JP2004125676A - 振動検出プローブ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】振動検出プローブ1において、圧電素子7が設けられた接触子8を探触子の先端として円錐台形状に加工し、振動絶縁部材6により該接触子8と探触子本体3とを同軸上に接続して支持した構成であることを特徴とする。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、設備の状態を判定するに際して設備から発生する振動を検出するための振動検出プローブに係り、特に被測定部に接触させて振動を電気信号に変換し、該被測定部の振動状態を検出する探触子を有する振動検出プローブに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、振動検出プローブとして、振動を電気信号に変換するための圧電素子と、その振動検出プローブの検出感度を上げるための重錘を備えて構成した振動センサが採用されており、この種の振動検出プローブは、その振動検出プローブ自体の固有振動数と、該振動検出プローブを被測定部に接触させた状態で発生する接触共振周波数とを有する。
【0003】
回転機械や往復機械等の設備を振動解析により診断する場合に、振動検出プローブが適用可能な周波数帯域はDC(直流)〜20kHzとされており、少なくとも5Hz〜10kHzの周波数帯域で適用可能な振動検出プローブが好ましい。
【0004】
通常、振動検出プローブの測定可能な周波数帯域はその振動検出プローブ自体の固有振動数よりも低い周波数帯域となるが、振動検出プローブを被測定部に接触させた状態で発生する接触共振周波数がその振動検出プローブ自体の固有振動数よりも低い周波数帯域に発生するため実質的に測定可能な周波数帯域はその接触共振周波数よりも低い周波数帯域となる。従って、接触共振周波数が低い場合には測定可能な周波数帯域が狭くなって正確な測定が出来なくなるという問題がある。
【0005】
また、測定者の押し付け圧のばらつきによって測定値がばらつくため、圧縮バネ等の付勢手段を介して押し付け、押し付け圧を一定にする構成も提案されている。
【0006】
接触共振周波数を高くするためには、▲1▼振動検出プローブの接触子の被測定部に接触する面の曲率半径を大きくする、▲2▼振動検出プローブの被測定部に接触する接触子の重量を軽くする、▲3▼該接触子の材質を硬くする、▲4▼該接触子の押し付け力を大きくする等の方法が効果的である。
【0007】
振動検出プローブの被測定部に接触する接触子の重量を軽くするために、接触子と、ケース本体との間に防振ゴム等の振動絶縁体を介在させたものがあり(例えば、特許文献1、2参照。)、更に、接触子の押し付け力を安定化するために、ケース本体内の可動部を軸方向に弾性的に付勢する圧縮バネを設けたものもある(例えば、特許文献3、4参照。)。
【0008】
【特許文献1】
特開昭62−38323号公報(第5図)
【特許文献2】
特開昭59−214721号公報(第3図、第5図)
【特許文献3】
特開平8−201159号公報(図2)
【特許文献4】
特開平11−64093号公報(図3、図4)
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
回転機械や往復機械のたいていの欠陥は軸受部の振動として現れるため、通常は設備の軸受部を測定点とする場合が多いが、軸受部はその構造上、被測定部が狭く出来ているため振動検出プローブの接触子の接触部の外径を小さくニードル形状に構成する必要がある。
【0010】
しかしながら、前述の各従来例では、振動絶縁体や圧縮バネを設けるために接触子の外周に筒状のハウジングを設けた構成であるため振動検出プローブの先端部の外径が大きくなり、被測定部が狭い部位を測定することが出来ないという問題があった。
【0011】
また、前記特許文献1の第5図に示すように接触子の被測定部への接触面を平坦面で構成した場合には、接触子が被測定部に接触する際に不安定になり、その接触安定度を確保するために前記特許文献3の図2、図3、図5に示すように、複雑な構造とする必要がある。
【0012】
本発明は前記課題を解決するものであり、その目的とするところは、構造が簡単で狭い部位でも測定出来、接触共振周波数を高くして測定可能な周波数帯域を広く取ることが出来る振動検出プローブを提供せんとするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するための本発明に係る振動検出プローブは、被測定部に圧接して該被測定部の振動を検出する探触子を有する振動検出プローブにおいて、圧電素子が設けられると共に前記探触子の先端として円錐台形状に加工され、且つ被測定部に接触される接触子と、前記接触子と前記探触子本体との間で該接触子と探触子本体とを同軸上に接続して支持すると共に、振動を絶縁する振動絶縁部材とを有することを特徴とする。
【0014】
本発明は、上述の如く構成したので、振動絶縁部材により接触子と探触子本体とをニードル形状で同軸上(同一直線上)に接続して支持することで、構造が簡単で振動検出プローブの先端部の外径を小さくすることが出来、被測定部が狭い部位でも測定することが出来る。
【0015】
また、接触子と探触子本体との間で振動絶縁部材が振動を絶縁することで、振動検出プローブの被測定部に接触する接触子の重量を軽くすることが出来、これにより接触共振周波数を高くして測定可能な周波数帯域を広く取ることが出来る。
【0016】
更に、接触子の被測定部に接触する面の曲率半径を100mm以上、且つ300mm以下に設定した場合には、接触子が被測定部に接触する際の接触安定度を維持すると共に振動検出プローブの接触子の被測定部に接触する面の曲率半径を大きくすることが出来、これにより接触共振周波数をより高くして測定可能な周波数帯域を広く取ることが出来る。
【0017】
【発明の実施の形態】
図により本発明に係る振動検出プローブの一実施形態を具体的に説明する。図1(a),(b)は本発明に係る振動検出プローブの構成を示す断面説明図及び外観図、図2は本発明に係る振動検出プローブの接触共振周波数特性を示す図であり、接触子と探触子本体との間に振動絶縁部材を介在させ、接触子の被測定部に接触する面の曲率半径を100mmに設定した場合の振動検出プローブの接触共振周波数特性を示す図である。
【0018】
図3は比較例として、接触子と探触子本体との間に振動絶縁部材を介在させないで剛的に直結し、接触子の被測定部に接触する面の曲率半径を50mmに設定した場合の振動検出プローブの接触共振周波数特性を示す図、図4は接触子と探触子本体との間に振動絶縁部材を介在させ、接触子の被測定部に接触する面の曲率半径を50mmに設定した場合の振動検出プローブの接触共振周波数特性を示す図である。
【0019】
図5は比較例として、接触子と探触子本体との間に振動絶縁部材を介在させ、接触子の被測定部に接触する面を平坦面に設定した場合の振動検出プローブの接触共振周波数特性を示す図である。尚、図2〜図5の横軸は対数目盛りで表示されたものである。
【0020】
図1において、1は探触子を有する振動検出プローブであり、その先端部に該探触子の先端として円錐台形状に加工されたステンレス製の接触子8を図示しない被測定部に圧接して該被測定部の振動を検出する。
【0021】
振動検出プローブ1のハンドルケース2の内部には可動体からなるステンレス製の探触子本体3が振動検出プローブ1の軸方向(図1(a)の左右方向)に移動可能に設けられており、該探触子本体3の外周でハンドルケース2のバネ座2aと探触子本体3のバネ座3aとの間には圧縮バネ4が嵌挿されている。
【0022】
ハンドルケース2の端部にはキャップ5がネジ止めにより固定されており、該キャップ5のフランジ部5aが探触子本体3の係止部3bに係合して圧縮バネ4を幾分圧縮した状態でハンドルケース2内に探触子本体3が軸方向に移動可能に収納されている。
【0023】
探触子本体3のハンドルケース2から露出した側の端部には係合溝3cが形成されており、防振ゴム等の振動絶縁部材6の一端部に設けられた係合突起6aが探触子本体3の係合溝3cに嵌合して係合し、固定されている。
【0024】
振動絶縁部材6の他端部には係合突起6bが設けられており、内部にチタン酸バリウムやチタン酸ジルコン鉛等により構成された圧電素子7が設けられ、設備の回転機械や往復機械等の被測定部に接触される接触子8の一端部に設けられた係合溝8aに振動絶縁部材6の係合突起6bが嵌合して係合し、固定されている。
【0025】
即ち、振動絶縁部材6は、接触子8と、探触子本体3との間で該接触子8と探触子本体3とをニードル形状で同軸上(同一直線上)に接続して支持すると共に、接触子8から探触子本体3へ伝わる振動を絶縁する。
【0026】
圧電素子7の外周部には負荷質量となる重錘11が配置されており、該重錘11により正確で且つ安定した振動検出性能が得られるようになっている。
【0027】
圧電素子7に接続された電気ケーブル9は、接触子8、振動絶縁部材6、探触子本体3及びハンドルケース2の各内部に設けられた中空部を通って絶縁ブッシュ10により支持された状態でハンドルケース2の一端部から引き出されている。
【0028】
接触子8の被測定部に接触する接触面8bの曲率半径rは、100mm以上、且つ300mm以下に設定されており、該接触面8bの投影した外径直径dは、3mm以上、且つ7mm以下に設定されている。
【0029】
振動検出プローブ1の接触共振周波数特性のみを考慮した場合、図5に示して後述するように、接触面8bは平坦(曲率半径r=∞)にした方が望ましいが、実際に現場で測定する場合の被測定部は平坦でない場合が多いため、測定の際に不安定となり、実用上は接触面8bに所定の曲率半径rを持たせることで測定安定性を確保することが出来る。
【0030】
本発明者等は種々の実験を行った結果、接触面8bの曲率半径rを100mm以上、且つ300mm以下に設定した場合に測定安定性を確保しつつ接触共振周波数が高い位置に維持出来ることが判明したものであり、これにより安定して広い測定範囲を確保出来る振動検出プローブ1を完成させたものである。
【0031】
また、接触面8bの投影した外径直径dは、通常測定する設備の軸受部等が、その構造上、被測定部が狭く出来ているため、実用上、3mm以上、且つ7mm以下に設定することが望ましい。
【0032】
本実施形態では、探触子本体3のハンドルケース2から露出した部位の外径直径は14mmに設定されており、振動絶縁部材6の中央部の大径部の外径直径も14mmに設定されている。また、接触子8の外径直径は12mmに設定されており、該接触子8の接触面8bの投影した外径直径dは5mmに設定されている。また、接触子8の被測定部に接触する接触面8bの曲率半径rは100mmに設定されている。
【0033】
本実施形態の振動検出プローブ1の固有振動数は50kHz程度に設定されており、該振動検出プローブ1を被測定部に接触させた状態で発生する接触共振周波数は図2に示すように15kHz程度に設定されている。従って、本実施形態の振動検出プローブ1が適用可能な周波数帯域は5Hz〜10kHz程度の範囲とすることが出来、回転機械や往復機械の各種設備の振動検出が広い周波数帯域で可能である。
【0034】
図3は比較例として図1に示す振動検出プローブ1の探触子本体3と接触子8との間の振動絶縁部材6を除去して剛接合した場合の振動検出プローブの接触共振周波数特性を示す図であり、接触子8の接触面8bの曲率半径rを50mmに設定したものである。この場合の接触共振周波数は図3に示すように4kHz程度まで下がり、振動検出が出来る周波数帯域が狭くなってしまう。
【0035】
一方、図4は図1に示す振動検出プローブ1において、接触子8の接触面8bの曲率半径rを50mmに設定したものである。この場合の接触共振周波数は図4に示すように7kHz程度まで下がり、振動検出が出来る周波数帯域が狭くなってしまう。
【0036】
図5は図1に示す振動検出プローブ1において、接触子8の接触面8bを平坦面(曲率半径r=∞)に設定したものである。この場合の接触共振周波数は図5に示すように20kHz程度まで上昇するが、前述したように、接触子8が被測定部に接触する際に不安定になり、振動検出が困難になる場合がある。
【0037】
上記構成によれば、前述の各従来例のように、振動絶縁部材6や圧縮バネ4を設けるために接触子8の外周に筒状のハウジング等を設ける必要がないため振動検出プローブ1の構造が簡単であり、ハンドルケース2から露出した探触子本体3、振動絶縁部材6及び接触子8の外径を小さく構成出来るので狭い部位でも測定出来、接触共振周波数を高くして測定可能な周波数帯域を広く取ることが出来る。
【0038】
即ち、振動絶縁部材6により接触子8と探触子本体3とをニードル形状で同軸上(同一直線上)に接続して支持することで、構造が簡単で振動検出プローブ1の先端部の外径を小さくすることが出来、被測定部が狭い部位でも測定することが出来る。
【0039】
また、接触子8と探触子本体3との間で振動絶縁部材6が振動を絶縁することで、振動検出プローブ1の被測定部に接触する接触子8の重量を軽くすることが出来、更に、接触子8の被測定部に接触する面の曲率半径rを100mm以上、且つ300mm以下に設定したことで、接触子8が被測定部に接触する際の接触安定度を維持すると共に振動検出プローブ1の接触子8の被測定部に接触する面の曲率半径rを大きくすることが出来、これにより接触共振周波数を高くして測定可能な周波数帯域を広く取ることが出来る。
【0040】
特に可撓性を有する防振ゴム等により構成された振動絶縁部材6のみにより接触子8と探触子本体3とが支持されるため、接触子8が被測定部に接触する際の角度の自由度が許容され、測定者が振動検出プローブ1を被測定部に押圧した際の角度のばらつきが許容されるため安定した測定結果が得られる。
【0041】
また、圧縮バネ4により測定者の押し付け圧のばらつきを一定にすることが出来る。
【0042】
【発明の効果】
本発明は、上述の如き構成と作用とを有するので、振動検出プローブの構造が簡単で、ハンドルケースから露出した探触子本体、振動絶縁部材及び接触子の外径を小さく構成出来るので狭い部位でも測定出来、接触共振周波数を高くして測定可能な周波数帯域を広く取ることが出来る。
【0043】
即ち、振動絶縁部材により接触子と探触子本体とをニードル形状で同軸上(同一直線上)に接続して支持することで、構造が簡単で振動検出プローブの先端部の外径を小さくすることが出来、被測定部が狭い部位でも測定することが出来る。
【0044】
また、接触子と探触子本体との間で振動絶縁部材が振動を絶縁することで、振動検出プローブの被測定部に接触する接触子の重量を軽くすることが出来、これにより接触共振周波数を高くして測定可能な周波数帯域を広く取ることが出来る。
【0045】
更に、接触子の被測定部に接触する面の曲率半径を100mm以上、且つ300mm以下に設定した場合には、接触子が被測定部に接触する際の接触安定度を維持すると共に振動検出プローブの接触子の被測定部に接触する面の曲率半径を大きくすることが出来、これにより接触共振周波数をより高くして測定可能な周波数帯域を広く取ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a),(b)は本発明に係る振動検出プローブの構成を示す断面説明図及び外観図である。
【図2】本発明に係る振動検出プローブの接触共振周波数特性を示す図であり、接触子と探触子本体との間に振動絶縁部材を介在させ、接触子の被測定部に接触する面の曲率半径を100mmに設定した場合の振動検出プローブの接触共振周波数特性を示す図である。
【図3】接触子と探触子本体との間に振動絶縁部材を介在させないで剛的に直結し、接触子の被測定部に接触する面の曲率半径を50mmに設定した場合の振動検出プローブの接触共振周波数特性を示す図である。
【図4】接触子と探触子本体との間に振動絶縁部材を介在させ、接触子の被測定部に接触する面の曲率半径を50mmに設定した場合の振動検出プローブの接触共振周波数特性を示す図である。
【図5】接触子と探触子本体との間に振動絶縁部材を介在させ、接触子の被測定部に接触する面を平坦面に設定した場合の振動検出プローブの接触共振周波数特性を示す図である。
【符号の説明】
1…振動検出プローブ
2…ハンドルケース
2a…バネ座
3…探触子本体
3a…バネ座
3b…係止部
3c…係合溝
4…圧縮バネ
5…キャップ
5a…フランジ部
6…振動絶縁部材
6a,6b…係合突起
7…圧電素子
8…接触子
8a…係合溝
8b…接触面
9…電気ケーブル
10…絶縁ブッシュ
11…重錘
Claims (2)
- 被測定部に圧接して該被測定部の振動を検出する探触子を有する振動検出プローブにおいて、
圧電素子が設けられると共に前記探触子の先端として円錐台形状に加工され、且つ被測定部に接触される接触子と、
前記接触子と前記探触子本体との間で該接触子と探触子本体とを同軸上に接続して支持すると共に、振動を絶縁する振動絶縁部材と、
を有することを特徴とする振動検出プローブ。 - 前記接触子の前記被測定部に接触する面の曲率半径を100mm以上、且つ300mm以下に設定したことを特徴とする請求項1に記載の振動検出プローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002291772A JP3919645B2 (ja) | 2002-10-04 | 2002-10-04 | 振動検出プローブ |
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JP2002291772A JP3919645B2 (ja) | 2002-10-04 | 2002-10-04 | 振動検出プローブ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2004125676A true JP2004125676A (ja) | 2004-04-22 |
JP3919645B2 JP3919645B2 (ja) | 2007-05-30 |
Family
ID=32283233
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002291772A Expired - Lifetime JP3919645B2 (ja) | 2002-10-04 | 2002-10-04 | 振動検出プローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3919645B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100936118B1 (ko) | 2007-08-23 | 2010-01-12 | 중앙대학교 산학협력단 | 표면파 시험을 위한 센서 유니트 |
-
2002
- 2002-10-04 JP JP2002291772A patent/JP3919645B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100936118B1 (ko) | 2007-08-23 | 2010-01-12 | 중앙대학교 산학협력단 | 표면파 시험을 위한 센서 유니트 |
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