JP2004216321A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004216321A5 JP2004216321A5 JP2003008875A JP2003008875A JP2004216321A5 JP 2004216321 A5 JP2004216321 A5 JP 2004216321A5 JP 2003008875 A JP2003008875 A JP 2003008875A JP 2003008875 A JP2003008875 A JP 2003008875A JP 2004216321 A5 JP2004216321 A5 JP 2004216321A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cleaned
- processing chamber
- cleaning
- optical element
- gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Claims (11)
- 被洗浄物を収納する処理室と、
前記処理室を減圧又は真空環境に維持する排気部と、
酸素を含むガスを前記処理室に供給するためのガス供給部と、
前記ガスを高周波電力を利用してプラズマ化するためのプラズマ化手段とを有し、プラズマ化された前記ガスによって前記被洗浄物を表面処理することによって前記被洗浄物を洗浄することを特徴とする洗浄装置。 - 前記被洗浄物と前記プラズマ化手段の電極との間に配置され、複数の開孔を有する仕切り板を更に有することを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。
- 前記被洗浄物の第1の面と、当該第1の面とは異なる第2の面とが前記被処理室で露出するように、前記被洗浄物を保持する保持機構を更に有することを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。
- 被洗浄物を収納する処理室を減圧又は真空環境に維持するステップと、
酸素を含むガスを前記処理室に供給するステップと、
高周波電力を利用して前記ガスをプラズマ化するステップとを有し、プラズマ化された前記ガスによって前記被洗浄物を表面処理することによって前記被洗浄物を洗浄することを特徴とする洗浄方法。 - 前記プラズマの電子温度を制御するステップを更に有することを特徴とする請求項4記載の洗浄方法。
- プラズマ化された酸素を含むガスによって表面処理されて洗浄されることを特徴とする光学素子。
- 前記光学素子は、250nm以下の波長域で使用される蛍石又は石英の材料からなることを特徴とする請求項6記載の光学素子。
- 前記光学素子は、光学ガラスレンズ又は反射防止及び増反射膜が形成された光学ガラスレンズであることを特徴とする請求項6記載の光学素子。
- 請求項8記載の光学素子を一又は複数個有することを特徴とする光学系。
- 請求項9記載の光学系を有することを特徴とする露光装置。
- 請求項10記載の露光装置を用いて被露光体を投影露光する工程と、
前記投影露光された被露光体に所定のプロセスを行う工程とを有するデバイス製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003008875A JP4006341B2 (ja) | 2003-01-16 | 2003-01-16 | 光学素子の洗浄装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003008875A JP4006341B2 (ja) | 2003-01-16 | 2003-01-16 | 光学素子の洗浄装置及び方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004216321A JP2004216321A (ja) | 2004-08-05 |
JP2004216321A5 true JP2004216321A5 (ja) | 2005-06-23 |
JP4006341B2 JP4006341B2 (ja) | 2007-11-14 |
Family
ID=32898533
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003008875A Expired - Fee Related JP4006341B2 (ja) | 2003-01-16 | 2003-01-16 | 光学素子の洗浄装置及び方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4006341B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8317929B2 (en) | 2005-09-16 | 2012-11-27 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus comprising an electrical discharge generator and method for cleaning an element of a lithographic apparatus |
JP2007109446A (ja) * | 2005-10-11 | 2007-04-26 | Sharp Corp | プラズマ生成装置 |
KR100717505B1 (ko) * | 2005-11-25 | 2007-05-14 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 노광장치의 투영 렌즈 세정장치 |
US7465943B2 (en) * | 2005-12-08 | 2008-12-16 | Asml Netherlands B.V. | Controlling the flow through the collector during cleaning |
JP7009746B2 (ja) * | 2017-02-15 | 2022-01-26 | 大日本印刷株式会社 | Hazeの除去方法、及びフォトマスクの製造方法 |
KR102054147B1 (ko) * | 2019-10-21 | 2019-12-12 | 주식회사 아이엠티 | 테스트 장치 |
CN111477537B (zh) * | 2020-04-07 | 2023-05-19 | 北京晶亦精微科技股份有限公司 | 一种晶圆清洗方法及晶圆清洗设备 |
CN111477539A (zh) * | 2020-05-14 | 2020-07-31 | 西安奕斯伟硅片技术有限公司 | 硅片处理方法及装置 |
-
2003
- 2003-01-16 JP JP2003008875A patent/JP4006341B2/ja not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5861696B2 (ja) | 光照射装置 | |
TW200501222A (en) | Processing apparatus, manufacturing apparatus, processing method, and manufacturing method of electronic device | |
TW201202841A (en) | Light processing apparatus and light processing method | |
US20080296258A1 (en) | Plenum reactor system | |
JP2004216321A5 (ja) | ||
JP7504885B2 (ja) | アルミニウム層をインサイチュで保護する方法及びvuv波長域用の光学装置 | |
US20020114880A1 (en) | Coating of optical elements, in particular for use with ultraviolet light | |
JP2014007260A (ja) | インプリント装置、収納ケース及び物品の製造方法 | |
CN113383405A (zh) | 用于制造腔室部件的方法 | |
WO2018159006A1 (ja) | 露光装置、基板処理装置、基板の露光方法および基板処理方法 | |
JP2018146617A5 (ja) | ||
JP2001176865A (ja) | 処理装置及び処理方法 | |
JPH06343938A (ja) | 付着物の洗浄方法及びその装置 | |
JPH0429220B2 (ja) | ||
JP2004290906A (ja) | 光洗浄方法および光洗浄装置 | |
TWI435166B (zh) | 製造光罩之方法以及用於其實施之裝置 | |
KR102720152B1 (ko) | 극자외선 광원 시스템에서 콜렉터의 실시간 세정 방법 | |
JP2008258240A5 (ja) | 基板処理装置及び半導体装置の製造方法 | |
JPH0611347U (ja) | レジスト膜のアッシング装置 | |
JPH09120950A (ja) | 紫外線洗浄装置 | |
JPH0430519A (ja) | 基板表面処理装置 | |
JPS6352411A (ja) | 処理方法および装置 | |
JPH0452992Y2 (ja) | ||
JPH03224212A (ja) | 光アッシング装置 | |
JP2003342711A (ja) | 装置内壁処理方法 |