JP2004354098A - スペクトル画像化装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】切り替え式干渉フィルタ11は、それぞれ波長帯λ1〜λ8の光を透過させる干渉フィルタ干渉フィルタ11λ 1〜11λ 8を備える。干渉フィルタ11λ 1〜11λ 8を切り替えつつ、CCD15が検査対象面4aの二次元スペクトル画像Sλ 1〜Sλ 8を撮像する。コンクリート領域区別部23が、二次元スペクトル画像Sλ 1、Sλ 2に基づき検査対象面4aをコンクリート領域と非コンクリート領域とに区別する。劣化部分検出部25が、二次元スペクトル画像Sλ 3〜Sλ 8に基づきコンクリート領域における中性化劣化部分を検出する。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、構造物の検査対象面におけるコンクリートの劣化部分を検出するために用いられるスペクトル画像化装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
検査対象物の劣化状態を検査する従来の技術として、検査対象物をハンマーで叩いた応答音をマイクロホンで採取して内部の空隙を検出する技術、検査対象物にレーザ光を照射し、その反射波を検出することで表面のひび割れを検出する技術などがあった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、検査対象物の劣化状態を検査する従来の技術を用いてコンクリートの劣化部分を検査する場合、予めコンクリート領域と非コンクリート領域が混在する検査対象物からコンクリート領域を抽出し、その上でコンクリート領域を検査するという手間を要した。すなわち、コンクリート領域と非コンクリート領域が混在する検査対象物を一括して検査することができないという問題点があった。
【0004】
本発明は、上記問題を解決するためになされたものであり、コンクリート領域と非コンクリート領域が混在する検査対象物を一括して検査することができるスペクトル画像化装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明のスペクトル画像化装置は、構造物の検査対象面におけるコンクリートの劣化部分を検出するために用いられるスペクトル画像化装置であって、複数の波長帯ごとに、検査対象面の二次元スペクトル画像を撮像するスペクトル画像撮像手段と、特定の波長帯の二次元スペクトル画像における各箇所の分光強度に基づいて、検査対象面をコンクリート領域と非コンクリート領域とに区別するコンクリート領域区別手段と、複数の二次元スペクトル画像のコンクリート領域における各箇所の分光強度に基づいて、検査対象面におけるコンクリートの劣化部分を検出する劣化部分検出手段とを備えたことを特徴とする。
【0006】
コンクリート領域区別手段が特定の波長帯の二次元スペクトル画像における各箇所の分光強度からコンクリート領域を判別し、劣化部分検出手段が判別されたコンクリート領域を検査するという構造を有することにより、コンクリート領域と非コンクリート領域が混在する検査対象物を一括して検査することができる。
【0007】
本発明のスペクトル画像化装置は、劣化部分検出手段が、更にコンクリートの劣化部分における劣化の深さ及び劣化の種類のうち少なくとも一方を判断することが好適である。これにより、どのような補修が必要なのか知ることができる。
【0008】
本発明のスペクトル画像化装置は、コンクリート領域区別手段が、二次元スペクトル画像上の画素点を複数の特定の波長帯における分光強度を座標軸とする多次元座標系に投影し、多次元座標系における座標に基づき、投影された画素点を複数のクラスタに分類し、多次元座標系における所定の領域と重なるクラスタに属する画素点を含む領域をコンクリート領域又は非コンクリート領域と判断することが好適である。これにより、コンクリート領域を容易に判別することができる。
【0009】
本発明のスペクトル画像化装置は、分光強度を検査対象面を照明する光の強度に対して正規化する正規化手段を備えたことが好適である。これにより、検査対象物を照明する光の強度にむらがある場合でも劣化部分の検出精度が損なわれない。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して、本発明のスペクトル画像化装置の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、同一要素には同一符号を用いるものとし、重複する説明は省略する。
【0011】
まず、本実施形態のスペクトル画像化装置1の構成を説明する。図1は、スペクトル画像化装置1の機能的構成を示す図である。本実施形態では、スペクトル画像化装置1が、鉄筋コンクリート製三階建ての建造物4の検査対象面4aにおけるコンクリートの中性化(Ca(OH)2+H2CO3→CaCO3+2H2O)を検査する。スペクトル画像化装置1は、切り替え式干渉フィルタ11、結像光学系13、二次元の撮像面15pを有するCCD(Charge Coupled Device)15、検査対象面4aにおける照度(反射光の強度)を検出する照度検出部17、切り替え式干渉フィルタ11におけるフィルタの切り替えを制御すると共にCCD15及び照度検出部17が取得したデータを制御・記録するデータ制御・記録部21、コンクリート領域区別部23、劣化部分検出部25並びに表示部27を備える。スペクトル画像化装置1は、持ち運び可能な軽量小型の装置であり、三脚3により支持された状態で検査対象面4aの二次元スペクトル画像(特定の波長帯における分光強度を濃度分布として表す二次元画像)を撮像する。
【0012】
図2は、切り替え式干渉フィルタ11の構造を説明する図である。切り替え式干渉フィルタ11は、中心点Aを中心として回転可能な円盤11aを備える。円盤11aには、8個の異なる波長帯を透過させる干渉フィルタ11λ 1〜11λ 8が中心点Aを中心として円状に配置されている。干渉フィルタ11λ 1〜11λ 8は、それぞれ波長帯λ1〜λ8の光を透過させ、それ以外の光を遮光する。
【0013】
干渉フィルタ11λ 1、11λ 2の透過波長帯λ1、λ2はコンクリートの特徴波長帯であり、この波長帯においてコンクリートは他の物質と顕著に異なる光の吸収率又は反射率を有する。すなわち、干渉フィルタ11λ 1、11λ 2は、検査対象面4aをコンクリート領域と非コンクリート領域とに区別するために用いられる。
【0014】
具体的には、透過波長帯λ1、λ2は、次のとおり設定される。
λ1:650〜680nm、λ2:700〜800nm
【0015】
干渉フィルタ11λ 3〜11λ 8の透過波長帯λ1〜λ8は、次のとおりである。
λ3:1900〜1910nm、λ4:1970〜1980nm
λ5:2120〜2130nm、λ6:2180〜2190nm
λ7:2320〜2330nm、λ8:2380〜2390nm
後述するとおり、1900〜1980nm、2120〜2190nm、2320〜2390nmが中性化劣化したコンクリートの特徴波長帯となる。すなわち、干渉フィルタ11λ 3〜11λ 8は、中性化劣化部分を検出するために用いられる。
【0016】
円盤11aは、データ制御・記録部21の制御信号に応じて回転するステップモータを備える。ステップモータの動作に応じて円盤11aが回転することにより、干渉フィルタ11λ 1〜11λ 8のうち結像光学系13の光軸と交わる干渉フィルタが切り替わっていく。
【0017】
結像光学系13は、干渉フィルタ11λ 1〜11λ 8のうちいずれか一つの干渉フィルタを透過した光を集光し、CCD15の撮像面15p上に検査対象面4aの二次元スペクトル像を結像する。
【0018】
CCD15は、波長帯λ1〜λ8における各二次元スペクトル画像を撮像し、データ制御・記録部21に記録する。
【0019】
照度検出部17は、検査対象面4a上の一定間隔の格子点で反射された反射光の強度を順次検出していくことにより、検査対象面4aを照明する光のむらを検出する。データ制御・記録部21が、照度検出部17の検出結果を記録し、検査対象面4aを照明する光のむらがない状態の画像になるように二次元スペクトル画像に対して補正処理を施す。具体的には、各格子点の周囲における分光強度を照度検出部17が検出した反射光の強度で除することにより、分光強度を検査対象面4aを照明する光の強度に対して正規化する。
【0020】
データ制御・記録部21は、切り替え式干渉フィルタ11におけるフィルタの切り替えを制御すると共にCCD15及び照度検出部17が取得したデータを制御・記録することにより、波長帯λ1〜λ8の正規化された二次元スペクトル画像Sλ 1〜Sλ 8を生成する。
【0021】
コンクリート領域区別部23は、二次元スペクトル画像Sλ 1、Sλ 2に基づき検査対象面4aをコンクリート領域と非コンクリート領域とに区別する。劣化部分検出部25は、二次元スペクトル画像Sλ 3〜Sλ 8とに基づきコンクリート領域における中性化劣化部分を検出する。表示部27は、劣化部分検出部25の検出結果に基づき、検査対象面4a中の中性化劣化部分を表示する。
【0022】
次に、スペクトル画像化装置1が検査対象面4aの中性化劣化を検査する動作を説明する。図3及び4は、スペクトル画像化装置1が検査対象面4aの中性化劣化を検査する動作の手順を示すフローチャートである。まず、データ制御・記録部21が切り替え式干渉フィルタ11のフィルタを切り替えつつ、CCD15がコンクリート領域を判別するための特徴波長帯λ1、λ2の二次元スペクトル画像Sλ 1、Sλ 2を撮像し、データ制御・記録部21に記録する(S302)。
【0023】
同様にCCD15が中性化劣化部分を検出するための特徴波長帯λ3〜λ8の二次元スペクトル画像Sλ 3〜Sλ 8を撮像し、データ制御・記録部21に記録する(S304)。
【0024】
データ制御・記録部21が、二次元スペクトル画像Sλ 1〜Sλ 8における格子点(照度検出部17の検出点)周辺の分光光度を照度検出部17により検出された格子点における反射光の強度で除することにより、二次元スペクトル画像Sλ 1〜Sλ 8を検査対象面4aを照明する光の強度に対して正規化する(S306)。
【0025】
正規化した二次元スペクトル画像Sλ 1、Sλ 2から一定間隔i1で抽出した格子点(画素点)を、特徴波長帯λ1、λ2における分光強度を座標軸とする二次元座標系Cに投影する(S308)。
【0026】
図6は、二次元スペクトル画像Sを示す。図7は、画素点が投影された二次元座標系Cを示す。図6に示すとおり、二次元スペクトル画像Sは、検査対象面4a中のコンクリート領域4a1及び窓ガラス領域4a2、屋上の金属製タンクの領域4b1並びにその他の背景の領域4b2に分割される。図7に示すとおり、かかる画像の画素点が二次元座標系Cに投影されると、同一領域に属する画素点が近接して分布する。図7に示すクラスタ1〜4がそれぞれ領域4a1、領域4a2、領域4b1及び領域4b2に該当する。
【0027】
次に、二次元座標系Cに投影された画素点を最短距離法によりK個のクラスタに分類する(S310)。図5は、本実施形態におけるクラスタ分類(クラスタリング)の手順を示すフローチャートである。本実施形態では最短距離法が採用されている。まず、最終的に分類されるクラスタの数Kを入力する(S502)。上記のとおり二次元スペクトル画像Sは4つの領域に分割されるので、K=4を入力する。
【0028】
現存するクラスタの数mがKよりも多い状態にあるときには(S504)、二次元座標系Cにおける現存するすべてのクラスタの間の距離(双方のクラスタに含まれる画素点のうち最も近いものの間の距離)を算出する(S506)。
【0029】
最も距離が近いクラスタを統合して新しいクラスタを形成する(S508)。すなわち、クラスタの数が一つ減る。S504〜S508の処理をm=Kになるまで繰り返して行う。なお、クラスタリングの他の方法としては、最尤度法、閾値法(例えば、クラスタの中心座標の距離が閾値以下である周辺のクラスタを統合していく方法)、二次元座標系Cにおけるコンクリートの特徴領域に含まれる画素点の集合をコンクリート領域に相当するクラスタと判別する方法などが考えられる。
【0030】
次に、クラスタ1〜4を二次元座標系Cにおけるコンクリートの特徴領域を含むクラスタとそれ以外のクラスタとに分類する(S312)。図7に示すように、波長帯λ1における分光強度がa1〜b1の間に含まれ、かつ波長帯λ2における分光強度がa2〜b2の間に含まれる領域がコンクリートの特徴領域である。クラスタ1〜4は、このコンクリート特徴領域を含むクラスタ1と、その他のクラスタ2〜3とに分類される。
【0031】
二次元スペクトル画像Sにおいてクラスタ2〜3に属する画素点で囲まれる領域を非コンクリート領域とし、それ以外の領域をコンクリート領域とする。非コンクリート領域は、次ステップ以降の中性化劣化部分の検査処理がなされないマスクMとなる(S314)。図8に、二次元スペクトル画像SにマスクMが形成された状態を示す。図8中のハッチング領域がマスクMを示す。
【0032】
マスクM外の領域から一定間隔i2で抽出した格子点(画素点)について、特徴波長帯(1900〜1980、2120〜2190、2320〜2390nm)における一次微分値を算出する(S402)。一定間隔i2は上記の一定間隔i1よりも短く設定されている。これにより、少ない計算量でマスクMを形成した上、限定された領域についてのみ精密な中性化劣化の検査をすることができる。その結果、全体の計算量を軽減することができる。
【0033】
上記の特徴波長帯における一次微分値X´λ 3〜λ 4、X´λ 5〜λ 6、X´λ 7〜λ 8、は、次の式(1)〜(3)で表される。
X´λ 3〜λ 4=(Xλ 4−Xλ 3)/(1980−1900)・・・(1)
X´λ 5〜λ 6=(Xλ 6−Xλ 5)/(2190−2120)・・・(2)
X´λ 7〜λ 8=(Xλ 8−Xλ 7)/(2390−2320)・・・(3)
ただし、Xλ 3、Xλ 4、Xλ 5、Xλ 6、Xλ 7、Xλ 8は、それぞれ二次元スペクトル画像Sλ 3、Sλ 4、Sλ 5、Sλ 6、Sλ 7、Sλ 8における分光強度を表す。
【0034】
本発明者らは、中性化コンクリートと中性化していないコンクリートにおけるスペクトルを比較することにより、1900〜1980nm、2120〜2190nm、2320〜2390nmの波長帯における分光強度の一次微分値が、コンクリートの中性化と相関関係にあることを発見した。図9は、中性化コンクリートで反射した光の一次微分スペクトルを示す。中性化コンクリートで反射した光の一次微分スペクトルは、1900〜1980nm、2120〜2190nm、2320〜2390nmの波長帯おいて、それぞれ大きな値を示す。図10は、中性化していないコンクリートの(分光反射率−分光波長)スペクトル特性を示す。
【0035】
劣化部分検出部25が、該当画素点における特徴波長帯の一次微分値を以下の式(4)に示す線形回帰分析式に代入して中性化深さHt(コンクリートの表面から中性化が進んでいる深さ)を算出する(S404)。S402及びS404の処理をマスクM外の領域に含まれる一定間隔i2の各画素点について繰り返し行う。
H=AX´λ 3〜λ 4+BX´λ 5〜λ 6+CX´λ 7〜λ 8+D・・・(4)
A、B、C、D:定数
【0036】
劣化部分検出部25が、検査対象面4a(マスクM外の領域)において中性化深さHtが閾値Hth以上になっている箇所を抽出し、そこで中性化劣化が生じていると判断する(S406)。
【0037】
表示部27が、S314で判別されたコンクリート領域及びS406で中性化劣化が生じていると判断された箇所を表示する(S408)。図11にこのときの表示画面を示す。以上により、コンクリートの中性化が進行し鉄筋腐食が起こるおそれのある箇所を知ることができる。
【0038】
本実施形態ではコンクリートの中性化が検査されるが、線形回帰分析式の定数及び特徴波長帯を変えることにより、塩化物イオン浸透(Ca(OH)2+2Cl−→CaCl2+2OH−)深さを算出し、塩害劣化箇所を検出することもできる。同様に硫酸塩劣化(Ca(OH)2+SO4 2−+2H2O→CaSO4・2H2O+OH2−)を検査することもできる。また、劣化部分検出部が、中性化劣化深さに加えて塩化物イオン浸透深さ及び硫酸塩劣化深さも算出することにより、劣化の種類を判断することもできる。
【0039】
上記実施形態では、分光強度の一次微分値を線形回帰分析式に代入する方法が用いられているが、これに代えて比演算法を用いることもできる。比演算法では、劣化コンクリートと正常コンクリートとで反射率が特に大きく異なる特徴波長λ9、λ10を抽出する。これらを次の式(5)に示す比演算式に代入することにより劣化深さHが算出される。
H=E・Xλ 9/Xλ 10−F・・・(5)
Xλ 9:λ9における分光強度
Xλ 10:λ10における分光強度
E、F:定数
【0040】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のスペクトル画像化装置によれば、コンクリート領域と非コンクリート領域が混在する検査対象物を一括して検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】スペクトル画像化装置1の機能的構成を示す図である。
【図2】切り替え式干渉フィルタ11の構造を説明する図である。
【図3】スペクトル画像化装置1が検査対象面4aの中性化劣化を検査する動作の手順を示す第1のフローチャートである。
【図4】スペクトル画像化装置1が検査対象面4aの中性化劣化を検査する動作の手順を示す第2のフローチャートである。
【図5】本実施形態におけるクラスタ分類(クラスタリング)の手順を示すフローチャートである。
【図6】二次元スペクトル画像Sを示す。
【図7】画素点が投影された二次元座標系Cを示す。
【図8】二次元スペクトル画像SにマスクMが形成された状態を示す。
【図9】中性化コンクリートで反射した光の一次微分スペクトルを示す。
【図10】中性化していないコンクリートの(分光反射率−分光波長)スペクトル特性を示す。
【図11】表示部27の表示画面を示す。
【符号の説明】
1・・・スペクトル画像化装置、11・・・切り替え式干渉フィルタ、11a・・・円盤、11λ 1〜11λ8・・・干渉フィルタ、13・・・結像光学系、15・・・CCD、15p・・・撮像面、17・・・照度検出部、21・・・データ制御・記録部、23・・・コンクリート領域区別部、25・・・劣化部分検出部、27・・・表示部、3・・・三脚、4・・・建造物、4a・・・検査対象面、4a1・・・コンクリートの領域、4a2・・・窓ガラスの領域、4b1・・・金属製タンクの領域、4b2・・・背景の領域。
Claims (4)
- 構造物の検査対象面におけるコンクリートの劣化部分を検出するために用いられるスペクトル画像化装置であって、
複数の波長帯ごとに、前記検査対象面の二次元スペクトル画像を撮像するスペクトル画像撮像手段と、
特定の波長帯の前記二次元スペクトル画像における各箇所の分光強度に基づいて、前記検査対象面をコンクリート領域と非コンクリート領域とに区別するコンクリート領域区別手段と、
複数の前記二次元スペクトル画像の前記コンクリート領域における各箇所の分光強度に基づいて、前記検査対象面におけるコンクリートの劣化部分を検出する劣化部分検出手段とを備えた
ことを特徴とするスペクトル画像化装置。 - 前記劣化部分検出手段が、更にコンクリートの劣化部分における劣化の深さ及び劣化の種類のうち少なくとも一方を判断する
ことを特徴とする請求項1に記載のスペクトル画像化装置。 - 前記コンクリート領域区別手段が、
前記二次元スペクトル画像上の画素点を複数の前記特定の波長帯における分光強度を座標軸とする多次元座標系に投影し、
前記多次元座標系における座標に基づき、投影された前記画素点を複数のクラスタに分類し、
前記多次元座標系における所定の領域と重なる前記クラスタに属する画素点を含む領域をコンクリート領域又は非コンクリート領域と判断する
ことを特徴とする請求項1に記載のスペクトル画像化装置。 - 前記分光強度を前記検査対象面を照明する光の強度に対して正規化する正規化手段を備えた
ことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載のスペクトル画像化装置。
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