JP2004134803A - フリップチップ型発光ダイオードのチップ形状 - Google Patents
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Abstract
【課題】フリップフロップ型LEDからの光の取出量を改善する。
【解決手段】発光ダイオード(50)は、負にドープされた層(52)、正にドープされた層(54)、活性p−n接合層による発光領域(53)、及び発光領域(53)の上側に位置する透明基板(51)を有する。光の取出量を改善すべく、透明基板(51)は、ピラミッド形状に類似の形状とされる。
【選択図】図15
【解決手段】発光ダイオード(50)は、負にドープされた層(52)、正にドープされた層(54)、活性p−n接合層による発光領域(53)、及び発光領域(53)の上側に位置する透明基板(51)を有する。光の取出量を改善すべく、透明基板(51)は、ピラミッド形状に類似の形状とされる。
【選択図】図15
Description
本発明は一般に光源の分野に関するものである。より具体的には、本発明はフリップチップ型発光ダイオード(LED)からの光の抽出を、チップの幾何形状により改善するための方法に関する。
LEDとは、順方向電流がLED中を流れた場合に光を放射する半導体チップ又はダイのことである。図1は既知のフリップチップ型LED30を描いたものであり、LED30は立方形(方形のプリズム)の透明基板31、負にドープされた層32、活性p−n接合層33、そして正にドープされた層34を含む。一対のオーム接触35、36はLED30に順方向バイアスをかけるために使用されており、これにより活性p−n接合層33において光が生成され、ここから基板31へと放射される。一般に、基板31の屈折率は周囲環境(例えば空気、或いは基板31を封じた媒体)の屈折率とは異なっている。図2に示したように、このような屈折率の違いが臨界角を確立し、その結果、基板31がエスケープ円錐31a、31c、31eと、内部全反射円錐(TRIC)又はトラップ円錐31b、31dへと分けられることになる。矢印に例示したように、エスケープ円錐31a、31c、31eを通じて基板31が光を放射することは以前からよく知られているが、これは放射光の入射角が臨界角よりも小さいためである。逆に、TIRC円錐31b、31dからはその中に例示した矢印にあるように基板31は光を放射しないが、これは捕捉された光の入射角が基板31に捕捉された光の各内部反射の臨界角に等しい、もしくはこれより大きいためである。
本発明は、フリップフロップ型LEDからの光の抽出を改善することにより当該技術を発展させるものである。
フリップフロップ型LEDは本発明の様々な実施形態に基づいて構築される。LEDは、負にドープされた層、正にドープされた層、そして負にドープされた層と正にドープされた層の間にある活性p−n接合層を含む発光領域を持っている。LEDは更に、発光領域の上に位置する透明基板を含んでおり、この透明基板は、(1)導電性材料又は非導電性材料の組成、(2)側面の数、(3)頂点又は上面のずれの度合い、そして(4)各側面の傾斜角度により決定されるピラミッド型の形状を持っている。
本発明の特徴及び利点は、現在推奨される実施形態の以下に述べる詳細な説明を、添付図を参照しつつ読むことにより明らかとなる。詳細な説明及び図は、本発明を限定するものではなく、説明目的であげたものであり、本発明の範囲は、請求項及びそれに準じるものにより定義されるものである。図の寸法は必ずしも正確なものではなく、本発明の理解を助けるために拡大して描かれている。
即ち、本発明は、負にドープされた層、正にドープされた層、活性p−n接合層を前記負にドープされた層及び前記正にドープされた層の間に有する発光領域、及び該発光領域の上にある第1の透明基板を具備し、前記第1の透明基板がピラミッド形状を有することを特徴とするフリップチップ型の半導体発光ダイオードを提供する。
更に、本発明は、第1のドープ層、第2のドープ層、活性p−n接合層を前記第1のドープ層及び前記第2のドープ層の間に有する発光領域、及び該発光領域に隣接する第1の透明基板を具備し、前記第1の透明基板がピラミッド形状を有することを特徴とする、フリップチップ型の半導体発光ダイオードを提供する。
更に、本発明は、第1のドープ層、第2のドープ層、活性p−n接合層を前記第1のドープ層及び前記第2のドープ層の間に有する発光領域、前記第1のドープ層に隣接する第1の透明基板、及び前記第1の透明基板に隣接する第2の透明基板を具備し、前記第2の透明基板がピラミッド形状を有することを特徴とする、フリップチップ型の半導体発光ダイオードを提供する。
本発明によれば、LEDの素子で発光した光を効率よく外部に取り出すことができ、従来よりも更に輝度の高い発光デバイスを得ることができる。
図3は、頂点を持つピラミッド形状の透明基板40を描いたものである。通常、基板40はソー技術、ドライ又はウェットエッチング技術、サンドブラスト技術、イオンミル、或いはスクライブ・ブレイク技術により作られる。基板40の頂点を持つピラミッド形状は、基板40中におけるエスケープ円錐の好適な形成を助長するものである。点線矢印で例示した放射光は、基板40に対応する臨界角よりも小さい入射角を持っているが、その一方、実線矢印で例示した放射光は当初は臨界角と同じ、或いはこれよりも大きい初期入射角を持つために最初は内部反射され、後に入射角が臨界角よりも小さくなって基板40から放射される。
フリップチップ型LEDへの基板40の導入は、基板40が導電性材料で構成されているのか、或いは非導電性材料で構成されているのかによる。基板40に好適な導電性材料の例としては、例えばガリウム燐(GaP)、アルミニウムガリウム砒素(AlGaAs)、窒化ガリウム(GaN)及び炭化シリコン(SiC)といった化合物半導体をあげることが出来る。基板40に好適な非導電性材料は、サファイアである。
基板40は少なくとも3つの側面を持っている。図4は、3つの側面を持つ基板40aを描いたものである。図5は、4つの側面を持つ基板40bを描いたものである。図6は、6つの側面を持つ基板40cを描いたものである。
基板40の縦軸に対する頂点のずれの度合いはゼロから基板40の寸法が許容する最大可能オフセットまでである。図4は基板40aのオフセットがゼロの場合(例えば頂点と縦軸が一致している場合)を示すものである。図7は、基板40dが中間オフセットに設定された場合を示している。図8は基板40eが最大オフセットに設定された場合を示している。
基板40の底面(図示せず)に対する、基板40の各側壁の傾斜角度α(図3)は、基板40材料と周囲環境(例えば空気又は基板40を封じる媒体)の屈折率により選択されるもので、最適な傾斜角度範囲は10°から80°である。しかしながら、基板40中でのエスケープ円錐の最適な形成を促すために、最適範囲を外れた傾斜角度αをかわりに採用しても良い。
図9は頂点を切り取ったピラミッド形状を有する透明基板41を描いたものである。通常、基板41はソー技術、ドライ又はウェットエッチング技術、サンドブラスト技術、イオンミル、或いはスクライブ・ブレイク技術により作られる。基板41の頂点を切り取ったピラミッド形状は基板41中における最適なエスケープ円錐の形成を促すものである。点線矢印に例示した放射光は、基板41に対する臨界角よりも小さい入射角を持つ放射光を示すものである一方、実線矢印により例示した放射光は、初期の入射角が臨界角に等しい又はこれよりも大きいために最初は内部反射され、その後の入射角が臨界角よりも小さくなって基板41から放射される放射光を示している。
フリップチップ型LEDへの基板41の導入は、基板41を導電性材料で構成するのか、或いは非導電性材料で構成するのかによる。基板41に好適な導電性材料の例としては、例えばGaP、AlGaAs、GaN及びSiCといった化合物半導体をあげることが出来る。基板41に好適な非導電性材料としては、サファイアをあげることが出来る。
基板41は少なくとも3つの側面を持っている。図10は3つの側面を持つ基板41aを描いたものである。図11は4つの側面を持つ基板41bを描いたものである。図12は6つの側面を持つ基板41cを描いたものである。
基板41の縦軸に対する基板41の上面のオフセット度合いは、ゼロから基板41の寸法が許容する最大オフセット値までである。図10は基板41aのオフセットがゼロの場合(例えば上面の中心と基板41aの中心縦軸が一致する場合)を描いたものである。図13は基板41dが中間オフセットに設定された場合を描いたものである。図14は基板41eが最大オフセットに設定された場合を描いたものである。
基板41の底面(図示せず)に対する各側面の傾斜角度α(図9)は、基板41の材料と、周囲環境(例えば空気又は基板41を封じる媒体)の屈折率により選択されるものであり、最適な傾斜角度範囲は10°から80°の間にある。しかしながら、基板41中でのエスケープ円錐の最適な形成を促すために、最適範囲を外れた傾斜角度αをかわりに採用しても良い。
基板40(図3)及び基板41(図9)に基づいて先に述べた説明から、透明基板40及び41には基本的に無数の構成が可能であることが当業者には明らかである。
図15乃至図23は、透明基板40及び/又は透明基板41に基づいて構成された基板を使用した、本発明のフリップチップ型LEDの9つの実施形態を示すものである。図示したフリップチップ型LEDの各々は更に、負にドープされた層(例えばn型GaP、n型AlGaAs、n型GaN、及びn型SiC)、活性p−n接合層(例えばアルミニウムインジウムガリウム燐及び窒化インジウムガリウムの単一又は多重量子井戸構造)、及び正にドープされた層(p型GaP、p型AlGaAs、p型GaN及びp型SiC)を含む発光領域と、そして一対のオーム接触(例えば各種金属層)とを用いている。基板及び発光領域は、基板と発光領域との間の動作関係をより明確に説明するために簡略化して描かれているが、当業者であれば、図15乃至図23に示したフリップチップ型LEDを構成及び製造する従来の技術は認識及び理解することが出来るものである。更に当業者には、発光領域中に描かれた負にドープされた層と正にドープされた層とが相互に交換可能であることも明らかである。
図15は、非導電性の透明基板51、負にドープされた層52、活性p−n接合層53、そして正にドープされた層54を含むフリップチップ型LED50を描いたものである。基板51は、基板40(図3)に準じた、オフセットがゼロ度の頂点を持つピラミッド形状を有している。負にドープされた層52の上の部分は、オフセットがゼロ度の切り取られたピラミッド形状を有している。LED50に順方向バイアスを印加するために一対のオーム接触55、56が使用されており、これにより光が生成され、活性p−n接合層53から基板51を通じて周囲環境へと放射される。
図16は、非導電性の透明基板61、負にドープされた層62、活性p−n接合層63、そして正にドープされた層64を含むフリップチップ型LED60を描いたものである。基板61は、基板41(図9)に準じた、オフセットがゼロ度の頂点を切り取られたピラミッド形状を有している。負にドープされた層62の上の部分は、オフセットがゼロ度の切り取られたピラミッド形状を有している。LED60に順方向バイアスを印加するために一対のオーム接触65、66が使用されており、これにより光が生成され、活性p−n接合層63から基板61を通じて周囲環境へと放射される。
図17は、導電性の透明基板71、負にドープされた層72、活性p−n接合層73、そして正にドープされた層74を含むフリップチップ型LED70を描いたものである。基板71は、基板40(図3)に準じた、オフセットがゼロ度の頂点を持つピラミッド形状を有している。LED70に順方向バイアスを印加するために一対のオーム接触75、76が使用されており、これにより光が生成され、活性p−n接合層73から基板71を通じて周囲環境へと放射される。
図18は、導電性の透明基板81、負にドープされた層82、活性p−n接合層83、そして正にドープされた層84を含むフリップチップ型LED80を描いたものである。基板81は、基板41(図9)に準じた、オフセットがゼロ度の頂点を切り取られたピラミッド形状を有している。LED80に順方向バイアスを印加するために一対のオーム接触85、86が使用されており、これにより光が生成され、活性p−n接合層83から基板81を通じて周囲環境へと放射される。
図19は、非導電性の透明基板91、非導電性の透明基板92、負にドープされた層93、活性p−n接合層94、そして正にドープされた層95を含むフリップチップ型LED90を描いたものである。基板91は、基板40(図3)に準じた、オフセットがゼロ度の頂点を持つピラミッド形状を有している。基板92は既知の立方体形状を持っている。基板91と基板92の屈折率に作動可能に一致する屈折率を持つ光学的に透明な接着剤(図示せず)が用いられており、これが基板91を基板92へと光学的に結合している。LED90に順方向バイアスを印加するために一対のオーム接触96、97が使用されており、これにより光が生成され、活性p−n接合層94から基板91、92を通じて周囲環境へと放射される。
図20は、非導電性透明基板101、非導電性透明基板102、負にドープされた層103、活性p−n接合層104、および正にドープされた層105を含むフリップチップ型LED101を描いたものである。基板101は、基板41(図9)に準じた、オフセットがゼロ度の頂点を切り取られたピラミッド形状を有している。基板102は既知の立方体形状を持っている。基板101と基板102の屈折率に作動可能に一致する屈折率を持つ光学的に透明な接着剤(図示せず)が用いられており、これが基板101を基板102へと光学的に結合している。LED100に順方向バイアスを印加するために一対のオーム接触106、107が使用されており、これにより光が生成され、活性p−n接合層104から基板101、102を通じて周囲環境へと放射される。
図21は、非導電性透明基板111、非導電性透明基板112、負にドープされた層113、活性p−n接合層114、および正にドープされた層115を含むフリップチップ型LED110を描いたものである。基板111は、基板40(図3)に準じた、オフセットがゼロ度の頂点を持つピラミッド形状を有している。基板112は、基板41(図9)に準じた、オフセットがゼロ度の頂点を切り取られたピラミッド形状を有している。基板111と基板112の屈折率に作動可能に一致する屈折率を持つ光学的に透明な接着剤(図示せず)が用いられており、これが基板111を基板112へと光学的に結合している。LED110に順方向バイアスを印加するために一対のオーム接触116、117が使用されており、これにより光が生成され、活性p−n接合層114から基板111、112を通じて周囲環境へと放射される。
図22は、非導電性透明基板121、非導電性透明基板122、非導電性透明基板123、負にドープされた層124、活性p−n接合層125、および正にドープされた層126を含むフリップチップ型LED120を描いたものである。基板121は、基板40(図3)に準じた、オフセットがゼロ度の頂点を持つピラミッド形状を有している。基板122は既知の立方体形状を持っている。基板123は、基板41(図9)に準じた、オフセットがゼロ度の頂点を切り取られたピラミッド形状を有している。基板121乃至123の屈折率に作動可能に一致する屈折率を持つ光学的に透明な接着剤(図示せず)が用いられており、これが基板121を基板122へと、そして基板122を基板123へと光学的に結合している。LED120に順方向バイアスを印加するために一対のオーム接触127、128が使用されており、これにより光が生成され、活性p−n接合層125から基板121乃至123を通じて周囲環境へと放射される。
図23は、非導電性透明基板131、非導電性透明基板132、非導電性透明基板133、負にドープされた層134、活性p−n接合層135、および正にドープされた層136を含むフリップチップ型LED130を描いたものである。基板131及び133は、基板41(図9)に準じた、オフセットがゼロ度の頂点を切り取られたピラミッド形状を有している。基板132は既知の立方体形状を持っている。基板131乃至133の屈折率に作動可能に一致する屈折率を持つ光学的に透明な接着剤(図示せず)が用いられており、これが基板131を基板132へと、そして基板132を基板133へと光学的に結合している。LED130に順方向バイアスを印加するために一対のオーム接触137、138が使用されており、これにより光が生成され、活性p−n接合層135から基板131乃至133を通じて周囲環境へと放射される。
図15乃至図23の以下の説明から、本発明に基づくフリップチップ型LEDの実施形態は、基本的に無限に存在するものであることが当業者には明らかとなった。
本発明は、その特徴、基本的特性から離れることなく、他の具体的な形式で実現することも可能である。説明する実施形態は、あらゆる意味において説明目的のものであり、限定的なものではない。従って本発明の範囲は上記の説明ではなく、請求項により示されるものである。請求項に相当する意義及び範囲に入る全ての変更は、その範疇に含まれるものである。
40;41;51;61;71;81;91、92;101、102;111、112;121、122、123;131、132、133 基板
Claims (20)
- 負にドープされた層、正にドープされた層、活性p−n接合層を前記負にドープされた層及び前記正にドープされた層の間に有する発光領域、及び該発光領域の上にある第1の透明基板とを具備し、前記第1の透明基板がピラミッド形状を有することを特徴とするフリップチップ型の半導体発光ダイオード。
- 前記第1の透明基板が、側面及び底面を持ち、該底面に対する前記側面の傾斜角度が、10度乃至80度の範囲にあることを特徴とする、請求項1に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記第1の透明基板が、頂点を持つピラミッド形状を有することを特徴とする、請求項1に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記第1の透明基板が、前記第1の透明基板の縦方向の中心軸と一致する頂点を有することを特徴とする、請求項3に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記第1の透明基板が、前記第1の透明基板の縦方向の中心軸からずれた頂点を有することを特徴とする、請求項4に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記第1の透明基板が、頂点を切り取られたピラミッド形状を有することを特徴とする、請求項1に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記第1の透明基板が、前記第1の透明基板の縦方向の中心軸と一致する中心を持つ上面を有することを特徴とする、請求項6に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記第1の透明基板が、前記第1の透明基板の縦方向の中心軸からずれた中心を持つ上面を有することを特徴とする、請求項6に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記発光領域上に位置する第2の透明基板を更に具備し、前記第2の透明基板が頂点を持つピラミッド形状を有することを特徴とする、請求項1に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記発光領域上に位置する第2の透明基板を更に具備し、前記第2の透明基板が頂点を切り取られたピラミッド形状を有することを特徴とする、請求項1に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記発光領域上に位置する第2の透明基板を更に具備し、前記第2の透明基板が立方体形状を持つことを特徴とする、請求項1に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記第1の基板が導電性材料を含むことを特徴とする、請求項1に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記第1の基板が非導電性材料を含むことを特徴とする、請求項1に記載の半導体発光ダイオード。
- 第1のドープ層、第2のドープ層、活性p−n接合層を前記第1のドープ層及び前記第2のドープ層の間に有する発光領域、及び該発光領域に隣接する第1の透明基板とを具備し、前記第1の透明基板がピラミッド形状を有することを特徴とする、フリップチップ型の半導体発光ダイオード。
- 前記第1の透明基板が、側面及び底面を持ち、該底面に対する前記側面の傾斜角度が、10度乃至80度の範囲にあることを特徴とする、請求項14に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記第1の基板に隣接する第2の透明基板を更に具備し、前記第2の透明基板がピラミッド形状を有することを特徴とする、請求項14に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記第1のドープ層の上部がピラミッド形状を有するものであることを特徴とする、請求項14に記載の半導体発光ダイオード。
- 第1のドープ層、第2のドープ層、活性p−n接合層を前記第1のドープ層及び前記第2のドープ層の間に有する発光領域、前記第1のドープ層に隣接する第1の透明基板、及び前記第1の透明基板に隣接する第2の透明基板を具備し、前記第2の透明基板がピラミッド形状を有することを特徴とする、フリップチップ型の半導体発光ダイオード。
- 前記第2の透明基板が側面及び底面を持ち、該底面に対する側面の傾斜角度が、10度乃至80度の範囲にあることを特徴とする請求項18に記載の半導体発光ダイオード。
- 前記第1のドープ層の上部がピラミッド形状を有するものであることを特徴とする、請求項18に記載の半導体発光ダイオード。
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