JP2004363554A - 微動ステージ装置 - Google Patents

微動ステージ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2004363554A
JP2004363554A JP2004037161A JP2004037161A JP2004363554A JP 2004363554 A JP2004363554 A JP 2004363554A JP 2004037161 A JP2004037161 A JP 2004037161A JP 2004037161 A JP2004037161 A JP 2004037161A JP 2004363554 A JP2004363554 A JP 2004363554A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
axis direction
plate
axis
stage device
tilt
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2004037161A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiko Horiuchi
雅彦 堀内
Yoshiyuki Tomita
良幸 冨田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Heavy Industries Ltd filed Critical Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority to JP2004037161A priority Critical patent/JP2004363554A/ja
Priority to TW93107116A priority patent/TWI269686B/zh
Publication of JP2004363554A publication Critical patent/JP2004363554A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】搭載負荷が5kgを越える場合であっても高い停止安定性と高応答性を実現できる微動ステージ装置を提供する。
【解決手段】微動ステージ装置は、ベースプレート100上に構築されたチルトステージ、X−Yステージを含む。チルトステージは、チルトプレート201を有すると共に、第1のピエゾアクチュエータZ2−2とウエッジステージ215との組み合わせによりベースプレートに平行な運動をベースプレートに垂直なZ軸方向の運動に変換する変換機構をチルトプレートとベースプレートとの間に少なくとも3個備える。X−Yステージは、チルトプレートに組み合わされたX−Yプレートを有すると共に、X軸方向、Y軸方向の一方に互いに平行に延びてX−Yプレートを少なくとも2点で駆動する少なくとも2つの第2のピエゾアクチュエータと、X軸方向、Y軸方向の他方に延びてX−Yプレートを駆動する第3のピエゾアクチュエータとを有する。
【選択図】図1

Description

本発明は、ピエゾアクチュエータを駆動源として用いた微動ステージ装置に関する。
半導体装置製造の分野においては様々なタイプのステージ装置が使用されている。例えば電子ビーム露光装置に採用されるウエハ搭載用のステージ装置には、ウエハの搬送やチップ間移動時に動作する粗動ステージ装置と、数nm〜10nm程度の位置決めを行う微動ステージ装置とを組み合わせた構成が多く採用されている。この種のステージ装置は、搭載したウエハを水平面上において互いに直角なX軸方向、Y軸方向に移動させるために使用される。この種のステージ装置はまた、高真空(10-4Pa)下で動作可能であり、さらに非磁性の特性を持つことが要求される。
微動ステージ装置には、弾性ヒンジと圧電素子を用いたアクチュエータ(ピエゾアクチュエータ)が多く採用されている(例えば、特許文献1参照)。
微動ステージ装置は、高い停止安定性が要求されると共に、高スループットを実現するために1μm〜数μmの移動量を数10msec〜100msecで実現する応答性も要求される。
ところで、最近のこの種のステージ装置における微動ステージ装置に搭載される負荷質量は、ウエハ、ウエハチャック、レーザ干渉計用ミラー等により15〜25kg程度になってきている。しかしながら、これまでの微動ステージ装置の搭載負荷は5kg程度のものがほとんどである。搭載負荷5kgの微動ステージ装置に15〜25kg程度の負荷を搭載すると、共振周波数が低下し、停止安定性、応答性共に大幅に低下することが問題となる。
一例を挙げると、搭載負荷が5kgの微動ステージ装置に15〜25kg程度の負荷を搭載すると、X軸方向、Y軸方向の固有周波数(共振周波数)は30Hz程度となり、停止安定性は15〜30nm程度しか確保することができない。しかも、数μm程度のステップ応答では、整定するまでに数100msec程度の時間を要している。
特開平11−271479号公報
そこで、本発明の課題は、搭載負荷が5kgを越える場合であっても高い停止安定性と高応答性を実現できる微動ステージ装置を提供することにある。
本発明の他の課題は、上記微動ステージ装置に3自由度以上の多自由度を持たせることができるようにすることにある。
本発明の更に他の課題は、振動減衰性能を向上させることのできる微動ステージ装置を提供することにある。
本発明の第1の態様によれば、ベース体上に構築されたチルトステージ、X−Yステージを含む微動ステージ装置であって、前記チルトステージは、チルトプレートを有すると共に、第1のピエゾアクチュエータとウエッジステージとの組み合わせにより前記ベース体に平行な運動を前記ベース体に垂直なZ軸方向の運動に変換する変換機構を前記チルトプレートと前記ベース体との間に少なくとも3個備え、前記X−Yステージは、前記チルトプレートに組み合わされたX−Yプレートを有すると共に、X軸方向、Y軸方向の一方に互いに平行に延びて前記X−Yプレートを少なくとも2点で駆動する少なくとも2つの第2のピエゾアクチュエータと、X軸方向、Y軸方向の他方に延びて前記X−Yプレートを駆動する第3のピエゾアクチュエータとを有することを特徴とする微動ステージ装置が提供される。
第1の態様による微動ステージ装置においては、前記少なくとも3個の変換機構を同一円周上に等角度間隔をおいて配置することにより、前記チルトプレートはZ軸方向、X軸回りのθx軸方向、Y軸回りのθy軸方向に変位可能にされ、前記X−Yプレートは前記チルトプレートと共に変位可能にされると共に、前記チルトプレートとは独立してX軸方向、Y軸方向、Z軸回りのθz軸方向に変位可能にされている。
第1の態様による微動ステージ装置においてはまた、前記チルトプレートと前記X−Yプレートとの間には、該X−YプレートのX−Y平面内での運動をガイドする共に、前記ベース体に垂直な方向には高い剛性を呈するリンクヒンジが複数箇所に設けられている。
第1の態様による微動ステージ装置においては更に、前記チルトプレートと前記ベース体との間には、該チルトプレートのX−Y平面内での運動を拘束するための板バネが複数箇所に設けられている。
第1の態様による微動ステージ装置においては更に、前記変換機構におけるZ軸方向の運動部の上部と前記チルトプレートとの間にはチルトヒンジを介在させている。
第1の態様による微動ステージ装置においては更に、前記第1のピエゾアクチュエータは、互いに平行に延びる2本のピエゾアクチュエータ素子が2連ステージによりそれらのストロークが加算されるように組み合わされたものでも良い。
本発明の第2の態様によれば、前記X−Yプレート上にさらに、被搭載物を搭載するためのトップテーブルが組み付けられ、前記ベース体と前記トップテーブルとの間には、Z軸方向の減衰作用を持つ複数のZ軸減衰器を配置したことを特徴とする微動ステージ装置が提供される。
第2の態様による微動ステージ装置においては、前記ベース体と前記X−Yプレートとの間に、X軸方向、Y軸方向の減衰作用を持つ少なくとも3個の減衰器を同一のX−Y平面内にあるように配置される。
第2の態様による微動ステージ装置においてはまた、前記チルトプレートは中央部に第1の開口を有し、該第1の開口にこれより小さな第2の開口を持つ前記X−Yプレートが組み合わされており、前記第2の開口に対応する前記トップテーブルの下面には前記第2の開口に対応する大きさのダンパリングが設けられており、該ダンパリング内には前記ベース体に設けられたスタンドを介して前記ダンパリングの内径より小さ目のダンパホルダが設けられ、該ダンパホルダと前記ダンパリングとの間には、X軸方向の減衰作用を持つ少なくとも2個のX軸減衰器が同軸上で互いに反対向きに作用するように設置されると共に、Y軸方向の減衰作用を持つ少なくとも2個のY軸減衰器が同軸上で互いに反対向きに作用するように設置される。
第2の態様による微動ステージ装置においては更に、前記X軸減衰器、Y軸減衰器、Z軸減衰器は、それぞれ減衰用のダンパオイルとして真空用グリースの基油を内蔵し、復帰用のスプリング、ピストンロッドを含む非磁性材料によるダンパで構成され、前記X軸減衰器、Y軸減衰器はそれぞれ、そのピストンロッドの先端が前記ダンパリングに接するように配置され、前記Z軸減衰器は、そのピストンロッドの先端が前記トッププレートの下面に接するように配置される。
本発明の第1の態様によれば、可動部に5kgを越える、例えば25kgの負荷を搭載した場合でも、高い停止安定性と高応答性を実現できる6自由度微動ステージを提供することができる。具体的には、第1の態様による微動ステージ装置は、搭載負荷を25kgと想定し、高剛性の案内系設計を実施したことにより、X−Yステージ部分においては、固有値で150Hz(従来の5倍)を確保することができる。これにより、停止安定性は5〜6nm(3σ値)に向上した。また、数μmのステップ応答においては、整定時間21〜35msecを実現した。
本発明の第2の態様によれば、第1の態様による微動ステージ装置の効果に加えて、以下の効果が得られる。つまり、従来の微動ステージ装置では、振動に対する減衰要素がほとんどないため、位置制御をしていない状態において外乱による振動が減衰するまでに800〜1200msec程度かかっていた。これに対し、第2の態様による微動ステージ装置では、減衰器を搭載したことにより、約1/10の70〜115msecで振動が減衰した。このような効果により、チルトステージの停止安定性が従来の1/6以下の9nm(3σ)となり、数μmステップ移動時の整定時間も15〜30msecを実現した。また、X−Yステージ部分についても停止安定性は3.5〜4.5nm(3σ)に向上した。
微動ステージ装置は、X−Y方向に大きなストロークを持ち、高加減速のステップアンドリピート運動を行う粗動ステージ装置に搭載されることが多い。粗動ステージ装置の高加減速運動は微動ステージ装置にとっては、外乱そのものである。このような外乱に対する減衰性能が向上したことにより、高スループット化をはかることが可能となる。また、真空排気系からの振動や、ゲートバルブ開閉時の振動などに対する安定性も大幅に向上した。
図1〜図8を参照して、本発明による微動ステージ装置の第1の実施の形態について説明する。本実施の形態による微動ステージ装置は単独で使用されても良いが、通常は、粗動ステージ装置であるX−Yステージ装置に組み合わされる。X−Yステージ装置は、X軸方向に可動のXテーブルとY軸方向に可動のYテーブルとを備え、例えばXテーブルがYテーブル上で可動であるように構成されている。勿論、YテーブルがXテーブル上で可動であるように構成されていても良い。本微動ステージ装置はX−Yステージ装置におけるXテーブルあるいはYテーブルに搭載される。
本微動ステージ装置は、ベースプレート100の上に構築されたZ−θx−θy軸ステージ(以下、チルトステージと呼ぶ)にX−Y−θz軸ステージ(以下、X−Yステージと呼ぶが、粗動ステージ装置であるX−Yステージ装置とは異なる)が組み合わされて構成されている。
はじめに、チルトステージについて説明する。図1、図2に示すように、チルトステージはチルトプレート201を有する。図4に示すように、チルトプレート201は、ベースプレート100の上に互いに平行に延びるように配置された2本3組、計6本のピエゾアクチュエータ(ピエゾアクチュエータ素子)Z1−1,Z1−2,Z2−1,Z2−2,Z3−1,Z3−2と、後述するウエッジステージとによりベースプレート100に対して垂直方向(Z軸方向あるいは上下方向)に駆動される。以下では、ピエゾアクチュエータZ1−1,Z1−2の組み合わせをZ1軸、ピエゾアクチュエータZ2−1,Z2−2の組み合わせをZ2軸、ピエゾアクチュエータZ3−1,Z3−2の組み合わせをZ3軸と呼ぶ。
図5及び模式図である図6、図7をも参照して、Z3軸について構造及び動作の詳細を説明する。ベースプレート100にピエゾ固定ブロック223が設置されている。ピエゾアクチュエータZ3−2は、ピエゾ固定ブロック223に一端を固定され、2連ステージ224を介してピエゾアクチュエータZ3−1と連結されている。これによりピエゾアクチュエータZ3−2の駆動ストロークとピエゾアクチュエータZ3−1の駆動ストロークとが加算されるようにし、加算された駆動ストロークでウエッジステージ225を駆動する。
ウエッジステージというのは、周知のように、水平方向の運動を垂直方向の運動に変換するためのものである。本例では、ウエッジステージ225は、45度の直交変換機構を備え、2本のピエゾアクチュエータZ3−1,Z2−2による水平変位入力とウエッジステージ225の垂直変位出力とが1対1になるように構成されている。直交変換機構は、45度の傾斜面を上面側に有する傾斜ブロック225−1と、45度の傾斜面を下面側に有する傾斜ブロック225−2との組合わせ体を含む。傾斜ブロック225−1は、傾斜ブロック225−2をガイドするためのガイド部を有する。傾斜ブロック225−2は、その傾斜面がガイド部によってガイドされた状態で傾斜ブロック225−1の傾斜面に沿ってスライド可能である。これにより、傾斜ブロック225−1が水平方向に変位すると、傾斜ブロック225−2はそれに伴ってスライドして垂直方向に変位する。
このようなウエッジステージ225により、その垂直運動部に固定されたチルトヒンジ226がZ軸方向に駆動される。そして、チルトヒンジ226の先に固定されたチルトプレート201をZ軸方向に駆動する。なお、チルトプレート201は中央に開口201a(図7参照)を有する。開口201a内にX−Yプレート301(図2参照)が組み合わされる。X−Yプレート301にはトップテーブル202(図5参照)が固定される。X−Yプレート301、トップテーブル202については、後で詳述される。
Z1軸、Z2軸もZ3軸と同様の構成を有する。つまり、Z1軸はピエゾ固定ブロック203、2連ステージ204、ウエッジステージ205を有し、Z2軸はピエゾ固定ブロック213、2連ステージ214、ウエッジステージ215を有する。特に、Z1軸のウエッジステージ205、Z2軸のウエッジステージ215、Z3軸のウエッジステージ225は、それぞれ同一円周上(図4に一点鎖線で示す)に配置されている。特に、本例ではウエッジステージ205、215、225は、正三角形の頂点に対応する位置、つまり120度の角度間隔をおいて配置されている。これらの3軸の垂直運動部は同一方向に変位可能である。これによってチルトプレート201はZ軸方向の並進運動をし、差動的な動作、つまり各軸の変位量に差を与えるとチルトプレート201はθx軸方向、θy軸方向の回転運動をする。ここで、θx軸方向の回転運動はX軸回りの回転運動を意味し、θy軸方向の回転運動はY軸回りの回転運動を意味することは言うまでも無い。また、後述されるθz軸方向の回転運動はZ軸回りの回転運動を意味する。
Z軸方向の位置は、ここでは静電容量センサにより計測される。静電容量センサは、チルトプレート201の上方にある、最終可動部であるトップテーブル202とベースプレート100との間に配置されている。以下では、Z1軸用の静電容量センサをZ1センサ207、Z2軸用の静電容量センサをZ2センサ217、Z3軸用の静電容量センサをZ3センサ227と呼ぶ。各センサ207、217、227は、それぞれウエッジステージ205、215、225に隣接した位置に設置されている。静電容量センサの測定原理は周知であるが、簡単に言えば、Z軸方向の微小変位を静電容量の変化として検出できるようにしたものである。
本形態では、これらZ1センサ207、Z2センサ217、Z3センサ227により最終可動部であるトップテーブル202の高さを計測し、計測結果に基いてトップテーブル202の位置制御(フルクローズド制御)が行われる。
通常、チルトステージでは、ベースプレート100からのチルトプレート201の高さ位置を計測し、計測結果に基いて位置制御(セミクローズド制御)が行われる。しかし、この方式ではX−Yステージが移動した際のZ軸方向の位置誤差を計測することができない。これは、トップテーブル202のZ軸方向、θx軸方向、θy軸方向の位置を制御することができないことを意味する。しかしながら、本形態によるZ軸方向位置計測系の配置は、トップテーブル202のZ軸方向、θx軸方向、θy軸方向の位置制御を可能にする。
チルトステージの案内系は、各ウエッジステージ205、215、225に取り付けられたチルトヒンジ206、216、226と、ベースプレート100とチルトプレート201との間に取り付けられたZ軸方向にのみ変位可能な板バネ208、218、228(図4、図7参照)により構成される。これらの板バネ208、218、228により、ウエッジステージのガイド部のみでは実現不可能な、チルトプレート201のX−Y平面内の運動を拘束する高剛性案内系が構成される。なお、板バネ208、218、228は、それぞれベースプレート100に設けられたバネ取付け部208−1、218−1、228−1を介して設置されている。
次に、図1〜図3及び模式図である図8をも参照して、X−Yステージについて説明する。トップテーブル202はX−Yプレート301に固定されている。X−Yプレート301は、チルトプレート201の中央部の開口201aに組み込まれている。X−Yプレート301は、チルトプレート201と共にZ軸方向、θx軸方向、θy軸方向に変位可能であるが、チルトプレート201とは独立してX軸方向、Y軸方向、及びθz軸方向に変位可能にされている。つまり、X−Yプレート301は、X軸方向についてはX軸方向に互いに平行に延びる2つのX1ピエゾアクチュエータ302、X2ピエゾアクチュエータ303で駆動される。X1ピエゾアクチュエータ302、X2ピエゾアクチュエータ303は一定間隔をおいて設けられ、それぞれ一端側がチルトプレート201に固定され、他端がX−Yプレート301に連結されている。一方、X−Yプレート301は、Y軸方向についてはY軸方向に延びる1つのYピエゾアクチュエータ304で駆動される。Yピエゾアクチュエータ304も一端側がチルトプレート201に固定され、他端がX−Yプレート301に連結されている。
X−Yステージの案内系は以下の通りである。X−Y平面内の案内系においては、X1ピエゾアクチュエータ302の一端に固定されたX1ヒンジ312がチルトプレート201に固定され、X1ピエゾアクチュエータ302の他端に固定されたX1ヒンジ311がX−Yプレート301に連結されている。同様に、X2ピエゾアクチュエータ303の一端に固定されたX2ヒンジ314がチルトプレート201に固定され、X2ピエゾアクチュエータ303の他端に固定されたX2ヒンジ313がX−Yプレート301に連結されている。一方、Yピエゾアクチュエータ304の一端に固定されたYヒンジ316がチルトプレート201に固定され、Yピエゾアクチュエータ304の他端に固定されたYヒンジ315がX−Yプレート301に連結されている。
Z軸方向の案内系はX−Yプレート301とチルトプレート201との間に設置された3つの主リンクヒンジ321、322、323と2つの副リンクヒンジ324、325により実現される。図5を参照して、これらのリンクヒンジの1つ、例えば主リンクヒンジ321について説明する。チルトプレート201に下方に垂直に延びるようにリンクヒンジブロック321−1が設けられている。このリンクヒンジブロック321−1にはそこから上方に延びてX−Yプレート301に連結されたヒンジ321−2が設けられている。ヒンジ321−2は、周知の球関節継ぎ手を有し、X−Yプレート301をX−Y平面内では変位可能であるが、Z軸方向には高い剛性を呈するように支持している。主リンクヒンジ322、323、副リンクヒンジ324、325もまったく同じ構造を持つ。なお、図8にはリンクヒンジブロック322−1とヒンジ322−2とから成る主リンクヒンジ322が示されている。
3つの主リンクヒンジ321、322、323は三角形、ここでは二等辺三角形の頂点に対応する位置に設置され、2つの副リンクヒンジ324、325は主リンクヒンジ321の両側に設置されている。主リンクヒンジ321〜323と副リンクヒンジ324、325は、X−Yプレート301のX−Y平面内での変位を自在にする機能を有すると共に、Z軸方向には大きな剛性を持つ。これにより、従来の微動ステージ装置に比較して大幅に剛性が向上する。
X−Yステージの動作について説明する。X1ピエゾアクチュエータ302とX2ピエゾアクチュエータ303が同じ方向に作動すると、X−Yプレート301はX軸方向の並進運動をする。X1ピエゾアクチュエータ302とX2ピエゾアクチュエータ303が差動的に動作、つまり変位量に差を持たせると、X−Yプレート301はθz軸方向の動作をする。一方、Yピエゾアクチュエータ304が作動すると、X−Yプレート301がY軸方向に並進運動する。
X−Yプレート301のX軸方向の位置はチルトプレート201とX−Yプレート301との間に配置された2つの静電容量センサ326、327(以下、X1センサ、X2センサと呼ぶ)で計測される。X−Yプレート301のY軸方向の位置はチルトプレート201とX−Yプレート301との間に配置された1つの静電容量センサ328(以下、Yセンサと呼ぶ)で計測される。これらX1センサ326、X2センサ327、Yセンサ328により計測されるX−Y平面内の位置情報に基づいてトップテーブル2−2のセミクローズド位置制御が行われる。
上記のように、トップテーブル202がX−Yプレート301に固定され、チルトステージにおけるチルトプレート201はZ軸方向、θx軸方向、θy軸方向に変位可能である。しかも、X−YステージにおけるX−Yプレート301はチルトプレート201と共に変位可能であると共に、チルトプレート201とは独立してX軸方向、Y軸方向、θz軸方向に変位可能である。このことにより、トップテーブル202は6自由度(X軸方向、Y軸方向、Z軸方向、θx軸方向、θy軸方向、θz軸方向)の運動が可能である。
なお、X−Yステージの位置計測(X軸方向、Y軸方向、θz軸方向)は、トップテーブル202に取り付けた、Y軸方向に延在するXミラー325(図1)及びX軸方向に延在するYミラー326(図3)とレーザ干渉計(図示せず)とにより行われる。この位置計測により得られた位置情報を基に、6自由度(X軸方向、Y軸方向、Z軸方向、θx軸方向、θy軸方向、θz軸方向)のフルクローズド制御が行われる。更に、θx軸方向、θy軸方向に関してもレーザ干渉計で位置を計測することが可能であり、この計測値を基にZ軸方向以外はすべてレーザ干渉計からの位置情報にて位置制御を行うことが可能である。但し、この場合、ミラーが大型化し、レーザ干渉計の光学部品等も増加することからコストアップ等の問題が生じることを考慮する必要がある。
次に、本発明の第2の実施の形態による微動ステージ装置について説明する。第2の実施の形態による微動ステージ装置は、第1の実施の形態による微動ステージ装置について以下のような改良を加えている。
第1の実施の形態による微動ステージ装置は、チルトステージ部分について移動ストロークが大きいため、ピエゾアクチュエータの特性上高い剛性を確保することが困難である。これは、第1の実施の形態による微動ステージ装置では、ストロークを大きくするために2つのピエゾアクチュエータを2連ステージにより連結した構造としているからである。つまり、2連構造としたピエゾアクチュエータは、剛性モデルとしては2つのバネが直列に接続されたものになり、ストロークが大きくなるほど駆動方向の剛性が低下する。
また、第1の実施の形態による微動ステージ装置では、X−Yステージ部分の高剛性化をはかるために質量が増加している。このたため、チルトステージの負荷質量は増大し、結果として固有値がさがることとなって応答性能が低下し、数μmのステップ応答時の整定時間に改善の余地がある。
さらに、第1の実施の形態による微動ステージ装置は、振動に対する減衰要素がほとんど無いために振動減衰性能に改善の余地がある。つまり、ステージの移動後整定するまでに時間を要し、外乱による振動が整定するまでに時間を要する。
そこで、第2の実施の形態による微動ステージ装置は、振動減衰性能を高めるために真空・非磁性に対応した減衰器を備えた点に特徴を有する。
図9〜図19を参照して、第2の実施の形態による微動ステージ装置について説明する。本微動ステージ装置も、単独で使用されても良いが、通常は、粗動ステージ装置であるX−Yステージ装置に組み合わされる。つまり、本微動ステージ装置も、通常、X−Yステージ装置におけるXテーブルあるいはYテーブルに搭載される。
本形態による微動ステージ装置の基本構成は、第1の実施の形態による微動ステージ装置と同様であるが、Z軸方向の高剛性化をはかるため、ステージストロークを360μmから180μmに変更した。その結果、第1の実施の形態による微動ステージ装置ではZ軸駆動用ピエゾアクチュエータを2連ステージにより2本直列に連結したものを使用しているのに対し、第2の実施の形態ではZ軸駆動用ピエゾアクチュエータが1本で済む。
本微動ステージ装置は、ベース体としてのベースプレート100の上に構築されたZ−θx−θy軸ステージ(以下、チルトステージと呼ぶ)にX−Y−θz軸ステージ(以下、X−Yステージと呼ぶが、粗動ステージ装置であるX−Yステージ装置とは異なる)が組み合わされて構成されている。
はじめに、チルトステージについて説明する。図9〜図11に示すように、チルトステージはチルトプレート201を有する。チルトプレート201は、ベースプレート100の上に互いに平行に延びるように配置された3本のピエゾアクチュエータ(ピエゾアクチュエータ素子)Z1、Z2、Z3と、後述するウエッジステージとにより、ベースプレート100に対して垂直方向(Z軸方向あるいは上下方向)に駆動される。以下では、ピエゾアクチュエータZ1によりZ軸方向に駆動される軸をZ1軸、ピエゾアクチュエータZ2によりZ軸方向に駆動される軸をZ2軸、ピエゾアクチュエータZ3によりZ軸方向に駆動される軸をZ3軸と呼ぶ。
Z3軸について構造及び動作の詳細を説明する。ベースプレート100にピエゾ固定ブロック130が設置されている。ピエゾアクチュエータZ3は、ピエゾ固定ブロック130に一端を固定され、ウエッジステージ135を駆動する。ウエッジステージというのは、スライドウエッジとも呼ばれ、前に述べたように、水平方向の運動を垂直方向の運動に変換する機構である。ウエッジステージ135は、本例では45度の直交変換機構を備え、図17に示すように、ピエゾアクチュエータZ3による水平変位入力とウエッジステージ135の垂直変位出力とが1対1になるように構成されている。直交変換機構は、45度の傾斜面を上面側に有する第1の傾斜ブロック135−1と、45度の傾斜面を下面側に有する第2の傾斜ブロック135−2との組合わせ体を含む。第1の傾斜ブロック135−1は、第2の傾斜ブロック135−2をガイドするためのガイド部を有する。第2の傾斜ブロック135−2は、その傾斜面が第1の傾斜ブロック135−1のガイド部によってガイドされた状態で第1の傾斜ブロック135−1の傾斜面に沿ってスライド可能である。これにより、第1の傾斜ブロック135−1が水平方向に変位すると、第2の傾斜ブロック135−2はそれに伴ってスライドして垂直方向にのみ変位する。なお、ピエゾアクチュエータZ3は、ベースプレート100に設けられた支持部材131により支持されている。
このようなウエッジステージ135により、その垂直運動部に固定されたチルトヒンジ137がZ軸方向に駆動される。そして、チルトヒンジ137の先に固定されたチルトプレート201をZ1軸方向に駆動する。なお、チルトプレート201は中央に開口201a(図11)を有する。開口部201a内にX−Yプレート301(図9)が組み合わされる。X−Yプレート301にはトップテーブル202(図13)が固定される。X−Yプレート301、トップテーブル202については、後で説明される。
Z1軸、Z2軸もZ3軸と同様の構成を有するが、Z3軸とは一定間隔をおいて逆向きに延在するように配置されている。Z1軸はピエゾ固定ブロック110、ウエッジステージ115、チルトヒンジ117を有し、Z2軸はピエゾ固定ブロック120、ウエッジステージ125、チルトヒンジ127を有する。Z1軸のウエッジステージ115、Z2軸のウエッジステージ125、Z3軸のウエッジステージ135は、それぞれ同一円周上に配置されている。特に、ウエッジステージ115、125、135は、ここでは正三角形の頂点に対応する位置、つまり120度の角度間隔をおいて配置されている。これらの3軸は同一方向(ここではX軸方向)に変位可能であり、垂直運動部も同一方向(ここではZ軸方向)に変位可能である。これによってチルトプレート201はZ軸方向の並進運動を行う。一方、差動的な動作、つまりZ1、Z2、Z3各軸の変位量に差を与えるとチルトプレート201はθx軸方向、θy軸方向の回転運動をする。前に述べたように、θx軸方向の回転運動はX軸回りの回転運動を意味し、θy軸方向の回転運動はY軸回りの回転運動を意味する。後述されるθz軸方向の回転運動はZ軸回りの回転運動を意味する。
Z軸方向の位置は、ここでは静電容量センサにより計測される。静電容量センサは、チルトプレート201の上方にある、最終可動部であるトップテーブル202とベースプレート100との間に配置されている。以下では、図9に示されるZ1軸用の静電容量センサをZ1センサ207、Z2軸用の静電容量センサをZ2センサ217、Z3軸用の静電容量センサをZ3センサ227と呼ぶ。各センサ207、217、227は、それぞれウエッジステージ115、125、135に隣接した位置に設置されている。静電容量センサの測定原理は前に述べた通りである。
本形態では、これらZ1センサ207、Z2センサ217、Z3センサ227により最終可動部であるトップテーブル202の高さを計測し、計測結果に基いてトップテーブル202の位置制御(フルクローズド制御)が行われる。
通常、チルトステージでは、ベースプレート100からのチルトプレート201の高さ位置を計測し、計測結果に基いて位置制御(セミクローズド制御)を行われる。しかし、この方式ではX−Yプレート301がX−Y方向に移動した際のZ軸方向の位置誤差を計測することができない。これは、トップテーブル202のZ軸方向、θx軸方向、θy軸方向の位置を制御することができないことを意味する。しかしながら、本形態におけるZ軸方向位置計測系の配置は、トップテーブル202のZ軸方向、θx軸方向、θy軸方向の位置制御を可能にする。
チルトステージの案内系は、各ウエッジステージ115、125、135に取り付けられたチルトヒンジ117、127、137と、ベースプレート100とチルトプレート201との間に取り付けられたZ軸方向にのみ変位可能な板バネ208、218、228(図11参照、但し、208は図18参照)により構成される。これらの板バネ208、218、228により、ウエッジステージのガイド部のみでは実現不可能な、チルトプレート201のX−Y平面内の運動を拘束する剛性案内系が構成される。なお、板バネ208、218、228は、それぞれベースプレート100に設けられたバネ取付け部208−1(図18参照)、218−1、228−1を介して設置されている。
本形態ではさらに、図9に示すように、ベースプレート100に固定された支持台219−1、229−1、239−1、249−1上にZ軸減衰器としてダンパ219、229、239、249を設置している。各ダンパはピストンロッドを有し、図12に示すように、ピストンロッドの先端がトップテーブル202の下面に接するようにしている。ここでは、4個のダンパ219、229、239、249をトップテーブル202の外縁に近い位置に設置し、特に、ウエッジステージ135に近い位置に2個設置している。これはバランスを考慮したものであり、ダンパは少なくとも3個配置されれば良く、場合によっては5個以上でも良い。
上記のように、ダンパ219、229、239、249のピストンロッドの先端がトップテーブル202の底面に接するようにしている。このような配置により、トップテーブル202がθx軸、θy軸方向に回転した場合、必ず2個以上のダンパが押し込まれる状態となり、ダンパによる効果的な減衰作用が得られる。
トップテーブル202のZ軸方向の運動に関しては、下方は全てのダンパ219、229、239、249が減衰性能を発揮する。なお、トップテーブル202が水平状態にて上方に運動した場合には効果的な減衰は期待できない。しかし、トップテーブル202が完全に水平状態にてZ軸方向に運動することはなく、必ずθx軸、θy軸方向の動作を伴う。それ故、実際にはトップテーブル202がZ軸方向、θx軸方向、θy軸方向のどの方向に運動しても効果的な減衰作用が得られる。
次に、図13をも参照してX−Yステージについて説明する。トップテーブル202はX−Yプレート301の上面側に固定されている。X−Yプレート301は、図13に示すように、チルトプレート201の中央部の開口201aに組み込まれている。X−Yプレート301は、チルトプレート201と共にZ軸方向、θx軸方向、θy軸方向に変位可能であるが、チルトプレート201とは独立してX軸方向、Y軸方向、及びθz軸方向に変位可能にされている。つまり、X−Yプレート301は、X軸方向についてはX軸方向に互いに平行に延びる2つのX1ピエゾアクチュエータ302、X2ピエゾアクチュエータ303で駆動される。図9に示すように、X1ピエゾアクチュエータ302、X2ピエゾアクチュエータ303は一定間隔をおいて設けられ、それぞれ一端側が取付け板302−1、303−1を介してチルトプレート201に固定され、他端がX−Yプレート301に連結されている。一方、X−Yプレート301は、Y軸方向についてはY軸方向に延びる1つのYピエゾアクチュエータ304で駆動される。Yピエゾアクチュエータ304も一端側が取付け板304−1を介してチルトプレート201に固定され、他端がX−Yプレート301に連結されている。
X−Yステージの案内系は以下の通りである。図15に示すように、X−Y平面内の案内系においては、X1ピエゾアクチュエータ302の一端に固定されたX1ヒンジ312が取付け板302−1に固定され、X1ピエゾアクチュエータ302の他端に固定されたX1ヒンジ311がX−Yプレート301に連結されている。同様に、X2ピエゾアクチュエータ303の一端に固定されたX2ヒンジ314(図示せず)が取付け板303−1に固定され、X2ピエゾアクチュエータ303の他端に固定されたX2ヒンジ313(図示せず)がX−Yプレート301に連結されている。一方、Yピエゾアクチュエータ304の一端に固定されたYヒンジ316(図示せず)が取付け板304−1に固定され、Yピエゾアクチュエータ304の他端に固定されたYヒンジ315(図示せず)がX−Yプレート301に連結されている。
図13に示されるように、Z軸方向の案内系はX−Yプレート301とチルトプレート201との間に設置された3つの主リンクヒンジ321、322、323と2つの副リンクヒンジ324、325により実現される。図17を参照して、これらのリンクヒンジの1つ、例えば主リンクヒンジ321について説明する。チルトプレート201に下方に垂直に延びるようにリンクヒンジブロック321−1が設けられている。このリンクヒンジブロック321−1にはそこから上方に延びてX−Yプレート301に連結されたヒンジ321−2が設けられている。ヒンジ321−2は、周知の球関節継ぎ手を有し、X−Yプレート301をX−Y平面内では変位可能であるが、Z軸方向には高い剛性を呈するように支持している。主リンクヒンジ322、323、副リンクヒンジ324、325もまったく同じ構造を持つ。なお、図17は、説明に必要な構成要素のみを示している。また、図9にはリンクヒンジブロック322−1とヒンジ322−2とから成る主リンクヒンジ322が示されている。
図13に示すように、3つの主リンクヒンジ321、322、323は三角形、ここでは二等辺三角形の頂点に対応する位置に設置され、2つの副リンクヒンジ324、325は主リンクヒンジ321の両側に設置されている。主リンクヒンジ321〜323と副リンクヒンジ324、325は、X−Yプレート301のX−Y平面内での変位を自在にする機能を有すると共に、Z軸方向には大きな剛性を持つ。これにより、従来の微動ステージ装置に比較して大幅に剛性が向上する。
X−Yステージの動作について説明する。X1ピエゾアクチュエータ302とX2ピエゾアクチュエータ303が同じ方向に作動すると、X−Yプレート301はX軸方向の並進運動をする。X1ピエゾアクチュエータ302とX2ピエゾアクチュエータ303が差動的に動作、つまり変位量に差を持たせると、X−Yプレート301はθz軸方向の動作をする。一方、Yピエゾアクチュエータ304が作動すると、X−Yプレート301がY軸方向に並進運動する。
図13を参照して、X−Yプレート301のX軸方向の位置はチルトプレート201とX−Yプレート301との間に配置された2つの静電容量センサ326、327(以下、X1センサ、X2センサと呼ぶ)で計測される。X−Yプレート301のY軸方向の位置はチルトプレート201とX−Yプレート301との間に配置された1つの静電容量センサ328(以下、Yセンサと呼ぶ)で計測される。これらX1センサ326、X2センサ327、Yセンサ328により計測されるX−Y平面内の位置情報に基づいてトップテーブル202のセミクローズド制御が行われる。
次に、図13に加えて、図14をも参照して、X軸方向、Y軸方向の減衰器について説明する。ベースプレート100上に間隔をおいて2つのホルダスタンド251、252が固定配置されている。これらのホルダスタンド251、252上には四角形の枠状のダンパホルダ260が固定されている。ホルダスタンド251、252が間隔をおいて配置されるのは、これらの間をピエゾアクチュエータZ3が通るためである。一方、X−Yプレート301は中央に開口301a(図9参照)を有している。開口301aに対応するトッププレート202にも開口202a(図13)が設けられている。開口202aの内壁にはこれより小さ目であってダンパホルダ260より大き目の内径を持つダンパリング270が取り付けられている。ダンパホルダ260には、X軸方向減衰器として2つのダンパ261、262がX軸方向の同軸上に互いに反対向きに取り付けられている。ダンパホルダ260にはまた、Y軸方向減衰器として2つのダンパ263、264がY軸方向の同軸上に互いに反対向きに取り付けられている。各ダンパ261〜264のピストンロッドはダンパリング270の内径面に接するようにされている。
同一のX−Y平面内での上記のような4個のダンパ261〜264の配置により、X軸方向、Y軸方向にトップテーブル202が運動した場合、必ず1個以上のダンパが押し込まれた状態となり、効果的な減衰が得られる。また、トップテーブル202のθz軸方向の回転運動についても、ダンパホルダ260の中心と負荷(トップテーブル、ミラー等の可動部の負荷)の重心が一致しないため、ダンパ261〜264との接触点では並進変位として作用し、減衰性能を発揮する配置・構成となっている。
なお、X軸方向、Y軸方向の減衰器については、少なくとも3個配置されれば良い。つまり、上記の例では90度の角度間隔をおいて4個のダンパを同一平面内に配置している。しかし、3個のダンパを同一平面内に配置(好ましくは120度の角度間隔)した場合であってもX軸方向、Y軸方向に関する減衰性能を発揮することができる。
ダンパ219、229、239、249、261〜264はすべて同じものを使用している。ダンパの構造は一般にショックアブソーバと呼ばれ様々なタイプのものが市販されている。図16にその一例を示す。
図16において、401はピストンロッド、402はスリーブ、403はプラグ、404はアキュムレータ、405はスプリング、406はオイル、407はピストンリング、408はカラー、409はロッドパッキン、410はO−リング、411は小ネジ、412は六角ナットである。通常、この種のものをショックアブソーバとして使用する場合には、ピストンロッドの先端は、被減衰要素にリジッドに固定される。しかし、本発明ではピストンロッドの先端をリジッドに固定しないのが特徴である。
本発明ではまた、真空、非磁性環境に対応するために構造用の材質としてチタン、リン青銅、ベリリウム銅等の非磁性材料を使用している。また、減衰用のオイルには真空用グリースの基油を使用している。これにより、ベローズで真空シールする等の構造変更をすることなく、最小のコストで真空・非磁性対応を実現している。
参考のために、図18にはZ1軸〜Z3軸用のピエゾアクチュエータZ1〜Z3とその関連要素、主リンクヒンジ321〜323及び副リンクヒンジ324、325、ダンパ219、229、239、249及びダンパ261〜264等の配置関係を平面図にて示す。また、図19にはダンパ261〜264の支持構造を側面断面図で示す。但し、図18、図19に示された各要素は、図9から図17に示された各要素とは必ずしも対応していない。トップテーブル202の開口202aは無くても良い。
上記のように、トップテーブル202がX−Yプレート301に固定され、チルトステージにおけるチルトプレート201はZ軸方向、θx軸方向、θy軸方向に変位可能である。しかも、X−YステージにおけるX−Yプレート301はチルトプレート201と共に変位可能であると共に、チルトプレート201とは独立してX軸方向、Y軸方向、θz軸方向に変位可能である。このことにより、トップテーブル202は6自由度(X軸方向、Y軸方向、Z軸方向、θx軸方向、θy軸方向、θz軸方向)の運動が可能となる。
なお、X−Yステージの位置計測(X軸方向、Y軸方向、θz軸方向)は、トップテーブル202に取り付けた、Y軸方向に延在するXミラー331及びX軸方向に延在するYミラー332(図13参照)とレーザ干渉計(図示せず)とにより行われる。この位置計測により得られた位置情報を基に、6自由度(X軸方向、Y軸方向、Z軸方向、θx軸方向、θy軸方向、θz軸方向)のフルクローズド制御が行われる。更に、θx軸方向、θy軸方向に関してもレーザ干渉計で位置を計測することが可能であり、この計測値を基にZ軸方向以外はすべてレーザ干渉計からの位置情報にて位置制御を行うことが可能である。但し、この場合、ミラーが大型化し、レーザ干渉計の光学部品等も増加することからコストアップ等の問題が生じることを考慮する必要がある。
以上、本発明を2つの実施の形態について説明したが、上記の各構成要素は、非磁性材料で作られる。また、上記の微動ステージ装置は、前述したように、粗動ステージ装置と共に10-4(Pa)程度の真空度の真空容器内に配置されて使用されるのに適しているが、大気中での使用も可能であることは言うまでも無い。つまり、本発明による微動ステージ装置の動作環境は、真空環境下に限定されず、大気、N2 等の雰囲気下でも動作可能である。このため、本発明による微動ステージ装置の応用分野は、半導体製造装置、液晶製造装置にも適用可能であり、さらにはレーザ加工機、工作機械等の微小範囲での高精度位置決めを必要とするステージ装置全般に適用可能である。
本発明の第1の実施の形態による微動ステージ装置の正面図である。 図1の微動ステージ装置を、図1の線Bの高さ位置から見た平面図である。 図1の微動ステージ装置を、図1の右方から見た側面図である。 図1の微動ステージ装置を、図1の線Aの高さ位置から見た平面図である。 図1の微動ステージ装置を、図4の線Iで切断した正面断面図である。 図1の微動ステージ装置におけるチルトステージの駆動機構の構成を説明するための模式図である。 図6に示されたチルトステージの駆動機構へのチルトプレートの設置形態を説明するための模式図である。 図7に示されたチルトプレートX−Yプレートとの組み合わせの形態を示した模式図である。 本発明の第2の実施の形態による微動ステージ装置の主要部の構成を示した斜視図である。 図9の微動ステージ装置におけるZ軸駆動機構の主要部の構成例を示した斜視図である。 図10の構成に更にZ軸駆動機構の構成要素を追加し、チルトプレートと共に示した斜視図である。 図9の微動ステージ装置におけるZ軸方向の減衰作用を説明するための部分斜視図である。 図9の微動ステージ装置の平面図である。 図9の微動ステージ装置におけるX軸方向、Y軸方向の減衰構造を説明するための部分拡大斜視図である。 図9の微動ステージ装置におけるX−Yステージの案内系について説明するための平面図である。 図9の微動ステージ装置に減衰器として使用されるダンパの構造例を説明するための断面図である。 図9の微動ステージ装置をZ軸駆動機構の構成要素であるZ3軸アクチュエータを中心に説明するための側面断面図である。 Z1軸〜Z3軸用のピエゾアクチュエータとその関連要素、3つの主リンクヒンジと2つの副リンクヒンジ、Z軸減衰用の4つのダンパ及びX軸、Y軸減衰用の4つのダンパ等の配置関係を平面図にて示したものである。 X軸減衰用、Y軸減衰用の4つのダンパの支持構造の側面断面図である。
符号の説明
100 ベースプレート
110、120、130、203、213、223 ピエゾ固定ブロック
115、125、135、205、215、225 ウエッジステージ
201 チルトプレート
202 トップテーブル
204、214、224 2連ステージ
207、217、227 Z1センサ、Z2センサ、Z3センサ
219、229、239、249、261〜264 ダンパ
226 チルトヒンジ
228、238 板バネ
260 ダンパホルダ
270 ダンパリング
301 X−Yプレート
302 X1ピエゾアクチュエータ
303 X2ピエゾアクチュエータ
304 Yピエゾアクチュエータ
321、322、323 主リンクヒンジ
324、325 副リンクヒンジ

Claims (10)

  1. ベース体上に構築されたチルトステージ、X−Yステージを含む微動ステージ装置であって、
    前記チルトステージは、チルトプレートを有すると共に、第1のピエゾアクチュエータとウエッジステージとの組み合わせにより前記ベース体に平行な運動を前記ベース体に垂直なZ軸方向の運動に変換する変換機構を前記チルトプレートと前記ベース体との間に少なくとも3個備え、
    前記X−Yステージは、前記チルトプレートに組み合わされたX−Yプレートを有すると共に、X軸方向、Y軸方向の一方に互いに平行に延びて前記X−Yプレートを少なくとも2点で駆動する少なくとも2つの第2のピエゾアクチュエータと、X軸方向、Y軸方向の他方に延びて前記X−Yプレートを駆動する第3のピエゾアクチュエータとを有することを特徴とする微動ステージ装置。
  2. 請求項1に記載の微動ステージ装置において、
    前記少なくとも3個の変換機構を同一円周上に等角度間隔をおいて配置することにより、前記チルトプレートはZ軸方向、X軸回りのθx軸方向、Y軸回りのθy軸方向に変位可能にされ、
    前記X−Yプレートは前記チルトプレートと共に変位可能にされると共に、前記チルトプレートとは独立してX軸方向、Y軸方向、Z軸回りのθz軸方向に変位可能にされていることを特徴とする微動ステージ装置。
  3. 請求項1又は2に記載の微動ステージ装置において、
    前記チルトプレートと前記X−Yプレートとの間には、該X−YプレートのX−Y平面内での運動をガイドする共に、前記ベース体に垂直な方向には高い剛性を呈するリンクヒンジが複数箇所に設けられていることを特徴とする微動ステージ装置。
  4. 請求項1〜3のいずれかに記載の微動ステージ装置において、
    前記チルトプレートと前記ベース体との間には、該チルトプレートのX−Y平面内での運動を拘束するための板バネが複数箇所に設けられていることを特徴とする微動ステージ装置。
  5. 請求項1〜4のいずれかに記載の微動ステージ装置において、
    前記変換機構におけるZ軸方向の運動部の上部と前記チルトプレートとの間にはチルトヒンジを介在させていることを特徴とする微動ステージ装置。
  6. 請求項1〜5のいずれかに記載の微動ステージ装置において、
    前記第1のピエゾアクチュエータは、互いに平行に延びる2本のピエゾアクチュエータ素子が2連ステージによりそれらのストロークが加算されるように組み合わされたものであることを特徴とする微動ステージ装置。
  7. 請求項1〜5のいずれかに記載の微動ステージ装置において、
    前記X−Yプレート上にはさらに、被搭載物を搭載するためのトップテーブルが組み付けられ、
    前記ベース体と前記トップテーブルとの間には、Z軸方向の減衰作用を持つ複数のZ軸減衰器を配置したことを特徴とする微動ステージ装置。
  8. 請求項7に記載の微動ステージ装置において、
    前記ベース体と前記X−Yプレートとの間には、X軸方向、Y軸方向の減衰作用を持つ少なくとも3個の減衰器を同一のX−Y平面内にあるように配置したことを特徴とする微動ステージ装置。
  9. 請求項7に記載の微動ステージ装置において、
    前記チルトプレートは中央部に第1の開口を有し、該第1の開口にこれより小さな第2の開口を持つ前記X−Yプレートが組み合わされており、
    前記第2の開口に対応する前記トップテーブルの下面には前記第2の開口に対応する大きさのダンパリングが設けられており、
    該ダンパリング内には前記ベース体に設けられたスタンドを介して前記ダンパリングの内径より小さ目のダンパホルダが設けられ、
    該ダンパホルダと前記ダンパリングとの間には、X軸方向の減衰作用を持つ少なくとも2個のX軸減衰器を同軸上で互いに反対向きに作用するように設置すると共に、Y軸方向の減衰作用を持つ少なくとも2個のY軸減衰器を同軸上で互いに反対向きに作用するように設置したことを特徴とする微動ステージ装置。
  10. 請求項9に記載の微動ステージ装置において、
    前記X軸減衰器、Y軸減衰器、Z軸減衰器は、それぞれ減衰用のダンパオイルとして真空用グリースの基油を内蔵し、復帰用のスプリング、ピストンロッドを含む非磁性材料によるダンパで構成され、
    前記X軸減衰器、Y軸減衰器はそれぞれ、そのピストンロッドの先端が前記ダンパリングに接するように配置され、
    前記Z軸減衰器は、そのピストンロッドの先端が前記トッププレートの下面に接するように配置されていることを特徴とする微動ステージ装置。

JP2004037161A 2003-03-31 2004-02-13 微動ステージ装置 Withdrawn JP2004363554A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004037161A JP2004363554A (ja) 2003-03-31 2004-02-13 微動ステージ装置
TW93107116A TWI269686B (en) 2003-03-31 2004-03-17 Minute movement stage device

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003093480 2003-03-31
JP2003132007 2003-05-09
JP2004037161A JP2004363554A (ja) 2003-03-31 2004-02-13 微動ステージ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004363554A true JP2004363554A (ja) 2004-12-24

Family

ID=34068895

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004037161A Withdrawn JP2004363554A (ja) 2003-03-31 2004-02-13 微動ステージ装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2004363554A (ja)
TW (1) TWI269686B (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006339263A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Sumitomo Heavy Ind Ltd Z軸調整機構及び微動ステージ装置
KR100816456B1 (ko) 2007-01-08 2008-03-26 한국과학기술원 대면적 고하중을 위한 틸트 스테이지
JP2009076521A (ja) * 2007-09-19 2009-04-09 Yaskawa Electric Corp 精密微動位置決め装置およびそれを備えた微動位置決めステージ、露光装置、検査装置
JP2011106577A (ja) * 2009-11-18 2011-06-02 Ckd Corp 流体制御弁
CN103386629A (zh) * 2013-07-16 2013-11-13 山东理工大学 姿态微调整装置
CN104759896A (zh) * 2015-03-17 2015-07-08 温州职业技术学院 动力头组件及四自由度微调底座
CN113363194A (zh) * 2021-06-03 2021-09-07 广东工业大学 一种基于MicroLED芯片阵列转移的大负载微调平定位平台
KR20220084617A (ko) * 2020-12-14 2022-06-21 한국기계연구원 마스크 정렬을 위한 Z/Tilt 스테이지 및 제어 시스템

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2261530A1 (en) 2009-06-12 2010-12-15 Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO An active vibration isolation and damping system
TWI467099B (zh) * 2009-12-04 2015-01-01 Fu Cheng Wang 一種雙層平台減震裝置及其減震的方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006339263A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Sumitomo Heavy Ind Ltd Z軸調整機構及び微動ステージ装置
JP4489639B2 (ja) * 2005-05-31 2010-06-23 住友重機械工業株式会社 Z軸調整機構及び微動ステージ装置
KR100816456B1 (ko) 2007-01-08 2008-03-26 한국과학기술원 대면적 고하중을 위한 틸트 스테이지
JP2009076521A (ja) * 2007-09-19 2009-04-09 Yaskawa Electric Corp 精密微動位置決め装置およびそれを備えた微動位置決めステージ、露光装置、検査装置
JP2011106577A (ja) * 2009-11-18 2011-06-02 Ckd Corp 流体制御弁
CN103386629A (zh) * 2013-07-16 2013-11-13 山东理工大学 姿态微调整装置
CN103386629B (zh) * 2013-07-16 2015-07-01 山东理工大学 姿态微调整装置
CN104759896A (zh) * 2015-03-17 2015-07-08 温州职业技术学院 动力头组件及四自由度微调底座
KR20220084617A (ko) * 2020-12-14 2022-06-21 한국기계연구원 마스크 정렬을 위한 Z/Tilt 스테이지 및 제어 시스템
KR102548949B1 (ko) * 2020-12-14 2023-06-29 한국기계연구원 마스크 정렬을 위한 Z/Tilt 스테이지 및 제어 시스템
CN113363194A (zh) * 2021-06-03 2021-09-07 广东工业大学 一种基于MicroLED芯片阵列转移的大负载微调平定位平台
CN113363194B (zh) * 2021-06-03 2022-09-27 广东工业大学 一种基于MicroLED芯片阵列转移的大负载微调平定位平台

Also Published As

Publication number Publication date
TW200427546A (en) 2004-12-16
TWI269686B (en) 2007-01-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4649136B2 (ja) アクチュエータ、露光装置及びデバイス製造方法
JP6613432B2 (ja) 冗長パラレル位置決めテーブルデバイス
US5959427A (en) Method and apparatus for compensating for reaction forces in a stage assembly
JP5123436B2 (ja) 光学素子のための支持要素
EP2440807B1 (en) An active vibration isolation and damping system
US6872958B2 (en) Platform positioning system
JP5125508B2 (ja) 光学要素駆動装置、投影光学系、露光装置、及びデバイスの製造方法
US8441615B2 (en) System for isolating an exposure apparatus
JP2005064474A5 (ja)
JP7319717B2 (ja) 精密な位置決めのための軸線方向動的応答軸受
KR20040010134A (ko) 방진장치, 스테이지 장치 및 노광장치
US6392795B2 (en) Microscope with a dynamic damper
JP2004363554A (ja) 微動ステージ装置
EP1751621A2 (en) A vibration damper or isolator
NL2022989A (en) Vibration isolation system and lithographic apparatus
US20230094685A1 (en) Stage apparatus, exposure apparatus, method of manufacturing flat panel display, and device manufacturing method
WO2013036125A1 (en) Projection system with flexible coupling
JP4727151B2 (ja) 除振方法およびその装置
KR100551043B1 (ko) 미동 스테이지장치
JPH06123787A (ja) 可動装置及びその製造方法並びに位置決め装置と、これらを用いたテーブル装置
Matichard et al. Dynamics enhancements of advanced ligo multi-stage active vibration isolators and related control performance improvement
Seinhorst et al. Feasibility of Active Material Vibration Suppression in a Large Stroke Flexure Hinge
JP2001193786A (ja) 能動型吸振装置
CN108637714B (zh) 一种五自由度协调的宏微双解耦运动平台
Awtar et al. Physical and Control System Design Challenges in Large Range Nanopositioning

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070124

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20090528

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090609