JP2004272202A - 偏光板、円偏光板、楕円偏光板 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 ホウ酸で硬膜したポリビニルアルコールからなる偏光子に保護膜を貼合し、該偏光子を標準物質としてホウ酸飽和水溶液を用い、11B−NMRで測定したときに、−3ppmおよび11ppmに化学シフトが観測され、かつ化学シフト−3ppmのピーク強度を11ppmのピーク強度で除した値が4以上である偏光板。
【選択図】 なし
Description
偏光子は、ヨウ素および/または二色性染料、ホウ素化合物、およびポリビニルアルコール(以下、PVA)が主要な構成素材である。ヨウ素および/または二色性染料を高度に配向することにより吸収2色性が発現し、透過光の直線偏光化が可能になるが、PVAは高度に配向したヨウ素および/または二色性染料の媒体として機能し、延伸によりヨウ素および/もしくは二色性染料と同じ方向に配向している。ホウ素化合物はPVAを架橋することにより、PVAの配向状態、さらにヨウ素および/もしくは二色性染料の配向状態を安定化する機能を担っている。
近年、液晶表示装置のサイズが大型化するに伴い、偏光子の経時での収縮に基づく色ムラや色ヌケが問題になっている。大型液晶表示装置における色ムラや色ヌケを改善するため、偏光子の薄膜化により収縮力を低下させる方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)
従来、偏光板の耐久性の改良法としては、ホウ素化合物水溶液処理を2回以上にわたって行う方法(特許文献2)、延伸後ホウ酸処理し、さらにZn含浸処理を行う方法(特許文献3)、ノルボルネン系保護膜を使用する方法(例えば、特許文献4)などが提案されている。しかしながら、特許文献2や3に記載された方法は、薄膜偏光子の湿熱耐久性の改良効果が乏しく、また、ノルボルネン系樹脂を保護膜に使用する方法は、偏光子との貼合が容易でなく、またコストアップを伴うため好ましくないことが、本発明者の検討により判明した。
2. 偏光子の膜厚が8μm以上18μm以下であることを特徴とする前記1記載の偏光板。
3. 偏光子のホウ素化合物含有量が200kg/m3以上350kg/m3未満であることを特徴とする前記2に記載の偏光板。
4. 前記偏光子が、膜厚が20μm以上60μm以下のポリビニルアルコールフィルムを延伸して得られることを特徴とする前記3記載の偏光版。
5. 前記偏光子が、膜厚が60μm以上120μm以下のポリビニルアルコールフィルムを延伸することにより得られる偏光子であって、偏光子の吸収軸と保護膜の遅相軸の交差角が10°以上90°以下であることを特徴とする前記2または3に記載の偏光板。
6. 前記1〜5のいずれかに記載の偏光板に位相差フィルムが貼り合わされていることを特徴とする楕円偏光板。
7. 請求項1〜5のいずれかに記載の偏光板にλ/4板が貼り合わされていることを特徴とする円偏光板。
8. (a)前記1から5のいずれかに記載の偏光板に、液晶性分子から形成された光学補償フィルムが貼り合わされており、
(b)該光学補償フィルムが、水平配向した棒状液晶性化合物を含む第1光学異方性層および第2光学異方性層の二層を含み、
(c)第1光学異方性層および第2光学異方性層に含まれる棒状液晶性化合物の少なくともいずれかが下記一般式(I)で表され、
(d)第1光学異方性層の測定波長550nmにおける位相差が実質的にπであり、第2光学異方性層の測定波長550nmにおける位相差が実質的にπ/2であり、そして
(e)第2光学異方性層の面内の遅相軸と第1光学異方性層の面内の遅相軸との角度が60±5゜である、
ことを特徴とする円偏光板。
一般式(I):Q1−L1−A1−L3−M−L4−A2−L2−Q2
上記一般式(I)中:
Q1およびQ2は、それぞれ独立に、重合性基を表す。
L1、L2、L3およびL4は、それぞれ独立に、単結合または二価の連結基を表し、かつL3およびL4の少なくとも一方が−O−CO−O−基を表す。
A1およびA2は、炭素原子数2から20を有するスペーサー基を表す。
Mはメソゲン基を表す。
11B−NMR(ホウ素NMR)測定観測される−3ppmの化学シフトは、PVAの水酸基と水素結合によって形成される架橋点の数がホウ素原子一つ当たり4個であるホウ素原子に基づくものであり、一方、11ppmの化学シフトは架橋点の数がホウ素原子一つ当たり3個であるホウ素原子に基づくものである(J. Non-Cryst. Solids, 5(2003)239-255.)。PVAをホウ素化合物により架橋したときに、どの様な架橋構造を形成するかは、よく知られており、例えば「偏光板の応用」永田良編、CMC出版に記載されている。PVA鎖はホウ素化合物架橋により延伸後の配向構造を安定化(固定化)され、結果的に偏光子中で配向したPVA鎖に包摂された多ヨウ素イオン錯体の安定性が向上する。
本発明者らの知見によれば、架橋点の数がホウ素原子一つ当たり4個であるときのホウ素原子数が架橋点の数がホウ素原子一つ当たり3個であるホウ素原子数よりも多い方が、初期の光学性能(特に上述の偏光子中に含まれるPVAの配向状態)が向上し、偏光子の耐久性が優れたものとなる。本発明では、化学シフト−3ppmのピーク強度を11ppmのピーク強度で除した値が4以上と特定し、偏光子の耐久性を図っている。本発明ではこれを四架橋点比率と定義する。化学シフト−3ppmのピーク強度を化学シフト11ppmのピーク強度で除した値は、好ましくは5以上、さらに好ましくは6以上である。
化学シフトの強度比は、偏光子を得るための延伸工程において、後述する倍率以上に延伸することにより、上記範囲とすることができる。
本発明者らの知見によれば、大型液晶表示装置における色ムラや色ヌケを改善するためには、偏光子の収縮力を低下させるために、偏光子の膜厚を18μm以下とすることが好ましいが、偏光子の膜厚を8μm以下にすると、偏光度および単板透過率を維持することが困難になる。従って、偏光子膜厚は8μm以上18μm以下であることが好ましい。偏光子の膜厚を8μm以上18μm以下とするためには、原反として使用するポリビニルアルコール系フィルムの膜厚を縦一軸延伸の場合には、20μm以上60μm以下とすることが好ましく、横一軸または斜め延伸する場合は、60μm以上120μm以下とすることが好ましい。
一方、偏光子を18μm以下とすると、上記PVAの配向状態が悪化しやすくなるなどの耐久性に問題が生じるが、偏光子のホウ素化合物含有量を200kg/m3以上350kg/m3未満とすることで顕著に耐久性を改善することが可能である。ホウ素化合物含有量は硬膜液中のホウ素化合物濃度や硬膜時間、硬膜液の温度により上記範囲とすることができる。
PVAは、ポリ酢酸ビニルをケン化したものであるが、例えば不飽和カルボン酸、不飽和スルホン酸、オレフィン類、ビニルエーテル類のような酢酸ビニルと共重合可能な成分を含有しても構わない。また、アセトアセチル基、スルホン酸基、カルボキシル基、オキシアルキレン基等を含有する変性PVAも用いることができる。
PVAを二色性分子で染色・配向して偏光子が得られるが、染色工程は気相または液相吸着により行われる。液相で行い、二色性分子としてヨウ素を用いる場合には、ヨウ素−ヨウ化カリウム水溶液にPVAフィルムを浸漬させて染色が行われる。ヨウ素は0.1〜20g/l、ヨウ化カリウムは1〜200g/l、ヨウ素とヨウ化カリウムの質量比は1〜200が好ましい。染色時間は10〜5000秒が好ましく、液温度は5〜60℃が好ましい。
染色方法としては浸漬だけでなく、ヨウ素あるいは染料溶液の塗布あるいは噴霧等、任意の手段が可能である。染色工程は、後述する延伸工程の前後いずれに置いても良いが、適度に膜が膨潤され延伸が容易になることから、延伸工程前に液相で染色することが特に好ましい。
ヨウ素の他に二色性色素で染色することも好ましい。二色性色素の具体例としては、例えばアゾ系色素、スチルベン系色素、ピラゾロン系色素、トリフェニルメタン系色素、キノリン系色素、オキサジン系色素、チアジン系色素、アントラキノン系色素等の色素系化合物をあげることができる。水溶性のものが好ましいが、この限りではない。また、これらの二色性分子にスルホン酸基、アミノ基、水酸基などの親水性置換基が導入されていることが好ましい。二色性分子の具体例としては、例えばシー.アイ.ダイレクト.イエロー12、シー.アイ.ダイレクト.オレンジ39、シー.アイ.ダイレクト.オレンジ72、シー.アイ.ダイレクト.レッド39、シー.アイ.ダイレクト.レッド79、シー.アイ.ダイレクト.レッド81、シー.アイ.ダイレクト.レッド83、シー.アイ.ダイレクト.レッド89、シー.アイ.ダイレクト.バイオレット48、シー.アイ.ダイレクト.ブルー67、シー.アイ.ダイレクト.ブルー90、シー.アイ.ダイレクト.グリーン59、シー.アイ.アシッド.レッド37等が挙げられ、さらに特開昭62−70802号、特開平1−161202号、特開平1−172906号、特開平1−172907号、特開平1−183602号、特開平1−248105号、特開平1−265205号、特開平7−261024号、の各公報記載の色素等が挙げられる。これらの二色性分子は遊離酸、あるいはアルカリ金属塩、アンモニウム塩、アミン類の塩として用いられる。これらの二色性分子は2種以上を配合することにより、各種の色相を有する二色性分子を製造することができる。偏光素子または偏光板として偏光軸を直交させた時に黒色を呈する化合物(色素)や黒色を呈するように各種の二色性分子を配合したものが単板透過率、偏光率とも優れており好ましい。
本発明では、縦一軸延伸、横一軸延伸、斜め延伸のいずれも好ましく使用することができる。縦一軸延伸は、ロール間の周速差を用いてフィルムの長手方向に延伸する方法が好ましく、一段式、多段式のいずれも実施可能である。横一軸延伸は、原反をテンタークリップには辞してテンター延伸を用いて横方向に一軸延伸する方法が好ましく使用される。斜め延伸は、特開2002-086554号に記載された斜め延伸テンター機を使用する方法が好ましい。延伸は、染色液や硬膜液中で行われても良いし、延伸後、染色液や硬膜液に浸漬してもよい。延伸を空気中で行う場合は、目的に応じて任意の温度および湿度を使用することができる。好ましい延伸倍率は縦一軸延伸の場合、5倍以上であり、さらに好ましくは6倍以上である。横一軸延伸および斜め延伸の場合、好ましい延伸倍率は、4.5倍以上であり、さらに好ましくは4.8倍以上である。
本発明では、PVAフィルムを延伸して偏光子を製造する過程で、PVAフィルムにホウ素化合物を含む硬膜剤を添加して硬膜(架橋)させることを好ましく行うことができる。
ホウ素化合物としては、米国再発行特許第232897号に記載のもの、具体的にはホウ酸、ホウ砂が好ましく使用できるが、ホウ酸が最も好ましく用いられる。また、硬膜剤に亜鉛、コバルト、ジルコニウム、鉄、ニッケル、マンガン等の金属塩を添加することもできる。
硬膜剤の付与を行う時期は特に限定されるものではなく、延伸の前に行ってもよいし、延伸の後に行ってもよい。また、硬膜剤を添加した後に、洗浄・水洗工程を設けてもよい。
ホウ素化合物含有水溶液中のホウ素化合物の量は特に限定されるものではない。例えば水100質量部に対してホウ素化合物2〜15質量部程度であり、好ましくは水100質量部に対して3〜10質量部程度である。
該ホウ素化合物含有水溶液にヨウ化カリウムを1質量%以上5質量%以下含有していることが好ましい。ホウ素化合物含有水溶液中のヨウ化カリウム含有量が1質量%未満と少ないと、偏光板の短波長域での光透過率が上昇するが、多ヨウ素イオンの生成量が少なくなり長波長側吸収が低下して黄色化するなど色相調整が困難となる。ヨウ化カリウム含有量が5質量%を超えて多いと偏光板の短波長域での光透過率が低下する。
なお、浸漬処理の条件としては、ホウ素化合物含有水溶液での浸漬処理温度は好ましくは32℃〜80℃、より好ましくは35℃〜72℃である。処理時間は好ましくは60秒〜1200秒である。
本発明では、偏光子中のホウ素化合物の含有量が200Kg/m3以上350Kg/m3未満であることが好ましく、より好ましくは250Kg/m3以上310Kg/m3未満である。
偏光子は、両面あるいは片面に接着剤層あるいは粘着剤層を介して保護膜を貼り付けることで、偏光板として用いられる。保護膜の種類は特に限定されず、セルロースアセテート、セルロースアセテートブチレート等のセルロースアシレート類、ポリカーボネート、ポリオレフィン、ポリスチレン、ポリエステル等を用いることができる。偏光板の保護膜には、透明性、適度な透湿度、低複屈折性、適度な剛性といった物性が求められ、総合的にみるとセルロースアシレート類が好ましく、特にセルロースアセテートが好ましい。
無論、本発明への適用は、以上の値に限定されるものではない。
(II) :2.0≦A'≦3.0
(III) :0≦B'≦0.8
(IV) :1.9<A'−B'
ここで、A及びBはセルロースの水酸基に置換されているアシル基の置換基を表し、A'はアセチル基の置換度、またB'は炭素原子数3〜5のアシル基の置換度である。セルロースには1グルコース単位に3個の水酸基があり、上記の数字はその水酸基3個に対する置換度を表すもので、最大の置換度が3.0である。セルローストリアセテートは一般にAの置換度A'が2.6以上3.0以下であり(この場合、置換されなかった水酸基が最大0.4もある)、B'=0の場合がセルローストリアセテートである。偏光板保護膜として用いるセルロースアシレートは、アシル基が全部アセチル基のセルローストリアセテート、及びアセチル基が2.0以上で、炭素原子数が3〜5のアシル基が0.8以下、置換されなかった水酸基が0.4以下のものが好ましい。炭素原子数3〜5のアシル基の場合、0.3以下が物性の点から特に好ましい。なお、置換度は、セルロースの水酸基に置換する酢酸及び炭素原子数3〜5の脂肪酸の結合度を測定し、計算によって得られる。測定方法としては、ASTMのD−817−91に準じて実施することが出来る。
DP=[η]/Km (式中DPは粘度平均重合度、Kmは定数6×10-4)
その他のカルボン酸エステルの例には、オレイン酸ブチル、リシノール酸メチルアセチル、セバシン酸ジブチル、トリメチルトリメリテート等のトリメリット酸エステルが含まれる。グリコール酸エステルの例としては、トリアセチン、トリブチリン、ブチルフタリルブチルグリコレート、エチルフタリルエチルグリコレート、メチルフタリルエチルグリコレート、ブチルフタリルブチルグリコレートなどがある。
吸収波長の異なる複数の吸収剤を複合して用いることが、広い波長範囲で高い遮断効果を得ることができ、特に好ましい。紫外線吸収剤の量はセルロースアシレートに対し0.01〜5質量%が好ましく、0.1〜3質量%が特に好ましい。紫外線吸収剤はセルロースアシレート溶解時に同時に添加しても良いし、溶解後のドープに添加しても良い。特にスタティックミキサ等を用い、流延直前にドープに紫外線吸収剤溶液を添加する形態が好ましい。
機能層は偏光子側に設けても良いし、偏光子と反対面に設けても良く、目的に応じ適宜に選択できる。
本発明の偏光板に粘着層、接着層を介して液晶性分子から形成された位相差フィルムを貼り合わせることにより、円偏光板及び楕円偏光板を得ることもできる。
上記の円偏光板に直線偏光を入射した際に、測定波長の400〜70mm、好ましくは400〜780mmおいていずれの波長でもほぼ完全な円偏光とすること、反対に完全な円偏光を積層位相差フィルムに入射した際に測定波長の400〜700nmにおいていずれの波長でもほぼ完全な直線偏光を得ることができる。
楕円偏光板は、λ/4およびλ/2板と上記偏光板とを、これらλ/4およびλ/2板の面内の遅相軸と偏光子の吸収軸(偏光軸)とがなす角度が実質的に75°あるいは15゜になるように貼り合わせることにより得ることもできる。実質的に75゜とは、70〜80゜の範囲にあることであり、好ましくは73゜ないし78゜、さらに好ましくは74゜〜76゜の範囲である。実質的に15゜とは、11〜19゜の範囲にあることであり、好ましくは13゜ないし17゜、さらに好ましくは14゜〜16゜の範囲である。
(楕円偏光板)
以下、位相差フィルムが貼り合わされた楕円偏光板について説明する。なお、以下単に楕円偏光板と称するときは、各々この位相差フィルムが張り合わされるタイプの偏光板を指す。
ディスコティック液晶性分子から形成された光学補償フィルムの好ましい実施形態としては、透明基材フィルム上に、配向層とディスコティック液晶性分子から形成された光学異方性層とが積層されたものが挙げられる。ディスコティック液晶性分子から形成された光学補償フィルムを使用する場合には、偏光板と貼合するのではなく、偏光子と貼合した、所謂、一体化した形態で使用することが好ましい。
このタイプの楕円偏光板の構成の好ましい一例として、透明基材フィルム上に配向層、
光学異方性層、および前記偏光子、保護膜(この偏光子と保護膜とから上記偏光板が構成
されている)がこの順序に積層されている例を挙げることができるが、これに限定されな
い。上記例において、偏光子の吸収軸と光学異方性層の遅相軸とがなす角度は実質的に平
行であることが好ましい。
本発明の楕円偏光板を構成する光学補償フィルムは、液晶性化合物からなる光学異方性層を有することが好ましい。また、この液晶性化合物はディスコティック化合物(ディスコティック液晶)が好ましく用いられる。
ディスコティック液晶の例としては、C.Destradeらの研究報告、Mol.Cryst.71巻、111頁(1981年)に記載されているベンゼン誘導体、C.Destradeらの研究報告、Mol.Cryst.122巻、141頁(1985年)、Physics lett,A,78巻、82頁(1990)に記載されているトルキセン誘導体、B.Kohneらの研究報告、Angew.Chem.96巻、70頁(1984年)に記載されたシクロヘキサン誘導体及びJ.M.Lehnらの研究報告、J.Chem.Commun.,1794頁(1985年)、J.Zhangらの研究報告、J.Am.Chem.Soc.116巻、2655頁(1994年)に記載されているアザクラウン系やフェニルアセチレン系マクロサイクルなどを挙げることができる。
ディスコティック液晶は、一般的にこれらを分子中心の母核とし、直鎖のアルキル基やアルコキシ基、置換ベンゾイルオキシ基等がその直鎖として放射線状に置換された構造であり、液晶性を示す。ただし、分子自身が負の一軸性を有し、一定の配向を付与できるものであれば上記記載に限定されるものではない。
上記ディスコティック液晶の好ましい例は特開平8−50206号公報に記載されている。
本発明で用いられる配向膜の好ましい例としては、特開平9−152509号公報に記載の配向膜が挙げられる。
上記透明基材フィルムとしてのセルロースアセテートフィルムとしては、前記で詳述した保護膜用のセルロースアセテートフィルムを用いることができる。また、後記する円偏光板に用いられる透明基材フィルムも用いることができる。なかでも、酢化度が59.0〜61.5%であるセルロースアセテートが好ましい。厚みは、20〜200μmが好ましい。
以上説明した楕円偏光板は、液晶セル複屈折の視野角特性を光学的に補償する機能を有し、液晶表示装置の視野角拡大などに好ましく用いられる。
本発明の円偏光板は、上記偏光板とλ/4板とを貼り合わせて成る。好ましくは、
(a)上記偏光板に、液晶性分子から形成された光学補償フィルムが貼り合わされており、
(b)該光学補償フィルムが、水平配向した棒状液晶性化合物を含む第1光学異方性層および第2光学異方性層の二層を含み、
(c)第1光学異方性層および第2光学異方性層に含まれる棒状液晶性化合物の少なくともいずれかが下記一般式(I)で表され、
(d)第1光学異方性層の測定波長550nmにおける位相差が実質的にπであり、第2光学異方性層の測定波長550nmにおける位相差が実質的にπ/2であり、そして
(e)第2光学異方性層の面内の遅相軸と第1光学異方性層の面内の遅相軸との角度が60±5゜の円偏光板である。
さらに、偏光子の吸収軸と透明基材フィルムの長手方向のなす角は45°であり、棒状液晶性化合物はそれぞれ水平に配向している。棒状液晶性化合物の長軸方向が、光学異方性層(第1および第2)の面内の遅相軸に相当する。
一般式(I):Q1−L1−A1−L3−M−L4−A2−L2−Q2
上記一般式(I)中:
Q1およびQ2は、それぞれ独立に、重合性基を表す。
L1、L2、L3およびL4は、それぞれ独立に、単結合または二価の連結基
を表し、かつL3およびL4の少なくとも一方が−O−CO−O−基を表す。
A1およびA2は、炭素原子数2から20を有するスペーサー基を表す。
Mはメソゲン基を表す。
本発明の円偏光板では、第1光学異方性層および第2光学異方性層の少なくともどちらか一方に水平配向した棒状液晶性化合物として上記一般式(I)の棒状液晶性化合物を用いる。
以下に重合性棒状液晶化合物について説明する。
一般式(I)中、Q1およびQ2は、それぞれ独立に、重合性基である。重合性基の重合反応は、付加重合(開環重合を含む)または縮合重合であることが好ましい。即ち、重合性基は、付加重合反応または縮合重合反応が可能な官能基であることが好ましい。以下に重合性基の例を示す。
Q1とL1またはQ2とL2の組み合わせで表される基のうち、CH2=CH−CO−O−、CH2=C(CH3)−CO−O−、およびCH2=C(Cl)−CO−O−が好ましく、もっとも好ましくはCH2=CH−CO−O−である。
Mで表されるメソゲン基としては、すべての公知のメソゲン基を使用することが出来る。特に、下記一般式(II)で表される基が好ましい。
一般式(II):−(−W1−L5)n−W2−
以上のような低分子液晶性分子だけではなく、高分子液晶性分子も用いることができる。棒状液晶性分子を重合によって配向を固定することがより好ましく、重合性棒状液晶性分子としては、Makromol. Chem., 190巻、2255頁(1989年)、Advanced Materials 5巻、107頁(1993年)、米国特許4683327号、同5622648号、同5770107号、世界特許(WO)95/22586号、同95/24455号、同97/00600号、同98/23580号、同98/52905号、特開平1−272551号、同6−16616号、同7−110469号、同11−80081号、および特願2001−64627号などに記載の化合物を用いることができる。
2層の光学異方性層は、まず、棒状液晶性化合物および下記の重合開始剤や他の添加剤を含む第1光学異方性層用塗布液を、透明基材フィルム上の配向膜の上に塗布し、次にこの第1光学異方性層上に同様の組成を有する第2光学異方性層用塗布液を塗布することで形成できる。
この際、第1光学異方性層の面内の遅相軸と透明基材フィルムの長手方向との角度を左手30゜±5°または右手30゜±5°となるように、そして第2光学異方性層の面内の遅相軸と第1光学異方性層の面内の遅相軸との角度が左手60゜±5°または右手60゜±5°となるように、光学異方性層に含まれる上記棒状液晶性化合物を配向させるのが好ましい。なお、第1光学異方性層の面内の遅相軸と、第2光学異方性層の面内の遅相軸とをこのような関係にする方法としては、公知の方法を用いることができるが、第1光学異方性層の表面をラビング処理し、その上に第2光学異方性層用塗布液を塗布して第2光学異方性層を形成することができる。
重合性棒状液晶化合物のホモジニアス配向(水平配向)においては配向膜側では水平であるものの空気界面側では傾斜(チルト)配向してしまう。この現象を抑えるためには添加剤を用いることが好ましいが、下記式(V-1)〜(V-3)で表される添加剤を用いるのが特に好ましい。
棒状液晶性化合物を配向させるためには配向膜を用いることが好ましい。配向膜は、有機化合物(好ましくはポリマー)のラビング処理、無機化合物の斜方蒸着、マイクログループを有する層の形成、あるいはラングミュア・ブロジェット法(LB膜)による有機化合物(例えば、ω−トリコ酸、ジオクタデシルジメチルアンモニウムクロリド、ステアリル酸メチルなど)の累積のような手段で設けることが出来る。さらに電場の付与、磁場の付与あるいは光照射により配向機能が生じる配向膜も知られている。ポリマーのラビング処理により形成する配向膜がとくに好ましい。ラビング処理はポリマー層の表面を紙や布で一定方向に数回こすることにより実施する。
配向膜に使用するポリマーの種類は,液晶性化合物の配向(特に平均傾斜角)に応じて決定する。
液晶化合物を水平に配向させるためには配向膜の表面エネルギーを低下させないポリマー(通常の配向用ポリマー)を用いる。具体的なポリマーの種類については液晶セルまたは光学補償シートについて種々の文献に記載がある。
いずれの配向膜においても、液晶化合物と透明支持体の密着性を改善する目的で、重合性基を有することが好ましい。重合性基は、側鎖に重合性基を有する繰り返し単位を導入するか、あるいは、環状基の置換基として導入することができる。界面で液晶性化合物と化学結合を形成する配向膜を用いることがより好ましく、かかる配向膜としては特開平9−152509号公報に記載されている。
配向膜の厚さは0.01乃至5μmであることが好ましく、0.05乃至1μmであることがさらに好ましい。
なお、配向膜を用いて棒状液晶性化合物を配向させてから、その配向状態のまま棒状液晶性化合物を固定して光学異方性層を形成し、光学異方性層のみを偏光子(または透明支持体)上に転写してもよい。
配向状態の固定された棒状液晶性化合物は、配向膜がなくても配向状態を維持することができる。そのため、本発明の円偏光板では、配向膜は(λ/4板の製造において必須ではあるが)必須ではない。
透明基材フィルムとしては、波長分散が小さいポリマーフイルムを用いることが好ましい。透明基材フィルムは、光学異方性が小さいことも好ましい。基材が透明であるとは、光透過率が80%以上であることを意味する。波長分散が小さいとは、具体的には、Re400/Re700の比が1.2未満であることが好ましい。光学異方性が小さいとは、具体的には、面内レターデーション(Re)が20nm以下であることが好ましく、10nm以下であることがさらに好ましい。長尺状の透明基材フィルムは、ロール状の形状を有し、ロール状の透明基材フィルムを用いて、光学異方性層を積層してから、必要な大きさに切断することが好ましい。ポリマーの例には、セルロースエステル、ポリカーボネート、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン、ポリアクリレートおよびポリメタクリレートが含まれる。セルロースエステルが好ましく、アセチルセルロースがさらに好ましく、トリアセチルセルロースが最も好ましい。ポリマーフイルムは、ソルベントキャスト法により形成することが好ましい。透明基材フィルムの厚さは、20乃至500μmであることが好ましく、50乃至200μmであることがさらに好ましい。
透明基材フィルムとその上に設けられる層(接着層、垂直配向膜あるいは光学異方性層)との接着を改善するため、透明基材フィルムに表面処理(例、グロー放電処理、コロナ放電処理、紫外線(UV)処理、火炎処理)を実施してもよい。透明基材フィルムの上に、接着層(下塗り層)を設けてもよい。
以上説明した本発明の円偏光板は、非偏光を円偏光にする特性を有し、反射型液晶表示装置や半透過型液晶表示装置などに好ましく用いられる。
平均重合度2400、けん化度99.9%以上のPVA粉体を純水に溶解して12質量%になるように調整した水溶液を、ポリエステルフィルム上に塗布して40℃、3時間乾燥した後、さらに110℃、60分乾燥を行ない、厚さ50μmのPVAフィルムを得た。得られたフィルムを30℃の温水で1分間膨潤させ、30℃のヨウ化カリウム/ヨウ素(質量比10:1)の水溶液に浸漬して2倍に縦一軸延伸した。ヨウ化カリウム/ヨウ素(質量比10:1)の水溶液の濃度は、ヨウ素濃度0.38質量%とした。次いで、52℃の4.25%のホウ酸水溶液中で、総延伸倍率が7倍になるように縦一軸延伸し、30℃の水浴に浸漬して水洗し、50℃、4分間乾燥し、厚さ15μmの偏光子を得た。
この後、PVA膜の両面に、PVA((株)クラレ製 PVA−124)4%水溶液を接着剤として、保護膜(ケン化処理した富士写真フイルム(株)製フジタック(セルローストリアセテート、レターデーション値3.0nm、膜厚80μm))を貼り合わせ、さらに70℃で30分間加熱して偏光板Aを作製した。
偏光板Aを2×5cmにサンプルカットし、島津自記分光光度計UV3100にて透過率を測定した。2枚の偏光板吸収軸を一致させて重ねた場合の透過率をH0(%)、吸収軸を直交させて重ねた場合の透過率をH1(%)として、次式により偏光度P(%)を求めた。
P=〔(H0−H1)/(H0+H1)〕1/2×100
また、単板透過率は1枚のサンプルを用い、400〜700nmの透過率を視感度補正して求めた。
偏光板Aの単板透過率は43.2%、偏光度は99.97%であった。
偏光板Aの保護膜を剥離し、アスコルビン酸水溶液(0.1質量%)で抽出した液を希釈し(20倍)、ICP−AESにて測定した。偏光板Aのホウ酸含有量は260kg/m3であった。
保護膜を両面除去(クロロホルム膨潤)し、短冊状にカットして、7mm径ローターに詰めた。Brucker社製固体NMR(300MHz)を用いて11B−NMR測定(MAS法、回転3000Hz、パルス1.0μsec)を行った。得られたNMRスペクトルの化学シフト−3ppmのピーク強度(s)および11ppmのピーク強度(t)の比(s/t)からホウ酸の4架橋点比率を算出したところ7.2だった。
平均重合度が2400、膜厚75μmのPVAフィルムをヨウ素0.1質量%、ヨウ化カリウム12質量%の水溶液に40℃にて70秒浸漬した。さらにホウ酸4.25質量%、ヨウ化カリウム3.5質量%の水溶液に50℃にて90秒浸漬後、フィルムの両面から、余剰水分を除去し、テンター延伸機に導入した。
該テンター延伸機にて、搬送速度を4m/分、温度65℃湿度98%雰囲気下で5.0倍に延伸した後、幅を一定に保ち、72.5℃で4分乾燥した。この後、テンターより離脱し、幅方向から3cm、カッターにて耳きりをし、PVA膜の両面に、PVA((株)クラレ製 PVA−124H)4%水溶液を接着剤として、保護膜(ケン化処理した富士写真フイルム(株)製フジタック(セルローストリアセテート、レターデーション値3.0nm、膜厚80μm))を貼り合わせ、さらに70℃で10分間加熱して偏光板Bを作製した。偏光板Bの偏光子の厚さは16μm、ホウ酸含有量は305kg/m3であり、ホウ酸の4架橋点比率は6.9だった。偏光子の吸収軸方向と保護膜の遅相軸の交差角は90°だった。
平均重合度が1700、膜厚75μmのPVAフィルムをヨウ素0.1質量%、ヨウ化カリウム10質量%の水溶液に40℃にて80秒浸漬した。さらにホウ酸4質量%、ヨウ化カリウム3質量%の水溶液に50℃にて90秒浸漬後、フィルムの両面から、余剰水分を除去し、特開2002-086554号の図2に記載の斜め延伸テンター機に導入した。
該斜め延伸テンター機にて、搬送速度を4m/分、温度65℃湿度98%雰囲気下で5.0倍に延伸した後、幅を一定に保ち、72.5℃で4分乾燥した。この後、テンターより離脱し、幅方向から3cm、カッターにて耳きりをし、PVA膜の両面に、PVA((株)クラレ製 PVA−124H)4%水溶液を接着剤として、保護膜(ケン化処理した富士写真フイルム(株)製フジタック(セルローストリアセテート、レターデーション値3.0nm、膜厚80μm))を貼り合わせ、さらに70℃で10分間加熱して偏光板Cを作製した。偏光板Cの偏光子の厚さは17μm、ホウ酸含有量は280kg/m3であり、ホウ酸の4架橋点比率は6.0だった。偏光子の吸収軸方向と保護膜の遅相軸の交差角は45°だった。
<実施例1−4.比較用偏光板Dの作製>
ホウ酸水溶液の濃度を4.25%、温度を55℃とした以外は、実施例1−1と同様にして比較用偏光板Dを作製した。
原反膜厚を75μmとした以外は、実施例1-1と同様にして比較用偏光板Eを作製した。
前述の偏光板A〜Cおよび比較用偏光板D、Eを、下記2種類の恒温恒湿槽に入れて耐久試験を行い、試験後の単板透過率および
偏光度を測定した。
(1)ウェット耐久性:80℃90%RH環境下、24時間放置
(2)ドライ耐久性:100℃ドライ環境下、24時間放置
結果を表1に示す。
直鎖アルキル変性PVA(MP−203、クラレ(株)製)30gに水130g、メタノール40gを加えて攪拌、溶解した後、孔径30μmのポリプロピレン製フィルターでろ過して、配向層用塗布液を調製した。
一方、ゼラチン薄膜(0.1μm)の下塗り層を有する100μmの厚さの支持体であるトリアセチルセルロースフイルム(富士写真フイルム(株)製)を用意し、この支持体上に、上記配向層用塗布液をバーコーターを用いて塗布した。塗布後、60℃で乾燥した後、MD方向にラビング処理を行って、厚さ0.5μmの配向層を形成した。
次いで、液晶性ディスコティック化合物として下記構造の化合物LC−1を1.6g、フェノキシジエチレングリコールアクリレート(M−101、東亜合成(株)製)0.4g、セルロースアセテートブチレート(CAB531−1、イーストマンケミカル社製)0.05g及び光重合開始剤(イルガキュア−907、チバガイギー社製)0.01gを3.65gのメチルエチルケトンに溶解した後、孔径1μmのポリプロピレン製フィルターでろ過して、光学異方性層用塗布液を調製した。
前述の実施例1−1、1−4、1−5において、延伸後70℃で4分乾燥した後、PVA膜の両面に、PVAを接着剤として保護膜を貼り合わせる工程を以下の工程に置き換えた。すなわち、延伸後70℃で4分乾燥した後、PVA膜の両面に、PVA(前述のPVA−124A)を接着剤として一方の面をケン化処理した保護膜(富士写真フイルム(株)製フジタック、セルローストリアセテート、レターデーション値3.0nm、膜厚80μm)を、他方の面をけん化処理した光学補償フィルムAを用いて貼り合わせ、さらに70℃で30分間加熱した。この際、光学補償フィルムAの配向層のラビング方向が偏光子の延伸方向と一致するように、また光学異方性層が形成されている側と反対側の支持体面が偏光子と貼合されるようにして本発明の楕円偏光板Aおよび、比較用楕円偏光板DよびEを作製した。
前述の実施例1−2において、保護膜の一方をけん化処理した光学補償フィルムAに変更した以外は、実施例1−2と同様にして楕円偏光板Bを作製した。この際、光学補償フィルムAの配向層のラビング方向が偏光子の延伸方向と一致するように、また光学異方性層が形成されている側と反対側の支持体面が偏光子と貼合されるようにした。
前述の実施例1−3において、保護膜の一方をけん化処理した光学補償フィルムAに変更した以外は、実施例1−3と同様にして楕円偏光板Cを作製した。この際、光学補償フィルムAの配向層のラビング方向が偏光子の延伸方向と一致するように、また光学異方性層が形成されている側と反対側の支持体面が偏光子と貼合されるようにした。
前述の楕円偏光板A〜Eにおいて、富士写真フィルム(株)製フジタックの替わりに市販の防眩性反射防止フィルム((株)サンリッツ製)を用いて楕円偏光板A'〜E'を作製した。
図1に示すように、楕円偏光板Aを透過型液晶表示装置の液晶セル5〜9を挟持する2枚の偏光板1、22のうちのバックライト側の下偏光板22として、楕円偏光板A'を上偏光板1として、いずれも視野角補償フィルムの光学異方性層3、20を、接着剤を介して液晶セルの電極基板5、8に貼合して透過型の液晶表示装置Iを作製した。なお、液晶セルは30インチ用のものを用いた。
楕円偏光板をB〜Eに変更した以外は同様にして、透過型の液晶表示装置II〜Vを作製した。
(液晶表示装置の光漏れ評価)
作製した液晶表示装置を40℃、30%RHで1ヶ月間の使用したのち、液晶表示装置のバックライトを点灯させ、1時間後に全面を黒表示にして、光漏れを目視で観察した。下記の4段階評価を行った。
◎:光洩れなし
○:四辺の縁にわずかに光洩れあり
△:四辺の縁にはっきりとした光洩れあり
×:フィルム中央近くまで光洩れあり
平均重合度が2400、膜厚75μmのPVAフィルムの両面をイオン交換水に浸漬して洗浄した後、該PVAフィルムをヨウ素1.0g/L、ヨウ化カリウム120.0g/Lの水溶液に25℃にて60秒浸漬した。さらにホウ酸75g/L、ヨウ化カリウム30g/Lの水溶液に45℃にて90秒浸漬後、フィルムの両面から、余剰水分を除去し、図2の形態のテンター延伸機に導入した。
テンター延伸機にて、搬送速度を4m/分として送出し、温度60℃湿度98%雰囲気下で5.0倍に延伸した後、幅を一定に保ち、70℃で4分乾燥した。
この後、PVA膜の両面に、PVA((株)クラレ製 PVA−124H)4%水溶液を接着剤として、保護膜(ケン化処理した富士写真フイルム(株)製フジタック(セルローストリアセテート、レターデーション値3.0nm、膜厚80μm))を貼り合わせ、さらに70℃で30分間加熱した。この後、テンターより離脱し、幅方向から3cm、カッターにて耳きりをし、有効幅500mm、長さ50m、偏光子の厚さ15μmのロール形態の偏光板Fを作製した。
偏光板Fを2×5cmにサンプルカットし、島津自記分光光度計UV3100にて透過率を測定した。2枚の偏光板吸収軸を一致させて重ねた場合の透過率をH0(%)、吸収軸を直交させて重ねた場合の透過率をH1(%)として、次式により偏光度P(%)を求めた。
P=〔(H0−H1)/(H0+H1)〕1/2×100
また、単板透過率は1枚のサンプルを用い、400〜700nmの透過率を視感度補正して求めた。
偏光板Aの単板透過率は43.2%、偏光度は99.97%であった。
偏光板Fの保護膜を剥離し、アスコルビン酸水溶液(0.1質量%)で抽出した液を希釈し(20倍)、ICP−AESにて測定した。偏光板Aのホウ酸含有量は300Kg/m3であった。
保護膜を両面除去(クロロホルム膨潤)し、短冊状にカットして、7mm径ローターに詰めた。Brucker社製固体NMR(300MHz)を用いて11B−NMR測定(MAS法、回転3000Hz、パルス1.0μsec)を行った。得られたNMRスペクトルの化学シフト−3ppmのピーク強度(s)および11ppmのピーク強度(t)の比(s/t)からホウ酸の4架橋点比率を算出したところ7.2だった。
平均重合度が2400、膜厚75μmのPVAフィルムの両面をイオン交換水に浸漬して洗浄した後、該PVAフィルムをヨウ素1.0g/L、ヨウ化カリウム120.0g/Lの水溶液に25℃にて60秒浸漬した。さらにホウ酸42g/L、ヨウ化カリウム30g/Lの水溶液に25℃にて90秒浸漬後、フィルムの両面から、余剰水分を除去し、図1の形態のテンター延伸機に導入した。
テンター延伸機にて、搬送速度を4m/分として送出し、温度60℃湿度98%雰囲気下で4.0倍に延伸した後、幅を一定に保ち、70℃で4分乾燥した。
この後、PVA膜の両面に、PVA((株)クラレ製PVA−124H)4%水溶液を接着剤として、保護膜(ケン化処理した富士写真フイルム(株)製フジタック(セルローストリアセテート、レターデーション値3.0nm、膜厚80μm))を貼り合わせ、さらに70℃で30分間加熱した。この後、テンターより離脱し、幅方向から3cm、カッターにて耳きりをし、有効幅500mm、長さ50mのロール形態の比較用偏光板Gを作製した。
前述の偏光板Fおよび比較用偏光板Gを、下記2種類の恒温恒湿槽に入れて耐久試験を行い、試験後の単板透過率および偏光度を測定した。
(1)ウェット耐久性:80℃90%RH環境下、24時間放置
(2)ドライ耐久性:100℃ドライ環境下、24時間放置
結果を表1に示す。
(第1光学異方性層の形成)
厚さ80μm、幅680mm、長さ500mの光学的に等方性のトリアセチルセルロースフィルム(酢化度60.9%)を透明支持体として用いた。この透明支持体の両面をケン化処理した後、下記組成の配向膜塗布液を透明支持体の片面に連続的に塗布、乾燥し、厚さ1μmの配向膜を形成した。次いで、透明支持体の長手方向に対し左手30°の方向に連続的に配向膜上にラビング処理を実施した。
下記の変性ポリビニルアルコール 10質量%
水 371質量%
メタノール 119質量%
グルタールアルデヒド 0.5質量%
棒状液晶性化合物(例示化合物 I−2) 38.1質量%
下記の増感剤 0.38質量%
下記の光重合開始剤 1.14質量%
下記の添加剤 0.38質量%
グルタールアルデヒド 0.04質量%
メチルエチルケトン 60.0質量%
上記で作製した第1光学的異方性層の遅相軸に対し右手60°となるように連続的に第1光学的異方性層上にラビング処理を施した。
ラビング処理した第1光学的異方性層の上に、下記の組成の第2光学異方性層用塗布液を、バーコーターを用いて連続的に塗布、乾燥、および加熱(配向熟成)した。さらに紫外線照射して厚さ1.0μmの第2光学的異方性層を形成し、位相差板(λ/4板 A)を作製した。
棒状液晶性化合物(例示化合物 I−2) 38.4質量%
第1光学異方性層用塗布液に用いた増感剤 0.38質量%
第1光学異方性層用塗布液に用いた光重合開始剤 1.15質量%
例示化合物(V−1) 0.06質量%
メチルエチルケトン 60.0質量%
前述の実施例3の偏光板Fにおいて、延伸後70℃で4分乾燥した後、PVA膜の両面にPVAを接着剤として保護膜を貼り合わせる工程を以下のように置き換えた。すなわち、PVA膜の両面のうち、一方の面にケン化処理した富士写真フイルム(株)製フジタック(セルローストリアセテート、レターデーション値3.0nm、膜厚80μm)、他方の面にけん化処理したλ/4板Aを貼り合わせ、さらに70℃で30分間加熱した。この際、λ/4板Aの第1光学異方層および第2光学異方性層が形成されている側と反対側の支持体面が偏光膜と貼合されるようにした。この後、テンターより離脱し、幅方向から3cm、カッターにて耳きりをし、有効幅500mm、長さ50mのロール形態の円偏光板Aを作製した。
WO00/26705号公報の実施例3に従って、ポリカーボネート共重合体延伸フィルム(λ/4板B)を作製した。
面内位相差は、波長450nmにおいて148.5nm、波長550nmにおいて161.1nm、波長650nmにおいて162.9nmであった。
また、次式でK値を定義した。
K=(nz−(nx+ny)/2)×d
式中、nx、nzは、フィルムの三次元屈折率でそれぞれx軸、y軸、z軸方向の屈折率であり、dはフィルムの厚さである。波長450nmにおけるK値は−73.8、波長550nmにおけるK値は−80.5、波長650nmにおけるK値は−81.5であった。
ポリエステル系樹脂溶液(東洋モートン社製「商品名;TM−593」)100質量部に、イソシアネート系硬化剤溶液(東洋モートン社製「商品名;CAT−561」)18質量部を配合後、酢酸エチルで固形分濃度が20質量%になるように希釈して、ポリウレタン系接着剤溶液Aを得た。この接着剤溶液Aをコロナ放電処理を施した上記λ/4板Bの表面にバーコーターで塗布した。
前述の実施例3の偏光板Fにおいて、延伸後70℃で4分乾燥した後、PVA膜の両面に、PVAを接着剤として保護膜を貼り合わせる工程を以下のように置き換えた。すなわち、PVA膜の両面のうち、一方の面にケン化処理した富士写真フイルム(株)製フジタック(セルローストリアセテート、レターデーション値3.0nm、膜厚80μm)、他方の面に接着剤層の形成されたλ/4板Bを貼り合わせ、さらに70℃で30分間加熱した。この際、λ/4板Bの接着剤層が偏光膜と貼合されるようにした。この後、テンターより離脱し、幅方向から3cm、カッターにて耳きりをし、有効幅500mm、長さ50mのロール形態の円偏光板Bを作製した。
偏光板Gとλ/4板Aとの組み合わせで比較用円偏光板Cを、円偏光板Aと同様にして作製した。また、偏光板Gとλ/4板Bとの組み合わせで比較用円偏光板Dを円偏光板Bと同様にして作製した。
2枚の円偏光板103、103'のλ/4板102、102'の面側を接着剤を介して液晶セル107と貼り合わせて、表示面側から保護膜106、偏光膜101、λ/4板102、液晶セル107、λ/4板102'、偏光膜101'、及び保護膜106'がこの順に積層され、さらにバックライト108が表示面側と反対側に設けられた半透過型液晶表示装置Aを作製した。また、円偏光板B〜Dを用いて同様に半透過型液晶表示装置A〜Dを作製した。なお、液晶セルは2インチ用のものを用いた。
(1)反射モード時の表示品位
ミノルタ(株)製の分光測色計CM−2002を用いて液晶表示装置の白色表示の反射率と黒色表示の反射率とを湿熱耐久試験前後で測定し、コントラスト比を算出した。結果を表3に示した。
(2)透過モード時の表示品位
TOPCOM(株)製の輝度計BM−5Aを用いてバックライト点灯時の液晶表示装置の白色表示の輝度と黒色表示の輝度とを湿熱耐久試験前後で測定し、コントラスト比を算出した。結果を表3に示した。
(3)湿熱耐久試験
60℃、相対湿度90%で500時間放置を行った。
2 上偏光板吸収軸
3 上光学異方性層
4 上光学異方性層配向制御方向
5 液晶セル上電極基板
6 上基板配向制御方向
7 液晶層
8 液晶セル下電極基板
9 下基板配向制御方向
20 下光学異方性層
21 下光学異方性層配向制御方向
22 下偏光板
23 下偏光板吸収軸
(イ) フィルム導入方向
(ロ) 次工程へのフィルム搬送方向
(a) フィルムを導入する工程
(b) フィルムを延伸する工程
(c) 延伸フィルムを次工程へ送る工程
A1 フィルムの保持手段への噛み込み位置とフィルム延伸の起点位置(実質保
持開始点:右)
B1 フィルムの保持手段への噛み込み位置(左)
C1 フィルム延伸の起点位置(実質保持開始点:左)
Cx フィルム離脱位置とフィルム延伸の終点基準位置(実質保持解除点:左)
Ay フィルム延伸の終点基準位置(実質保持解除点:右)
|L1−L2| 左右のフィルム保持手段の行程差
W フィルムの延伸工程終端における実質幅
θ 延伸方向とフィルム進行方向のなす角
11 導入側フィルムの中央線
12 次工程に送られるフィルムの中央線
13 フィルム保持手段の軌跡(左)
14 フィルム保持手段の軌跡(右)
15 導入側フィルム
16 次工程に送られるフィルム
17、17' 左右のフィルム保持開始(噛み込み)点
18、18' 左右のフィルム保持手段からの離脱点
101、101' 偏光膜
102、102' λ/4板
103、103' 円偏光板
106、106' 保護膜(フジタック)
107 液晶セル
108 バックライト
109 半透過型液晶表示装置
Claims (8)
- ホウ素化合物で硬膜したポリビニルアルコールからなる偏光子の少なくとも片側に保護膜を貼合した偏光板において、該偏光子を、標準物質としてホウ酸飽和水溶液を用いて11B−NMRで測定したときに、−3ppmおよび11ppmに化学シフトが観測され、かつ化学シフト−3ppmのピーク強度を11ppmのピーク強度で除した値が4以上であることを特徴とする偏光板。
- 偏光子の膜厚が8μm以上18μm以下であることを特徴とする請求項1記載の偏光板。
- 偏光子のホウ素化合物含有量が200kg/m3以上350kg/m3未満であることを特徴とする請求項2に記載の偏光板。
- 前記偏光子が、膜厚が20μm以上60μm以下のポリビニルアルコールフィルムを延伸して得られることを特徴とする請求項3記載の偏光版。
- 前記偏光子が、膜厚が60μm以上120μm以下のポリビニルアルコールフィルムを延伸することにより得られる偏光子であって、偏光子の吸収軸と保護膜の遅相軸の交差角が10°以上90°以下であることを特徴とする請求項2または3記載の偏光板。
- 請求項1〜5のいずれかに記載の偏光板に位相差フィルムが貼り合わされていることを特徴とする楕円偏光板。
- 請求項1〜5のいずれかに記載の偏光板にλ/4板が貼り合わされていることを特徴とする円偏光板。
- (a)請求項1〜5のいずれかに記載の偏光板に、液晶性分子から形成された光学補償フィルムが貼り合わされており、
(b)該光学補償フィルムが、水平配向した棒状液晶性化合物を含む第1光学異方性層および第2光学異方性層の二層を含み、
(c)第1光学異方性層および第2光学異方性層に含まれる棒状液晶性化合物の少なくともいずれかが下記一般式(I)で表され、
(d)第1光学異方性層の測定波長550nmにおける位相差が実質的にπであり、第2光学異方性層の測定波長550nmにおける位相差が実質的にπ/2であり、そして
(e)第2光学異方性層の面内の遅相軸と第1光学異方性層の面内の遅相軸との角度が60±5゜である、
ことを特徴とする円偏光板。
一般式(I):Q1−L1−A1−L3−M−L4−A2−L2−Q2
上記一般式(I)中:
Q1およびQ2は、それぞれ独立に、重合性基を表す。
L1、L2、L3およびL4は、それぞれ独立に、単結合または二価の連結基を表し、かつL3およびL4の少なくとも一方が−O−CO−O−基を表す。
A1およびA2は、炭素原子数2から20を有するスペーサー基を表す。
Mはメソゲン基を表す。
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