JPH08139096A - Electronic component, mounting of electronic component and electronic component mounting device - Google Patents

Electronic component, mounting of electronic component and electronic component mounting device

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JPH08139096A
JPH08139096A JP6297985A JP29798594A JPH08139096A JP H08139096 A JPH08139096 A JP H08139096A JP 6297985 A JP6297985 A JP 6297985A JP 29798594 A JP29798594 A JP 29798594A JP H08139096 A JPH08139096 A JP H08139096A
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JP
Japan
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bumps
electronic component
substrate
bump
dummy
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JP6297985A
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Kenji Araki
健次 荒木
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Abstract

PURPOSE: To make it possible to mount an electronic component on a substrate simply and with high accuracy by a method wherein a single or plurality of dummy bumps of a melting point lower than that of first bumps is or are formed on a prescribed region on one surface which has a plurality of first bumps. CONSTITUTION: In a bare chip 14, a metal film 70 of a size of 1/10 to 1/4 or so of the size of a circuit surface 14A is formed on a passivation film on the center part, which comprises the upper part of a circuit, of the circuit surface 14A. A dummy bump 73 consisting of a solder layer of a melting point smaller than that of chip side bumps 72 for bonding, which are respectively formed on electrodes 71, is formed on this film 70 in the same height as that of the chip side bumps 72. As a result, a metal film 74 of the same area as that of the film 70 on the side of the bare chip 14 is formed on a region, which opposes to the film 70 on the bare chip 14, on one surface of an insulating substrate 12. A dummy bump 77 of the same composition as that of the chip side dummy bump 73 is formed on this film 74 in the same height as that of substrate side bumps 76 for bonding, which are respectively formed on electrodes 75 on the substrate 12.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は電子部品及び電子部品の
実装方法並びに電子部品の実装装置に関し、例えばベア
チツプ、ベアチツプを絶縁基板上に実装する際の実装方
法及び実装装置に適用して好適なものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component, a method for mounting the electronic component, and a mounting device for the electronic component, and is suitable for application to, for example, a bare chip and a mounting method and a mounting device for mounting the bare chip on an insulating substrate. It is a thing.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、基板上に実装するチツプ状電子部
品の1つとして、半導体集積回路(以下、これをIC回
路と呼ぶ)が複数形成されたウエハを各IC回路毎の個
別のチツプに切断分離することにより形成された、いわ
ゆるベアチツプと呼ばれるものがある。
2. Description of the Related Art Conventionally, as one of chip-shaped electronic components to be mounted on a substrate, a wafer on which a plurality of semiconductor integrated circuits (hereinafter referred to as IC circuits) are formed is formed into individual chips for each IC circuit. There is a so-called bare chip formed by cutting and separating.

【0003】通常、ベアチツプは、その回路面の各電極
上にそれぞれ設けられたボンデイング用のバンプ(以
下、これをチツプ側バンプと呼ぶ)を、基板の対応する
各電極上にそれぞれ設けられたボンデイング用のバンプ
(以下、これを基板側バンプと呼ぶ)と位置合わせして
接触させた後、これらチツプ側バンプ及び基板側バンプ
をリフロー等によつて溶融し、接合することにより、図
12に示すように、ベアツチプ1側の各電極2と基板3
側の各電極とをチツプ側バンプ及び基板側バンプと融合
してなるバンプ5を介して接続するようにして当該基板
に実装(以下、この方法を第1の実装方法と呼ぶ)して
いる。
Usually, in the bare chip, bonding bumps (hereinafter referred to as chip side bumps) provided on each electrode of the circuit surface of the bare chip are provided on each corresponding electrode of the substrate. FIG. 12 shows that the chip side bumps and the substrate side bumps are melted by reflow or the like and joined after they are aligned and brought into contact with the bumps for manufacturing (hereinafter referred to as substrate side bumps). So that each electrode 2 and substrate 3 on the bare chip 1 side
The respective electrodes on the side are connected to each other via bumps 5 formed by fusing the chip-side bumps and the board-side bumps, and mounted on the substrate (hereinafter, this method is referred to as a first mounting method).

【0004】この第1の実装方法に加え、図12との対
応部分に同一符号を付した図13のように、ベアチツプ
1の回路面1Aに金属膜(以下、これをチツプ側金属膜
と呼ぶ)10を形成すると共に、当該チツプ側金属膜1
0と対向する基板3のパターン面3A上にチツプ側金属
膜10とほぼ同面積の金属膜(以下、これを基板側金属
膜と呼ぶ)11を形成し、これら各チツプ側金属膜10
及び基板側金属膜11をバンプ5とほぼ同融点のはんだ
12で接続することにより当該ベアチツプ1を基板3上
に接続(実装)する方法(以下、この方法を第2の実装
方法と呼ぶ)もある。この第2の実装方法によれば、ベ
アチツプ1を基板3上に実装する際、ベアチツプ1と基
板3との間の熱膨張係数の差に起因してベアチツプ1が
受けるストレスを、チツプ側金属膜10及び基板側金属
膜11間のはんだ12においてある程度吸収し得ること
により、当該ストレスがベアチツプ1の電極2近傍に集
中することを避け得る利点がある。
In addition to the first mounting method, a metal film (hereinafter referred to as a chip-side metal film) is formed on the circuit surface 1A of the bare chip 1 as shown in FIG. ) 10 is formed and the chip side metal film 1 is formed.
A metal film (hereinafter, referred to as a substrate-side metal film) 11 having substantially the same area as the chip-side metal film 10 is formed on the pattern surface 3A of the substrate 3 facing 0, and each of the chip-side metal films 10 is formed.
And a method of connecting (mounting) the bare chip 1 on the substrate 3 by connecting the substrate-side metal film 11 with the solder 12 having substantially the same melting point (hereinafter, this method is referred to as a second mounting method). is there. According to this second mounting method, when the bare chip 1 is mounted on the substrate 3, the stress applied to the bare chip 1 due to the difference in thermal expansion coefficient between the bare chip 1 and the substrate 3 is applied to the chip side metal film. Since it can be absorbed to some extent in the solder 12 between the substrate 10 and the substrate-side metal film 11, there is an advantage that the stress can be prevented from concentrating in the vicinity of the electrode 2 of the bare chip 1.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上述のよう
な従来の第1及び第2の実装方法では、ベアチツプ1を
基板3に実装する際、各チツプ側バンプと、対応する基
板側バンプとを確実に接続させるために、X線等を使用
した高精度な位置合わせが必要になる問題があつた。ま
たこのような位置合わせ作業では、各チツプ側バンプ
と、対応する基板側バンプとを1組ずつ又は複数組ずつ
位置合わせを行うため、位置づれを起こさずにベアチツ
プ1を基板3上に実装するためには長い作業時間を必要
とし、従つてベアチツプ11個あたりの実装タクトタイ
ムが低下する問題があつた。
However, in the first and second conventional mounting methods as described above, when the bare chip 1 is mounted on the substrate 3, each chip side bump and the corresponding substrate side bump are separated from each other. There has been a problem that highly accurate alignment using X-rays or the like is required to ensure the connection. Further, in such an alignment work, each chip-side bump and the corresponding substrate-side bump are aligned one set or a plurality of sets, so that the bare chip 1 is mounted on the substrate 3 without causing misalignment. Therefore, a long working time is required, and accordingly, there is a problem that the mounting tact time per 11 bare chips is reduced.

【0006】さらに上述の第1及び第2の実装方法で
は、各ベアチツプ側バンプと、対応する基板側バンプと
を位置合わせした後、リフロー等により接合する際に、
リフロー炉内で発生する熱風等の影響によりチツプ側バ
ンプと基板側バンプとが位置づれを起こすことがあつ
た。
Further, in the above-mentioned first and second mounting methods, after aligning the respective bump-side bumps and the corresponding board-side bumps, when they are joined by reflow or the like,
The chip side bumps and the substrate side bumps may be misaligned due to the influence of hot air generated in the reflow furnace.

【0007】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、簡易かつ精度良く基板上に実装し得る電子部品及び
電子部品の実装方法並びに電子部品の実装装置を提案し
ようとするものである。
The present invention has been made in view of the above points, and is intended to propose an electronic component, an electronic component mounting method, and an electronic component mounting apparatus which can be mounted on a substrate simply and accurately. .

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め、第1の発明においては、一面(14A)に複数の第
1のバンプ(72)が形成され、各第1のバンプ(7
2)を、基板(12)に形成された対応する第2のバン
プ(76)にそれぞれ接合することにより基板(12)
に実装する電子部品において、一面(14A)の所定領
域に形成された、第1のバンプ(72)よりも低融点の
単数又は複数のダミーバンプ(73)を設けるようにし
た。
In order to solve such a problem, in the first invention, a plurality of first bumps (72) are formed on one surface (14A), and each first bump (7) is formed.
Substrate (12) by bonding the respective 2) to the corresponding second bumps (76) formed on the substrate (12).
In the electronic component mounted on (1), a single or a plurality of dummy bumps (73) having a melting point lower than that of the first bumps (72) are formed in a predetermined area of the one surface (14A).

【0009】また第2の発明においては、一面(14
A)に複数の第1のバンプ(72)が形成され、各第1
のバンプ(72)を、基板(12)に形成された対応す
る第2のバンプ(76)にそれぞれ接合することにより
基板(12)に実装する電子部品の実装方法において、
電子部品(14)の一面(14A)の所定領域上に第1
のバンプ(72)よりも低融点の単数又は複数の第1の
ダミーバンプ(73)を形成する第1の工程と、電子部
品(14)を基板(12)に実装する際に第1のダミー
バンプ(73)と対向する基板(12)の所定領域上
に、第2のバンプ(76)よりも低融点の単数又は複数
の第2のダミーバンプ(77)を形成する第2の工程
と、電子部品(14)の第1のダミーバンプと基板の第
2のダミーバンプとを位置合わせて接合する第3の工程
と、第1及び第2のバンプを接合する第4の工程とを設
けるようにした。
Further, in the second invention, one surface (14
A) a plurality of first bumps (72) are formed, each first bump
In the method of mounting an electronic component, the bumps (72) of (1) are mounted on the substrate (12) by being bonded to the corresponding second bumps (76) formed on the substrate (12), respectively.
The first part is provided on a predetermined area of one surface (14A) of the electronic component (14).
The first dummy bump (73) having a melting point lower than that of the bump (72), and the first dummy bump () when mounting the electronic component (14) on the substrate (12). 73), a second step of forming a second dummy bump (77) having a melting point lower than that of the second bump (76) on a predetermined region of the substrate (12), and an electronic component ( The third step 14) of aligning and bonding the first dummy bump and the second dummy bump of the substrate and the fourth step of bonding the first and second bumps are provided.

【0010】さらに第3の発明においては、一面(14
A)に複数の第1のバンプ(72)が形成され、各第1
のバンプ(72)を、基板(12)に形成された対応す
る第2のバンプ(76)にそれぞれ接合することにより
基板(12)に実装する電子部品の実装装置において、
基板(12)を位置決め保持する基板保持手段(13)
と、基板保持手段(13)により位置決め保持された基
板(12)上に電子部品(14)を、当該電子部品(1
4)の一面(14A)の所定領域に形成された第1のバ
ンプ(72)よりも低融点の第1のダミーバンプ(7
3)と、当該第1のダミーバンプ(73)と対向する基
板(12)の所定領域に形成された第2のバンプ(7
6)よりも低融点の第2のダミーバンプ(77)との位
置合わせをして載せる電子部品載置手段(17)と、第
1及び第2のダミーバンプ(73)、(77)を加熱溶
融させることにより接合させた後、第1及び第2のバン
プ(72)、(76)を加熱溶融させることにより接合
させる加熱手段(18)とを設けるようにした。
Further, in the third invention, one surface (14
A) a plurality of first bumps (72) are formed, each first bump
In the mounting device of the electronic component, which is mounted on the substrate (12) by respectively bonding the bumps (72) of the above to the corresponding second bumps (76) formed on the substrate (12),
Substrate holding means (13) for positioning and holding the substrate (12)
And the electronic component (14) on the substrate (12) positioned and held by the substrate holding means (13).
4) a first dummy bump (7) having a melting point lower than that of the first bump (72) formed in a predetermined area on the one surface (14A).
3) and a second bump (7) formed in a predetermined region of the substrate (12) facing the first dummy bump (73).
6) The electronic component placement means (17) which is placed in alignment with the second dummy bump (77) having a melting point lower than that of 6) and the first and second dummy bumps (73), (77) are heated and melted. After the bonding, the first and second bumps (72) and (76) are heated and melted to be bonded by a heating means (18).

【0011】[0011]

【作用】ボンデイング用の第1のバンプ(72)が形成
された電子部品(14)の一面(14A)に当該第1の
バンプ(72)よりも低融点の第1のダミーバンプ(7
3)を形成すると共に、この電子部品(14)を実装し
た際当該第1のダミーバンプ(73)と対向する基板
(12)の領域上に、当該基板(12)に形成されたボ
ンデイング用の第2のバンプ(76)よりも低融点の第
2のダミーバンプ(77)を形成し、この電子部品(1
4)を基板(12)上に位置合わせをして載せた後、第
1及び第2のダミーバンプ(73)、(77)を溶融さ
せた場合、電子部品(14)には第1及び第2のダミー
バンプ(73)、(77)が溶融してなる金属の表面張
力によつて、いわゆるセルフアライメント効果が働く。
The first dummy bump (7) having a melting point lower than that of the first bump (72) is formed on the one surface (14A) of the electronic component (14) on which the first bump (72) for bonding is formed.
3) is formed, and the first bonding bump formed on the substrate (12) is formed on a region of the substrate (12) facing the first dummy bump (73) when the electronic component (14) is mounted. A second dummy bump (77) having a melting point lower than that of the second bump (76) is formed, and this second electronic bump (1) is formed.
When the first and second dummy bumps (73) and (77) are melted after the substrate 4 is aligned and placed on the substrate 12, the electronic component 14 has the first and second dummy bumps 73 and 77. The so-called self-alignment effect works due to the surface tension of the metal formed by melting the dummy bumps (73) and (77).

【0012】従つてこの際、電子部品(14)が正確な
位置に載せられていない場合にはこのセルフアライメン
ト効果により当該電子部品(14)の位置が自動的に正
しい位置に補正される。従つてこの後第1及び第2のバ
ンプ(72)、(76)を加熱溶融して接合することに
より、例えばX線等を用いた高精度の位置合わせを必要
とせず、またリフロー時における電子部品の位置ずれを
抑制できると共に、ベアチツプあたりの実装タクトタイ
ムを大幅に向上させ得るように電子部品(14)を基板
(12)に実装することができる。
Therefore, at this time, if the electronic component (14) is not placed at an accurate position, the self-alignment effect automatically corrects the position of the electronic component (14). Therefore, after that, the first and second bumps (72) and (76) are heated and melted to be joined together, thereby eliminating the need for highly accurate alignment using, for example, X-rays, and the electron during reflow. The electronic component (14) can be mounted on the substrate (12) so that the positional deviation of the component can be suppressed and the mounting tact time per bare chip can be significantly improved.

【0013】[0013]

【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0014】図1及び図2において、10は全体として
自動電子部品実装装置を示し、筐体11の内部中央に、
絶縁基板12を搬送する基板搬送部13が配設され、筐
体11の背部に、ベアチツプ14を複数収納する部品収
納部15と、当該部品収納部15からベアチツプ14を
取り出して筐体11内部に搬送する部品供給ツール16
とが配設され、かつ筐体11内部の基板搬送部13の上
方に、部品供給ツール16により筐体11内部に搬送さ
れたベアチツプ14を吸引保持して搬送するツール駆動
ロボツト17と、当該ツール駆動ロボツト17に必要に
応じて負圧又は高温エアーを供給するエアーコントロー
ラ18とが配設されて構成されている。
In FIGS. 1 and 2, reference numeral 10 denotes an automatic electronic component mounting apparatus as a whole, which is provided at the center of the inside of the housing 11.
A board transfer section 13 for transferring the insulating board 12 is disposed, a component storage section 15 for storing a plurality of bare chips 14 at the back of the housing 11, and a bare chip 14 taken out from the component storage section 15 and placed inside the housing 11. Parts supply tool 16 to convey
And a tool driving robot 17 for sucking and holding the bear chip 14 transferred to the inside of the housing 11 by the component supply tool 16 above the board transfer unit 13 inside the housing 11, and the tool. The drive robot 17 is provided with an air controller 18 for supplying negative pressure or high temperature air as required.

【0015】実際上、基板搬送部13は、基板固定台昇
降装置20により昇降自在に支持された基板固定台21
の上方に、ほぼコ字状の縦断面を有する第1及び第2の
基板通過レール22A、22Bが凹部22AX、22B
Xを互いに対向させて矢印xで示す左右方向(以下、こ
れをX方向と呼ぶ)と平行に並設されて形成されてい
る。この場合第1及び第2の基板通過レール22A、2
2Bは、図示しない駆動機構によつてその長手方向に自
在に移動し得るようになされており、かくして図示しな
い基板供給装置から供給される絶縁基板12を、当該絶
縁基板12の一端部及び他端部をそれぞれ凹部22A
X、22BXで支持して搬送するようになされている。
In practice, the substrate transfer unit 13 includes a substrate fixing table 21 supported by a substrate fixing table elevating device 20 so as to be vertically movable.
First and second substrate passage rails 22A and 22B having a substantially U-shaped vertical cross section are provided above the recesses 22AX and 22B.
It is formed by arranging X to face each other in parallel with the left-right direction (hereinafter, referred to as X direction) indicated by an arrow x. In this case, the first and second board passage rails 22A, 2
2B is configured to be freely movable in the longitudinal direction by a drive mechanism (not shown). Thus, the insulating substrate 12 supplied from a substrate supply device (not shown) is connected to one end and the other end of the insulating substrate 12. 22A of concave parts
It is designed to be supported and conveyed by X and 22BX.

【0016】また基板固定台21の上面の所定位置には
図示しない基準ピンが植設されている。これにより基板
搬送部13では、第1及び第2の基板通過レール22
A、22Bにより絶縁基板12が筐体11内の所定位置
(以下、この位置を加工位置と呼ぶ)にまで搬送され、
停止されたときに、基板固定台昇降装置20が基板固定
台21を上昇させて上述の基準ピンを絶縁基板12の所
定位置に穿設された貫通孔12Aに嵌挿させることによ
り、絶縁基板12をこの加工位置において位置決め保持
し得るようになされている。
A reference pin (not shown) is planted at a predetermined position on the upper surface of the substrate fixing base 21. As a result, in the substrate transfer unit 13, the first and second substrate passage rails 22
The insulating substrate 12 is transported to a predetermined position in the housing 11 (hereinafter, this position is referred to as a processing position) by A and 22B,
When stopped, the board fixing base elevating device 20 raises the board fixing base 21 and inserts the above-described reference pins into the through holes 12 </ b> A formed at the predetermined positions of the insulating board 12 to cause the insulating board 12 to move. Can be positioned and held at this processing position.

【0017】部品収納部15においては、図2からも明
らかなように、矢印zで示す上下方向(以下、これをZ
方向と呼ぶ)に配列された複数のトレー30を有し、多
数のベアチツプ14が各トレー30上にそれぞれ複数個
ずつその回路面を上向きにしてマトリクス状に並べられ
るようにして収納されている。この場合部品収納部15
では、最上層のトレー30に載上されたベアチツプ14
が全て部品供給ツール16により筐体11内部に搬送さ
れると、当該トレー30がX方向に搬送されて空トレー
ス収納部(図示せず)にストツクされると共に、この後
次段のトレー30がZ方向に押し上げられるようになさ
れており、これにより部品供給ツール16に対して順次
ベアチツプ14を供給することができるようになされて
いる。
In the component storage section 15, as is apparent from FIG. 2, a vertical direction indicated by an arrow z (hereinafter, this will be referred to as Z
A plurality of trays 30 are arranged on each tray 30 such that a plurality of trays 14 are arranged in a matrix with their circuit faces facing upward. In this case, the parts storage section 15
Then, the bear chip 14 mounted on the uppermost tray 30
When all the components are transported to the inside of the housing 11 by the component supply tool 16, the tray 30 is transported in the X direction and is stocked in an empty trace storage section (not shown). It is adapted to be pushed up in the Z direction, so that the bare chip 14 can be sequentially supplied to the component supply tool 16.

【0018】部品供給ツール16は、図1〜図3に示す
ように、筐体11背面に形成された開口11A位置に、
当該開口11Aの下端面11AXに沿つてX方向に移動
自在に、かつ当該開口11Aの下端面11AX近傍を軸
として所定の範囲内で矢印yで示す前後方向(以下、こ
れをY方向と呼ぶ)に回転自在に配設された基部31を
有し、当該基部31の先端に引き出し及び収納自在のア
ーム部32が配置され、当該アーム部32の先端に吸着
ノズル33が配設されて構成されている。この場合吸着
ノズル33は、図示しない負圧源と連結されており、か
くしてその先端部33Aにおいてベアチツプ14を吸着
保持し得るようになされている。
As shown in FIGS. 1 to 3, the component supply tool 16 is provided at the position of the opening 11A formed on the rear surface of the housing 11,
Along with the lower end surface 11AX of the opening 11A, it is movable in the X direction, and the front-back direction indicated by an arrow y within a predetermined range with the vicinity of the lower end surface 11AX of the opening 11A as an axis (hereinafter, referred to as Y direction). Has a base portion 31 rotatably disposed therein, an arm portion 32 that can be pulled out and stored at the tip of the base portion 31, and a suction nozzle 33 is disposed at the tip of the arm portion 32. There is. In this case, the suction nozzle 33 is connected to a negative pressure source (not shown), and thus the tip portion 33A can suck and hold the bare chip 14.

【0019】従つて部品供給ツール16は、部品収納部
15の最上層のトレー30上に載せられているベアチツ
プ14を吸着ノズル33の先端部33AXにおいて吸引
保持した後、筐体11の開口11Aを介して筐体11の
内部側に向けて回転することにより、ベアチツプ14を
回路面を下向きにしてツール駆動ロボツト17(図1)
に供給し得るようになされている。ツール駆動ロボツト
17は、図1からも明らかなように、筐体11内部に固
定配置されたベース部40にY方向に移動自在に取り付
けられたY軸ユニツト41と、当該Y軸ユニツト41に
対してX方向に移動自在に取り付けられたX軸ユニツト
42と、当該X軸ユニツト42に固定配置されたZ軸ユ
ニツト43とを有し、当該Z軸ユニツト43の前面には
カメラ等でなる画像認識装置44が一体に取り付けられ
ている。
Therefore, the component supply tool 16 sucks and holds the bare chip 14 placed on the uppermost tray 30 of the component storage portion 15 at the tip portion 33AX of the suction nozzle 33, and then opens the opening 11A of the housing 11. By rotating toward the inner side of the housing 11 via the tool chip, the bare chip 14 with the circuit surface facing downward is driven by the tool driving robot 17 (FIG. 1).
To be able to supply. As is apparent from FIG. 1, the tool driving robot 17 has a Y-axis unit 41 movably mounted in the Y-direction on a base portion 40 fixedly arranged inside the housing 11, and a Y-axis unit 41 with respect to the Y-axis unit 41. And an Z-axis unit 43 fixedly mounted on the X-axis unit 42. The Z-axis unit 43 has an image recognition device such as a camera on the front surface thereof. The device 44 is integrally attached.

【0020】またZ軸ユニツト43の下端部には、図示
しない駆動機構によりZ方向に移動自在の支持軸45を
介して部品装着ツール46が取り付けられており、これ
により当該部品装着ツール46がX軸ユニツト42、Y
軸ユニツト41及び支持軸45の可動範囲内において筐
体11内部を自在に移動し得るようになされている。
A component mounting tool 46 is attached to the lower end of the Z-axis unit 43 via a support shaft 45 which is movable in the Z direction by a drive mechanism (not shown). Axis unit 42, Y
The inside of the housing 11 can be freely moved within the movable range of the shaft unit 41 and the support shaft 45.

【0021】この部品装着ツール46は、図4に示すよ
うに、耐圧ガラスを用いて、開口50Aを下方に向けた
平坦な四角カツプ形状に形成されたチツプ覆い50を有
し、当該チツプ覆い50は、内部上面50Aの平面形状
がベアチツプ14(図2)の平面形状よりも縦寸法及び
横寸法ともにそれぞれ僅かに大きく形成され、かつ内部
の高さがベアチツプ14の高さよりも深く選定されてい
る。これによりチツプ覆い50は、絶縁基板12の実装
位置に位置合わせして載置されたベアチツプ14を、そ
の内部上面50Aとベアチツプ14の上面との間に均一
な隙間が生じ、かつチツプ覆い50の内周面50Bとベ
アチツプ14の外周面との間に均一な隙間が生じるよう
に覆うことができるようになされている。またチツプ覆
い50の内部上面50Aの中央部には貫通孔50Cが穿
設されていると共に、当該貫通孔50Cには筒形状の給
排気ツール51が遊挿配置されている。
As shown in FIG. 4, the component mounting tool 46 has a chip cover 50 formed of a pressure-resistant glass in the shape of a flat square cup with the opening 50A facing downward, and the chip cover 50. Is formed such that the planar shape of the inner upper surface 50A is slightly larger than the planar shape of the bare chip 14 (FIG. 2) in both vertical and horizontal dimensions, and the internal height is selected deeper than the height of the bare chip 14. . As a result, the chip cover 50 has a uniform gap between the inner upper surface 50A of the bare chip 14 and the upper surface of the bare chip 14, which is placed at the mounting position of the insulating substrate 12, and the chip cover 50 has a uniform gap. The inner peripheral surface 50B and the outer peripheral surface of the bare chip 14 can be covered so as to form a uniform gap. Further, a through hole 50C is formed in the center of the inner upper surface 50A of the chip cover 50, and a cylindrical air supply / exhaust tool 51 is loosely inserted and arranged in the through hole 50C.

【0022】給排気ツール51は、図示しないモータか
ら与えられる駆動力に基づいてZ方向に自在にストロー
クでき、また上端部がパイプ52(図1)を介してエア
ーコントローラ18と連結されていることにより、ベア
チツプ14をその先端部において吸引保持し得るように
なされている。従つてツール駆動ロボツト17(図1)
では、部品供給ツール16(図1〜図3)によつて筐体
11内部に搬送されてきたベアチツプ14を、部品装着
ツール46において吸引保持して部品供給ツール16及
び絶縁基板12間において搬送することができ、かくし
て当該ベアチツプ14を絶縁基板12の所定の実装位置
上に供給することができるようになされている。
The air supply / exhaust tool 51 can be freely stroked in the Z direction based on a driving force given by a motor (not shown), and its upper end is connected to the air controller 18 via a pipe 52 (FIG. 1). Thus, the bare chip 14 can be suction-held at its tip. Therefore, the tool drive robot 17 (Fig. 1)
Then, the bare chip 14, which has been transported into the housing 11 by the component supply tool 16 (FIGS. 1 to 3), is suction-held by the component mounting tool 46 and transported between the component supply tool 16 and the insulating substrate 12. Thus, the bare chip 14 can be supplied onto a predetermined mounting position of the insulating substrate 12.

【0023】このため図4からも明らかなように、部品
装着ツール46の給排気ツール51の先端部には、ゴム
等の弾性材でなる均一な厚さのパツキン60が取り付け
られおり、かくしてベアチツプ14の吸引時に当該ベア
チツプ14を傷付けないようになされている。またチツ
プ覆い50の内部上面50Aにも貫通孔50Cを避けて
ゴム等の弾性材でなる均一の厚さのパツキン61が配設
されており、かしくて吸引保持したベアチツプ14の上
面をチツプ覆い50の内部上面50Aで傷つけないよう
になされている。
Therefore, as is clear from FIG. 4, a packing 60 having a uniform thickness made of an elastic material such as rubber is attached to the tip of the air supply / exhaust tool 51 of the component mounting tool 46, and thus the bare chip is installed. It is designed not to damage the bare chip 14 when the 14 is sucked. Further, a packing 61 having a uniform thickness made of an elastic material such as rubber is provided on the inner upper surface 50A of the chip cover 50 so as to avoid the through hole 50C. The inner upper surface 50A is not scratched.

【0024】さらにチツプ覆い50の下端部には、開口
50Aの全周囲を覆うように、ゴム材でなる均一な厚さ
のパツキン62が配設されており、かくして給排気ツー
ル51により吸引保持したベアチツプ14を絶縁基板1
2の実装位置上にマウントする際、チツプ覆い50を絶
縁基板12に圧接させることによつてチツプ覆い50内
部を密封し得るようになされている。これは、ベアチツ
プ14を絶縁基板12上にマウントすると、この後エア
ーコントローラ18(図1)が駆動してリフロー用の高
温エアーを給排気ツール51を介してチツプ覆い50内
部に供給するようになされているためであり、従つてこ
のツール駆動ロボツト17(図1)では、この際にチツ
プ覆い50内部の高温エアーがチツプ覆い50外部に漏
れるのを防止し得るようになされている。
Further, at the lower end portion of the chip cover 50, a packing 62 made of a rubber material and having a uniform thickness is arranged so as to cover the entire circumference of the opening 50A, and thus suction and hold by the air supply / exhaust tool 51. The bare chip 14 is attached to the insulating substrate 1
When the chip cover 50 is mounted on the second mounting position, the inside of the chip cover 50 can be sealed by pressing the chip cover 50 against the insulating substrate 12. This is because when the bare chip 14 is mounted on the insulating substrate 12, the air controller 18 (FIG. 1) is driven thereafter to supply high temperature air for reflow into the inside of the chip cover 50 via the air supply / exhaust tool 51. Therefore, the tool driving robot 17 (FIG. 1) can prevent the hot air inside the chip cover 50 from leaking to the outside of the chip cover 50 at this time.

【0025】一方ベアチツプ14においては、図5
(A)及び(B)に示すように、回路面14Aの回路上
を含む中央部に回路面14Aの10分の1ないし4分の
1程度の大きさの金属膜70がパツシベーシヨン上に形
成され、この金属膜70上に、各電極71上にそれぞれ
形成されているボンデイング用のチツプ側バンプ72よ
りも低融点のはんだ(例えば共晶はんだ)でなるダミー
バンプ(以下、これをチツプ側ダミーバンプと呼ぶ)7
3がチツプ側バンプ72と同じ高さで形成されている。
このため図6(A)及び(B)に示すように、絶縁基板
12のベアチツプ14の金属膜70と対向する領域上に
は、当該ベアチツプ14側の金属膜70と同面積の金属
膜74が形成され、この金属膜74上に、絶縁基板12
の各電極75上にそれぞれ形成されているボンデイング
用の基板側バンプ76と同じ高さでチツプ側ダミーバン
プ73と同組成のダミーバンプ(以下、これを基板側ダ
ミーバンプと呼ぶ)77が形成されている。
On the other hand, in the bear chip 14, FIG.
As shown in (A) and (B), a metal film 70 having a size of about 1/10 to 1/4 of the circuit surface 14A is formed on the passivation in the central portion of the circuit surface 14A including the circuit. , Dummy bumps made of solder (e.g., eutectic solder) having a lower melting point than the chip-side bumps 72 for bonding formed on the electrodes 71 on the metal film 70 (hereinafter referred to as chip-side dummy bumps). ) 7
3 is formed at the same height as the chip-side bump 72.
Therefore, as shown in FIGS. 6A and 6B, a metal film 74 having the same area as the metal film 70 on the bare chip 14 side is formed on the region of the insulating substrate 12 facing the metal film 70 of the bare chip 14. The insulating substrate 12 is formed on the metal film 74.
Dummy bumps 77 (hereinafter, referred to as substrate-side dummy bumps) 77 having the same composition as the chip-side dummy bumps 73 and the same height as the substrate-side bumps 76 for bonding formed on the respective electrodes 75 are formed.

【0026】以上の構成において、図1及び図2に示す
この自動部品実装装置10では、動作時、まず基板搬送
部13の第1及び第2の基板通過レール22A、22B
が基板供給部から供給された絶縁基板12を、筐体11
内部の上述した加工位置にまで搬送し、続いて基板固定
台昇降装置20が駆動して基板固定台21を上昇させる
ことにより、当該基板固定台21に配設された上述の基
準ピンを絶縁基板12の基準穴12Aに嵌挿させる。こ
れによりこの絶縁基板12を加工位置において位置決め
した状態に固定保持する。続いて部品供給ツール16が
駆動して部品収納部15の最上層のトレー30に載せら
れているベアチツプ14を1つ吸引保持し、この後部品
供給ツール16が筐体11側に回転することにより当該
ベアチツプ14を筐体11内部に搬送する。
In the above-described structure, in the automatic component mounting apparatus 10 shown in FIGS. 1 and 2, during operation, first, the first and second board passage rails 22A and 22B of the board transfer section 13 are firstly provided.
The insulating substrate 12 supplied from the substrate supply unit to the housing 11
The substrate is transported to the above-described processing position, and then the substrate fixing base elevating device 20 is driven to raise the substrate fixing base 21, whereby the reference pins arranged on the substrate fixing base 21 are insulated. The reference holes 12A of 12 are fitted and inserted. As a result, the insulating substrate 12 is fixedly held in a state of being positioned at the processing position. Subsequently, the component supply tool 16 is driven to suck and hold one bear chip 14 placed on the uppermost tray 30 of the component storage unit 15, and thereafter the component supply tool 16 rotates toward the housing 11 side. The bare chip 14 is transported into the housing 11.

【0027】次いでツール駆動ロボツト17が駆動して
部品装着ツール46を、部品供給ツール16により筐体
11内部に搬送されたベアチツプ14の上方位置にまで
移動させると共に、この後エアーコントローラ18が駆
動して部品装着ツール46にこのベアチツプ14を吸引
保持させる。さらに再びツール駆動ロボツト17が駆動
することにより、図7に示すように、部品装着ツール4
6を基板搬送部13により位置決め保持されている絶縁
基板12上方の所定位置に移動させる。この際ツール駆
動ロボツト17は、画像認識装置44(図1)が認識し
た絶縁基板12上の基板側ダミーバンプ77の中心部
と、部品装着ツール46が吸引保持しているベアチツプ
14のチツプ側ダミーバンプ73の中心部とが対向する
ように当該部品装着ツール46を移動させる。
Next, the tool driving robot 17 is driven to move the component mounting tool 46 to a position above the bare chip 14 which has been conveyed into the housing 11 by the component supply tool 16, and thereafter the air controller 18 is driven. The component mounting tool 46 sucks and holds the bear chip 14. As the tool driving robot 17 is driven again, as shown in FIG.
6 is moved to a predetermined position above the insulating substrate 12 which is positioned and held by the substrate transport unit 13. At this time, the tool driving robot 17 has the center portion of the board-side dummy bump 77 on the insulating substrate 12 recognized by the image recognition device 44 (FIG. 1) and the chip-side dummy bump 73 of the bare chip 14 held by the component mounting tool 46 by suction. The component mounting tool 46 is moved so that the central portion of the component mounting tool 46 faces.

【0028】次いでツール駆動ロボツト17が駆動して
部品装着ツール46を下降させることにより、チツプ覆
い50の下端部に取り付けられたパツキン62を絶縁基
板12の上面に圧接させると共に、この後給排気ツール
51の駆動モータが駆動して当該給排気ツール51を下
降させることにより、図8に示すように、ベアチツプ1
4のチツプ側ダミーバンプ73を絶縁基板12の基板側
ダミーバンプ77に接触させる。
Then, the tool driving robot 17 is driven to lower the component mounting tool 46 to press the packing 62 attached to the lower end of the chip cover 50 against the upper surface of the insulating substrate 12, and then supply and exhaust the tool. By driving the drive motor 51 to lower the supply / exhaust tool 51, as shown in FIG.
The chip side dummy bumps 73 of No. 4 are brought into contact with the substrate side dummy bumps 77 of the insulating substrate 12.

【0029】続いて給排気ツール51の駆動モータが駆
動して、図9に示すように当該給排気ツール51を上昇
させると共に、この後エアーコントローラ18(図1)
が駆動して給排気ツール51の下端からボンデイング用
のチツプ側バンプ72及び基板側バンプ76が溶融せ
ず、かつチツプ側ダミーバンプ73及び基板側ダミーバ
ンプ77が溶融する程度の温度(例えば183 〔°〕程
度)の高温エアーをチツプ覆い50内部に排出すること
により、チツプ側ダミーバンプ73及び基板側ダミーバ
ンプ77のみを溶融させて接合させる。
Subsequently, the drive motor of the air supply / exhaust tool 51 is driven to raise the air supply / exhaust tool 51 as shown in FIG. 9, and thereafter, the air controller 18 (FIG. 1).
Is driven to melt the chip-side bumps 72 and the substrate-side bumps 76 for bonding from the lower end of the air supply / exhaust tool 51, and the chip-side dummy bumps 73 and the substrate-side dummy bumps 77 melt (for example, 183 [°]). By discharging high-temperature air (about) into the chip cover 50, only the chip-side dummy bumps 73 and the substrate-side dummy bumps 77 are melted and bonded.

【0030】因に、ベアチツプ14を絶縁基板12上に
位置合わせして載せる際に、図10のようにチツプ側ダ
ミーバンプ73の中心部と、基板側ダミーバンプ77の
中心部と間で位置ずれが生じることがあるが、この位置
ずれは、チツプ側ダミーバンプ73及び基板側ダミーバ
ンプ77が溶融する際、はんだのセルフアライメント効
果により自動的に補正される。続いて再びエアーコント
ローラ18(図1)が駆動して部品装着ツール46の給
排気ツール51の下端からチツプ側バンプ72及び基板
側バンプ76が溶融する温度の高温エアーをチツプ覆い
50内部に排出することにより、チツプ側バンプ72及
び基板側バンプ76を溶融し、接合させる。
Incidentally, when the bare chip 14 is aligned and placed on the insulating substrate 12, a displacement occurs between the central portion of the chip side dummy bump 73 and the central portion of the substrate side dummy bump 77 as shown in FIG. However, this positional deviation is automatically corrected by the self-alignment effect of the solder when the chip side dummy bump 73 and the substrate side dummy bump 77 are melted. Then, the air controller 18 (FIG. 1) is driven again to discharge high temperature air from the lower end of the air supply / exhaust tool 51 of the component mounting tool 46 into the chip cover 50 at a temperature at which the chip side bumps 72 and the board side bumps 76 are melted. As a result, the chip-side bumps 72 and the substrate-side bumps 76 are melted and joined.

【0031】これにより図11に示すように、ベアチツ
プ14の金属板70がチツプ側ダミーバンプ73(図7
〜図10)及び基板側ダミーバンプ77(図7〜図1
0)が接合してなるバンプ80を介して絶縁基板12の
金属板74に接続されると共に、ベアチツプ14の各電
極71は絶縁基板12の対応する電極75にチツプ側バ
ンプ73(図7〜図10)及び基板側バンプ77(図7
〜図10)が接合してなるバンプ81を介して接合さ
れ、かくしてベアチツプ14が絶縁基板12上に実装さ
れる。
As a result, as shown in FIG. 11, the metal plate 70 of the bare chip 14 is replaced by the chip side dummy bumps 73 (see FIG. 7).
To FIG. 10) and the dummy bumps 77 on the substrate side (see FIGS. 7 to 1).
0) are connected to the metal plate 74 of the insulating substrate 12 via the bumps 80, and each electrode 71 of the bare chip 14 is connected to the corresponding electrode 75 of the insulating substrate 12 on the chip side bump 73 (FIGS. 7 to 7). 10) and the bumps 77 on the substrate side (see FIG. 7).
To FIG. 10) are bonded via the bumps 81 formed by bonding, and thus the bare chip 14 is mounted on the insulating substrate 12.

【0032】次いで図1に示すツール駆動ロボツト17
が駆動して部品装着ツール46を絶縁基板12から引き
離すと共に、基板搬送部13の基板固定台昇降装置20
が駆動して基板固定台21を下降させることにより位置
決め保持を解除した後、第1及び第2の基板通過レール
22A、22Bが駆動してこの絶縁基板12を続くライ
ンに送りだす。さらにこの自動部品検査装置10は、こ
の後同様の動作を順次繰り返す。これにより基板供給部
から順次供給される加工対象の絶縁基板12に対して、
当該絶縁基板12の所定位置上に順次ベアチツプ14を
実装する。
Next, the tool driving robot 17 shown in FIG.
Is driven to separate the component mounting tool 46 from the insulating substrate 12, and at the same time, the substrate fixing base lifting device 20 of the substrate transfer unit 13 is driven.
Drives to lower the substrate fixing base 21 to release the positioning and holding, and then the first and second substrate passage rails 22A and 22B are driven to send the insulating substrate 12 to the subsequent line. Further, the automatic component inspection apparatus 10 thereafter sequentially repeats the same operation. Thereby, with respect to the insulating substrate 12 to be processed which is sequentially supplied from the substrate supply unit,
The bare chips 14 are sequentially mounted on predetermined positions of the insulating substrate 12.

【0033】以上の構成によれば、図7〜図10に示す
ように、ベアチツプ14上に、本来のボンデイング用の
チツプ側バンプ72よりも低融点なダミーバンプ(チツ
プ側ダミーバンプ73)を当該チツプ側バンプ72と同
じ高さに形成すると共に、絶縁基板12に本来のボンデ
イング用の基板側バンプ76よりも低融点な、チツプ側
ダミーバンプ73と同組成のダミーバンプ(基板側ダミ
ーバンプ77)を、基板側バンプ76と同じ高さに形成
し、ベアチツプ14を絶縁基板12の所定位置上に位置
合わせをして載せた後、当該ベアチツプ14を覆う部品
装着ツール46のチツプ覆い50内部にボンデイング用
の基板側バンプ76及びチツプ側バンプ72が溶融せ
ず、かつチツプ側ダミーバンプ73及び基板側ダミーバ
ンプ77が溶融する温度の高温エアーを供給することに
よりチツプ側ダミーバンプ73及び基板側ダミーバンプ
77を溶融接合させると共に、この後チツプ覆い50内
部にボンデイング用の基板側バンプ76及びチツプ側バ
ンプ72が溶融温度の高温エアーを供給することにより
基板側バンプ76及びチツプ側バンプ72を溶融接合さ
せるようにしてベアチツプ14を絶縁基板12上に実装
するようにしたことにより、ベアチツプ14と絶縁基板
12との位置合わせをする際に生じる位置ずれをはんだ
のセルフアライメント効果により自動的に補正すること
ができ、かくしてベアチツプ14を簡易かつ精度良く加
工対象の絶縁基板12上に実装することのできる自動部
品実装装置を実現できる。
According to the above-mentioned structure, as shown in FIGS. 7 to 10, a dummy bump (chip side dummy bump 73) having a melting point lower than that of the original chip side bump 72 for bonding is provided on the bare chip 14. A dummy bump (substrate-side dummy bump 77) having the same composition as the chip-side dummy bump 73, which is formed at the same height as the bump 72 and has a lower melting point than the original substrate-side bump 76 for bonding, is formed on the insulating substrate 12. The bump 14 is formed at the same height as that of the bump 76, and after the bare chip 14 is aligned and placed on a predetermined position of the insulating substrate 12, the bumps 50 on the substrate side for bonding are provided inside the chip cover 50 of the component mounting tool 46 that covers the bare chip 14. 76 and the chip-side bump 72 do not melt, and the chip-side dummy bump 73 and the substrate-side dummy bump 77 do not melt. The chip-side dummy bumps 73 and the substrate-side dummy bumps 77 are melt-bonded by supplying high-temperature air, and thereafter the board-side bumps 76 and the chip-side bumps 72 for bonding use high-temperature air having a melting temperature. By supplying the substrate-side bumps 76 and the chip-side bumps 72 to melt-bond them to mount the bare chips 14 on the insulating substrate 12, when the bare chips 14 and the insulating substrate 12 are aligned with each other. The generated positional deviation can be automatically corrected by the self-alignment effect of the solder, and thus it is possible to realize an automatic component mounting apparatus capable of mounting the bare chip 14 on the insulating substrate 12 to be processed simply and accurately.

【0034】またベアチツプ14と絶縁基板12との位
置合わせをチツプ側ダミーバンプ73と、基板側ダミー
バンプ77との簡単な位置合わせだけで行うことができ
ることにより、各ベアチツプ14毎の実装タクトタイム
を向上させることができる。
Since the alignment of the bare chip 14 and the insulating substrate 12 can be performed only by the simple alignment of the chip side dummy bumps 73 and the substrate side dummy bumps 77, the mounting tact time for each bare chip 14 is improved. be able to.

【0035】さらにチツプ側ダミーバンプ73及び基板
側ダミーバンプ77の表面積が、チツプ表面積の1/1
0〜1/4程度と十分に大きいため、リフロー時でのベ
アチツプ14と絶縁基板12との位置ずれを最小限に抑
えることができる。さらには、ベアチツプ実装を完全自
動化することができる。
Further, the surface area of the chip side dummy bump 73 and the substrate side dummy bump 77 is 1/1 of the chip surface area.
Since the size is sufficiently large as about 0 to 1/4, it is possible to minimize the positional deviation between the bare chip 14 and the insulating substrate 12 during reflow. Furthermore, the bare chip mounting can be fully automated.

【0036】なお上述の実施例においては、本発明を半
導体集積回路のベアチツプ14、当該ベアチツプ14を
絶縁基板12上に実装する際の実装方法及び、当該ベア
チツプ14を絶縁基板12上に実装する自動部品実装装
置10に適用するようにした場合について述べたが、本
発明はこれに限らず、この他の電子部品、当該電子部品
を基板上に実装する際の実装方法及び、当該電子部品を
基板上に実装する他の自動部品実装装置にも広く適用す
ることができる。
In the embodiment described above, the present invention is applied to a bare chip 14 of a semiconductor integrated circuit, a mounting method for mounting the bare chip 14 on the insulating substrate 12, and an automatic mounting method for mounting the bare chip 14 on the insulating substrate 12. Although the case where it is applied to the component mounting apparatus 10 has been described, the present invention is not limited to this, other electronic components, a mounting method for mounting the electronic component on a substrate, and the electronic component on a substrate. It can be widely applied to other automatic component mounting apparatuses mounted on the above.

【0037】また上述の実施例においては、ベアチツプ
14及び絶縁基板12にチツプ側ダミーバンプ73及び
基板側ダミーバンプ77をそれぞれ1個ずつ形成するよ
うにした場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、複数個ずつ形成するようにしても良い。
Further, in the above-mentioned embodiment, the case where one chip-side dummy bump 73 and one substrate-side dummy bump 77 are formed on the bare chip 14 and the insulating substrate 12 has been described, but the present invention is not limited to this. Alternatively, a plurality of them may be formed.

【0038】さらに上述の実施例においては、ベアチツ
プ14に形成するダミーバンプ(チツプ側ダミーバンプ
73及び絶縁基板12に形成するダミーバンプ(基板側
ダミーバンプ77)の大きさを、その表面積がベアチツ
プ14の表面積の10分の1ないし4分の1程度になる
ように選定するようにした場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、この他の大きさであつても良い。
Further, in the above-described embodiment, the size of the dummy bumps formed on the bare chip 14 (the chip side dummy bumps 73 and the dummy bumps formed on the insulating substrate 12 (the substrate side dummy bumps 77) is 10 times the surface area of the bare chip 14). Although the case has been described in which the selection is made to be about 1/4 to 1/4, the present invention is not limited to this, and other sizes may be used.

【0039】さらに上述の実施例においては、絶縁基板
12に対するベアチツプ14の位置合わせを、チツプ側
ダミーバンプ73の中央部と基板側ダミーバンプ77の
中央部とが合うように行うようにした場合について述べ
たが、本発明はこれに限らず、これに加えてベアチツプ
14に形成されたボンデイング用の各チツプ側バンプ7
2と、絶縁基板12に形成されたボンデイング用の各基
板側バンプ76との位置合わせを行うことにより絶縁基
板12に対するベアチツプ14の位置合わせするように
しても良い。
Further, in the above-described embodiment, the case where the position of the bare chip 14 with respect to the insulating substrate 12 is adjusted so that the central portion of the chip side dummy bump 73 and the central portion of the substrate side dummy bump 77 are aligned with each other has been described. However, the present invention is not limited to this, and in addition to this, each chip side bump 7 formed on the bare chip 14 for bonding.
The bare chip 14 may be aligned with the insulating substrate 12 by aligning the bumps 2 with the respective substrate-side bumps 76 for bonding formed on the insulating substrate 12.

【0040】[0040]

【発明の効果】上述のように本発明によれば、ボンデイ
ング用の第1のバンプが形成された電子部品の一面に当
該第1のバンプよりも低融点の第1のダミーバンプを形
成すると共に、この電子部品を実装した際当該第1のダ
ミーバンプと対向する基板の領域上に、当該基板に形成
されたボンデイング用の第2のバンプよりも低融点の第
2のダミーバンプを形成し、この電子部品を基板上に位
置合わせをして載せた後、第1及び第2のダミーバンプ
を溶融させた後、第1及び第2のバンプを加熱溶融して
接合するようにしたことにより、例えばX線等を用いた
高精度の位置合わせを必要とせず、またリフロー時にお
ける電子部品の位置ずれを抑制でき、かつベアチツプあ
たりの実装タクトタイムを大幅に向上させることがで
き、かくして簡易かつ精度良く基板上に実装し得る電子
部品及び電子部品の実装方法並びに電子部品の実装装置
を実現できる。
As described above, according to the present invention, the first dummy bump having a melting point lower than that of the first bump is formed on one surface of the electronic component on which the first bump for bonding is formed, and When this electronic component is mounted, a second dummy bump having a melting point lower than that of the second bonding bump formed on the substrate is formed on a region of the substrate facing the first dummy bump. After aligning and mounting on the substrate, the first and second dummy bumps are melted, and then the first and second bumps are heated and melted to be bonded together. It does not require high-precision alignment using the, and can prevent the displacement of electronic parts during reflow, and can significantly improve the mounting tact time per bare chip. Accuracy can be realized mounting device mounting method and electronic component of the electronic component and the electronic component can be mounted on the substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】実施例による自動部品実装装置の全体構成を部
分的に断面をとつて示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an entire configuration of an automatic component mounting apparatus according to an embodiment with a partial cross section.

【図2】実施例による自動部品実装装置の構成を示す略
線的な斜視図である。
FIG. 2 is a schematic perspective view showing a configuration of an automatic component mounting apparatus according to an embodiment.

【図3】部品供給ツールの構成を示す略線的な斜視図で
ある。
FIG. 3 is a schematic perspective view showing a configuration of a component supply tool.

【図4】部品装着ツールの構成を示す断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view showing a configuration of a component mounting tool.

【図5】ベアチツプの構成を示す側面図及び平面図であ
る。
5A and 5B are a side view and a plan view showing the structure of the bare chip.

【図6】絶縁基板の構成を示す側面図及び平面図であ
る。
6A and 6B are a side view and a plan view showing the configuration of an insulating substrate.

【図7】自動部品実装装置の動作の説明に供する断面図
である。
FIG. 7 is a sectional view for explaining the operation of the automatic component mounting apparatus.

【図8】自動部品実装装置の動作の説明に供する断面図
である。
FIG. 8 is a sectional view for explaining the operation of the automatic component mounting apparatus.

【図9】自動部品実装装置の動作の説明に供する断面図
である。
FIG. 9 is a sectional view for explaining the operation of the automatic component mounting apparatus.

【図10】自動部品実装装置の動作の説明に供する断面
図である。
FIG. 10 is a sectional view for explaining the operation of the automatic component mounting apparatus.

【図11】自動部品実装装置の動作の説明に供する断面
図である。
FIG. 11 is a sectional view for explaining the operation of the automatic component mounting apparatus.

【図12】従来のベアチツプの実装方法の説明に供する
断面図である。
FIG. 12 is a sectional view for explaining a conventional mounting method for a bare chip.

【図13】従来のベアチツプの実装方法の説明に供する
断面図である。
FIG. 13 is a sectional view for explaining a conventional mounting method for a bare chip.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10……自動部品実装装置、12……絶縁基板、13…
…基板搬送部、14……ベアチツプ、14A……回路
面、15……部品収納部、16……部品供給ツール、1
7……ツール駆動ロボツト、18……エアーコントロー
ラ、50……チツプ覆い、51……給排気ツール、7
0、74……金属膜、71、75……電極、72……チ
ツプ側バンプ、73……チツプ側ダミーバンプ、76…
…基板側バンプ、77……基板側ダミーバンプ。
10 ... Automatic component mounting device, 12 ... Insulating substrate, 13 ...
... Board transfer section, 14 ... Bear chip, 14A ... Circuit surface, 15 ... Component storage section, 16 ... Component supply tool, 1
7: Tool driving robot, 18: Air controller, 50: Chip cover, 51: Air supply / exhaust tool, 7
0, 74 ... Metal film, 71, 75 ... Electrode, 72 ... Chip bump, 73 ... Chip dummy bump, 76 ...
… Board side bumps, 77 …… Board side dummy bumps.

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】一面に複数の第1のバンプが形成され、上
記各第1のバンプを基板に形成された対応する第2のバ
ンプにそれぞれ接合することにより上記基板に実装する
電子部品において、 上記一面の所定領域に形成された、上記第1のバンプよ
りも低融点の単数又は複数のダミーバンプを具えること
を特徴とする電子部品。
1. An electronic component mounted on a substrate, wherein a plurality of first bumps are formed on one surface, and each of the first bumps is bonded to a corresponding second bump formed on the substrate. An electronic component comprising a single or a plurality of dummy bumps having a melting point lower than that of the first bumps, the dummy bumps being formed in a predetermined area on the one surface.
【請求項2】上記所定領域は、上記一面の中央部でなる
ことを特徴とする請求項1に記載の電子部品。
2. The electronic component according to claim 1, wherein the predetermined region is a central portion of the one surface.
【請求項3】上記一面の上記所定領域上に形成された金
属膜を具え、上記ダミーバンプが上記金属膜上に形成さ
れたことを特徴とする請求項1に記載の電子部品。
3. The electronic component according to claim 1, further comprising a metal film formed on the predetermined region of the one surface, wherein the dummy bumps are formed on the metal film.
【請求項4】上記ダミーバンプは、表面積の大きさが上
記電子部品全体の表面積の10分の1ないし4分の1程
度に選定されたことを特徴とする請求項1に記載の電子
部品。
4. The electronic component according to claim 1, wherein the size of the surface area of the dummy bump is selected to be about 1/10 to 1/4 of the surface area of the entire electronic component.
【請求項5】一面に複数の第1のバンプが形成され、上
記各第1のバンプを、基板に形成された対応する第2の
バンプにそれぞれ接合することにより上記基板に実装す
る電子部品において、 上記電子部品の上記一面の所定領域上に上記第1のバン
プよりも低融点の単数又は複数の第1のダミーバンプを
形成する第1の工程と、 上記電子部品を上記基板に実装する際に上記第1のダミ
ーバンプと対向する上記基板の所定領域上に、上記第2
のバンプよりも低融点の単数又は複数の第2のダミーバ
ンプを形成する第2の工程と、 上記電子部品の上記第1のダミーバンプと上記基板の上
記第2のダミーバンプとを位置合わせて接合する第3の
工程と、 上記第1及び第2のバンプを接合する第4の工程とを具
えることを特徴とする電子部品の実装方法。
5. An electronic component mounted on a substrate, wherein a plurality of first bumps are formed on one surface, and each of the first bumps is bonded to a corresponding second bump formed on the substrate. A first step of forming one or a plurality of first dummy bumps having a melting point lower than that of the first bumps on a predetermined region of the one surface of the electronic component, and when mounting the electronic component on the substrate The second area is formed on a predetermined area of the substrate facing the first dummy bump.
Second step of forming one or more second dummy bumps having a melting point lower than that of the bump, and a step of aligning and joining the first dummy bump of the electronic component and the second dummy bump of the substrate. 3. A method of mounting an electronic component, comprising the step 3 and a fourth step of joining the first and second bumps.
【請求項6】上記電子部品の上記一面の上記所定領域
は、当該一面の中央部でなることを特徴とする請求項5
に記載の電子部品の実装方法。
6. The predetermined area of the one surface of the electronic component is a central portion of the one surface.
Mounting method of electronic parts described in.
【請求項7】上記電子部品は、ベアチツプでなることを
特徴とする請求項5に記載の電子部品の実装方法。
7. The electronic component mounting method according to claim 5, wherein the electronic component is a bare chip.
【請求項8】上記第3の工程は、上記電子部品の上記第
1のダミーバンプと上記基板の上記第2のダミーバンプ
とを接合させる以前に、上記電子部品の上記第1のバン
プと上記基板の上記第2のバンプとを位置合わせする第
5の工程を含むことを特徴とする請求項5に記載の電子
部品の実装方法。
8. In the third step, before bonding the first dummy bumps of the electronic component and the second dummy bumps of the substrate, the first bumps of the electronic component and the substrate are bonded. The electronic component mounting method according to claim 5, further comprising a fifth step of aligning the second bump with the second bump.
【請求項9】上記第1のダミーバンプは、上記電子部品
の上記一面の上記所定領域上に形成された第1の金属膜
上に形成し、 上記第2のダミーバンプは、上記基板の上記一面の上記
所定領域上に形成された第2の金属膜上に形成すること
を特徴とする請求項5に記載の電子部品の実装方法。
9. The first dummy bump is formed on a first metal film formed on the predetermined region of the one surface of the electronic component, and the second dummy bump is formed on the one surface of the substrate. The electronic component mounting method according to claim 5, wherein the electronic component is formed on the second metal film formed on the predetermined region.
【請求項10】上記第1及び第2のダミーバンプの表面
積の大きさを、それぞれ上記電子部品全体の表面積の1
0分の1ないし4分の1程度に選定することを特徴とす
る請求項5に記載の電子部品の実装方法。
10. The size of the surface area of each of the first and second dummy bumps is set to be 1 of the surface area of the entire electronic component.
The electronic component mounting method according to claim 5, characterized in that the thickness is selected to be about 1/0 to 1/4.
【請求項11】一面に複数の第1のバンプが形成され、
上記各第1のバンプを、基板に形成された対応する第2
のバンプにそれぞれ接合することにより上記基板に実装
する電子部品において、 上記基板を位置決め保持する基板保持手段と、 上記基板保持手段により位置決め保持された上記基板上
に上記電子部品を、当該電子部品の上記一面の所定領域
に形成された上記第1のバンプよりも低融点の第1のダ
ミーバンプと、当該第1のダミーバンプと対向する上記
基板の所定領域に形成された上記第2のバンプよりも低
融点の第2のダミーバンプとの位置合わせをして載せる
電子部品載置手段と、 上記第1及び第2のダミーバンプを加熱溶融させること
により接合させた後、上記第1及び第2のバンプを加熱
溶融させることにより接合させる加熱手段とを具えるこ
とを特徴とする電子部品の実装装置。
11. A plurality of first bumps are formed on one surface,
Each of the first bumps is replaced with a corresponding second bump formed on the substrate.
In the electronic component mounted on the substrate by being bonded to the bumps, the substrate holding means for positioning and holding the substrate, the electronic component on the substrate positioned and held by the substrate holding means, Lower than a first dummy bump having a melting point lower than that of the first bump formed in a predetermined area of the one surface, and lower than the second bump formed in a predetermined area of the substrate facing the first dummy bump. After the electronic component placement means for aligning and placing the second dummy bump having the melting point and the first and second dummy bumps are joined by heating and melting, the first and second bumps are heated. An electronic component mounting apparatus, comprising: a heating unit that is joined by melting.
【請求項12】上記電子部品は、ベアチツプでなること
を特徴とする請求項11に記載の電子部品の実装装置。
12. The electronic component mounting apparatus according to claim 11, wherein the electronic component is a bare chip.
【請求項13】上記電子部品載置手段は、上記第1及び
第2のダミーバンプの位置合わせの際、上記第1及び第
2のバンプの位置合わせも行うことを特徴とする請求項
11に記載の電子部品の実装装置。
13. The electronic component placement means also performs alignment of the first and second bumps when aligning the first and second dummy bumps. Electronic component mounting device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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