JP2004289820A - 光学システムの性能を評価する方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】ビット誤り率試験を使用する性能評価を促進する方法及び装置の提供
【解決手段】本発明方法は、性能評価を促進するために、レーザートランスミッタの光出力を変調する試験データを生成し、前記試験データによって変調された光を前記レーザートランスミッタから出力し、光学伝送システムを介して前記変調光を受信し、前記受信した光のBERを計測し、前記レーザートランスミッタの消光比を調節し、相対的に大きな計測BER値を生成し、前記計測されたBER値から少なくとも2つの異なる消光比の値におけるQファクタを算出し、その結果から通常動作時の前記レーザートランスミッタの消光比におけるQファクタを推定によって取得し、前記レーザートランスミッタの通常動作時のBERを算出する。
【選択図】図1
【解決手段】本発明方法は、性能評価を促進するために、レーザートランスミッタの光出力を変調する試験データを生成し、前記試験データによって変調された光を前記レーザートランスミッタから出力し、光学伝送システムを介して前記変調光を受信し、前記受信した光のBERを計測し、前記レーザートランスミッタの消光比を調節し、相対的に大きな計測BER値を生成し、前記計測されたBER値から少なくとも2つの異なる消光比の値におけるQファクタを算出し、その結果から通常動作時の前記レーザートランスミッタの消光比におけるQファクタを推定によって取得し、前記レーザートランスミッタの通常動作時のBERを算出する。
【選択図】図1
Description
本発明は、光学システムの性能を評価する方法及び装置に関し、更に詳しくは(但し、これに限定されるものではないが)、ビット誤り率(BER:Bit Error Rate)試験を使用する性能評価を促進する方法及び装置に関するものである。
光学伝送システムの性能評価においては、通常、ビット誤り率(BER)試験が使用されている。BERは、一定の期間に受信された合計ビット数に対する誤って受信されたビット数の比率として定義されるものである。しかしながら、最近の光学伝送システムの場合には、通常、BER試験の実行に長時間を要しており、例えば、2.5Gb/sのビットレートで伝送されるデータの10−14のBERを評価するには、計測時間として12時間が必要とされる。一方、光学システムの性能は、Qファクタと呼ばれるパラメータによっても定義することができる。Qファクタとは、信号の信号対雑音比を示すものであり、次のように定義される。
ここで、μ1は「1」の平均値であって、μ0は「0」の平均値であり、σ1は「1」のレベルの標準偏差であって、σ0は「0」のレベルの標準偏差である。このQファクタの計測により、試験を大幅に促進することができる。そして、この試験時間の削減により、光学伝送システムの設計、製造、設置、保守、及び監視における費用及び時間面での効率と利益を享受することができる。
既に、Qファクタの算出によってBERを推定するいくつかの方法が提案されている。例えば、非特許文献1に開示されている方法によれば、試験装置のレシーバの「判定閾値」レベルを最小のBERが得られる最適値から離隔したものに調節する。この判定閾値レベルのシフトにより、計測BERが、短時間で計測可能なハイレベルなものに上昇する。次いで、この計測した大きなBER値を使用し、最適な判定閾値におけるBERを数学的に推定する。
別の周知の方法としては、「光干渉(Light Interference)」法があり、これは、非特許文献2に記述されているものである。この方法によれば、正弦波の干渉光源を伝送データ信号に結合してレシーバにおける計測BERを上昇させ、大きなBERを短時間で計測できるようにする。この結果得られるQファクタの計測値から、干渉信号が存在しない場合のBERを推定可能である。
ニールS.バーガノ(Neal S. Bergano)、F.W.カーフット(F. W. Kerfoot)、及びC.R.ダビッドソン(C. R. Davidson)著、「光学増幅器システムにおけるマージン計測(Margin Measurements in Optical Amplifier Systems)」、「IEEE Photonics Technology Letters」、第5巻第3号、1993年3月
P.パラチャーラ(P. Palacharla)、J.クロストロウスキー(J. Chrostowski)、及びR.ニューマン(R. Neumann)著、「コンピュータデータリンクにおける低ビット誤り率の計測を促進する技法(Techniques for Accelerated Measurement of Low Bit Error Rates in Computer Data Links)」、1995年3月28日〜31日のアリゾナ州スコッツデール(Scottsdale, AZ)において開催された「IEEE Fourteenth Annual International Phoenix Conference on Computers and Communications」の議事録、184〜190頁
本発明は、従来技術と比べ、ビット誤り率(BER)試験を使用する性能評価を促進する代替方法及び装置を提供しようとするものである。
従って、第1の態様において、本発明は、ビット誤り率(BER)試験を使用する光学伝送システムの評価を促進する装置を提供し、この装置は、制御可能なレーザートランスミッタと、このレーザートランスミッタを伝送データによって変調するべく制御可能なレーザートランスミッタに結合されたデータジェネレータと(制御可能なレーザートランスミッタは、評価対象である光学伝送システムに結合された出力を備えている);光学伝送システムの出力に結合されたBER計測ユニットと;制御可能なレーザートランスミッタの消光比を調節してBER計測ユニットに相対的に大きな試験BER値を提供するべく、BER計測ユニットと制御可能なレーザートランスミッタに結合されたレーザーコントローラとに結合された処理ユニットと;を有しており、この処理ユニットは、相対的に大きな計測試験BER値から、少なくとも2つの異なる消光比値におけるQファクタを算出し、その結果から通常動作時の制御可能なレーザートランスミッタの消光比におけるQファクタを推定によって取得し、これにより制御可能なレーザートランスミッタの通常動作時のBERを算出可能な計算機を含んでいる。
制御可能なレーザートランスミッタは、デジタル光信号を出力する電気的及び直接的に変調可能なレーザーダイオードであってよく、このレーザーダイオードの光出力は、伝送データによって変調される。
一実施例において、データジェネレータは、擬似ランダムビットシーケンス(PRBS:Pseudo Random Bit Sequence)ジェネレータであってよい。
光学伝送システムには、前進型誤信号訂正(FEC:Forward Error Correct)要素を含むことができる。
第2の態様によれば、本発明は、ビット誤り率(BER)試験を使用する光学伝送システムの評価を促進する方法を提供し、この方法は、レーザートランスミッタを変調するための試験データを生成する段階と;試験データによって変調された光をレーザートランスミッタから出力する段階と;光学伝送システムを介して変調光を受信する段階と;受信した光のBERを計測する段階と;レーザートランスミッタの消光比を調節して相対的に大きな計測BER値を生成する段階と;これらの計測BER値から、少なくとも2つの異なる消光比の値におけるQファクタを算出する段階と;この結果から、通常動作時のレーザートランスミッタの消光比におけるQファクタを推定によって取得する段階と;レーザートランスミッタの通常動作時のBERを算出する段階と;を有している。
データを生成する段階は、擬似ランダムビットシーケンス(PRBS)データを生成する段階を有することができる。一実施例において、この方法は、BER値の計測の前に、光学伝送システムにおける前進型誤信号訂正(FEC)の段階を更に有することができる。
レーザートランスミッタから光を出力する段階は、レーザートランスミッタのレーザーダイオードの光出力を変調し、デジタル出力光信号を提供する段階を有することができる。
本明細書においては、一例として、以下の添付の図面を参照し、本発明の2つの実施例について詳細に説明している。
図3には、一例として、レーザートランスミッタの2つの異なる消光比における光学伝送システムの2値信号のガウス確率分布が示されている。実線は、高消光比における平均「0」レベルと平均「1」レベルの分布を示しており、破線は、低消光比における分布を示している。この図からわかるように、「0」と「1」の分布の間隔は、低消光比の場合に変化し大幅に近接してはいるものの、伝送データ信号の平均パワーは、消光比の違いによって変化してはいない。即ち、レーザートランスミッタの消光比の減少と共に、光学伝送データ信号の平均パワー又はレシーバの判定閾値は変化することなく、「1」と「0」の確率分布間のオーバーラップ領域が増大しているのである。従って、消光比の減少と共に、ビット誤り率(BER)が上昇し、結果的に高いBERが計測されることになる。
図3には、一例として、レーザートランスミッタの2つの異なる消光比における光学伝送システムの2値信号のガウス確率分布が示されている。実線は、高消光比における平均「0」レベルと平均「1」レベルの分布を示しており、破線は、低消光比における分布を示している。この図からわかるように、「0」と「1」の分布の間隔は、低消光比の場合に変化し大幅に近接してはいるものの、伝送データ信号の平均パワーは、消光比の違いによって変化してはいない。即ち、レーザートランスミッタの消光比の減少と共に、光学伝送データ信号の平均パワー又はレシーバの判定閾値は変化することなく、「1」と「0」の確率分布間のオーバーラップ領域が増大しているのである。従って、消光比の減少と共に、ビット誤り率(BER)が上昇し、結果的に高いBERが計測されることになる。
図1は、光学伝送システム3の評価を促進する装置10を示している。この装置には、レーザートランスミッタ2に結合したデータパターンジェネレータ1が含まれている。このデータパターンジェネレータ1は、レーザートランスミッタ2の光出力の変調に使用される試験データの擬似ランダムビットシーケンス(PRBS)を出力する。レーザートランスミッタには、この試験データによって変調されるレーザーダイオードを含むことができる。このレーザートランスミッタ(レーザーダイオード)2の変調出力は、試験対象である光学伝送システム3内に入力される。光学伝送システム3からの出力データ信号は、BER計測ユニット4によって検出される。そして、計測されたBERが制御及び処理モジュール6に伝達される。この制御及び処理モジュール6は、試験セット全体の動作を制御すると共に、BERの計測及びQファクタの算出のために受信データを処理するべく使用される。即ち、BER計測の実行に所用する時間を削減するべく、レーザーコントローラ5を使用し、レーザートランスミッタ2からの光出力の消光比を調節する。このようにして、制御及び処理モジュール6は、レーザートランスミッタ2の消光比を制御し、BER計測ユニット4から受信したBER値、並びに関連する消光比から、最適な状態におけるシステムのBER値を判定するのである。
次に、QファクタとBER間の関係について説明する。まず、BERは次のように定義される。
ここで、p(1)、p(0)、及びp(1/0)、p(0/1)は、それぞれ、「1」レベル及び「0」レベル信号の確率と条件付(ガウス)確率を表している。
ガウス雑音システムの場合には、条件付確率は、次のように表現される。
ここで、μ1とμ0は、「1」レベル及び「0」レベル信号の平均パワーを表し、μthは、受信判定回路の閾値レベルを表し、σ1及びσ0は、それぞれ「1」レベル及び「0」レベル信号の二乗平均(rms)雑音レベルを表し、erfcは、誤差関数である。
従って、BERは、次のように表現することができる。
最小ビット誤り率(BER)は、等式(4)の2つの項が等しい場合に、最適な閾値μth−optimalにおいて生じ、これは、即ち、次の場合である。
従って、BERは、次のように表現することができる。
ここで、Qファクタは、Q=(μ1−μ0)/(σ1+σ0)として定義され、平均信号パワーは、μavg=(μ1+μ0)/2として定義され、信号の消光比は、γER=μ1/μ0として定義される。この等式(6)から、BERは、信号の消光比の観点から数学的に表現可能であることがわかる。
従って、システムを試験し、動作時におけるシステムのBERを提供するべく、レーザートランスミッタ2の消光比をレーザーコントローラ5によって低い第1の値に調節し、これにより、BER計測モジュールによって計測されるBERが大きくなるようにする。この結果、計測を相対的に短時間で実行することができる。次いで、処理モジュール6は、等式(6)を使用し、この第1の消光比値におけるQファクタを算出する。次いで、レーザーコントローラは、消光比を低い第2の値に設定し、再度、BERを計測した後に、この第2の消光比値におけるQファクタを算出する。この結果、これらの低消光比におけるQファクタ値から、格段に大きな消光比値におけるQファクタを推定することができる。処理モジュール6は、この推定を実行し、動作時の消光比値におけるQファクタを判定した後に、BERを算出する。このようにして、最小のBERを提供する最適な消光比を判定可能である。
次に、図2を参照し、本発明の第2の実施例について説明するが、この図2においては、図1と同一の要素には同一の参照符号が付加されている。この場合にも、1BERパターンジェネレータ1が、擬似ランダムビットシーケンス(PRBS)伝送データ信号をレーザートランスミッタ2に出力し、このレーザーダイオードが、PRBS伝送データによって変調された光を光学伝送システム7に出力するが、この場合には、この光学伝送システムに前進型誤信号訂正(FEC)要素が含まれている。そして、この光学伝送システム7からの出力データ信号が、BER計測ユニット4によって検出される。レーザートランスミッタ2の光出力の消光比を調節することにより、試験対象のシステムに大きなBER値を生成することができる。即ち、制御及び処理モジュール6を使用し、この作業と試験セット全体の動作を制御すると共に、受信データをBERの計測とQファクタの算出のために処理し、推定によって最適なBERを判定する。このQファクタの計測によるBER試験の促進により、FEC要素による伝送データ信号の品質の訂正及び改善方法を評価できるようになる。
この場合にも、レーザートランスミッタ2の消光比値は、光学伝送システム7を通過した後に高BERが生成されるように設定する。しかしながら、FEC要素を有する光学伝送システムの場合には、FEC要素により、第2の消光比値についても、BER計測が第1の消光比値と同様なものになるように伝送データ信号の品質が訂正及び改善されるため、第1の消光比値と異なる値に第2の消光比を設定したとしても、異なるBER計測値を提供することはできない。従って、この実施例においては、処理モジュール6が第1の消光比値において計測されるBERと実質的に異なる計測BERを受信する時点まで、レーザートランスミッタの第2の消光比をレーザーコントローラ5によって連続的に調節する。このようにして、消光比値とQファクタ間の関係を適切に判定することにより、動作時の消光比値におけるBERを推定することができる。
以上のことから、本発明を使用すれば、相対的に低い動作時のBERを備える光学伝送システムを相対的に迅速に評価可能であることが明らかであろう。
以上、本発明の2つの特定の実施例についてのみ詳細に説明したが、当業者であれば、本発明の範囲を逸脱することなく、様々な変更及び改善を実施可能であることが理解されよう。例えば、BERパターンジェネレータからのPRBSデータは、SONET/SDHなどの様々なタイプの光学伝送システムを評価するためのデータ信号を生成することができる。念のため、以下に、本発明の実施形態を列挙する。
(実施態様1)
ビット誤り率(BER)試験を使用する光学伝送システム(3)の評価を促進する装置(10)であって、
評価対象の光学伝送システム(3)に接続された出力を備える制御可能なレーザートランスミッタ(2)と、
試験伝送データによって前記レーザートランスミッタ(2)の光出力を変調するべく前記制御可能なレーザートランスミッタ(2)に接続されたデータジェネレータ(1)と、
前記光学伝送システム(3)の出力に結合されたBER計測ユニット(4)と、
前記制御可能なレーザートランスミッタ(2)の消光比を調節し、前記BER計測ユニット(4)に相対的に大きな試験BERを提供するべく、前記BER計測ユニット(4)と前記制御可能なレーザートランスミッタ(2)に結合されたレーザーコントローラ(5)とに結合された処理ユニット(6)と、
を有し、
前記処理ユニット(6)は、前記相対的に大きな計測試験BER値から、少なくとも2つの異なる消光比の値におけるQファクタを算出し、この結果から通常動作時の前記制御可能なレーザートランスミッタ(2)の消光比におけるQファクタ値を推定によって取得し、これにより、前記制御可能なレーザートランスミッタ(2)の通常動作時のBERを算出可能な計算機を備えていることを特徴とする装置。
ビット誤り率(BER)試験を使用する光学伝送システム(3)の評価を促進する装置(10)であって、
評価対象の光学伝送システム(3)に接続された出力を備える制御可能なレーザートランスミッタ(2)と、
試験伝送データによって前記レーザートランスミッタ(2)の光出力を変調するべく前記制御可能なレーザートランスミッタ(2)に接続されたデータジェネレータ(1)と、
前記光学伝送システム(3)の出力に結合されたBER計測ユニット(4)と、
前記制御可能なレーザートランスミッタ(2)の消光比を調節し、前記BER計測ユニット(4)に相対的に大きな試験BERを提供するべく、前記BER計測ユニット(4)と前記制御可能なレーザートランスミッタ(2)に結合されたレーザーコントローラ(5)とに結合された処理ユニット(6)と、
を有し、
前記処理ユニット(6)は、前記相対的に大きな計測試験BER値から、少なくとも2つの異なる消光比の値におけるQファクタを算出し、この結果から通常動作時の前記制御可能なレーザートランスミッタ(2)の消光比におけるQファクタ値を推定によって取得し、これにより、前記制御可能なレーザートランスミッタ(2)の通常動作時のBERを算出可能な計算機を備えていることを特徴とする装置。
(実施態様2)
前記データジェネレータ(1)は、擬似ランダムビットシーケンス(PRBS)ジェネレータであることを特徴とする実施態様1に記載の装置。
前記データジェネレータ(1)は、擬似ランダムビットシーケンス(PRBS)ジェネレータであることを特徴とする実施態様1に記載の装置。
(実施態様3)
前記制御可能なレーザートランスミッタ(2)は、デジタル光信号を出力する電気的及び直接的に変調可能なレーザーダイオードを有し、前記レーザーダイオードの前記光出力は、前記試験伝送データによって変調されることを特徴とする実施態様1または実施態様2に記載の装置。
前記制御可能なレーザートランスミッタ(2)は、デジタル光信号を出力する電気的及び直接的に変調可能なレーザーダイオードを有し、前記レーザーダイオードの前記光出力は、前記試験伝送データによって変調されることを特徴とする実施態様1または実施態様2に記載の装置。
(実施態様4)
前記光学伝送システム(7)は、前進型誤信号訂正(FEC)要素を具備することを特徴とする実施態様1乃至実施態様3のいずれかに記載の装置。
前記光学伝送システム(7)は、前進型誤信号訂正(FEC)要素を具備することを特徴とする実施態様1乃至実施態様3のいずれかに記載の装置。
(実施態様5)
前記レーザーコントローラ(5)は、前記制御可能なレーザートランスミッタの消光比を連続的に調節し、前記BER計測ユニットに第1の相対的に大きな試験BER値と実質的に異なる第2の相対的に大きな試験BER値を提供する連続的なコントローラを有することを特徴とする実施態様4に記載の装置。
前記レーザーコントローラ(5)は、前記制御可能なレーザートランスミッタの消光比を連続的に調節し、前記BER計測ユニットに第1の相対的に大きな試験BER値と実質的に異なる第2の相対的に大きな試験BER値を提供する連続的なコントローラを有することを特徴とする実施態様4に記載の装置。
(実施態様6)
ビット誤り率(BER)試験を使用する光学伝送システムの評価を促進する方法であって、
レーザートランスミッタの光出力を変調する試験データを生成する段階と、
前記試験データによって変調された光を前記レーザートランスミッタから出力する段階と、
光学伝送システムを介して前記変調光を受信する段階と、
前記受信した光のBERを計測する段階と、
前記レーザートランスミッタの消光比を調節し、相対的に大きな計測BER値を生成する段階と、
前記計測されたBER値から少なくとも2つの異なる消光比の値におけるQファクタを算出する段階と、
この結果から、通常動作時の前記レーザートランスミッタの消光比におけるQファクタを推定によって取得する段階と、
前記レーザートランスミッタの通常動作時のBERを算出する段階と、
を有することを特徴とする方法。
ビット誤り率(BER)試験を使用する光学伝送システムの評価を促進する方法であって、
レーザートランスミッタの光出力を変調する試験データを生成する段階と、
前記試験データによって変調された光を前記レーザートランスミッタから出力する段階と、
光学伝送システムを介して前記変調光を受信する段階と、
前記受信した光のBERを計測する段階と、
前記レーザートランスミッタの消光比を調節し、相対的に大きな計測BER値を生成する段階と、
前記計測されたBER値から少なくとも2つの異なる消光比の値におけるQファクタを算出する段階と、
この結果から、通常動作時の前記レーザートランスミッタの消光比におけるQファクタを推定によって取得する段階と、
前記レーザートランスミッタの通常動作時のBERを算出する段階と、
を有することを特徴とする方法。
(実施態様7)
前記データを生成する段階は、擬似ランダムビットシーケンス(PRBS)データを生成する段階を有することを特徴とする実施態様6に記載の方法。
前記データを生成する段階は、擬似ランダムビットシーケンス(PRBS)データを生成する段階を有することを特徴とする実施態様6に記載の方法。
(実施態様8)
前記レーザートランスミッタから光を出力する段階は、前記レーザートランスミッタのレーザーダイオードの光出力を変調し、デジタル出力光信号を提供する段階を有することを特徴とする実施態様6または実施態様7に記載の方法。
前記レーザートランスミッタから光を出力する段階は、前記レーザートランスミッタのレーザーダイオードの光出力を変調し、デジタル出力光信号を提供する段階を有することを特徴とする実施態様6または実施態様7に記載の方法。
(実施態様9)
BER値の計測の前に、前記光学伝送システムにおいて前進型誤信号訂正(FEC)の段階を更に有することを特徴とする実施態様6乃至実施態様8のいずれかに記載の方法。
BER値の計測の前に、前記光学伝送システムにおいて前進型誤信号訂正(FEC)の段階を更に有することを特徴とする実施態様6乃至実施態様8のいずれかに記載の方法。
(実施態様10)
前記レーザートランスミッタの消光比を調節する段階は、前記レーザートランスミッタの消光比を連続的に調節し、第1の相対的に大きな試験BER値と実質的に異なる第2の相対的に大きな試験BER値を提供する段階を有することを特徴とする実施態様9に記載の方法。
前記レーザートランスミッタの消光比を調節する段階は、前記レーザートランスミッタの消光比を連続的に調節し、第1の相対的に大きな試験BER値と実質的に異なる第2の相対的に大きな試験BER値を提供する段階を有することを特徴とする実施態様9に記載の方法。
1 データジェネレータ
2 レーザートランスミッタ
3,7 光学伝送システム
4 BER計測ユニット
5 レーザーコントローラ
6 処理ユニット
10 装置
2 レーザートランスミッタ
3,7 光学伝送システム
4 BER計測ユニット
5 レーザーコントローラ
6 処理ユニット
10 装置
Claims (10)
- ビット誤り率試験を使用する光学伝送システムの評価を促進する装置であって、
評価対象の光学伝送システムに接続された出力を備える制御可能なレーザートランスミッタと、
試験伝送データによって前記レーザートランスミッタの光出力を変調するべく前記制御可能なレーザートランスミッタに接続されたデータジェネレータと、
前記光学伝送システムの出力に結合されたBER計測ユニットと、
前記制御可能なレーザートランスミッタの消光比を調節し、前記BER計測ユニットに相対的に大きな試験BERを提供するべく、前記BER計測ユニットと前記制御可能なレーザートランスミッタに結合されたレーザーコントローラとに結合された処理ユニットと、
を有し、
前記処理ユニットは、前記相対的に大きな計測試験BER値から、少なくとも2つの異なる消光比の値におけるQファクタを算出し、この結果から通常動作時の前記制御可能なレーザートランスミッタの消光比におけるQファクタ値を推定によって取得し、これにより、前記制御可能なレーザートランスミッタの通常動作時のBERを算出可能な計算機を備えていることを特徴とする装置。 - 前記データジェネレータは、擬似ランダムビットシーケンスジェネレータであることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記制御可能なレーザートランスミッタは、デジタル光信号を出力する電気的及び直接的に変調可能なレーザーダイオードを有し、前記レーザーダイオードの前記光出力は、前記試験伝送データによって変調されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の装置。
- 前記光学伝送システムは、前進型誤信号訂正要素を具備することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の装置。
- 前記レーザーコントローラは、前記制御可能なレーザートランスミッタの消光比を連続的に調節し、前記BER計測ユニットに第1の相対的に大きな試験BER値と実質的に異なる第2の相対的に大きな試験BER値を提供する連続的なコントローラを有することを特徴とする請求項4に記載の装置。
- ビット誤り率試験を使用する光学伝送システムの評価を促進する方法であって、
レーザートランスミッタの光出力を変調する試験データを生成する段階と、
前記試験データによって変調された光を前記レーザートランスミッタから出力する段階と、
光学伝送システムを介して前記変調光を受信する段階と、
前記受信した光のBERを計測する段階と、
前記レーザートランスミッタの消光比を調節し、相対的に大きな計測BER値を生成する段階と、
前記計測されたBER値から少なくとも2つの異なる消光比の値におけるQファクタを算出する段階と、
この結果から、通常動作時の前記レーザートランスミッタの消光比におけるQファクタを推定によって取得する段階と、
前記レーザートランスミッタの通常動作時のBERを算出する段階と、
を有することを特徴とする方法。 - 前記データを生成する段階は、擬似ランダムビットシーケンスデータを生成する段階を有することを特徴とする請求項6に記載の方法。
- 前記レーザートランスミッタから光を出力する段階は、前記レーザートランスミッタのレーザーダイオードの光出力を変調し、デジタル出力光信号を提供する段階を有することを特徴とする請求項6または請求項7に記載の方法。
- BER値の計測の前に、前記光学伝送システムにおいて前進型誤信号訂正の段階を更に有することを特徴とする請求項6乃至請求項8のいずれかに記載の方法。
- 前記レーザートランスミッタの消光比を調節する段階は、前記レーザートランスミッタの消光比を連続的に調節し、第1の相対的に大きな試験BER値と実質的に異なる第2の相対的に大きな試験BER値を提供する段階を有することを特徴とする請求項9に記載の方法。
Applications Claiming Priority (1)
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