JP2005039331A - Surface acoustic wave device - Google Patents

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JP2005039331A
JP2005039331A JP2003197183A JP2003197183A JP2005039331A JP 2005039331 A JP2005039331 A JP 2005039331A JP 2003197183 A JP2003197183 A JP 2003197183A JP 2003197183 A JP2003197183 A JP 2003197183A JP 2005039331 A JP2005039331 A JP 2005039331A
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JP
Japan
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acoustic wave
surface acoustic
electrode
dam
wave element
Prior art date
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Pending
Application number
JP2003197183A
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Japanese (ja)
Inventor
Koji Yamamoto
浩司 山本
Masashi Omura
正志 大村
Katsuhiro Ikada
克弘 筏
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Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface acoustic wave device sealed by a resin, for suppressing flowing-in of an outer layer resin to a vibration space and particularly adhesion of the outer layer resin to electrode lands on a mount substrate and capable of promoting downsizing. <P>SOLUTION: In the surface acoustic wave device 1 sealed with the outer layer resin 32 wherein a surface acoustic wave element 6 is mounted on the mount substrate 2 on the upper side of which the electrode lands 3 to 5 are formed through flip-chip bonding by directing an electrode forming face downwardly, a square annular dam 25 made of a resin is formed to the surrounding of the electrode forming face of a surface acoustic wave substrate of the surface acoustic wave element and corners 3a, 4a, 4b, 5a of the electrode lands 3 to 5 close to corners of the dam 25 are formed rounded to extend the distance from the corners 3a, 4a, 4b, 5a to the corners of the dam. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、弾性表面波素子が実装基板にバンプを用いてフリップチップボンディングにより実装されている構造を備えた弾性表面波装置に関し、より詳細には、外層樹脂の弾性表面波素子用電極側への浸入を防止するためのダムが設けられている弾性表面波装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
水晶、LiTaOまたはLiNbOなどの圧電基板上に、Alなどの金属からなるくし型電極を形成してなる弾性表面波装置では、くし型電極や圧電基板の弾性表面波伝搬部分上に振動空間を確保することが必要である。また、くし型電極部を水分や埃などから保護する必要がある。
【0003】
そこで、従来の弾性表面波装置では、上方に開いた開口を有する第1のパッケージ材と、第1のパッケージ材の開口を閉成する蓋材としての第2のパッケージ材からなるパッケージ内に弾性表面波素子が密封されていた。すなわち、第1のパッケージ材の内底面にダイボンド材が塗布され、弾性表面波素子がダイボンドにより第1のパッケージ材の内部に搭載されている。そして、パッケージ内部の端子と弾性表面波素子との電極がワイヤーボンディングにより接続される。しかる後、蓋材としての第2のパッケージ材が第1のパッケージ材に固定され、内部の弾性表面波素子が封止されていた。上記第1,第2のパッケージ材は、例えばアルミナなどの絶縁性セラミックスやコバール等の金属などにより構成されていた。
【0004】
また、小型化のために、上記第1のパッケージ材の内底面に電極ランドを形成し、弾性表面波素子をダイボンドによりフリップチップボンディング法により搭載した構造も用いられていた。
【0005】
これらの第1,第2のパッケージ材を用いた弾性表面波装置は、例えば下記の特許文献1及び特許文献2に開示されている。
しかしながら、上記パッケージ構造では、弾性表面波素子を小型化した場合であっても、パッケージが小型化されない限り、弾性表面波装置の小型化及び低背化を進めることができないという問題があった。また、小型化を進めた場合、上記パッケージ構造のコストが高くつくという問題があった。
【0006】
そこで、近年、例えば下記の特許文献3に開示されているように、実装基板上に弾性表面波素子がフリップチップボンディング法により実装され、該弾性表面波素子が樹脂で封止されている構造を有するチップサイズパッケージの弾性表面波装置が提案されている。すなわち、第1,第2のパッケージ材を有する上記パッケージ構造に代えて、外層樹脂により弾性表面波素子を封止することにより小型化が図られている。この場合、硬化前の樹脂が振動空間へ流れ込むのを防止するために、弾性表面波素子及び実装基板の少なくとも一方に、合成樹脂からなる角環状のダムが設けられている。
【0007】
【特許文献1】
特開平7−283684号公報
【特許文献2】
特開2000−91880号公報
【特許文献3】
特開平10−321666号公報
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
特許文献3に記載のように、ダムの形成により振動空間への樹脂の流入を防止した構造では、以下のような問題があった。
【0009】
実装基板に弾性表面波素子がフリップチップボンディング法により実装され、次に外層樹脂により封止される際に、硬化前の樹脂が弾性表面波素子と実装基板との間の中空部分、特に弾性表面波伝搬部分に臨む中空部分への浸入を抑制するために、上記のように角環状のダムが形成されていた。しかしながら、場合によっては、硬化前の外層樹脂がダムを乗り越え、振動空間側に浸入することがあった。この場合、図7に示すように、角環状のダム101のコーナー部101aの内側に樹脂102が溜まりがちとなる。
【0010】
他方、上記角環状のダムの内側には、弾性表面波素子のくし型電極に接続される矩形の電極ランドが配置されている。すなわち、通常、実装基板の電極ランドが、弾性表面波素子のくし型電極の外側で、電極パッドと対向する位置に配置されており、該くし型電極及び電極ランドが形成されている領域の外側に上記ダムが形成されている。ここでは、電極ランドとダムのコーナー部分とが、比較的近接している。従って、上記ダムのコーナー部内側に滞留している樹脂が矩形の電極ランドに接触することがあった。
【0011】
また、外層樹脂中の低分子成分は、電極に対する濡れ性が比較的高いため、電極ランドを外層樹脂が濡れ広がり、さらに電極ランドに設けられているバンプを伝ってくし型電極や圧電基板上の弾性表面波伝搬部分に至ることがあった。そのため、上記ダムを設けたにもかかわらず、所望とする特性を得ることができず、かつ弾性表面波装置の良品率が低下しがちであった。
【0012】
上記のような問題を解消するには、弾性表面波素子のくし型電極及び電極ランドが形成されている部分からより一層遠ざけてダムを形成すればよいと考えられる。しかしながら、ダムと電極ランドとをさらに遠ざけた場合には、弾性表面波素子が大型化せざるを得ない。
【0013】
本発明の目的は、上述した従来技術の欠点を解消し、外層樹脂により弾性表面波素子が封止された構造の弾性表面波装置において、外層樹脂の弾性表面波素子用電極や電極ランドへの浸入をより確実に抑制することができ、しかも小型化を進めることができる弾性表面波装置を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】
本発明の広い局面によれば、上面に複数の電極ランドが形成された実装基板と、圧電基板と、該圧電基板の一方主面に形成された弾性表面波素子構成用電極と、該弾性表面波素子構成用電極に接続された電極パッドとを備え、前記実装基板の上面に前記弾性表面波素子構成用電極が形成されている面が対向するようにフリップチップボンディングで実装されている弾性表面波素子と、前記弾性表面波素子の周囲を封止する外層樹脂と、前記弾性表面波素子の圧電基板の前記弾性表面波素子構成用電極が形成されている面の周囲に樹脂からなる角環状のダムが形成されている弾性表面波装置において、前記実装基板に設けられた電極ランドの前記ダムの角部と近接するコーナー部が丸みを帯びていることを特徴とする、弾性表面波装置が提供される。
【0015】
本発明に係る弾性表面波装置のある特定の局面では、前記実装基板の電極ランドと前記弾性表面波素子の電極パッドを接合するバンプの平面形状が略円形とされている。
【0016】
本発明に係る弾性表面波装置のさらに他の局面によれば、前記弾性表面波素子の弾性表面波素子構成用電極が、くし型電極部及び反射器を有し、該くし型電極部及び反射器が設けられている領域を取り囲むように、前記ダムの内側に第2のダムが形成されている。
【0017】
本発明の弾性表面波装置のさらに他の特定の局面では、前記ダムの角部の内線が丸みを帯びており、該角部の内縁と電極ランドとの間隔をl、前記ダムの角部に連なる辺部分の内縁と電極ランドとの間隔をLとしたときに、l≧Lとされている。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しつつ本発明の具体的な実施形態を説明することにより、本発明を明らかにする。
【0019】
図1(a)及び(b)は、本発明の一実施形態に係る弾性表面波装置を示す正面断面図及び該弾性表面波装置に用いられている実装基板の平面図である。
チップサイズパッケージの弾性表面波装置1は、実装基板2を有する。実装基板2は、例えばアルミナなどの絶縁性セラミックス、あるいは合成樹脂等の適宜の絶縁性材料で構成される。本実施形態では、機械的強度に優れているため、実装基板2はアルミナなどの絶縁性セラミックスなどにより構成されている。
【0020】
図1(b)に示されているように、実装基板2の上面には、電極ランド3〜5が形成されている。電極ランド3〜5は、後述の弾性表面波素子の入力電極、出力電極及びアース電極に電気的に接続される。電極ランド3〜5は、実装基板2の上面に、W等を印刷した後焼成し、その後Ni、Au等をメッキ付けして形成される。
【0021】
本実施形態の特徴は、電極ランド3〜5の一部のコーナー部3a,4a,4b及び5aが丸みを付けられていることにある。本実施形態では、コーナー部は、中心角約90度の扇形の円弧に沿った形となるように形成されている。もっとも、コーナー部の丸みは、他の形状とされてもよい。すなわち、例えば電極ランド4のコーナー部4aは、図2(a)に示すように丸みを帯びていてもよく、図2(b)に示すように斜めに切欠かれた形状でもよく、図2(c)に示すように複数の直線がある角度で連ねられた形状であってもよい。
【0022】
実装基板2上には、弾性表面波素子6が実装されている。弾性表面波素子6は、圧電基板7を有する。図3に平面図で示すように、圧電基板7上に、弾性表面波素子を構成するために、くし歯電極8,9及び反射器10,11、並びにくし歯電極12,13及び反射器14,15が形成されている。本実施形態では、くし歯電極8,9及び反射器10,11により第1の弾性表面波フィルタ部が構成されており、くし歯電極12,13及び反射器14,15により第2の弾性表面波フィルタ部が構成されている。第1,第2の弾性表面波フィルタ部は、接続導電部16により接続されている。従って、2段構成の弾性表面波フィルタが構成されている。
【0023】
なお、第1の弾性表面波フィルタ部は、電極パッド21,22,22′に接続されている。第2の弾性表面波フィルタ部は、電極パッド23,24,24′に接続されている。電極パッド21は、第1の弾性表面波フィルタ部の入力端に電気的に接続されており、電極パッド23は、第2の弾性表面波フィルタ部の出力端に電気的に接続されている。電極パッド22,22′,24,24′は、第1,第2の弾性表面波フィルタ部のアース電位に接続される電極に電気的に接続されている。
【0024】
弾性表面波素子6では、圧電基板7の一方面7aにおいて、上記弾性表面波フィルタ部を構成しているくし歯電極8,9及び反射器10,11並びにくし歯電極12,13及び反射器14,15と、上記電極パッド21〜24が形成されている領域の外側に、第1のダム25が形成されている。また、第1,第2の弾性表面波フィルタ部を囲むように、第2のダム26,27が形成されている。第1のダム25及び第2のダム26,27は、本実施形態では、ポリイミドを主体とする感光性フォトレジスト樹脂を用いてフォトレジスト法により形成されている。もっとも、ダム25〜27は、後述する外層樹脂の流入を防止するために設けられているため、感光性フォトレジスト樹脂以外の他の合成樹脂により構成されてもよく、形成方法も特に限定されない。
【0025】
なお、第1のダム25、第2のダム26,27は、いずれも角環状の平面形状を有するように構成されている。
ダム25〜27の高さh1(図1(a)参照)は、最終的に実装基板2上に弾性表面波素子6が接合された状態における両者の間の間隙よりも小さくなるように設けられている。
【0026】
図1(a)に示すように、上記弾性表面波素子6が、弾性表面波フィルタ部やダム25〜27が構成されている面、すなわち圧電基板7の一方面7aが下面となるようにして、実装基板2にフリップチップボンディングにより接合される。なお図1では、電極パッド21〜24は図示が省略されている。この場合、予め、図1(a)及び図3に示すバンプ31が、電極パッド21〜24上に予め形成されている。
【0027】
フリップチップボンディングにより、電極ランド3〜5が、電極パッド21〜24に接合される。より具体的には、電極ランド3,5に、それぞれ、バンプにより電極パッド21,23が接合され、電極ランド4に、電極パッド22,24,22′,24′がバンプにより接合される。バンプ31は、例えばAuから構成されるが、他の金属によりバンプを構成してもよい。
【0028】
また、図3に示すように、バンプ31は、その平面形状が円形とされており、電極パッド21〜24の端縁よりも内側に周縁が位置するようにバンプ31が形成されている。
【0029】
本実施形態では、上記のようにして弾性表面波素子6が実装基板2上にフリップチップボンディングにより接合された後、外層樹脂32が弾性表面波素子6の側面の周囲及び弾性表面波素子6と実装基板2との間の空間を封止するように付与される。外層樹脂32としては、光硬化型あるいは熱硬化型のエポキシ樹脂などの適宜の樹脂が用いられるが、本実施形態では、熱硬化型のエポキシ樹脂が用いられ、外層樹脂32を付与した後、加熱することにより、外層樹脂32が硬化される。従って、弾性表面波素子6と実装基板2との間の空間が外層樹脂32により封止される。なお、弾性表面波素子6の天面に外層樹脂は形成されていないが、天面上に形成されていてもよい。
【0030】
ここで、硬化前には外層樹脂32は流動性を有し、硬化に至るまで、弾性表面波素子6と実装基板2との間の空間Aに浸入するおそれがある。しかしながら、本実施形態では、第1のダム25が設けられているため、まず第1のダム25により外層樹脂32の内側への流入が抑制される。
【0031】
もっとも、従来技術の説明の項で示したように、外層樹脂32は、角環状の第1のダム25のコーナー25aにおいて第1のダム25を乗り越え、該コーナー部の内側に溜まりがちとなる。
【0032】
しかしながら、本実施形態では、電極ランド3〜5のコーナー部3a,4a,4b,5aが前述したように丸みを帯びている。言い換えれば、上記第1のダム25のコーナー部に近接した電極ランド3〜5のコーナー部が丸みを帯びているため、該コーナー部3a,4a,4b,5aとダム25のコーナー部とが遠ざけられている。
【0033】
よって、外層樹脂32がダム25のコーナー部内側に浸入したとしても、電極ランド3〜5と外層樹脂32との接触を確実に防止することができる。
すなわち、本実施形態の特徴は、角環状の第1のダム25のコーナー部と、該コーナー部に近接している電極ランド3〜5のコーナー部分を丸みを帯びるように形成し、それによって外層樹脂32の電極ランド3〜5への付着を抑制したことにある。
【0034】
また、本実施形態では、さらに、第1,第2の弾性表面波フィルタ部を構成しているくし型電極8,9及び反射器10,11並びにくし型電極12,13及び反射器14,15が設けられている各領域を覆うように第2のダム26,27が形成されている。従って、例えば外層樹脂が図3のダム25の長辺25b,25cの中央付近で乗り越えたとしても、第2のダム26,27により外層樹脂の第1,第2の弾性表面波フィルタ部への流入が抑制される。従って、所望通りのフィルタ特性を確実に得ることができる。
【0035】
本実施形態では、電極ランド3〜5の上記コーナー部3a,4a,4b,5aを丸みを帯びるように形成し、それによって電極ランド3〜5への外層樹脂32の付着を抑制したものであるため、ダム25の開口部の面積を増加させずとも、外層樹脂32の電極ランド3〜5への付着を抑制することができる。従って、大型化を招くことなく、外層樹脂32の電極ランド3〜5への付着を防止することができる。
【0036】
なお、上記実施形態では、第2のダム26,27が設けられたが、図4に示すように圧電基板7の一方面7aにおいては、第1のダム25のみが設けられてもよい。また、第1のダムの内側であって、弾性表面波フィルタ部を構成しているくし歯電極8,9及び反射器10,11並びにくし歯電極12,13及び反射器14,15と上記電極パッド21〜24が形成されている領域の外側に第3のダムを設けてもよい。
【0037】
また、上記実施形態では、実装基板2の上面に、1つの弾性表面波素子に応じて電極ランド3〜5が形成されていたが、図5に示すように、実装基板2上に、複数の弾性表面波素子を実装するために、電極ランド3〜5が複数組み配置されていてもよい。
【0038】
図6は、本発明において用いられるダムと電極ランドとの形状の変形例を示す部分切欠平面図である。図1に示した電極ランド4bを例にとり説明する。この変形例では、電極ランド4bの外側に第1のダム25Aが設けられている。この第1のダム25Aは略角環状であるが、コーナー部分が丸みを帯びた形状とされている。このように、本発明においては、角環状のダムのコーナー部は丸みを帯びていてもよい。この場合、ダム25Aのコーナー部25Aaと、電極ランド4bとの間の距離をl、ダム25Aの辺部分の内縁25Abと電極ランド4bとの間の間隔をLとしたとき、lを、L以上とすればよい。すなわち、lをL以上とすることにより、上記実施形態と同様に、外層樹脂の電極ランドへの付着を抑制することができる。
【0039】
なお、上記実施形態では、弾性表面波素子6として2段構成の共振子型弾性表面波フィルタを用いたが、他の構成の弾性表面波フィルタ素子、あるいは弾性表面波フィルタ素子以外の弾性表面波共振子等にも本発明を適用することができる。
【0040】
【発明の効果】
本発明に係る弾性表面波装置では、弾性表面波素子の圧電基板の電極が形成されている面の周囲に樹脂からなる角環状のダムが形成されており、かつ該ダムのコーナー部と近接する、実装基板側に設けられた電極ランドのコーナー部が丸みを帯びているように形成されている。従って、ダムのコーナー部と、電極ランドの丸みを帯びているコーナー部との間の距離が大きくなるため、外層樹脂のダムのコーナー部内側への流入が生じたとしても、外層樹脂が電極ランドに付着し難い。従って、従来、この種の弾性表面波装置では、外層樹脂がダムのコーナー部内側から流入し、電極ランドに付着し、電極ランド表面を広がり、特性の劣化を引き起こしていたのに対し、本発明の弾性表面波装置では、このような電極ランドへの外層樹脂の付着を確実に抑制し、弾性表面波装置の特性の安定化及び良品率の向上を図ることが可能となる。
【0041】
実装基板の電極ランドと、弾性表面波素子の電極パッドとを接合するバンプの平面形状が円形である場合には、バンプの端部から電極ランド間の間隔を一定にでき効率的な配置とすることができる。
【0042】
弾性表面波素子の電極が、くし型電極及び反射器を有し、くし型電極及び反射器が設けられている領域を取り囲むように、上記ダムの内側に第2のダムが形成されている場合には、第2のダムによって、外層樹脂の所望でない流入による特性の劣化をより確実に抑制することができる。
【0043】
ダムの角部の内縁が丸みを帯びており、該角部の内縁と電極ランドとの間隔をl、ダムの角部に連なる辺部分の内縁と電極ランドとの間隔をLとしたときに、l≧Lとされている場合には、コーナー部から流入した外層樹脂の電極ランドへの付着をより確実に抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)及び(b)は、本発明の一実施形態に係る弾性表面波装置の正面断面図及び該弾性表面波装置に用いられている実装基板の平面図。
【図2】(a)〜(c)は、本発明の弾性表面波装置における電極ランドの形状の変形例を示す各部分切欠平面図。
【図3】図1に示した弾性表面波装置に用いられている弾性表面波素子の電極形成面を示す模式的平面図。
【図4】本発明で用いられる弾性表面波素子の他の例を説明するための模式的平面図。
【図5】本発明の弾性表面波装置で用いられる実装基板の変形例を示す平面図。
【図6】本発明の弾性表面波装置の変形例を示す模式的部分切欠平面図。
【図7】従来の弾性表面波装置の問題点を説明するための部分切欠平面図。
【符号の説明】
1…弾性表面波装置
2…実装基板
3〜5…電極ランド
3a,4a,4b,5a…コーナー部
6…弾性表面波素子
7…圧電基板
7a…一方面
8,9…くし型電極
10,11…反射器
12,13…くし型電極
14,15…反射器
16…接続導電部
21〜24…電極パッド
25,25A…ダム
26,27…第2のダム
31…バンプ
32…外層樹脂
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a surface acoustic wave device having a structure in which a surface acoustic wave element is mounted on a mounting substrate by flip-chip bonding using bumps, and more specifically, to the surface acoustic wave element electrode side of an outer layer resin. The present invention relates to a surface acoustic wave device provided with a dam for preventing intrusion of water.
[0002]
[Prior art]
In a surface acoustic wave device in which a comb-shaped electrode made of a metal such as Al is formed on a piezoelectric substrate such as quartz, LiTaO 3 or LiNbO 3 , a vibration space is formed on the comb-shaped electrode or the surface acoustic wave propagation portion of the piezoelectric substrate. It is necessary to secure Further, it is necessary to protect the comb-shaped electrode portion from moisture and dust.
[0003]
Therefore, in the conventional surface acoustic wave device, the first package material having an opening opened upward and the second package material as a lid material for closing the opening of the first package material are elastic in the package. The surface wave element was sealed. That is, the die bonding material is applied to the inner bottom surface of the first package material, and the surface acoustic wave element is mounted inside the first package material by die bonding. And the terminal of a package and the electrode of a surface acoustic wave element are connected by wire bonding. After that, the second package material as the lid material was fixed to the first package material, and the internal surface acoustic wave element was sealed. The first and second package materials are made of, for example, insulating ceramics such as alumina or metals such as Kovar.
[0004]
In order to reduce the size, an electrode land is formed on the inner bottom surface of the first package material, and a surface acoustic wave element is mounted by die bonding using a flip chip bonding method.
[0005]
Surface acoustic wave devices using these first and second package materials are disclosed in, for example, Patent Document 1 and Patent Document 2 below.
However, the above-described package structure has a problem that even if the surface acoustic wave element is downsized, the surface acoustic wave device cannot be reduced in size and height unless the package is downsized. Further, when the miniaturization is advanced, there is a problem that the cost of the package structure is high.
[0006]
Therefore, in recent years, for example, as disclosed in Patent Document 3 below, a surface acoustic wave element is mounted on a mounting substrate by a flip chip bonding method, and the surface acoustic wave element is sealed with a resin. A surface acoustic wave device having a chip size package has been proposed. That is, instead of the package structure having the first and second package materials, the surface acoustic wave element is sealed with an outer layer resin to achieve downsizing. In this case, in order to prevent the uncured resin from flowing into the vibration space, at least one of the surface acoustic wave element and the mounting substrate is provided with a square annular dam made of a synthetic resin.
[0007]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Laid-Open No. 7-283684 [Patent Document 2]
JP 2000-91880 A [Patent Document 3]
Japanese Patent Laid-Open No. 10-321666
[Problems to be solved by the invention]
As described in Patent Document 3, the structure that prevents the resin from flowing into the vibration space by forming a dam has the following problems.
[0009]
When the surface acoustic wave device is mounted on the mounting substrate by the flip chip bonding method and then sealed with the outer layer resin, the resin before curing is a hollow portion between the surface acoustic wave device and the mounting substrate, particularly the elastic surface. In order to suppress the intrusion into the hollow part facing the wave propagation part, the square annular dam has been formed as described above. However, depending on the case, the outer layer resin before curing may get over the dam and enter the vibration space side. In this case, as shown in FIG. 7, the resin 102 tends to accumulate inside the corner portion 101 a of the annular dam 101.
[0010]
On the other hand, a rectangular electrode land connected to the comb-shaped electrode of the surface acoustic wave element is arranged inside the square annular dam. That is, usually, the electrode land of the mounting substrate is arranged outside the comb-shaped electrode of the surface acoustic wave element at a position facing the electrode pad, and outside the region where the comb-shaped electrode and the electrode land are formed. The above dam is formed. Here, the electrode land and the corner portion of the dam are relatively close to each other. Therefore, the resin staying inside the corner portion of the dam may come into contact with the rectangular electrode land.
[0011]
In addition, since the low molecular component in the outer layer resin has relatively high wettability with respect to the electrode, the outer layer resin wets and spreads on the electrode land, and further passes on the bumps provided on the electrode land and on the comb electrode or piezoelectric substrate. It sometimes reaches the surface acoustic wave propagation part. Therefore, although the dam is provided, desired characteristics cannot be obtained, and the yield rate of the surface acoustic wave device tends to decrease.
[0012]
In order to solve the above problems, it is considered that the dam should be formed further away from the portion where the comb-type electrode and electrode land of the surface acoustic wave element are formed. However, when the dam and the electrode land are further away from each other, the surface acoustic wave element has to be enlarged.
[0013]
An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks of the prior art, and in a surface acoustic wave device having a structure in which a surface acoustic wave element is sealed with an outer layer resin, the outer layer resin is applied to the surface acoustic wave element electrodes and electrode lands. An object of the present invention is to provide a surface acoustic wave device that can more reliably suppress intrusion and that can be reduced in size.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
According to a wide aspect of the present invention, a mounting substrate having a plurality of electrode lands formed on an upper surface, a piezoelectric substrate, a surface acoustic wave element forming electrode formed on one main surface of the piezoelectric substrate, and the elastic surface And an elastic pad mounted by flip-chip bonding so that the surface on which the surface acoustic wave element configuration electrode is formed is opposed to the upper surface of the mounting substrate. A square ring made of resin around the surface of the surface acoustic wave element on which the surface acoustic wave element constituting electrode is formed, and an outer layer resin that seals the periphery of the surface acoustic wave element In the surface acoustic wave device in which the dam is formed, a corner portion of the electrode land provided on the mounting substrate adjacent to the corner portion of the dam is rounded. Provided That.
[0015]
In a specific aspect of the surface acoustic wave device according to the present invention, the planar shape of the bump joining the electrode land of the mounting substrate and the electrode pad of the surface acoustic wave element is substantially circular.
[0016]
According to still another aspect of the surface acoustic wave device according to the present invention, the surface acoustic wave element constituting electrode of the surface acoustic wave element includes a comb electrode part and a reflector, and the comb electrode part and the reflection A second dam is formed inside the dam so as to surround the region where the vessel is provided.
[0017]
In still another specific aspect of the surface acoustic wave device according to the present invention, the inner line of the corner portion of the dam is rounded, the interval between the inner edge of the corner portion and the electrode land is l, and the corner portion of the dam is When the distance between the inner edge of the continuous side portion and the electrode land is L, L ≧ L.
[0018]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be clarified by describing specific embodiments of the present invention with reference to the drawings.
[0019]
1A and 1B are a front sectional view showing a surface acoustic wave device according to an embodiment of the present invention and a plan view of a mounting substrate used in the surface acoustic wave device.
A surface acoustic wave device 1 having a chip size package has a mounting substrate 2. The mounting substrate 2 is made of an appropriate insulating material such as insulating ceramics such as alumina or synthetic resin. In this embodiment, since the mechanical strength is excellent, the mounting substrate 2 is made of insulating ceramics such as alumina.
[0020]
As shown in FIG. 1B, electrode lands 3 to 5 are formed on the upper surface of the mounting substrate 2. The electrode lands 3 to 5 are electrically connected to an input electrode, an output electrode, and a ground electrode of a surface acoustic wave element to be described later. The electrode lands 3 to 5 are formed by printing W or the like on the upper surface of the mounting substrate 2 and baking it, and thereafter plating Ni, Au or the like.
[0021]
The feature of this embodiment is that some corners 3a, 4a, 4b and 5a of the electrode lands 3 to 5 are rounded. In the present embodiment, the corner portion is formed to have a shape along a fan-shaped arc having a central angle of about 90 degrees. But the roundness of a corner part may be made into other shapes. That is, for example, the corner portion 4a of the electrode land 4 may be rounded as shown in FIG. 2A, or may be cut into an oblique shape as shown in FIG. As shown in c), a plurality of straight lines may be connected at a certain angle.
[0022]
A surface acoustic wave element 6 is mounted on the mounting substrate 2. The surface acoustic wave element 6 has a piezoelectric substrate 7. As shown in a plan view in FIG. 3, comb electrodes 8 and 9 and reflectors 10 and 11, and comb electrodes 12 and 13 and a reflector 14 are formed on a piezoelectric substrate 7 to form a surface acoustic wave element. , 15 are formed. In the present embodiment, the first surface acoustic wave filter portion is constituted by the comb electrodes 8 and 9 and the reflectors 10 and 11, and the second elastic surface is constituted by the comb electrodes 12 and 13 and the reflectors 14 and 15. A wave filter unit is configured. The first and second surface acoustic wave filter portions are connected by a connection conductive portion 16. Therefore, a surface acoustic wave filter having a two-stage configuration is configured.
[0023]
The first surface acoustic wave filter section is connected to the electrode pads 21, 22, 22 '. The second surface acoustic wave filter section is connected to the electrode pads 23, 24, 24 '. The electrode pad 21 is electrically connected to the input end of the first surface acoustic wave filter unit, and the electrode pad 23 is electrically connected to the output end of the second surface acoustic wave filter unit. The electrode pads 22, 22 ', 24, 24' are electrically connected to electrodes connected to the ground potential of the first and second surface acoustic wave filter sections.
[0024]
In the surface acoustic wave element 6, on one surface 7 a of the piezoelectric substrate 7, the comb electrodes 8 and 9 and the reflectors 10 and 11 and the comb electrodes 12 and 13 and the reflector 14 that constitute the surface acoustic wave filter section. 15 and the first dam 25 is formed outside the region where the electrode pads 21 to 24 are formed. In addition, second dams 26 and 27 are formed so as to surround the first and second surface acoustic wave filter sections. In the present embodiment, the first dam 25 and the second dams 26 and 27 are formed by a photoresist method using a photosensitive photoresist resin mainly composed of polyimide. However, since the dams 25 to 27 are provided in order to prevent an inflow of an outer layer resin to be described later, the dams 25 to 27 may be made of a synthetic resin other than the photosensitive photoresist resin, and the formation method is not particularly limited.
[0025]
Each of the first dam 25 and the second dams 26 and 27 is configured to have a square annular planar shape.
The height h1 (see FIG. 1A) of the dams 25 to 27 is provided so as to be smaller than the gap between the two in a state where the surface acoustic wave element 6 is finally bonded to the mounting substrate 2. ing.
[0026]
As shown in FIG. 1A, the surface acoustic wave element 6 has a surface on which the surface acoustic wave filter section and dams 25 to 27 are formed, that is, one surface 7a of the piezoelectric substrate 7 is a lower surface. Then, it is bonded to the mounting substrate 2 by flip chip bonding. In FIG. 1, the electrode pads 21 to 24 are not shown. In this case, the bumps 31 shown in FIGS. 1A and 3 are previously formed on the electrode pads 21 to 24.
[0027]
The electrode lands 3 to 5 are bonded to the electrode pads 21 to 24 by flip chip bonding. More specifically, the electrode pads 21, 23 are bonded to the electrode lands 3, 5 by bumps, and the electrode pads 22, 24, 22 ′, 24 ′ are bonded to the electrode lands 4 by bumps. The bump 31 is made of, for example, Au, but may be made of another metal.
[0028]
As shown in FIG. 3, the bump 31 has a circular planar shape, and the bump 31 is formed so that the periphery is located inside the edge of the electrode pads 21 to 24.
[0029]
In the present embodiment, after the surface acoustic wave element 6 is bonded to the mounting substrate 2 by flip chip bonding as described above, the outer resin layer 32 is formed around the side surface of the surface acoustic wave element 6 and the surface acoustic wave element 6. It is given so as to seal the space between the mounting substrate 2. As the outer layer resin 32, an appropriate resin such as a photo-curing type or a thermosetting type epoxy resin is used. However, in this embodiment, a thermosetting type epoxy resin is used, and after the outer layer resin 32 is applied, heating is performed. By doing so, the outer layer resin 32 is cured. Therefore, the space between the surface acoustic wave element 6 and the mounting substrate 2 is sealed with the outer layer resin 32. Although the outer layer resin is not formed on the top surface of the surface acoustic wave element 6, it may be formed on the top surface.
[0030]
Here, the outer layer resin 32 has fluidity before curing, and may enter the space A between the surface acoustic wave element 6 and the mounting substrate 2 until curing. However, in this embodiment, since the first dam 25 is provided, the first dam 25 first suppresses the inflow of the outer layer resin 32 to the inside.
[0031]
However, as shown in the description of the prior art, the outer layer resin 32 tends to get over the first dam 25 at the corner 25a of the first annular dam 25 and accumulate inside the corner portion.
[0032]
However, in this embodiment, the corner portions 3a, 4a, 4b, and 5a of the electrode lands 3 to 5 are rounded as described above. In other words, the corner portions of the electrode lands 3 to 5 adjacent to the corner portion of the first dam 25 are rounded. It has been.
[0033]
Therefore, even if the outer layer resin 32 enters the inside of the corner portion of the dam 25, the contact between the electrode lands 3 to 5 and the outer layer resin 32 can be reliably prevented.
That is, the feature of this embodiment is that the corner portion of the first annular dam 25 and the corner portions of the electrode lands 3 to 5 adjacent to the corner portion are formed to be rounded, thereby forming the outer layer. This is because the adhesion of the resin 32 to the electrode lands 3 to 5 is suppressed.
[0034]
In the present embodiment, the comb electrodes 8 and 9 and the reflectors 10 and 11 and the comb electrodes 12 and 13 and the reflectors 14 and 15 constituting the first and second surface acoustic wave filter units are further provided. Second dams 26 and 27 are formed so as to cover the respective regions where the Therefore, for example, even if the outer layer resin gets over the center of the long sides 25b and 25c of the dam 25 in FIG. 3, the second dams 26 and 27 apply the outer layer resin to the first and second surface acoustic wave filter portions. Inflow is suppressed. Therefore, the desired filter characteristics can be obtained with certainty.
[0035]
In the present embodiment, the corner portions 3a, 4a, 4b, 5a of the electrode lands 3-5 are formed so as to be rounded, thereby suppressing the adhesion of the outer layer resin 32 to the electrode lands 3-5. Therefore, the adhesion of the outer layer resin 32 to the electrode lands 3 to 5 can be suppressed without increasing the area of the opening of the dam 25. Therefore, the outer layer resin 32 can be prevented from adhering to the electrode lands 3 to 5 without causing an increase in size.
[0036]
In the above embodiment, the second dams 26 and 27 are provided. However, as shown in FIG. 4, only the first dam 25 may be provided on the one surface 7 a of the piezoelectric substrate 7. Further, the comb electrodes 8 and 9 and the reflectors 10 and 11 and the comb electrodes 12 and 13 and the reflectors 14 and 15 which are inside the first dam and constitute the surface acoustic wave filter unit, and the electrodes A third dam may be provided outside the region where the pads 21 to 24 are formed.
[0037]
Moreover, in the said embodiment, although the electrode lands 3-5 were formed in the upper surface of the mounting substrate 2 according to one surface acoustic wave element, as shown in FIG. In order to mount the surface acoustic wave element, a plurality of sets of electrode lands 3 to 5 may be arranged.
[0038]
FIG. 6 is a partially cutaway plan view showing a modification of the shape of the dam and electrode land used in the present invention. A description will be given by taking the electrode land 4b shown in FIG. 1 as an example. In this modification, a first dam 25A is provided outside the electrode land 4b. The first dam 25A has a substantially rectangular ring shape, but has a rounded corner portion. Thus, in the present invention, the corner portion of the annular ring dam may be rounded. In this case, when the distance between the corner portion 25Aa of the dam 25A and the electrode land 4b is l, and the distance between the inner edge 25Ab of the side portion of the dam 25A and the electrode land 4b is L, l is L or more. And it is sufficient. That is, by setting l to L or more, it is possible to suppress the adhesion of the outer layer resin to the electrode land as in the above embodiment.
[0039]
In the above-described embodiment, a resonator type surface acoustic wave filter having a two-stage configuration is used as the surface acoustic wave element 6. However, the surface acoustic wave filter of another configuration or a surface acoustic wave other than the surface acoustic wave filter element is used. The present invention can also be applied to a resonator or the like.
[0040]
【The invention's effect】
In the surface acoustic wave device according to the present invention, an angular dam made of resin is formed around the surface of the surface of the surface acoustic wave element on which the electrodes of the piezoelectric substrate are formed, and close to the corner of the dam. The corner portions of the electrode lands provided on the mounting substrate side are formed to be rounded. Therefore, since the distance between the corner portion of the dam and the rounded corner portion of the electrode land becomes large, even if the outer layer resin flows into the corner portion of the dam, the outer layer resin does not move to the electrode land. It is hard to adhere to. Therefore, conventionally, in this type of surface acoustic wave device, the outer layer resin flows in from the inside of the corner portion of the dam, adheres to the electrode land, spreads the surface of the electrode land, and causes deterioration of the characteristics. In the surface acoustic wave device, the adhesion of the outer layer resin to the electrode lands can be reliably suppressed, and the characteristics of the surface acoustic wave device can be stabilized and the yield rate can be improved.
[0041]
When the planar shape of the bump that joins the electrode land of the mounting substrate and the electrode pad of the surface acoustic wave element is circular, the distance between the electrode lands from the end of the bump can be made constant and the arrangement can be made efficient. be able to.
[0042]
When the electrode of the surface acoustic wave element has a comb-shaped electrode and a reflector, and a second dam is formed inside the dam so as to surround a region where the comb-shaped electrode and the reflector are provided The second dam can more reliably suppress the deterioration of characteristics due to the undesired inflow of the outer layer resin.
[0043]
When the inner edge of the corner of the dam is rounded, the distance between the inner edge of the corner and the electrode land is l, and the distance between the inner edge of the side portion connected to the corner of the dam and the electrode land is L, When l ≧ L, adhesion of the outer layer resin flowing from the corner portion to the electrode land can be more reliably suppressed.
[Brief description of the drawings]
1A and 1B are a front sectional view of a surface acoustic wave device according to an embodiment of the present invention and a plan view of a mounting substrate used in the surface acoustic wave device.
FIGS. 2A to 2C are partial cutaway plan views showing modifications of the shape of electrode lands in the surface acoustic wave device of the invention.
3 is a schematic plan view showing an electrode forming surface of a surface acoustic wave element used in the surface acoustic wave device shown in FIG. 1. FIG.
FIG. 4 is a schematic plan view for explaining another example of the surface acoustic wave element used in the present invention.
FIG. 5 is a plan view showing a modified example of the mounting board used in the surface acoustic wave device of the invention.
FIG. 6 is a schematic partially cutaway plan view showing a modification of the surface acoustic wave device of the present invention.
FIG. 7 is a partially cutaway plan view for explaining problems of a conventional surface acoustic wave device.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Surface acoustic wave apparatus 2 ... Mounting substrate 3-5 ... Electrode land 3a, 4a, 4b, 5a ... Corner part 6 ... Surface acoustic wave element 7 ... Piezoelectric substrate 7a ... One surface 8, 9 ... Comb-type electrode 10, 11 ... reflectors 12 and 13 ... comb electrodes 14 and 15 ... reflector 16 ... connection conductive parts 21 to 24 ... electrode pads 25 and 25A ... dams 26 and 27 ... second dam 31 ... bump 32 ... outer layer resin

Claims (4)

上面に複数の電極ランドが形成された実装基板と、
圧電基板と、該圧電基板の一方主面に形成された弾性表面波素子構成用電極と、該弾性表面波素子構成用電極に接続された電極パッドとを備え、前記実装基板の上面に前記弾性表面波素子構成用電極が形成されている面が対向するようにフリップチップボンディングで実装されている弾性表面波素子と、
前記弾性表面波素子の周囲を封止する外層樹脂と、
前記弾性表面波素子の圧電基板の前記弾性表面波素子構成用電極が形成されている面の周囲に樹脂からなる角環状のダムが形成されている弾性表面波装置において、
前記実装基板に設けられた電極ランドの前記ダムの角部と近接するコーナー部が丸みを帯びていることを特徴とする、弾性表面波装置。
A mounting substrate having a plurality of electrode lands formed on the upper surface;
A piezoelectric substrate; a surface acoustic wave element constituting electrode formed on one main surface of the piezoelectric substrate; and an electrode pad connected to the surface acoustic wave element constituting electrode; A surface acoustic wave element mounted by flip chip bonding so that the surface on which the surface wave element constituting electrode is formed is opposed,
An outer layer resin that seals the periphery of the surface acoustic wave element;
In the surface acoustic wave device in which an angular dam made of a resin is formed around the surface of the surface acoustic wave element on which the surface acoustic wave element constituting electrode is formed,
The surface acoustic wave device according to claim 1, wherein a corner portion of the electrode land provided on the mounting substrate is rounded near a corner portion of the dam.
前記実装基板の電極ランドと前記弾性表面波素子の電極パッドを接合するバンプの平面形状が略円形である、請求項1に記載の弾性表面波装置。The surface acoustic wave device according to claim 1, wherein a planar shape of a bump joining the electrode land of the mounting substrate and the electrode pad of the surface acoustic wave element is substantially circular. 前記弾性表面波素子の弾性表面波素子構成用電極が、くし型電極部及び反射器を有し、該くし型電極部及び反射器が設けられている領域を取り囲むように、前記ダムの内側に第2のダムが形成されている、請求項1または2に記載の弾性表面波装置。The surface acoustic wave element constituting electrode of the surface acoustic wave element has a comb-shaped electrode part and a reflector, and is disposed inside the dam so as to surround a region where the comb-shaped electrode part and the reflector are provided. The surface acoustic wave device according to claim 1 or 2, wherein a second dam is formed. 前記ダムの角部の内線が丸みを帯びており、該角部の内縁と電極ランドとの間隔をl、前記ダムの角部に連なる辺部分の内縁と電極ランドとの間隔をLとしたときに、l≧Lであることを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の弾性表面波装置。When the inner line of the corner of the dam is rounded, the distance between the inner edge of the corner and the electrode land is l, and the distance between the inner edge of the side part connected to the corner of the dam and the electrode land is L Furthermore, it is l> = L, The surface acoustic wave apparatus in any one of Claims 1-3 characterized by the above-mentioned.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006229632A (en) * 2005-02-17 2006-08-31 Epson Toyocom Corp Surface acoustic wave device
JP2008147811A (en) * 2006-12-07 2008-06-26 Ngk Insulators Ltd Sealed electronic component
EP1992671A1 (en) 2007-05-17 2008-11-19 Nitto Denko Corporation Thermosetting encapsulation adhesive sheet

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006229632A (en) * 2005-02-17 2006-08-31 Epson Toyocom Corp Surface acoustic wave device
JP2008147811A (en) * 2006-12-07 2008-06-26 Ngk Insulators Ltd Sealed electronic component
EP1992671A1 (en) 2007-05-17 2008-11-19 Nitto Denko Corporation Thermosetting encapsulation adhesive sheet
US8922031B2 (en) 2007-05-17 2014-12-30 Nitto Denko Corporation Thermosetting encapsulation adhesive sheet

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