JP2004272299A - 液晶表示装置とその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 液晶分子の配向異常が発生せず、画質が劣化しない液晶表示装置とその製造方法を提供する。
【解決手段】 アクティブ素子の薄膜トランジスタ(TFT)が形成されたTFT基板1と、各画素に共通する電極が形成された対向基板2と、該基板間に充填して形成された液晶層115とを備えた液晶表示装置において、TFT基板1が、透明基板100と、その上に順次形成された下部遮光膜101、下地膜102、TFT、第1層間絶縁膜107、配線金属膜108、第2層間絶縁膜109、第3層間絶縁膜111、平坦化膜112、透明電極膜113、配向膜114とを備えて構成され、対向基板2が、透明基板118と、その上に順次形成された透明電極117および配向膜116とを備えて構成され、平坦化膜112が波長300nm以上の光を吸収しない透明のアクリル樹脂から構成される。
【選択図】 図1

Description

本発明は液晶表示装置とその製造方法に関し、特に、液晶分子の配向異常が生じない平坦化膜とその製造方法に関する。
液晶プロジェクタの小型化には、液晶パネルのアクティブ素子としてポリシリコン薄膜トランジスタ(Poly-silicon thin film transistor)(Poly-Si TFT) を用いるのが有利である。この理由はポリシリコン薄膜トランジスタ型液晶パネルでは、TFT素子のサイズを小さくしても十分な特性が得られ、さらに周辺駆動回路も液晶パネル内に一体化できるためである。
液晶プロジェクタに求められる性能に、投射画面の大きさと画面の明るさがある。投射画面を大きくし、さらに明るさを上げるためには、液晶パネルに強力な光を照射することが必要である。しかし、光が液晶パネルの各画素に配置されたポリシリコン薄膜トランジスタ素子に照射されると、光リーク電流が発生し、液晶画素に印加される電圧が変動する。この結果、画質が著しく低下する。また、光源から液晶パネルに照射される光以外に、液晶パネルを透過した後、レンズなどの光学系を透過する過程で生じる反射光も、同様に光リーク電流を生じさせるため、画質を著しく低下させる。
そこで、これらの光リーク電流をもたらす光からTFTを保護するために、TFTの上部および下部を金属膜(遮光膜という)で覆い、光がTFTに当たらないようにする構造がよく用いられる。
図2はTFTの上部および下部を金属膜で覆った従来の液晶表示装置のTFT部分の断面図を示す。この従来の液晶表示装置は、アクティブ素子であるTFTが形成された基板(TFT基板3という)と、各画素に共通する電極が形成された基板(対向基板4という)と、それらの基板間に充填された液晶層615とを備えて構成されている。
TFT基板3は、ガラス等の透明基板600をベース基板として、この基板上に順次形成された下部遮光膜601、絶縁性の下地膜602、ポリシリコン膜619、SiO2等のゲート絶縁膜605、ゲート電極606とを備えている。さらに、TFT基板3は、ゲート絶縁膜605上に第1層間絶縁膜607、配線金属膜608、第2層間絶縁膜609、上部遮光膜610、第3層間絶縁膜611、ITO膜(Indium Tin Oxide)からなる画素電極用の透明電極613とポリイミド樹脂等からなる配向膜614が順次形成されて構成されている。
ポリシリコン膜619の一部には、ドレイン領域603、ソース領域604形成のための不純物注入がなされており、このポリシリコン膜619とゲート電極606との交差部がTFTとなる。
一方、対向基板4は、ガラス等の透明基板618をベース基板として、この基板上に順次形成されたITO膜(Indium Tin Oxide)からなる共通電極用の透明電極617とポリイミド樹脂等からなる配向膜616とを備えて構成されている。
特開平10―90669号公報
図2に示したTFT基板3は、上記のように、光リーク電流の問題を解決するために、数多くの層から構成されている。TFT基板3の最上部層の配向膜614の表面には、下部層のパターニングの影響によって凹凸が生じている。この凹凸による段差は1μm以上になることがあり、液晶層の厚さ(3〜5μm)に対して無視できない値である。これによりリバースチルト、リバースツイストと呼ばれる液晶分子の配向状態の乱れなどが発生し、表示画質が著しく劣化することがある。
この問題を解決するために、TFT基板の透明電極の下に有機または無機材料の塗布膜を成膜し、凹凸を平坦化する手段が有効である。特開平10―90669号公報では、この平坦化を行う膜(以下、平坦化膜(smoothening film)と称す)として、感光性のアクリル樹脂(acrylic resin)を用いる例が開示されている。
ここでは、ベースポリマーとして、エポキシアクリレート、ウレタンアクリレートなどの可視光線に対して透明なアクリル樹脂を用いるのが好ましいとされている。このようなアクリル樹脂としては、380nm以下の紫外光線を吸収する感光基を有するネガ型またはポジ型のアクリル樹脂が使用され、可視光線によって平坦化膜が変色するのを防止し、パネルの透過率が低下しないようにしている。
上記の公報の技術では、アクリル樹脂の平坦化膜にコンタクトホールを形成後、平坦化膜中に残存している感光基を高エネルギーの紫外線光で分解するようにしているが、完全に分解することは難しい。
一方、プロジェクタの画面輝度を向上させるために高輝度光源が用いられるようになり、本来液晶パネルに入射する前に遮断されるはずの高輝度光源の照射光に含まれる波長300〜380nmの紫外光線もわずかながらフィルターを透過して液晶パネルに到達している。そのために、上記の公報の技術では、感光性のアクリル樹脂からなる平坦化膜中に完全に分解できずに残った感光基が、漏れて液晶パネルに到達した波長300〜380nmの紫外光線を吸収する。その結果、平坦化膜が変色したり、平坦化膜中に気泡が発生し、平坦化膜の可視光域の透過率が低下する課題があった。また、上記の公報の技術では、残存する感光基の分解に使用される高エネルギーの紫外光線で平坦化膜(アクリル樹脂)自体が変質する等の危険性を有していた。
したがって、本発明の目的は、液晶プロジェクタに使用され、液晶分子の配向異常が発生せず、画質が劣化しない平坦化膜を有する液晶表示装置とその製造方法を提供することにある。
本発明では、TFT基板のTFTの上下の少なくとも片側に遮光膜を配置し、また、TFT基板の透明電極の下に熱重合で形成した波長300nm以上の光を吸収しない透明なアクリル樹脂を用いて平坦化膜が形成される。
本発明では、この構造によりプロジェクタ等の強力な光源のフィルターから漏れた300nm以上の波長の紫外光線によっても、平坦化膜が変質したり、着色することはない。また、平坦化膜は熱重合で形成されるために、平坦化膜中に300nm以上の光を吸収する感光基も存在しない。そのために、成膜後に従来技術のような高エネルギーの紫外線光を照射処理する必要もなく、平坦化膜が高エネルギーの紫外線光で損傷して気泡が発生することがない。
また、本発明では、光がTFTへ入射して、画質を劣化させることがなく、さらに、複数の遮光膜を積層することにより生じた凹凸が平坦化膜で緩和され、液晶分子の配向異常が生じない。これによりリバースツイスト、リバースチルトの発生が防止される。
本発明では、TFT基板のTFTの上下の少なくとも片側に遮光膜を配置し、また、TFT基板の透明電極の下に熱重合で形成した波長300nm以上の光を吸収しない透明なアクリル樹脂を用いて平坦化膜が形成されことによって次に効果が得られる。(1)プロジェクタ等の強力な光源のフィルターから漏れた300nm以上の波長の紫外光線によっても、平坦化膜が変質したり、着色することはない。また、平坦化膜は熱重合で形成されるために、平坦化膜中に300nm以上の光を吸収する感光基も存在しない。そのために、成膜後に従来技術のような高エネルギーの紫外線光を照射処理する必要もなく、平坦化膜が高エネルギーの紫外線光で損傷して気泡が発生することがない。(2)光がTFTへ入射して、画質を劣化させることがなく、さらに、複数の遮光膜を積層することにより生じた凹凸が平坦化膜で緩和され、液晶分子の配向異常が生じない。これによりリバースツイスト、リバースチルトの発生が防止される。
次に本発明の実施の形態の液晶表示装置について図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の実施の形態の液晶表示装置のTFT部分の断面図である。
図1を参照すると、本発明の液晶表示装置は、アクティブ素子のTFTが形成された基板(TFT基板1という)と、各画素に共通する電極が形成された基板(対向基板2という)と、それらの基板の間に充填して形成された液晶層115とを備えて構成される。
TFT基板1は、ガラス等の透明基板100をベース基板として、この基板上に順次形成された下部遮光膜101、絶縁性の下地膜102、ポリシリコン膜119、ゲート絶縁膜105、ゲート電極106とを備えている。
TFT基板1は、さらにゲート電極106を含むゲート絶縁膜105上に順次形成された第1層間絶縁膜107、配線金属膜108、第2層間絶縁膜109、上部遮光膜110、第3層間絶縁膜111とを備えている。さらに第3層間絶縁膜111上には、第3層間絶縁膜111の表面を平坦化する絶縁膜(平坦化膜112という)、画素電極用の透明電極113と配向膜114が順次形成され、TFT基板1が構成されている。
ポリシリコン膜119の一部には、ドレイン領域103、ソース領域104形成のための不純物注入がなされており、このポリシリコン膜119とゲート電極106との交差部がTFTとなる。
一方、対向基板2は、ガラス等の透明基板118をベース基板として、この基板上に順次形成された共通電極用の透明電極117と配向膜116を備えて構成されている。
透明電極113および117の材料としてはITO膜(Indium Tin Oxide膜)が使用され、スパッタリング法等によって形成される。
下部遮光膜101は、透明基板100側から入射する光がTFTに照射されるのを防止するものであり、その材料としては、W,WSi,Ti,Ta,Mo等の高融点金属やそれらの金属の合金などの高温プロセスに耐え得る材料が使用される。例えば下部遮光膜101としてWSiを使用する場合には、スパッタリング法等により厚さ100nm以上に形成される。
下地膜102は、透明基板100や下部遮光膜101に由来する不純物によりポリシリコン膜119が汚染されるのを防止するものあり、その材料としてはSiO2が使用され、CVD法等によって厚さ200nm以上形成される。
ドレイン領域103、ソース領域104はポリシリコン膜に燐(P)(N型TFTの場合)またはホウ素(B)(P型TFTの場合)をイオン注入して形成される。ポリシリコン膜は減圧CVD法や、アモルファスシリコン膜を熱あるいはレーザーで溶解させ再結晶化することによって形成することができ、通常50〜100nmの厚さに形成される。
ゲート絶縁膜105としてはSiO2膜やSiN膜が使用され、CVD法等によって厚さ50nm以上に形成される。ゲート電極106としてはWSi、ポリシリコン、Al等を使用することができる。例えば、WSiを使用する場合には、スパッタリング法によって厚さ100nm以上成膜し、パターニングされて形成される。
ポリシリコン膜119、ゲート絶縁膜105およびゲート金属膜106により、TFTまたは蓄積容量が決定される。
第1層間絶縁膜107、第2層間絶縁膜109、第3層間絶縁膜111の各層間絶縁膜は、SiO2またはSiN等の絶縁膜で構成され、通常、CVD法によって200nm以上の厚さに形成される。
配線金属膜108は映像信号を画素に伝達する配線であり、その材料としてはAlやAl合金が使用され、スパッタリング等によって成膜されてパターニングされる。上部遮光膜110は、液晶層115側からTFTに光が入射するのを防止し、スパッタリング法等によって形成されたAlやCr等の金属膜が使用される。例えば、Alを使用した場合には、スパッタリング法によって厚さ200nm以上成膜される。なお、上部遮光膜110は省くことができる。
透明電極113は、液晶115の層に電圧を印加するためのものである。図2において、ドライエッチング法によって平坦化膜112の表面から第2層間絶縁膜109、第3層間絶縁膜111を貫通して配線金属膜108の表面まで達するホールが形成されている。このホールには透明電極113と同じ材料の導電膜が形成されている。透明電極113は、ホールの導電膜と配線金属膜108を介してTFTのドレイン領域103と接続している。なお、透明電極113は、配線金属膜108を介せずに直接ドレイン領域103に接続されることがある。
配向膜114および配向膜116は、液晶分子を所与の方向に配向させるための膜であり、ポリイミド樹脂などの有機絶縁性樹脂が使用され、転写印刷法やスピンコート法によって形成され、通常100nm程度の厚さに形成される。
平坦化膜112は第3層間膜111の表面に生じた凹凸を平坦化させるための膜である。平坦化膜112の材料として、波長が300nm以上の光を吸収しない透明樹脂が使用される。この透明樹脂としてはアクリル樹脂が用いられ、第3層間膜111上にスピンコート法により塗布されて平坦化膜が形成される。なお、平坦化膜112は厚さ2〜4μmに形成される。
アクリル樹脂としては、下記の式(1)または(2)で表される繰り返し単位を有する重合体や式(3)で表されるアセトキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデシルアクリレート−3,4−エポキシトリシクロ[5.2.1.02,6]デシルアクリレートまたは式(4)で表されるポリ(アセトキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデシルアクリレート−2−エポキシノルボルニルアクリレート)の材料を使用して成膜される。
Figure 2004272299
(ただし、上記式(1)において、R1は水素原子またはメチル基、R2は橋かけ環式炭化水素基を有するアルキレン基、R3は水素原子またはアルキル基を表わす。)
Figure 2004272299
(ただし、上記式(2)において、R1、R4、R6は水素原子またはメチル基、R2 は橋かけ環式炭化水素基を有するアルキレン基、R3は水素原子またはアルキル基を表わし、R5はエポキシ基を有するアルキル基、R7は水素原子またはアルキル基を表わし、x+y+z=1、0<x≦1、0≦y<1、0≦z<1であり、重合体の重合平均分子量は500〜500,000である。)
Figure 2004272299
Figure 2004272299
平坦化膜112は、上記式(1)〜(4)で表される材料と加熱により酸を発生する熱潜在性触媒とを有機溶媒に溶解した溶液を第3層間絶縁膜111上にスピンコート法等によって塗布し、熱重合することによって成膜される。熱重合温度は120℃以上が適当であるが、より好ましい温度は150℃以上である。有機溶媒としては、トルエン、キシレン、酢酸エチル、酢酸ブチル、プロピレグリコールモノメチルエーテルアセテート等などがあげられるがこれらに限定されるものではない。
熱潜在性触媒としては、例えば、下記式(5)で表される2−オキソシクロヘキシルメチル(2−ノルボルニル)スルホニウムトリフレート、式(6)で表されるシクロヘキシルメチル(2−オキソシクロヘキシル)スルホニウムトリフレート等を使用できる。
Figure 2004272299
Figure 2004272299
熱潜在性触媒の添加量は、特に限定されないが、通常、樹脂100重量部に対して0.5〜5重量部が適当である。
本発明では、TFT基板のTFTの上下の少なくとも片側に遮光膜を配置し、また、TFT基板の透明電極の下に熱重合で形成した波長300nm以上の光を吸収しない透明なアクリル樹脂を用いて平坦化膜が形成される。本発明では、この構造によりプロジェクタ等の強力な光源のフィルターから漏れた300nm以上の波長の紫外光線によっても、平坦化膜が変質したり、着色することはない。また、平坦化膜は熱重合で形成されるために、平坦化膜中に300nm以上の光を吸収する感光基も存在しない。そのために、成膜後に従来技術のような高エネルギーの紫外線光を照射処理する必要もなく、平坦化膜が高エネルギーの紫外線光で損傷して気泡が発生することがない。
また、本発明では、光がTFTへ入射して、画質を劣化させることがく、さらに、複数の遮光膜を積層することにより生じた凹凸が平坦化膜で緩和され、液晶分子の配向異常が生じない。これによりリバースツイスト、リバースチルト等の問題が起こりにくい。
以下、実施例について本発明をさらに具体的に説明する。
(実施例1)図2と同様の液晶表示装置を作製した。ただし、TFT基板の平坦化膜としては、上記の式(1)で表される材料として下記式(7)で表される材料を使用し、これと上記式(5)で表される熱潜在性触媒の2−オキソシクロヘキシルメチル(2−ノルボルニル)スルホニウムトリフレートとをプロピレグリコールモノメチルエーテルアセテートに溶解してなる溶液を調製した。この溶液を第1の基板上の第3層間膜表面に回転・塗布し、150℃以上で熱重合させてアクリル樹脂からなる透明な厚さ約3μmの平坦化膜を形成した。
Figure 2004272299
TFTの上下に遮光膜を配置したので、光がTFTへ入射して、画質を劣化させることがなかった。さらに、複数の遮光膜を積層することにより生じた凹凸が平坦化膜で緩和され、液晶分子の配向異常が生じなかった。これによりリバースツイスト、リバースチルト等の問題が起こりにくかった。また、波長が300nm以上の紫外光を吸収しないアクリル樹脂を用いて平坦化膜を作製したので、プロジェクタ等の強力な光が照射される環境下でも、平坦化膜に変質、着色、気泡等が発生することがなかった。(実施例2)実施例1と同様の液晶表示装置を作製した。ただし、TFT基板の平坦化膜としては、実施例1の式(7)で表される材料と上記式(6)で表される熱潜在性触媒のシクロヘキシルメチル(2−オキソシクロヘキシル)スルホニウムトリフレートとをプロピレグリコールモノメチルエーテルアセテートに溶解してなる溶液を調製した。この溶液を第1の基板上の第3層間膜表面に回転・塗布し、150℃以上で熱重合させてアクリル樹脂からなる透明な厚さ約3μmの平坦化膜を形成した。本実施例においても、実施例1と同様の効果が認められた。
(実施例3)実施例1と同様の液晶表示装置を作製した。ただし、TFT基板の平坦化膜としては、上記の式(2)で表される材料として下記式(8)で表される材料を使用し、これと上記式(5)で表される熱潜在性触媒の2−オキソシクロヘキシルメチル(2−ノルボルニル)スルホニウムトリフレートとをプロピレグリコールモノメチルエーテルアセテートに溶解してなる溶液を調製した。この溶液を第1の基板上の第3層間膜表面に回転・塗布し、150℃以上で熱重合させてアクリル樹脂からなる透明な厚さ約3μmの平坦化膜を形成した。本実施例においても、実施例1と同様の効果が認められた。
Figure 2004272299
(実施例4)実施例1と同様の液晶表示装置を作製した。ただし、TFT基板の平坦化膜としては、実施例3の式(8)で表される材料と上記式(6)で表される熱潜在性触媒のシクロヘキシルメチル(2−オキソシクロヘキシル)スルホニウムトリフレートとをプロピレグリコールモノメチルエーテルアセテートに溶解してなる溶液を調製した。この溶液を第1の基板上の第3層間膜表面に回転・塗布し、150℃以上で熱重合させてアクリル樹脂からなる透明な厚さ約3μmの平坦化膜を形成した。本実施例においても、実施例1と同様の効果が認められた。
(実施例5)実施例1と同様の液晶表示装置を作製した。ただし、TFT基板の平坦化膜としては、上記の式(3)で表されるアセトキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデシルアクリレート−3,4−エポキシトリシクロ[5.1.2.02,6]デシルアクリレートと上記式(5)で表される熱潜在性触媒の2−オキソシクロヘキシルメチル(2−ノルボルニル)スルホニウムトリフレートとをプロピレグリコールモノメチルエーテルアセテートに溶解してなる溶液を調製した。この溶液を第1の基板上の第3層間膜表面に回転・塗布し、150℃以上で熱重合させてアクリル樹脂からなる透明な厚さ約3μmの平坦化膜を形成した。本実施例においても、実施例1と同様の効果が認められた。
(実施例6)実施例1と同様の液晶表示装置を作製した。ただし、TFT基板の平坦化膜としては、上記の式(3)で表されるアセトキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデシルアクリレート−3,4−エポキシトリシクロ[5.2.1.02,6]デシルアクリレートと上記式(6)で表される熱潜在性触媒のシクロヘキシルメチル(2−オキソシクロヘキシル)スルホニウムトリフレートとを酢酸ブチルに溶解してなる溶液を調製した。この溶液を第1の基板上の第3層間膜表面に回転・塗布し、150℃以上で熱重合させてアクリル樹脂からなる透明な厚さ約3μmの平坦化膜を形成した。本実施例においても、実施例1と同様の効果が認められた。
(実施例7)実施例1と同様の液晶表示装置を作製した。ただし、TFT基板の平坦化膜としては、上記の式(4)で表されるポリ(アセトキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデシルアクリレート−2−エポキシノルボルニルアクリレート)と上記式(5)で表される熱潜在性触媒の2−オキソシクロヘキシルメチル(2−ノルボルニル)スルホニウムトリフレートとをプロピレグリコールモノメチルエーテルアセテートに溶解してなる溶液を調製した。この溶液を第1の基板上の第3層間膜表面に回転・塗布し、150℃以上で熱重合させてアクリル樹脂からなる透明な厚さ約3μmの平坦化膜を形成した。本実施例においても、実施例1と同様の効果が認められた。
(実施例8)実施例1と同様の液晶表示装置を作製した。ただし、TFT基板の平坦化膜としては、上記の式(4)で表されるポリ(アセトキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデシルアクリレート−2−エポキシノルボルニルアクリレート)と上記式(6)で表される熱潜在性触媒のシクロヘキシルメチル(2−オキソシクロヘキシル)スルホニウムトリフレートとをプロピレグリコールモノメチルエーテルアセテートに溶解してなる溶液を調製した。この溶液を第1の基板上の第3層間膜表面に回転・塗布し、150℃以上で熱重合させてアクリル樹脂からなる透明な厚さ約3μmの平坦化膜を形成した。本実施例においても、実施例1と同様の効果が認められた。
本発明の実施の形態の液晶表示装置のTFT部分の断面図である。 従来の液晶表示装置のTFT部分の断面図である。
符号の説明
1,3 TFT基板
2,4 対向基板
100,118,600,618 透明基板
101,601 下部遮光膜
102,602 下地膜
103,603 ドレイン領域
104,604 ソース領域
105,605 ゲート絶縁膜
106,606 ゲート電極
107,607 第1層間絶縁膜
108,608 配線金属膜
109,609 第2層間絶縁膜
110,610 上部遮光膜
111,611 第3層間絶縁膜
112 平坦化膜
113,117,613,617 透明電極
114,116,614,616 配向膜
115,615 液晶層
119,619 ポリシリコン膜

Claims (16)

  1. アクティブ素子の薄膜トランジスタ(TFT)が形成されたTFT基板と、各画素に共通する電極が形成された対向基板と、それらの基板の間に充填して形成された液晶層とを備え、前記TFT基板が、第1の透明基板と、その上に順次形成された第1の遮光膜、下地膜、TFT、第1層間絶縁膜、配線金属膜、第2層間絶縁膜、第3層間絶縁膜、平坦化膜、第1の透明電極膜、第1の配向膜とを備え、前記対向基板が、第2の透明基板と、その上に順次形成された第2の透明電極および第2の配向膜とを備え、前記平坦化膜が波長300nm以上の光を吸収する感光基を有しないアクリル樹脂から構成されることを特徴とする液晶表示装置。
  2. 前記アクリル樹脂が、下記式(1)で表わされる繰り返し単位を有する重合体から作製された樹脂であることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
    Figure 2004272299

    (ただし、R1は水素原子およびメチル基のいずれか一方、R2は橋かけ環式炭化水素基を有するアルキレン基、R3は水素原子およびアルキル基のいずれか一方を表わす。)
  3. 前記アクリル樹脂が、下記式(2)で表わされる繰り返し単位を有する重合体から作製された樹脂であることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
    Figure 2004272299

    (ただし、R1 、R4 、R6 は水素原子およびメチル基のいずれか一方、R2は橋かけ環式炭化水素基を有するアルキレン基、R3は水素原子およびアルキル基のいずれか一方を表わし、R5はエポキシ基を有するアルキル基、R7は水素原子およびアルキル基のいずれか一方を表わし、x+y+z=1、0<x≦1、0≦y<1、0≦z<1であり、重合体の重合平均分子量は500〜500,000である。)
  4. 前記アクリル樹脂が、下記式(3)で表わされるアセトキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデシルアクリレート−3,4−エポキシトリシクロ[5.2.1.02,6]デシルアクリレートから作製された樹脂であることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
    Figure 2004272299
  5. 前記アクリル樹脂が、下記式(4)で表わされるポリ(アセトキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデシルアクリレート−2−エポキシノルボルニルアクリレート)から作製された樹脂であることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
    Figure 2004272299
  6. 前記TFT基板が前記第2層間膜と前記第3層間絶縁膜の間に第2の遮光膜を有することを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
  7. アクティブ素子の薄膜トランジスタ(TFT)が形成されたTFT基板と、各画素に共通する電極が形成された対向基板と、それらの基板の間に充填して形成された液晶層とを備えた液晶表示装置の製造方法であって、前記TFT基板が、第1の透明基板上に第1の遮光膜、下地膜、TFT、第1層間絶縁膜、配線金属膜、第2層間絶縁膜、第3層間絶縁膜、平坦化膜、第1の透明電極膜、第1の配向膜とを順次形成して作製され、前記対向基板が、第2の透明基板上に第2の透明電極および第2の配向膜とを順次形成して作製され、前記平坦化膜が波長300nm以上の光を吸収する感光基を有しないアクリル樹脂から作製されることを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
  8. 前記アクリル樹脂が、下記式(1)で表わされる繰り返し単位を有する重合体と加熱により酸を発生せしめる熱潜在性触媒とを有機溶媒に溶解してなる溶液を前記第3の層間膜表面に塗布して熱重合することにより形成されることを特徴とする請求項7記載の液晶表示装置の製造方法。
    Figure 2004272299

    (ただし、R1は水素原子およびメチル基のいずれか一方、R2は橋かけ環式炭化水素基を有するアルキレン基、R3は水素原子およびアルキル基のいずれか一方を表わす。)
  9. 前記アクリル樹脂が、下記式(2)で表わされる繰り返し単位を有する重合体と加熱により酸を発生せしめる熱潜在性触媒とを有機溶媒に溶解してなる溶液を前記第3の層間膜表面に塗布して熱重合することにより形成されることを特徴とする請求項7記載の液晶表示装置の製造方法。
    Figure 2004272299

    (ただし、R1 、R4 、R6 は水素原子およびメチル基のいずれか一方、R2は橋かけ環式炭化水素基を有するアルキレン基、R3は水素原子およびアルキル基のいずれか一方を表わし、R5はエポキシ基を有するアルキル基、R7は水素原子およびアルキル基のいずれか一方を表わし、x+y+z=1、0<x≦1、0≦y<1、0≦z<1であり、重合体の重合平均分子量は500〜500,000である。)
  10. 前記アクリル樹脂が、下記式(3)で表わされるアセトキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデシルアクリレート−3,4−エポキシトリシクロ[5.2.1.02,6]デシルアクリレートと加熱により酸を発生せしめる熱潜在性触媒とを有機溶媒に溶解してなる溶液を前記第3の層間絶縁膜表面に塗布して熱重合することにより形成されることを特徴とする請求項7記載の液晶表示装置の製造方法。
    Figure 2004272299
  11. 前記アクリル樹脂が、下記式(4)で表わされるポリ(アセトキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデシルアクリレート−2−エポキシノルボルニルアクリレート)と加熱により酸を発生せしめる熱潜在性触媒とを有機溶媒に溶解してなる溶液を前記第3の層間絶縁膜表面に塗布して熱重合することにより形成されることを特徴とする請求項7記載の液晶表示装置の製造方法。
    Figure 2004272299
  12. 前記アクリル樹脂が、下記式(1)で表わされる繰り返し単位を有する重合体と、加熱により酸を発生せしめる熱潜在性触媒である2−オキソシクロヘキシルメチル(2−ノルボルニル)スルホニウムトリフレートおよびシクロヘキシルメチル(2−オキソシクロヘキシル)スルホニウムトリフレートから選ばれた一つとを有機溶媒に溶解してなる溶液を前記第3の層間絶縁膜表面に塗布して熱重合することにより形成されることを特徴とする請求項7記載の液晶表示装置の製造方法。
    Figure 2004272299

    (ただし、R1は水素原子およびメチル基のいずれか一方、R2は橋かけ環式炭化水素基を有するアルキレン基、R3は水素原子およびアルキル基のいずれか一方を表わす。)
  13. 前記アクリル樹脂が、下記式(2)で表わされる繰り返し単位を有する重合体と、加熱により酸を発生せしめる熱潜在性触媒である2−オキソシクロヘキシルメチル(2−ノルボルニル)スルホニウムトリフレートおよびシクロヘキシルメチル(2−オキソシクロヘキシル)スルホニウムトリフレートから選ばれた一つとを有機溶媒に溶解してなる溶液を前記第3の層間絶縁膜表面に塗布して熱重合することにより形成されることを特徴とする請求項7記載の液晶表示装置の製造方法。
    Figure 2004272299

    (ただし、R1 、R4 、R6 は水素原子およびメチル基のいずれか一方、R2は橋かけ環式炭化水素基を有するアルキレン基、R3は水素原子およびアルキル基のいずれか一方を表わし、R5はエポキシ基を有するアルキル基、R7は水素原子およびアルキル基のいずれか一方を表わし、x+y+z=1、0<x≦1、0≦y<1、0≦z<1であり、重合体の重合平均分子量は500〜500,000である。)
  14. 前記アクリル樹脂が、下記式(3)で表わされるアセトキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデシルアクリレート−3,4−エポキシトリシクロ[5.2.1.02,6]デシルアクリレートと、加熱により酸を発生せしめる熱潜在性触媒である2−オキソシクロヘキシルメチル(2−ノルボルニル)スルホニウムトリフレートおよびシクロヘキシルメチル(2−オキソシクロヘキシル)スルホニウムトリフレートから選ばれた一つとを有機溶媒に溶解してなる溶液を前記第3の層間絶縁膜表面に塗布して熱重合することにより形成されることを特徴とする請求項7記載の液晶表示装置の製造方法。
    Figure 2004272299
  15. 前記アクリル樹脂が、下記式(4)で表わされるポリ(アセトキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデシルアクリレート−2−エポキシノルボルニルアクリレート)と、加熱により酸を発生せしめる熱潜在性触媒である2−オキソシクロヘキシルメチル(2−ノルボルニル)スルホニウムトリフレートおよびシクロヘキシルメチル(2−オキソシクロヘキシル)スルホニウムトリフレートから選ばれた一つとを有機溶媒に溶解してなる溶液を前記第3の層間絶縁膜表面に塗布して熱重合することにより形成されることを特徴とする請求項7記載の液晶表示装置の製造方法。
    Figure 2004272299
  16. 前記第2層間膜と前記第3層間絶縁膜の間に第2の遮光膜が形成され、前記透明樹脂とてアクリル樹脂を使用することを特徴する請求項7に記載の液晶表示装置の製造方法。
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