JP2004179256A - Collet and method for transferring and manufacturing component unit using the same - Google Patents

Collet and method for transferring and manufacturing component unit using the same Download PDF

Info

Publication number
JP2004179256A
JP2004179256A JP2002341386A JP2002341386A JP2004179256A JP 2004179256 A JP2004179256 A JP 2004179256A JP 2002341386 A JP2002341386 A JP 2002341386A JP 2002341386 A JP2002341386 A JP 2002341386A JP 2004179256 A JP2004179256 A JP 2004179256A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
substrate
collet
bare chip
contact portion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002341386A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hironari Nakako
裕也 中子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Motor Corp filed Critical Toyota Motor Corp
Priority to JP2002341386A priority Critical patent/JP2004179256A/en
Publication of JP2004179256A publication Critical patent/JP2004179256A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide technology for suppressing dispersion of thickness of a bonding material layer even if external force operates on a substrate and electronic components in a state where a bonding material is not solidified. <P>SOLUTION: A collet 10 is used for sucking and holding the substrate 34 by substrate suction holes 12 made in a substrate abutting part 16, sucking and holding a bare chip 30 by a bare chip suction hole 14 made in a bare chip abutting part 24 and bonding the substrate 34 and the bare chip 30. A distance between the substrate abutting part 16 and the bare chip abutting part 24 becomes a value obtained by adding a design value of thickness of a solder 32 and a size of a thickness direction of the bare chip 10. The substrate abutting part 16 and the bare chip abutting part 24 are adjusted so that confronted faces of the substrate 34 sucked by the substrate abutting part 16 and the bare chip 30 sucked by the bare chip abutting part 24 become parallel. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、第1の部品(例えば、基板等)上に第2の部品(例えば、ベアチップ,チップ部品等の電子部品)を接合するためのコレットに関し、該コレットを用いた部品ユニットの搬送方法ならびに製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】基板等にベアチップ等の電子部品を接合するための冶具としてコレットが用いられている(例えば、特許文献1〜3)。従来のコレットは、電子部品と当接する当接部を備え、当接部には吸引孔が設けられている。電子部品は、吸引孔に吸引されることでコレットに保持される。電子部品を保持したコレットは、基板上の所定の位置に移動する。電子部品が基板上の所定の位置に移動すると、電子部品と基板間に溶融状態の接合材(例えば、ハンダ等)が供給される。溶融状態の接合材が供給されると、コレットは電子部品の吸引を解除する。このため、電子部品とコレットが離間し、基板上には接合材を介して電子部品が搭載される。溶融状態の接合材は、その後冷却されて凝固する。接合材が溶融状態から凝固することで、基板と電子部品が接合される。このようにして、基板と電子部品から成る部品ユニットが製造される。
【0003】
【特許文献1】
特開平8−88239号公報
【特許文献2】
特開平11−297716号公報
【特許文献3】
特開2001−246588号公報
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前述のように、基板と電子部品の接合は、溶融状態の接合材が凝固することによって行われる。したがって、接合材が凝固するまでの間は、基板と電子部品間の接合が完了していないこととなる。
しかしながら、接合材が凝固するまでの間に基板や電子部品に外力が作用する場合がある。例えば、接合材が未凝固の状態のまま電子部品と基板を他の場所(例えば、冷却ゾーン)に搬送するような場合には、電子部品と基板を搬送する搬送装置の振動が基板や電子部品に伝達される。
ここで、従来のコレットは、電子部品のみを吸引保持するものであって、電子部品を基板上に搬送した後は電子部品から離間する。このため、接合材が凝固するまでの間は、基板と電子部品と相対的な位置関係は規制されず、基板や電子部品に外力が作用すると基板に対して電子部品が動くこととなる。これによって、部品ユニット間で基板と電子部品との間の接合材層の厚みにばらつきが発生するという問題があった。
【0005】
本発明は、上記問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、接合材が未凝固の状態で基板や電子部品に外力が作用しても、部品ユニット間で接合材層の厚みにばらつきが発生することを抑制することができる技術を提供する。
【0006】
【課題を解決するための手段と作用と効果】上記目的を達成するために、請求項1に係る発明は、第1の部品上に第2の部品を接合するためのコレットであって、第1の部品に当接する第1の当接部と、第2の部品に当接する第2の当接部とを有し、第1の当接部と第2の当接部にはそれぞれ吸引孔が設けられていることを特徴とする。
上記コレットは、第1の当接部に第1の部品(例えば、基板等)を吸引して保持し、第2の当接部に第2の部品(例えば、電子部品等)を吸引して保持することができる。したがって、接合材が凝固するまでコレットによって第1の部品と第2の部品を保持することで、第1の部品や第2の部品に外力が作用しても両者の位置関係を維持することができる。このため、第1の部品と第2の部品とを接合する接合材層の厚みが部品ユニット間でばらついてしまうのを抑制することができる。
【0007】
上記コレットにおいては、請求項2に係る発明のように、第1の当接部が第1の部品に当接した状態では、第2の当接部に吸引された第2の部品の接合面と第1の部品の接合面とが平行となるように構成されていることが好ましい。
このような構成によると、接合材が凝固する間、第1の部品の接合面と第2の部品の接合面を平行に保つことができる。このため、接合材層の厚みを均一とすることができる。
【0008】
なお、上記コレットを用いて第1の部品上に第2の部品を接合する場合、第1の部品と第2の部品を搬送することなくその場で接合材が凝固するまで冷却してもよいし、あるいは、接合材が未凝固の状態のまま第1の部品と第2の部品を他の場所(例えば、冷却装置上)に搬送することもできる。接合材を未凝固の状態で搬送する場合は、次に記載する方法で搬送することが好ましい。
すなわち、請求項3に係る搬送方法は、第1の部品上に接合材を介して第2の部品が載せられた部品ユニットを搬送する方法であって、請求項1又は2に記載のコレットの第1の当接部に第1の部品を吸引すると共に第2の当接部に第2の部品を吸引し、第1の部品と第2の部品をコレットごと搬送することを特徴とする。
この方法によれば、第1の部品と第2の部品がコレットの各当接部に吸引された状態(保持された状態)でコレットごと搬送される。したがって、搬送時に第1の部品や第2の部品に外力が作用しても、両者の相対的な位置関係が維持され、部品ユニット間で接合材層の厚みにばらつきが発生することを抑制することができる。
【0009】
また、上記コレットを用いることで、第1の部品と、第1の部品上にダイボンドされた第2の部品とを備える部品ユニットを好適に製造することができる。
すなわち、請求項4に係る製造方法は、第1の部品と、第1の部品上に接合された第2の部品とを備える部品ユニットを製造する方法であって、請求項1又は2に記載のコレットの第2の当接部に第2の部品を吸引する工程と、第1の部品にコレットの第1の当接部を当てて第2の当接部に吸引した第2の部品を第1の部品上に搬送する工程と、第1の部品と第2の部品の間に溶融状態の接合材を供給する工程と、第1の当接部に第1の部品を吸引し、かつ、第2の当接部に第2の部品を吸引した状態で、溶融状態の接合材を凝固させる工程とを有する。
この方法によれば、接合材が凝固するまでの間、第1の部品と第2の部品の位置関係が維持される。このため、本方法により製造された部品ユニットは、部品ユニット毎に接合材層の厚みのばらついてしまうことが抑制される。
なお、第1の部品と第2の部品の間に溶融状態の接合材を供給する方法としては、種々の方法を採用することができる。例えば、固体状態の接合材を予め第1の部品上に配しておき第2の部品が搬送されてから加熱溶融する方法(例えば、リフローハンダ付け等)や、第2部品上に直接に接合材を塗布する方法(例えば、ダイボンディング等)や、第2の部品が第1の部品上に搬送されてから溶融状態の接合材を供給する方法を用いることができる。
【0010】
また、請求項5に係る発明は、第1の部品と、第1の部品上に接合された第2の部品とを備える部品ユニットを製造する方法であって、コレットに第2の部品を吸引する工程と、吸引した第2の部品を第1の部品上に搬送する工程と、第1の部品と第2の部品の間に溶融状態の接合材を供給する工程と、第2の部品をコレットに吸引し、かつ、第1の部品と第2の部品の位置関係を規制した状態で、溶融状態の接合材を凝固させる工程とを有する。
この製造方法によっても請求項4と同様の効果が得られ、部品ユニット間の接合材層の厚みのばらつきを抑制することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】上述した各請求項に記載の発明は、下記に示す形態で好適に実施することができる。
(形態1) コレットは、第1の部品に当接する第1の当接面と、第2の部品に当接する第2の当接面を有する。各当接面には吸引孔が設けられる。
(形態2) コレットの底面には逆凹部が設けられる。コレット底面の逆凹部が設けられていない部分が第1の部品に当接する。コレット底面の逆凹部には第2の部品に当接する当接面が設けられる。
(形態3) コレットはロボットアームの先端に取付けられる。コレットに第2の部品が吸引されると、コレットの第1の当接部が第1の部品の所定位置に当接するようロボットアームが駆動される。第1の当接部が第1の部品に当接して第1の部品を吸引する。第1の部品と第2の部品との間には溶融状態の接合材が供給される。第1の当接部に第1の部品を吸引し、かつ、第2の当接部に第2の部品を吸引した状態で、ロボットアームが駆動される。これによって、第1の部品と第2の部品はコレットと共に加熱工程(加熱ゾーン)から冷却工程(冷却ゾーン)に搬送される。冷却工程で接合材が凝固すると、第1の部品と第2の部品のコレットへの吸引を解除する。
(形態4) 第1の部品は基板であり、第2の部品は電子部品である。
(形態5) 第1の部品は放熱板であり、第2の部品は基板である。
【0012】
【実施例】本発明を具現化した一実施例について図を参照しながら説明する。本実施例のコレットは、電子部品実装装置のロボットアーム(図示略)の先端に取り付けられて使用される。コレットはロボットアームの移動に伴って移動する。ロボットアームが移動することで、第1の部品である基板と第2の部品であるベアチップを加熱工程から冷却工程に搬送する。
【0013】
<第1の実施例>図1は本発明の第1の実施例に係るコレットの断面図である。図1において、10はコレット、30はベアチップ、32はハンダ(接合材)、34は基板となっている。
図1に示すように、コレット10には、基板34と当接する基板当接部16と、ベアチップ30と当接するベアチップ当接部24が設けられている。基板当接部16は、コレット10の本体下端の底面(平坦面)に設けられており、その底面で基板34を吸引し保持する。一方、ベアチップ当接部24は、コレット本体10の底面に設けられた逆凹部20の上部平坦面とされ、この上部平坦面でベアチップ30を保持する。逆凹部20の側壁面22は、図1に示すように、ハンダ32と干渉しない位置に設けられる。基板当接部16とベアチップ当接部24との距離は、ハンダ32の厚みが設計された厚みとなるように調整されている。すなわち、基板当接部16とベアチップ当接部24との距離は、ハンダ32の厚みの設計値とベアチップ10の厚さ方向の寸法とを足し合わせた値となっている。また、基板当接部16とベアチップ当接部24は、基板当接部16に吸引された基板34とベアチップ当接部24に吸引されたベアチップ30の両対向面(すなわち、接合面)が平行となるように調整されている。
図1に示すように、基板当接部16には基板34を吸引する基板吸引孔12が設けられ、ベアチップ当接部24にはベアチップ30を吸引するベアチップ吸引孔14が設けられている。基板吸引孔12の開口部12aは基板34と密着され、ベアチップ吸引孔14の開口部14aはベアチップ30と密着される。
【0014】
以下、上述したコレット10を用いて基板34にベアチップ30を接合し、部品ユニットを製造する手順について説明する。図2は加熱工程のハンダ供給ゾーンでコレットによりベアチップが基板上に載せられる様子を示す断面図であり、図3は基板と、基板上にハンダを介して載せられたベアチップとを同時に冷却工程に搬送する様子を示す断面図である。図中、40は加熱工程に設けられた加熱・還元ゾーン、50は加熱工程の最後に設けられたハンダ供給ゾーン、60は加熱装置、70は冷却装置である。
基板34は左側の加熱・還元ゾーン40から右側のハンダ供給ゾーン50に搬送用ロッド(図示略)により搬送されてくる。加熱・還元ゾーン40は還元雰囲気とされ、基板34は還元雰囲気中で加熱装置60によって加熱される。ハンダ供給ゾーン50に基板34が搬送されると、基板34上にベアチップ30が載せられる。
【0015】
具体的には、図2(a)に示すように、基板34が加熱工程のハンダ供給ゾーン50まで搬送されると、まず、扉51(破線で扉が開いた状態を表している)が開く。扉51が開くと、その開口からロボットアーム(図示略)の先端に取り付けられたコレット10がハンダ供給ゾーン50内に下降する。コレット10のベアチップ当接部24には、ベアチップ吸引孔14によってベアチップ30が吸引保持されている。
【0016】
コレット10は、図2(b)に示すように、ベアチップ30を吸引保持した状態で基板当接部16が基板34に当接する位置までハンダ供給ゾーン50内を下降する。基板当接部16が基板34に当接すると、ベアチップ30が基板34上の所定の位置(すなわち、ベアチップ搭載位置)に位置決めされる。ベアチップ30が位置決めされると、コレット10の前記逆凹部20に臨んで設けられたハンダ供給口36からベアチップ搭載位置にハンダ32が供給される。
【0017】
ハンダ32が供給されると、コレット10のベアチップ当接部24にベアチップ30が吸引された状態のまま、コレット10の基板当接部16に基板吸引孔12によって基板34が吸引される。次に、図3(a)に示すように、コレット10は基板34とベアチップ30を吸引保持したまま、水平状態を保ちつつハンダ供給ゾーン50内を上昇して加熱工程から出る。
【0018】
加熱工程から出ると、図3(b)に示すように、基板34とベアチップ30を吸引保持したコレット10は、水平状態を保ちつつ冷却装置70方向へ移動する。コレット10が冷却装置70上の所定の位置まで移動すると、水平状態を保ったまま冷却装置70の表面まで下降する。基板34が冷却装置70上に当接する位置まで下降すると、基板34とベアチップ30の吸引が解除され、基板34とベアチップ30が冷却装置70上に置かれる。
【0019】
上述した説明から明らかなように、図3(a)と(b)に示す状態(すなわち、加熱装置60から冷却装置70に搬送される間)では、ハンダ32は溶融状態のままである。しかしながら、コレット10によって基板34とベアチップ30が吸引保持されているため、基板34やベアチップ30に外力が作用しても両者の位置関係を一定に保つことができる。また、基板34とベアチップ30を搬送する間は、コレット10(すなわち、基板34とベアチップ30)が水平状態を保って移動するため、未凝固のハンダが重力によって偏ることが防止される。したがって、基板34とベアチップ30の間のハンダ32の厚みが部品ユニット間でばらついてしまうことを防止することができる。
また、基板当接部16が基板34に当接されるため、電子部品実装装置の位置決め精度が低くても、ベアチップ32と基板34間の間隔(ハンダ層の厚さ)を精度良く制御することができる。このため、電子部品実装装置の位置決め精度によらずにベアチップの実装精度を向上させることができる。特に、基板当接部16とベアチップ当接部24は、互いに平行な平坦面であって、その間隔が精度良く加工されているため、ハンダ層の厚さを均一とすることができる。したがって、ハンダ層が局部的に薄くなることによるクラックの発生や、ハンダ層が局部的に厚くなることによる放熱性の悪化が防止される。
【0020】
(変形例)図4は上述した第1の実施例の変形例を示すコレットの断面図である。本変形例のコレットは、上述した図1に示したコレットと同様、ハンダを介してベアチップを基板に接合するためのものであって、その基本構造は図1に示したものと同様であるので、ここでは同一部分には同一符号を付すこととする。なお、図4ではハンダ供給口36を省略しているが、適宜コレット10に設定すれば第1実施例と同様に基板とベアチップ間にハンダ供給が可能である。
図4に示すように、本変形例では、基板34に同一のベアチップ30を2つ搭載することに対応して、コレット10には同じ大きさ/形状の逆凹部20が2つ設けられている。逆凹部20の上部平坦面はベアチップ当接部24とされ、ベアチップ当接部24にはベアチップ30を吸引保持できるようベアチップ吸引孔14が設けられている。2つのベアチップ吸引孔14と基板吸引孔12は、コレット本体の上部に設けられた吸引孔13と連通している。したがって、ベアチップ吸引孔14で吸引を開始すると、基板吸引孔12でも吸引が開始される。このように基板吸引孔12とベアチップ吸引孔14を上部の1つの吸引孔13に連通させることで、コレット10に連結される真空管が1本だけとなるため、電子部品接合装置の構造が煩雑になることを避けることができる。
【0021】
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。
・実施例ではベアチップ30を基板34に接合する実装プロセスにコレットを用いた例を説明したが、本発明はこれ以外にも、ベアチップをリードフレームに接合したり、ベアチップ等が実装された基板を放熱板に接合するなどの種々の実装プロセスに適用することができる。
・実施例では、ハンダ供給口36からハンダを供給していたが、本発明はこれ以外にも、固体状態のハンダを予め基板34上に配しておきベアチップ30が搬送されてから加熱溶融する方法や、基板34上に直接ハンダを塗布する方法などを用いることができる。
・実施例では、基板吸引孔12とベアチップ吸引孔14の断面が円形とされたが、吸引孔の断面形状は円形に限られるものではなく、真空吸引を行うことができるものであれば形状は問わない。また、その断面積も所望の吸引力が得られるものであれば、どのような面積としてもよい。さらに、基板吸引孔12の開口部12aの位置は、基板34を吸引できる限り、ベアチップ保持部20を除くいずれの位置に設けられてもよく、実施例に示された位置に限らない。ベアチップ吸引孔14の開口部14aの位置も、ベアチップ30を吸引できる限りベアチップ保持部20のいずれの位置に設けられてもよい。また、基板吸引孔12とベアチップ吸引孔14を複数設けてもよい。
・第1の実施例の変形例では同じベアチップを2つ吸引保持する場合を示しているが、異なる大きさ/形状のベアチップを吸引保持する場合は、それぞれのベアチップに対応させてベアチップ当接部20の幅や深さを変更して設けることができる。また、3つ以上のベアチップを吸引保持するように構成することも可能であり、その場合は吸引保持するベアチップの数だけベアチップ当接部20を設けることができる。
・第1の実施例および変形例では、基板34の幅の方がコレット10の幅よりも広くなっているが、基板の幅は吸引孔12の開口部が基板34の平面上に接することができる広さであればよい。
また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施例を示すコレットの断面図である。
【図2】加熱工程のハンダ供給ゾーンでコレットによりベアチップが基板上に搭載されることを示す断面図である。
【図3】基板と、基板上にハンダを介して搭載されたベアチップとを同時に冷却工程に移送する過程の断面図である。
【図4】第1の実施例の変形例を示すコレットの断面図である。
【符号の説明】
10:コレット、
12:基板吸引孔、
14:ベアチップ吸引孔、
16:基板当接部、
20:逆凹部、
22:側壁面、
24:ベアチップ当接部、
30:ベアチップ、
32:ハンダ、
34:基板
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a collet for joining a second component (for example, an electronic component such as a bare chip or a chip component) to a first component (for example, a substrate or the like). The present invention relates to a method of transporting used component units and a method of manufacturing the same.
[0002]
2. Description of the Related Art A collet is used as a jig for joining an electronic component such as a bare chip to a substrate or the like (for example, Patent Documents 1 to 3). A conventional collet includes a contact portion that contacts an electronic component, and the contact portion has a suction hole. The electronic component is held by the collet by being sucked into the suction hole. The collet holding the electronic component moves to a predetermined position on the substrate. When the electronic component moves to a predetermined position on the substrate, a bonding material (for example, solder or the like) in a molten state is supplied between the electronic component and the substrate. When the bonding material in a molten state is supplied, the collet releases suction of the electronic component. Therefore, the electronic component and the collet are separated from each other, and the electronic component is mounted on the substrate via the bonding material. The bonding material in the molten state is then cooled and solidified. The substrate and the electronic component are joined by solidifying the joining material from the molten state. Thus, a component unit including the board and the electronic component is manufactured.
[0003]
[Patent Document 1]
JP-A-8-88239 [Patent Document 2]
JP-A-11-297716 [Patent Document 3]
JP 2001-246588 A
As described above, the bonding between the substrate and the electronic component is performed by the solidification of the bonding material in a molten state. Therefore, the bonding between the substrate and the electronic component is not completed until the bonding material solidifies.
However, an external force may act on the substrate or the electronic component before the bonding material solidifies. For example, when the electronic component and the substrate are transported to another place (for example, a cooling zone) while the bonding material is in an unsolidified state, the vibration of the transport device that transports the electronic component and the substrate causes the substrate or the electronic component to vibrate. Is transmitted to.
Here, the conventional collet sucks and holds only the electronic component, and separates from the electronic component after the electronic component is conveyed onto the substrate. Therefore, until the bonding material solidifies, the relative positional relationship between the substrate and the electronic component is not restricted, and when an external force acts on the substrate or the electronic component, the electronic component moves with respect to the substrate. As a result, there is a problem that the thickness of the bonding material layer between the board and the electronic component varies between the component units.
[0005]
The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to provide a bonding material layer between component units even when an external force acts on a substrate or an electronic component in a state where the bonding material is not solidified. Provided is a technique capable of suppressing the occurrence of variations in the thickness of a sheet.
[0006]
In order to achieve the above object, an invention according to a first aspect is a collet for joining a second component on a first component, comprising: A first contact portion that contacts the first component, and a second contact portion that contacts the second component. The first contact portion and the second contact portion each have a suction hole. Is provided.
The collet sucks and holds a first component (for example, a board or the like) in a first contact portion, and sucks and holds a second component (for example, an electronic component or the like) in a second contact portion. Can be held. Therefore, by holding the first component and the second component by the collet until the joining material solidifies, the positional relationship between the first component and the second component can be maintained even when an external force acts on the first component and the second component. it can. For this reason, it is possible to suppress the thickness of the bonding material layer for bonding the first component and the second component from varying between the component units.
[0007]
In the above collet, when the first contact portion is in contact with the first component as in the invention according to claim 2, the joint surface of the second component sucked by the second contact portion And the joining surface of the first component are preferably parallel to each other.
According to such a configuration, while the joining material solidifies, the joining surface of the first component and the joining surface of the second component can be kept parallel. For this reason, the thickness of the bonding material layer can be made uniform.
[0008]
When joining the second component on the first component using the collet, the first component and the second component may be cooled until the joining material solidifies on the spot without transporting the first component and the second component. Alternatively, the first component and the second component can be transported to another location (for example, on a cooling device) while the bonding material remains unsolidified. When the bonding material is transported in an unsolidified state, it is preferable to transport the bonding material by the method described below.
That is, a transport method according to claim 3 is a method of transporting a component unit on which a second component is mounted on a first component via a bonding material, wherein the collet according to claim 1 or 2 is provided. The first part is sucked into the first contact part and the second part is sucked into the second contact part, and the first part and the second part are transported together with the collet.
According to this method, the first part and the second part are transported together with the collet in a state where the first part and the second part are sucked (held) by the respective contact portions of the collet. Therefore, even if an external force acts on the first component or the second component during transport, the relative positional relationship between them is maintained, and the occurrence of variation in the thickness of the bonding material layer between component units is suppressed. be able to.
[0009]
Further, by using the collet, it is possible to suitably manufacture a component unit including the first component and the second component die-bonded on the first component.
That is, a manufacturing method according to a fourth aspect is a method of manufacturing a component unit including a first component and a second component bonded on the first component, and is a method according to the first or second aspect. Suctioning the second part to the second contact part of the collet, and applying the second part sucked to the second contact part by applying the first contact part of the collet to the first part Conveying onto the first component, supplying a bonding material in a molten state between the first component and the second component, sucking the first component into the first contact portion, and Solidifying the bonding material in a molten state with the second component sucked into the second contact portion.
According to this method, the positional relationship between the first component and the second component is maintained until the bonding material solidifies. For this reason, in the component units manufactured by the present method, the thickness of the bonding material layer varies from component unit to component unit.
Note that various methods can be adopted as a method for supplying the bonding material in a molten state between the first component and the second component. For example, a method in which a bonding material in a solid state is previously arranged on a first component and then heated and melted after the second component is conveyed (for example, reflow soldering or the like), or directly bonded on the second component A method of applying a material (for example, die bonding) or a method of supplying a bonding material in a molten state after the second component is conveyed onto the first component can be used.
[0010]
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a component unit including a first component and a second component bonded on the first component, wherein the second component is sucked into the collet. Performing the step of: transporting the sucked second component onto the first component; supplying a bonding material in a molten state between the first component and the second component; Suctioning the collet and solidifying the molten bonding material in a state where the positional relationship between the first component and the second component is regulated.
According to this manufacturing method, the same effect as in claim 4 can be obtained, and variation in the thickness of the bonding material layer between the component units can be suppressed.
[0011]
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention described in each of the above-mentioned claims can be suitably implemented in the following forms.
(Feature 1) The collet has a first contact surface that contacts the first component and a second contact surface that contacts the second component. Each contact surface is provided with a suction hole.
(Mode 2) An inverted concave portion is provided on the bottom surface of the collet. The portion of the collet bottom surface where the inverted recess is not provided contacts the first component. A contact surface for contacting the second component is provided in the inverted concave portion on the bottom surface of the collet.
(Mode 3) The collet is attached to the tip of the robot arm. When the second component is sucked by the collet, the robot arm is driven such that the first contact portion of the collet contacts a predetermined position of the first component. The first contact portion contacts the first component and sucks the first component. A bonding material in a molten state is supplied between the first component and the second component. The robot arm is driven in a state where the first part is sucked into the first contact part and the second part is sucked into the second contact part. Thereby, the first component and the second component are transported together with the collet from the heating step (heating zone) to the cooling step (cooling zone). When the bonding material solidifies in the cooling step, the suction of the first component and the second component into the collet is released.
(Mode 4) The first component is a substrate, and the second component is an electronic component.
(Mode 5) The first component is a heat sink, and the second component is a board.
[0012]
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The collet of this embodiment is used by being attached to the tip of a robot arm (not shown) of the electronic component mounting apparatus. The collet moves with the movement of the robot arm. The movement of the robot arm transfers the substrate as the first component and the bare chip as the second component from the heating step to the cooling step.
[0013]
<First Embodiment> FIG. 1 is a sectional view of a collet according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 10 denotes a collet, 30 denotes a bare chip, 32 denotes a solder (joining material), and 34 denotes a substrate.
As shown in FIG. 1, the collet 10 is provided with a substrate contact portion 16 that contacts the substrate 34 and a bare chip contact portion 24 that contacts the bare chip 30. The substrate contact portion 16 is provided on the bottom surface (flat surface) of the lower end of the main body of the collet 10, and sucks and holds the substrate 34 at the bottom surface. On the other hand, the bare chip contact portion 24 is an upper flat surface of the inverted concave portion 20 provided on the bottom surface of the collet main body 10, and holds the bare chip 30 on the upper flat surface. As shown in FIG. 1, the side wall surface 22 of the inverted recess 20 is provided at a position that does not interfere with the solder 32. The distance between the substrate contact portion 16 and the bare chip contact portion 24 is adjusted so that the thickness of the solder 32 becomes a designed thickness. That is, the distance between the board contact portion 16 and the bare chip contact portion 24 is a value obtained by adding the design value of the thickness of the solder 32 and the dimension of the bare chip 10 in the thickness direction. In addition, the substrate contact portion 16 and the bare chip contact portion 24 are formed such that both opposing surfaces (that is, joining surfaces) of the substrate 34 sucked by the substrate contact portion 16 and the bare chip 30 sucked by the bare chip contact portion 24 are parallel. It has been adjusted to be.
As shown in FIG. 1, the substrate contact portion 16 is provided with a substrate suction hole 12 for sucking the substrate 34, and the bare chip contact portion 24 is provided with a bare chip suction hole 14 for sucking the bare chip 30. The opening 12 a of the substrate suction hole 12 is in close contact with the substrate 34, and the opening 14 a of the bare chip suction hole 14 is in close contact with the bare chip 30.
[0014]
Hereinafter, a procedure for bonding the bare chip 30 to the substrate 34 using the above-described collet 10 and manufacturing a component unit will be described. FIG. 2 is a cross-sectional view showing a state in which a bare chip is mounted on a substrate by a collet in a solder supply zone in a heating process. FIG. 3 is a diagram illustrating a state in which a substrate and a bare chip mounted on a substrate via solder are simultaneously subjected to a cooling process. It is sectional drawing which shows a mode that it conveys. In the figure, 40 is a heating / reducing zone provided in the heating process, 50 is a solder supply zone provided at the end of the heating process, 60 is a heating device, and 70 is a cooling device.
The substrate 34 is transported from the heating / reducing zone 40 on the left to the solder supply zone 50 on the right by a transport rod (not shown). The heating / reducing zone 40 has a reducing atmosphere, and the substrate 34 is heated by the heating device 60 in the reducing atmosphere. When the substrate 34 is transported to the solder supply zone 50, the bare chip 30 is placed on the substrate 34.
[0015]
Specifically, as shown in FIG. 2A, when the substrate 34 is transported to the solder supply zone 50 in the heating step, first, the door 51 (indicated by a broken line, the door is open) is opened. . When the door 51 opens, the collet 10 attached to the tip of a robot arm (not shown) descends from the opening into the solder supply zone 50. The bare chip 30 is suction-held by the bare chip suction hole 14 in the bare chip contact portion 24 of the collet 10.
[0016]
As shown in FIG. 2B, the collet 10 descends in the solder supply zone 50 to a position where the substrate contact portion 16 contacts the substrate 34 while holding the bare chip 30 by suction. When the board contact portion 16 contacts the board 34, the bare chip 30 is positioned at a predetermined position on the board 34 (that is, a bare chip mounting position). When the bare chip 30 is positioned, the solder 32 is supplied to the bare chip mounting position from a solder supply port 36 provided facing the reverse recess 20 of the collet 10.
[0017]
When the solder 32 is supplied, the substrate 34 is sucked by the substrate suction hole 12 into the substrate contact portion 16 of the collet 10 while the bare chip 30 is sucked by the bare chip contact portion 24 of the collet 10. Next, as shown in FIG. 3A, the collet 10 rises in the solder supply zone 50 while maintaining the horizontal state while sucking and holding the substrate 34 and the bare chip 30, and exits from the heating step.
[0018]
After the heating step, as shown in FIG. 3B, the collet 10 holding the substrate 34 and the bare chip 30 by suction moves toward the cooling device 70 while maintaining the horizontal state. When the collet 10 moves to a predetermined position on the cooling device 70, the collet 10 descends to the surface of the cooling device 70 while maintaining the horizontal state. When the substrate 34 is lowered to a position where it comes into contact with the cooling device 70, the suction between the substrate 34 and the bare chip 30 is released, and the substrate 34 and the bare chip 30 are placed on the cooling device 70.
[0019]
As is clear from the above description, in the state shown in FIGS. 3A and 3B (that is, while being conveyed from the heating device 60 to the cooling device 70), the solder 32 remains in a molten state. However, since the substrate 34 and the bare chip 30 are suction-held by the collet 10, even if an external force acts on the substrate 34 or the bare chip 30, the positional relationship between the two can be kept constant. In addition, while the substrate 34 and the bare chip 30 are being transported, the collet 10 (that is, the substrate 34 and the bare chip 30) moves while maintaining a horizontal state, so that unsolidified solder is prevented from being biased by gravity. Therefore, it is possible to prevent the thickness of the solder 32 between the substrate 34 and the bare chip 30 from varying between the component units.
In addition, since the board contact portion 16 is in contact with the board 34, even if the positioning accuracy of the electronic component mounting apparatus is low, the distance between the bare chip 32 and the board 34 (the thickness of the solder layer) can be accurately controlled. Can be. Therefore, the mounting accuracy of the bare chip can be improved regardless of the positioning accuracy of the electronic component mounting apparatus. In particular, since the board contact portion 16 and the bare chip contact portion 24 are flat surfaces parallel to each other and are accurately processed at an interval therebetween, the thickness of the solder layer can be made uniform. Therefore, the occurrence of cracks due to the local thinning of the solder layer and the deterioration of heat dissipation due to the local thickening of the solder layer are prevented.
[0020]
(Modification) FIG. 4 is a sectional view of a collet showing a modification of the first embodiment described above. The collet of this modified example is for joining a bare chip to a substrate via solder similarly to the collet shown in FIG. 1 described above, and its basic structure is the same as that shown in FIG. Here, the same portions are denoted by the same reference numerals. Although the solder supply port 36 is omitted in FIG. 4, if the collet 10 is appropriately set, solder can be supplied between the substrate and the bare chip as in the first embodiment.
As shown in FIG. 4, in the present modification, two inverted recesses 20 having the same size / shape are provided in the collet 10 in response to mounting two identical bare chips 30 on the substrate 34. . The upper flat surface of the inverted concave portion 20 is a bare chip contact portion 24, and the bare chip contact portion 24 is provided with a bare chip suction hole 14 for sucking and holding the bare chip 30. The two bare chip suction holes 14 and the substrate suction hole 12 communicate with a suction hole 13 provided in an upper part of the collet body. Therefore, when the suction starts at the bare chip suction hole 14, the suction also starts at the substrate suction hole 12. Since the substrate suction hole 12 and the bare chip suction hole 14 communicate with the upper suction hole 13 in this manner, only one vacuum tube is connected to the collet 10, so that the structure of the electronic component bonding apparatus is complicated. Can be avoided.
[0021]
As mentioned above, although the specific example of this invention was demonstrated in detail, these are only illustrations and do not limit a claim. The technology described in the claims includes various modifications and alterations of the specific examples illustrated above.
In the embodiment, the example in which the collet is used in the mounting process of bonding the bare chip 30 to the substrate 34 has been described. However, the present invention can also be applied to the case where the bare chip is bonded to a lead frame or the substrate on which the bare chip or the like is mounted. It can be applied to various mounting processes such as bonding to a heat sink.
In the embodiment, the solder is supplied from the solder supply port 36. However, in the present invention, in addition to this, the solid-state solder is disposed on the substrate 34 in advance, and is heated and melted after the bare chip 30 is transported. A method or a method of applying solder directly on the substrate 34 can be used.
In the embodiment, the cross-section of the substrate suction hole 12 and the bare chip suction hole 14 is circular, but the cross-sectional shape of the suction hole is not limited to a circle, and any shape can be used as long as vacuum suction can be performed. It doesn't matter. The cross-sectional area may be any area as long as a desired suction force can be obtained. Further, the position of the opening 12a of the substrate suction hole 12 may be provided at any position except the bare chip holding portion 20 as long as the substrate 34 can be sucked, and is not limited to the position shown in the embodiment. The position of the opening 14 a of the bare chip suction hole 14 may be provided at any position of the bare chip holding unit 20 as long as the bare chip 30 can be sucked. Further, a plurality of substrate suction holes 12 and bare chip suction holes 14 may be provided.
In the modified example of the first embodiment, the case where two identical bare chips are sucked and held is shown. However, when bare chips having different sizes / shapes are sucked and held, the bare chip contact portions corresponding to the respective bare chips are used. 20 can be provided by changing the width and depth. It is also possible to adopt a configuration in which three or more bare chips are sucked and held. In this case, the bare chip contact portions 20 can be provided by the number of bare chips to be sucked and held.
In the first embodiment and the modified example, the width of the substrate 34 is wider than the width of the collet 10, but the width of the substrate is such that the opening of the suction hole 12 is in contact with the plane of the substrate 34. Any size is acceptable as long as it is possible.
Further, the technical elements described in the present specification or the drawings exhibit technical utility singly or in various combinations, and are not limited to the combinations described in the claims at the time of filing. The technology illustrated in the present specification or the drawings achieves a plurality of objects at the same time, and has technical utility by achieving one of the objects.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a sectional view of a collet showing a first embodiment.
FIG. 2 is a sectional view showing that a bare chip is mounted on a substrate by a collet in a solder supply zone in a heating step.
FIG. 3 is a cross-sectional view of a process of simultaneously transferring a substrate and a bare chip mounted on the substrate via solder to a cooling step.
FIG. 4 is a sectional view of a collet showing a modification of the first embodiment.
[Explanation of symbols]
10: Collet,
12: substrate suction hole,
14: bare chip suction hole,
16: substrate contact portion,
20: inverted recess,
22: side wall surface,
24: bare chip contact part,
30: bare chip,
32: Solder,
34: Substrate

Claims (5)

第1の部品上に第2の部品を接合するためのコレットであって、第1の部品に当接する第1の当接部と、第2の部品に当接する第2の当接部とを有し、第1の当接部と第2の当接部にはそれぞれ吸引孔が設けられていることを特徴とするコレット。A collet for joining a second component to a first component, comprising: a first contact portion that contacts the first component; and a second contact portion that contacts the second component. A collet comprising: a first contact portion and a second contact portion each provided with a suction hole. 第1の当接部が第1の部品に当接した状態では、第2の当接部に吸引された第2の部品の接合面と第1の部品の接合面とが平行となるように構成されていることを特徴とする請求項1に記載のコレット。In a state where the first contact portion is in contact with the first component, the joining surface of the second component and the joining surface of the first component sucked by the second contact portion are parallel to each other. The collet according to claim 1, wherein the collet is configured. 第1の部品上に接合材を介して第2の部品が載せられた部品ユニットを搬送する方法であって、
請求項1又は2に記載のコレットの第1の当接部に第1の部品を吸引すると共に第2の当接部に第2の部品を吸引し、第1の部品と第2の部品をコレットごと搬送することを特徴とする部品ユニットの搬送方法。
A method of transporting a component unit on which a second component is mounted on a first component via a bonding material,
The first part of the collet according to claim 1 or 2, wherein the first part is sucked into the first contact part, and the second part is sucked by the second contact part. A method of transporting a part unit, wherein the collet is transported together.
第1の部品と、第1の部品上に接合された第2の部品とを備える部品ユニットを製造する方法であって、
請求項1又は2に記載のコレットの第2の当接部に第2の部品を吸引する工程と、
第1の部品にコレットの第1の当接部を当てて第2の当接部に吸引した第2の部品を第1の部品上に搬送する工程と、
第1の部品と第2の部品の間に溶融状態の接合材を供給する工程と、
第1の当接部に第1の部品を吸引し、かつ、第2の当接部に第2の部品を吸引した状態で、溶融状態の接合材を凝固させる工程と、
を有する部品ユニットの製造方法。
A method for manufacturing a component unit including a first component and a second component joined on the first component, comprising:
A step of sucking the second part into the second contact part of the collet according to claim 1 or 2,
A step of applying the first contact portion of the collet to the first component and transporting the second component sucked to the second contact portion onto the first component;
Supplying a bonding material in a molten state between the first component and the second component;
A step of solidifying the bonding material in a molten state in a state where the first component is sucked into the first contact portion and the second component is sucked into the second contact portion;
A method for manufacturing a component unit having:
第1の部品と、第1の部品上に接合された第2の部品とを備える部品ユニットを製造する方法であって、
コレットに第2の部品を吸引する工程と、
吸引した第2の部品を第1の部品上に搬送する工程と、
第1の部品と第2の部品の間に溶融状態の接合材を供給する工程と、
第2の部品をコレットに吸引し、かつ、第1の部品と第2の部品の位置関係を規制した状態で、溶融状態の接合材を凝固させる工程と、
を有する部品ユニットの製造方法。
A method for manufacturing a component unit including a first component and a second component joined on the first component, comprising:
Suctioning the second part into the collet;
Transporting the sucked second component onto the first component;
Supplying a bonding material in a molten state between the first component and the second component;
A step of sucking the second component into the collet and solidifying the molten joining material in a state where the positional relationship between the first component and the second component is regulated;
A method for manufacturing a component unit having:
JP2002341386A 2002-11-25 2002-11-25 Collet and method for transferring and manufacturing component unit using the same Pending JP2004179256A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002341386A JP2004179256A (en) 2002-11-25 2002-11-25 Collet and method for transferring and manufacturing component unit using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002341386A JP2004179256A (en) 2002-11-25 2002-11-25 Collet and method for transferring and manufacturing component unit using the same

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004179256A true JP2004179256A (en) 2004-06-24

Family

ID=32703764

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002341386A Pending JP2004179256A (en) 2002-11-25 2002-11-25 Collet and method for transferring and manufacturing component unit using the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004179256A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011003580A (en) * 2009-06-16 2011-01-06 Denso Corp Mounting apparatus of semiconductor chip, and method of manufacturing semiconductor device
JP2015200635A (en) * 2014-04-01 2015-11-12 株式会社デンソー Flow rate sensor and manufacturing method thereof

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011003580A (en) * 2009-06-16 2011-01-06 Denso Corp Mounting apparatus of semiconductor chip, and method of manufacturing semiconductor device
JP2015200635A (en) * 2014-04-01 2015-11-12 株式会社デンソー Flow rate sensor and manufacturing method thereof

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI497622B (en) Bonding tool, electronic component mounting apparatus and bonding tool manufacturing method
JPH0982718A (en) Manufacture and production equipment for fine metal bumps
KR20040105625A (en) Method of manufacturing mounting boards
JP2004179256A (en) Collet and method for transferring and manufacturing component unit using the same
TWI248672B (en) Method of manufacturing semiconductor integrated circuit device
JP3747054B2 (en) Bonding apparatus and bonding method
JPH0682767B2 (en) Heat sink manufacturing method
JP2021158158A (en) Soldering method, soldering device, and sheet solder
JP2002368023A (en) Method of manufacturing semiconductor device
JP2000349099A (en) Method of bonding with solder and manufacture of semiconductor device
JP2021167004A (en) Sheet solder and soldering method
JPH02127970A (en) Manufacture of heat sink
JPH0437662A (en) Joined structure of ceramic base plate metallic plate
WO2022038700A1 (en) Substrate holder, bonding system, and bonding method
JPH08139096A (en) Electronic component, mounting of electronic component and electronic component mounting device
CN218631925U (en) Pasting and mounting equipment
JP6782375B1 (en) Metal circuit pattern and manufacturing method of metal circuit pattern
JPH10189666A (en) Solder ball mounting carrier film, its manufacture, and solder ball-mounting method
JP2000269239A (en) Ic chip transfer system, ic chip mounting system, ic chip transfer method and ic chip mounting method
JP3337068B2 (en) Method for joining electronic components using flux sheet
JP4345720B2 (en) Component mounting apparatus and component mounting method
JP2003258012A (en) Bump-applying device
JP2000040709A (en) Shifting device and method of conductive ball
JP2001036231A (en) Solder removing device
TW202314877A (en) Substrate holder, bonding system, and bonding method capable of stably bonding semiconductor chips to individual substrates