JP2004341533A - ヘテロダインインターフェロメトリ用の2つの直交偏光の能動的制御 - Google Patents

ヘテロダインインターフェロメトリ用の2つの直交偏光の能動的制御 Download PDF

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Abstract

【課題】1本のファイバで2つの光ビームの偏光を維持する偏光制御システムの提供。
【解決手段】偏光制御システム(10)は、異なる偏光状態と光周波数を有する2つの光ビーム(E1,E2)を生成する光源を含む。偏光状態変調器(14)は、2つの光ビームの偏光状態を変化させる。3つの検出器経路(34,48,58)により、2つの光ビームから、第1のビート信号(B1)、第2のビート信号(B2)、及び第3のビート信号(B3)が生成される。振幅検出器(42)を用いて、ビート周波数における第1のビート信号の振幅(B1')を求める。位相比較器(56)により、第2及び第3のビート信号間の位相差(ΔΨ)が求められる。次いで、本システムは、振幅と位相差を用いて、所望の偏光状態を有する第1及び第2の光ビームを生成するために偏光状態変調器を如何にして調節するかを求める。
【選択図】図1

Description

本発明は、コヒーレントな光源の偏光の能動的な制御に関する。
図9は、半導体の製造において使用されるステージ352の変位を検出する従来のシステム350を示す。光源354は、直交偏光状態及び光周波数を有する2つの光ビームを生成する。ビームスプリッタ356は、一方のビームを偏波保存(PM)ファイバ358に、他方のビームをPMファイバ360に供給する。ファイバ358及び360は、測定を行うサイトまでこれら2つのビームを搬送する。ファイバ358及び360を使用することにより、光源354(例えば、レーザー)を測定サイトから十分に離して配置することが可能になり、この結果、光源354からの温度勾配によって空気の屈折率が変化することにより、インターフェロメトリ測定にスプリアスドップラーシフトが発生することはない。光ファイバがインターフェロメトリ測定に対して偏光を過剰に変化させるので、2つのビームを搬送するために単一のPMファイバは使用されない。
測定サイトにおいては、これら2つのビームが共通の経路に沿って伝わるように、偏光子361、アライメント光学部品362、アライメント光学部品364、及びコンバイナ366を使用して2つのビームを再結合する。アライメント光学部品には、ビームを変換して傾けるために、コリメータ、平らな透過ウィンドウ、偏光光学部品、ビームスプリッタ、並びに全反射器及び部分反射器が含まれる。インターフェロメトリ測定システム368は、ビームの1つをステージ352において反射させた後に、2つのビームの位相差を検出し、ステージ352の変位を求める。
このシステム350は、以下の欠点を有する。第1に、2つのビームが同一経路に沿って再び伝わるように、光学部品362、光学部品364、及びコンバイナ366のアライメントをとることが困難である。第2に、すべての機器が重複している2つのファイバ経路を利用することは、コストがかかる。従って、1本のファイバで2つの光ビームの偏光を維持する偏光制御システムが必要とされている。
本発明の一実施形態において、偏光制御システムには、直交偏光状態を有し光周波数の異なる2つの光ビームを生成する光源が含まれる。偏光状態変調器は、これら2つの光ビームの偏光状態を変化させる。3つの検出器経路により、2つの光ビームから、第1のビート信号、第2のビート信号、及び第3のビート信号が生成される。振幅検出器を用いて、ビート周波数における第1のビート信号の振幅を求める。位相比較器により、第2及び第3のビート信号間の位相差が求められる。次いで、本システムは、振幅と位相差を用いて、所望の偏光状態を有する第1及び第2の光ビームを生成するために偏光状態変調器を如何にして調節するかを判定する。
本発明によれば、1本のファイバで2つの光ビームの偏光を維持する偏光制御システムが提供される。
本発明の実施形態を詳細に説明する前に、いくつかの主な用語を以下に定義する。リターダ(又は、波長板)は、光波を2つの直交偏光成分に分解し、それらの間に位相シフト(これをリターダンスと定義する)を生じさせる光学装置である。結果として生じる光波は、一般に異なる偏光形態からなる。本明細書におけるリターダのすべての角度方位は、水平軸(x軸)に対するスロー(slow:遅い)軸の向きを意味する。可変リターダは、そのリターダンスを外部手段、例えば電圧の印加によって変化させることができるリターダである。
偏光状態変調器(Polarization State Modulator:PSM)は、入力偏光状態を出力偏光状態に変換する装置である。PSMに印加される1つ又は複数の外部入力、例えば電圧により、出力偏光状態を制御する。出力偏光状態は、一般に入力偏光状態とは異なる。例えば、PSMは、複数の可変リターダからなることができる。
図1は、本発明の一実施形態における偏光制御システム10を示す。このシステム10は、遠隔動作構成で実現されており、この場合、偏光状態変調器は、変位を測定するためにインターフェロメトリシステムに供給するファイバから上流に配置される。
光源12は、(1)偏光状態P1及び周波数ω1を有する光ビームE1と、(2)偏光状態P2及び周波数ω2を有する光ビームE2とを生成する。一実施形態において、光源12は、ヘリウムネオン(HeNe)レーザーと、所望の偏光及び周波数の生成に必要な電気光学コンポーネントとを含む。例えば、光源12は、アジレントテクノロジー社が製造する5517Dレーザーである。電圧制御偏光状態変調器(PSM)14は、光ビームE1及びE2を受光し、これらのビームをファイバ16に射出する前に、これらのビームの偏光状態をP1’及びP2’にそれぞれ調節する。電圧制御PSM14は、任意の入力偏光状態を任意の所望の出力偏光状態に変化させるように動作可能である。一実施形態において、電圧制御PSM14は、0°に配向された(oriented)電圧制御可変リターダ18と、45°に配向された電圧制御可変リターダ20と、0°に配向された電圧制御可変リターダ22とを含む。リターダ18、20、及び22は、電圧V1、V2、及びV3によって制御され、リターダンスΓ1、Γ2、及びΓ3をそれぞれ生成する。
ファイバ16は、光ビームE1及びE2を下流の測定サイトに搬送する。一実施形態において、ファイバ16は、偏波保存(PM)ファイバである。温度の変動、ファイバの機械的な変形、及び機械的な振動に起因して、ファイバ16が光ビームE1及びE2の偏光状態をP1”及びP2”にそれぞれ変化させることが実験から明らかになっている。それにも関わらず、ファイバ16が光ビームE1及びE2の偏光状態間の直交関係にもたらす変化は、無視し得る。
測定サイトにおいて、ビームスプリッタ24は、光ビームE1及びE2を2つの経路に分割する。出力経路26は、光ビームE1及びE2を測距インターフェロメトリ(以降、「DMI(Distance-Measuring Interferometry)」と呼ぶ)システムに搬送する。モニタ経路28は、光ビームE1及びE2の偏光状態を監視して維持する後述のコンポーネントに光ビームE1及びE2を搬送する。これらのコンポーネントの一部又は全部は、測定サイトに配置されても、又は測定サイトから離れて配置されてもよい。例えば、光出射コンポーネント38、52、及び62は、集束レンズと共に、測定サイトから離れた検出器コンポーネントに接続されたマルチモードファイバにそれぞれ結合され得る。
ビームスプリッタ30は、経路28から光ビームE1及びE2を受光し、それらを2つの経路に分割する。経路32は、光ビームE1及びE2を第1の検出器経路34に搬送し、経路36は、光ビームE1及びE2を他の検出器経路に搬送する。第1の検出器経路34は、光ビームE1及びE2の選択された偏光状態P3の成分が光検出器40に到達できることを可能にする偏光子38を含む。この光を集束させるために、偏光子38と光検出器40との間に集束レンズが挿入され得る。光検出器40は、受光した光の強度に応答して、(ω1−ω2)のビートトーン周波数のビート信号B1を振幅検出装置42に伝送する。ビート信号B1は、検出された光のパワーを表す。このビート信号B1を増幅するために、光検出器40と振幅検出装置42との間に増幅器が挿入され得る。第1の検出器経路34は、必要に応じて、偏光子38の前に、1つ又は複数の波長板37を含むことができる。波長板37及び偏光子38は、光ビームE1及びE2の出力偏光状態の所望の向きに従って選択される。
ビームスプリッタ44は、経路36から光ビームE1及びE2を受光し、それらを2つの経路に分割する。経路46は、光ビームE1及びE2を第2の検出器経路48に搬送し、経路50は、光ビームE1及びE2を別の検出器経路に搬送する。第2の検出器経路48は、光ビームE1及びE2の選択された偏光状態P4の成分が光検出器54に到達することを可能にする偏光子52を含む。偏光子52と光検出器54との間に、集束レンズが挿入され得る。光検出器54は、受光した光の強度に応答して、ビート信号B2を位相検出器56に伝送する。光検出器54と位相検出器56との間には、増幅器が挿入され得る。第2の検出器経路48は、必要に応じて、偏光子52の前に、1つまたは複数の波長板51を含む。波長板51及び偏光子52は、光ビームE1及びE2の出力偏光状態の所望の向きに応じて、大きなビート信号B2を生成するように選択される。
経路50は、光ビームE1及びE2を第3の検出器経路58に搬送する。第3の検出器経路58は、光ビームE1及びE2の選択された偏光状態P5の成分が光検出器64に到達することを可能にする偏光子62を含む。偏光子62と光検出器64との間には、集束レンズが挿入され得る。光検出器64は、受光した光の強度に応答して、ビート信号B3を位相検出器56に伝送する。光検出器64と位相検出器56との間には、増幅器が挿入され得る。第3の検出器経路58は、必要に応じて、偏光子62の前に、1つ又は複数の波長板60を含む。波長板60及び偏光子62は、第1の検出器経路34の振幅検出装置42によって検出される最小振幅に対応するE1及びE2の2つの可能な解のそれぞれについて、ビート信号B2と異なる位相関係を有するビート信号B3を生成するように選択される。一実施形態において、この位相関係は、90°位相がずれている(即ち、ビート信号B2とB3は直角位相の状態にある)。
位相検出器56は、ビート信号B2とB3との間における位相差ΔΨを求める。振幅検出装置42は、ビートトーン周波数(即ち、ω1−ω2)におけるビート信号B1の振幅B1’を求める。コントローラ43は、振幅B1’と位相差ΔΨを使用して制御電圧を生成し、ファイバ16から出射される際に光ビームE1及びE2の所望の偏光状態を実現するために、これらの制御電圧がPSM14に印加される。増幅器がコントローラ43とPSM14との間に挿入されて、制御信号を増幅することができる。コントローラ43は、アナログ又はデジタルのコンポーネントを使用して実施され得る。
具体的には、コントローラ43は、ビートトーン振幅B1’が2つの局所極小値の1つに到達するまでPSM14を調節する。ビートトーン関数は、E1及びE2の2つの可能な向きに対応する2つの退化解を有しているので、E1及びE2のすべての直交偏光状態を本システムに適用した場合には、トーン振幅B1’が2つの局所極小値を有することがわかる。位相差ΔΨは、E1及びE2の2つの向きに対応する2つの極小値において異なる値を有するので、コントローラ43は、位相差ΔΨを使用してE1及びE2の偏光状態を一意的に求める。位相差ΔΨの値とE1及びE2の向きとの間における正確な対応関係は、ジョーンズ法(Jones calculus)を使用し、従来技術によって導出され得る。
図2は、一実施形態において、システム10を使用して所望の偏光の向きにロックするための方法100を示す。ステップ104において、コントローラ43は、グローバルサーチを実行して、正しい偏光の向きを有する局所極小値を生成するリターダンスΓ1、Γ2、及びΓ3の初期解を得る。このΓ1、Γ2、及びΓ3の初期解の値を初期のリターダンス値として使用する。このステップ104の一実施形態については、図3に関連して後述する。
ステップ106〜ステップ114において、コントローラ43は、リターダ18のリターダンスΓ1を調節して、リターダンスΓ1によって達成され得るビートトーン振幅B1’の極小値を見つける。具体的には、ステップ106において、コントローラ43は、リターダ18を選択する。ステップ108において、コントローラ43は、電圧V1を調節することにより、リターダンスΓ1を増分する。ステップ110において、コントローラ43は、ビートトーン振幅B1’が減少したかどうかを判定する。減少している場合には、ステップ110からステップ108に進む。減少していない場合には、ステップ110からステップ112に進む。
ステップ112において、コントローラ43は、電圧V1を調節することにより、リターダンスΓ1を減分する。ステップ114において、コントローラ43は、ビートトーン振幅B1’が減少したかどうかを判定する。減少している場合には、ステップ114からステップ112に進む。減少していない場合には、ステップ114からステップ116に進む。
ステップ116〜ステップ124において、コントローラ43は、リターダ20のリターダンスΓ2を調節して、リターダンスΓ2によって達成され得るビートトーン振幅B1’の極小値を見つける。ビートトーン振幅B1’の極小値が得られると、ステップ124からステップ126に進む。ステップ126〜ステップ134において、コントローラ43は、リターダ22のリターダンスΓ3を調節して、リターダンスΓ3によって達成され得るビートトーン振幅B1’の極小値を見つける。ビートトーン振幅B1’の極小値が得られると、ステップ134からステップ136に進む。
ステップ136において、コントローラ43は、現在の反復に関するビートトーン振幅B1’の値を記録する。ステップ138において、コントローラ43は、ビート信号B2とB3との間の位相差ΔΨを求める。ステップ140において、コントローラ43は、位相差ΔΨの値がE1及びE2の所望の出力偏光状態に対応しているかどうかを判定する。E1及びE2の偏光状態に大きな突然の変化を引き起こす大きな突然の変化がファイバ16の状態に存在すると、位相差ΔΨが所望の出力偏光状態に対応しないことがあり、これにより、制御ループが一時的にロックを失い、ひいては本システムがその後にその同一の初期解にロックされない場合がある。このような場合には、ステップ140からステップ104に進み、リターダンスΓ1、Γ2、及びΓ3の別の初期解をサーチするために方法100を繰り返す。一方、位相差ΔΨがE1及びE2の所望の出力偏光状態に対応している場合には、ステップ140からステップ142に進む。
ステップ142において、コントローラ43は、現在のビートトーン振幅B1’が、以前の反復によって記録されたビートトーン振幅B1’と同じであるかどうかを判定する。そして、同じである場合には、ステップ142からステップ136に進み、ビートトーン振幅B1’の値が変化するまで、方法100はループする。一方、現在のビートトーン振幅B1’が以前の反復によって記録されたビートトーン振幅B1’と同じでない場合には、ステップ142からステップ106に進み、別の最小ビートトーン振幅B1’をサーチするために方法100が繰り返される。
図3は、E1及びE2の偏光状態の所望の向きを生じさせるリターダンスΓ1、Γ2、及びΓ3の初期解を得るために、コントローラ43がE1及びE2の偏光状態の一部又はすべてをサーチするステップ104の一実施形態を示す。ステップ174において、コントローラ43は、リターダンスΓ1、Γ2、及びΓ3を0に初期化する。ここでは、ゼロのリターダンスの極小値を仮定しているが、このサーチは、リターダによって達成可能な、又はサーチされることを所望するリターダンスΓ1、Γ2、及びΓ3の任意の極小値から開始してもよい。ステップ176において、コントローラ43は、リターダンスΓ1、Γ2、及びΓ3の現在の値によって生成されたビート信号B2とB3との間の位相差ΔΨを記録する。ステップ178において、コントローラ43は、リターダンスΓ3がその最大値より大きいかどうかを判定する。この最大値は、リターダが達成できる、又はサーチされることを所望する最大のリターダンスとすることができる。そして、リターダンスΓ3がその最大値より大きい場合には、ステップ178からステップ182に進む。一方、リターダンスΓ3がその最大値より大きくない場合には、ステップ178からステップ180に進む。ステップ180において、コントローラ43は、電圧V3を調節することにより、リターダンスΓ3を増分する。ステップ180からステップ176に進み、リターダンスΓ3がその最大値より大きくなるまで、上記のステップがループする。
ステップ182において、コントローラ43は、Γ3を0に再初期化する。ステップ184において、コントローラ43は、電圧V2を調節することにより、リターダンスΓ2を増分する。ステップ186において、コントローラ43は、リターダンスΓ2がその最大値より大きいかどうかを判定する。そして、大きい場合には、ステップ186からステップ188に進む。一方、リターダンスΓ2がその最大値より大きくない場合には、ステップ186からステップ176に進み、リターダンスΓ3及びΓ2の両方がそれらの最大値より大きくなるまで、上記のステップがループする。
ステップ188において、コントローラ43は、Γ2を0に再初期化する。ステップ190において、コントローラ43は、電圧V1を調節することによって、リターダンスΓ1を増分する。ステップ192において、コントローラ43は、リターダンスΓ1がその最大値より大きいかどうかを判定する。そして、大きい場合には、ステップ192からステップ194に進む。一方、リターダンスΓ1がその最大値より大きくない場合には、ステップ192からステップ176に進み、リターダンスΓ3、Γ2、及びΓ1がそれらの最大値より大きくなるまで、上記のステップがループする。ステップ194において、コントローラ43は、方法100の初期解として、E1及びE2の所望の出力偏光状態に対応した所望の位相差ΔΨを生じさせるリターダンスΓ3、Γ2、及びΓ1の値を選択する。
図4は、図1におけるシステム10の一実施例(以降、これをシステム10Aと呼ぶ)を示しており、これは、本発明の一実施形態において、特定の向きの偏光状態に適用することができる。システム10Aにおいて、光源12は垂直直線偏光(VLP)E1と水平直線偏光(HLP)E2を生成する。このシステム10Aでは、ファイバ16の出力においてE1及びE2の偏光状態を維持することが望ましい。従って、偏光子38は、90°に配向され、偏光子52は、45°に配向され、波長板60は、45°に配向された4分の1波長板となるように選択され、偏光子62は、90°に配向される。
図5は、システム10A(図4)においてE1及びE2の偏光状態を調節するために使用されるPSM 14Aの一実施形態を示す。PSM 14Aは、ニオブ酸リチウム結晶(LiNbO)などの電気光学結晶から作成された回転可能な可変リターダであり、光はz方向に伝播し、x及びy方向に電圧が印加される。LiNbOの偏光軸及びリターダンスは、電圧V及びVを変化させることよって制御され、この結果、V及びVの両方を範囲[−Vπ,Vπ]にわたって操作する場合に、任意の入力偏向状態を任意の出力偏向状態に変換することができる。この場合、半波長電圧Vπ=λd/(2n 22L)であり、λは、光ビームの波長であり、dは、LiNbOの幅及び高さであり、nは、LiNbOの通常の屈折率であり、r22は、LiNbOの電気光学係数である。
一実施形態において、システム10Aは、方法100(図2及び図3)と類似した方法を使用して、E1及びE2の所望の偏光状態を維持することができる。コントローラ43は、まず、グローバルサーチを実行して、所望の位相差ΔΨを生じさせる電圧V及びVの初期値を見つける。次いで、コントローラ43は、最小限のサーチを連続的に実行し、所望の位相差ΔΨに対応する極小値にロックする。
前述のシステムにおいて、PMファイバを使用する場合、E1及びE2は一般に小さい偏光の変化を受ける(例えば、偏光子による20%未満のパワーの変化)。従って、所望の出力偏光状態を見つけてロックするために、可能な入力偏光状態をすべて生成できるPSMが必要とされない場合がある。実際には、適切な設計によれば、サーチされる必要のある偏光状態の範囲を低減することができ、これにより、いくつかの可変リターダ、及び場合によっては、直交の検出を取り除くことが可能になる。例えば、サーチされる必要があるのは、ポアンカレ球(すべての偏光状態を表す数学的構造)の半分をカバーする偏光状態だけである。
図6Aは、図1のシステム10の一実施例(以降、システム10Bと呼ぶ)を示し、これは、本発明の一実施形態において、偏光状態の小さな変化に適用することができる。システム10Bにおいて、光源12はVLP E1及びHLP E2を生成する。このシステム10Bでは、ファイバ16の出力においてE1及びE2の偏光状態を維持することが望ましい。
リターダ252及びPSM 14Bを使用して、E1及びE2の可能な偏光状態のサブセットを生成する。リターダ252は、22.5°に配向された2分の1波長板である。PSM 14Bは、(1)0°に配向され、0〜λ/2の範囲の可変リターダンスを有する可変リターダ254と、(2)45°に配向され、0〜λ/2の範囲の可変リターダンスを有する可変リターダ256とを含む。リターダ252とPSM 14Bは、ポアンカレ球の約半分のサーチを可能にしており、この結果、他の解が設計によって排除されているので、システム10Bは、ビートトーン振幅B1’の2つの極小値のうち1つのみにロックすることになる。更に、リターダ252とPSM 14Bは、対象となる領域(例えば、ポアンカレ球の半分)内で途切れることなしに、偏光状態を連続的に走査することを可能にしており、もしそうでなければ、エンドレスな(即ち、リセットの無い)偏光制御を行うために1つ又は複数の追加の可変リターダが必要とされる。
システム10Bには、1つの検出器経路、即ちビート信号B1を生じさせる第1の検出器経路34のみが含まれる。コントローラ43は、ビート信号B1のみを使用して、PSM 14Bにより生成され得る入力偏光状態内の唯一の極小値にロックする。リターダプレート252及びPSM 14Bにより生成され得る入力偏光状態内においては、1つの極小値のみがアクセス可能であるため、初期解のグローバルサーチは不要である。
図6Bは、リターダとPSMが異なっていることを除いて、システム10Bに類似した本発明の一実施形態におけるシステム10Cを示す。システム10Cには、−45°に配向された4分の1波長板262とPSM 14A(図5)が含まれる。前述のように、PSM 14Aは、電圧V及びVによって制御される回転可能な可変リターダであり、この場合、電圧Vは、範囲[0,Vπ]にわたって操作され、電圧Vは、範囲[−Vπ,Vπ]にわたって操作される。リターダ262及びPSM 14Aは、偏光状態において、途切れることなしにポアンカレ球の約半分を連続的にサーチすることを可能にしており、もしそうでなければ、エンドレスな偏光制御を行うために、1つ又は複数の追加の回転可能な可変リターダが必要とされる。
ヘテロダインインターフェロメトリに望ましい偏光状態は、一般にVLP E1及びHLP E2に対応するが、E1及びE2をVLP及びHLP以外の偏光状態にロックし、E1及びE2が干渉計に入射する前にVLP及びHLP状態を取得するシステムを設計することも可能である。図6Cは、本発明の一実施形態におけるこのようなシステム10Dを示す。システム10Dは、後述する変更点を除いて、システム10B及び10Cに類似している。入力偏光状態は、VLP E1及びHLP E2である。システム10Dにおいては、リターダ252(図6A)及びリターダ262(図6B)は使用されない。PSM 14Dは、(1)45°に配向され、0〜λ/2のリターダンス範囲にわたって動作する可変リターダ254Dと、(2)0°に配向され、λ/2〜3λ/2のリターダンス範囲にわたって動作する可変リターダ256Dとを含む。検出器経路34内には、最小ビート振幅が左円偏光(LCP)状態のE1と右円偏光(RCP)状態のE2に対応するように、偏光子38の前に、45°に配向された4分の1波長板600が含まれる。干渉計に入射する前に、LCP E1及びRCP E2をVLP E1及びHLP E2に変換するために、経路26内には、45°に配向された第2の4分の1波長板602が含まれる。
図6Dは、本発明の一実施形態におけるシステム10Bとシステム10Dの要素を組み合わせたシステム10Eを示す。システム10Eにおいて、光源12は、用途に応じた偏光状態を有するE1及びE2を生成する。システム10Bと同様に、リターダ252E及びPSM 14Eを使用して、E1及びE2の可能な偏光状態のサブセットを生成する。リターダ252Eのリターダンスと向きは、E1及びE2の入力偏光状態と所望の出力偏光状態に依存する。システム10Dと同様に、検出器経路34内には、最小ビート振幅がE1及びE2の所望の偏光状態に対応するように、偏光子38の前に、リターダ600Eが含まれる。干渉計に入射する前に、E1及びE2を所望の偏光状態に変換するために、経路26内には、リターダ602Eが含まれる。やはり、リターダ602Eのリターダンスと向きは、E1及びE2の所望の偏光状態に依存する。
上述した偏光制御システムの様々な実施形態はすべて、遠隔動作構成で示されており、この場合、PSMがファイバ及び測定サイトの上流に配置される。図7は、非遠隔偏光制御システム300の一実施形態を示し、この場合、PSM 314は、測定サイトにおいて、ファイバ316から下流に配置される。図面から明らかなように、光源312は、直交偏光状態を有し周波数が異なる2つの光ビームをファイバ316内に出射する。次いで、これら2つの光ビームがファイバ316によってPSM314に搬送される。PSM314は、出力経路及びモニタ経路に送出する前に、これら2つの光ビームの偏光状態を調節する。PSM314は、図1、図4、図5、図6A、及び図6Bにおいて上述したように実施され得る。出力経路は、変位を測定するためにインターフェロメトリシステムにつながる。モニタ経路は、2つの光ビームの所望の出力偏光状態を維持するためにPSM314へのフィードバック制御をもたらす検出及び制御ブロック334につながる。ブロック334は、図1、図4、図6A、及び図6Bにおいて説明されたように実施され得る。
図8は、ディザリングを使用して所望のビートトーン振幅B1’にロックする図1のシステム10の一実施例(以降、システム10Fと呼ぶ)を示す。ディザリングの技術によれば、検出された信号の導関数(符号を含む)の検出を支援するために、それぞれの制御信号に小さな変調項が生成される。また、この技術によれば、機械的な振動や温度の変動などの他の要因に起因して、振幅検出装置42によって検出される振幅の変化が、フィルタリングによって除去される。システム10Fは、信号生成器402、404、及び406、並びに加算器408、410、及び412が追加されていることを除いて、システム10と類似する。信号生成器402、404、及び406は、小さな直交変調信号s1、s2、s3(これらは、周波数f1、f2、及びf3の正弦波とすることができる)を生成する。コントローラ43は、信号s1、s2、s3を検出し、相関技術を用いて3つの信号414、416、及び418を生成し、これら3つの信号は対応する制御ディザリング信号s1、s2、及びs3に加算され、可変リターダ18、20、及び22に対する制御信号V1、V2、及びV3がそれぞれ生成される。
開示された実施形態の要素の様々な他の適合及び組み合わせも、本発明の範囲内にある。また、所望の出力偏光状態は、光源から出射する入力偏光状態と同じである必要はないことに留意されたい。例えば、図6Aのシステム10Bの一実施形態は、レーザーからの左円偏光E1及び右円偏光E2に対応する入力偏光状態を受光し、VLP E1及びHLP E2に対応する所望の出力偏光状態を生成するために使用され得る。このような実施形態において、リターダ252は、90°に配向された4分の1波長板である。同様に、図6Bのシステム10Cの一実施形態は、レーザーからの左円偏光E1及び右円偏光E2に対応する入力偏光状態を受光し、VLP E1及びHLP E2に対応する所望の出力偏光状態を生成するために使用され得る。このような実施形態において、リターダ262は不要である。
PSMの様々な実施形態について上述したが、更なるPSMの実施形態も使用可能である。PSMの一実施形態には、複屈折特性が機械的な応力の印加によって変化する2つまたはそれより多いファイバスクイーザが含まれる。コントローラ43からの制御信号に応答して、機械的応力がファイバスクイーザに印加される。PSMの別の実施形態には、リターダンス及び/又は偏光軸がコントローラ43からの制御信号に応答して変化する2つまたはそれより多い液晶セルが含まれる。PSMの更に別の実施形態には、固定したリターダンスを有する2つまたはそれより多い機械的に回転可能な波長板が含まれる。これらの波長板は、コントローラ43からの制御信号に応答して回転する。PSMの更に別の実施形態には、直線的な複屈折が機械的な応力の印加によって誘発される2つまたはそれより多い光弾性変調器が含まれる。コントローラ43からの制御信号に応答して、機械的な応力がこれらの光弾性変調器に印加される。添付の特許請求の範囲には、多数の実施形態が包含される。
本発明の一実施形態において、2つの直交偏光された光ビームの任意の偏光状態を維持するための偏光制御システムを示す図である。 本発明の一実施形態において、図1の偏光制御システムを動作させるための方法のフローチャートである。 本発明の一実施形態において、図1の偏光制御システムを動作させるための方法のフローチャートである。 本発明の一実施形態において、2つの直交直線偏光された光ビームの偏光状態を維持するための偏光制御システムを示す図である。 図4の偏光制御システムの偏光状態変調器を示す図である。 本発明の一実施形態において、2つの直交直線偏光された光ビームの偏光状態を維持するための偏光制御システムを示す図である。 本発明の一実施形態において、2つの直交直線偏光された光ビームの偏光状態を維持するための偏光制御システムを示す図である。 本発明の一実施形態において、2つの直交直線偏光された光ビームの偏光状態を維持するための偏光制御システムを示す図である。 本発明の一実施形態において、2つの直交直線偏光された光ビームの偏光状態を維持するための偏光制御システムを示す図である。 本発明の一実施形態における偏光制御システムの非遠隔構成を示す図である。 本発明の一実施形態において、2つの直交光ビームの任意の偏光状態を維持するためにディザリングを使用する偏光制御システムを示す図である。 半導体の製造において使用されるステージの変位を検出する従来のシステムを示す図である。
符号の説明
10、10A、10B、10C、10D、10E、10F、300 偏光制御システム
12、312 光源
14、14A、14B、14D、14E、314 偏光状態変調器(PSM)
24、40、44 ビームスプリッタ
26 出力経路
28、32、36、46、50 モニタ経路
34、48、58 検出器経路
37、51、60、252、254、256、262、252E、600、600E、602、602E リターダ
38、38E、52、62 偏光子
40、54、64 光検出器
43 コントローラ
56 位相検出器
402、404、406 信号生成器
408、410、412 加算器

Claims (20)

  1. ヘテロダインインターフェロメトリ用の偏光制御システム(10;10A;10B;10C、10D、10E、10F、300)であって、
    第1の偏光状態と第1の周波数を有する第1の光ビーム(E1)と、第2の偏光状態と第2の周波数を有する第2の光ビーム(E2)とを生成する光源(12;312)と、
    前記光源から前記第1及び第2の光ビームを受光する偏光状態変調器(PSM)(14;14A;14B;14D;14E;314)であって、偏光制御の少なくとも2つの度合いを有し、前記第1及び第2の偏光状態を変化させる、偏光状態変調器と、
    前記PSMから前記第1及び第2の光ビームを受光し、前記第1及び第2の光ビームに応答して、第1のビート信号(B)を生成する第1の検出器経路(34)と、
    前記第1のビート信号を受信して、ビート振幅信号(B’)を生成する振幅検出器(42)と、及び
    前記ビート振幅信号を受信するコントローラ(43)であって、前記ビート振幅信号に応答して、前記偏光制御の少なくとも2つの度合いを制御するための複数の制御信号(V1、V2、V3;V、V;V1、V2;414、416、418)を生成するコントローラ(43)とを含む、偏光制御システム。
  2. 前記PSMが、
    少なくとも1つの液晶セルであって、前記液晶セルの(1)リターダンス及び(2)偏光軸の少なくとも1つが前記複数の制御信号に応答して変化する、少なくとも1つの液晶セルと、
    前記複数の制御信号に応答して印加された機械的な応力に応答して、複屈折特性が変化する少なくとも1つのファイバスクイーザと、
    少なくとも1つの電気光学結晶(14A)であって、前記電気光学結晶の(1)リターダンス及び(2)偏光軸の少なくとも1つが前記複数の制御信号に応答して変化する、少なくとも1つの電気光学結晶と、
    固定したリターダンスを有し、偏光軸が前記複数の制御信号に応答して回転する少なくとも1つの機械的に回転可能な波長板と、及び
    前記複数の制御信号に応答して印加された機械的な応力によって直線的な複屈折特性が誘発される少なくとも1つの光弾性変調器とからなるグループから選択される、請求項1記載の偏光制御システム。
  3. 前記光源と前記PSMとの間に少なくとも1つのリターダ(252;262;252E)を更に含み、前記リターダが、前記第1及び第2の偏光状態を変化させる、請求項1記載の偏光制御システム(10B;10C;10E)。
  4. 前記第1及び第2の光ビームが、(1)実質的に垂直直線偏光された光及び実質的に水平直線偏光された光と、(2)実質的に左円偏光された光及び実質的に右円偏光された光とからなるグループから選択され、
    前記リターダ(252;262)が、(1)実質的に22.5°に配向された2分の1波長板と、(2)実質的に−45°に配向された4分の1波長板とからなるグループから選択され、
    前記PSMが、
    (1)(a)実質的に0°に配向され、約0〜λ/2の可変リターダンスを有する第1の可変リターダ(254)と、(b)実質的に45°に配向され、約0〜λ/2の可変リターダンスを有する第2の可変リターダ(256)とを含む可変リターダと、
    (2)x軸において第1の電圧及びy軸において第2の電圧を受け取り、光がz軸に沿って伝播する電気光学結晶を含む回転可能な可変リターダ(14A)とからなるグループから選択される、請求項3記載の偏光制御システム(10B;10C)。
  5. 前記第1の検出器経路が、
    前記第1及び第2の光ビームを受光する偏光子(38;38E)と、及び
    前記偏光子から前記第1及び第2の光ビームを受光し、前記第1及び第2の光ビームに応答して前記第1のビート信号を生成する光検出器(40)とを含む、請求項1記載の偏光制御システム。
  6. 前記偏光子の前に、少なくとも1つのリターダ(37;600;600E)を更に含み、前記少なくとも1つのリターダが、前記第1及び第2の偏光状態を変化させる、請求項5記載の偏光制御システム(10;10D;10E)。
  7. 前記PSMからの前記第1及び第2の光ビームを出力経路(26)とモニタ経路(28)に分割するビームスプリッタ(24)であって、前記第1の検出器経路が、前記モニタ経路から前記第1及び第2の光ビームを受光する、ビームスプリッタ(24)と、及び
    前記出力経路内の前記ビームスプリッタの後に位置し、前記第1及び第2の偏光状態を変化させる少なくとも1つのリターダ(602;602E)とを更に含む、請求項5記載の偏光制御システム。
  8. 前記PSMからの前記第1及び第2の光ビームを出力経路(26)と第1のモニタ経路(28)に分割する第1のビームスプリッタ(24)と、
    前記第1のモニタ経路からの前記第1及び第2の光ビームを受光して、前記第1及び第2の光ビームを第2のモニタ経路(32)と第3のモニタ経路(36)に分割する第2のビームスプリッタ(40)であって、前記第1の検出器経路が、前記第2のモニタ経路から前記第1及び第2の光ビームを受光する、第2のビームスプリッタ(40)と、
    前記第3のモニタ経路から前記第1及び第2の光ビームを受光して、前記第1及び第2の光ビームを第4のモニタ経路(46)と第5のモニタ経路(50)に分割する第3のビームスプリッタ(44)と、
    前記第4のモニタ経路から前記第1及び第2の光ビームを受光し、前記第1及び第2の光ビームに応答して第2のビート信号(B)を生成する第2の検出器経路(48)と、
    前記第5のモニタ経路から前記第1及び第2の光ビームを受光し、前記第1及び第2の光ビームに応答して第3のビート信号(B)を生成する第3の検出器経路(58)と、
    前記第2及び第3のビート信号を受信し、前記第2及び第3のビート信号に応答して位相信号(ΔΨ)を生成する位相検出器(56)とを更に含み、
    前記コントローラが、前記位相信号を受信し、位相信号に応答して前記複数の制御信号を更に生成し、
    前記第1の検出器経路が、
    前記第1及び第2の光ビームを受光して、第3の光ビームを放射する第1の偏光子(38)と、
    前記第1の偏光子から前記第3の光ビームを受光し、前記第3の光ビームに応答して前記第1のビート信号を生成する第1の光検出器(40)とを含み、
    前記第2の検出器経路が、
    前記第1及び第2の光ビームを受光して、第4の光ビームを放射する第2の偏光子(52)と、
    前記第4の光ビームを受光し、前記第4の光ビームに応答して前記第2のビート信号を生成する第2の光検出器(54)とを含み、
    前記第3の検出器経路が、
    前記第1及び第2の光ビームを受光して、第5の光ビームを放射する第3の偏光子(62)と、
    前記第5の光ビームを受光し、前記第5の光ビームに応答して前記第3のビート信号を生成する第3の光検出器(64)とを含む、請求項1記載の偏光制御システム(10:10A;10F)。
  9. 前記第1、第2、及び第3の検出器経路の少なくとも1つが、それらの個々の偏光子の前に、少なくとも1つのリターダ(37;51;60)を含む、請求項8記載の偏光制御システム。
  10. 前記光源と前記PSMとの間に少なくとも1つのリターダを更に含み、前記リターダが、前記第1及び第2の偏光状態を変化させる、請求項9記載の偏光制御システム。
  11. 前記PSMからの前記第1及び第2の光ビームを出力経路(26)とモニタ経路(28)に分割するビームスプリッタ(24)であって、前記第1の検出器経路が、前記モニタ経路から前記第1及び第2の光ビームを受光する、ビームスプリッタ(24)と、及び
    前記出力経路内の前記ビームスプリッタの後に位置し、前記第1及び第2の偏光状態を変化させる少なくとも1つのリターダとを更に含む、請求項9記載の偏光制御システム。
  12. 第1の変調信号(s1)を生成する第1の信号生成器(402)と、
    前記第1の変調信号と前記コントローラからの第4の制御信号(414)を受信し、前記第1の変調信号及び前記第4の制御信号に応答して前記第1の制御信号を生成する第1の加算器(408)と、
    第2の変調信号(s2)を生成する第2の信号生成器(404)と、
    前記第2の変調信号と前記コントローラからの第5の制御信号(416)を受信し、前記第2の変調信号及び前記第5の制御信号に応答して前記第2の制御信号を生成する第2の加算器(410)と、
    第3の変調信号(s3)を生成する第3の信号生成器(406)と、
    前記第3の変調信号と前記コントローラからの第6の制御信号(418)を受信し、前記第3の変調信号及び前記第6の制御信号に応答して前記第3の制御信号を生成する第3の加算器(412)とを更に含み、
    前記コントローラが、前記第1、第2、及び第3の変調信号を受信し、
    前記コントローラが、前記第1、第2、及び第3の変調信号に応答して複数の制御信号を更に生成し、及び
    前記第4、第5、第6の制御信号が、前記複数の制御信号を含む、請求項8記載の偏光制御システム(10F)。
  13. 前記第1の光ビーム及び前記第2の光ビームが、垂直偏光された光ビーム、水平直線偏光された光ビーム、右円偏光された光ビーム、左円偏光された光ビーム、及び楕円偏光された光ビームからなるグループからそれぞれ選択される、請求項1記載の偏光制御システム。
  14. ヘテロダインインターフェロメトリ光システムにおいて、ファイバからの光ビームの偏光状態を維持するための方法(100)であって、
    第1の光ビーム(E1)及び第2の光ビーム(E2)を生成するステップであって、前記第1のビームが、第1の偏光状態と第1の周波数を有し、前記第2の光ビームが、第2の偏光状態と第2の周波数を有する、ステップと、
    偏光制御の少なくとも2つの度合いを調節して、前記第1及び第2の偏光状態を変化させるステップと、
    前記第1及び第2の光ビームを第1の経路(32)と第2の経路(36)に分割するステップと、
    前記第1の経路(28)における前記第1及び第2の光ビームに応答して、第1のビート信号(B)を生成するステップと、
    前記第1のビート信号に応答して、ビート振幅信号(B’)を生成するステップと、及び
    前記ビート振幅信号に応答して、前記偏光制御の少なくとも2つの度合いを制御するための複数の制御信号(V1、V2、V3;V、V;V1、V2;414、416、418)を生成するステップとを含む、方法。
  15. 前記第2の経路(36)からの前記第1及び第2の光ビームを第3の経路(46)及び第4の経路(50)に分割するステップと、
    前記第3の経路からの前記第1及び第2の光ビームに応答して、第2のビート信号(B)を生成するステップと、
    前記第4の経路からの前記第1及び第2の光ビームに応答して、第3のビート信号(B)を生成するステップと、
    前記第2及び第3のビート信号に応答して、位相差信号(ΔΨ)を生成するステップとを更に含み、
    前記複数の制御信号を生成するステップが、前記位相信号に更に応答する、請求項14記載の方法。
  16. 前記第1のビート信号を生成するステップの前に、前記第1の経路からの前記第1及び第2の光ビームが偏光子(38)を通過させられるステップと、
    前記第2のビート信号を生成するステップの前に、前記第3の経路からの前記第1及び第2の光ビームが偏光子(52)を通過させられるステップと、
    前記第3のビート信号を生成するステップの前に、前記第4の経路からの前記第1及び第2の光ビームが、波長板(60)、次いで偏光子(62)を通過させられるステップとを更に含む、請求項15記載の方法。
  17. 前記複数の制御信号を生成するステップが、前記制御信号の初期値を選択するステップを含み、その初期値を選択するステップが、
    前記制御信号を変化させることによって生成される位相信号を記録して、複数のリターダンス(Γ1、Γ2、Γ3)を生成するステップと、及び
    所望の位相差を生成する前記制御信号の値を選択するステップとを含む、請求項14記載の方法。
  18. 前記複数の制御信号を生成するステップが、前記制御信号を変化させて前記ビート振幅信号の極小値を得るステップを更に含む、請求項17記載の方法。
  19. 前記第1及び第2の光ビームが、(1)垂直直線偏光された光及び水平直線偏光された光と、(2)左円偏光された光及び右円偏光された光とからなるグループから選択される、請求項18記載の方法。
  20. 前記制御信号を生成するステップが、
    直交変調信号(s1、s2、s3)を生成するステップと、
    前記直交変調信号と前記複数の制御信号(414、416、418)を加算して、前記偏光制御の少なくとも2つの度合いを調節するための第2の複数の制御信号(V1、V2、V3)を生成するステップとを含み、
    前記複数の制御信号を生成するステップが、前記直交変調信号に更に応答する、請求項15記載の方法。
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