JP2004087574A - 位置合わせ装置および撮像手段の位置合わせ方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】多層基板を作成するために下側基板41を保持する下部テーブル21と、下部テーブル21に対向配置され、下側基板41と貼り合わされる上側基板42を保持する基板搬送テーブル23と、下部テーブル21および基板搬送テーブル23にほぼ垂直な方向から、下部テーブル21と基板搬送テーブル23を撮像するカメラ27とを備える位置合わせ装置において、下部テーブル21は、下部テーブル21に対応する基準座標系に対して、カメラ座標系の校正量をカメラ27によって検出するためのレチクルマーク32a〜32dを備え、基板搬送テーブル23は、カメラ座標系に対して、精位置合わせ駆動機構22の座標系の校正量をカメラ27によって検出するためのレチクルマーク31a〜31dを備える。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、導体箔と樹脂層、および導体箔と樹脂層と接着層とを有する基板を積層する位置合わせ装置および撮像手段の位置合わせ方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
基板に多層の回路パターンを形成する場合には、各回路パターン間の正確な位置合わせが必要となる。このようなレチクルに関する従来技術が、特開平6−324475号公報に開示されている。図12は、この従来技術におけるレチクルの平面図を示している。このレチクルは、透明基板101の位置表面にレチクルアライメントマーク102、遮光領域103、回路パターン部104、ウェハアライメントマーク105および露光領域のコーナ部に位置合わせ検出マーク106を備えている。このレチクルを用いて、レチクルアライメントマーク102を用いて縮小投影露光機に対してレチクルの位置合わせを行った後に、1枚のウェハ基板上に回路パターン部104、ウェハアライメントマーク105および位置合わせ検出マーク106が転写される。そして、このレチクルによって転写された位置合わせ検出マーク106との間でずれを生じないように、他の層の回路パターン部を有する第2のレチクルの位置合わせを行った後に、同じウェハ基板上に回路パターン部104、ウェハアライメントマーク105および位置合わせ検出マーク106が転写される。
【0003】
この従来技術では、位置合わせ検出マーク106が、露光領域103のコーナ部に配置されることによって、ほぼレチクルの中心からの距離に比例してレチクルアライメント時の回転ずれを大きく検出することができ、ずれ検出の高感度化および高精度化を図っている。
【0004】
ところで、上述した従来のレチクルは、1枚のウェハに複数の回路パターンを転写する場合の位置合わせのためのマークであって、ウェハを転写するためのマーク、すなわち、複数のシート基板を貼り合わせる際に使用される位置合わせのためのマークではない。
【0005】
一般に、対向して配置された複数のシート基板の位置合わせは、位置合わせ用の複数のカメラなどの撮像手段を有する位置合わせ装置によってなされるものである。この位置合わせ装置は、撮像手段で撮像した各シート基板の画像からシート基板上に設けられた基板位置決め用マークの位置を求め、対向して配置されたシート基板間の並進ずれと回転位置ずれを算出して位置合わせを行った後に、シート基板同士を貼り合わせる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
このような従来の位置合わせ装置においては、位置合わせ装置に備えられている複数の撮像手段の基準位置がずれた状態では、複数のシート基板の位置を高精度に合わせることは難しい。そのため、位置合わせ装置に備えられている複数の撮像手段の基準位置を正確に合わせる必要がある。しかしながら、従来の位置合わせ装置では、撮像手段の基準位置の校正は精緻な調整を必要とするものであったので、頻繁に行われるものではなく、位置合わせ装置の設置時や定期調整時などに行われていた。すなわち、一度校正されてからつぎに校正されるまでに長い期間を有し、その間に撮像手段の基準位置のずれを招来していた。したがって、そのような撮像手段の基準位置のずれている位置合わせ装置で、複数のシート基板の位置合わせを行っていては、精度の高い位置合わせを行うことはできず、その結果、高精度に貼り合わされた多層基板を得られないという問題点があった。
【0007】
この発明は上記に鑑みてなされたもので、位置合わせのための撮像手段の基準位置を、位置合わせ装置の使用者が所望する時に簡易に設定することができる位置合わせ装置および撮像手段の位置合わせ方法を得ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、この発明にかかる撮像手段の位置合わせ方法は、第1基準マークを有する第1テーブルと、第2基準マークを有し、前記第1テーブルに対向配置された第2テーブルと、前記第1テーブルを、前記第1テーブルおよび前記第2テーブルの対向方向に対してほぼ直交する方向に移動する第1テーブル移動手段と、対向配置された前記第1テーブルと前記第2テーブルにほぼ垂直な方向から、前記第1テーブルと前記第2テーブルを撮像可能な撮像手段と、を備える位置あわせ装置における撮像手段の位置合わせ方法であって、前記撮像手段による前記第1基準マークの撮像結果に基づいて、前記第1テーブルに対応する基準座標系に対する、前記撮像手段に固有の第1撮像座標系の校正量を算出する第1校正ステップと、前記第1テーブルを前記撮像手段の視野外になるように前記第1テーブル移動手段によって退避させた後に、前記撮像手段による前記第2基準マークの撮像結果に基づいて、前記第1撮像座標系に対する、前記第2テーブルに対応する第2座標系の校正量を算出する第2校正ステップと、を含むことを特徴とする。
【0009】
この発明によれば、第1校正ステップによって、撮像手段による第1基準マークの撮像結果に基づいて、第1テーブルに対応する基準座標系に対する、撮像手段に固有の第1撮像座標系の校正量が算出される。つぎに、第2校正ステップによって、第1テーブルを撮像手段の視野外になるように第1テーブル移動手段によって退避させた後に、撮像手段による第2基準マークの撮像結果に基づいて、第1撮像座標系に対する、第2テーブルに対応する第2座標系の校正量が算出される。これによって、位置合わせ装置の撮像手段の位置合わせが行われる。
【0010】
つぎの発明にかかる撮像手段の位置合わせ方法は、上記の発明において、前記第1校正ステップでは、前記第1テーブル移動手段によって前記第1テーブルを移動した際の複数位置において、前記第1基準マークを前記撮像手段で撮像し、この撮像された前記第1基準マークの位置の変化に基づいて、前記基準座標系に対して前記第1撮像座標系を一致させるための校正量を算出することを特徴とする。
【0011】
この発明によれば、第1校正ステップによって、第1テーブル移動手段で第1テーブルを移動した際の複数位置において、第1基準マークが撮像手段で撮像され、この撮像された第1基準マークの位置の変化に基づいて、基準座標系に対して第1撮像座標系を一致させるための校正量が算出されるようにしている。
【0012】
つぎの発明にかかる撮像手段の位置合わせ方法は、上記の発明において、前記位置合わせ装置は、前記第2テーブルを、前記第1テーブル移動手段による前記第1テーブルの移動方向にほぼ平行な方向に移動させる第2テーブル移動手段をさらに備え、前記第2校正ステップでは、前記第2テーブル移動手段によって前記第2テーブルを移動した際の複数位置において、前記第2基準マークを前記撮像手段で撮像し、この撮像された前記第2基準マークの位置変化に基づいて、前記第1撮像座標系に対して前記第2座標系を一致させるための校正量を算出することを特徴とする。
【0013】
この発明によれば、第2校正ステップによって、第2テーブル移動手段で第2テーブルを移動した際の複数位置において、第2基準マークが撮像手段で撮像され、この撮像された第2基準マークの位置変化に基づいて、第1撮像座標系に対して第2座標系を一致させるための校正量が算出されるようにしている。
【0014】
つぎの発明にかかる位置合わせ装置は、多層基板を作成するために第1の基板を保持する第1テーブルと、前記第1テーブルに対向配置され、前記第1の基板と貼り合わされる第2の基板を保持する第2テーブルと、対向配置された前記第1テーブルと前記第2テーブルにほぼ垂直な方向から、前記第1テーブルと前記第2テーブルを撮像可能な撮像手段と、を備える位置合わせ装置において、前記第1テーブルは、前記第1テーブルに対応する基準座標系に対して、前記撮像手段に固有の第1撮像座標系の校正量を前記撮像手段によって検出するための第1基準マークを備え、前記第2テーブルは、前記第1撮像座標系に対して、前記第2テーブルに対応する第2座標系の校正量を前記撮像手段によって検出するための第2基準マークを、備えることを特徴とする。
【0015】
この発明によれば、第1テーブルの第1基準マークによって、第1テーブルに対応する基準座標系に対して、撮像手段に固有の第1撮像座標系の校正量が撮像手段で検出され、第2テーブルの第2基準マークによって、第1撮像座標系に対して、第2テーブルに対応する第2座標系の校正量が撮像手段で検出される。これにより、第1の基板と、対向して配置される第2の基板とを貼りあわせて多層基板とするための位置合わせ装置が提供される。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下に添付図面を参照して、この発明にかかる位置合わせ装置および撮像手段の位置合わせ方法の好適な実施の形態を詳細に説明する。
【0017】
図1〜図3は、この発明にかかる位置合わせ装置の実施の形態を示すものであり、図1は、多層基板の位置合わせ装置の側面図を示し、図2は、図1の多層基板の位置合わせ装置の平面図を示し、そして、図3は、図1の下部テーブルに配置されたレチクルの平面図を示している。なお、この実施の形態において、図1および図2に示す基準座標系X0−Y0−Z0は、X0軸方向を後述する基板搬送機構23の軸方向とし、Z0軸方向を鉛直方向とし、Y0軸方向を、これらのX0軸およびZ0軸の両方に垂直な方向として定める。ただし、この基準座標系X0−Y0−Z0の原点の位置は、任意の位置に設定することができる。
【0018】
位置合わせ装置は、複数の基板を精度よく重ね合わせて多層基板を製造するための装置であり、重ね合わせる基板の粗い位置合わせを行う粗位置合わせ部1、および重ね合わせる基板の精密な位置合わせを行うと共に、基板の精密な位置合わせを行うためのカメラの位置合わせを行う精位置合わせ部2を有する。
【0019】
粗位置合わせ部1は、投入テーブル11、粗位置合わせ駆動機構12および粗位置合わせ用カメラ13を有する。投入テーブル11は、多層基板の位置合わせ装置で互いに貼り合わせる2つの基板41,42を順に投入するためのテーブルであり、投入された基板41,42を吸着保持する。粗位置合わせ駆動機構12は、精位置合わせ部2の撮像部(カメラ)26の視野内に基板41,42がおさまるように、粗位置合わせ用カメラ13によって撮像される撮像データに基づいて投入テーブル11をXYθZ方向に移動させて、粗位置合わせを行う。ここで、θはZ軸を軸として行う回転運動の角度を表している。また、粗位置合わせ駆動機構12は、後述する基板搬送テーブル23が投入テーブル11の真上に位置した場合に、Z軸方向に投入テーブル11を移動させて、基板搬送テーブル23に基板41,42を受け渡す。粗位置合わせ用カメラ13(13a,13b)は、投入テーブル11に投入された基板41,42の粗位置合わせを行うために、投入テーブル11の上方に設けられ、投入テーブル11に載せられた基板41,42を撮像する。
【0020】
精位置合わせ部2は、下部テーブル(第2テーブル)21、精位置合わせ駆動機構22、基板搬送テーブル(第1テーブル)23、基板搬送機構(第1テーブル移動手段)24、カメラユニット(撮像手段)25およびヒータ28を備えている。下部テーブル21は、基板搬送テーブル23によって粗位置合わせ部1の投入テーブル11上から搬送された基板(以下、下側基板(第2基板)という)41を吸着保持するためのテーブルである。また、図3に示されるように、2つのレチクルマークが付された2枚のレチクル板31が、下部テーブル21上の精位置合わせ駆動機構22の座標系X2−Y2−Z2のY2軸方向の両端部に設置されている。これらの2つのレチクル板31は、互いにレチクルマークのX2軸方向の位置が一致するように設置される。ここで、レチクルマーク31aとレチクルマーク31bとのピッチと、レチクルマーク31cとレチクルマーク31dとのピッチは共に等しくLXであり、レチクルマーク31aとレチクルマーク31cとのピッチと、レチクルマーク31bとレチクルマーク31dとのピッチは共に等しくLY2である。精位置合わせ駆動機構22は、カメラ26によって撮像される撮像データに基づいて下部テーブル21をXYθZ方向に移動させて、高精度な位置合わせを行う。ここで、精位置合わせ駆動機構22の座標系X2−Y2−Z2において、X2軸は、上記基準座標系X0−Y0−Z0のX0軸とほぼ平行な方向であり、Z2軸は鉛直方向とし、Y2軸はこれらX2軸とZ2軸の両方に垂直な方向である。精位置合わせ駆動機構22の座標系X2−Y2−Z2と、基準座標系X0−Y0−Z0とは、一致していることが望ましいが、基板搬送機構24と精位置合わせ搬送機構22との組み立てによる誤差などによって、微妙に異なる。
【0021】
基板搬送テーブル23は、粗位置合わせ部1の投入テーブル11に保持された下側基板41を下部テーブル21まで搬送するとともに、下部テーブル21に保持される下側基板41と貼り合わせるための基板(以下、上側基板(第1基板)という)42を、下部テーブル21の上部で保持する役割を果たす。図2に示されるように、この基板搬送テーブル23のZ0軸方向上側の面の一方の端部には、Y0軸方向に間隔LY1をおいて2つのレチクルマーク32a,32bが印刷され、また、間隔LY2(>LY1)をおいて2つのレチクル32c,32dが印刷されたレチクル板32が配置されている。レチクルマーク32a,32bは、図示しない基板の位置合わせマークとほぼ同じY軸方向の位置座標を有するように印刷され、また、レチクルマーク32c,32dは、下部テーブル21に設置されたレチクルマーク31a〜31dの位置校正用に設けられている。基板搬送機構24は、基板搬送テーブル23を投入テーブル11の上部と下部テーブル21の上部との間を移動させる役割を果たし、この明細書においては、この基板搬送機構24の軸の方向をX0軸としている。
【0022】
カメラユニット25は、カメラ26(26a〜26d)、およびカメラ移動軸27を有し、カメラ26がカメラ移動軸27に沿って移動可能に構成された下部テーブル21および基板搬送テーブル23上を撮像できるように、基板搬送テーブル23よりも上側に配置されている。この実施の形態では、カメラ移動軸27は基板搬送機構24の軸(X0軸)の向きにほぼ垂直なY1軸方向に伸びており、カメラ26は高精度に位置合わせを行うためにこのカメラ移動軸27、すなわちY1軸方向に沿って移動することができる。ヒータ28は、下部テーブル21に載せられた下側基板41と基板搬送テーブル23に載せられた上側基板42の2つの基板の位置合わせを行った後に、基板が位置ずれしないように仮固着するためのものである。ここで、カメラ座標系X1−Y1−Z1は、基準座標系X0−Y0−Z0のそれぞれの軸とほぼ一致していることが望ましいが、実際には基板搬送テーブル23とカメラユニット25との間の取り付け位置のずれなどによって誤差が生じる。
【0023】
つぎに、このような構成を有する位置合わせ装置における撮像手段の位置合わせ方法について説明する。この撮像装置の位置合わせ方法の手順の概要は、以下の通りである。すなわち、(1)まず、基準座標系X0−Y0−Z0とカメラ座標系X1−Y1との校正を行う(第1校正ステップ)。この校正は概略的に、基準座標系X0−Y0−Z0のX0軸方向にすべてのカメラ26a〜26dのカメラ座標系X1−Y1のX1軸方向を一致させた後に、カメラ座標系X1−Y1におけるカメラ26a〜26dの原点(撮像素子の面積の幾何学的な中心を原点とする)間の距離を、基板搬送テーブル23に設けられたレチクルマーク32a,32b間のピッチLY1、下部テーブル21に設けられたレチクルマーク31a,31c間のピッチLXに一致させることで行う。また、カメラ26a〜26dをカメラ移動軸27a〜27dに沿ってレチクルマーク32a(32b)から、下部テーブル21に設けられたレチクルマーク31a〜31dの位置校正用に設けられたレチクルマーク32c(32d)まで移動させて、レチクルマーク32cとレチクルマーク32dのピッチLY2を基準としたカメラ26のカメラ移動軸27上の移動量を求める。
【0024】
(2)そして、すべてのカメラ26a〜26dのカメラ座標系X1−Y1のX1軸と精位置合わせ駆動機構22の座標系X2−Y2のX2軸とを一致させることによって、カメラ座標系X1−Y1と精位置合わせ駆動機構22の座標系X2−Y2との校正を行う(第2校正ステップ)。両者が一致しない場合には、精位置合わせ駆動機構22の座標系X2−Y2のX2軸と基準座標系X0−Y0−Z0のX0軸とが一致していないことが考えられるので、精位置合わせ駆動機構22のY2軸を移動させ、カメラ26a〜26dの原点とレチクルマーク31a〜31dの中心位置が均等に配置されるように移動させる。そして、このカメラ26a〜26dの中心位置と精位置合わせ駆動機構22のレチクルマーク31a〜31dの中心位置の差を校正データとして記憶する。
【0025】
以下、第1〜第2校正ステップについて順次、詳細に説明する。
【0026】
(1)第1の校正ステップ
まず、4個のカメラ26a〜26dのカメラ座標系のX1軸方向を、基板搬送テーブル23の基準座標系X0−Y0−Z0のX0軸方向に一致させるために、基板搬送テーブル23をX0軸方向に微小移動させた場合の基板搬送テーブル23上に設けられたレチクルマーク32a,32bの位置を、各カメラ26a〜26dに認識させる。図4は、基板搬送テーブル23の移動位置を示す側面図であり、図5は、図4の基板搬送テーブル23の移動位置を示す平面図である。この図4および図5に示されるように、具体的には、X0軸上の位置XA近傍において、このX0軸方向に基板搬送テーブル23をXSからXEに微小移動させた際のレチクルマーク32a,32bの位置をカメラ26a,26cに認識させる。また、X0軸上の位置XB近傍において、このX0軸方向に基板搬送テーブル23をXSからXEに微小移動させた際のレチクルマーク32a,32bの位置をカメラ26b,26dに認識させる。ただし、図4および図5では、微小変化の前後の位置XS,XEを共に図示していない。
【0027】
このとき、基準座標系X0−Y0−Z0のX0軸方向とカメラ座標系X1−Y1のX1軸方向との間に傾きがある場合には、基板搬送テーブル23の移動に伴って、カメラ座標系におけるレチクルマーク32a,32bの認識位置の変位に、Y0軸成分が現れることになる。図6は、基板搬送テーブル23上のレチクルマーク32の位置と各座標系との関係を概念的に示している。この図6(a)に示されるように、基板搬送テーブル23がXSからXEに微小移動した軸をX0軸とし、カメラ座標系X1−Y1のX1軸がこのX0軸となす角度をθ1、基板搬送テーブル23のカメラ座標系X1−Y1での移動量をΔX1(=XE1−XS1)、カメラ座標系X1−Y1におけるレチクルマーク32a,32bの認識位置の変位のY1軸成分をΔY1(=YE1−YS1)とすると、下式が成立する。
【0028】
θ1=tan−1(ΔY1/ΔX1)・・・(1)
【0029】
したがって、この式(1)に基づいて校正量としての角度θ1を算定することによって、カメラ座標系X1−Y1の基準座標系X0−Y0−Z0に対する傾きθ1を校正して、校正後のカメラ座標系X1’−Y1’に変換することができる(図6(a)→図6(b))。
【0030】
つぎに、このようにして求められた4個のカメラ26a〜26dのカメラ座標系X1’−Y1’の原点間のピッチのうち、X1’軸方向に並ぶカメラ26a(26c)とカメラ26b(26d)のカメラ座標系X1’−Y1’の原点間のピッチを、基板搬送機構24に備えられている図示しないのセンサを利用して下部テーブル21のレチクルマークのX2軸方向のピッチLXに一致させ、Y1’軸方向に並ぶカメラ26a(26b)とカメラ26c(26d)のカメラ座標系X1’−Y1’の原点間のピッチを、基板搬送テーブル23のレチクルマーク32aとレチクルマーク32bとの間のピッチLYに一致させる。このように一致させた後の座標系をX1’’−Y1’’とする(図6(b)→図6(c)→図6(d))。
【0031】
その後、すべてのカメラ26a〜26dをレチクルマーク32a,32bからレチクルマーク32c,32dの中心位置に移動させる。カメラ26a〜26dは、上述したようにレチクルマーク32a,32bを用いて校正されているので、たとえばカメラ26aがレチクルマーク32aの中心に一致している状態で、カメラ移動軸27aに沿ってカメラ26aをレチクルマーク32cの中心が一致する位置まで移動させる。
【0032】
なお、カメラ26の中心とレチクルマーク32c,32dの中心とが一致しない場合があるが、これは、レチクル板32の設置位置またはカメラ移動軸27が基準座標系X0−Y0−Z0と一致していないことによるものと考えられる。そこで、このような場合には、カメラ26で撮像したレチクルマーク32c,32dの中心位置の差を記憶し、位置の校正データとする。
【0033】
(2)第2の校正ステップ
つぎに、基板搬送テーブル23を図1のX0軸上の位置Aまで退避させ、精位置合わせ駆動機構22を基板貼り合わせ位置の高さまでZ0軸方向に上昇させる。図7は、基板搬送テーブル23を退避させて精位置合わせ駆動機構22をZ0軸方向に上昇させた状態を示している。また、カメラ26をカメラ移動軸27によって、レチクルマーク32c,32dを認識した位置まで移動させ、精位置合わせ駆動機構22のレチクルマーク31a〜31dがカメラ26の中心に一致するように設定する。図8は、カメラ26a,26bをレチクルマーク31a,31bの位置まで移動した状態を示している。
【0034】
精位置合わせ駆動機構22のX2軸と、基準座標系X0−Y0−Z0と校正されているカメラ座標系X1−Y1のX1軸との平行度を確認するために、精位置合わせ駆動機構22をX1軸方向に微小移動させた場合の下部テーブル21上に設けられたレチクルマーク31a〜31dの位置を、各カメラ26a〜26dに認識させる。
【0035】
このとき、カメラ座標系X1−Y1のX1軸と精位置合わせ駆動機構22の座標系X2−Y2のX2軸とが、組み立て時に平行に設置されなかった結果、これら2つの軸の間に傾きがある場合には、精位置合わせ駆動機構22の微小移動に伴って、カメラ座標系X1−Y1のX1軸方向におけるレチクルマーク31a〜31dの認識位置の変化量と、実際の精位置合わせ駆動機構22の微小移動による変化量との間に差が現れることになる。図9は、精位置合わせ駆動機構上のレチクルマーク31a〜31dの位置と各座標系との関係を概念的に示している。この図9に示されるように、精位置合わせ駆動機構22が、微小移動した位置Sと位置Eとを線で結ぶ軸をX2軸とし、カメラ座標系X1−Y1のX1軸(X0軸と平行)がこのX2軸となす角度をθ2、カメラ座標系X1−Y1における精位置合わせ駆動機構22の移動量をΔY1(=YE1−YS1)、カメラ座標系X1−Y1におけるレチクルマーク31a〜31dの認識位置の変位のX1軸成分をΔX1(=XE1−XS1)とすると、下式が成立する。
【0036】
θ2=tan−1(ΔY1/ΔX1)・・・(2)
【0037】
式(2)によって算出された角度誤差θ2に、角度校正前の認識位置(XS,YS)を加えた値を校正値として記憶し、精位置合わせ駆動機構22の座標系X2−Y2とカメラ座標系X1−Y1との校正が行われる。
【0038】
このように、多層基板の位置合わせ装置において、まず、基準座標系X0−Y0−Z0に対して、カメラ座標系X1−Y1を校正し、さらに、校正されたカメラ座標系X1−Y1に対して、精位置合わせ駆動機構22の座標系X2−Y2を校正することによって、基板41,42の貼り合わせ時におけるカメラユニット25の位置合わせを簡易に行うことができる。
【0039】
ここで、この基板位置合わせ装置における基板41,42の位置合わせ方法の概略について説明する。まず、下側基板41を、粗位置合わせ部1の投入テーブル11上に供給し、粗位置合わせ用カメラ7での撮像データに基づいて粗位置合わせ駆動機構12で粗位置合わせを行った後に、基板搬送テーブル23によって、精位置合わせ部2の下部テーブル21上に搬送される。精位置合わせ駆動機構22をカメラ25のワークディスタンスの位置まで上昇させ、図10に示されるように、カメラ25によって下側基板41の位置合わせマーク41a〜41dの位置と下部テーブル21に設置されたレチクルマーク31a〜31dとの相対位置を検出する。そして、カメラ25の座標値(たとえば、カメラの面積の幾何学的な中心の値)を、カメラ8aを基準とした絶対座標系に変換して記憶する。
【0040】
同様に、上側基板42も粗位置合わせ部1の投入テーブル1上に供給され、粗位置合わせが行われた後に、基板搬送テーブル23に受け渡され、下部テーブル21の上側に配置される。そして、カメラ8によって、図10に示される基板14の位置合わせマーク14a〜14dを記憶する。
【0041】
つぎに、図11のように精位置合わせ駆動機構22を基板41と基板42が非接触状態かつ、カメラ26のワークディスタンスまで上昇させる。このとき、下部テーブル21上の下側基板41の位置合わせマーク41a〜41dは、上側基板42によってさえぎられてしまうため、直接カメラ26で確認することはできない。そのため、下側基板41の位置は、上記で記憶したレチクルマーク31a〜31dの絶対座標を利用して求める。しかし、上側基板42が搬送された直後の状態では、上側基板42の位置合わせマーク42a〜42dのほぼ真上にカメラ26が存在するので、上側基板42の位置合わせマーク42a〜42dは、カメラ26の視野内に存在するが、下側基板41の位置認識に必要なレチクルマーク31a〜31dはカメラ26の視野外に存在している。そのため、カメラ26を上側基板42の位置合わせマーク42a〜42dから下部テーブル21のレチクルマーク31a〜31dまで、カメラ移動軸27に沿って、移動しながら位置合わせを行う。
【0042】
多層基板の位置合わせは、上記の工程で求められた校正値に基づいて回転収束動作後、並進収束動作を実施する。その結果、各々許容数値内に位置合わせされたことをもって位置合わせが完了したものとする。位置合わせ完了後、下部テーブル21上の下側基板41と基板搬送テーブル23に吸着されている上側基板42を密着させる。密着後、カメラ26とカメラ移動軸27によって上側基板42の位置合わせマーク42a〜42dと基板41の位置認識用のレチクルマーク31a〜31dの位置を確認し、基板41,42が密着状態で位置ずれが発生していないことを確認する。位置ずれが発生していないことを確認した後、ヒータ28を下降させ、基板41,42を仮固着する。
【0043】
このようにして、撮像手段を有する位置合わせ装置における撮像手段の位置合わせが行われる。
【0044】
なお、上述した実施の形態では、4個のカメラ26を使用していたが、この発明はこの例に限られる趣旨ではなく、たとえば多層基板の剛性が高く、位置合わせ精度も必要なければ、2台にて構成することも可能である。この場合には、図2のカメラ26の位置において、2台のカメラを対角上に設置するのが望ましい。また、2台や4台だけでなく、何台カメラを設置してもよい。
【0045】
また、上述した実施の形態では、2つのレチクル板31を下部テーブル21上に配置していたが、基板サイズが小さい場合には、レチクルを口型の一体型で構成してもよい。この場合には、各工程のカメラ26の校正数を低減することができる。
【0046】
さらに、上述した実施の形態では、「上」、「下」等の概念を用いて説明を行ったが、これらは絶対的な基準ではなく、第1テーブルおよび第2テーブルの配置方向(対向方向)に応じた相対的な概念である。例えば、第1テーブルおよび第2テーブルを、そのテーブル面が鉛直方向に沿うように配置した場合においても同様に適用することができる。
【0047】
以上、説明してきたように、この実施の形態によれば、精位置合わせ駆動機構22上の下部テーブル21に吸着されている最上層の基板が、基板積層時に発生した反りを有する場合であっても、その最上層の基板の位置合わせマークの認識が安定するという効果を有する。また、基板搬送テーブル23と精位置合わせ駆動機構22に撮像装置の位置合わせ用のレチクルを設置することによって、大型の多層基板製造においても、製造コストを低減することができ、高精度な位置合わせを実現することができるという効果を有する。さらに、精位置合わせ駆動機構22に設置したレチクルのマークの位置合わせ前に、基板積層時の下側基板の位置を校正することによって、上側基板42と下側基板41の差異による基板の位置ずれを算出し、高精度な位置合わせを行うことができるという効果を有する。
【0048】
なお、上述した説明では、多層基板の位置合わせ装置を例に挙げて説明してきたが、一対の対向テーブルおよび位置合わせ用の撮像手段を有する任意の目的の位置合わせ装置にも、この発明を同様に適用することができる。
【0049】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、第1校正ステップで、撮像手段による第1基準マークの撮像結果に基づいて、第1テーブルに対応する基準座標系に対する、撮像手段に固有の第1撮像座標系の校正量を算出し、第2校正ステップで、第1テーブルを撮像手段の視野外になるように第1テーブル移動手段によって退避させた後に、撮像手段による第2基準マークの撮像結果に基づいて、第1撮像座標系に対する、第2テーブルに対応する第2座標系の校正量を算出するようにしたので、位置合わせ装置の基準となる第1テーブルに対して、撮像手段と第2テーブルの位置ずれを算出し、高精度に位置の校正を行うことができるという効果を有する。その結果、反りを有する基板の位置合わせ時においても、基板上の位置合わせマークで位置合わせをする場合に比して、より高精度な位置合わせを行うことができる。
【0050】
つぎの発明によれば、第1校正ステップでは、第1テーブル移動手段によって第1テーブルを移動した際の複数位置において、第1基準マークを撮像手段で撮像し、この撮像された第1基準マークの位置の変化に基づいて、基準座標系に対して第1撮像座標系を一致させるための校正量を算出するようにしたので、第1テーブルを移動させつつ第1基準マークを撮像するだけで校正量の一部を算定することができ、校正に要する作業時間や作業コストを低減することができるという効果を有する。
【0051】
つぎの発明によれば、第2校正ステップでは、第2テーブル移動手段によって第2テーブルを移動した際の複数位置において、第2基準マークを撮像手段で撮像し、この撮像された第2基準マークの位置変化に基づいて、第1撮像座標系に対して第2座標系を一致させるための校正量を算出するようにしたので、第2テーブルを移動させつつ第2基準マークを撮像するだけで校正量の他の一部を算出することができ、校正に要する作業時間や作業コストを低減することができるという効果を有する。
【0052】
つぎの発明によれば、第1テーブルは、第1テーブルに対応する基準座標系に対して、撮像手段に固有の第1撮像座標系の校正量を撮像手段によって検出するための第1基準マークを備え、第2テーブルは、第1撮像座標系に対して、第2テーブルに対応する第2座標系の校正量を撮像手段によって検出するための第2基準マークを備えるように位置合わせ装置を構成したので、基板の反りなどの影響に左右されずに、第2テーブルに吸着されている最上層の基板の位置合わせマークの認識が安定し、大型の多層基板製造においても製造コストを低減でき、さらに高精度な位置合わせを実現することができるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明にかかる位置合わせ装置の側面図である。
【図2】図1の位置合わせ装置の平面図である。
【図3】図1の下部テーブルに配置されたレチクルの平面図である。
【図4】基板搬送テーブルの移動位置を示す側面図である。
【図5】図4の基板搬送テーブルの移動位置を示す平面図である。
【図6】基板搬送テーブル上のレチクルマークの位置と各座標系との関係を概念的に示す図であり、(a)は校正前の関係を示す図、(b)は傾き校正後の関係を示す図、(c)は原点間ピッチを一致させる前の関係を示す図、および(d)は原点間ピッチを一致させた後の関係を示す図である。
【図7】精位置合わせ駆動機構をZ0軸方向に上昇させた状態を示す側面図である。
【図8】基板搬送テーブルの平面図である。
【図9】下部テーブル上のレチクルマークの位置と各座標系との関係を概念的に示す図である。
【図10】下部テーブル、下側基板および上側基板との間の位置合わせを説明するための平面図である。
【図11】多層基板の位置合わせの様子を示す側面図である。
【図12】レチクルの平面図の従来例を示す図である。
【符号の説明】
1 粗位置合わせ部、2 精位置合わせ部、11 投入テーブル、12 粗位置合わせ駆動機構、13,13a,13b 粗位置合わせ用カメラ、21 下部テーブル、22 精位置合わせ駆動機構、23 基板搬送テーブル、24 基板搬送機構、25,25c〜25d カメラユニット、26,26a〜26d カメラ、27,27a〜27d カメラ移動軸、28 ヒータ、31,32 レチクル板、31a〜31d,32a〜32d レチクルマーク、41 下側基板、42 上側基板。
Claims (4)
- 第1基準マークを有する第1テーブルと、
第2基準マークを有し、前記第1テーブルに対向配置された第2テーブルと、
前記第1テーブルを、前記第1テーブルおよび前記第2テーブルの対向方向に対してほぼ直交する方向に移動する第1テーブル移動手段と、
対向配置された前記第1テーブルと前記第2テーブルにほぼ垂直な方向から、前記第1テーブルと前記第2テーブルを撮像可能な撮像手段と、
を備える位置あわせ装置における撮像手段の位置合わせ方法であって、
前記撮像手段による前記第1基準マークの撮像結果に基づいて、前記第1テーブルに対応する基準座標系に対する、前記撮像手段に固有の第1撮像座標系の校正量を算出する第1校正ステップと、
前記第1テーブルを前記撮像手段の視野外になるように前記第1テーブル移動手段によって退避させた後に、前記撮像手段による前記第2基準マークの撮像結果に基づいて、前記第1撮像座標系に対する、前記第2テーブルに対応する第2座標系の校正量を算出する第2校正ステップと、
を含むことを特徴とする撮像手段の位置合わせ方法。 - 前記第1校正ステップでは、前記第1テーブル移動手段によって前記第1テーブルを移動した際の複数位置において、前記第1基準マークを前記撮像手段で撮像し、この撮像された前記第1基準マークの位置の変化に基づいて、前記基準座標系に対して前記第1撮像座標系を一致させるための校正量を算出することを特徴とする請求項1に記載の撮像手段の位置合わせ方法。
- 前記位置合わせ装置は、前記第2テーブルを、前記第1テーブル移動手段による前記第1テーブルの移動方向にほぼ平行な方向に移動させる第2テーブル移動手段をさらに備え、
前記第2校正ステップでは、前記第2テーブル移動手段によって前記第2テーブルを移動した際の複数位置において、前記第2基準マークを前記撮像手段で撮像し、この撮像された前記第2基準マークの位置変化に基づいて、前記第1撮像座標系に対して前記第2座標系を一致させるための校正量を算出することを特徴とする請求項1または2に記載の撮像手段の位置合わせ方法。 - 多層基板を作成するために第1の基板を保持する第1テーブルと、
前記第1テーブルに対向配置され、前記第1の基板と貼り合わされる第2の基板を保持する第2テーブルと、
対向配置された前記第1テーブルと前記第2テーブルにほぼ垂直な方向から、前記第1テーブルと前記第2テーブルを撮像可能な撮像手段と、
を備える位置合わせ装置において、
前記第1テーブルは、前記第1テーブルに対応する基準座標系に対して、前記撮像手段に固有の第1撮像座標系の校正量を前記撮像手段によって検出するための第1基準マークを備え、
前記第2テーブルは、前記第1撮像座標系に対して、前記第2テーブルに対応する第2座標系の校正量を前記撮像手段によって検出するための第2基準マークを、
備えることを特徴とする位置合わせ装置。
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