JP2004125519A - 光強度測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】光軸調整の作業性を向上させる。
【解決手段】光強度を時系列的に順次測定して測定値の時間軸変動を測定画面として表示する光強度測定装置であって、光強度の最新測定値を測定画面上に固定表示する。
【選択図】　　　図２

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光強度測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図６は、従来の光強度測定装置の測定画面の一例を模式的に示すものであり、受光パワーの時間軸変動を示している。この測定画面では、最新測定値が時間の経過と共に画面の左端から右端に順次移動して表示されるようになっており、最新測定値が右端に到達すると、最新測定値は再び左端に表示されて右端に向けて移動する。このような測定画面は、例えば光学系を構成する各光学素子の光軸調整を行う際に用いられる。光学素子の光軸調整では、作業者は、光学素子の透過光を光強度測定装置で測定しながら光学素子の位置を微小移動させ、透過光の強度が最大となるように光学素子の位置を決定する。そして、作業者は、この光軸調整の最中、上述したように順次移動する最新測定値を目で追いながら光学素子の位置を調整する。なお、出願人は、このような光強度測定装置について記載された公知文献を所持していない。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記測定画面を用いた光軸調整作業は、最新測定値が画面上で移動するために極めて作業性が悪い。しかも、最新測定値が右端に到達すると、最新測定値は、次には左端に瞬時に移動するので、作業者が目視で追認することが困難である。また、最新測定値が右端に到達して左端に戻ると、最新測定値の右側つまり最新測定値の移動方向には、最も古い測定値が表示されているので、作業者に違和感をもたらす。
【０００４】
本発明は、上述する問題点に鑑みてなされたもので、光軸調整の作業性を向上させることを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明では、第１の手段として、光強度を時系列的に順次測定して測定値の時間軸変動を測定画面として表示する光強度測定装置であって、光強度の最新測定値を測定画面上に固定表示するという構成を採用する。
【０００６】
また、第２の手段として、上記第１の手段において、最新測定値を測定画面の右端に固定表示し、最新測定値の左側に当該最新測定値に対して時系列的に連続する測定値を順次表示するという構成を採用する。
【０００７】
第３の手段として、上記第１または第２の手段において、最大測定値を示す最大値表示補助線を付加表示するという構成を採用する。
【０００８】
第４の手段として、上記第１〜第３いずれかの手段において、最小測定値を示す最小値表示補助線を付加表示するという構成を採用する。
【０００９】
第５の手段として、上記第１〜第４いずれかの手段において、外部から入力される速度指定情報に基づいて測定画面の描画更新速度を可変設定するという構成を採用する。
【００１０】
第６の手段として、上記第１〜第５いずれかの手段において、測定画面上に実際に表示する測定値よりも多くの測定値を記憶するメモリ（４）を備えるという構成を採用する。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明に係わる光強度測定装置の一実施形態について説明する。
【００１２】
図１は、本光強度測定装置の機能構成を示すブロック図である。この図において、符号１は操作部、２は光パワー測定部、３は表示演算部、４はメモリ、５は表示部である。操作部１は、強度測定に必要な各種設定情報を光パワー測定部２や表示演算部３の入力するためのものである。操作部１から入力される各種設定情報としては、例えば測定画面の描画更新速度を指定する速度指定情報がある。光パワー測定部２は、測定対象物から順次入力される測定光の強度（光パワー）を時系列的に検出し、その検出結果を測定値として表示演算部３に出力する。
【００１３】
表示演算部３は、所定のプログラムに基づいた演算処理を行うものであり、測定値をメモリ４に順次記憶させると共に、該メモリ４から測定値を順次読み出すことにより測定画面を生成して表示部５に出力する。なお、表示演算部３における演算処理の詳細については後述する。
【００１４】
メモリ４は、測定値を格納するための画面表示バッファを備えており、表示演算部３の制御の下に測定値をメモリ４に順次記憶させると共に該メモリ４から測定値を読み出して表示演算部３に出力する。詳細は後述するが、このメモリ４は、測定値を例えば合計１０００１個の配列要素Ｄ（０）〜Ｄ（１００００）として記憶するものである。これら各配列要素Ｄ（０）〜Ｄ（１００００）のうち、配列要素Ｄ（０）〜Ｄ（１０００）は、上記メモリ４内に設定されると共に測定画面の各横方向位置に対応した画面表示バッファ（記憶領域）に格納される。すなわち、メモリ４は、実際に測定画面上に表示する測定値よりも多くの測定値を記憶する記憶容量を備えている。表示部５は、例えば液晶ディスプレイであり、表示演算部３から入力された測定画面を表示する。
【００１５】
次に、本光強度測定装置の詳細動作について、図２に示すフローチャートを参照して説明する。なお、このフローチャートは、上記表示演算部３のメイン処理を示すものである。
【００１６】
まず最初に、操作部１から測定開始指示が入力されると、光パワー測定部２は一定のタイムインターバルで発生する測定トリガに同期して測定光の光パワーを時系列的に順次検出すると共に、測定トリガを表示演算部３に出力する。これに対して、表示演算部３は、上記光パワー測定部２から順次取得した光パワーの各検出結果（測定値）を以下のように処理することにより測定画面を生成して表示部５に表示させる。
【００１７】
すなわち、表示演算部３は、画面表示バッファに格納する測定値の配列Ｄ（ｉ）を設定すると共に、測定値の最大値を示す変数Ｍａｘおよび測定値の最小値を示す変数Ｍｉｎを「０」に初期設定する（ステップＳ１）。このような設定処理が完了すると、表示演算部３は、光パワーの１測定値の取得が完了したことを示す測定トリガが光パワー測定部２から入力されるのを待って待機状態となる（ステップＳ２）。
【００１８】
ここで、配列変数ｉは、図３に示すように０〜１００００迄の範囲内の整数であり、したがって上記配列Ｄ（ｉ）は、Ｄ（０）〜Ｄ（１００００）に亘る合計１０００１個の配列要素からなる。これら各配列要素Ｄ（０）〜Ｄ（１００００）は、測定画面の位置に対応しており、配列変数ｉの大きなものから順に測定画面の左端から順次右側の位置にそれぞれ対応するようになっている。そして、これら各配列要素Ｄ（０）〜Ｄ（１００００）のうち、配列変数ｉが「１０００」迄の各配列要素Ｄ（０）〜Ｄ（１０００）については、図３に示すように配列要素Ｄ（１０００）は測定画面の左端に対応し、配列要素Ｄ（０）は測定画面の右端に対応付けられている。
【００１９】
表示演算部３は、光パワー測定部２から測定トリガが入力されると（つまりステップＳ２の判断が「Ｔｒｕｅ」になると）、測定値を光パワー測定部２から取得して制御変数ａに割り当て（ステップＳ３）、さらに配列変数ｉを与えるカウンタの値を当該配列変数ｉの最大値である「１００００」に設定する（ステップＳ４）。そして、ステップＳ５〜Ｓ７の一連処理に基づいて配列変数ｉを減算すると共に当該配列変数ｉによって指定される配列要素をＤ（１００００）→Ｄ（０）に更新し、最終的に制御変数ａに割り当てた測定値を測定画面の右端に対応する配列要素Ｄ（０）に割り当てる（ステップＳ８）。
【００２０】
すなわち、ステップＳ５〜Ｓ８の一連処理によって、光パワー測定部２から表示演算部３に順次取り込まれる測定値は、最新測定値が配列要素Ｄ（０）に割り当てられ、以下、時系列的に新しい測定値から配列要素Ｄ（１）→配列要素Ｄ（２）→配列要素Ｄ（３）→……→配列要素Ｄ（１００００）の順に順次割り当てられる。このようなステップＳ５〜Ｓ８の一連処理は、測定画面上における測定値の表示位置を右端から左方向に順次シフトさせることに相当する処理、すなわち左シフト処理（ステップＳａ）である。
【００２１】
このようにして最新測定値を配列要素Ｄ（０）に割り当てると、表示演算部３は、描画関数Ｐ｛ｉ，Ｄ（ｉ）｝を用いて配列要素Ｄ（０）として画面表示バッファに格納した測定値を表示部５に表示された測定画面上に画面表示する（ステップＳ９）。すなわち、このステップＳ９における画面表示処理では、図４（ａ）に示すように、配列変数ｉが「１０００」以下であるか否か、つまり測定画面に表示されない配列要素Ｄ（１００００）〜配列要素Ｄ（１００１）に該当するか否かが判断される（ステップＳ９１）。
【００２２】
すなわち、この判断が「Ｔｒｕｅ」の場合、つまり配列要素Ｄ（１０００）〜配列要素Ｄ（０）に格納された測定値については、描画関数Ｐ｛ｉ，Ｄ（ｉ）｝に基づいて測定画面上の描画位置が算出されて描画される（ステップＳ９２）。そして、最後に配列変数ｉがインクリメントされる（ステップＳ９３）。なお、上記配列要素Ｄ（１００００）〜配列要素Ｄ（１００１）に格納された測定値は、通常、測定画面には表示されないが、操作部１から入力された表示指示によって測定画面上に表示させることができる。
【００２３】
そして、上記画面表示処理が終了すると、表示演算部３は、Ｍａｘ／Ｍｉｎ　Ｈｏｌｄ　Ｌｉｎｅ設置処理（ステップＳ１０）を行う。すなわち、表示演算部３は、図４（ｂ）に示すように、測定値の最大値を示す変数Ｍａｘと測定値の最小値を示す変数ＭｉｎとにＨｏｌｄ　Ｌｉｎｅ定数を設定し（ステップＳ１００）、変数Ｍａｘが配列要素Ｄ（０）に対応する最新測定値以下、かつ、変数Ｍｉｎが最新測定値以上である場合には（ステップＳ１０１）、配列要素Ｄ（０）に対応する最新測定値を変数Ｍａｘ及び変数Ｍｉｎに割り当てる（ステップＳ１０２）。
【００２４】
すなわち、ステップＳ１００〜Ｓ１０２の一連処理によって、光パワー測定部２から表示演算部３に順次取り込まれる測定値のうち、最大値が変数Ｍａｘに割り当てられ、また最小値が変数Ｍｉｎに割り当てられる。そして、表示演算部３は、変数Ｍａｘの値（最大値）をＭａｘ　Ｈｏｌｄ　Ｌｉｎｅ（最大値表示補助線）として測定画面に追加描画し、変数Ｍｉｎの値（最小値）をＭｉｎ　Ｈｏｌｄ　Ｌｉｎｅ（最小値表示補助線）として測定画面に追加描画する（ステップＳ１０３）。
【００２５】
このようにＭａｘ／Ｍｉｎ　Ｈｏｌｄ　Ｌｉｎｅ設置処理（ステップＳ１０）が終了すると、表示演算部３は、操作部１から測定終了を指示する測定終了信号が入力されるまで（ステップＳ１１）、上記ステップＳ１〜Ｓ１１の一連処理を繰り返す。この結果、表示演算部３には測定値が光パワー測定部２から順次取り込まれ、図５の測定画面例に示すように、最新測定値が常に右端に表示されると共に、時系列的に順次古い測定値が最新測定値の左側に順次表示される。そして、Ｍａｘ／Ｍｉｎ　Ｈｏｌｄ　Ｌｉｎｅ設置処理（ステップＳ１０）に基づくＭａｘ　Ｈｏｌｄ　ＬｉｎｅとＭｉｎ　Ｈｏｌｄ　Ｌｉｎｅとが測定値に付加される形で表示される。
【００２６】
すなわち、本光強度測定装置によれば、従来の最新測定値が順次移動するものに比較して、測定値の視認が容易である。したがって、例えば本光強度測定装置を光学系組み立てる際の光軸調整に用いた場合には、光軸調整作業の作業性を大幅に向上させることができる。
【００２７】
また、光パワー測定部２から表示演算部３に順次取り込まれた測定値は配列要素Ｄ（１００００）〜Ｄ（０）としてメモリ４に順次書き込まれるが、上記左シフト処理（ステップＳａ）によって時系列的に古い測定値から順次消去されて、新たな測定値がメモリ４に順次書き込まれることになる。したがって、メモリ４は有限な記憶領域を持つが、この記憶領域の制約（つまり測定時間の制約）を受けることなく、光強度の測定を続けることが可能であり、本光強度測定装置を光軸調整に利用した場合には、調整時間の制約を受けることなく光軸調整を行うことが可能である。
【００２８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、光強度を時系列的に順次測定して測定値の時間軸変動を測定画面として表示する光強度測定装置であって、光強度の最新測定値を測定画面上に固定表示するので、従来のように最新測定値が順次移動するものに比較して、光軸調整の作業性を向上させることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係わる光強度測定装置の機能構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態に係わる光強度測定装置のメイン処理を示すフローチャートである。
【図３】本発明の一実施形態に係わる光強度測定装置の画面表示バッファの配列図である。
【図４】本発明の一実施形態に係わる光強度測定装置の画面表示処理及びＨｏｌｄ　Ｌｉｎｅ設置処理の詳細を示すフローチャートである。
【図５】本発明の一実施形態に係わる光強度測定装置の測定画面を示す模式図である。
【図６】従来の光強度測定装置の測定画面例を示す模式図である。
【符号の説明】
１……操作部
２……光パワー測定部
３……表示演算部
４……メモリ
５……表示部

Claims (6)

1. 光強度を時系列的に順次測定して測定値の時間軸変動を測定画面として表示する光強度測定装置であって、
   光強度の最新測定値を測定画面上に固定表示することを特徴とする光強度測定装置。
2. 最新測定値を測定画面の右端に固定表示し、最新測定値の左側に当該最新測定値に対して時系列的に連続する測定値を順次表示することを特徴とする請求項１記載の光強度測定装置。
3. 最大測定値を示す最大値表示補助線を付加表示することを特徴とする請求項１または２記載の光強度測定装置。
4. 最小測定値を示す最小値表示補助線を付加表示することを特徴とする請求項１〜３いずれかに記載の光強度測定装置。
5. 外部から入力される速度指定情報に基づいて測定画面の描画更新速度を可変設定することを特徴とする請求項１〜４いずれかに記載の光強度測定装置。
6. 測定画面上に実際に表示する測定値よりも多くの測定値を記憶するメモリ（４）を備えることを特徴とする請求項１〜５いずれかに記載の光強度測定装置。

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