JP2004347385A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2004347385A5
JP2004347385A5 JP2003142841A JP2003142841A JP2004347385A5 JP 2004347385 A5 JP2004347385 A5 JP 2004347385A5 JP 2003142841 A JP2003142841 A JP 2003142841A JP 2003142841 A JP2003142841 A JP 2003142841A JP 2004347385 A5 JP2004347385 A5 JP 2004347385A5
Authority
JP
Japan
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003142841A
Other versions
JP4276894B2 (ja
JP2004347385A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2003142841A priority Critical patent/JP4276894B2/ja
Priority claimed from JP2003142841A external-priority patent/JP4276894B2/ja
Publication of JP2004347385A publication Critical patent/JP2004347385A/ja
Publication of JP2004347385A5 publication Critical patent/JP2004347385A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4276894B2 publication Critical patent/JP4276894B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

JP2003142841A 2003-05-21 2003-05-21 異常検出システム及び異常検出方法 Expired - Fee Related JP4276894B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003142841A JP4276894B2 (ja) 2003-05-21 2003-05-21 異常検出システム及び異常検出方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003142841A JP4276894B2 (ja) 2003-05-21 2003-05-21 異常検出システム及び異常検出方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2004347385A JP2004347385A (ja) 2004-12-09
JP2004347385A5 true JP2004347385A5 (ja) 2006-08-03
JP4276894B2 JP4276894B2 (ja) 2009-06-10

Family

ID=33530789

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003142841A Expired - Fee Related JP4276894B2 (ja) 2003-05-21 2003-05-21 異常検出システム及び異常検出方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4276894B2 (ja)

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006337125A (ja) * 2005-06-01 2006-12-14 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置，自動分析装置を用いた分析方法
JP2008058065A (ja) * 2006-08-30 2008-03-13 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置および自動分析方法
JP4896147B2 (ja) * 2006-10-13 2012-03-14 ベックマン コールター， インコーポレイテッド 異常特定方法および分析装置
WO2008044312A1 (en) * 2006-10-13 2008-04-17 Olympus Corporation Method of identifying error and analyzer
JP2008203008A (ja) * 2007-02-19 2008-09-04 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP4920450B2 (ja) * 2007-02-23 2012-04-18 株式会社東芝 自動分析装置及びその精度管理方法
JP4654256B2 (ja) * 2008-02-28 2011-03-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP5787948B2 (ja) * 2008-05-30 2015-09-30 株式会社日立ハイテクノロジーズ 反応過程データの異常判定支援方法及び自動分析装置
JP2010008402A (ja) * 2008-05-30 2010-01-14 Hitachi High-Technologies Corp 反応過程データの異常判定支援方法及び自動分析装置
JP5414286B2 (ja) * 2009-01-16 2014-02-12 株式会社東芝 自動分析装置
JP5193937B2 (ja) 2009-05-08 2013-05-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置、及び分析方法
JP5193940B2 (ja) * 2009-05-11 2013-05-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP5520519B2 (ja) * 2009-05-20 2014-06-11 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び分析方法
EP2594944B1 (en) * 2010-07-14 2020-06-03 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analysis device, analysis method and information processing device
JP5860643B2 (ja) * 2011-09-08 2016-02-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP5897323B2 (ja) * 2011-12-26 2016-03-30 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置および測定値異常検出方法
JP5953089B2 (ja) * 2012-03-30 2016-07-13 株式会社Ｌｓｉメディエンス 測定データの異常を検出する方法、及び、測定データの異常検出装置
JP6073117B2 (ja) * 2012-11-26 2017-02-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置、自動分析方法
JP6454211B2 (ja) * 2015-03-31 2019-01-16 シスメックス株式会社 検体分析装置、血液凝固分析装置、検体分析方法、及びコンピュータプログラム
JP6937142B2 (ja) * 2017-03-17 2021-09-22 株式会社東芝 乖離判断装置、日種別判別装置、予測装置、プログラム、および乖離判断方法
CN109030801B (zh) * 2018-06-02 2021-08-20 宏葵生物（中国）股份有限公司 一种临床样本自动生化分析仪
WO2020080271A1 (ja) 2018-10-17 2020-04-23 株式会社日立ハイテク 異常判定方法、および自動分析装置
JP2022516259A (ja) * 2018-12-28 2022-02-25 ベックマン コールター， インコーポレイテッド 臨床分析器自動システム診断
JP7320137B2 (ja) 2020-07-20 2023-08-02 株式会社日立ハイテク 自動分析装置および自動分析方法
CN116000475B (zh) * 2023-03-23 2023-06-09 深圳欧斯普瑞智能科技有限公司 激光切割头的控制方法、装置、计算机设备和存储介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
BE2015C007I2 (ja)
BE2014C055I2 (ja)
BE2014C027I2 (ja)
BE2014C003I2 (ja)
BE2013C075I2 (ja)
BE2013C070I2 (ja)
BE2013C067I2 (ja)
BE2013C038I2 (ja)
BE2013C036I2 (ja)
BE2011C030I2 (ja)
IN2006CH00631A (ja)
BE2015C005I2 (ja)
BE2012C053I2 (ja)
BE2015C024I2 (ja)
AU2002316511A1 (ja)
AU2003207787A1 (ja)
AU2002329412A1 (ja)
AU2002331433A1 (ja)
AU2002332887A1 (ja)
AU2002333044A1 (ja)
AU2002337949A1 (ja)
AU2002339901A1 (ja)
AU2002340206A1 (ja)
AU2002348177A1 (ja)
AU2002351829A1 (ja)