JP2004200979A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004200979A JP2004200979A JP2002366444A JP2002366444A JP2004200979A JP 2004200979 A JP2004200979 A JP 2004200979A JP 2002366444 A JP2002366444 A JP 2002366444A JP 2002366444 A JP2002366444 A JP 2002366444A JP 2004200979 A JP2004200979 A JP 2004200979A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- group
- resistors
- variable gain
- switch circuits
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
Abstract
【課題】可変利得回路を内蔵した半導体集積回路において、可変利得回路の検査に要する時間を短縮する。
【解決手段】この半導体集積回路は、反転入力端子に印加された信号を増幅して出力端子から出力する増幅回路1と、増幅回路の出力端子に直列に接続された第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)と、増幅回路の反転入力端子に直列に接続された第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)と、制御信号に従って、第1群の抵抗の接続点と、増幅回路の反転入力端子又は第2群の抵抗の接続点との間をそれぞれ電気的に接続する複数のスイッチ回路SW(1)〜SW(N)とを具備する。
【選択図】 図1
【解決手段】この半導体集積回路は、反転入力端子に印加された信号を増幅して出力端子から出力する増幅回路1と、増幅回路の出力端子に直列に接続された第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)と、増幅回路の反転入力端子に直列に接続された第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)と、制御信号に従って、第1群の抵抗の接続点と、増幅回路の反転入力端子又は第2群の抵抗の接続点との間をそれぞれ電気的に接続する複数のスイッチ回路SW(1)〜SW(N)とを具備する。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般的に半導体集積回路に関し、特に、可変利得回路を内蔵した半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
可変利得回路を内蔵した半導体集積回路においては、スイッチ回路を用いてオペアンプの帰還抵抗の接続状態を切り換えることにより、オペアンプの利得を変化させることが行われている。このような従来の半導体集積回路における可変利得回路の構成を図6に示す。この可変利得回路を検査する際には、入力端子INにテスト信号を印加しながら、オペアンプの反転入力端子に接続されている複数のスイッチ回路SW(1)〜SW(N)を1つずつオンさせて、出力端子OUTにおける信号レベルを測定することにより、可変利得回路の利得を求めていた。そのため、N個のスイッチ回路を含む可変利得回路を検査するためには、N回の測定を行わなければならず、検査時間が長くなってしまうという問題があった。
【0003】
ところで、下記の特許文献1には、複数のスイッチを介してオペアンプの反転入力端子にそれぞれ接続される複数の抵抗の値が特定式によって算出され、グリッジノイズの発生を防止すると共に減衰率等を精度良く設定することが可能な抵抗網回路装置、及び、これを用いた可変利得装置が開示されている。しかしながら、この可変利得装置を検査する際には、複数のスイッチを1つずつ切り換えなければならず、やはり検査時間が長くなってしまう。
【0004】
【特許文献1】
特許第3099164号公報 (第2頁、図1)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
そこで、上記の点に鑑み、本発明は、可変利得回路を内蔵した半導体集積回路において、可変利得回路の検査に要する時間を短縮することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
以上の課題を解決するため、本発明に係る半導体集積回路は、反転入力端子に印加された信号を増幅して出力端子から出力する増幅回路と、増幅回路の出力端子に直列に接続された第1群の抵抗と、増幅回路の反転入力端子に直列に接続された第2群の抵抗と、制御信号に従って、第1群の抵抗の接続点と、増幅回路の反転入力端子又は第2群の抵抗の接続点との間をそれぞれ電気的に接続する複数のスイッチ回路とを具備する。
【0006】
この半導体集積回路は、制御信号に従って複数のスイッチ回路を制御するデコーダをさらに具備するようにしても良い。
【0007】
以上において、増幅回路と、第1群の抵抗と、第2群の抵抗とが可変利得回路を構成し、複数のスイッチ回路の全てがオンしたときの可変利得回路の利得と、複数のスイッチ回路の内の少なくとも1つがオフしたときの可変利得回路の利得とが異なるように、第1群及び第2群の抵抗の値を設定することが望ましい。
【0008】
以上の様に構成した本発明に係る半導体集積回路によれば、増幅回路の反転入力端子に直列に接続された第2群の抵抗を設けることにより、複数のスイッチ回路の全てがオン状態となるように制御したときの可変利得回路の利得と、複数のスイッチ回路の全てがオフ状態となるように制御したときの可変利得回路の利得とを測定することにより、可変利得回路の検査が完了するように設定できるので、可変利得回路の検査に要する時間を短縮することが可能となる。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態について説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係る半導体集積回路の一部の構成を示す図である。図1に示すように、この半導体集積回路は、増幅回路1と、増幅回路1の出力端子に直列に接続された第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)と、増幅回路1の反転入力端子に直列に接続された第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)と、複数のスイッチ回路SW(1)〜SW(N)とを含んでいる。増幅回路1と、第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)と、第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)とは、入力端子INに印加された信号を所望の利得で増幅又は減衰させて出力端子OUTから出力する可変利得回路を構成する。
【0010】
増幅回路1は、反転入力端子に印加された信号と非反転入力端子に印加された信号との差を増幅して出力端子から出力するオペアンプである。本実施形態においては、非反転入力端子を基準電位(接地電位)としているので、増幅回路1は、反転入力端子に印加された信号を増幅して出力端子から出力する。増幅回路1としては、オペアンプ以外の反転増幅器を使用することも可能である。
【0011】
スイッチ回路SW(1)〜SW(N)は、制御信号に従って、第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)の接続点と、増幅回路1の反転入力端子又は第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)の接続点との間をそれぞれ電気的に接続する。スイッチ回路SW(1)〜SW(N)は、外部から供給される複数の制御信号によって直接制御されるようにしても良いが、本実施形態においては、外部から供給される制御信号に従ってスイッチ回路SW(1)〜SW(N)を制御するデコーダ2を設けている。スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の内の少なくとも1つをオン状態とすることにより、第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)と第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)との内の幾つかの抵抗によって、増幅回路1に負帰還回路が形成される。これにより、可変利得回路の利得が決定される。
【0012】
可変利得回路の検査においては、スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の全てがオン状態となるように制御したときの可変利得回路の利得と、スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の全てがオフ状態となるように制御したときの可変利得回路の利得とを測定する。
【0013】
ここで、スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の全てがオンしたときの可変利得回路の利得と、スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の内の少なくとも1つがオフしたときの可変利得回路の利得とが異なるように、第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)の値、及び、第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)の値を設定することが望ましい。そのようにすれば、スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の全てがオン状態となるように制御したときに、少なくとも1つのスイッチ回路が不良でオン状態とならい場合には、可変利得回路の利得を測定することによって不良を検出することができる。
【0014】
一方、スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の全てがオフ状態となるように制御したときに、少なくとも1つのスイッチ回路が不良でオフ状態とならい場合には、可変利得回路の利得を測定することによって不良を検出することができる。
【0015】
次に、本実施形態に係る半導体集積回路に内蔵されている可変利得回路の具体的な検査方法について説明する。ここでは、説明を簡単にするために、第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)の値が全てR1であり、第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)の値が全てR2であるとして、N=2の場合について説明する。
【0016】
まず、可変利得回路の入力端子INにテスト信号を印加しながら、図2に示すようにスイッチ回路SW1及びSW2の全てがオン状態となるように制御して、可変利得回路の出力端子OUTにおける信号レベルを測定することにより、可変利得回路の利得を求める。このとき、増幅回路1のオープンループゲインが十分大きいとすると、可変利得回路の利得Gは、次式で表される。
G≒R1/{R1+R1・R2/(R1+R2)}
=(R1+R2)/(R1+2・R2)
ここで、例えば、R1=R2とすると、G=2/3となる。
【0017】
次に、可変利得回路の入力端子INにテスト信号を印加しながら、図3に示すようにスイッチ回路SW1及びSW2の全てがオフ状態となるように制御して、可変利得回路の出力端子OUTにおける信号レベルを測定することにより、可変利得回路の利得を求める。このとき、増幅回路1の出力インピーダンスが十分小さいとすると、可変利得回路の利得Gは、ほぼゼロとなる。
【0018】
一方、上記の検査において、スイッチ回路SW1及びSW2のいずれかが不良であることにより、図4に示すようにスイッチ回路SW1がオン状態でスイッチ回路SW2がオフ状態となる場合には、可変利得回路の利得Gは、次式で表される。
G≒R1/(2・R1)=1/2
【0019】
また、上記の検査において、スイッチ回路SW1及びSW2のいずれかが不良であることにより、図5に示すようにスイッチ回路SW1がオフ状態でスイッチ回路SW2がオン状態となる場合には、可変利得回路の利得Gは、次式で表される。
G≒2・R1/R1=2
【0020】
このように、いずれかのスイッチ回路が不良である場合には、可変利得回路の利得が目標値とは異なる値となるので、不良を検出することができる。従って、N>2である場合においても、全てのスイッチ回路がオン状態となるように制御したときと、全てのスイッチ回路がオフ状態となるように制御したときの2回の測定によって、いずれかのスイッチ回路が不良であるか否かを判定することができる。また、増幅回路が不良である場合にも、可変利得回路の利得が目標値とは異なる値となるので、不良を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図。
【図2】全てのスイッチ回路がオン状態となった可変利得回路を示す図。
【図3】全てのスイッチ回路がオフ状態となった可変利得回路を示す図。
【図4】スイッチ回路がオンとオフ状態となった可変利得回路を示す図。
【図5】スイッチ回路がオフとオン状態となった可変利得回路を示す図。
【図6】従来の半導体集積回路の構成を示す図。
【符号の説明】
1 増幅回路、 2 デコーダ、 R1(1)〜R1(N+1) 第1群の抵抗、 R2(1)〜R2(N−1) 第2群の抵抗、 SW(1)〜SW(N)スイッチ回路
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般的に半導体集積回路に関し、特に、可変利得回路を内蔵した半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
可変利得回路を内蔵した半導体集積回路においては、スイッチ回路を用いてオペアンプの帰還抵抗の接続状態を切り換えることにより、オペアンプの利得を変化させることが行われている。このような従来の半導体集積回路における可変利得回路の構成を図6に示す。この可変利得回路を検査する際には、入力端子INにテスト信号を印加しながら、オペアンプの反転入力端子に接続されている複数のスイッチ回路SW(1)〜SW(N)を1つずつオンさせて、出力端子OUTにおける信号レベルを測定することにより、可変利得回路の利得を求めていた。そのため、N個のスイッチ回路を含む可変利得回路を検査するためには、N回の測定を行わなければならず、検査時間が長くなってしまうという問題があった。
【0003】
ところで、下記の特許文献1には、複数のスイッチを介してオペアンプの反転入力端子にそれぞれ接続される複数の抵抗の値が特定式によって算出され、グリッジノイズの発生を防止すると共に減衰率等を精度良く設定することが可能な抵抗網回路装置、及び、これを用いた可変利得装置が開示されている。しかしながら、この可変利得装置を検査する際には、複数のスイッチを1つずつ切り換えなければならず、やはり検査時間が長くなってしまう。
【0004】
【特許文献1】
特許第3099164号公報 (第2頁、図1)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
そこで、上記の点に鑑み、本発明は、可変利得回路を内蔵した半導体集積回路において、可変利得回路の検査に要する時間を短縮することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
以上の課題を解決するため、本発明に係る半導体集積回路は、反転入力端子に印加された信号を増幅して出力端子から出力する増幅回路と、増幅回路の出力端子に直列に接続された第1群の抵抗と、増幅回路の反転入力端子に直列に接続された第2群の抵抗と、制御信号に従って、第1群の抵抗の接続点と、増幅回路の反転入力端子又は第2群の抵抗の接続点との間をそれぞれ電気的に接続する複数のスイッチ回路とを具備する。
【0006】
この半導体集積回路は、制御信号に従って複数のスイッチ回路を制御するデコーダをさらに具備するようにしても良い。
【0007】
以上において、増幅回路と、第1群の抵抗と、第2群の抵抗とが可変利得回路を構成し、複数のスイッチ回路の全てがオンしたときの可変利得回路の利得と、複数のスイッチ回路の内の少なくとも1つがオフしたときの可変利得回路の利得とが異なるように、第1群及び第2群の抵抗の値を設定することが望ましい。
【0008】
以上の様に構成した本発明に係る半導体集積回路によれば、増幅回路の反転入力端子に直列に接続された第2群の抵抗を設けることにより、複数のスイッチ回路の全てがオン状態となるように制御したときの可変利得回路の利得と、複数のスイッチ回路の全てがオフ状態となるように制御したときの可変利得回路の利得とを測定することにより、可変利得回路の検査が完了するように設定できるので、可変利得回路の検査に要する時間を短縮することが可能となる。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態について説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係る半導体集積回路の一部の構成を示す図である。図1に示すように、この半導体集積回路は、増幅回路1と、増幅回路1の出力端子に直列に接続された第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)と、増幅回路1の反転入力端子に直列に接続された第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)と、複数のスイッチ回路SW(1)〜SW(N)とを含んでいる。増幅回路1と、第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)と、第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)とは、入力端子INに印加された信号を所望の利得で増幅又は減衰させて出力端子OUTから出力する可変利得回路を構成する。
【0010】
増幅回路1は、反転入力端子に印加された信号と非反転入力端子に印加された信号との差を増幅して出力端子から出力するオペアンプである。本実施形態においては、非反転入力端子を基準電位(接地電位)としているので、増幅回路1は、反転入力端子に印加された信号を増幅して出力端子から出力する。増幅回路1としては、オペアンプ以外の反転増幅器を使用することも可能である。
【0011】
スイッチ回路SW(1)〜SW(N)は、制御信号に従って、第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)の接続点と、増幅回路1の反転入力端子又は第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)の接続点との間をそれぞれ電気的に接続する。スイッチ回路SW(1)〜SW(N)は、外部から供給される複数の制御信号によって直接制御されるようにしても良いが、本実施形態においては、外部から供給される制御信号に従ってスイッチ回路SW(1)〜SW(N)を制御するデコーダ2を設けている。スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の内の少なくとも1つをオン状態とすることにより、第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)と第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)との内の幾つかの抵抗によって、増幅回路1に負帰還回路が形成される。これにより、可変利得回路の利得が決定される。
【0012】
可変利得回路の検査においては、スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の全てがオン状態となるように制御したときの可変利得回路の利得と、スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の全てがオフ状態となるように制御したときの可変利得回路の利得とを測定する。
【0013】
ここで、スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の全てがオンしたときの可変利得回路の利得と、スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の内の少なくとも1つがオフしたときの可変利得回路の利得とが異なるように、第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)の値、及び、第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)の値を設定することが望ましい。そのようにすれば、スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の全てがオン状態となるように制御したときに、少なくとも1つのスイッチ回路が不良でオン状態とならい場合には、可変利得回路の利得を測定することによって不良を検出することができる。
【0014】
一方、スイッチ回路SW(1)〜SW(N)の全てがオフ状態となるように制御したときに、少なくとも1つのスイッチ回路が不良でオフ状態とならい場合には、可変利得回路の利得を測定することによって不良を検出することができる。
【0015】
次に、本実施形態に係る半導体集積回路に内蔵されている可変利得回路の具体的な検査方法について説明する。ここでは、説明を簡単にするために、第1群の抵抗R1(1)〜R1(N+1)の値が全てR1であり、第2群の抵抗R2(1)〜R2(N−1)の値が全てR2であるとして、N=2の場合について説明する。
【0016】
まず、可変利得回路の入力端子INにテスト信号を印加しながら、図2に示すようにスイッチ回路SW1及びSW2の全てがオン状態となるように制御して、可変利得回路の出力端子OUTにおける信号レベルを測定することにより、可変利得回路の利得を求める。このとき、増幅回路1のオープンループゲインが十分大きいとすると、可変利得回路の利得Gは、次式で表される。
G≒R1/{R1+R1・R2/(R1+R2)}
=(R1+R2)/(R1+2・R2)
ここで、例えば、R1=R2とすると、G=2/3となる。
【0017】
次に、可変利得回路の入力端子INにテスト信号を印加しながら、図3に示すようにスイッチ回路SW1及びSW2の全てがオフ状態となるように制御して、可変利得回路の出力端子OUTにおける信号レベルを測定することにより、可変利得回路の利得を求める。このとき、増幅回路1の出力インピーダンスが十分小さいとすると、可変利得回路の利得Gは、ほぼゼロとなる。
【0018】
一方、上記の検査において、スイッチ回路SW1及びSW2のいずれかが不良であることにより、図4に示すようにスイッチ回路SW1がオン状態でスイッチ回路SW2がオフ状態となる場合には、可変利得回路の利得Gは、次式で表される。
G≒R1/(2・R1)=1/2
【0019】
また、上記の検査において、スイッチ回路SW1及びSW2のいずれかが不良であることにより、図5に示すようにスイッチ回路SW1がオフ状態でスイッチ回路SW2がオン状態となる場合には、可変利得回路の利得Gは、次式で表される。
G≒2・R1/R1=2
【0020】
このように、いずれかのスイッチ回路が不良である場合には、可変利得回路の利得が目標値とは異なる値となるので、不良を検出することができる。従って、N>2である場合においても、全てのスイッチ回路がオン状態となるように制御したときと、全てのスイッチ回路がオフ状態となるように制御したときの2回の測定によって、いずれかのスイッチ回路が不良であるか否かを判定することができる。また、増幅回路が不良である場合にも、可変利得回路の利得が目標値とは異なる値となるので、不良を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図。
【図2】全てのスイッチ回路がオン状態となった可変利得回路を示す図。
【図3】全てのスイッチ回路がオフ状態となった可変利得回路を示す図。
【図4】スイッチ回路がオンとオフ状態となった可変利得回路を示す図。
【図5】スイッチ回路がオフとオン状態となった可変利得回路を示す図。
【図6】従来の半導体集積回路の構成を示す図。
【符号の説明】
1 増幅回路、 2 デコーダ、 R1(1)〜R1(N+1) 第1群の抵抗、 R2(1)〜R2(N−1) 第2群の抵抗、 SW(1)〜SW(N)スイッチ回路
Claims (3)
- 反転入力端子に印加された信号を増幅して出力端子から出力する増幅回路と、
前記増幅回路の出力端子に直列に接続された第1群の抵抗と、
前記増幅回路の反転入力端子に直列に接続された第2群の抵抗と、
制御信号に従って、前記第1群の抵抗の接続点と、前記増幅回路の反転入力端子又は前記第2群の抵抗の接続点との間をそれぞれ電気的に接続する複数のスイッチ回路と、
を具備する半導体集積回路。 - 制御信号に従って前記複数のスイッチ回路を制御するデコーダをさらに具備する請求項1記載の半導体集積回路。
- 前記増幅回路と、前記第1群の抵抗と、前記第2群の抵抗とが可変利得回路を構成し、
前記複数のスイッチ回路の全てがオンしたときの前記可変利得回路の利得と、前記複数のスイッチ回路の内の少なくとも1つがオフしたときの前記可変利得回路の利得とが異なるように、前記第1群及び第2群の抵抗の値が設定されている、請求項1又は2記載の半導体集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002366444A JP2004200979A (ja) | 2002-12-18 | 2002-12-18 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002366444A JP2004200979A (ja) | 2002-12-18 | 2002-12-18 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004200979A true JP2004200979A (ja) | 2004-07-15 |
Family
ID=32763647
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002366444A Withdrawn JP2004200979A (ja) | 2002-12-18 | 2002-12-18 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004200979A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015155855A (ja) * | 2014-02-21 | 2015-08-27 | オムロンオートモーティブエレクトロニクス株式会社 | レーザレーダ装置 |
CN105490651A (zh) * | 2014-10-01 | 2016-04-13 | 瑞萨电子株式会社 | 半导体集成电路、可变增益放大器以及传感系统 |
-
2002
- 2002-12-18 JP JP2002366444A patent/JP2004200979A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015155855A (ja) * | 2014-02-21 | 2015-08-27 | オムロンオートモーティブエレクトロニクス株式会社 | レーザレーダ装置 |
CN105490651A (zh) * | 2014-10-01 | 2016-04-13 | 瑞萨电子株式会社 | 半导体集成电路、可变增益放大器以及传感系统 |
CN105490651B (zh) * | 2014-10-01 | 2020-09-25 | 瑞萨电子株式会社 | 半导体集成电路、可变增益放大器以及传感系统 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20070103174A1 (en) | Direct current test apparatus | |
JPH04212067A (ja) | デュアルパス広帯域高精度データ収集システム | |
US7525375B2 (en) | Method of correcting the output signal of an analog amplifier, amplifier module and measuring device | |
JP2004200979A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPWO2006019007A1 (ja) | 差動コンパレータ回路、テストヘッド、及び試験装置 | |
US6825717B2 (en) | Feedback network and amplifier and/or converter circuit with a feedback network | |
US10972063B2 (en) | Amplifier systems for measuring a wide range of current | |
JP5500333B2 (ja) | 直流試験装置及び半導体試験装置 | |
JP2010085319A (ja) | センサ信号検出回路、レシオメトリック補正回路及びセンサ装置 | |
US7518094B2 (en) | Compensation of nonuniformity among multiple sensing diodes in a multiple sensor device | |
JP2001035335A (ja) | リレー故障検出装置 | |
JP4408726B2 (ja) | 半導体装置および半導体装置検査方法 | |
US7518454B2 (en) | Operational amplifier selecting one of inputs, and an amplifying apparatus using the OP amplifier the verification method | |
JP2002064349A (ja) | アナログ信号入力装置 | |
JPH0438303Y2 (ja) | ||
JP2008278031A (ja) | 差動出力装置および任意波形発生装置 | |
JP2827233B2 (ja) | 半導体試験装置 | |
JP4207107B2 (ja) | Icテスタ | |
WO2019097871A1 (ja) | 計装アンプ | |
JP2002062333A (ja) | 測定装置 | |
JPH1010162A (ja) | 電流検出回路並びに該回路を用いる電圧印加電流測定回路及び定電流源回路 | |
GB2601069A (en) | Amplifier systems | |
JP2005192141A (ja) | 電流増幅回路 | |
CN114726372A (zh) | 一种音频dac的校准电路 | |
JP2004356874A (ja) | センサ入力装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060307 |