JP2004104676A - 固体撮像装置及び距離情報入力装置 - Google Patents

固体撮像装置及び距離情報入力装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2004104676A
JP2004104676A JP2002266862A JP2002266862A JP2004104676A JP 2004104676 A JP2004104676 A JP 2004104676A JP 2002266862 A JP2002266862 A JP 2002266862A JP 2002266862 A JP2002266862 A JP 2002266862A JP 2004104676 A JP2004104676 A JP 2004104676A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit
charge
field effect
pixel
unit pixel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2002266862A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuhiro Fukunaga
福永 康弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2002266862A priority Critical patent/JP2004104676A/ja
Publication of JP2004104676A publication Critical patent/JP2004104676A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

【課題】高感度・低ノイズで、高線形性・高精細を可能とする固体撮像装置(及び距離情報入力装置)を提供すること。
【解決手段】光電変換部101と、該光電変換部101から電荷検出部103へ光電荷を完全転送する転送ゲートと、上記電荷検出部103へ送られた電荷を増幅して読み出す読み出しトランジスタ110と、上記電荷検出部103に送られた電荷を積分蓄積する帰還容量106と、上記電荷検出部103をリセットするリセットトランジスタ104と、選択された画素の光電変換信号を出力する選択トランジスタ112と、から単位画素100を構成し、該単位画素100外に、上記読み出しトランジスタ110に電流を供給する電流源トランジスタ109と、画素信号に混入した固定パターンノイズを除去するCDS回路114とを、画素の列(行)毎に共有して形成する。
【選択図】  図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の単位画素と電流源用の電界効果トランジスタ及びCDS(相関二重サンプリング)回路を有する固体撮像装置に関する。
【0002】
また、本発明は、対象物に向けて光を照射し、その反射光を受光することにより、対象物までの距離を検出する測距装置に関わり、対象物の距離情報を画像としてリアルタイム・高精度に取り込む距離情報入力装置に関する。
【0003】
【従来の技術】
画素内に増幅素子を有する増幅型固体撮像素子が各種知られている(例えば、特許文献1参照。)。
【0004】
図4の(A)は、従来の増幅型固体撮像素子の単位画素構造を示す回路図である。
【0005】
即ち、単位画素400は、光電変換部に等価的に蓄積容量401が接続されたPN接合フォトダイオード404と、このフォトダイオード404にそのソースを接続し、そのゲートに接続したリセットパルス入力端子402に印加されるリセットパルスにより上記フォトダイオード404の電位をそのドレインに接続したリセット電位供給端子405に印加されているリセット電位にリセットするリセットトランジスタ403と、上記フォトダイオード404に蓄積された電荷を読み出すために、上記フォトダイオード404にそのゲートが接続され、そのドレインが上記リセット電位供給端子405に接続され、ソースフォロワ回路を形成する読み出しトランジスタ406と、この読み出しトランジスタ406で読み出された信号を信号出力線411に伝えるために、そのドレインが上記読み出しトランジスタ406のソースに接続され、そのゲートに選択パルスが印加される画素選択パルス入力端子408を備え、そのソースが上記信号出力線411と接続された選択トランジスタ407と、から構成される。
【0006】
そして、以上説明した単位画素400を二次元に配置して(図示せず)、垂直・水平の走査を行うことにより二次元の画像情報を得ることができる。
【0007】
上記単位画素400の外には、上記読み出しトランジスタ406に定電流を供給するために、そのゲートがバイアス供給端子409に接続され、そのソースが接地されてカレントソース回路を形成する電流源トランジスタ410と、画素信号に混入した固定パターンノイズを除去するCDS(相関二重サンプリング)回路412とが接続される。ここで、上記電流源トランジスタ410と上記CDS回路412とは通常、二次元に配置された単位画素400に列(行)毎に共有して配置される。
【0008】
図4の(B)の駆動タイミングチャートを参照して、単位画素400の動作に関して説明する。
【0009】
まず、蓄積期間▲4▼において、上記リセットパルス入力端子402に印加するリセットパルスと上記画素選択パルス入力端子408に印加する選択パルスとをオフして、蓄積状態にする。
【0010】
そして、ある一定の蓄積期間▲4▼を経た後に、蓄積レベル読み出し期間▲1▼とするために、上記画素選択パルス入力端子408に印加する選択パルスをオンして、該蓄積レベル読み出し期間▲1▼にて蓄積レベルを読み出す。
【0011】
その後、リセット期間▲2▼にて、上記リセットパルス入力端子402に印加する上記リセットパルスをオンし、上記読み出しトランジスタ406のゲートと上記フォトダイオード404の電位を、上記リセット電位供給端子405に印加されているリセット電位へとリセットする。
【0012】
上記リセット期間▲2▼の直後、オフセット読み出し期間▲3▼にて、上記リセットパルス入力端子402に印加する上記リセットパルスをオフし、オフセットレベルを読み出す。
【0013】
この駆動方法により、画素外に設けた上記CDS回路412にて、画素のFPN(固定パターン雑音)成分を除去して、より良い画像信号を取り出すことができる。
【0014】
また、図5の(A)は、ソース接地型アンプと帰還容量を用いた従来の増幅型固体撮像素子の単位画素構造を示す回路図である。
【0015】
即ち、単位画素500は、等価的に蓄積容量501が接続されたPN接合フォトダイオード506と、このフォトダイオード506の電位をリセットレベルへリセットするために、そのゲートがリセットパルス入力端子504に、そのソースが上記フォトダイオード506に接続されたリセットトランジスタ502と、上記フォトダイオード506で蓄積された光電荷を積分蓄積するために、その一端子を上記フォトダイオード506に、その他端子を上記リセットトランジスタ502のドレインに接続した帰還容量505と、上記フォトダイオード506で蓄積された光電荷を増幅して読み出すために、そのゲートを上記フォトダイオード506に、そのドレインを上記帰還容量505の上記他端子に接続し、そのソースが接地されるように配置された読み出しトランジスタ510と、この読み出しトランジスタ510で増幅された光電変換信号を信号出力線513へと伝えるために、そのソースを上記読み出しトランジスタ510のドレインに、そのゲートを画素選択パルス入力端子511に、そのドレインを上記信号出力線513へと接続した選択トランジスタ512と、から構成される。
【0016】
そして、以上説明した単位画素500を二次元に配置して(図示せず)、垂直・水平の走査を行うことにより、二次元の画像情報を得ることができる。
【0017】
上記単位画素500の外には、上記読み出しトランジスタ510に定電流を供給するために、そのゲートがバイアス供給端子507に接続され、そのソースが電源端子508に接続された電流源トランジスタ509と、画素信号に混入した固定パターンノイズを除去するCDS回路514とが接続される。ここで、上記電流源トランジスタ509と上記CDS回路514とは通常、二次元に配置された画素に列(行)毎に共有して配置される。
【0018】
図5の(B)の駆動タイミングチャートを参照して、上記ソース接地型アンプと帰還容量を用いた増幅型固体撮像素子の駆動方法を説明する。
【0019】
まず、リセット期間▲1▼にて、上記リセットパルス入力端子504に印加するリセットパルスと上記画素選択パルス入力端子511に印加する選択パルスとをオンし、上記帰還容量505の両端と上記読み出しトランジスタ510のドレイン・ゲートとを短絡して、上記選択トランジスタ512のソース電位を、上記読み出しトランジスタ510のゲート・ソース間電圧で決まる電位へとリセットする。
【0020】
その後、上記画素選択パルス入力端子511に印加する上記選択パルスをオンしたまま上記リセットパルス入力端子504に印加する上記リセットパルスをオフしたオフセット読み出し期間▲2▼で、オフセットレベルを上記信号出力線513より読み出す。
【0021】
そして、上記リセットパルス入力端子504に印加する上記リセットパルスと上記画素選択パルス入力端子511に印加する上記選択パルスとをオフした蓄積期間▲3▼で、上記フォトダイオード506に入射した光に応じた信号変化を上記帰還容量505に蓄積する。
【0022】
そして、ある一定の蓄積期間▲3▼を経た後に、上記画素選択パルス入力端子511に印加する上記選択パルスをオンして、信号読み出し期間▲4▼とし、信号レベルを上記信号出力線513より読み出す。
【0023】
そして、上記CDS回路514にて、上記オフセット読出し期間▲2▼と上記信号読み出し期間▲4▼とで読み出した出力レベルの差をとる操作を行うことにより、画素信号に混入したFPN成分を除去することができ、オフセットの影響の少ない、より良い画像信号を得ることができる。
【0024】
ところで、図4の(A)や図5の(A)に示したような増幅型固体撮像素子は各種の用途に使用されているのは良く知られていることである。
【0025】
その用途の一つとして、対象物に向けて光を照射し、その反射光を受光することにより、対象物までの距離を検出する測距装置において、対象物の距離情報を画像としてリアルタイム・高精度に取り込む距離情報入力装置がある。即ち、この距離情報入力装置は、固体撮像素子ベースの感度変調素子を使用するものである。
【0026】
測距方法の一つとして、光の空間伝搬時間計測(Time of Flight法;TOF法)において対象物の距離情報を二次元的に表現するのに、輝度変調したスポット光を二次元的に走査して一つの感度変調素子で受光する、あるいは輝度変調光をエリア照明して一括して感度変調素子アレイで受光する、といった方法がとられる。
【0027】
まず、距離画像取得原理について最初に述べた後に、画素リセット・感度変調・読み出しといった具体的な駆動方法を説明する。
【0028】
輝度変調光源と感度変調素子を用いてリアルタイムに距離画像(対象物の奥行きに関する情報を二次元的に並べたもの)を取得する原理については、各種の文献に説明されている(例えば、非特許文献1参照。)
図6の(A)は、非特許文献1に開示されている感度変調素子の受光部における一画素分の断面構造を示す図であり、(B)はそのポテンシャルダイアグラムを示す図である。
【0029】
入射光が遮光層600の開口部から素子の光電変換部618に入射すると、光量に応じた光生成電子が発生する。この光電変換部618は、MOSフォトゲート601下に形成されるとともに、該光電変換部618で生成された電子が、電荷振り分けパルス入力端子602及び603に接続れさた電荷振り分けゲートを介して、それぞれ電荷蓄積ゲート制御パルス入力端子604に接続された電荷蓄積ゲート下の電荷蓄積部619及び電荷蓄積部620に転送されるように構成されている。このとき、上記電荷蓄積部619及び620には、上記フォトゲート601よりも高い電圧が印加され、且つ、上記電荷振り分けパルス入力端子602及び603には相補的な電荷振り分けパルス、即ち上記電荷振り分けパルス入力端子602に電荷振り分けパルスを印加するときには上記電荷振り分けパルス入力端子603の電荷振り分けパルスがオフし、逆に、上記電荷振り分けパルス入力端子603に電荷振り分けパルスを印加するときには上記電荷振り分けパルス入力端子602の電荷振り分けパルスがオフするような電圧を入力する。このように駆動することによって、上記光電変換部618で発生した電子を時間的に選択し、振り分けながら上記電荷蓄積部619及び620に蓄積することができる。
【0030】
次に図7を用い、上記感度変調素子を用いた測距原理について説明する。
図7は、送光時の輝度変調光と受光時の対象物からの反射光の光強度、上記電荷振り分けパルス入力端子602と603に印加される電荷振り分けパルス、上記光電変換部618で生成される信号電荷量及び上記電荷蓄積部619、620の電荷蓄積量の時間変化を表す図である。
【0031】
ここで、パルス変調された輝度変調光は、上記電荷振り分けパルス入力端子602に印加される電荷振り分けパルスとは同位相であり、上記電荷振り分けパルス入力端子603に印加される電荷振り分けパルスとは180°位相がずれている。反射光は、送光時の輝度変調光に対して、対象物までの距離Rを往復するのにかかる時間△tだけ位相が遅れている。その反射光が上記光電変換部618に達すると、その光強度に比例した量の電荷Qが生成される。この電荷Qは、上記電荷振り分けパルス入力端子602の電荷振り分けパルスと上記電荷振り分けパルス入力端子603の電荷振り分けパルスのオン/オフに対応して、それぞれの位相と揃った成分ごとに、これら電荷振り分けパルス入力端子602、603に接続された電荷振り分けゲートを介し、上記電荷蓄積部619、620にそれぞれ振り分けられ、電荷Q1、電荷Q2が蓄積される。
【0032】
このとき、対象物までの距離Rは、光速c、変調パルス幅Tとすると、
【数1】
Figure 2004104676
と表される。
【0033】
従って、上記電荷蓄積部619、620の電荷を各々検出し、式(1)に基づいて処理することで対象物までの距離を検出することが可能となる。
【0034】
このように、TOF法に基づく測距において、電荷振り分けパルス入力端子のオン/オフにより電荷を振り分けるタイプの感度変調画素(以下、電荷振り分け画素)を用いると、対象物までの距離は、振り分けられた電荷Q1とQ2の比から求められるので、一度の検出で距離情報を得ることができる。また、電荷振り分け方式は、対象物までの距離Rが上記電荷蓄積部619と620に蓄えられた電荷量の比Q1とQ2により定められるから、入射光の強度に影響されにくいという利点がある。
【0035】
次に、以上説明した電荷振り分け画素の具体的な駆動方法の例を、図8乃至図10を参照して説明する。
【0036】
まず、図8を用いて画素のリセット動作を説明する。
【0037】
▲1▼の期間において、画素ドレイン電圧入力端子608を画素電極リセットパルス入力端子606より印加されたリセット電圧に固定したまま画素選択パルス入力端子609を除く全ての端子への入力パルスをオンし、上記フォトゲート601下の電荷と上記電荷振り分けパルス入力端子602、603に接続された上記電荷振り分けゲート下の電荷とをドレインへと排出する。
【0038】
▲2▼の期間において、上記電荷振り分けパルス入力端子602と603の電荷振り分けパルスをオフし、上記電荷蓄積ゲート制御パルス入力端子604に接続された上記電荷蓄積ゲートから上記フォトゲート601への電荷逆流を防止する。
【0039】
▲3▼の期間において、上記電荷蓄積ゲート制御パルス入力端子604の制御パルスをオフして、電荷を信号電荷転送ゲート制御パルス入力端子605に接続された信号電荷転送ゲートの下とドレインへ排出する。
【0040】
▲4▼の期間において、上記信号電荷転送ゲート制御パルス入力端子605の制御パルスをオフして、該信号電荷転送ゲート制御パルス入力端子605に接続された上記信号電荷転送ゲート下の電荷をドレインへと排出する。
【0041】
次に、図9を用いて、感度変調動作(電荷振り分けとオーバーフロー)を説明する。
【0042】
▲5▼の期間において、上記電荷振り分けパルス入力端子602と603に相補的にオン/オフするようなパルスを入力することにより、フォトゲート601下で生成された光電荷を上記電荷蓄積ゲート制御パルス入力端子604に接続されたそれぞれの電荷蓄積ゲート下に振り分ける。
【0043】
▲6▼の期間において、上記電荷蓄積ゲート制御パルス入力端子604の制御パルスの印加電圧を下げることにより、上記電荷蓄積ゲート制御パルス入力端子604に接続された上記電荷蓄積ゲート下に溜まった余剰電子を、上記信号電荷転送ゲート制御パルス入力端子605に接続された上記信号電荷転送ゲート下を介してドレインへとオーバーフローさせる。
【0044】
この▲5▼の期間と▲6▼の期間とを交互に繰り返すことにより、クロストークを防止しながら感度変調された信号電荷を蓄積することができる。
【0045】
次に、図10を用いて、読み出し動作を説明する。
▲7▼の期間において、上記画素選択パルス入力端子609に印加される選択パルスをオンして、信号電荷転送前のオフセット信号を画素信号出力線616と617から読み出す。
【0046】
▲8▼の期間において、上記信号電荷転送ゲート制御パルス入力端子605の制御パルスをオンして、蓄積した電荷をフローティング状態にされたドレインへ転送する。
【0047】
▲9▼の期間において、信号電荷転送後の信号レベルを上記画素信号出力線616と617からそれぞれ読み出し、上記▲7▼の期間において読み出したオフセットレベルとの差をとることによりオフセット成分を除去する。
【0048】
以上の動作をすることにより、感度変調信号を読み出すことができる。この感度変調信号から式(1)における電荷Q1とQ2を算出し、式(1)に代入することによって距離情報が抽出される。
【0049】
以上の方法により、余剰電子が引き起こすクロストークの問題を防止しながら高精度な距離情報を取得することが可能になる。
【0050】
【特許文献1】
特許第2965777号公報
【0051】
【非特許文献1】
1995 IEEE Workshop on Charge−Coupled Devices and Advanced Image Sensors, Apri1 20−22; ”Integration−Time Based Computational Image Sensors”
【0052】
【発明が解決しようとする課題】
図4の(A)及び(B)を用いて説明した従来の増幅型固体撮像素子では、画素400内に、光電変換用のフォトダイオード404以外に、読み出しトランジスタ406、リセットトランジスタ403、選択トランジスタ407の3つのトランジスタという必要最小限の構成になっており、十分な開口率を保ったまま高精細化が可能な画素構造となっている。
【0053】
しかしながら、リセット動作時に上記リセットトランジスタ403のチャネル抵抗が持つ熱雑音が原因で発生する、図4の(B)に点線で示すような、リセットノイズが大きく、S/Nを劣化する要因となる。このリセットノイズは、画素外に設けられた上記CDS回路412により、相関のないオフセットレベルと信号レベルとの差分をとるために相乗平均され、
【数2】
Figure 2004104676
倍になってしまう。
【0054】
これは、ある一定の時間間隔(フレームレート)で動作している撮像素子において、ブランキング期間(図4の(B)における▲1▼+▲2▼+▲3▼にかかる期間(:蓄積期間外の期間))に上記CDS回路412でFPN成分を除去する際に、1フレーム前の蓄積による信号レベルを蓄積レベル読み出し期間▲1▼で読み、リセット期間▲2▼でリセット動作を行い、オフセット読み出し期間▲3▼で現在のフレームのリセットレベル(リセットノイズによる変動成分を含んだオフセットレベル)を読み出し、CDS動作を行うために、リセットノイズ成分はCDS動作により除去されずに相関がない変動成分の演算により元のリセットノイズレベルの相乗平均、つまりルート2倍されてしまうといものである。数式を用いると、以下のようになる。
【0055】
【数3】
Figure 2004104676
【0056】
(ここで、NrsはCDS後のリセットノイズ成分、nrsはリセット動作により、信号成分とオフセット成分それぞれに混入しているリセットノイズ成分である。)
また、フォトダイオード404の蓄積容量の電圧依存性があるため、出力信号の線形性が劣化する。
【0057】
さらに、フォトダイオード404の寄生容量のために、光生成電子の蓄積に関わる蓄積容量401を小さくすることに限界があり、高感度化が困難である。この高感度化のために蓄積容量401を縮小する問題は、開口率向上のためにフォトダイオード404の開口面積を大きくする必要があることとトレードオフの関係にあり、高感度化を困難とする課題がある。
【0058】
また、読み出しトランジスタ406が形成するソースフォロワ回路の電圧利得が<1であり、電圧振幅が小さくなってしまい、光電変換部での入射した光に対する電圧変化の振幅を小さくしてしまい、ノイズ混入への耐性を落としてしまうという課題がある。
【0059】
一方、図5の(A)及び(B)を用いて説明したソース接地型アンプと帰還容量を用いた従来の増幅型固体撮像素子では、フォトダイオード506で光電変換された電荷を帰還容量505で積分蓄積して信号を読み出すことにより、フォトダイオード506の蓄積容量501の電圧依存性による画素出力信号の線形性の劣化を軽減している。画素500内のトランジスタ数は、図4の(A)及び(B)を用いて説明した増幅型固体撮像素子と同数の3つで、その他に帰還容量505を付加するのみの必要最小限の構成になっている。読み出しトランジスタ510をソース接地にすることにより、画素500内で電圧増幅して出力することが可能になる。さらに、帰還容量505を小さくすることにより、容易に高感度を得ることが可能である。
【0060】
しかしながら、このソース接地型アンプと帰還容量を用いた増幅型固体撮像素子も、図4の(A)及び(B)を用いて説明した増幅型固体撮像素子と同様に、リセットノイズの除去が困難な構成になっている。従って、結果として、S/Nの劣化を招く課題がある。
【0061】
また、上記の非特許文献1に開示の技術では、フローティングディフュージョンの蓄積容量電圧依存性のために電荷検出時に出力信号の非線形性が生じ、結果として、得られる測距データの非線形性として現れ、測距精度を著しく低下させるという課題がある。これに関しては、上記非特許文献1献に、信号検出部のフローティングディフュージョンの非線形性が測距データのインフェーズとアウトフェーズが切り替わる領域でギャップ(実距離対測定距離のプロットに段差が出来る現象)として現れる問題が報告されている。
【0062】
また、フローティングディフュージョンの寄生容量により蓄積容量縮小に限界があり、高感度化を困難にしている課題がある。
【0063】
さらに、蓄積電荷をソースフォロワで読み出すために、出力の電圧振幅が小さくなり、画素から読み出された信号に対し処理回路から混入するノイズによる影響が大きくなるという課題がある。
【0064】
本発明は、上記の点に鑑みてなされたもので、高感度・低ノイズで高線形性・高精細を可能とする固体撮像装置及び距離情報入力装置を提供することを目的とする。
【0065】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、請求項1に記載の発明による固体撮像装置は、複数の単位画素と電流源用の電界効果トランジスタ及び相関二重サンプリング回路を有する固体撮像装置において、
上記単位画素が、
入射光を感知して光電荷を生成するためのMOSダイオードよりなる光電変換部と、
上記光電変換部に隣接し、上記光電変換部下の蓄積電荷を完全転送するための転送ゲート部と、
上記転送ゲート部より完全転送された蓄積電荷を検出するための電荷検出部と、
上記電荷検出部へ転送された蓄積電荷を増幅・読み出すために、上記電荷検出部とそのゲートを接続し、そのソースが接地された増幅・読み出し用の電界効果トランジスタと、
上記電荷検出部で検出された蓄積電荷を積分蓄積するために、上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのゲートにその一端子を接続し、その他端子を上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのドレインと接続するように配置した帰還容量と、
上記電荷検出部の電位をリセット電位へとリセットするために、そのソースが上記帰還容量の一端と接続され、そのドレインが上記帰還容量の他端にそれぞれ接続されたリセット動作用の電界効果トランジスタと、
検出、読み出された蓄積電荷を出力すべき単位画素として当該単位画素を選択するために、上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのドレインと当該単位画素外の回路との接続をオン/オフする単位画素選択用の電界効果トランジスタと、
から構成され、
上記電流源用の電界効果トランジスタが、上記複数の単位画素外に配置されるとともに、上記単位画素選択用の電界効果トランジスタによって選択された上記単位画素の増幅・読み出し用の電界効果トランジスタに電流を供給するためにカレントソース回路を形成すべく、そのゲートにはバイアス供給電圧が、また、そのソースには電源電圧が印加され、そのドレインには上記各単位画素の上記単位画素選択用の電界効果トランジスタのドレインが接続されるように構成され、
上記相関二重サンプリング回路が、上記複数の単位画素外に配置されるとともに、上記単位画素選択用の電界効果トランジスタによって選択された単位画素から出力された画素信号に混入した固定パターンノイズとリセットノイズとを除去するために、上記各単位画素の上記単位画素選択用の電界効果トランジスタのドレインに接続されるように構成されている、
ことを特徴とする。
【0066】
即ち、請求項1に記載の発明の固体撮像装置によれば、上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタ(例えば、図1の(A)の読み出しトランジスタ110)と上記電流源用の電界効果トランジスタ(例えば、図1の(A)の電流源トランジスタ109)とで反転アンプを構成することができる。この反転アンプと上記帰還容量(例えば、図1の(A)の帰還容量106)とで容量帰還回路(電荷電圧変換回路)を構成する。この構成により、入射した光量に応じた光電荷を上記帰還容量に積分蓄積して読み出すことで、上記電荷検出部(例えば、図1の(A)の電荷検出部103)の容量の電圧依存性による非線形性の影響を低減できる。即ち、電荷検出部容量の電圧依存性による影響を軽減して線形性を保ちながら信号の読み出しを達成できる。結果として、高線形性な情報を得ることが可能となる。また、光電荷を上記帰還容量で蓄積して読み出すため、上記帰還容量の容量値を縮小することにより、上記光電荷検出部の寄生容量の影響を軽減して、開口率低下を抑えながら、実効的な光電荷検出容量を縮小できる。結果として、光電荷検出の高感度化を実現できる。さらに、上記電荷電圧変換回路のゲインは、上記帰還容量の設定により電圧利得を1よりも大きくすることができるので、ソースフォロワ回路のゲイン<1による信号振幅低下を解決できる。結果として、信号振幅を損なわずに信号を読み出すことが可能となり、画素で電圧増幅することで画素の後段の処理回路でのノイズが緩和され、S/Nを改善できる。
【0067】
また、請求項1に記載の発明の固体撮像装置においては、まず、上記転送ゲート部への転送パルス(例えば、図1の(A)の転送パルス入力端子102に印加される)をオフして、上記電荷検出部の電位を、上記リセット動作用の電界効果トランジスタ(例えば、図1の(A)のリセットトランジスタ104)のゲートへのリセットパルス(例えば、図1の(A)のリセットパルス入力端子105に印加される)をオンすることにより、リセット電位へとリセットし、その電位(オフセットレベル)を読み出し、その後、上記転送ゲート部への転送パルスをオンして、上記光電変換部(例えば、図1の(A)の光電変換部101)で蓄積された光電荷を上記電荷検出部に完全電荷転送し、再び電位(信号レベル)を読み出し、これらオフセットレベルと信号レベルとの差分をとることにより、蓄積電荷に相当する信号成分を取得することが可能となる。以上の電荷の読み出し方法により、リセット動作時に上記リセット動作用の電界効果トランジスタを介して上記電荷検出部の電位へリセットノイズ成分が混入しても、相関を持ったオフセットレベルと信号レベルとを読み出すことが可能なため、画素外に設けた上記相関二重サンプリング回路(例えば、図1の(A)のCDS回路114)により、FPN成分と合わせて、リセットノイズ成分を除去することが可能である。結果として、リセットノイズを除去し、ノイズレベルを低減できるため、信号のS/Nが改善される。
【0068】
即ち、ソース接地型アンプと帰還容量とを用いた増幅型固体撮像素子の構成と完全電荷転送の構成とを同時に成すことで、双方の作用・効果を同時に生むことができるように構成したことに本発明の特徴がある。
【0069】
また、請求項2に記載の発明による固体撮像装置は、複数の単位画素と電流源用の電界効果トランジスタ及び相関二重サンプリング回路を有する固体撮像装置において、
上記単位画素が、
入射光を感知して光電荷を生成・蓄積するためのMOSダイオードよりなる光電変換部と、
上記光電変換部に蓄積された電荷を排出すべく電源電圧に接続された電荷排出部と、
上記光電変換部に隣接し、上記光電変換部下の蓄積電荷を上記電荷排出部へと完全転送し排出するための転送ゲート部と、
上記光電変換部にて生成された蓄積電荷を増幅・読み出すために、上記光電変換部とそのゲートを接続し、そのソースが接地された増幅・読み出し用の電界効果トランジスタと、
上記電荷検出部で検出された蓄積電荷を積分蓄積するために、上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのゲートにその一端子を接続し、その他端子を上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのドレインと接続するように配置した帰還容量と、
上記電荷検出部の電位をリセット電位へとリセットするために、そのソースが上記帰還容量の一端と接続され、そのドレインが上記帰還容量の他端にそれぞれ接続されたリセット動作用の電界効果トランジスタと、
検出、読み出された蓄積電荷を出力すべき単位画素として当該単位画素を選択するために、上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのドレインと当該単位画素外の回路との接続をオン/オフする単位画素選択用の電界効果トランジスタと、
から構成され、
上記電流源用の電界効果トランジスタが、上記複数の単位画素外に配置されるとともに、上記単位画素選択用の電界効果トランジスタによって選択された上記単位画素の増幅・読み出し用の電界効果トランジスタに電流を供給するためにカレントソース回路を形成すべく、そのゲートにはバイアス供給電圧が、また、そのソースには電源電圧が印加され、そのドレインには上記各単位画素の上記単位画素選択用の電界効果トランジスタのドレインが接続されるように構成され、
上記相関二重サンプリング回路が、上記複数の単位画素外に配置されるとともに、上記単位画素選択用の電界効果トランジスタによって選択された単位画素から出力された画素信号に混入した固定パターンノイズとリセットノイズとを除去するために、上記各単位画素の上記単位画素選択用の電界効果トランジスタのドレインに接続されるように構成されている、
ことを特徴とする。
【0070】
即ち、請求項2に記載の発明の固体撮像装置によれば、上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタ(例えば、図2の(A)の読み出しトランジスタ210)と上記電流源用の電界効果トランジスタ(例えば、図2の(A)の電流源トランジスタ209)とで反転アンプを構成することができる。この反転アンプと上記帰還容量(例えば、図2の(A)の帰還容量206)とで容量帰還回路(電荷電圧変換回路)を構成する。この構成により、入射した光量に応じた光電荷を上記帰還容量に積分蓄積して読み出すことで、上記光電変換部(例えば、図2の(A)の光電変換部203)の容量の電圧依存性による非線形性の影響を低減できる。即ち、光電変換部容量の電圧依存性による影響を軽減して線形性を保ちながら信号の読み出しを達成できる。結果として、高線形性な情報を得ることが可能となる。また、光電荷を上記帰還容量で蓄積して読み出すため、上記帰還容量の容量値を縮小することにより、上記光電変換部の寄生容量の影響を軽減して、開口率低下を抑えながら、実効的な光電荷変換容量を縮小できる。結果として、光電荷変換の高感度化を実現できる。さらに、上記電荷電圧変換回路のゲインは、上記帰還容量の設定により電圧利得を1よりも大きくすることができるので、ソースフォロワ回路のゲイン<1による信号振幅低下を解決できる。結果として、信号振幅を損なわずに信号を読み出すことが可能となり、画素で電圧増幅することで画素の後段の処理回路でのノイズが緩和され、S/Nを改善できる。
【0071】
また、請求項2に記載の発明の固体撮像装置においては、まず、上記転送ゲート部への転送パルス(例えば、図2の(A)の転送パルス入力端子202に印加される)をオフして上記光電変換部に光電荷が蓄積された状態で、上記リセット動作用の電界効果トランジスタ(例えば、図2の(A)のリセットトランジスタ204)のゲートへのリセットパルス(例えば、図2の(A)のリセットパルス入力端子205に印加される)をオンして上記光電変換部の電位(オフセットレベル)を読み出す。その後、上記リセット動作用の電界効果トランジスタのゲートへのリセットパルスをオフして上記転送ゲート部への転送パルスをオンすることにより、上記光電変換部で蓄積された光電荷を上記転送ゲート部を介して電荷排出部(例えば、図2の(A)の電源電圧入力端子201へ接続された電荷排出部)に完全電荷転送し、再び電位(信号レベル)を読み出し、これらオフセットレベルと信号レベルとの差分をとることにより、光電変換により生成された蓄積電荷のみに相当する信号成分を取得することが可能となる。以上の電荷の読み出し方法により、リセット動作時に上記リセット動作用の電界効果トランジスタを介して上記光電変換部の電位へリセットノイズ成分が混入しても、相関を持ったオフセットレベルと信号レベルとを読み出すことが可能なため、画素外に設けた上記相関二重サンプリング回路(例えば、図2の(A)のCDS回路214)により、FPN成分と合わせて、リセットノイズ成分を除去することが可能である。結果として、リセットノイズを除去し、ノイズレベルを低減できるため、信号のS/Nが改善される。
【0072】
以上の構成と駆動方法により、請求項1に記載の発明の固体撮像装置と同等な作用・効果を生み出すことができる。
【0073】
また、請求項3に記載の発明による距離情報入力装置は、一次元または二次元のアレイ状に配置された単位受光素子と電流源用の電界効果トランジスタ及び相関二重サンプリング回路を有する感度変調を利用した距離情報入力装置において、
上記単位受光素子が、
対象物からの反射光を電荷に変換する光電変換部と、
上記光電変換部で変換、生成された電荷を蓄積記憶する二つの電荷検出部と、
上記光電変換部と上記電荷検出部との間に設けられ、上記光電変換部で変換、生成される電荷を、光の輝度変調と同期して二つの上記電荷検出部に振り分ける二つの電荷振り分けゲートと、
上記電荷検出部に蓄積された電荷を排出すべく電源電圧に接続された二つの電荷排出部と、
上記電荷検出部と上記電荷排出部との間に設けられるとともに、二つの信号振り分けゲートで構成され、上記電荷検出部に蓄積された電荷を上記電荷検出部から上記電荷排出部に完全転送する二つの電荷転送部と、
上記電荷検出部へ転送された蓄積電荷を増幅・読み出すために、上記電荷検出部とゲートを接続し、ソースが接地された二つの増幅・読み出し用の電界効果トランジスタと、
上記電荷検出部で検出された光電荷を積分蓄積して読み出すために、上記増幅・読み出し用の二つの電界効果トランジスタのゲートに一端子を接続し、他端子をドレインと接続するように配置した二つの帰還容量と、
上記電荷検出部の電位をリセット電位へとリセットするために、ソースが上記帰還容量の一端と、ドレインが上記帰還容量の他端にそれぞれ接続された二つのリセット動作用の電界効果トランジスタと、
増幅・読み出された蓄積電荷を出力すべき単位画素として当該単位画素を選択するために、上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのドレインと上記単位画素外の回路との接続をオン/オフする二つの単位画素選択用の電界効果トランジスタと、
から構成され、
上記電流源用の電界効果トランジスタ二つがそれぞれ、上記複数の単位画素外に配置されるとともに、上記単位画素選択用の電界効果トランジスタによって選択された上記単位画素の上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタに電流を供給するためにカレントソース回路を形成すべく、そのゲートにはバイアス供給電圧が、また、そのソースには電源電圧が印加され、そのドレインには上記各単位画素の上記単位画素選択用の電界効果トランジスタのドレインが接続されるように構成され、
上記相関二重サンプリング回路が、上記複数の単位画素外に配置されるとともに、上記単位画素選択用の電界効果トランジスタによって選択された上記単位画素から出力された画素信号に混入した固定パターンノイズとリセットノイズを除去するために、二つそれぞれ、上記各単位画素の上記単位画素選択用の電界効果トランジスタのドレインに接続されるように構成されている、
ことを特徴とする。
【0074】
即ち、請求項3に記載の発明の距離情報入力装置によれば、請求項2に記載の発明に関わる構成を、電荷振り分け画素のそれぞれの電荷振り分け蓄積部に設けることにより、電荷検出部(例えば、図3の(A)の電荷検出部310、319)であるフローティングディフュージョン容量の電圧依存性による検出信号の非線形性を改善できる。結果として、測距データの線形性を向上できる。
【0075】
さらに、光電荷を読み出す帰還容量(例えば、図3の(A)の帰還容量306、316)を縮小することにより、フローティングディフュージョンの寄生容量の影響を軽減して、開口率低下を抑えながら実効的な蓄積容量を縮小できる。結果として、高感度化が比較的容易に実現可能となる。
【0076】
また、電荷電圧変換回路のゲインを高ゲインに設計することにより、ソースフォロワ回路のゲイン<1による信号振幅低下の問題を解決し、信号振幅を損なわずに信号を読み出すことが可能となる。
【0077】
さらに、画素内で電圧増幅することで、後処理回路でのノイズが緩和され、信号のS/Nを改善できる。
【0078】
以上、請求項3に記載の発明によれば、高感度・低ノイズで、高線形性・高精細化が容易な距離情報入力装置を実現することが可能になる。
【0079】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【0080】
[第1の実施の形態]
図1の(A)は、本発明の第1の実施の形態に係る固体撮像装置の構成を示す回路図である。なお、本実施の形態に係る固体撮像装置は、複数の単位画素を二次元に配置したものであるが、図1の(A)では、図面の簡略化のため、代表して一つの単位画素100のみを示している。
【0081】
この単位画素100は、光電荷を生成するための光電変換部101と、該光電変換部101で生成された光電荷を転送ゲートを介して電荷検出部103へと完全転送するための転送パルスが印加される転送パルス入力端子102と、上記電荷検出部103へ送られた電荷を増幅して読み出すための読み出しトランジスタ110と、上記電荷検出部103に送られた電荷を積分蓄積するための帰還容量106と、上記電荷検出部103をリセットレベルへとリセットするためにゲートにリセットパルス入力端子105が接続されたリセットトランジスタ104と、選択された画素の光電変換信号を信号出力線113へと伝えるために、そのゲートに画素選択パルス入力端子111が接続された選択トランジスタ112と、から構成される。
【0082】
そして、このような単位画素100外に、各画素の読み出しトランジスタ110に電流を供給するために、そのゲートがバイアス供給端子108に、そのソースが電源端子107に接続された電流源トランジスタ109と、選択された各画素から上記信号出力線113により供給される光電変換信号(画素信号)に混入した固定パターンノイズを除去するCDS回路114とを、画素の列(行)毎に共有して形成している。
【0083】
このような構成の固体撮像装置における各単位画素100の駆動方法に関して図1の(B)に示したタイミングチャートを用いて説明する。
【0084】
まず、蓄積期間▲1▼において、上記光電変換部101に入射した光に応じた光電荷を蓄積する。このとき、上記画素選択パルス入力端子111、リセットパルス入力端子105、転送パルス入力端子102に印加される駆動パルスはそれぞれオフしている。
【0085】
次のリセット期間▲2▼では、上記光電変換部101に蓄積電荷を貯めたままで、上記画素選択パルス入力端子111への画素選択パルスをオンするとともに、上記リセットパルス入力端子105へのリセットパルスをオンして上記帰還容量106の両端を短絡し、上記電流源トランジスタ109のバイアス供給端子108に印加される電圧で決まるリセット電圧へ上記電荷検出部103をリセットする。これにより、上記光電変換部101、上記転送パルス入力端子102に接続された転送ゲート、及び上記電荷検出部103のポテンシャルレベルは、図1の(C)に示すような関係となる。
【0086】
そして、オフセット読み出し期間▲3▼で、上記画素選択パルス入力端子111への画素選択パルスはオンしたまま、上記リセットパルス入力端子105へのリセットパルスをオフして、オフセットレベルを読み出し、当該単位画素100外に設けた上記CDS回路114に送る。
【0087】
その後、転送期間▲4▼で、上記転送パルス入力端子102への転送パルスをオンして、図1の(D)に示すように、上記光電変換部101に蓄積された光電荷を、上記転送パルス入力端子102に接続された転送ゲートを介して上記電荷検出部103へと完全電荷転送で転送する。
【0088】
そして、信号レベル読み出し期間▲5▼で、上記電荷検出部103のポテンシャルレベルである信号レベルが、上記帰還容量106を介して読み出され、当該単位画素100外の上記CDS回路114に送られる。
【0089】
而して、上記▲2▼〜▲3▼〜▲4▼〜▲5▼の期間に相当するブランキング期間で、上記CDS回路114のCDS動作により、相関の取れているオフセット期間▲3▼で読み出したオフセットレベルと信号レベル読み出し期間▲5▼で読み出した信号レベルとの差分を取り、リセットノイズを除去するとともにFPN成分も除去した出力信号を得ることができる。
【0090】
さらに、容量帰還回路(電荷電圧変換回路)の帰還容量106を用いて電荷を読み出すことにより、線形性を向上させ、読み出しトランジスタ110をソース接地にすることにより、画素での電圧増幅を達成することができる。また、設計により帰還容量106の容量値を縮小し、感度を向上することが比較的容易に達成可能であり、画素内電圧増幅により後段の処理回路から混入するノイズの影響を緩和することができる。
【0091】
即ち、本第1の実施の形態によれば、高感度・低ノイズで高線形性な固体撮像装置を実現することが可能になる。
【0092】
[第2の実施の形態]
次に、本発明の第2の実施の形態に係る固体撮像装置を説明する。
【0093】
図2の(A)は、本発明の第2の実施の形態に係る固体撮像装置の構成を示す回路図である。なお、本実施の形態に係る固体撮像装置は、複数の単位画素を二次元に配置したものであるが、図2の(A)では、図面の簡略化のため、代表して一つの単位画素200のみを示している。
【0094】
この単位画素200は、入射光に応じた光電荷を生成するための光電変換部203と、該光電変換部203に蓄積した光電荷を、電源電圧入力端子201へ接続された電荷排出部へと転送ゲートを介して完全転送して排出するための、上記転送ゲートに接続された転送パルス入力端子202と、上記光電変換部203で蓄積された光電荷に相当する光信号を増幅して読み出すために、そのソースを接地して配置された読み出しトランジスタ210と、上記光電変換部203で蓄積された光電荷に相当する電荷を積分して蓄積する帰還容量206と、そのゲートに接続されたリセットパルス入力端子205に印加されるリセットパルスをオンすることにより、上記光電変換部203をリセット電位へとリセットするためのリセットトランジスタ204と、選択された画素の光電変換信号を信号出力線213へと伝えるために、そのゲートに画素選択パルス入力端子211が接続された選択トランジスタ212と、から構成される。
【0095】
そして、このような単位画素200外に、各画素内の読み出しトランジスタ210へ電流を供給するために、そのゲートがバイアス供給端子208に、そのソースが上記電源電圧入力端子201に接続され、カレントソース回路を形成する電流源トランジスタ209と、選択された各画素から上記信号出力線213により供給される光電変換信号(画素信号)に混入した固定パターンノイズを除去するCDS回路214とを、画素の列(行)毎に共有して形成している。
【0096】
このような構成の固体撮像装置における各単位画素200の駆動方法に関して図2の(B)に示したタイミングチャートを用いて説明する。
【0097】
まず、蓄積期間▲1▼において、上記光電変換部203に入射した光に応じた光電荷を蓄積する。このとき、上記画素選択パルス入力端子211、リセットパルス入力端子205、転送パルス入力端子202に印加される駆動パルスはそれぞれオフしている。
【0098】
次のリセット期間▲2▼では、上記光電変換部203に蓄積電荷を貯めたままで、上記画素選択パルス入力端子211への画素選択パルスをオンするとともに、上記リセットパルス入力端子205へのリセットパルスをオンして上記帰還容量206の両端を短絡し、上記電流源トランジスタ209のバイアス供給端子208に印加される電圧で決まるリセット電圧へ、上記光電変換部203をリセットする。これにより、上記光電変換部203、上記転送パルス入力端子202に接続された転送ゲート、及び上記電源電圧入力端子201へ接続された電荷排出部のポテンシャルレベルは、図2の(C)に示すような関係となる。
【0099】
そして、オフセット読み出し期間▲3▼で、上記画素選択パルス入力端子211への画素選択パルスはオンしたまま、上記リセットパルス入力端子205へのリセットパルスをオフして、オフセットレベルを読み出し、当該単位画素200外に設けた上記CDS回路214に送る。
【0100】
その後、転送期間▲4▼で、上記転送パルス入力端子202への転送パルスをオンして、図2の(D)に示すように、上記光電変換部203に蓄積された光電荷を、上記転送パルス入力端子202に接続された転送ゲートを介して、上記電源電圧入力端子201へ接続された電荷排出部へと完全電荷転送で排出する。
【0101】
そして、信号レベル読み出し期間▲5▼で、上記光電変換部203のポテンシャルレベルである信号レベルが、上記帰還容量206を介して読み出されて、当該単位画素200外の上記CDS回路214に送られ、上記CDS回路214でCDS動作が実行されることになる。
【0102】
以上の構成と駆動方法により、本第2の実施の形態に係る固体撮像装置も、上記第1の実施の形態に係る固体撮像装置と同等な作用・効果を得ることができる。
【0103】
さらに、上記第1の実施の形態に係る固体撮像装置に比べて、本第2の実施の形態に係る固体撮像装置の画素構成は、トランジスタ数が三つ、転送ゲートが一つ、帰還容量が一つ、光電変換部が一つというさらなる画素構成要素削減を達成しており、より高精細化が可能な構成となっている。
【0104】
即ち、本第2の実施の形態によれば、高感度・低ノイズで高線形性・高精細な固体撮像装置を実現することが可能になる。
【0105】
[第3の実施の形態]
次に、本発明の第3の実施の形態に係る距離情報入力装置を説明する。
【0106】
本第3の実施の形態は、図6の(A)乃至図10を用いて説明した従来の感度変調素子の画素構造の二つある電荷振り分け蓄積部のそれぞれに、上記第2の実施の形態で示した容量帰還読み出し回路を設けた構成になっており、駆動方法においても、リセット動作と感度変調動作に関しては従来と同様の方法を用いて行い、読み出し動作において上記第2の実施例で説明した容量帰還をかけながら完全電荷転送により電荷を排出して読み出しし、CDS回路にてリセットノイズ成分を除去する方式になっている。
【0107】
図3の(A)は、本発明の第3の実施の形態に係る距離情報入力装置における感度変調素子の構成を示す回路図である。なお、感度変調素子は、二次元に配置した複数の単位画素を有するものであるが、図3の(A)では、図面の簡略化のため、代表して一つの単位画素300のみを示している。
【0108】
即ち、感度変調素子の単位画素300は、入射光を光電変換部312にのみ入射させるために遮光層を備えており、入射光に応じた光電荷を生成するための光電変換部312と、該光電変換部312で生成した光電荷を振り分けるための電荷振り分けゲート311及び313と、振り分けられた光電荷を検出するための電荷検出部310及び319と、上記電荷検出部310、319で検出された光電荷を電源端子303に接続された電荷排出部へ完全転送して排出する転送ゲート309及び323と、上記電荷検出部310と319とに振り分けられた電荷を増幅して読み出すために、それぞれのソース端子308及び318を接地するように配置された読み出しトランジスタ307及び317と、上記電荷検出部310、319に振り分けられた電荷を積分蓄積するための帰還容量306及び316と、上記電荷検出部310、319をリセット電位へとリセットするために、それぞれのゲートにリセットパルス入力端子314が接続されたリセットトランジスタ305及び315と、選択された画素の光電変換信号を信号出力線301及び325へと伝えるために、それぞれのゲートに画素選択パルス入力端子321が接続された選択トランジスタ304及び322と、から構成される。
【0109】
そして、このような単位画素300外に、上記読み出しトランジスタ307及び317に電流を供給するために、それぞれのゲートがバイアス供給端子320に、それぞれのソースが電源端子303に接続された電流源トランジスタ302及び324と、画素信号に混入した固定パターンノイズを除去するCDS回路326及び327とを、画素の列(行)毎に共有して形成している。
【0110】
なお、図3の(A)では、上記光電変換部312への電源端子や上記ゲート311、313、309、323への駆動パルス入力端子は、図示を省略してある。
【0111】
図3の(B)は、上記構成の感度変調素子における光電変換部312と各ゲート311、313、309、323、電荷検出部310、319、及び電源端子303に接続された電荷排出部に対応するポテンシャルダイアグラムを示す図である。
【0112】
まず、同図の上側に示すように、それぞれの電荷振り分けゲート311、313に電荷を振り分けた状態でオフセットレベルを読み出し、その後、同図の下側に示すように、転送ゲート309、323をオンして電荷を排出し、信号レベルを読み出す。即ち、蓄積した電荷による信号変化分が上記帰還容量306、316を介して読み出される。この感度変調素子の基本動作、画素の駆動方法、完全電荷転送の駆動方法に関しては、既に説明済みのため割愛する。
【0113】
以上の構成により、本第3の実施の形態によれば、電荷検出部であるフローティングディフュージョン容量の電圧依存性による検出信号の非線形性を改善できる。結果として、測距データの線形性を向上できる。
【0114】
さらに、光電荷を読み出す帰還容量を縮小することにより、フローティングディフュージョンの寄生容量の影響を軽減して、開口率低下を抑えながら実効的な蓄積容量を縮小できる。結果として、高感度化が比較的容易に実現可能となる。
【0115】
また、電荷電圧変換回路のゲインを高ゲインに設計することによりソースフォロワ回路のゲイン<1による信号振幅低下の問題を解決し、信号振幅を損なわずに信号を読み出すことが可能となる。
【0116】
さらに、画素内で電圧増幅することで、後処理回路でのノイズが緩和され、信号のS/Nを改善できる。
【0117】
また、以上の説明にあるように、図6の(A)に示したような従来の感度変調素子における単位画素と比べても、上記単位画素300のトランジスタ数は同じで、帰還容量306、316を付加するのみで、以上の作用・効果を生み出すことができる。結果として、開口率を損なうことなく、画素縮小が可能な画素構造を実現でき、少ないチップ面積で高精細化が可能となる。
【0118】
従って、本第3の実施の形態によれば、高感度・低ノイズで、高線形性・高精細化が容易な距離情報入力装置を実現することが可能になる。
【0119】
以上実施の形態に基づいて本発明を説明したが、本発明は上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形や応用が可能なことは勿論である。
【0120】
例えば、上記単位画素100、200、300は二次元に配列されるものとして説明したが、一次元配列であっても構わない。
【0121】
【発明の効果】
以上詳述したように、本発明によれば、高感度・低ノイズで高線形性・高精細を可能とする固体撮像装置及び距離情報入力装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)は本発明の第1の実施の形態に係る固体撮像装置の構成を示す回路図、(B)はその駆動方法を説明するためのタイミングチャートを示す図、(C)はリセット期間における光電変換部、転送ゲート、及び電荷検出部のポテンシャルレベルを示す図であり、(D)は転送期間における光電変換部、転送ゲート、及び電荷検出部のポテンシャルレベルを示す図である。
【図2】(A)は本発明の第2の実施の形態に係る固体撮像装置の構成を示す回路図、(B)はその駆動方法を説明するためのタイミングチャートを示す図、(C)はリセット期間における光電変換部、転送ゲート、及び電荷排出部のポテンシャルレベルを示す図であり、(D)は転送期間における光電変換部、転送ゲート、及び電荷排出部のポテンシャルレベルを示す図である。
【図3】(A)は本発明の第3の実施の形態に係る距離情報入力装置における感度変調素子の構成を示す回路図であり、(B)はその光電変換部、各ゲート、電荷検出部、及び電荷排出部のポテンシャルレベルの変遷を説明するための図である。
【図4】(A)は従来の増幅型固体撮像素子の単位画素構造を示す回路図であり、(B)はその駆動タイミングチャートを示す図である。
【図5】(A)はソース接地型アンプと帰還容量を用いた従来の増幅型固体撮像素子の単位画素構造を示す回路図であり、(B)はその駆動タイミングチャートを示す図である。
【図6】(A)は従来の感度変調素子の受光部における一画素分の断面構造を示す図であり、(B)はそのポテンシャルダイアグラムを示す図である。
【図7】従来の感度変調素子における送光時の輝度変調光と受光時の対象物からの反射光の光強度、電荷振り分けパルス入力端子に印加される電荷振り分けパルス、光電変換部で生成される信号電荷量及び電荷蓄積部の電荷蓄積量の時間変化を表す図である。
【図8】従来の感度変調素子における画素のリセット動作を説明するためのタイミングチャートを示す図である。
【図9】従来の感度変調素子における感度変調動作(電荷振り分けとオーバーフロー)を説明するためのタイミングチャートを示す図である。
【図10】従来の感度変調素子における読み出し動作を説明するためのタイミングチャートを示す図である。
【符号の説明】
100、200、300   単位画素
101、203、312   光電変換部
102、202   転送パルス入力端子
103、310、319   電荷検出部
104、204、305、315   リセットトランジスタ
105、205、314   リセットパルス入力端子
106、206、306、316   帰還容量
107、303   電源端子
108、208、320   バイアス供給端子
109、209、302、324   電流源トランジスタ
110、210、307、317   読み出しトランジスタ
111、211、321   画素選択パルス入力端子
112、212、304、322   選択トランジスタ
113、213、301、325   信号出力線
114、214、326、327   CDS(相関二重サンプリング)回路
201   電源電圧入力端子
308、318   ソース端子
309、323   転送ゲート
311、313   電荷振り分けゲート

Claims (3)

  1. 複数の単位画素と電流源用の電界効果トランジスタ及び相関二重サンプリング回路を有する固体撮像装置において、
    上記単位画素が、
    入射光を感知して光電荷を生成するためのMOSダイオードよりなる光電変換部と、
    上記光電変換部に隣接し、上記光電変換部下の蓄積電荷を完全転送するための転送ゲート部と、
    上記転送ゲート部より完全転送された蓄積電荷を検出するための電荷検出部と、
    上記電荷検出部へ転送された蓄積電荷を増幅・読み出すために、上記電荷検出部とそのゲートを接続し、そのソースが接地された増幅・読み出し用の電界効果トランジスタと、
    上記電荷検出部で検出された蓄積電荷を積分蓄積するために、上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのゲートにその一端子を接続し、その他端子を上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのドレインと接続するように配置した帰還容量と、
    上記電荷検出部の電位をリセット電位へとリセットするために、そのソースが上記帰還容量の一端と接続され、そのドレインが上記帰還容量の他端にそれぞれ接続されたリセット動作用の電界効果トランジスタと、
    検出、読み出された蓄積電荷を出力すべき単位画素として当該単位画素を選択するために、上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのドレインと当該単位画素外の回路との接続をオン/オフする単位画素選択用の電界効果トランジスタと、
    から構成され、
    上記電流源用の電界効果トランジスタが、上記複数の単位画素外に配置されるとともに、上記単位画素選択用の電界効果トランジスタによって選択された上記単位画素の増幅・読み出し用の電界効果トランジスタに電流を供給するためにカレントソース回路を形成すべく、そのゲートにはバイアス供給電圧が、また、そのソースには電源電圧が印加され、そのドレインには上記各単位画素の上記単位画素選択用の電界効果トランジスタのドレインが接続されるように構成され、
    上記相関二重サンプリング回路が、上記複数の単位画素外に配置されるとともに、上記単位画素選択用の電界効果トランジスタによって選択された単位画素から出力された画素信号に混入した固定パターンノイズとリセットノイズとを除去するために、上記各単位画素の上記単位画素選択用の電界効果トランジスタのドレインに接続されるように構成されている、
    ことを特徴とする固体撮像装置。
  2. 複数の単位画素と電流源用の電界効果トランジスタ及び相関二重サンプリング回路を有する固体撮像装置において、
    上記単位画素が、
    入射光を感知して光電荷を生成・蓄積するためのMOSダイオードよりなる光電変換部と、
    上記光電変換部に蓄積された電荷を排出すべく電源電圧に接続された電荷排出部と、
    上記光電変換部に隣接し、上記光電変換部下の蓄積電荷を上記電荷排出部へと完全転送し排出するための転送ゲート部と、
    上記光電変換部にて生成された蓄積電荷を増幅・読み出すために、上記光電変換部とそのゲートを接続し、そのソースが接地された増幅・読み出し用の電界効果トランジスタと、
    上記電荷検出部で検出された蓄積電荷を積分蓄積するために、上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのゲートにその一端子を接続し、その他端子を上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのドレインと接続するように配置した帰還容量と、
    上記電荷検出部の電位をリセット電位へとリセットするために、そのソースが上記帰還容量の一端と接続され、そのドレインが上記帰還容量の他端にそれぞれ接続されたリセット動作用の電界効果トランジスタと、
    検出、読み出された蓄積電荷を出力すべき単位画素として当該単位画素を選択するために、上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのドレインと当該単位画素外の回路との接続をオン/オフする単位画素選択用の電界効果トランジスタと、
    から構成され、
    上記電流源用の電界効果トランジスタが、上記複数の単位画素外に配置されるとともに、上記単位画素選択用の電界効果トランジスタによって選択された上記単位画素の増幅・読み出し用の電界効果トランジスタに電流を供給するためにカレントソース回路を形成すべく、そのゲートにはバイアス供給電圧が、また、そのソースには電源電圧が印加され、そのドレインには上記各単位画素の上記単位画素選択用の電界効果トランジスタのドレインが接続されるように構成され、
    上記相関二重サンプリング回路が、上記複数の単位画素外に配置されるとともに、上記単位画素選択用の電界効果トランジスタによって選択された単位画素から出力された画素信号に混入した固定パターンノイズとリセットノイズとを除去するために、上記各単位画素の上記単位画素選択用の電界効果トランジスタのドレインに接続されるように構成されている、
    ことを特徴とする固体撮像装置。
  3. 一次元または二次元のアレイ状に配置された単位受光素子と電流源用の電界効果トランジスタ及び相関二重サンプリング回路を有する感度変調を利用した距離情報入力装置において、
    上記単位受光素子が、
    対象物からの反射光を電荷に変換する光電変換部と、
    上記光電変換部で変換、生成された電荷を蓄積記憶する二つの電荷検出部と、
    上記光電変換部と上記電荷検出部との間に設けられ、上記光電変換部で変換、生成される電荷を、光の輝度変調と同期して二つの上記電荷検出部に振り分ける二つの電荷振り分けゲートと、
    上記電荷検出部に蓄積された電荷を排出すべく電源電圧に接続された二つの電荷排出部と、
    上記電荷検出部と上記電荷排出部との間に設けられるとともに、二つの信号振り分けゲートで構成され、上記電荷検出部に蓄積された電荷を上記電荷検出部から上記電荷排出部に完全転送する二つの電荷転送部と、
    上記電荷検出部へ転送された蓄積電荷を増幅・読み出すために、上記電荷検出部とゲートを接続し、ソースが接地された二つの増幅・読み出し用の電界効果トランジスタと、
    上記電荷検出部で検出された光電荷を積分蓄積して読み出すために、上記増幅・読み出し用の二つの電界効果トランジスタのゲートに一端子を接続し、他端子をドレインと接続するように配置した二つの帰還容量と、
    上記電荷検出部の電位をリセット電位へとリセットするために、ソースが上記帰還容量の一端と、ドレインが上記帰還容量の他端にそれぞれ接続された二つのリセット動作用の電界効果トランジスタと、
    増幅・読み出された蓄積電荷を出力すべき単位画素として当該単位画素を選択するために、上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタのドレインと上記単位画素外の回路との接続をオン/オフする二つの単位画素選択用の電界効果トランジスタと、
    から構成され、
    上記電流源用の電界効果トランジスタ二つがそれぞれ、上記複数の単位画素外に配置されるとともに、上記単位画素選択用の電界効果トランジスタによって選択された上記単位画素の上記増幅・読み出し用の電界効果トランジスタに電流を供給するためにカレントソース回路を形成すべく、そのゲートにはバイアス供給電圧が、また、そのソースには電源電圧が印加され、そのドレインには上記各単位画素の上記単位画素選択用の電界効果トランジスタのドレインが接続されるように構成され、
    上記相関二重サンプリング回路が、上記複数の単位画素外に配置されるとともに、上記単位画素選択用の電界効果トランジスタによって選択された上記単位画素から出力された画素信号に混入した固定パターンノイズとリセットノイズを除去するために、二つそれぞれ、上記各単位画素の上記単位画素選択用の電界効果トランジスタのドレインに接続されるように構成されている、
    ことを特徴とする距離情報入力装置。
JP2002266862A 2002-09-12 2002-09-12 固体撮像装置及び距離情報入力装置 Withdrawn JP2004104676A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002266862A JP2004104676A (ja) 2002-09-12 2002-09-12 固体撮像装置及び距離情報入力装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002266862A JP2004104676A (ja) 2002-09-12 2002-09-12 固体撮像装置及び距離情報入力装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004104676A true JP2004104676A (ja) 2004-04-02

Family

ID=32265558

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002266862A Withdrawn JP2004104676A (ja) 2002-09-12 2002-09-12 固体撮像装置及び距離情報入力装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004104676A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1583351A1 (en) * 2004-03-26 2005-10-05 Sharp Kabushiki Kaisha Amplifyng solid-state imaging device
US7317214B2 (en) * 2003-12-02 2008-01-08 Sharp Kabushiki Kaisha Amplifying solid-state image pickup device
WO2010013811A1 (ja) * 2008-07-31 2010-02-04 国立大学法人静岡大学 高速電荷転送フォトダイオード、ロックインピクセル及び固体撮像装置
JP2013135384A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Honda Motor Co Ltd 画素駆動装置及び画素駆動方法
CN110865383A (zh) * 2019-11-26 2020-03-06 宁波飞芯电子科技有限公司 一种信号提取电路、信号提取方法以及测距方法和装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7317214B2 (en) * 2003-12-02 2008-01-08 Sharp Kabushiki Kaisha Amplifying solid-state image pickup device
EP1583351A1 (en) * 2004-03-26 2005-10-05 Sharp Kabushiki Kaisha Amplifyng solid-state imaging device
JP2005278041A (ja) * 2004-03-26 2005-10-06 Sharp Corp 増幅型固体撮像装置
US7667754B2 (en) 2004-03-26 2010-02-23 Sharp Kabushiki Kaisha Amplifying solid-state imaging device
WO2010013811A1 (ja) * 2008-07-31 2010-02-04 国立大学法人静岡大学 高速電荷転送フォトダイオード、ロックインピクセル及び固体撮像装置
US8587709B2 (en) 2008-07-31 2013-11-19 National University Corporation Shizuoka University High-speed charge-transfer photodiode, a lock-in pixel, and a solid-state imaging device
JP2013135384A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Honda Motor Co Ltd 画素駆動装置及び画素駆動方法
CN110865383A (zh) * 2019-11-26 2020-03-06 宁波飞芯电子科技有限公司 一种信号提取电路、信号提取方法以及测距方法和装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7952635B2 (en) Low noise readout apparatus and method with snapshot shutter and correlated double sampling
JP5934930B2 (ja) 固体撮像装置およびその駆動方法
KR100954487B1 (ko) Cmos 이미저에서의 효과적인 전하 전송
US7282685B2 (en) Multi-point correlated sampling for image sensors
KR101467509B1 (ko) 이미지 센서 및 이미지 센서 동작 방법
US6624850B1 (en) Photogate active pixel sensor with high fill factor and correlated double sampling
US11778343B2 (en) Methods and circuitry for improving global shutter efficiency in backside illuminated high dynamic range image sensor pixels
KR100814211B1 (ko) 반도체 기반형 x-y 어드레싱 가능 이미저 및 반도체 기반형 x-y 어드레싱 가능 mos 이미저
US10250828B1 (en) Global shutter image sensor with anti-blooming pixel and knee point self-calibration
US20060244843A1 (en) Illumination flicker detection
US8928792B1 (en) CMOS image sensor with global shutter, rolling shutter, and a variable conversion gain, having pixels employing several BCMD transistors coupled to a single photodiode and dual gate BCMD transistors for charge storage and sensing
Meynants et al. CMOS active pixel image sensor with CCD performance
US9794497B2 (en) Solid-state imaging device controlling read-out of signals from pixels in first and second areas
US20080024630A1 (en) Photoelectric conversion device and image capturing device
KR100725764B1 (ko) 고체촬상장치
KR20110012031A (ko) 싱글 게이트 픽셀 및 싱글 게이트 픽셀 동작 방법
KR20120112778A (ko) 고체 촬상 장치, 화소 신호를 독출하는 방법, 화소
EP1172857A2 (en) Charge transfer apparatus
JP2002329854A (ja) 固体撮像装置
JP2011188410A (ja) 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法、及び、電子機器
US9412782B2 (en) Imaging array with improved dynamic range utilizing parasitic photodiodes within floating diffusion nodes of pixels
JP2005269471A (ja) 固体撮像装置および固体撮像装置の駆動方法
EP3420592B1 (en) Improved ultra-high dynamic range pixel architecture
JP4761491B2 (ja) 固体撮像装置及びそれを用いた撮像システム
JP6354221B2 (ja) 撮像装置及び電子機器

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20060110