JP2004082179A - アーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュおよびそれを用いたアーク溶接用コンタクトチップ - Google Patents
アーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュおよびそれを用いたアーク溶接用コンタクトチップ Download PDFInfo
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Abstract
【課題】長期間にわたって安定した溶接が可能なアーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュおよびそれを用いたアーク溶接用コンタクトチップを提供する。
【解決手段】コンタクトチップ本体2と、コンタクトチップ本体2の先端部に装着されるガイドブッシュ3とを具備し、ガイドブッシュ3が抵抗値500Ω以下の硬質部材9からなるアーク溶接用コンタクトチップ1のためのガイドブッシュ3を作製する。
【選択図】 図1
【解決手段】コンタクトチップ本体2と、コンタクトチップ本体2の先端部に装着されるガイドブッシュ3とを具備し、ガイドブッシュ3が抵抗値500Ω以下の硬質部材9からなるアーク溶接用コンタクトチップ1のためのガイドブッシュ3を作製する。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、アーク溶接用コンタクトチップおよびガイドブッシュに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のアーク溶接用コンタクトチップは、銅、クロム銅合金などからなり、溶接用ワイヤを押し出すための中心孔を有している。そして、溶接用ワイヤを押し出す時の摩擦により、アーク溶接用コンタクトチップの中心孔部および先端部が摩耗して拡大し、自動溶接工程では溶接の芯ズレを発生するため、特開2002−11578号公報ではコンタクトチップ本体2の先端に耐摩耗性に優れた窒化珪素セラミックスからなるガイドブッシュを装着したアーク溶接用コンタクトチップが提案されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、図3に示す特開2002−11578号公報に記載されたガイドブッシュ23を備えたアーク溶接用コンタクトチップ21では、ガイドブッシュ23に連結するコンタクトチップ本体22の中心孔部分22aが摩耗してしまい、アーク放電に関与する電極の状態が変化して、ワイヤへの電流供給が不安定になる結果、放電されるアークの状態が変動して安定した溶接が行えないという問題があった。
【0004】
本発明は上記課題を解決するためになされたもので、その目的は、長期間にわたって安定した溶接が可能なアーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュおよびそれを用いたアーク溶接用コンタクトチップを提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明者は、上記課題に対しガイドブッシュの特性について検討した結果、ガイドブッシュを抵抗値が500Ω以下の硬質部材にて形成することによって、硬質部材そのものをアーク放電の電極として機能させることができる結果、コンタクトチップ本体の中心孔部分が摩耗した場合でもアーク放電の状態を変化させることなく安定して良好なアーク溶接が可能となることを知見した。
【0006】
すなわち、本発明のアーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュは、コンタクトチップ本体と、該コンタクトチップ本体の先端部に装着されるガイドブッシュとを具備するものであって、前記ガイドブッシュが抵抗値500Ω以下の硬質部材からなることを特徴とするものである。
【0007】
ここで、前記硬質部材が、チタンまたは珪素の炭化物、窒化物および炭窒化物または炭化珪素の群から選ばれる少なくとも1種を10〜50重量%含有する窒化珪素質セラミックスまたはアルミナ質セラミックスからなることが望ましい。
【0008】
また、前記チタンの炭化物、窒化物および炭窒化物の群から選ばれる少なくとも1種が前記セラミックス内に針状結晶として分散していること、前記セラミックスの主結晶粒子の平均粒径が0.1〜2μmであることが望ましい。
【0009】
さらに、前記硬質部材の熱伝導率が20W/m・K以上であること、前記ガイドブッシュの熱膨張係数が5×10−6/℃以上であることが望ましい。
【0010】
また、本発明のアーク溶接用コンタクトチップは、コンタクトチップ本体と、該コンタクトチップ本体の先端部に装着された前記ガイドブッシュとを具備するものである。
【0011】
【発明の実施の形態】
本発明のアーク溶接用コンタクトチップおよびガイドブッシュについて、アーク溶接用コンタクトチップの一例についての概略断面図である図1およびガイドブッシュの模式図である図2を基に説明する。
【0012】
図1によれば、アーク溶接用コンタクトチップ1は、コンタクトチップ本体2と、コンタクトチップ本体2の先端部に装着されたガイドブッシュ3とからなる。また、コンタクトチップ本体2は、例えば銅または銅合金等の導体からなり、中心に溶接用ワイヤ5を供給し、ワイヤ5の径よりもわずかに大きな径の中心孔4を有するとともに、先端部に装着されるガイドブッシュ3がかしめられた状態となっている。
【0013】
また、図1のガイドブッシュ3は例えば断面が概略五角形の環状部材からなり、内壁3aの後端側がテーパ面7となっている。なお、テーパ面7はコンタクトチップ1の後端側に向かって拡径している。
【0014】
本発明によれば、ガイドブッシュ3が抵抗値500Ω以下、特に100Ω以下、さらに10Ω以下、さらには1Ω以下の硬質部材9からなることが大きな特徴であり、これによって、ガイドブッシュ3そのものをアーク放電の電極として機能させることができることから、長時間の使用によってコンタクトチップ本体2の中心孔4が摩耗によって寸法が変化した場合であっても放電されるアークの状態に変動を生じることなく、安定して良好なアーク放電および溶接が可能となる。なお、本発明におけるガイドブッシュ3の抵抗値とはガイドブッシュ3の内壁面の先端と後端に端子を当てて測定した抵抗値を指す。
【0015】
ここで、硬質部材9はコンタクトチップ本体2よりも高硬度な部材であればよいが、特にJISR1431に基づくビッカース硬度が1000以上、特に1300の高硬度部材からなることが望ましく、例えば、アルミナ、窒化珪素、六方晶窒化硼素、炭化珪素および窒化アルミニウムの群から選ばれるセラミックスや、超硬合金、サーメットのいずれか、特に耐熱衝撃性、溶着性、耐摩耗性およびコストの点で、アルミナまたは窒化珪素質セラミックスからなることが望ましい。
【0016】
また、導電性、硬度向上の点で、硬質部材9がチタンまたは珪素の炭化物、窒化物および炭窒化物の群から選ばれる少なくとも1種、特に導電性の点でチタンの炭化物、窒化物および炭窒化物の群から選ばれる少なくとも1種を10〜50重量%、特に20〜30重量%の割合で含有するアルミナまたは窒化珪素質セラミックスからなることが望ましい。
【0017】
さらに、硬質部材9の導電性、靭性、強度向上の点で、前記チタンまたは珪素の炭化物、窒化物および炭窒化物の群から選ばれる少なくとも1種が前記セラミックス内に針状結晶として分散していることが望ましい。なお、本発明における針状結晶とは硬質部材9の走査型電子顕微鏡写真(SEM)において観察される粒子(結晶)の長軸(最長長さ)と短軸(長軸と垂直な垂線の長さ)との比の平均値が2以上のものを指す。
【0018】
また、本発明によれば、前記セラミックスの主結晶粒子の平均粒径が0.1〜3μmであることが耐摩耗性を高める点で望ましい。
【0019】
さらに、ガイドブッシュ3の放熱性を高めてガイドブッシュ3の耐久性を高めるためには、前記セラミックスの熱伝導率が20W/m・K以上、特に30W/m・K以上であることが望ましい。
【0020】
さらにまた、熱サイクルによってコンタクトチップ本体2とガイドブッシュ3との間に熱疲労が生じることを防止してコンタクトチップ1の長寿命化を図る上では、ガイドブッシュ2の熱膨張係数が5×10−6/℃以上、特に7×10−6/℃以上であることが望ましい。
【0021】
また、ガイドブッシュ3の内壁3aの軸方向長さは、0.5〜4mmであることが望ましく、これによって、ガイドブッシュ3の内壁面3aに安定した電圧を供給することができる。
【0022】
さらに、図1、2によれば、ガイドブッシュ3を強固に固定するために内壁3aの後端側はテーパ角θ=10〜80°のテーパ7を形成し、かつガイドブッシュ3の先端面の外周角部12にC面またはR面の面取りを施してコンタクトチップ本体2にてかしめた構造としている。
【0023】
また、ガイドブッシュ3の内壁面3aの径を、コンタクトチップ本体2の中心孔4の径とが同じであることが望ましく、これによって、コンタクトチップ本体2の中心孔4部分が摩耗してかすが出ること、およびワイヤ5表面がガイドブッシュ3の内壁3aにて局所的にこすれてワイヤかすが出ることを防止することができる。
【0024】
【実施例】
(実施例)
平均粒径0.2μmのAl2O3粉末に対して、焼結助剤として平均粒径1μmのYb2O3粉末と、平均粒径0.7μmのTiO2粉末と平均粒径1μmのCo3O4粉末と平均粒径0.5μmのMgO粉末を所定量と、直径1μmφ、長さ20μm(アスペクト比20のTiCウイスカを25重量%添加、混合し、所定形状に成形、焼成してアルミナ質焼結体からなるガイドブッシュを作製した。なお、テスターを用いてガイドブッシュの表面に端子間隔1mmで端子を押し当てて抵抗値を測定したところ0.9Ωであった。また、ガイドブッシュの寸法は外周長さ3mm、内壁面の長さ1.5mm、テーパ角30°とした。
【0025】
得られたガイドブッシュを銅製のコンタクトチップ本体の先端に図1のように取り付けたコンタクトチップの中心孔に溶接用のワイヤを貫通させてアーク溶接を行ったところ良好に溶接でき、また、10時間以上使用した後も良好に溶接できた。
【0026】
(比較例)
実施例のガイドブッシュの原料において、TiCウイスカを添加せず作製したアルミナ質セラミックス(抵抗値>1011Ω・m)をガイドブッシュとして使ったところ、ワイヤを5時間程度使用した頃にはアークの状態が変化して溶接条件(アーク電流)を変えなければならなくなった。
【0027】
【発明の効果】
以上詳述したとおり、抵抗値が500Ω以下の硬質部材からなるガイドブッシュを用いることによって、ガイドブッシュそのものをアーク放電の電極として機能させることができる結果、コンタクトチップ本体の中心孔部分が摩耗した場合でもアーク放電の状態を変化させることなく安定して良好なアーク溶接が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のガイドブッシュを含むアーク溶接用コンタクトチップの概略断面図である。
【図2】図1のコンタクトチップのガイドブッシュの模式図である。
【図3】従来のアーク溶接用コンタクトチップの概略断面図である。
【符号の説明】
1 アーク溶接用コンタクトチップ
2 コンタクトチップ本体
3 ガイドブッシュ
3a 内壁面
4 中心孔
5 ワイヤ
7 テーパ面
9 硬質部材
12 面取り面
【発明の属する技術分野】
本発明は、アーク溶接用コンタクトチップおよびガイドブッシュに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のアーク溶接用コンタクトチップは、銅、クロム銅合金などからなり、溶接用ワイヤを押し出すための中心孔を有している。そして、溶接用ワイヤを押し出す時の摩擦により、アーク溶接用コンタクトチップの中心孔部および先端部が摩耗して拡大し、自動溶接工程では溶接の芯ズレを発生するため、特開2002−11578号公報ではコンタクトチップ本体2の先端に耐摩耗性に優れた窒化珪素セラミックスからなるガイドブッシュを装着したアーク溶接用コンタクトチップが提案されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、図3に示す特開2002−11578号公報に記載されたガイドブッシュ23を備えたアーク溶接用コンタクトチップ21では、ガイドブッシュ23に連結するコンタクトチップ本体22の中心孔部分22aが摩耗してしまい、アーク放電に関与する電極の状態が変化して、ワイヤへの電流供給が不安定になる結果、放電されるアークの状態が変動して安定した溶接が行えないという問題があった。
【0004】
本発明は上記課題を解決するためになされたもので、その目的は、長期間にわたって安定した溶接が可能なアーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュおよびそれを用いたアーク溶接用コンタクトチップを提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明者は、上記課題に対しガイドブッシュの特性について検討した結果、ガイドブッシュを抵抗値が500Ω以下の硬質部材にて形成することによって、硬質部材そのものをアーク放電の電極として機能させることができる結果、コンタクトチップ本体の中心孔部分が摩耗した場合でもアーク放電の状態を変化させることなく安定して良好なアーク溶接が可能となることを知見した。
【0006】
すなわち、本発明のアーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュは、コンタクトチップ本体と、該コンタクトチップ本体の先端部に装着されるガイドブッシュとを具備するものであって、前記ガイドブッシュが抵抗値500Ω以下の硬質部材からなることを特徴とするものである。
【0007】
ここで、前記硬質部材が、チタンまたは珪素の炭化物、窒化物および炭窒化物または炭化珪素の群から選ばれる少なくとも1種を10〜50重量%含有する窒化珪素質セラミックスまたはアルミナ質セラミックスからなることが望ましい。
【0008】
また、前記チタンの炭化物、窒化物および炭窒化物の群から選ばれる少なくとも1種が前記セラミックス内に針状結晶として分散していること、前記セラミックスの主結晶粒子の平均粒径が0.1〜2μmであることが望ましい。
【0009】
さらに、前記硬質部材の熱伝導率が20W/m・K以上であること、前記ガイドブッシュの熱膨張係数が5×10−6/℃以上であることが望ましい。
【0010】
また、本発明のアーク溶接用コンタクトチップは、コンタクトチップ本体と、該コンタクトチップ本体の先端部に装着された前記ガイドブッシュとを具備するものである。
【0011】
【発明の実施の形態】
本発明のアーク溶接用コンタクトチップおよびガイドブッシュについて、アーク溶接用コンタクトチップの一例についての概略断面図である図1およびガイドブッシュの模式図である図2を基に説明する。
【0012】
図1によれば、アーク溶接用コンタクトチップ1は、コンタクトチップ本体2と、コンタクトチップ本体2の先端部に装着されたガイドブッシュ3とからなる。また、コンタクトチップ本体2は、例えば銅または銅合金等の導体からなり、中心に溶接用ワイヤ5を供給し、ワイヤ5の径よりもわずかに大きな径の中心孔4を有するとともに、先端部に装着されるガイドブッシュ3がかしめられた状態となっている。
【0013】
また、図1のガイドブッシュ3は例えば断面が概略五角形の環状部材からなり、内壁3aの後端側がテーパ面7となっている。なお、テーパ面7はコンタクトチップ1の後端側に向かって拡径している。
【0014】
本発明によれば、ガイドブッシュ3が抵抗値500Ω以下、特に100Ω以下、さらに10Ω以下、さらには1Ω以下の硬質部材9からなることが大きな特徴であり、これによって、ガイドブッシュ3そのものをアーク放電の電極として機能させることができることから、長時間の使用によってコンタクトチップ本体2の中心孔4が摩耗によって寸法が変化した場合であっても放電されるアークの状態に変動を生じることなく、安定して良好なアーク放電および溶接が可能となる。なお、本発明におけるガイドブッシュ3の抵抗値とはガイドブッシュ3の内壁面の先端と後端に端子を当てて測定した抵抗値を指す。
【0015】
ここで、硬質部材9はコンタクトチップ本体2よりも高硬度な部材であればよいが、特にJISR1431に基づくビッカース硬度が1000以上、特に1300の高硬度部材からなることが望ましく、例えば、アルミナ、窒化珪素、六方晶窒化硼素、炭化珪素および窒化アルミニウムの群から選ばれるセラミックスや、超硬合金、サーメットのいずれか、特に耐熱衝撃性、溶着性、耐摩耗性およびコストの点で、アルミナまたは窒化珪素質セラミックスからなることが望ましい。
【0016】
また、導電性、硬度向上の点で、硬質部材9がチタンまたは珪素の炭化物、窒化物および炭窒化物の群から選ばれる少なくとも1種、特に導電性の点でチタンの炭化物、窒化物および炭窒化物の群から選ばれる少なくとも1種を10〜50重量%、特に20〜30重量%の割合で含有するアルミナまたは窒化珪素質セラミックスからなることが望ましい。
【0017】
さらに、硬質部材9の導電性、靭性、強度向上の点で、前記チタンまたは珪素の炭化物、窒化物および炭窒化物の群から選ばれる少なくとも1種が前記セラミックス内に針状結晶として分散していることが望ましい。なお、本発明における針状結晶とは硬質部材9の走査型電子顕微鏡写真(SEM)において観察される粒子(結晶)の長軸(最長長さ)と短軸(長軸と垂直な垂線の長さ)との比の平均値が2以上のものを指す。
【0018】
また、本発明によれば、前記セラミックスの主結晶粒子の平均粒径が0.1〜3μmであることが耐摩耗性を高める点で望ましい。
【0019】
さらに、ガイドブッシュ3の放熱性を高めてガイドブッシュ3の耐久性を高めるためには、前記セラミックスの熱伝導率が20W/m・K以上、特に30W/m・K以上であることが望ましい。
【0020】
さらにまた、熱サイクルによってコンタクトチップ本体2とガイドブッシュ3との間に熱疲労が生じることを防止してコンタクトチップ1の長寿命化を図る上では、ガイドブッシュ2の熱膨張係数が5×10−6/℃以上、特に7×10−6/℃以上であることが望ましい。
【0021】
また、ガイドブッシュ3の内壁3aの軸方向長さは、0.5〜4mmであることが望ましく、これによって、ガイドブッシュ3の内壁面3aに安定した電圧を供給することができる。
【0022】
さらに、図1、2によれば、ガイドブッシュ3を強固に固定するために内壁3aの後端側はテーパ角θ=10〜80°のテーパ7を形成し、かつガイドブッシュ3の先端面の外周角部12にC面またはR面の面取りを施してコンタクトチップ本体2にてかしめた構造としている。
【0023】
また、ガイドブッシュ3の内壁面3aの径を、コンタクトチップ本体2の中心孔4の径とが同じであることが望ましく、これによって、コンタクトチップ本体2の中心孔4部分が摩耗してかすが出ること、およびワイヤ5表面がガイドブッシュ3の内壁3aにて局所的にこすれてワイヤかすが出ることを防止することができる。
【0024】
【実施例】
(実施例)
平均粒径0.2μmのAl2O3粉末に対して、焼結助剤として平均粒径1μmのYb2O3粉末と、平均粒径0.7μmのTiO2粉末と平均粒径1μmのCo3O4粉末と平均粒径0.5μmのMgO粉末を所定量と、直径1μmφ、長さ20μm(アスペクト比20のTiCウイスカを25重量%添加、混合し、所定形状に成形、焼成してアルミナ質焼結体からなるガイドブッシュを作製した。なお、テスターを用いてガイドブッシュの表面に端子間隔1mmで端子を押し当てて抵抗値を測定したところ0.9Ωであった。また、ガイドブッシュの寸法は外周長さ3mm、内壁面の長さ1.5mm、テーパ角30°とした。
【0025】
得られたガイドブッシュを銅製のコンタクトチップ本体の先端に図1のように取り付けたコンタクトチップの中心孔に溶接用のワイヤを貫通させてアーク溶接を行ったところ良好に溶接でき、また、10時間以上使用した後も良好に溶接できた。
【0026】
(比較例)
実施例のガイドブッシュの原料において、TiCウイスカを添加せず作製したアルミナ質セラミックス(抵抗値>1011Ω・m)をガイドブッシュとして使ったところ、ワイヤを5時間程度使用した頃にはアークの状態が変化して溶接条件(アーク電流)を変えなければならなくなった。
【0027】
【発明の効果】
以上詳述したとおり、抵抗値が500Ω以下の硬質部材からなるガイドブッシュを用いることによって、ガイドブッシュそのものをアーク放電の電極として機能させることができる結果、コンタクトチップ本体の中心孔部分が摩耗した場合でもアーク放電の状態を変化させることなく安定して良好なアーク溶接が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のガイドブッシュを含むアーク溶接用コンタクトチップの概略断面図である。
【図2】図1のコンタクトチップのガイドブッシュの模式図である。
【図3】従来のアーク溶接用コンタクトチップの概略断面図である。
【符号の説明】
1 アーク溶接用コンタクトチップ
2 コンタクトチップ本体
3 ガイドブッシュ
3a 内壁面
4 中心孔
5 ワイヤ
7 テーパ面
9 硬質部材
12 面取り面
Claims (7)
- コンタクトチップ本体と、該コンタクトチップ本体の先端部に装着されるガイドブッシュとを具備するアーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュであって、前記ガイドブッシュが抵抗値500Ω以下の硬質部材からなることを特徴とするアーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュ。
- 前記硬質部材が、チタンまたは珪素の炭化物、窒化物および炭窒化物の群から選ばれる少なくとも1種を10〜50重量%含有する窒化珪素質セラミックスまたはアルミナ質セラミックスからなることを特徴とする請求項1記載のアーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュ。
- 前記チタンまたは珪素の炭化物、窒化物および炭窒化物の群から選ばれる少なくとも1種が前記セラミックス内に針状結晶として分散していることを特徴とする請求項2記載のアーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュ。
- 前記セラミックスの主結晶粒子の平均粒径が0.1〜2.0μmであることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか記載のアーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュ。
- 前記硬質部材の熱伝導率が20W/m・K以上であることを特徴とする請求項1または2記載のアーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュ。
- 前記ガイドブッシュの熱膨張係数が5×10−6/℃以上であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか記載のアーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュ。
- コンタクトチップ本体と、該コンタクトチップ本体の先端部に装着された請求項1乃至6のいずれか記載のガイドブッシュと、を具備することを特徴とするアーク溶接用コンタクトチップ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002248714A JP2004082179A (ja) | 2002-08-28 | 2002-08-28 | アーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュおよびそれを用いたアーク溶接用コンタクトチップ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002248714A JP2004082179A (ja) | 2002-08-28 | 2002-08-28 | アーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュおよびそれを用いたアーク溶接用コンタクトチップ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004082179A true JP2004082179A (ja) | 2004-03-18 |
Family
ID=32056026
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002248714A Pending JP2004082179A (ja) | 2002-08-28 | 2002-08-28 | アーク溶接用コンタクトチップのためのガイドブッシュおよびそれを用いたアーク溶接用コンタクトチップ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004082179A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106563872A (zh) * | 2015-10-13 | 2017-04-19 | 济南腾业仪器仪表有限公司 | 一种二氧化碳焊接用导电嘴 |
-
2002
- 2002-08-28 JP JP2002248714A patent/JP2004082179A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106563872A (zh) * | 2015-10-13 | 2017-04-19 | 济南腾业仪器仪表有限公司 | 一种二氧化碳焊接用导电嘴 |
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