊状あるいは平面形状の可調整音響光学式フィルタが含まれる。可調整フィルタにより、ASE計測は波長の関数として作成することができる。さもなければ、可調整フィルタはカプラ220後方に配置することもできる。
検出器はカプラ220に光学的に接続してあり、DUT202と局部発振源208から光信号を受信する。検出器は、DUTおよび局部発振源からの光信号に応答して電気信号を生成する。一実施形態では、検出器は二乗検波を用い、そのことがDUTからの光信号と局部発振源からの光信号の混合を招く。DUTからの光信号と被掃引局部発振器信号からの光信号の混合が、局部発振源掃引レートと基準光路に対する試験光路を介する相対的遅延の積に比例する周波数のヘテロダインうなり信号を生成する。単一の検出器を図示したが、平衡検出をもたらしてノイズを低減するとともにDUTの試験に必要な偏波分散受信をもたらすのに複数の検出器を用い得ることは周知である。代替実施形態では、光分析器214はASEの計測に用いるカプラ220の前段に配置した光検出器を含めることもできる。光検出器からのヘテロダインうなり信号は、分離装置に供給する。
分離装置224は、検出器222から電気的なベースバンド信号を受信する。以下により詳しく説明するように、ベースバンド信号には能動帯域データと受動帯域データが含まれる。分離装置は、受動帯域データから能動帯域データを分離する。分離装置は本発明の鍵を握る構成要素であり、以下にさらに詳しく説明する。
図2のシステムでは、局部発振源208は二つの光路と試験光路228と基準光路230により光分析器214へ光学的に接続してある。試験光路はDUTを含むが、基準光路はDUTを含まない。本発明によれば、図2のシステム内の基準光路により増幅器の受動的特性を調べることを増幅器の能動的特性を調べることと共に達成することができる。具体的には、基準光路により増幅器に関連する干渉計測値が直接計測値と共に得られ、ここでは干渉計測値は試験光路(DUTを含む)を進行する被掃引局部発振器信号の一部に基準光路を進行する被掃引局部発振器信号の一部を合成することから得られる。本発明によれば、干渉計測値は増幅器の能動的特性を調べることに用いる直接計測値と共に得られる。干渉計測値と直接計測値は、能動帯域データと受動帯域データの両方を含むベースバンド信号の形で得られる。能動帯域データと受動帯域データは続いて互いに分離され、能動帯域データはDUTの能動的特性を調べることに用いられ、その一方で受動帯域データはDUTの受動的特性を調べることに用いられる。別の実施形態では、図2のシステムの基準光路により増幅器の能動的特性を調べることと同時に増幅器の受動的特性を調べることが可能となる。
能動帯域データは、異なる手法を用い受動帯域データから分離することができる。一つの手法では、能動帯域データはベースバンド信号を第1と第2の信号に分割し、第1の信号をフィルタリングして能動帯域信号を通過させるとともに第2の信号をフィルタリングして受動帯域信号を通過させることで受動帯域データから分離される。別の手法では、能動帯域データはベースバンド信号をディジタルデータへ変換し、ディジタルデータを処理して受動帯域データとは切り離して能動帯域データを識別することで受動帯域データから分離される。さらに別の手法では、DUTの能動的および受動的特性を表わす光信号を二つの異なる光信号に分割する。光信号のうちの一方は被掃引局部発振器信号と合成し、異なる信号を別個に検出する。能動帯域データは被掃引局部発振器信号を用いずに生成したベースバンド信号をフィルタリングすることで分離され、受動帯域データは被掃引局部発振器信号を用いて生成したベースバンド信号をフィルタリングすることで分離される。
光増幅器の能動的特性および受動的特性を調べる図2のシステムの動作を、図2を参照して説明する。増幅器の能動的特性を調べる技法を、先ず増幅器の受動的特性を調べる技法の説明を続けることで簡潔に説明する。
調べられる増幅器の二つの特性の多くは、利得とASEである。増幅器利得は、被掃引局部発振器信号を増幅器に印加し、波長範囲全体に出力パワーを計測し、続いて出力パワーを較正掃引にて計測されるパワーと比較することで特性を調べることができる。較正用に増幅器を迂回するために一般に用いる技法には、二つの光スイッチか、一つの光スイッチと光カプラか、パッチコードの使用が含まれる。図2の実施形態において、較正掃引には例えば較正光路を介してDUT202を光学的に迂回させ、被掃引局部発振器信号の出力パワーを計測することが含まれよう。さもなくば、各飽和トーン(「点利得」と呼ぶ)での増幅器利得は、飽和トーンを印加し、各飽和トーンにて入力パワーと出力パワーを比較することで計測することもできる。
増幅器のASEは、周知の時間領域減衰(TDE)法(光ノイズ特性解明用「パルス」法とも呼ぶ)を用いて特性解明することができる。TDE法では、飽和トーン、すなわち別の方法でASE計測値と干渉し得るトーンを(例えば図2のスイッチSW1を開成することで)瞬間的にゲート遮断する。増幅器の低速利得ダイナミクスのお陰で、ASEは飽和トーンがゲート遮断された後に計測することができる。図2を参照するに、スイッチSW1が閉成しスイッチSW2が開成した状態で、飽和トーン発生器204からの飽和トーンがDUT202に供給される。変調器206はそこでスイッチSW1を開成するとともにスイッチSW2を閉成し、それによって増幅器のASEが特定チャンネルにて特性を調べることができるようにする。
図2のシステムに類似するシステムを用いて増幅器の利得およびASEの特性を調べる技法の完全な説明は、本願明細書に引用文献として取り込む1998年にプレンティスホールPTR社発行の書籍「光ファイバの試験および計測(Fiber Optic Test and Measurement)」の第13章に記載されている。本願明細書に記載した技法に加え、本発明範囲から逸脱することなくDUTの利得およびASEの特性を調べるのに他の技法を用いることもできる。
図2のシステムを用いた増幅器202の受動的特性を調べることには、被掃引局部発振器信号の一部を試験光路228と基準光路230に同時に供給することが含まれる。試験光路を進行する被掃引局部発振器信号の一部を、DUTに印加する。DUTに対する被掃引局部発振器信号の印加は、被掃引局部発振器信号に若干の遅延を分与する。被掃引局部発振器信号の遅延部分は、そこで光分析器214の被掃引局部発振器信号の基準部分と合成される。合成された光信号は光分析器において検出され、被掃引局部発振器信号の二つの部分間の遅延により増幅器の受動的特性を調べることに用いるうなり周波数が生ずる。干渉技法を用いて光デバイスの受動的特性を調べることは当分野では公知であり、ここで詳しく説明はしない。
本発明によれば、試験光路を介して光分析器214にて受信する光信号はDUT202の能動的特性と受動的特性の両方を表わすものである。試験光路を介して受信した光信号の少なくとも一部に基準光路からの被掃引局部発振器信号を合成することで、増幅器の能動的特性と受動的特性の両方に関するデータを得ることができる。このデータは、能動帯域データと受動帯域データの両方を含む電気的なベースバンド信号として得られる。
図3Aは、図2を参照して前記した増幅器の特性調査から生成した電気的なベースバンド信号334を視覚的に表わすものである。ベースバンド信号は、電気周波数(f)の関数として検出器(Si(f))を介する電流として描いてある。上記のように、ベースバンド信号は受動帯域および能動帯域を含む。図3Aの例では、受動帯域(すなわち、下部帯域)は下部周波数に存在し、DUTの受動的特性を調べることに用いられる。被掃引局部発振器信号の基準部分と被掃引局部発振器信号の試験部分との混合から生成するうなり周波数340(うなりトーンとも呼ぶ)は全て、受動帯域内に存在する。これらのうなり周波数は波長の関数として捕捉され、受動的DUT特性対波長の特性解明を可能にする。特定のうなり周波数は局部発振器掃引率と試験光路を介する遅延の積に比例するため、受動帯域の上限は掃引レートと遅延に依存する。能動帯域(すなわち、上部帯域)は上部周波数に存在し、DUTの能動的特性の特性解明に捧げられる。特に、DUTが生成するASEノイズは能動帯域内のデータから特性が調べられる。能動帯域は、所望量のノイズの捕捉に必要な帯域内で拡張することができる。本実施形態における被検出ASEノイズは、ASE光学場ノイズと被掃引局部発振器信号の基準部分との間のうなりから生ずる。このうなりノイズは波長の関数として捕捉されて記録され、DUTに関するASE対波長の特性解明をもたらす。加えて、能動帯域は光ヘテロダイン混合では通例である光電子混合の両鏡像成分を含むこともあるし、あるいは鏡像遮断光ヘテロダイン受信器に見られるただ一つの鏡像を含むこともある。線342は、被掃引局部発振器信号とのDUTのASEうなりを表わす。被掃引局部発振器信号電力と光電子検出効率が既知であれば、DUTのASEうなり信号はASEレベルの決定に用いられる。
図3Bは、増幅器の特性調査から生成した別の電気的なベースバンド信号334を視覚的に表わすものである。図3Bのベースバンド信号は、能動帯域338が受動帯域336(例えば、ほぼ20kHz以上)よりも低い周波数(例えば、0乃至ほぼ10kHz)に存在する状況を表わしている。能動帯域が受動帯域よりも低い周波数に存在する場合には、可調整フィルタは波長の関数としてのASE計測値を見込んで波長範囲全体に掃引する。
ベースバンド信号334を与えた増幅器の能動的特性と受動的特性を調べるため、能動帯域336と受動帯域338を互いに分離しなければならない。分離装置の機能は、ベースバンド信号をDUTの特性調査に用いることのできる能動帯域データと受動帯域データへ分離することにある。能動帯域データは、異なる手法を用いて受動帯域データから分離することができる。図4乃至図6は、受動帯域データから能動帯域データを分離するのに用いることのできる分離装置の実施形態を例示するものである。
図4は、ベースバンド信号を第1の信号と第2の信号に分割し、信号をフィルタリングして所望データを通過させる分離装置424の実施形態を表わす。分離装置は、能動帯域フィルタ446と受動帯域フィルタ448を含む。動作時に、試験ファイバ428を介してDUTから試験信号を受信し、基準ファイバ430を介して局部発振源から基準信号を受信する。図4の実施形態では、試験ファイバは図2のファイバ228と同一であり、基準ファイバは図2のファイバ230と同一である。試験ファイバはDUTからの光信号を搬送し、基準ファイバが局部発振源からの被掃引局部発振器信号を搬送する。信号はカプラ420にて合成され、合成光信号が検出器422へ出力される。電気信号が、合成光信号に応答して検出器により生成される。システムは、一般に検出器の後段にあって受信器の熱雑音の影響を低減する光増幅器(図示せず)等の他の電気的構成要素もまた含む。電流電圧変換増幅器を用い、熱雑音レベルを減らしつ受信器帯域を改良することもできる。電気的なベースバンド信号は、そこで電気的スプリッタ447により第1と第2の電気信号に分割する。第1と第2の電気信号は、対応する能動帯域フィルタと受動帯域フィルタへ供給する。能動帯域フィルタは、受信信号から受動帯域信号を遮断し、能動帯域信号を通過させる。能動帯域信号は、増幅器の能動的特性の特性を調べることに用いられる。同様に、受動帯域フィルタは受信信号から能動帯域信号を遮断し、受動帯域信号を通過させる。受動帯域信号は、光増幅器の能動的特性の特性を調べることに用いられる。
図5は、アナログ電気信号をディジタルデータへ変換し、ディジタルデータをディジタル的に処理し、受動帯域データとは切り離して能動帯域データを識別する分離装置524の一実施形態を表わす。このシステムは、データ捕捉装置(DAQ;data acquisition unit)550とディジタルプロセッサ552を含む。DAQは、アナログ電気信号をディジタルデータへ変換するアナログ/ディジタル変換器を含む。ディジタルプロセッサは、特定のアルゴリズムに従ってディジタルデータを処理するマイクロプロセッサを母体とするシステムを含もう。動作時に、試験信号は試験ファイバ528を介してDUTから受信され、基準信号は基準ファイバ530を介して局部発振源から受信される。図5の実施形態では、試験ファイバは図2のファイバ228と同一であり、基準ファイバは図2のファイバ230と同一である。試験ファイバはDUTから光信号を搬送し、基準ファイバは局部発振源から被掃引局部発振器信号を搬送する。信号はカプラ520にて合成され、合成光信号が光検出器522へ出力される。アナログ電気信号は、合成光信号に応答して検出器により生成する。アナログ電気信号は、そこでDAQによりディジタルデータへ変換される。能動帯域データと受動帯域データを含むディジタルデータは、そこでディジタルプロセッサへ供給する。ディジタルプロセッサはディジタル処理を用いて能動帯域データを受動帯域データから分離し、能動帯域データと受動帯域データを用いてDUTの個々の能動的特性および受動的特性を調べる。
図6は、試験光路からの光信号の個別光信号への光学的分割を含む分離装置624の別の実施形態を表わす。一方の光信号を用いて能動帯域データを取得し、他方の光信号を被掃引局部発振器信号の基準部分と合成し、合成光信号を用いて受動帯域データを得る。分離装置は、光スプリッタ670と光カプラ620と二つの検出器672,674と能動帯域フィルタ646と受動帯域フィルタ648を含む。動作時に、DUTからの光信号は可調整フィルタ621を通過し、スプリッタ670により個別光信号に分割される。被分割光信号の一方(ここでは第1の光信号と呼ぶ)は、検出器672へ案内する。第1の光信号を検出し、得られたベースバンド信号を能動帯域フィルタによりフィルタリングする。能動帯域フィルタは、DUTの能動的特性を調べることに用いる能動帯域データを通過させる。他方の被分割光信号(ここでは第2の光信号と呼ぶ)はカプラ620へ案内し、そこで基準光路630内を搬送された被掃引局部発振器信号の基準部分と合成する。合成光信号は検出器674により検出し、生成されたベースバンド信号を受動帯域フィルタによりフィルタリングする。受動帯域フィルタは、受動的特性あるいはDUTの特性を調べることに用いる受動帯域データを通過させる。図6の実施形態では、分離装置は電気的処理に加え幾つかの光学的処理を含む。受動帯域データから能動帯域データを分離する一部技法をここに説明したが、本発明範囲から逸脱することなく他の技法を用いることもできる。
図2乃至図6を参照して前記したシステムから分かるように、光増幅器の能動的特性および受動的特性を調べることは単一の局部発振源を用いて達成される。能動的特性と受動的特性が単一の局部発振源を用いて特性解明されるので、能動的計測値と受動的計測値の間には緊密な波長相関が存在する。その上、DUTの能動的特性と受動的特性の両方を調べることは試験システムとDUTの間の単一の組織編制をもって達成される。
DUTの能動的特性と受動的特性を調べるための技法を図2のシステムを用いて前記したが、この技法は、被掃引局部発振器信号がDUTに印加し、受信器装置にて検出される前に被掃引局部発振器信号の基準部分と合成する限り、他のシステム実装へ幅広く適用することができる。図7は、DUTの能動的特性と受動的特性を調べる包括的システムの一実施形態を表わす。図7のシステムでは、デバイスインタフェース装置756が局部発振源708とDUT702と光分析器714を光学的に接続している。デバイスインタフェース装置は、被掃引局部発振器信号の試験部分をDUTへ供給し、被掃引局部発振器信号の基準部分を光分析器に供給するよう機能する。デバイスインタフェース装置には、DUTの種別に応じてDUTと光分析器の間に複数の光学的結線758,760が含まれよう。光分析器には、上記のようにベースバンド信号を能動帯域データと受動帯域データに分離するよう機能する分離装置724が含まれる。
図8は、光増幅器802の能動的特性と受動的特性を調べる図7のシステムの一実施形態を表わす。図8のシステムでは、デバイスインタフェース装置856はカプラ810と信号調整器862を含む。カプラにより被掃引局部発振器信号の試験部分は増幅器に供給でき、その一方で被掃引局部発振器信号の基準部分は光分析器814へ直接供給される。信号調整器は、DUTからの被掃引局部発振器信号出力の試験部分の振幅を低減するよう機能する。このことは有益になり得るものであり、何故ならそれが検出器822における被掃引局部発振器信号の試験部分とDUTのASEとの間に生ずる干渉の大きさを低減するからである。被掃引局部発振器の出力試験部分の振幅の低減が、被掃引局部発振器の基準部分とDUTのASEとの間に生ずる干渉をして検出器822にて検出される信号を支配させ、そのことがDUTのASE対波長の分析ならびに計測を簡単化する。
図2の実施形態では、光分析器は光信号の検出用に単一の合成光信号を用いているが、他の実施形態には合成光信号の複数部分の活用が含まれよう。例えば、合成光信号の二つの部分を二つの検出器へ供給して偏波分散を達成し、合成光信号の四つの部分を四つの検出器へ供給してノイズ平衡と偏波分散を達成することもできる。
図9は、DUTを光学的に調べる方法の手順フロー線図を表わす。ブロック902において、被掃引局部発振器信号をDUTに印加する。ブロック904において、DUTへの被掃引局部発振器信号の印加期間中に、DUTの能動的特性とDUTの受動的特性を表わす光信号を生成する。ブロック906において、光信号に応答して生成される能動帯域データを、光信号に応答して発生する受動帯域データから分離する。
本発明になる特定の実施形態を説明し図示してきたが、本発明は説明し図示した部品の特定の形態および配置に限定するものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみ限定されるものである。
Claims (10)
- 試験対象デバイスの光学特性を調べる方法であって、
試験対象デバイスへ局部発振器信号を印加することと、
前記試験対象デバイスへの前記局部発振器信号の印加期間中に、前記試験対象デバイスの能動的特性および該試験対象デバイスの受動的特性を表わす光信号を生成することと、
前記光信号に応答して生成された受動帯域データから前記光信号に応答して生成された能動帯域データを分離することと、
を有する方法。 - 前記光信号を検出する前に、前記試験対象デバイスに印加した前記局部発振器信号と前記試験対象デバイスに印加しなかった前記局部発振器信号の一部とを合成することをさらに有する、請求項1記載の方法。
- 前記受動帯域データから前記能動帯域データを分離するステップは、能動帯域信号と受動帯域信号を含む電気的なベースバンド信号をフィルタリングすることをさらに有する、請求項1記載の方法。
- 前記能動帯域データを用い前記試験対象デバイスの能動的特性を特性解明することと、
前記受動帯域データを用い前記試験対象デバイスの受動的特性を特性解明することと、
をさらに有する請求項1記載の方法。 - 試験対象デバイスの光学的特性を調べるシステムであって、
試験対象デバイスに局部発振器信号を出力する局部発振源と、
前記局部発振源と光通信状態にあって、前記試験対象デバイスに対する前記局部発振器信号の印加期間中に前記試験対象デバイスの能動的特性と該試験対象デバイスの受動的特性を表わす光信号を生成するデバイスインタフェース装置と、
前記デバイスインタフェース装置と光通信状態にあって、前記光信号に応答して生成された受動帯域データから前記光信号に応答して生成された能動帯域データを分離する分離装置と、
を備えるシステム。 - 前記デバイスインタフェース装置が前記局部発振器信号の基準部分を光分析器へ直接供給する光路を有する、請求項5記載のシステム。
- 前記光分析器が前記光信号を検出する前に、前記試験対象デバイスへ供給する前記局部発振器信号に該局部発振器信号の前記基準部分を合成するカプラをさらに含む、請求項6記載のシステム。
- 前記分離装置が、
前記試験対象デバイスの能動的特性および該試験対象デバイスの受動的特性を表わす前記光信号を検出する検出器と、
電気的なベースバンド信号を第1と第2の電気信号に分割する電気的スプリッタと、
前記第1の電気信号をフィルタリングして能動帯域信号を通過させる能動帯域フィルタと、
前記第2の電気信号をフィルタリングして受動帯域信号を通過させる受動帯域フィルタと、
を有する請求項5記載のシステム。 - 前記分離装置が、
前記試験対象デバイスの能動的特性および該試験対象デバイスの受動的特性を表わす前記光信号を検出する検出器と、
能動帯域信号と受動帯域信号を含む電気的なベースバンド信号をディジタルデータへ変換するディジタル捕捉装置と、
前記ディジタルデータを処理し、受動帯域データとは切り離して能動帯域データを識別するプロセッサと、
を備える請求項5記載のシステム。 - 前記分離装置が、
生成した前記光信号を第1と第2の光信号に分割する光スプリッタと、
前記第2の光信号に前記局部発振器信号の一部を合成する光カプラと、
前記第1の光信号と前記合成光信号を個別検出して対応する第1および第2の電気信号を生成する第1および第2の検出器と、
前記第1の電気信号をフィルタリングして能動帯域信号を通過させる能動帯域フィルタと、
前記第2の電気信号をフィルタリングして受動帯域信号を通過させる受動帯域フィルタと、
を備える請求項5記載のシステム。
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