JP2004111788A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2004111788A
JP2004111788A JP2002274763A JP2002274763A JP2004111788A JP 2004111788 A JP2004111788 A JP 2004111788A JP 2002274763 A JP2002274763 A JP 2002274763A JP 2002274763 A JP2002274763 A JP 2002274763A JP 2004111788 A JP2004111788 A JP 2004111788A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exhaust pipe
gas
chamber
processing
wafer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002274763A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4357821B2 (ja
Inventor
Tetsuaki Inada
稲田 哲明
Masanobu Higashida
東田 将伸
Takeshi Yasui
保井 毅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Kokusai Electric Inc
Original Assignee
Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Kokusai Electric Inc filed Critical Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority to JP2002274763A priority Critical patent/JP4357821B2/ja
Publication of JP2004111788A publication Critical patent/JP2004111788A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4357821B2 publication Critical patent/JP4357821B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

【課題】メンテナンス性を向上させることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】本発明は、基板を処理する処理室と、前記処理室の処理ガスを排気する排気手段と、前記処理室と前記排気手段とを連結する第1の排気管と、前記排気手段から排出される処理ガスを流通する第2の排気管と、を有する基板処理装置において、前記第1の排気管の周囲に前記第1の排気管を加熱する加熱手段を設けたことと、少なくとも前記第2の排気管の一部に鉛直成分を持つ部分を設け、前記鉛直成分を持つ部分の下端に、前記第2の排気管で液化した前記処理ガスを収集する回収容器を設けたことを特徴とするものである。
【選択図】    図1

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明はウエハ等の基板に薄膜の生成、不純物の拡散、エッチング等の処理を行う基板処理装置に関するものであり、特に排気管内に付着する付着物の防止、及び排気管内で液化した物質の回収方法に関わる。
【0002】
【従来技術】
従来の基板処理装置の反応ガス供給系と処理ガス排気系の構成を、図5を用いて説明する。
【0003】
図5に示すように基板処理装置には、基板(ウエハ)200を処理する処理室201が設けられる。基板処理に用いる室温で液体の原料物質は、原料タンク1に保存され、前記原料タンク1の原料物質を処理室201に供給する第1のガス供給管15が設けられる。また、前記第1のガス供給管15には、図示しない気化器が設けられる。第3のガス供給管14より圧送ガスを前記原料タンク1内に送り、前記圧送ガスの圧力で前記液体の原料物質を前記気化器に送り、液体の前記原料物質を気化する。また前記第1のガス供給管15には、不活性ガス供給管13に接続され不活性ガスと前記原料物質を混合して第1の反応ガスを生成し、その流量を調整する第1のバルブ11が設けられる。また、前記第1のガス供給管15には、前記第1のガス供給管15を加熱する第1の加熱手段17が設けられる。前記加熱手段17は図示しないヒータと図示しない断熱材で構成され、前記気化器で気化した原料物質が再度液化しないようにしている。また、前記処理室201には第2の反応ガスを供給する第2のガス供給管12が設けられ、前記第1の反応ガスと前記第2の反応ガスを用いて、前記処理室201内の基板200に所望の基板処理を行う。
【0004】
前記処理室201には、前記処理室201内の処理ガスを排気する第1のガス排気管18が設けられ、前記第1のガス排気管18は、例えば真空ポンプなどの真空排気手段5に接続される。ここで、前記処理ガスには、未反応の前記第1の反応ガスと前記第2の反応ガスと、前記基板処理により生成したガスを含み、前記処理ガスの中には室温で液体の成分(例えば、未反応の前記第1の反応ガス中の前記原料物質など)が含まれる。前記第1のガス排気管18には、前記第1のガス排気管18を開閉するメインバルブ9が設けられる。前記メインバルブ9の下流には、前記第1のガス排気管18が枝分かれする第1の枝分かれ部分19が設けられ、前記第1の枝分かれ部分19に第2のガス排気管20が接続される。前記第2のガス排気管20には、第2のガス排気管20を開閉する第2のバルブ8が設けられると共に、前記第2のガス排気管20にて液化する前記処理ガスを回収する回収容器4が設けられる。また前記処理室201と前記第1の枝分かれ部分19の間の第1のガス排気管には、その部分を加熱するための第2の加熱手段7が設けられ、前記第2の加熱手段7は図示しないヒータと図示しない断熱材で構成される。前記第2の加熱手段7は、前記第1の枝分かれ部分19より上流側の前記第1のガス排気管18内で、前記処理ガスが液化することを防止している。前記真空排気手段5の下流には、第3のガス排気管21を介して、前記真空排気手段5から排気される処理ガスの有害成分を除去する除害装置6が設けられる。また、前記メインバルブ9より上流の前記第1のガス排気管18と前記第3のガス排気管21とを連結するベントライン22が設けられ、前記ベントライン22には、前記ベントラインを開閉する第3のバルブ10が設けられる。前記ベントライン22は、不活性ガスを用いて処理室201を大気圧で維持する時に用いられ、基板処理中は前記第3のバルブ10によって閉じられている。なお、上記説明で用いた「上流」・「下流」は、反応ガスが処理室201に供給されて、真空排気手段により排気されてゆく方向に沿って用いる(以後も同意味で使用する)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上述の従来の基板処理装置では、処理ガスの中の室温で液化する成分を、液化させ、回収容器に効率よく回収することができなかった。これは、一般的に気体は圧力が高く、温度が低いほど液化し易いという傾向があり、従来の基板処理装置では、回収容器が排気手段の上流の高真空な場所に設置してあったので、前記処理ガスが液化しにくいと考えられる。そして、回収できなかった処理ガスの中の室温で液化する成分は、加熱手段のない前記第1の枝分かれ部分19より下流の第1のガス排気管18の内壁や、略大気圧であると共に加熱手段のない前記第3のガス排気管21の内壁に液化し付着する。そして、前記処理室201をメンテナンスするときなど、前記処理室201内部、及び各排気管を外気にさらした場合に、この液化して付着した液化物は、外気に含まれる水分と反応し、固体の物質となり排気管内壁に固着する。その結果、配気管を閉塞させたり、ガスの流通を妨げる原因となる。また、前記固体の物質は、反応室内をクリーニングする際使用するガスに含まれる成分(例えば、塩素やフッ素など)と反応し、有害な気体を発生させる。さらに、前記処理ガスに含まれる未反応の室温で液体の原料物質を有効に回収できず、原料の再利用の効率が悪いという問題があった。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記問題を解決するため、本発明は、基板を処理する処理室と、前記処理室の処理ガスを排気する排気手段と、前記処理室と前記排気手段とを連結する第1の排気管と、前記排気手段から排出される処理ガスを流通させる第2の排気管と、を有する基板処理装置において、前記第1の排気管の周囲に前記第1の排気管を加熱する加熱手段を設けるとともに、少なくとも前記第2の排気管の一部に鉛直成分を持つ部分を設け、前記鉛直成分を持つ部分の下方に、前記第2の排気管で液化した前記処理ガスを収集する回収容器を設けたこと、を特徴とするものである。
【0007】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態を図面に即して説明する。
【0008】
図3および図4に於いて、本発明が適用される基板処理装置の概要を説明する。なお、図3、4中、図5と同一のものには、同符号を付し説明を省略する。
【0009】
なお、本発明が適用される基板処理装置においてはウエハ搬送用キャリヤとしては、FOUP(front opening unified pod 。以下、ポッドという。)が使用されている。また、以下の説明において、前後左右は図3を基準とする。すなわち、第二の搬送室121側が前側、その反対側すなわち第一の搬送室103側が後側、搬入用予備室122側が左側、搬出用予備室123側が右側とする。
【0010】
図3および図4に示されているように、基板処理装置は真空状態などの大気圧未満の圧力(負圧)に耐えるロードロックチャンバ構造に構成された第一の搬送室103を備えており、第一の搬送室103の筐体101は平面視が六角形で上下両端が閉塞した箱形状に形成されている。第一の搬送室103には負圧下でウエハ200を移載する第一のウエハ移載機112が設置されている。前記第一のウエハ移載機112は、エレベータ115によって、第一の搬送室103の気密性を維持しつつ昇降できるように構成されている。
【0011】
筐体101の六枚の側壁のうち正面側に位置する二枚の側壁には、搬入用予備室122と搬出用予備室123とがそれぞれゲートバルブ244,127を介して連結されており、それぞれ負圧に耐え得るロードロックチャンバ構造に構成されている。さらに、搬入用予備室122には搬入室用基板仮置き台140が設置され、搬出用予備室123には搬出室用基板仮置き台141が設置されている。
【0012】
搬入用予備室122および搬出用予備室123の前側には、略大気圧下で用いられる第二の搬送室121がゲートバルブ128、129を介して連結されている。第二の搬送室121にはウエハ200を移載する第二のウエハ移載機124が設置されている。第二のウエハ移載機124は第二の搬送室121に設置されたエレベータ126によって昇降されるように構成されているとともに、リニアアクチュエータ132によって左右方向に往復移動されるように構成されている。
【0013】
図3に示されているように、第二の搬送室121の左側にはオリフラ合わせ装置106が設置されている。また、図4に示されているように、第二の搬送室121の上部にはクリーンエアを供給するクリーンユニット118が設置されている。
【0014】
図3および図4に示されているように、第二の搬送室121の筐体125には、ウエハ200を第二の搬送室121に対して搬入搬出するためのウエハ搬入搬出口133、134、135が設けられ、ポッドオープナ108がそれぞれ設置されている。ポッドオープナ108は、IOステージ105に載置されたポッド100のキャップ及びウエハ搬入搬出口134を開閉するキャップ開閉機構とを備えており、IOステージ105に載置されたポッド100のキャップ及びウエハ搬入搬出口134をキャップ開閉機構によって開閉することにより、ポッド100のウエハ出し入れを可能にする。また、ポッド100は図示しない工程内搬送装置(RGV)によって、前記IOステージ105に、供給および排出されるようになっている。
【0015】
図3に示されているように、筐体101の六枚の側壁のうち背面側に位置する二枚の側壁には、ウエハに所望の処理を行う第一の処理室201と、第二の処理室137とがそれぞれ隣接して連結されている。また、筐体101における六枚の側壁のうちの残りの互いに対向する二枚の側壁には、第三の処理室としての第一のクーリングユニット138と、第四の処理室としての第二のクーリングユニット139とがそれぞれ連結されており、第一のクーリングユニット138および第二のクーリングユニット139はいずれも処理済みのウエハ200を冷却するように構成されている。
【0016】
以下、前記構成をもつ基板処理装置を使用した成膜工程を説明する。
【0017】
未処理のウエハ200は25枚がポッド100に収納された状態で、成膜工程を実施する基板処理装置へ工程内搬送装置によって搬送されて来る。図3および図4に示されているように、搬送されて来たポッド100はIOステージ105の上に工程内搬送装置から受け渡されて載置される。ポッド100のキャップ及びウエハ搬入搬出口134がキャップ開閉機構によって取り外され、ポッド100のウエハ出し入れ口が開放される。
【0018】
ポッド100がポッドオープナ108により開放されると、第二の搬送室121に設置された第二のウエハ移載機124はポッド100からウエハ200をピックアップし、搬入用予備室122に搬入し、ウエハ200を搬入室用基板仮置き台140に移載する。この移載作業中には、第一の搬送室103側のゲートバルブ244は閉じられており、第一の搬送室103の負圧は維持されている。ウエハ200の搬入室用基板仮置き台140への移載が完了すると、ゲートバルブ128が閉じられ、搬入用予備室122が排気装置(図示せず)によって負圧に排気される。
【0019】
搬入用予備室122が予め設定された圧力値に減圧されると、ゲートバルブ244、130が開かれ、搬入用予備室122、第一の搬送室103、第1の処理室201が連通される。続いて、第一の搬送室103の第一のウエハ移載機112は搬入室用基板仮置き台140からウエハ200をピックアップして第一の処理室201に搬入する。そして、第1の処理室201内に反応ガスが供給され、所望の処理がウエハ200に行われる。
【0020】
第一の処理室201で前記処理が完了すると、処理済みウエハ200は第一の搬送室103の第一のウエハ移載機112によって第一の搬送室103に搬出される。
【0021】
そして、第一のウエハ移載機112は第一の処理室201から搬出したウエハ200を第一のクーリングユニット138の処理室(冷却室)へ搬入し、処理済みのウエハを冷却する。
【0022】
第一のクーリングユニット138にウエハ200を移載すると、第一のウエハ移載機112は搬入用予備室122の搬入室用基板仮置き台140に予め準備されたウエハ200を第一の処理室201に前述した作動によって移載し、第1の処理室201内に反応ガスが供給され、所望の処理がウエハ200に行われる。
【0023】
第一のクーリングユニット138において予め設定された冷却時間が経過すると、冷却済みのウエハ200は第一のウエハ移載機112によって第一のクーリングユニット138から第一の搬送室103に搬出される。
【0024】
冷却済みのウエハ200が第一のクーリングユニット138から第一の搬送室103に搬出されたのち、ゲートバルブ127が開かれる。そして、第1のウエハ移載機112は第一のクーリングユニット138から搬出したウエハ200を搬出用予備室123へ搬送し、搬出室用基板仮置き台141に移載した後、搬出用予備室123はゲートバルブ127によって閉じられる。
【0025】
搬出用予備室123がゲートバルブ127によって閉じられると、前記排出用予備室123内が不活性ガスにより略大気圧に戻される。前記搬出用予備室123内が略大気圧に戻されると、ゲートバルブ129が開かれ、第二の搬送室121の搬出用予備室123に対応したウエハ搬入搬出口134と、IOステージ105に載置された空のポッド100のキャップがポッドオープナ108によって開かれる。続いて、第二の搬送室121の第二のウエハ移載機124は搬出室用基板仮置き台141からウエハ200をピックアップして第二の搬送室121に搬出し、第二の搬送室121のウエハ搬入搬出口134を通してポッド100に収納して行く。処理済みの25枚のウエハ200のポッド100への収納が完了すると、ポッド100とウエハ搬入搬出口134がポッドオープナ108によって閉じられる。閉じられたポッド100はIOステージ105の上から次の工程へ工程内搬送装置によって搬送されて行く。
【0026】
以上の作動が繰り返されることにより、ウエハが、順次、処理されて行く。以上の作動は第一の処理室201および第一のクーリングユニット138が使用される場合を例にして説明したが、第二の処理室137および第二のクーリングユニット139が使用される場合についても同様の作動が実施される。
【0027】
次に、図1により、本発明で用いる基板処理装置の原料供給系・排気系の構成を説明する。なお、図1中、図3、4、5と同一のものには、同符号を付し説明を省略する。
【0028】
図1に示すように、本発明の基板処理装置には、基板200を処理する処理室201が設けられる。基板処理に用いる室温で液体の原料物質は、原料タンク1に保存され、前記原料タンク1の原料物質を処理室201に供給する第1のガス供給管15を設ける。また、前記第1のガス供給管15には、図示しない気化器が設けられる。第3のガス供給管14より圧送ガスを前記原料タンク1内に送り、前記圧送ガスの圧力で前記液体の原料物質を前記気化器に送り、液体の前記原料物質を気化する。また、前記第1のガス供給管15には、不活性ガス供給管13に接続され不活性ガスと前記原料物質を混合して第1の反応ガスを生成し、その流量を調整する第1のバルブ11が設けられる。また、前記第1のガス供給管15には、前記第1のガス供給管15を加熱する第1の加熱手段17が設けられる。前記加熱手段17は図示しないヒータと図示しない断熱材で構成され、前記気化器で気化した原料物質が再度液化しないようにしている。また、前記処理室201には第2の反応ガスを供給する第2のガス供給管12が設けられ、前記第1の反応ガスと前記第2の反応ガスを用いて、前記処理室201内の基板に所望の基板処理を行う。
【0029】
前記処理室201には、前記処理室201内の処理ガスを排気する第1のガス排気管18が設けられ、前記第1のガス排気管18は、例えば真空ポンプなどの真空排気手段5に接続される。前記第1のガス排気管18には、前記第1のガス排気管18を開閉するメインバルブ9が設けられる。また前記第1のガス排気管18の全体にわたって第3の加熱手段3が設けられる。前記加熱手段3は図示しないヒータと図示しない断熱材で構成され、前記第1のガス排気管18の中で、処理ガスの中の室温で液化する成分が液化し、前記第1のガス排気管18の内壁に付着しないようになっている。また、前記真空排気手段5は、気体を圧縮し排気する過程で発熱し、通常80℃〜120℃になるので、前記真空排気手段5の内部で処理ガスの成分が液化し付着することを抑制する。なお、処理ガスの中に80℃〜120℃で液化する成分が含まれているときは、前記真空排気手段を冷却する冷却液の流量を減少させることで、前記真空排気手段5内部を180℃程度まで上昇させることができ、前記真空排気手段5の内部で処理ガスの成分が液化し付着することを、さらに抑制できる。
【0030】
前記真空排気手段5の下流には第3のガス排気管21が設けられ、前記第3のガス排気管21は除害装置6に接続される。除害装置6は、前記第3の排気管21を流れる処理ガスに含まれる有害物質を、燃焼させたり、触媒に通して中和させたり、溶媒に溶かし込んだりして、処理ガス中から除去するものである。
【0031】
また、前記第3のガス排気管21に第2の枝分かれ部分23を設け、第4のガス排気管24の一端が接続される。前記第4のガス排気管24には、前記第4のガス排気管24を開閉する第4のバルブ14が設けられると共に、前記第4のガス排気管24の他端には液化した処理ガスの成分を回収する回収容器4が接続される。図1に示すように、前記第3のガス排気管21は、前記第2の枝分かれ部分23よりも下流側で鉛直上方向に伸びる鉛直部分25を有し、前記回収容器4は前記第2の枝分かれ部分23の鉛直下方向に設けられる。なお、鉛直方向とは、重力の作用する方向とその逆の方向を指しており、鉛直下方向は重力が作用する方向、鉛直上方向はその逆方向を指している。
【0032】
前記第3のガス排気管21と前記第4のガス排気管24は、前記真空排気手段5の下流側に設置されているため、略大気圧となっており、さらに、前記第3のガス排気管21及び前記第4のガス排気管24には、前記第3のガス排気管21及び前記第4のガス排気管24を加熱する加熱手段が設けられていない。従って、前記真空排気装置5から排気された処理ガスの内、室温で液化する成分は液化し、前記鉛直部分25の内壁に付着する。上述のように前記鉛直部分25は鉛直に配置されているので、前記鉛直部分25の内壁に付着した液化物は、重力の作用により流れ落ち、前記第2の枝分かれ部23、ひいては、前記回収手段4に収集される。
【0033】
次に、図2を用いて、本発明の別の実施例を説明する、なお、図2中、図1、3、4と同一のものには同符号を付し、説明を省略する。
【0034】
図2に示す実施例が、前記図1に示す実施例と異なる点は、真空排気手段5、回収容器4,除害装置6の位置関係である。つまり、前記真空排気手段5の下に前記回収容器4を設け、前記真空排気手段5と前記回収容器4とを鉛直下向きの第5のガス排気管26で連結する。前記第5のガス排気管26は、すべて鉛直下向きに配置されるので、前記第5のガス排気管26で液化した液化物は全て前記回収容器4に捕捉され、液化物の回収効率がさらに高まる。
【0035】
なお、上記した本発明の実施例では、前記第3のガス排気管21の一部、前記第4のガス排気管24、及び前記第5のガス排気管26を鉛直方向に配置したが、必ずしも鉛直方向でなくとも、液化物が重力の作用により流れ落ちる方向であればよい。つまり、前記第3のガス排気管21の一部、前記第4のガス排気管24、及び前記第5のガス排気管26を斜め方向(即ち、少なくとも鉛直成分を持つ方向)に配置してもよい。また、図1、2では、前記第3のガス排気管21の一部、前記第4のガス排気管24、及び前記第5のガス排気管26を直線で描いているが、必ずしも直線である必要はなく、液化物が重力の作用で流れ落ちれば、曲線であっても良い。また、前記第3のガス排気管21の一部、前記第4のガス排気管24、及び前記第5のガス排気管26を螺旋状にて形成すれば、省スペースで、より多くの管長を稼げるため、液化物質の回収率はさらに向上する。
【0036】
また、前記処理室201をメンテナンスする場合などに、前記処理室201及び排気管を外気にさらす場合は、前記排気手段5を用いて前記処理室201内の雰囲気を排気しながら、不活性ガス供給管13から不活性ガスを、前記処理室201に供給し、その後、供給停止するという作業を数回繰り返す。前記作業を行うことで、前記第1のガス排気管18に残留する処理ガス、前記第3のガス排気管21に残留する処理ガスを基板処理装置の外に排出できる。また、前記第3のガス排気管21に付着する液化物は、前記不活性ガスを排気する過程で、前記不活性ガス中に気化し、基板処理装置の外に排出できる。
【0037】
また、前記回収容器4を、例えば水などの冷却液で冷却すれば、前記回収容器4内に収集された液化物が、再度、気化し、ガス排気管内に拡散することを防止できる。
【0038】
なお、本発明は、第1の処理室201の場合を例にして説明したが、第2の処理室137を用いて基板処理する場合にも適用できる。
【0039】
【発明の効果】
本発明によれば、真空度の低い排気手段の下流側に回収容器を設けると共に、処理室と排気手段の間の第1のガス排気管に、処理ガス中の室温で液化する成分の液化を防止する加熱手段を設けた。さらに、前記回収容器は、排気手段の下流側の排気管の鉛直成分を持つ部分の下方に設け、前記鉛直成分を持つ排気管で液化した液化物を、重力の作用により流れ落とし回収できるようにした。
【0040】
このような構成にしたので、処理ガス中の室温で液化する成分を有効に回収できると共に、第1のガス排気管及び前記鉛直成分を持つ排気管以外の排気管に液化物が付着するのを防止する。従って、前記液化物が外気の水分により固着し、排気管を閉塞、或いはガスの流通を妨げることはなく、さらに、第1のガス排気管内に付着した付着物が処理室に逆拡散し、処理室内を汚染することもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例におけるガス供給・排気系を示す模式図。
【図2】本発明の第2の実施例におけるガス供給・排気系を示す模式図。
【図3】本発明が適用される基板処理装置の全体構成の模式図。
【図4】本発明が適用される基板処理装置の全体構成の模式図。
【図5】従来例におけるガス供給・排気系を示す模式図。
【符号の説明】
1     原料タンク
3     第3の加熱手段
4     回収容器
5     真空排気手段
6     除害装置
18     第1のガス排気管
21     第3の排気管
25     鉛直部分

Claims (1)

  1. 基板を処理する処理室と、
    前記処理室の処理ガスを排気する排気手段と、
    前記処理室と前記排気手段とを連結する第1の排気管と、
    前記排気手段から排出される処理ガスを流通させる第2の排気管と、
    を有する基板処理装置において、
    前記第1の排気管の周囲に前記第1の排気管を加熱する加熱手段を設けるとともに、
    少なくとも前記第2の排気管の一部に鉛直成分を持つ部分を設け、前記鉛直成分を持つ部分の下方に、前記第2の排気管で液化した前記処理ガスを収集する回収容器を設けたこと、
    を特徴とする基板処理装置。
JP2002274763A 2002-09-20 2002-09-20 基板処理装置 Expired - Lifetime JP4357821B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002274763A JP4357821B2 (ja) 2002-09-20 2002-09-20 基板処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002274763A JP4357821B2 (ja) 2002-09-20 2002-09-20 基板処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004111788A true JP2004111788A (ja) 2004-04-08
JP4357821B2 JP4357821B2 (ja) 2009-11-04

Family

ID=32271141

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002274763A Expired - Lifetime JP4357821B2 (ja) 2002-09-20 2002-09-20 基板処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4357821B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006313857A (ja) * 2005-05-09 2006-11-16 Techno Boundary:Kk ゲル状物質の処理方法、および処理装置
JP2008535211A (ja) * 2005-03-22 2008-08-28 エドワーズ リミテッド トラップデバイス

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008535211A (ja) * 2005-03-22 2008-08-28 エドワーズ リミテッド トラップデバイス
JP4885943B2 (ja) * 2005-03-22 2012-02-29 エドワーズ リミテッド トラップデバイス
US8657942B2 (en) 2005-03-22 2014-02-25 Edwards Limited Trap device
TWI457166B (zh) * 2005-03-22 2014-10-21 Edwards Ltd 收集裝置
JP2006313857A (ja) * 2005-05-09 2006-11-16 Techno Boundary:Kk ゲル状物質の処理方法、および処理装置
JP4527595B2 (ja) * 2005-05-09 2010-08-18 株式会社 テクノ・バンダリー ゲル状物質の処理方法、および処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4357821B2 (ja) 2009-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI438833B (zh) Substrate processing method and substrate processing device
US6899507B2 (en) Semiconductor processing apparatus comprising chamber partitioned into reaction and transfer sections
JP2013033965A (ja) 基板処理装置、基板処理設備、及び基板処理方法
JP2002530858A (ja) 物理蒸着室および化学蒸着室を共に処理システムに統合するためのバッファ室および統合方法
KR19990063409A (ko) 열처리장치
CN112530800B (zh) 蚀刻方法和基板处理系统
JP5583580B2 (ja) 真空処理装置
JP5224567B2 (ja) 基板処理装置、基板処理方法および半導体装置の製造方法
JP2009200142A (ja) 成膜装置および成膜方法
JP2008303452A (ja) 基板処理装置
JP2004111787A (ja) 基板処理装置
JP2741156B2 (ja) マルチチャンバー処理装置のクリーニング方法
TWI700764B (zh) 裝載鎖定裝置中的基板冷卻方法、基板搬運方法及裝載鎖定裝置
JP4357821B2 (ja) 基板処理装置
JP2004119888A (ja) 半導体製造装置
JP3066691B2 (ja) マルチチャンバー処理装置及びそのクリーニング方法
TWI380356B (ja)
JP3125121B2 (ja) 枚葉式ホットウォール処理装置のクリーニング方法
US20180076030A1 (en) SiC FILM FORMING METHOD AND SiC FILM FORMING APPARATUS
KR101032043B1 (ko) 반도체 제조설비의 가스 쿨링시스템
JP2004146508A (ja) 基板処理装置
JP2007227804A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2011091323A (ja) 半導体製造装置
TW201302329A (zh) 被處理基板處理用鹵素去除裝置、被處理基板處理裝置及被處理基板處理方法
JPH0786172A (ja) 処理用ガスの供給方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050329

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061207

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061212

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071002

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071129

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090804

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090805

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120814

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4357821

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130814

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140814

Year of fee payment: 5

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term