JP2004330162A - Clogging detecting device for dust-proof apparatus - Google Patents

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JP2004330162A
JP2004330162A JP2003133244A JP2003133244A JP2004330162A JP 2004330162 A JP2004330162 A JP 2004330162A JP 2003133244 A JP2003133244 A JP 2003133244A JP 2003133244 A JP2003133244 A JP 2003133244A JP 2004330162 A JP2004330162 A JP 2004330162A
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JP
Japan
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clogging detection
suction
dust removal
dust
air
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Application number
JP2003133244A
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Japanese (ja)
Inventor
Hideo Iida
秀夫 飯田
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Hugle Electronics Inc
Original Assignee
Hugle Electronics Inc
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a clogging detecting device for a dust-proof apparatus, constituted simply, in which when a foreign substance such as a glass fragment is absorbed to a suction slit, immediately the absorption of the foreign substance can be detected to prevent the occurrence of a situation such that a substrate is bruised. <P>SOLUTION: In the inferior surface of the dust proof head 200, clogging detecting sensors 240 and 250 of a capacitor type and a determination treating means connected electrically respectively to the clogging detecting sensors 240 and 250 by a capacitor are provided. The clogging detecting device for dust-proof apparatus detects a variation of an admittance caused by the foreign substance acting as a dielectric between the electrodes of the clogging detecting sensors 240 and 250, and, by detecting the variation of this admittance, judges that the foreign substance is absorbed to the suction slits 210 and 230. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、除塵対象の表面に付着する塵や埃等(以下、これらを総称して塵埃という)を単なる清浄エア、または、超音波周波数で振動する超音波エア(以下、これらを総称して洗浄エアという)により塵埃を飛散させて吸引除去する除塵装置に搭載される除塵装置用目詰まり検知装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
除塵装置に搬送されて除塵される除塵対象の一例として、例えば板状のガラス基板などを挙げることができる。このガラス基板は、例えば、TFT(薄膜トランジスタ)液晶パネル、PDP(プラズマ・ディスプレイ・パネル)、または、LCD(液晶ディスプレイ)等に用いられている。
このような基板を対象とする除塵装置として、例えば、本出願人の特許出願に係り、出願公開により開示された特許公開公報である特許文献1,2などがある。
【0003】
【特許文献1】
特開2000−84510号公報
(段落番号0013〜0025,図1〜図4)
【特許文献2】
特開2000−210630号公報
(段落番号0020〜0056,図1〜図11)
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来技術による除塵装置では、搬送される基板Gが種々の原因(例えば、真空吸着時に破損する)により破壊され、ガラスの破片が吸引スリットまで吸引される事象が確認されている。
特に、TFT液晶パネル用のガラス基板は0.3mm〜1.1mmという薄い基板であって破壊に至ることも少なくない。
【0005】
この場合、吸引スリットに吸着するガラスの破片が、何らかの原因で基板へ落下した場合、または、吸着されたガラスの破片が搬送中の基板に接触した場合、基板の表面に傷がついて不良品となるおそれがあった。ガラス基板へ落下する場合は一枚の基板に傷をつけるのみであるが、吸着されたガラスの破片による接触は多数のガラス基板に傷をつけるという問題があった。このような事情から、ガラスの破片が吸着されたことを直ちに検知してガラスの破片を取り除きたいという要請があった。
【0006】
しかしながら、除塵装置は塵埃が極めて少ないクリーンルーム内にあって、異物が殆どない環境下にあるため、このような事態は想定されておらず、対策もとられていないのが現状である。
さらに吸引室内の圧力の変化による検出も考えられるが、ガラスの破片による異物が吸引スロットに吸着しても圧力の変化は微量であり、圧力センサでは検出できなかった。
このように従来では検出方法が存在しなかった。
【0007】
そこで、本発明は上記の問題点を解消するためになされたものであり、その目的は、吸引スリットにガラスの破片等の異物が吸着したとき、直ちに異物の吸着を検知できるようにして基板に傷がつくような事態の発生を防止する、簡易な構成とした除塵装置用目詰まり検知装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明の課題を解決するため、請求項1に係る発明である除塵装置用目詰まり検知装置によれば、
少なくとも各1個のエア吸引室およびエア噴出室を有する除塵ヘッドを備え、エア噴出室の噴出スリットから除塵対象表面に向けて洗浄エアを噴出し、飛散する塵埃をエア吸引室の吸引スリットへ吸引するようにした除塵装置に搭載される目詰まり検知装置であって、
吸引スリットを挟む両側に第1,第2電極を除塵ヘッドに設けてなる目詰まり検知センサと、
目詰まり検知センサの第1,第2電極がそれぞれ電気的に接続される判定処理手段と、
を備え、
吸引スロットに吸着される異物が目詰まり検知センサの第1,第2電極間で誘電体として作用したことによるアドミタンスの変化を検知し、このアドミタンスの変化の検知により吸引スリットに異物が吸着したか否かを判定することを特徴とする。
【0009】
また、請求項2に係る発明である除塵装置用目詰まり検知装置によれば、
請求項1記載の除塵装置用目詰まり検知装置において、
前記判定処理手段は、
目詰まり検知センサの第1電極、第2電極へ一定の交流電圧を印可する印可手段と、
吸引スロットに吸着される異物が目詰まり検知センサの第1,第2電極間で誘電体として作用したことによるアドミタンスの増大という変化を、交流電流の振幅の増大という変化として検知する検知手段と、
変化を検知したときに異物が吸着していることを報知する報知手段と、
を備えることを特徴とする。
【0010】
また、請求項3に係る発明である除塵装置用目詰まり検知装置によれば、
請求項1または請求項2記載の除塵装置用目詰まり検知装置において、
前記除塵ヘッドは、第1のエア噴出室とこれを挟む第1、第2のエア吸引室とが除塵対象の搬送方向に沿って並べて設けられ、かつ第1、第2のエア吸引室のそれぞれの吸引スリットの周囲に目詰まり検知センサが設けられることを特徴とする。
【0011】
また、請求項4に係る発明である除塵装置用目詰まり検知装置によれば、
請求項3記載の除塵装置用目詰まり検知装置において、
第1、第2のエア吸引室のそれぞれの吸引スリットに設けられた目詰まり検知センサは、第1電極同士がそれぞれ電気的に直列に接続され、かつ、第2電極同士がそれぞれ電気的に直列に接続されることを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、本発明による除塵装置用目詰まり検知装置の実施形態について図を参照しつつ説明する。図1は本実施形態による除塵装置用目詰まり検知装置の構成図、図2は第1,第2電極の断面図、図3は除塵ヘッドのガラス対向面の構造図、図4,図5は検知原理の説明図である。
本実施形態による除塵装置は、図1で示すように、搬送ローラ100と、除塵ヘッド200と、を備えている。この除塵装置では基板Gが矢印a方向に搬送される。
【0013】
続いて個々の構成について説明する。
基板Gは、本発明の除塵対象の一具体例であり、例えば、TFT(薄膜トランジスタ)液晶パネル、PDP(プラズマ・ディスプレイ・パネル)またはLCD(液晶ディスプレイ)等に用いられるガラス基板である。図1で示す基板Gは長尺な基板Gの一部のみが図示されている。また基板Gの厚さであるが、例えば、TFT液晶パネル用のガラス基板は、0.3mm〜1.1mmと薄いものである。
なお、他の除塵対象には合成樹脂板、または、金属板などの基板なども挙げられる。
【0014】
搬送ローラ100は、基板Gを支持・搬送するローラである。搬送ローラ100は、基板Gを搬送する駆動力を与えるように構成されるか、または、他の駆動源により搬送される基板Gに従動するように回動自在に構成されているものである。
【0015】
除塵ヘッド200は、基板搬送方向(矢印a方向)に沿って、エア吸引室V1、エア噴出室P、エア吸引室V2となるように並べられて構成されている。 エア吸引室V1,V2は図示しない吸気ポンプへ、また、エア噴出室Pは図示しない送風ポンプへ接続されるものとする。なお、図1では、除塵ヘッド200は、搬送ローラ100側とは反対側に配置されているが、搬送ローラ側に配置され、下から上へ向けて基板Gの下面へ洗浄エアを噴出し、基板Gから下へ塵埃を吸引するような除塵ヘッドとしても良い。
【0016】
このエア吸引室V1には吸引スリット210が、エア噴出室Pには噴出スリット220が、エア吸引室V2には吸引スリット230それぞれ設けられている。
なお、エア吸引室V1の吸引スリット210は上流側、換言すれば噴出スリット220側へ傾斜しており、噴出スリット220から噴出されるエア流は、吸引スリット230へ吸引される。
同様に、エア吸引室V2の吸引スリット230は下流側、換言すれば噴出スリット220側へ傾斜しており、噴出スリット220から噴出されるエア流は、吸引スリット210へ吸引される。
なお、吸引スリット210,230は、必ずしも傾斜が必要ではなく、図示しないが基板Gの搬送方向に対して略垂直となるように設けられても良い。
【0017】
このエア吸引室V1の吸引スリット210にはV1用の目詰まり検知センサ240が、また、エア吸引室V2の吸引スリット230にはV2用の目詰まり検知センサ250がそれぞれ形成される。
【0018】
V1用の目詰まり検知センサ240は、上流側(噴出スリット220側)に第1電極241が、また、下流側に第2電極242が形成されている。吸引スロット210の周りが円弧状に窪んで形成され、第1電極241の面積が広く、また、第2電極242の面積が狭くなるようになされている。
【0019】
V2用の目詰まり検知センサ250は、下流側(噴出スリット220側)に第1電極251が、また、上流側に第2電極252が形成されている。吸引スロット230の周りが円弧状に窪んで形成され、第1電極251の面積が広く、また、第2電極252の面積が狭くなるようになされている。
なお、これら第1電極241,251および第2電極242,252の面積が同じとなるように調整してもよい。
【0020】
さらに、図3で示すように、V1用の目詰まり検知センサ240の第1電極241,第2電極242は吸引スロット210の長手方向と略平行に伸びる長方形状に形成され、また、V2用の目詰まり検知センサ250の第1電極251,第2電極252は吸引スロット210の長手方向と略平行に伸びる長方形状に形成される。
【0021】
V1用の目詰まり検知センサ240の第1電極241および第2電極242は、詳しくは、図2に示すような積層構造である。例えばV1用の目詰まり検知センサ240の第1電極241を例に挙げて説明すると、金属体である除塵ヘッド200の表面に絶縁樹脂層241aを形成する。この絶縁樹脂層241aは各種の材料が可能であるが、例えば、エポキシ樹脂により形成した層とする。そしてこの絶縁樹脂層241aの表面に導電性樹脂層241bが形成される。この導電性樹脂層241bは各種の材料が可能であるが、例えば、銀ペーストにより形成した層とする。
【0022】
V1用の目詰まり検知センサ240の第2電極242も同様であり、絶縁樹脂層242a,導電性樹脂層242bの積層構造である。
V2用の目詰まり検知電極250の第1電極251も同様であり、絶縁樹脂層251a,導電性樹脂層251bの積層構造である。
V2用の目詰まり検知電極250の第2電極252も同様であり、絶縁樹脂層252a,導電性樹脂層252bの積層構造である。
【0023】
これら電極の配置および配線について、図3に示すようにV1用の目詰まり検知センサ240の第1電極241と、V2用の目詰まり検知センサ250の第1電極251とが導電体300により電気的に接続され、さらに判定処理手段400と接続される。
同様にV1用の目詰まり検知センサ240の第2電極242と、V2用の目詰まり検知センサ250の第2電極252とが導電体300により電気的に接続され、さらに判定処理手段400と接続される。
【0024】
なお、このような構成は各種変形が可能である。例えば、先に絶縁樹脂層はそれぞれ第1電極241,251および第2電極242,252の下側に別個に設けるものとして説明したが、除塵ヘッド200の少なくとも下側全面を一体に覆うような層としてもよい。この場合、導電体300も含めて導電性樹脂層(銀ペースト)を一体にした回路パターンを形成することもできる。
【0025】
続いて、検知原理について図4,図5を参照しつつ説明する。
なお、目詰まり検知センサ240についてのみ説明し、目詰まり検知センサ250については同様の検知原理であるため、その詳細な説明を省略する。
対向する第1電極241、第2電極242へは判定処理手段400から交流電圧が印可され、交流電流が流れている。第1電極241、第2電極242はコンデンサの電極板に相当する。このコンデンサのアドミタンス(jωC)は、通常は図4で示すように誘電体がない状態の値となる。
【0026】
このような目詰まり検知センサ240の間にある吸引スリット241にガラスの破片である異物が吸着したような場合、ガラスの破片を誘電体と考えれば、図5で示すように対向する第1電極241、第2電極242の間に誘電体が挿入されたのと同等と見なすことができ、この場合にはアドミタンスが増大し(インピーダンスは減少し)、交流電流の振幅が大きくなる。判定処理手段400は、この交流電流の振幅の増加を検知してガラスの破片が吸引スリット210に吸着したものと判断する。
【0027】
判定処理手段400の具体的構成とは、例えば、第1電極241、第2電極242へ一定の交流電圧を印可する印可手段と、交流電流の振幅の増大という変化を検知する検知手段と、変化を検知した場合にガラスの破片である異物が吸着していることを報知する報知手段とを備えている。
【0028】
特に検知手段・報知手段は、図示しないCPU装置、A/D変換手段および出力装置で構成される。例えば、交流電流をA/D変換して交流電流データとしてCPU装置へ読み込む。この場合、前段に増幅手段を介在させて振幅の変化が十分に現れるような処理を行ってもよい。CPU装置がプログラム処理により交流電流データの振幅の増大を検知し(検知手段)、変化を検知した場合にガラスの破片である異物が吸着していることを報知する(報知手段)ように、出力装置(ディスプレイ・報知器・回転灯等)を制御する。
判定処理手段400による検知処理はこのようにして行われる。
【0029】
以上本発明の実施形態について説明した。しかしながら、本発明では各種の変形が可能である。
例えば、上記の実施形態では、除塵ヘッドは2個のエア吸引室V1,V2の間に1個のエア噴出室Pを配置した例(V−P−V構造)であるものとして説明したが、これ以外にも2個のエア噴出室の間に1個のエア吸引室を配置した例(P−V−P構造)としてもよい。
また、1個のエア噴出室の間に1個のエア吸引室を配置した例(V−P構造,P−V構造)としてもよい。
さらには、複数個のエア噴出室と複数個のエア吸引室を交互に配置した例(V−P−V−P−VというようにVとPとの繰り返し構造)としてもよい。これら構成が適宜選択される。
【0030】
また、搬送ローラ100は、基板Gの両端を渡される長いロッド状の搬送ローラとする場合と、基板Gの裏面に傷をつけることを回避するため、Gの側部のみ当接する二個の円盤状の搬送ローラ100とする場合と、二通りの態様がある。このような態様は、使用する基板Gの除塵対象面に応じて適宜選択される。
【0031】
さらに搬送ローラは他の構成と代替することが可能であり、少なくとも基板Gを搬送する機能を備えた搬送手段を採用することができる。このような搬送手段としては、各種採用することができる。
さらには搬送手段がなく、固定された基板に除塵を行うような除塵装置にも適用できる。
【0032】
さらに、V1用の目詰まり検知センサ240の第1電極241、第2電極242、および、V2用の目詰まり検知センサ250の第1電極251,第2電極252とがそれぞれ個別に判定処理手段400と接続されるようにしてもよい。
【0033】
このような本発明では、ガラスの破片以外の異物でも、誘電体として作用し、吸引スロットに吸着されるような異物ならば検出が可能である。
また、塵埃などが付着した場合に短絡することも考えられるが、塵埃は吸引スロットに確実に吸引されるため、このような考慮は不要であり、簡易な構成で利便性を高めた除塵装置用目詰まり検知装置とすることができる。
【0034】
【発明の効果】
本発明によれば、吸引スリットにガラスの破片等の異物が吸着したとき、直ちに異物の吸着を検知できるようにして基板に傷がつくような事態の発生を防止する、簡易な構成とした除塵装置用目詰まり検知装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態による除塵装置用目詰まり検知装置の構成図である。
【図2】第1,第2電極の断面図である。
【図3】除塵ヘッドのガラス対向面の構造図である。
【図4】検知原理の説明図である。
【図5】検知原理の説明図である。
【符号の説明】
100 搬送ローラ
200 除塵ヘッド
V1,V2 エア吸引室
P エア噴出室
210 V1用の吸引スロット
220 P用の噴出スロット
230 V2用の吸引スロット
240 V1用の目詰まり検知センサ
241 第1電極
241a 絶縁樹脂層
241b 導電性樹脂層
242 第2電極
242a 絶縁樹脂層
242b 導電性樹脂層
250 V2用の目詰まり検知センサ
251 第1電極
251a 絶縁樹脂層
251b 導電性樹脂層
252 第2電極
252a 絶縁樹脂層
252b 導電性樹脂層
300 導電体
400 判定処理手段
G 基板
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
In the present invention, dust, dust and the like adhering to the surface of a dust removal target (hereinafter collectively referred to as dust) are simply cleaned air, or ultrasonic air vibrated at an ultrasonic frequency (hereinafter collectively referred to as dust). The present invention relates to a clogging detection device for a dust removal device mounted on a dust removal device that scatters dust by suction with a cleaning air).
[0002]
[Prior art]
An example of a dust removal target that is conveyed to the dust removal device and removed therefrom is, for example, a plate-like glass substrate. This glass substrate is used for, for example, a TFT (thin film transistor) liquid crystal panel, a PDP (plasma display panel), or an LCD (liquid crystal display).
As a dust removing apparatus for such a substrate, for example, there are Patent Documents 1 and 2 which are patent publications disclosed by the present applicant in connection with a patent application of the present applicant.
[0003]
[Patent Document 1]
JP-A-2000-84510 (paragraph numbers 0013 to 0025, FIGS. 1 to 4)
[Patent Document 2]
JP-A-2000-210630 (paragraph numbers 0020 to 0056, FIGS. 1 to 11)
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the dust removing apparatus according to the related art, it has been confirmed that the substrate G to be transported is broken by various causes (for example, broken during vacuum suction), and glass fragments are sucked to the suction slit.
In particular, a glass substrate for a TFT liquid crystal panel is a thin substrate having a thickness of 0.3 mm to 1.1 mm, which often causes breakage.
[0005]
In this case, if the glass fragments adsorbed on the suction slit fall to the substrate for some reason, or if the adsorbed glass fragments come into contact with the substrate being transported, the surface of the substrate will be damaged and become defective. There was a risk of becoming. In the case of dropping onto a glass substrate, only one substrate is damaged, but there is a problem that contact by broken glass fragments adsorbs many glass substrates. Under such circumstances, there has been a request to immediately detect that the glass fragments have been adsorbed and to remove the glass fragments.
[0006]
However, since the dust remover is located in a clean room where the amount of dust is extremely small and there is almost no foreign matter, such a situation is not assumed and no countermeasure is taken at present.
Furthermore, although detection by a change in pressure in the suction chamber is conceivable, even if a foreign substance due to glass fragments adheres to the suction slot, the change in pressure is very small and cannot be detected by the pressure sensor.
As described above, there has been no detection method conventionally.
[0007]
Therefore, the present invention has been made to solve the above problem, and an object of the present invention is to make it possible to immediately detect the suction of a foreign substance such as a piece of glass or the like on a substrate when the foreign substance such as a piece of glass is attracted to the suction slit. An object of the present invention is to provide a clogging detection device for a dust removal device having a simple configuration that prevents occurrence of a situation that may be damaged.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the problems of the present invention, according to the clogging detection device for a dust removal device according to the first aspect of the present invention,
A dust removal head having at least one air suction chamber and one air ejection chamber is provided. Cleaning air is ejected from the ejection slit of the air ejection chamber toward the surface to be dust-removed, and the scattered dust is sucked into the suction slit of the air suction chamber. A clogging detection device mounted on the dust removal device,
A clogging detection sensor in which first and second electrodes are provided on the dust removing head on both sides of the suction slit,
Determination processing means for electrically connecting the first and second electrodes of the clogging detection sensor,
With
Detects a change in admittance caused by the foreign substance adsorbed in the suction slot acting as a dielectric between the first and second electrodes of the clogging detection sensor, and detects the foreign substance adsorbed on the suction slit by detecting the change in admittance. It is characterized in that it is determined whether or not it is.
[0009]
Further, according to the clogging detection device for a dust removal device according to the second aspect of the invention,
The clogging detection device for a dust removal device according to claim 1,
The determination processing means includes:
Application means for applying a constant AC voltage to the first electrode and the second electrode of the clogging detection sensor;
Detecting means for detecting a change of increase in admittance due to a foreign substance adsorbed in the suction slot acting as a dielectric between the first and second electrodes of the clogging detection sensor as a change of increase in amplitude of an alternating current;
Notification means for notifying that a foreign substance is adsorbed when a change is detected,
It is characterized by having.
[0010]
Further, according to the clogging detection device for a dust removal device of the invention according to claim 3,
The clogging detection device for a dust removal device according to claim 1 or 2,
In the dust removal head, a first air ejection chamber and first and second air suction chambers sandwiching the first air ejection chamber are provided side by side along a transport direction of a dust removal target, and each of the first and second air suction chambers is provided. And a clogging detection sensor is provided around the suction slit.
[0011]
Further, according to the clogging detection device for a dust removal device according to the invention of claim 4,
The clogging detection device for a dust removal device according to claim 3,
In the clogging detection sensors provided in the suction slits of the first and second air suction chambers, the first electrodes are electrically connected in series, and the second electrodes are electrically connected in series. Characterized by being connected to
[0012]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of a clogging detection device for a dust removal device according to the present invention will be described with reference to the drawings. 1 is a configuration diagram of a clogging detection device for a dust removing device according to the present embodiment, FIG. 2 is a cross-sectional view of first and second electrodes, FIG. 3 is a structural diagram of a glass facing surface of a dust removing head, and FIGS. It is an explanatory view of a detection principle.
As shown in FIG. 1, the dust removing device according to the present embodiment includes a transport roller 100 and a dust removing head 200. In this dust remover, the substrate G is transported in the direction of arrow a.
[0013]
Subsequently, each configuration will be described.
The substrate G is a specific example of a dust removal target of the present invention, and is, for example, a glass substrate used for a TFT (thin film transistor) liquid crystal panel, a PDP (plasma display panel), an LCD (liquid crystal display), or the like. As the substrate G shown in FIG. 1, only a part of the long substrate G is shown. The thickness of the substrate G is, for example, a glass substrate for a TFT liquid crystal panel as thin as 0.3 mm to 1.1 mm.
In addition, the other dust removal target includes a substrate such as a synthetic resin plate or a metal plate.
[0014]
The transport roller 100 is a roller that supports and transports the substrate G. The transport roller 100 is configured to provide a driving force for transporting the substrate G, or is configured to be rotatable so as to follow the substrate G transported by another drive source.
[0015]
The dust removing head 200 is arranged so as to be an air suction chamber V1, an air ejection chamber P, and an air suction chamber V2 along the substrate transfer direction (the direction of arrow a). The air suction chambers V1 and V2 are connected to a suction pump (not shown), and the air ejection chamber P is connected to a blower pump (not shown). In FIG. 1, the dust removing head 200 is disposed on the opposite side to the transport roller 100 side, but is disposed on the transport roller side, and blows out cleaning air from below to the lower surface of the substrate G, A dust removing head that sucks dust downward from the substrate G may be used.
[0016]
The air suction chamber V1 is provided with a suction slit 210, the air ejection chamber P is provided with an ejection slit 220, and the air suction chamber V2 is provided with a suction slit 230.
The suction slit 210 of the air suction chamber V1 is inclined toward the upstream side, in other words, toward the ejection slit 220, and the air flow ejected from the ejection slit 220 is sucked into the suction slit 230.
Similarly, the suction slit 230 of the air suction chamber V2 is inclined toward the downstream side, in other words, toward the ejection slit 220, and the air flow ejected from the ejection slit 220 is sucked into the suction slit 210.
Note that the suction slits 210 and 230 do not necessarily need to be inclined, and may be provided so as to be substantially perpendicular to the transport direction of the substrate G, although not shown.
[0017]
A clogging detection sensor 240 for V1 is formed in the suction slit 210 of the air suction chamber V1, and a clogging detection sensor 250 for V2 is formed in the suction slit 230 of the air suction chamber V2.
[0018]
In the clogging detection sensor 240 for V1, the first electrode 241 is formed on the upstream side (on the ejection slit 220 side), and the second electrode 242 is formed on the downstream side. The periphery of the suction slot 210 is formed to be concave in an arc shape, so that the area of the first electrode 241 is large and the area of the second electrode 242 is small.
[0019]
In the clogging detection sensor 250 for V2, the first electrode 251 is formed on the downstream side (the ejection slit 220 side), and the second electrode 252 is formed on the upstream side. The area around the suction slot 230 is formed to be concave in an arc shape, so that the area of the first electrode 251 is large and the area of the second electrode 252 is small.
Note that the first electrodes 241 and 251 and the second electrodes 242 and 252 may be adjusted to have the same area.
[0020]
Further, as shown in FIG. 3, the first electrode 241 and the second electrode 242 of the clogging detection sensor 240 for V1 are formed in a rectangular shape extending substantially in parallel with the longitudinal direction of the suction slot 210. The first electrode 251 and the second electrode 252 of the clogging detection sensor 250 are formed in a rectangular shape extending substantially parallel to the longitudinal direction of the suction slot 210.
[0021]
Specifically, the first electrode 241 and the second electrode 242 of the clogging detection sensor 240 for V1 have a laminated structure as shown in FIG. Taking the first electrode 241 of the clogging detection sensor 240 for V1 as an example, an insulating resin layer 241a is formed on the surface of the dust removing head 200 that is a metal body. The insulating resin layer 241a can be made of various materials, for example, a layer formed of an epoxy resin. Then, a conductive resin layer 241b is formed on the surface of the insulating resin layer 241a. The conductive resin layer 241b can be made of various materials, for example, a layer formed of a silver paste.
[0022]
The same applies to the second electrode 242 of the clogging detection sensor 240 for V1, which has a laminated structure of an insulating resin layer 242a and a conductive resin layer 242b.
The same applies to the first electrode 251 of the clogging detection electrode 250 for V2, which has a laminated structure of an insulating resin layer 251a and a conductive resin layer 251b.
The same applies to the second electrode 252 of the clogging detection electrode 250 for V2, which has a laminated structure of an insulating resin layer 252a and a conductive resin layer 252b.
[0023]
Regarding the arrangement and wiring of these electrodes, as shown in FIG. 3, the first electrode 241 of the clogging detection sensor 240 for V1 and the first electrode 251 of the clogging detection sensor 250 for V2 are electrically connected by the conductor 300. And further connected to the determination processing means 400.
Similarly, the second electrode 242 of the clogging detection sensor 240 for V1 and the second electrode 252 of the clogging detection sensor 250 for V2 are electrically connected by the conductor 300 and further connected to the determination processing means 400. You.
[0024]
Note that such a configuration can be variously modified. For example, although it has been described above that the insulating resin layers are provided separately below the first electrodes 241 and 251 and the second electrodes 242 and 252, a layer that integrally covers at least the entire lower side of the dust removal head 200 is described. It may be. In this case, a circuit pattern in which the conductive resin layer (silver paste) including the conductor 300 is integrated can be formed.
[0025]
Next, the detection principle will be described with reference to FIGS.
It should be noted that only the clogging detection sensor 240 will be described, and the clogging detection sensor 250 has the same detection principle, and a detailed description thereof will be omitted.
An AC voltage is applied from the determination processing means 400 to the opposing first electrode 241 and second electrode 242, and an AC current is flowing. The first electrode 241 and the second electrode 242 correspond to an electrode plate of a capacitor. The admittance (jωC) of this capacitor is usually a value in a state where there is no dielectric as shown in FIG.
[0026]
In the case where a foreign substance, which is a piece of glass, is attracted to the suction slit 241 between the clogging detection sensors 240, if the piece of glass is considered to be a dielectric, the opposing first electrode as shown in FIG. It can be considered that a dielectric is inserted between the first electrode 241 and the second electrode 242. In this case, admittance increases (impedance decreases) and the amplitude of the alternating current increases. The determination processing means 400 detects the increase in the amplitude of the alternating current and determines that the glass shards have adhered to the suction slit 210.
[0027]
The specific configuration of the determination processing unit 400 includes, for example, an application unit that applies a constant AC voltage to the first electrode 241 and the second electrode 242, a detection unit that detects a change in the amplitude of the AC current, and a change unit. And a notifying unit for notifying that a foreign substance, which is a piece of glass, is being adsorbed when the detection is made.
[0028]
In particular, the detection means / notification means includes a CPU device (not shown), A / D conversion means, and an output device. For example, the AC current is A / D converted and read into the CPU device as AC current data. In this case, a process in which a change in amplitude appears sufficiently may be performed with an amplifying means interposed in the preceding stage. The CPU device detects an increase in the amplitude of the alternating current data by program processing (detection means), and outputs a signal so as to notify that a foreign substance, which is a piece of glass, is adsorbed (notification means) when detecting the change. Control devices (displays, alarms, rotating lights, etc.).
The detection processing by the determination processing means 400 is performed in this manner.
[0029]
The embodiment of the invention has been described above. However, various modifications are possible in the present invention.
For example, in the above embodiment, the dust removing head is described as an example in which one air ejection chamber P is disposed between two air suction chambers V1 and V2 (VPV structure). In addition, an example in which one air suction chamber is disposed between two air ejection chambers (PVP structure) may be adopted.
Further, an example in which one air suction chamber is disposed between one air ejection chamber (VP structure, PV structure) may be adopted.
Further, an example in which a plurality of air ejection chambers and a plurality of air suction chambers are alternately arranged (a repetitive structure of V and P such as VPPVPV) may be employed. These configurations are appropriately selected.
[0030]
Further, the transport roller 100 is a long rod-shaped transport roller passing both ends of the substrate G, and two disks that contact only the side of the G in order to avoid scratching the back surface of the substrate G. There are two modes and a case where the transport roller 100 is shaped like a letter. Such an embodiment is appropriately selected according to the dust removal target surface of the substrate G to be used.
[0031]
Further, the transport roller can be replaced with another configuration, and a transport unit having at least a function of transporting the substrate G can be employed. Various types of such transfer means can be employed.
Further, the present invention can be applied to a dust removing device which does not have a transporting means and removes dust from a fixed substrate.
[0032]
Furthermore, the first electrode 241 and the second electrode 242 of the clogging detection sensor 240 for V1 and the first electrode 251 and the second electrode 252 of the clogging detection sensor 250 for V2 are individually determined processing means 400. May be connected.
[0033]
According to the present invention, even foreign substances other than glass fragments can be detected as long as they act as a dielectric substance and are attracted to the suction slot.
It is also conceivable that a short circuit may occur when dust or the like adheres. However, since dust is reliably sucked into the suction slot, such considerations are unnecessary, and a simple configuration for a dust removing device with improved convenience is provided. A clogging detection device can be provided.
[0034]
【The invention's effect】
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, when foreign substances, such as a piece of glass of a glass, adsorb | suck to a suction slit, it can detect the adsorption | suction of a foreign substance immediately and prevent the situation which damages a board | substrate from occurring. A clogging detection device for a device can be provided.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram of a clogging detection device for a dust removal device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a sectional view of first and second electrodes.
FIG. 3 is a structural diagram of a glass-facing surface of a dust removing head.
FIG. 4 is an explanatory diagram of a detection principle.
FIG. 5 is an explanatory diagram of a detection principle.
[Explanation of symbols]
100 Conveyance roller 200 Dust removal head V1, V2 Air suction chamber P Air ejection chamber 210 Suction slot 220 for V1 Squirting slot 230 for P Suction slot 240 for V2 Clogging detection sensor 241 for V1 First electrode 241a Insulating resin layer 241b Conductive resin layer 242 Second electrode 242a Insulating resin layer 242b Clogging detection sensor 251 for conductive resin layer 250 V2 First electrode 251a Insulating resin layer 251b Conductive resin layer 252 Second electrode 252a Insulating resin layer 252b Conductivity Resin layer 300 Conductor 400 Judgment processing means G Substrate

Claims (4)

少なくとも各1個のエア吸引室およびエア噴出室を有する除塵ヘッドを備え、エア噴出室の噴出スリットから除塵対象表面に向けて洗浄エアを噴出し、飛散する塵埃をエア吸引室の吸引スリットへ吸引するようにした除塵装置に搭載される目詰まり検知装置であって、
吸引スリットを挟む両側に第1,第2電極を除塵ヘッドに設けてなる目詰まり検知センサと、
目詰まり検知センサの第1,第2電極がそれぞれ電気的に接続される判定処理手段と、
を備え、
吸引スロットに吸着される異物が目詰まり検知センサの第1,第2電極間で誘電体として作用したことによるアドミタンスの変化を検知し、このアドミタンスの変化の検知により吸引スリットに異物が吸着したか否かを判定することを特徴とする除塵装置用目詰まり検知装置。
A dust removal head having at least one air suction chamber and one air ejection chamber is provided. Cleaning air is ejected from the ejection slit of the air ejection chamber toward the surface to be dust-removed, and the scattered dust is sucked into the suction slit of the air suction chamber. A clogging detection device mounted on the dust removal device,
A clogging detection sensor in which first and second electrodes are provided on the dust removing head on both sides of the suction slit,
Determination processing means for electrically connecting the first and second electrodes of the clogging detection sensor,
With
Detects a change in admittance caused by the foreign substance adsorbed in the suction slot acting as a dielectric between the first and second electrodes of the clogging detection sensor, and detects the foreign substance adsorbed on the suction slit by detecting the change in admittance. What is claimed is: 1. A clogging detection device for a dust removal device, comprising:
請求項1記載の除塵装置用目詰まり検知装置において、
前記判定処理手段は、
目詰まり検知センサの第1電極、第2電極へ一定の交流電圧を印可する印可手段と、
吸引スロットに吸着される異物が目詰まり検知センサの第1,第2電極間で誘電体として作用したことによるアドミタンスの増大という変化を、交流電流の振幅の増大という変化として検知する検知手段と、
変化を検知したときに異物が吸着していることを報知する報知手段と、
を備えることを特徴とする除塵装置用目詰まり検知装置。
The clogging detection device for a dust removal device according to claim 1,
The determination processing means includes:
Application means for applying a constant AC voltage to the first electrode and the second electrode of the clogging detection sensor;
Detecting means for detecting a change of increase in admittance due to a foreign substance adsorbed in the suction slot acting as a dielectric between the first and second electrodes of the clogging detection sensor as a change of increase in amplitude of an alternating current;
Notification means for notifying that a foreign substance is adsorbed when a change is detected,
A clogging detection device for a dust removal device, comprising:
請求項1または請求項2記載の除塵装置用目詰まり検知装置において、
前記除塵ヘッドは、第1のエア噴出室とこれを挟む第1、第2のエア吸引室とが除塵対象の搬送方向に沿って並べて設けられ、かつ第1、第2のエア吸引室のそれぞれの吸引スリットの周囲に目詰まり検知センサが設けられることを特徴とする除塵装置用目詰まり検知装置。
The clogging detection device for a dust removal device according to claim 1 or 2,
In the dust removal head, a first air ejection chamber and first and second air suction chambers sandwiching the first air ejection chamber are provided side by side along a transport direction of a dust removal target, and each of the first and second air suction chambers is provided. A clogging detection sensor is provided around the suction slit.
請求項3に記載の除塵装置用目詰まり検知装置において、
第1、第2のエア吸引室のそれぞれの吸引スリットに設けられた目詰まり検知センサは、第1電極同士がそれぞれ電気的に直列に接続され、かつ、第2電極同士がそれぞれ電気的に直列に接続されることを特徴とする除塵装置用目詰まり検知装置。
The clogging detection device for a dust removal device according to claim 3,
In the clogging detection sensors provided in the suction slits of the first and second air suction chambers, the first electrodes are electrically connected in series, and the second electrodes are electrically connected in series. A clogging detection device for a dust removal device, which is connected to the device.
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