JP2004356583A - ピン付樹脂製配線基板 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明のピン付樹脂製配線基板では、
スルーホール21内にスルーホール導体22及び充填材23を有するコア基板2上に形成された蓋状導体層4と、外部基板の接続端子と接続可能な接続ピン9が設置されたピンパッド導体5と、を導通させる接続部6(ビア導体からなる)を備えるピン付樹脂製配線基板1であって、
スルーホール21の貫通方向を中心軸線方向とした場合、スタックドビア6の中心軸線601はスルーホール21の中心軸線201と一致するよう配置されてなり、且つ接続ピン9の中心軸線901はスルーホール21上に位置しないことを特徴とする。
【選択図】 図1
Description
【発明が属する技術分野】
本発明はピン付樹脂製配線基板に関し、詳しくは半導体集積回路素子(IC)等の電子部品を搭載して封止するPGA(ピングリッドアレイ)タイプのパッケージ配線基板のように、層間絶縁体層が樹脂材を用いて形成されるとともに、その配線基板の主面に形成された所定数のピンパッド導体に接続ピン(接続端子)がハンダ付けされたピン付樹脂製配線基板に関する。
【0002】
【従来の技術】
PGAタイプの配線基板は、その一主面にLSIやICチップなどの電子部品を搭載する際に用いる所定数のパット状電極を備えており、他方の主面にはマザーボードなどに設けられたソケットへ接続するための所定数のピンパッド導体及びそれにハンダ付けされた接続ピン(接続端子)を備えたものとされている。このようなタイプのピン付樹脂製配線基板においては、搭載するLSIやICチップあるいはチップコンデンサなどの電子部品の高集積化および高密度化を図るために、小型化や接続端子数(ピン数)の増大化が進められている。
【0003】
このようなピン付樹脂製配線基板の内部構造としては、図2(a)に示すように、絶縁性の基板に形成されたスルーホール内にスルーホール導体及び充填材を有するコア基板と、その上に形成された蓋状導体層、樹脂層、ピンパッド導体、及び接続ピン(接続端子)と、スルーホール導体とピンパッド導体(それにハンダ付けされた接続ピン)を導通させるよう樹脂層に埋設されたビア導体と、を備えるものが一般的である。
【0004】
【特許文献1】
特開2003−8219号公報(図1参照)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記のようなピン付樹脂製配線基板においては、製造の際などに行われる熱サイクルの過程で次のような問題が生じる。樹脂製配線基板の核となるコア基板には、2つの主面間を導通させるために、樹脂等からなる絶縁材基板の所定位置に厚さ方向を突き抜ける金属層が形成されている。金属と樹脂では熱膨張率が異なるため、熱サイクルによるコア基板の厚さ方向の膨張/収縮は位置によって偏りが生じる。このため、コア基板上に積層された層においては、コア基板の膨張/収縮により加わる力が不均一なものとなり、その結果、ビア導体の接合面等でクラックが発生し、スルーホール導体からピンパッド導体(及び、それにハンダ付けされた接続ピン)への電気的な接続が断ち切られやすくなってしまうという問題が生じていた。このことは、樹脂配線基板に求められる電気的特性などの品質が保持されないことに繋がる。
【0006】
本発明は、まさに上記問題を鑑みてなされたものである。樹脂製配線基板のピンパッド導体に接続ピンがハンダ付けされたピン付樹脂製配線基板を対象とし、電気的特性の信頼性の高いピン付樹脂製配線基板を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段及び作用・発明の効果】
上記課題を解決するため本発明のピン付樹脂製配線基板では、
絶縁性の基板に貫通して形成されたスルーホール、及び該スルーホールの内周面に形成された略筒状のスルーホール導体、及び該スルーホール導体の中空部に充填された充填材、を有するコア基板と、
前記コア基板の少なくとも一方の主面上において、前記スルーホールの端面を含む形にて形成され、かつ前記スルーホール導体と導通する蓋状導体層と、
前記蓋状導体層上に形成された複数の樹脂層と、
前記複数の樹脂層上に形成されたピンパッド導体と、
棒状部と該棒状部の一方の端部に形成された鍔部とからなり、該鍔部において前記ピンパッド導体上にハンダ付けされた、外部基板の接続端子と接続可能な接続ピンと、
前記蓋状導体層と前記ピンパッド導体とを導通させるよう前記複数の樹脂層のそれぞれに埋設されたビア導体からなる接続部と、
を備えるピン付樹脂製配線基板であって、
前記接続部は、フィルドビアからなるそれぞれの前記ビア導体が略同心状に連なるよう接続されたスタックドビアにて構成されるとともに、
前記スルーホールの貫通方向を中心軸線方向とした場合、前記スタックドビアの中心軸線は前記スルーホールの中心軸線と一致するよう配置されてなり、且つ前記接続ピンの中心軸線は前記スルーホール上に位置しないことを特徴とする。
【0008】
一般に、樹脂材の熱膨張率は、金属材のそれよりも大きい。図2(a)に示すようなピン付樹脂製配線基板1が加熱された場合、コア基板2を構成する略筒状のスルーホール導体22(金属材)、及びスルーホール導体22の中空部に充填された充填材23(樹脂材)、及びスルーホール21を有する絶縁性の基板材24(樹脂材:スルーホール導体22の周囲に位置する)は、それぞれ板厚方向に膨張する。その際、図2(b)に示すように、スルーホール導体21(金属材)の膨張が周囲の樹脂材23、24と比べ小さくなるめ、コア基板2の膨張に伴い、その上に積層されたの蓋状導体層4、及び樹脂層3、及びピンパッド導体5に印加される力に偏りが生じる。具体的には、スルーホール導体22近辺上においてのみ、周囲と比べて印加される力が小さくなるため、その近辺上ではあたかも下方向へ引き下げられるような力が発生する。また、ピン付樹脂製配線基板1が冷却された場合には、それとは逆の現象が起き、図2(c)に示すように、スルーホール導体22上近辺では、あたかも上方向へ突き上げられるような力が発生する。したがって、スルーホール導体22上に、フィルドビアからなるビア導体61、62や、ピンパッド導体5、接続ピン9の中心軸線があれば、コア基板2からの引き下げ/突き上げの影響を受け易く、蓋状導体層4とビア導体61の間、及びビア導体間(ビア導体61及び62の間)、及びビア導体62とピンパッド導体5の間に過度の応力集中が生じてしまい、それらの接続が断ち切られやすくなってしまう。
【0009】
そこで上記のように、スルーホール上の蓋状導体層に接続されているスタックドビアの中心軸線をスルーホール内において略筒状のスルーホール導体から最も離れた位置(つまり、スルーホール導体の全ての内周面からほぼ等距離の位置)にあるスルーホールの中心軸線と一致するように配置することで、上記のようなコア基板からの引き下げ/突き上げの影響を受け難くすることが可能となる。また、ピンパッド導体にハンダ付けされた接続ピンについても、その中心軸線をスルーホール上に位置しないように配置することで、上記のようなコア基板からの引き下げ/突き上げの影響を受け難くすることが可能となる。
【0010】
なお、ここでいう中心軸線とは、スルーホールの貫通方向と同方向で、かつそれぞれスルーホール、スタックドビア、接続ピン(接続ピンにおける中心軸線は棒状部にて規定されるものとする)を、前記貫通方向と垂直に交わる面に投影した略円形状の投影像における中心位置を通るものとする。
【0011】
また、本発明においては、スルーホール及びスタックドビアの中心軸線が一致することが望ましいが、製造上の理由等によりスタックドビアや接続ピンの配置される位置に誤差が生じることが考えられるので、中心軸線間のズレ量が0μm以上30μm以下の距離となる程度の誤差を許容するものとする。
【0012】
本発明において、スルーホールの径は50μm以上400μm以下とされることが好ましい。スルーホールの径が過度に小さい場合(50μm未満)、図3に示すコア基板2の膨張のように、充填材23の端面(充填材23と蓋状導体層4が接する面)のうち、熱膨張率の小さいスルーホール導体22に接続された蓋状導体層4により膨張が妨げられる部分(充填材23の端面の周縁付近)の割合が増加してしまう。この場合、充填材23の膨張は、スルーホール21の中心軸付近に集中してしまい、その付近上で突き上げによる過度の応力集中が生じやすくなってしまうため、スタックドビア及び接続ピンをスルーホールの中心軸線付近に配置することは逆に不利となってしまう場合がある。このような影響を避けるためには、スルーホールの径は50μm以上であることが必要である。また、スルーホールの径が400μmを超えると、配線基板の高集積化および高密度化に不利となってしまう場合が考えられる。より好ましくは、スルーホールの径は50μm以上300μm以下である。
【0013】
また、スルーホール径が上記範囲である場合、略筒状のスルーホール導体の平均壁厚は5μm以上50μm以下とされることが好ましい。平均壁厚が過度に厚いと、上述のようにスルーホール導体内部の充填材の膨張がスルーホールの中心軸付近に集中してしまい、突き上げによる過度の応力集中が生じる場合があるので、上限値を50μmとする。また、下限値については、特には限定されないが、過度に薄くすると導通が取れない場合が考えられるので、5μmとする。より好ましくは、略筒状のスルーホール導体の平均壁厚は5μm以上30μm以下である。
【0014】
さらに、スルーホール、またはスルーホール導体が上記範囲である場合、接続ピンの中心軸線は、スルーホール導体の外縁端から5μm以上600μm以下の距離となる位置に配置されることが好ましい。該距離が、5μmより小さければ、上記のようなコア基板からの引き下げ/突き上げの影響が大きいスルーホール導体位置に、接続ピンの中心軸線が近過ぎてその影響を受け易くなってしまい、600μmより大きければ、配線基板の高集積化および高密度化に不利となってしまう場合が考えられる。より好ましくは、接続ピンの中心軸線のスルーホール導体の外縁端からの距離は30μm以上500μm以下である。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本発明のピン付樹脂製配線基板の実施形態を、図面を参照しつつ説明する。図1は、ピン付樹脂製配線基板1の断面図である。ピン付樹脂製配線基板1は、平面視矩形(例えば、縦横各50mm、厚さ1mm)をなし、図はそのうちの、マザーボード等の外部基板の接続端子と接続可能な接続ピン9が所定数設置される主面側の内部構造の一部を拡大した図である。また、図示しないが、これとは反対の主面側には、搭載する半導体集積回路素子IC接続用の電極が所定数形成されているとともに、内部には各層の内部配線層、各内部配線層同士を接続するビア導体が形成されている。
【0016】
コア基板2は、BT樹脂を主成分とする厚さ0.8mm程度の基板材24に1.3mm程度の間隔で貫通して形成された直径300μm程度のスルーホール21と、スルーホール21の内周面に形成された略筒状(壁厚18μm程度)で銅を主成分とするスルーホール導体22と、スルーホール導体22の中空部に充填されたエポキシ樹脂を主成分とする充填材23とを備える。なお、コア基板2は、その内部に導体層やビア導体が形成されていてもよい。コア基板2の表面上には、スルーホール21の端面を含む形にて蓋状導体層4が形成され、スルーホール導体22と導通している。蓋状導体層4は、例えば径が350μm程度、厚さが35μm程度の円柱形で、その中心軸線とスルーホール21の貫通方向の中心軸線201とが一致するよう配置される。また、径がスルーホール径(300μm程度)よりも大きいので、基板材24上をスルーホール21外縁端から25μm程度覆うような形態となっている。
【0017】
このようなコア基板2上には、エポキシ樹脂を主成分とし、下側樹脂層31と上側樹脂層32の2層からなり、厚さ50μm程度(1層あたり厚さ25μm程度)の複数の樹脂層3が形成される。本形態では複数の樹脂層3は2層からなるが、2層に限らず3層以上であってもよい。そして、上側樹脂層32上には、円柱形の銅を主成分とする導体層が1.3mm程度の間隔で所定数形成されており、その表面にはニッケルメッキ及び金メッキがかけられることで、ピンパッド導体5をなしている。ピンパッド導体5の大きさは径が800μm程度、厚さが15μm程度となっている。また、ピンパッド導体5の設置位置は、後述するスタックドビア(接続部)6のうちの上側フィルドビア62に接続可能な範囲であり、且つ上側主面51に略同心状に設置される接続ピン9が後述する条件を満たして設置可能な範囲とされる。
【0018】
なお、上側樹脂層32上において、ピンパッド導体5が配されていない部分については、厚さ25μm程度のソルダーレジスト層7が被服形成されている。このソルダーレジスト層7は、本形態ではピンパッド導体5の上側主面51周縁を所定の幅で覆って開口され、ピンパッド導体5の上側主面51の中心より部位を同心状に露出させるように形成されている。因みに本例では、その露出部位(ソルダーレジスト層7の開口、つまりピンパッド導体5の上側主面51うちソルダーレジスト層7に覆われていない部分)の径、つまりピンパッド導体5の上側主面51のハンダ付け面の径は650μm程度に設定されている。
【0019】
ピンパッド導体5の上側主面51には、接続ピン9が設置されており、中心軸線901(接続ピン9の棒状部91により規定される)がスルーホール21上に位置しないような位置、具体的にはスルーホール21の外縁端からの距離Lが約300μm程度となる位置にある。接続ピン9は、銅を主成分とする合金、例えばアロイ194(CDA合金 C19400(ASTM B 465準拠))等の銅合金からなり、断面円形の丸棒状の棒状部(直径約0.30mm程度)91をもつネイル形状のものである(全長約2mm程度)。その一方の端部には、半径方向に突出する円形の鍔部92を同心状で備えており、接続ピン9は鍔部92において適量の公知ハンダでハンダ付けされることにより設置されている(特許第3160583号公報参照)。ハンダ付けにより形成されるハンダの層をハンダ層8という。ただし、その鍔部92のうち、ピンパッド導体5の上側主面51に対向する接合面921は全体が凸となす球面状に形成され、ピンパッド導体5の上側主面51に同心状に当接するように配置される。なお、ハンダは、半導体集積回路素子ICのハンダ付け温度より融点が高い組成のハンダ(例えば、Pb82%/Sn10%/Sb8%、又はSn95%、Sb5%)とされている。なお、本実施形態においては、接続ピン9にはピンパッド導体5の上側主面51に対向する接合面921の全体が凸となす球面状の球面ピンを用いているが、これに限定されることはなく、ピンパッド導体5の上側主面51に対向する接合面が平面であるフラットピンを用いてもよい。
【0020】
ハンダ層8を形成するハンダの量は、接続ピン9を鍔部92において固定できる程度に適宜選択されている。また、ハンダを溶融させて接続ピン9を固定するため、ハンダ層8はピンパッド導体5の上側主面51表面に向かって濡れ広る形態となっている。ただし、ハンダ層8は、形成後のピンパッド導体5の上側主面51からの高さが300μm程度となることが望ましく、さらにハンダ層8の濡れ広がりが、ピンパッド導体5の上側主面51の周縁端位置を超えないようにすることが望ましい。
【0021】
複数の樹脂層3のそれぞれの層(下側樹脂層31及び上側樹脂層32)には、フィルドビア61、62が埋設されている(下側樹脂層31に埋設されたものを61、上側樹脂層32に埋設されたものを62とする)。フィルドビアは、樹脂層を貫通するよう形成されたビア孔を、銅を主成分とする金属材で充填することにより形成され、その最大径は例えば約85μm程度で構成される。フィルドビア61、62は略同心状に接続され、スタックドビア(接続部)6を形成しており、さらには、下側フィルドビア61はその下の蓋状導体層4の上側主面41と、上側フィルドビア62はその上のピンパッド導体5の下側主面52と接続されることで、蓋状導体層4とピンパッド導体5の間を導通させている。このスタックドビア(接続部)6は、コア基板2の収縮/膨張の影響を受け難くするよう、スルーホール21の中心上、詳しくはスルーホール21の中心軸線201と、スタックドビア(接続部)6の中心軸線601とが一致するよう配置される。
【0022】
【実施例】
ここで、本発明のピン付樹脂製配線基板の具体的な実施例を比較例とともに説明する。上述の実施形態(図1)を実施例とし、比較例は、図2(a)に示すようなフィルドビアからなるビア導体、及びピンパッド導体が、スルーホール導体上に中心軸線を揃えて配置された形態とした。
【0023】
実施例及び比較例について、−55℃〜125℃の温度間で加熱、冷却を繰り返す熱サイクル(1サイクル当たり10分間)を、▲1▼与える前、▲2▼100サイクル後、▲3▼500サイクル後の3種類のサンプルをそれぞれ用意し、断面SEM(Scanning Electron Microscope)観察を行い、クラック発生率の評価を行った。
【0024】
評価結果によると、実施例では▲1▼熱サイクル前、▲2▼100サイクル後、▲3▼500サイクル後のサンプル全てにおいて、SEM像にクラック等の異変は見られなかったのに対し、比較例では、▲2▼100サイクル後、及び▲3▼500サイクル後の約半数以上のサンプルにクラック発生が認められた。また、▲1▼熱サイクル前のサンプルにおいても、既にクラックが発生しているものが見られた。これは、ハンダピン設置時の熱処理によるものと考えられる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のピン付樹脂製配線基板の内部構造の一部を表す図
【図2】コア基板の膨張/収縮が及ぼす影響を示す図
【図3】スルーホール径が小さい場合のコア基板の膨張/収縮
【符号の説明】
1 ピン付樹脂製配線基板
2 コア基板
21 スルーホール
22 スルーホール導体
23 充填材
3 複数の樹脂層
31 下側樹脂層
32 上側樹脂層
4 蓋状導体層
5 ピンパッド導体
6 スタックドビア(接続部)
61 下側フィルドビア
62 上側フィルドビア
7 ソルダーレジスト層
8 ハンダ層
9 接続ピン
Claims (1)
- 絶縁性の基板に貫通して形成されたスルーホール、及び該スルーホールの内周面に形成された略筒状のスルーホール導体、及び該スルーホール導体の中空部に充填された充填材、を有するコア基板と、
前記コア基板の少なくとも一方の主面上において、前記スルーホールの端面を含む形にて形成され、かつ前記スルーホール導体と導通する蓋状導体層と、
前記蓋状導体層上に形成された複数の樹脂層と、
前記複数の樹脂層上に形成されたピンパッド導体と、
棒状部と該棒状部の一方の端部に形成された鍔部とからなり、該鍔部において前記ピンパッド導体上にハンダ付けされた、外部基板の接続端子と接続可能な接続ピンと、
前記蓋状導体層と前記ピンパッド導体とを導通させるよう前記複数の樹脂層のそれぞれに埋設されたビア導体からなる接続部と、
を備えるピン付樹脂製配線基板であって、
前記接続部は、フィルドビアからなるそれぞれの前記ビア導体が略同心状に連なるよう接続されたスタックドビアにて構成されるとともに、
前記スルーホールの貫通方向を中心軸線方向とした場合、前記スタックドビアの中心軸線は前記スルーホールの中心軸線と一致するよう配置されてなり、且つ前記接続ピンの中心軸線は前記スルーホール上に位置しないことを特徴とするピン付樹脂製配線基板。
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JP2003155603A JP2004356583A (ja) | 2003-05-30 | 2003-05-30 | ピン付樹脂製配線基板 |
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2003
- 2003-05-30 JP JP2003155603A patent/JP2004356583A/ja active Pending
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