JP2004071749A - Method of manufacturing multilayer circuit wiring board - Google Patents

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JP2004071749A
JP2004071749A JP2002227244A JP2002227244A JP2004071749A JP 2004071749 A JP2004071749 A JP 2004071749A JP 2002227244 A JP2002227244 A JP 2002227244A JP 2002227244 A JP2002227244 A JP 2002227244A JP 2004071749 A JP2004071749 A JP 2004071749A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Matsuzawa
松澤 宏
Takamasa Okuma
大熊 隆正
Satoshi Akimoto
秋本 聡
Masataka Maehara
前原 正孝
Taketo Tsukamoto
塚本 健人
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Toppan Inc
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Toppan Printing Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To increase the density of the circuits and to facilitate the confirmation of alignment marks of an inner layer circuit wiring board without accumulating positional errors in alignment, in a method of manufacturing a build-up multilayer circuit wiring board wherein an insulation layer and a conductor layer are stacked in this order via an adhesive on the inner layer circuit wiring board having the alignment marks and conductor wiring patterns to form an outer layer, and then the conductor wiring circuit is formed in the conductor layer of the outer layer. <P>SOLUTION: The outer layer is stacked on the inner layer circuit wiring board so as not to cover the alignment marks formed in the inner layer circuit wiring board. With the alignment marks formed in the inner layer circuit wiring board as a reference, the conductor wiring patterns of an outer layer circuit and vias for electrically connecting the outer layer and the inner layer are formed. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体素子を搭載するビルドアップ多層回路配線板およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、電子・電気機器の小型化、軽量化に伴い、多層回路配線板の薄型化、高密度化が要望されている。この要望を満たすものとして内層回路配線板上に導体回路を逐次積み上げて形成される、ビルドアップ多層回路配線板が注目されている。
【0003】
ビルドアップ多層回路配線版の形成方法において導体層の形成方法としてアディティブ法、セミアディティブ法またはサブトラクティブ法が多く用いられている。
【0004】
アディティブ法、セミアディティブ法では、内層回路配線基板上に半透明の絶縁樹脂を積層した後、全面に無電解・電解のメッキ方法で導体層を形成するため、メッキ層形成前の導通穴加工工程にて、絶縁樹脂越しにアライメントマークを認識することができるが、導体層と絶縁層の密着力が低く信頼性に劣っている。また、積層した絶縁層の直下の導体回路配線基板に形成したアライメントマークを加工位置の基準として用いるため、多層化工程を3層以上に繰り返す場合には、積層毎に位置精度の誤差が蓄積される問題があった。
【0005】
一方、サブトラクティブ法では、内層回路配線基板に絶縁層及び導体層を積層した後、エッチング加工にて積層した導体層の不要部分を除去して導体配線回路を形成するため、密着力は高いが、表面から内層回路が視認できないため、内層回路と外装回路の位置合わせが困難であった。従来方法においては、内層回路形成時に同時に形成したアライメントマークをエンドミルドリル等を用いて表面から外層の導体層・絶縁層を穴加工して露出させ、これを基準として、外層回路配線基板のビアホール・外層回路の形成が行われていた。しかし、この方法では内層回路配線基板上のアライメントマークを残してミクロン単位の深さ制御をしてドリル加工することは非常に難しい技術であった。また、この方式でも積層した絶縁層の直下の導体回路配線基板に形成したアライメントマークを加工位置の基準として用いるため、多層化工程を3層以上に繰り返す場合には、積層毎に位置精度の誤差が蓄積される問題があった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
従来のビルドアップ多層回路配線板では、直前の導体配線パターンに形成されたアライメントマークを基準として位置決めを行う方法であり、ビアホールによって内層パターンと外層パターンの導通を確保するために、各層間の位置ズレを考慮して、外層パターンと内層パターンとの接続部分であるランド部等の部分を大きく形成する必要があり、回路の密度を高めることができなかった。さらに、位置ズレによって、ビルドアップを繰り返し行う場合に、アライメントの位置誤差が蓄積されていた。
【0007】
また、内層回路配線板上に、接着剤を介して、あらかじめ片面に導体層を有する絶縁樹脂を、導体層を外側にして積層して、外層の導体層に導体配線パターンを形成して成るビルドアップ多層回路配線板の製造するためには、外層の導体層として、金属層である銅を用いた場合、透明でないため、内層回路配線板のアライメントマークが隠れてしまい、確認することが困難であった。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明において上記課題を解決するために、請求項1の発明では、アライメントマークと導体配線パターンを有する内層回路配線板上に、接着剤を介して、絶縁層・導体層をその順に積層して外層とした後、外層の導体層に導体配線回路を形成して成るビルドアップ多層回路配線板の製造方法において、内層回路配線板に形成したアライメントマークを被覆しないように外層を積層して、内層回路配線板に形成したアライメントマークを基準として、外層回路の導体配線パターンおよび外層と内層を電気的に接続するビアを形成することを特徴とするビルドアップ多層回路配線板の製造方法としたものである。
【0009】
また、請求項2の発明では、請求項1記載のビルドアップ多層回路配線板の製造方法において、
(a)前記内層回路配線板の絶縁樹脂が、ポリイミド樹脂からなり、内層回路配線板に2つ以上の複数個のアライメントマークとなる基準穴を、金型を使用した抜き加工で同時に形成する工程、
(b)前記内層回路配線板の露出した複数個の基準穴であるアライメントマークが被覆しないように、接着剤を介して、あらかじめ片面に導体層を有するポリイミド樹脂からなる絶縁樹脂を、外側が導体層になるように張り合わせて積み上げ外層とする工程、
(c)前記内層回路配線板のアライメントマークを基準として、外層の配線パターンおよび外層と内層を電気的に接続するビアを形成する工程、
を含むことを特徴とするビルドアップ多層配線回路配線板の製造方法
としたものである。
【0010】
また、請求項3の発明では、前記内層回路配線板と、前記片面に導体層を有する絶縁樹脂がテープ状の長尺基材により供給されることを特徴とする請求項1または2記載のビルドアップ多層回路配線板の製造方法としたものである。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に関わる多層回路配線板の製造方法について詳述する。
【0012】
本発明に関わる多層回路配線板の製造方法は、まず、内層回路配線板を形成する絶縁層と導体層からなるコア基材にアライメントマーク、内層回路配線を形成する。このとき、アライメントマークを形成した後に、アライメントマークを基準として位置決めをして内層回路配線を形成する場合と、アライメントマークと内層回路配線を同時に形成する場合が考えられる。次に内層回路配線基板上に、接着剤を介して、絶縁層、導体層をこの順で積層する。このとき、内層回路配線基板上に設けたアライメントマーク上には絶縁層、導体層が被覆しないようにし、アライメントマークが露出した状態にしておく。次に露出した内層回路配線基板上のアライメントマークを基準として、外層のビアホール形成加工および導体配線加工を行い、外層回路配線を形成する。さらに必要に応じて、外層回路配線のビルドアップを同様の工程で繰り返す。
【0013】
導体配線パターン形成およびビアホール形成加工の位置決めの基準として使用するアライメントマークの形状は特に限定されるものではなく、円形型、ドーナツ型、四角型、井形等の中心部分または特定位置部分が確認できる形状が好ましい。特に円形型、ドーナツ型が好ましい。
【0014】
また、アライメントマークの数も特に限定されるものではなく、2点以上の複数で形成することにより、平面上での位置座標のズレの確認だけではなく、工程中での基板の伸縮量を確認して補正をすることも可能になる。アライメントマークの数は特に4点が好ましい。
【0015】
アライメントマークの形成方法は特に限定されるものでなく、フォトリソ法、穴あけ加工法等が考えられる。
【0016】
フォトリソ法では、フォトレジストによるアライメントマーク形成や、アディティブ法・セミアディティブ法またはサブトラクティブ法によるアライメントマーク形成が考えられる。この方式ではアライメントマーク形状を任意に設計することが可能である。また、工程によっては、内層回路配線とアライメントマークを同時に形成することも可能であり、位置精度が良好であり、更に工程数を減らせる利点もある。
【0017】
穴あけ加工法では、ドリル加工、レーザ加工または金型による打ち抜き加工などが考えられる。この方式では、加工した穴をアライメントマークとして使用するため、形状はほぼ円形型に限定される。このとき、アライメントマークとして貫通穴を形成した場合、同一のアライメントマークを内層回路配線基板の両面から確認可能であるため、両面にビルドアップ多層回路配線板を形成する場合に、両面の位置合わせが容易になる。特にアライメントマークの形成精度から判断すると、金型による打ち抜き加工が最適である。このとき、1回の露光およびビアホールの位置決めに必要な複数のアライメントマークは、同一の金型を使用した抜き加工で同時に加工することが望ましい。したがって、内層回路配線板に形成された貫通穴が、アライメントマークとして形成される。また、同時加工で形成するアライメントマーク間の形状と位置精度は、あらかじめ金型の精度によって確認する事ができ、高い繰り返し加工精度で形成することが可能である。
【0018】
アライメントマークの位置は、コア基材の導体配線形成面の外側、例えばコア基材の幅方向の両端部などに形成し、積層する外層基材の幅をコア基材のアライメントマークの間隔より狭くし、積層する外層基材が、コア基材の両端部に設けたアライメントマークより内側になるような位置に積層し、アライメントマーク部分はコア基材が露出しているようにする。これは多層化工程を3層以上に繰り返す場合も同様にする。
【0019】
また、積層する外層基材に、予めコア基材のアライメントマークより大きい開口部を設け、その開口部をコア基材のアライメントマークの位置に一致するように積層して、コア基材のアライメントマークを積層した外層基材の開口部内に確認できるようにする方式も良い。これは多層化工程を3層以上に繰り返す場合も同様にする。この方式では、コア基材と積層する外層基材の大きさをそろえることが出来るが、積層時にコア基材のアライメントマークが外層基材の開口部に入るよう、積層時にある程度の位置合わせが必要となる。このとき、アライメントマークの位置は特に限定されるものではないが、コア基材の導体配線形成面の外側が望ましい。
【0020】
なお、本発明による多層回路配線板の製造方法は、枚葉基板に限定されるものではなく、テープ状のフレキシブル基板を用いたロール・ツー・ロールの連続生産方法にも適用するものである。
【0021】
積層した上層回路配線の形成においては、コア基材上のアライメントマークを基準に露光、ビアホール加工の位置決めを行うようにする。
【0022】
アライメントマークは、製作する回路配線板の精度に応じ、その範囲を変えることができ、高精細な回路配線の場合には、アライメントマークの加工ピッチを狭くすることで対応できる。
【0023】
内層回路配線板の表裏に、逐次積み上げて形成される、外層回路の導体配線パターンおよび外層と内層を電気的に接続するビアを形成において、内層回路配線板に形成した同じアライメントマークを使用することができることが可能である。したがって、直前の導体配線パターンに形成されたアライメントマークを基準として位置決めを行う方法に比較して、位置誤差の蓄積が発生しない。
【0024】
次に積層工程について説明する。
少なくとも片面に配線パターンを有するフィルム上に、片面に導体層を有するフィルムを該導体層を外側にして積層して積層フィルムを形成するには、特に限定するものではないが、通常のプレスやラミネーター等の積層装置を利用でき、より好ましくは、気泡やボイドの発生を防ぐためには真空プレスや真空ラミネーターの利用が望ましい。また生産性に優れるという理由によりロール・ツー・ロール工程で生産することが望ましい。
【0025】
またロール・ツー・ロール工程とはフィルム搬送に関して、フィルムの巻き出し部および巻き取り部を備え、巻き出し巻き取り部の間に加工処理部を設けた工程の事である。
【0026】
積層は、接着剤からなる接着層を介して行う場合と、熱可塑性ポリイミドや液晶ポリマー等の熱可塑性を示す熱可塑性フィルムであれば、フィルム自体が接着性を有するので接着剤を新たに設けることなくフィルム単体で積層する場合があるが、耐熱性に優れた熱可塑性フィルムを用いる場合は、一般に加工温度が非常に高くなってしまうため、積層は加工プロセスの点から接着剤からなる接着剤を介して行うことが望ましい。無論、熱可塑性フィルムの場合でも更なる接着強度向上のため、接着層を介して積層してもよい。
【0027】
接着剤を介して積層しない場合、これに限定させるものではないが、例えば、熱可塑性フィルムを用いれば、フィルム自体が接着性を有するので、少なくとも片面に配線パターンを有するフィルム上に、片面に導体層を有するフィルムを該導体層を外側にして積層して積層フィルムを形成することができる。
【0028】
接着剤を介して積層する場合には、本発明に用いられる接着剤の形態としては、ワニスタイプ、フィルムタイプ等が考えられ、特に限定されるものではないが、生産性に優れる点でフィルムタイプであることが望ましい。
【0029】
ワニス接着剤を用いた場合の積層方法としては、これに限定されるものではないが、例えば、少なくとも片面に配線を有するフィルム上に接着剤を塗布することにより接着層を形成した後に片面に導体層を有するフィルムを積層する方法、予め片面に導体層を有するフィルムのフィルム側に接着剤を塗布した接着剤付きフィルムの接着層側を少なくとも片面に配線パターンを有するフィルム上に積層する方法等が例示できる。
【0030】
またフィルム状接着剤を用いた場合の積層方法としては、これに限定させるものではないが、例えば、少なくとも片面に配線を有するフィルム、接着フィルム、片面に導体層を有するフィルムを同時に積層する方法、少なくとも片面に配線を有するフィルムに接着フィルムをラミネートした後、片面に導体層を有するフィルムを積層する方法、予め片面に導体層を有するフィルムのフィルム側に接着フィルムをラミネートしておき、これを少なくとも片面に配線を有するフィルムに積層する方法等が例示できる。
【0031】
また、両面に配線を有するフィルム上に積層する場合には、片面ずつ積層する場合と、両面同時に積層する場合とがあり、特に限定されるものではないが、生産性に優れる点で両面同時に積層することが望ましい。
【0032】
次にビアホール用孔部の加工には機械ドリルや炭酸ガスレーザー光、紫外線レーザー光、エキシマーレーザー光等を用いることができる。機械ドリルは貫通孔のみを形成可能するのに対して、レーザー光を用いるドリル加工では貫通孔(スルーホール)および非貫通孔(ブラインドビア)の双方が形成可能である。
【0033】
前記レーザー光の種類には、炭酸ガスレーザー(波長9.3〜10.6μm)、YAG レーザー(基本波の波長1.06μm)、紫外線領域のYAG 、YLF 、YAP 、YVO4レーザー(第3高調波の波長355nm、第4高調波の波長266nm)およびエキシマレーザー(XeClの波長308nm、KrF の波長248nm、ArF の波長193nm)が現在、加工機のレーザー光として利用されている。炭酸ガスレーザーは1パルス当たりのエネルギー密度が最も高く、孔形成の処理速度は高速であるが微小径の形成には限界があり、おおよそφ50μm程度であると言われている。また金属の吸収波長とは違う波長帯であるために、導体層への直接加工を行うには、光エネルギー吸収を高めるために黒化処理等の特殊処理を行う必要がある。またエキシマーレーザーはガスレーザーであり、φ20μmのような微小径も加工可能であるが、高反射性の金属酸化膜マスクやレーザー媒体ガスの維持等の消耗品が高価なため量産には向かない。
【0034】
YAG 、YLF 、YAP 、YVO4といった固体結晶を励起して取り出したレーザー光を波長変換した紫外線レーザー光は、金属の吸収波長と重なるため導体層への直接加工が可能である。また加工点の焦点も炭酸ガスレーザーに比べ微小径まで絞ることができるので、φ30μm以下の微小径の孔形成も可能である。孔形成の速度が問題視されているが、レーザー光の高発振周波数化や加工ヘッドの多軸化により解決される方向にある。
【0035】
いずれの方式においても、加工作業台上に設置した基板に設けられたアライメントマークの位置をCCDカメラ等で視認し、それを基準として位置補正を行い、所望の位置に孔部の加工を行う機構を有する加工装置を使用する。
【0036】
次に配線加工手段として、エッチング処理を利用したサブトラクティブ法と、電解めっきを利用したセミアディティブ法が考えられる。
【0037】
サブトラクティブ法とセミアディティブ法を比較すると、サブトラクティブ法は工程数が少なく容易であることが特徴であり、セミアディティブ法はサイドエッチングの影響が大きいサブトラクティブ法に比べて、より微細な配線パターンの形成に有利である。
【0038】
上記の特徴より、多層回路配線板を製造する際、各層ごとに配線パターン形成手段を替えることにより、より微細なライン,アンド,スペースの配線パターンを有する多層回路配線基板を用意に得ることができる。即ち、微細な配線パターンを有する層はセミアディティブ法、それ以外の層はサブトラクティブ法で加工することが望ましい。
【0039】
どの程度から加工手段を切り替えるかの判断としては、要求される配線回路の膜厚にもよるが、配線ピッチが15〜30μm以下の場合には、サブトラクティブ法での加工は非常に困難であるため、セミアディティブ法を採用するのが望ましい。
【0040】
サブトラクティブ法の場合には、エッチングレジストとして感光性樹脂を用いて、フォトリソ法にて所望の配線パターンを形成することが望ましい。
【0041】
また、セミアディティブ法の場合には、めっきレジストとして感光性樹脂を用いて、フォトリソ法にて所望の配線パターンを形成することが望ましい。
【0042】
このとき、基板に設けられたアライメントマークの位置をCCDカメラ等で視認し、所望のパターンの遮光部を有するフォトマスクと基板の相対位置を所定の位置に微調整可能な機構をもつ露光装置を使用する。
【0043】
上記工程を行ない、4層の多層回路配線板を製造することができるが、更にもう1回繰り返せば、6層の多層回路配線板を製造することができる。
【0044】
【実施例】
以下、本発明に係る多層回路配線板の製造方法の実施例を説明する。尚、本発明に係る多層回路配線板の製造方法は、以下の実施例に限定されるものではない。
【0045】
内層回路配線板(コア基材)として、両面銅箔付ポリイミド基板2(銅/ポリイミド/銅→12/25/12μm構成)を用いた。まず、図1に示すように、幅W=105mmのテープ状である両面銅箔付ポリイミド基板2に、金型を使用した打ち抜き加工にて直径100μmφの貫通穴1を形成する。貫通穴1はテープ状の両面銅箔付ポリイミド基板2の両端に幅w1=95mmの間隔にて形成された2点を1組とし、それを両面銅箔付ポリイミド基板2の長手方向にP=90mmピッチにて等間隔に形成していく。
【0046】
次に、上記両面銅箔付ポリイミド基板2に脱脂処理を施した後、図3(a)に示すように、CCDカメラ7を装備したレーザ加工装置にて、基板2端部の貫通穴1をアライメントマークとして、CCDカメラにて位置認識したうえで補正をかけた位置にレーザ光線を照射して、孔加工を基板の上面から銅箔層2b、ポリイミド層2aを貫通し、ポリイミド層2aと下面側の銅箔層2bの境界面まで施し、ビアホール用孔部6aを設けた。孔加工には、波長355nmの紫外線レーザー光を用い銅、ポリイミドのそれぞれに10J/m、2J/mのエネルギー密度のレーザー光をそれぞれ5パルス、5パルス照射した。なお開口径はφ30μm、底部径はφ18μmであり、アスペクト比は0.6であった。レーザー加工後にはドロス除去として30℃、20%ペルオクソニ硫酸ナトリウム水溶液を用いた化学研磨を施した。またデスミア処理として70℃、10%過マンガン酸カリウム水溶液を用いた。
【0047】
スズ―パラジウムコロイドによるDPSの後に、硫酸銅225g/L、硫酸55g/L、塩素イオン60mg/L、添加剤20mLを含み浴温を25℃に保った電解めっきを行った。なお浴液は5L毎分のスプレーノズルを用いて攪拌した。1A/dmの電流密度を負荷し、ビアホールのアスペクト比が0.3になるまで20分間電解めっきを行った。次にアスペクト比が0になるまで2.5A/dmの電流密度を10分間負荷し、図3(b)に示すようにビアホール(フィルドビア)6bを形成した。
【0048】
次に、めっき工程により導体上に余分に析出しためっき銅を30℃、20%ペルオクソニ硫酸アンモニウム水溶液を用い、およそ60秒程度スプレー噴射して銅箔層2bの膜厚を約9μmまでソフトエッチング処理にて研磨した。
【0049】
次に、銅箔層2bの表面にポジ型液状レジストをロールコータにて塗布後、熱風及びIR乾燥炉にておよそ90℃、5分程度ポストベーク処理し、4μm厚のレジスト層5を形成した。
【0050】
次に、図3(c)に示すように、アライメント露光装置にて、両面銅箔付ポリイミド基板2端部の貫通穴1をアライメントマークとしてCCDカメラ7により位置認識し、フォトマスク8上の基準マーク8aとの補正位置合わせをした上で、レジスト層5を露光した。露光工程は両面銅箔付ポリイミド基板2の両面のレジスト層5に対してそれぞれに対応したフォトマスク8を用いて、それぞれ別に行った。
【0051】
その後、図3(d)に示すように、両面一括にて、有機アルカリ系現像液にて約90秒程度スプレー現像を行ってレジスト層5の露光部分を除去して、エッチングレジストを形成した。
【0052】
次に、図3(e)に示すように、上記両面銅箔付ポリイミド基板2の両面の銅箔層2bに比重1.36、液温50℃の塩化第二鉄液をおよそ30秒程度スプレー噴射してエッチング処理を施して加工した。
【0053】
次に、図3(f)に示すように、上記両面銅箔付ポリイミド基板2に4%水酸化ナトリウム水溶液をおよそ15秒程度スプレー噴射し、レジスト層5を剥離除去し、膜厚9μmの所定の回路パターンを有する内層回路配線基板を得ることが出来た。
【0054】
次に、内層回路配線基板の導体層と接着剤層の密着性を向上させるため、内層回路基板の両面に過酸化水素水/硫酸溶液をスプレー噴射して、導体層表面を1μm程度削り祖化を行った。
【0055】
次に、図3(g)に示すように、接着フィルム4を介在し、片面銅箔付きポリイミド基板3(銅/ポリイミド→12/13μm構成)を内装回路配線基板の両側に積層した。このために、まず内装回路配線基板の片面に、ポリエチレンテレフタレートの剥離フィルムに積層したゴム/エポキシ系接着フィルムを用い、接着剤(フィルム)層が配線基板の内側を向くようにして、180℃、3kg/cmでラミネーターによる仮圧着を行った。さらに剥離フィルムを剥離した後、片面銅箔付きポリイミドテープ基板3を銅箔面が配線基板の外側を向くように順に接着剤層に配置しラミネーターを用い180℃、3kg/cmで熱圧着した。この積層工程を内装回路配線基板の反対面にも同様に行った後、得られた積層基板を150℃で1時間加熱硬化を行った。接着フィルムの厚みは5μmである。このとき積層する外層基材としての片面銅箔付ポリイミド基板3及び接着フィルムは、図2に示すように、幅w2=90mmであり、内装回路配線板(両面銅箔付ポリイミド基板2)の幅方向の中央から±2mmの位置精度で貼り合わせて、内層回路配線版端部に形成したアライメントマークである貫通穴1に被覆しないようにした。
【0056】
その後、図3(h)〜(m)に示すように、4層配線回路基板を作製した。内装回路配線板形成時と同様に、まず内装回路配線板の端部に形成した貫通穴1をアライメントマークとして、両面に積層した片面銅箔付ポリイミド基板3に穴加工し(h)、ビアホールを形成した(i)。その後レジスト露光(j)、エッチングレジスト形成(k)、エッチング処理(l)、レジスト剥離(m)の工程を上記と同様にして経て、回路形成を上下それぞれ行い、4層配線回路基板を作製した。更にこれと同様に片面銅箔ポリイミド基板の積層〜回路形成の工程を繰り返すことにより6層配線回路基板を作成することができる。なお、上記工程は全てロール・ツー・ロール工程を用いた。
【0057】
【発明の効果】
本発明に係る多層回路配線板の製造方法では、内装回路配線板の端部に形成された貫通穴をアライメントマークとして使用するため、内層回路配線板の表裏に逐次積み上げて形成される外層回路の導体配線パターンおよび外層と内層を電気的に接続するビアを形成において、内層回路配線板に形成した同じアライメントマークを使用することができることが可能である。したがって、直前の導体配線パターンに形成されたアライメントマークを基準として位置決めを行う方法に比較して、ランド部等の部分を大きくする必要がなく回路の密度を高められ、位置誤差の蓄積が発生せず、内装回路配線と外層回路配線の位置合わせが良好であり層間の断線が発生しにくく、微細な配線回路パターンにも対応した多層配線回路板を作製することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の多層回路配線板の製造方法の実施例における基板を平面で示した説明図である。
【図2】本発明の多層回路配線板の製造方法の実施例における片面銅箔付ポリイミド基板を積層した基板を平面で示した説明図である。
【図3】本発明の多層回路配線板の製造方法の実施例を断面示した説明図である。
【符号の説明】
1:貫通穴
2:両面銅箔付ポリイミド基板(コア基材)
3:外層基材、片面銅箔付ポリイミド基板
2a、3a:ポリイミド層
2b、3b:銅箔層
4:接着剤フィルム
5:レジスト層
6a:ビアホール用孔部
6b:フィルドビア
7:CCDカメラ
8:フォトマスク
8a:フォトマスクの基準マーク
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a build-up multilayer circuit wiring board on which a semiconductor element is mounted and a method for manufacturing the same.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art In recent years, as electronic and electric devices have become smaller and lighter, there has been a demand for thinner and higher density multilayer circuit wiring boards. In order to satisfy this demand, attention has been paid to a build-up multilayer circuit wiring board formed by sequentially stacking conductive circuits on an inner-layer circuit wiring board.
[0003]
In a method of forming a build-up multilayer circuit wiring plate, an additive method, a semi-additive method, or a subtractive method is often used as a method of forming a conductor layer.
[0004]
In the additive method and the semi-additive method, after laminating a translucent insulating resin on the inner circuit wiring board and then forming a conductor layer on the entire surface by electroless / electrolytic plating, the conductive hole processing step before forming the plating layer However, the alignment mark can be recognized through the insulating resin, but the adhesion between the conductor layer and the insulating layer is low and the reliability is poor. In addition, since the alignment mark formed on the conductive circuit wiring board immediately below the laminated insulating layer is used as a reference for the processing position, when the multi-layering process is repeated for three or more layers, positional accuracy errors are accumulated for each lamination. Problem.
[0005]
On the other hand, in the subtractive method, after laminating an insulating layer and a conductor layer on an inner circuit wiring board, an unnecessary portion of the laminated conductor layer is removed by etching to form a conductor wiring circuit. In addition, since the inner layer circuit cannot be visually recognized from the surface, it is difficult to align the inner layer circuit and the outer circuit. In the conventional method, the alignment marks formed at the same time as the formation of the inner layer circuit are formed by exposing the outer conductor layer and the insulating layer from the surface by using an end mill drill or the like, and the via holes and the outer hole of the outer circuit wiring board are used as a reference. The formation of the outer layer circuit was performed. However, in this method, it is very difficult to perform a drilling process while controlling the depth in micron units while leaving the alignment mark on the inner circuit wiring board. Also in this method, since the alignment mark formed on the conductor circuit wiring board immediately below the laminated insulating layer is used as a reference for the processing position, when the multi-layering process is repeated for three or more layers, the positional accuracy error for each lamination. There was a problem that was accumulated.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
In the conventional build-up multilayer circuit wiring board, the positioning method is based on the alignment mark formed on the immediately preceding conductor wiring pattern, and in order to secure conduction between the inner layer pattern and the outer layer pattern by via holes, the position between each layer is required. In consideration of the deviation, it is necessary to form a large portion, such as a land portion, which is a connection portion between the outer layer pattern and the inner layer pattern, so that the circuit density cannot be increased. Further, when the build-up is repeatedly performed due to the positional deviation, alignment positional errors are accumulated.
[0007]
In addition, an insulating resin having a conductor layer on one side in advance is laminated on the inner layer circuit wiring board via an adhesive, with the conductor layer being on the outside, and a conductor wiring pattern is formed on the outer conductor layer. In order to manufacture a multi-layer circuit wiring board, when copper, which is a metal layer, is used as the outer conductor layer, the alignment mark of the inner circuit wiring board is hidden because it is not transparent, and it is difficult to confirm. there were.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problem in the present invention, in the invention of claim 1, an insulating layer and a conductive layer are laminated in this order on an inner circuit wiring board having an alignment mark and a conductive wiring pattern via an adhesive. In the method of manufacturing a build-up multilayer circuit wiring board, in which a conductor wiring circuit is formed on an outer conductor layer after forming an outer layer, an outer layer is laminated so as not to cover the alignment mark formed on the inner circuit wiring board, A method for manufacturing a build-up multilayer circuit wiring board, characterized by forming a conductor wiring pattern of an outer layer circuit and a via for electrically connecting an outer layer and an inner layer with reference to an alignment mark formed on the circuit wiring board. is there.
[0009]
According to a second aspect of the present invention, in the method for manufacturing a build-up multilayer circuit wiring board according to the first aspect,
(A) a step in which the insulating resin of the inner circuit wiring board is made of a polyimide resin and reference holes serving as two or more alignment marks are simultaneously formed in the inner circuit wiring board by punching using a mold; ,
(B) an insulating resin made of a polyimide resin having a conductor layer on one side in advance through an adhesive, and a conductor on the outside, so as not to cover the alignment marks as the plurality of exposed reference holes of the inner circuit wiring board; A process of laminating layers to form an outer layer,
(C) forming an outer layer wiring pattern and a via for electrically connecting the outer layer and the inner layer with reference to the alignment mark of the inner layer circuit wiring board;
And a method for manufacturing a build-up multilayer wiring circuit wiring board.
[0010]
Further, in the invention according to claim 3, the inner layer circuit wiring board and the insulating resin having the conductor layer on one side are supplied by a tape-shaped long base material. This is a method for manufacturing an up multilayer circuit wiring board.
[0011]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, a method for manufacturing a multilayer circuit wiring board according to the present invention will be described in detail.
[0012]
In the method for manufacturing a multilayer circuit wiring board according to the present invention, first, an alignment mark and an internal circuit wiring are formed on a core substrate composed of an insulating layer and a conductor layer forming the internal circuit wiring board. At this time, after forming the alignment mark, there are a case where the inner layer circuit wiring is formed by positioning with reference to the alignment mark, and a case where the alignment mark and the inner layer circuit wiring are formed simultaneously. Next, an insulating layer and a conductor layer are laminated on the inner layer circuit wiring board in this order via an adhesive. At this time, the insulating layer and the conductor layer are not covered on the alignment mark provided on the inner circuit wiring board, and the alignment mark is exposed. Next, an outer layer circuit wiring is formed by performing via hole forming processing and conductor wiring processing for the outer layer with reference to the exposed alignment marks on the inner circuit wiring board. Further, if necessary, the build-up of the outer layer circuit wiring is repeated in the same process.
[0013]
The shape of the alignment mark used as a reference for the positioning of the conductor wiring pattern formation and the via hole formation processing is not particularly limited, and a shape such as a circular shape, a donut shape, a square shape, a well shape or the like at which a central portion or a specific position portion can be confirmed. Is preferred. Particularly, a circular type and a donut type are preferable.
[0014]
In addition, the number of alignment marks is not particularly limited. By forming the alignment marks with two or more points, not only the deviation of the position coordinates on a plane but also the amount of expansion and contraction of the substrate during the process can be confirmed. It is also possible to perform correction. The number of alignment marks is particularly preferably four.
[0015]
The method for forming the alignment mark is not particularly limited, and a photolithography method, a drilling method, or the like can be used.
[0016]
In the photolithography method, formation of an alignment mark by a photoresist and formation of an alignment mark by an additive method, a semi-additive method, or a subtractive method are considered. In this method, the shape of the alignment mark can be arbitrarily designed. Further, depending on the process, it is also possible to form the inner layer circuit wiring and the alignment mark at the same time, and there is an advantage that the positional accuracy is good and the number of processes can be further reduced.
[0017]
In the drilling method, drilling, laser processing, punching with a die, or the like is conceivable. In this method, since the processed hole is used as an alignment mark, the shape is limited to a substantially circular shape. At this time, if a through hole is formed as an alignment mark, the same alignment mark can be confirmed from both sides of the inner layer circuit wiring board. Therefore, when forming a build-up multilayer circuit wiring board on both sides, alignment of both sides is required. It will be easier. In particular, judging from the accuracy of forming the alignment mark, punching with a die is optimal. At this time, it is desirable that a plurality of alignment marks necessary for one exposure and positioning of the via hole be simultaneously processed by punching using the same die. Therefore, the through holes formed in the inner layer circuit wiring board are formed as alignment marks. In addition, the shape and positional accuracy between alignment marks formed by simultaneous processing can be confirmed in advance by the accuracy of a mold, and it is possible to form with high repetitive processing accuracy.
[0018]
The position of the alignment mark is formed outside the conductor wiring forming surface of the core base material, for example, at both ends in the width direction of the core base material, and the width of the outer layer base material to be laminated is smaller than the interval between the alignment marks of the core base material. Then, the outer layer base material to be stacked is stacked at a position inside the alignment marks provided at both ends of the core base material, and the core material is exposed at the alignment mark portion. The same applies to the case where the multilayering process is repeated for three or more layers.
[0019]
In addition, an opening larger than the alignment mark of the core base material is provided in advance in the outer layer base material to be laminated, and the opening is laminated so as to match the position of the alignment mark of the core base material. It is also possible to use a method that allows confirmation in the opening of the outer layer base material on which is laminated. The same applies to the case where the multilayering process is repeated for three or more layers. With this method, the size of the outer layer substrate to be laminated with the core substrate can be made uniform, but some alignment is required during lamination so that the alignment mark of the core substrate enters the opening of the outer layer substrate during lamination. It becomes. At this time, the position of the alignment mark is not particularly limited, but is preferably outside the conductive wiring forming surface of the core base material.
[0020]
The method of manufacturing a multilayer circuit wiring board according to the present invention is not limited to a single-wafer substrate, but is also applicable to a roll-to-roll continuous production method using a tape-shaped flexible substrate.
[0021]
In forming the laminated upper layer circuit wiring, exposure and via hole processing are positioned based on the alignment marks on the core substrate.
[0022]
The range of the alignment mark can be changed according to the accuracy of the circuit wiring board to be manufactured. In the case of high-definition circuit wiring, it can be dealt with by narrowing the processing pitch of the alignment mark.
[0023]
Use the same alignment marks formed on the inner layer circuit board in forming the conductor wiring pattern of the outer layer circuit and the vias that electrically connect the outer layer and the inner layer, which are sequentially stacked on the front and back of the inner layer circuit board. It is possible to do. Therefore, accumulation of position errors does not occur as compared with the method of performing positioning based on the alignment mark formed on the immediately preceding conductor wiring pattern.
[0024]
Next, the laminating step will be described.
To form a laminated film by laminating a film having a conductor layer on one side with the conductor layer outside on a film having a wiring pattern on at least one side, it is not particularly limited, but a normal press or a laminator It is more preferable to use a vacuum press or a vacuum laminator in order to prevent the generation of bubbles and voids. In addition, it is desirable to produce in a roll-to-roll process because of excellent productivity.
[0025]
The roll-to-roll process refers to a process in which a film is provided with a film unwinding unit and a winding unit, and a processing unit is provided between the unwinding and winding units.
[0026]
Lamination is performed through an adhesive layer made of an adhesive, and if the thermoplastic film is a thermoplastic film such as a thermoplastic polyimide or a liquid crystal polymer, the film itself has an adhesive property, so that a new adhesive should be provided. However, when using a thermoplastic film with excellent heat resistance, the processing temperature generally becomes very high. It is desirable to do it through. Of course, even in the case of a thermoplastic film, it may be laminated via an adhesive layer in order to further improve the adhesive strength.
[0027]
When not laminated via an adhesive, the present invention is not limited to this.For example, if a thermoplastic film is used, the film itself has adhesiveness, so that at least one surface has a wiring pattern on a film, and one surface has a conductor. The laminated film can be formed by laminating a film having a layer with the conductor layer facing outward.
[0028]
When laminating via an adhesive, the form of the adhesive used in the present invention may be a varnish type, a film type, etc., and is not particularly limited, but the film type is excellent in productivity. It is desirable that
[0029]
The method of lamination in the case of using a varnish adhesive is not limited to this, for example, a conductor on one side after forming an adhesive layer by applying an adhesive on a film having wiring on at least one side A method of laminating a film having a layer, a method of laminating the adhesive layer side of a film with an adhesive in which an adhesive has been applied to the film side of a film having a conductor layer on one side in advance, on a film having a wiring pattern on at least one side Can be illustrated.
[0030]
The laminating method when using a film adhesive is not limited thereto, for example, a film having wiring on at least one side, an adhesive film, a method of simultaneously laminating a film having a conductor layer on one side, After laminating the adhesive film to the film having wiring on at least one side, a method of laminating a film having a conductor layer on one side, previously laminating the adhesive film on the film side of the film having the conductor layer on one side, at least A method of laminating on a film having wiring on one side can be exemplified.
[0031]
In addition, when laminating on a film having wiring on both sides, there is a case where lamination is performed on one side at a time and a case where both sides are laminated at the same time. It is desirable to do.
[0032]
Next, a mechanical drill, a carbon dioxide laser beam, an ultraviolet laser beam, an excimer laser beam, or the like can be used to process the via hole. While mechanical drills can form only through holes, drilling using laser light can form both through holes (through holes) and non-through holes (blind vias).
[0033]
The types of the laser light include a carbon dioxide laser (wavelength 9.3 to 10.6 μm), a YAG laser (wavelength of a fundamental wave 1.06 μm), a YAG, YLF, YAP, and YVO4 laser (third harmonic) in an ultraviolet region. 355 nm, the fourth harmonic wavelength 266 nm) and excimer laser (XeCl wavelength 308 nm, KrF wavelength 248 nm, ArF wavelength 193 nm) are currently used as laser beams for processing machines. The carbon dioxide gas laser has the highest energy density per pulse, and the processing speed for forming holes is high, but the formation of a small diameter is limited, and it is said that the diameter is about 50 μm. Further, since the wavelength band is different from the absorption wavelength of the metal, it is necessary to perform a special process such as a blackening process to enhance light energy absorption in order to directly process the conductor layer. The excimer laser is a gas laser, and can process even a small diameter such as φ20 μm, but is not suitable for mass production because expendable supplies such as a highly reflective metal oxide film mask and maintenance of laser medium gas are expensive.
[0034]
Ultraviolet laser light obtained by exciting a solid crystal, such as YAG, YLF, YAP, or YVO4, and converting the wavelength of the extracted laser light overlaps with the absorption wavelength of a metal, and can be directly processed into a conductor layer. Further, since the focal point of the processing point can be narrowed down to a minute diameter as compared with the carbon dioxide laser, a hole having a minute diameter of φ30 μm or less can be formed. Although the speed of hole formation is regarded as a problem, it is being solved by increasing the oscillation frequency of the laser beam and increasing the number of processing heads.
[0035]
In either system, the position of the alignment mark provided on the substrate placed on the processing work table is visually recognized with a CCD camera or the like, the position is corrected based on the position, and the hole is processed to the desired position. Is used.
[0036]
Next, as a wiring processing means, a subtractive method using an etching process and a semi-additive method using electrolytic plating are considered.
[0037]
Comparing the subtractive method and the semi-additive method, the subtractive method is characterized by a small number of steps and is easy, and the semi-additive method has a finer wiring pattern than the subtractive method, which is largely affected by side etching. Is advantageous for the formation of
[0038]
According to the above features, when manufacturing a multilayer circuit wiring board, a multilayer circuit wiring board having finer line, and, and space wiring patterns can be easily obtained by changing the wiring pattern forming means for each layer. . That is, it is desirable that a layer having a fine wiring pattern be processed by a semi-additive method and the other layers be processed by a subtractive method.
[0039]
The degree to which the processing means is switched depends on the required film thickness of the wiring circuit, but when the wiring pitch is 15 to 30 μm or less, processing by the subtractive method is very difficult. Therefore, it is desirable to adopt the semi-additive method.
[0040]
In the case of the subtractive method, it is desirable to form a desired wiring pattern by a photolithographic method using a photosensitive resin as an etching resist.
[0041]
Further, in the case of the semi-additive method, it is desirable to form a desired wiring pattern by a photolithographic method using a photosensitive resin as a plating resist.
[0042]
At this time, an exposure apparatus having a mechanism capable of visually adjusting the position of the alignment mark provided on the substrate with a CCD camera or the like and finely adjusting the relative position between the photomask having a light-shielding portion of a desired pattern and the substrate to a predetermined position. use.
[0043]
By performing the above steps, a four-layered multilayer circuit wiring board can be manufactured. However, by repeating this process once more, a six-layered multilayer circuit wiring board can be manufactured.
[0044]
【Example】
Hereinafter, an embodiment of a method for manufacturing a multilayer circuit wiring board according to the present invention will be described. The method for manufacturing a multilayer circuit wiring board according to the present invention is not limited to the following embodiments.
[0045]
A polyimide substrate 2 with double-sided copper foil (copper / polyimide / copper → 12/25/12 μm configuration) was used as the inner layer circuit wiring board (core substrate). First, as shown in FIG. 1, a through-hole 1 having a diameter of 100 μmφ is formed in a tape-shaped polyimide substrate 2 with a double-sided copper foil having a width W = 105 mm by punching using a mold. The through-hole 1 is a set of two points formed at both ends of the tape-shaped polyimide substrate 2 with a double-sided copper foil at intervals of a width w1 = 95 mm. They are formed at regular intervals at a pitch of 90 mm.
[0046]
Next, after performing the degreasing treatment on the polyimide substrate 2 with the double-sided copper foil, as shown in FIG. 3A, the laser processing device equipped with the CCD camera 7 cuts the through hole 1 at the end of the substrate 2. As an alignment mark, a laser beam is applied to the position where the position is recognized after being recognized by the CCD camera, and the hole is penetrated from the upper surface of the substrate through the copper foil layer 2b and the polyimide layer 2a. This was performed up to the boundary surface of the copper foil layer 2b on the side to form a via hole 6a. For the hole processing, an ultraviolet laser beam having a wavelength of 355 nm was used, and copper and polyimide were irradiated with 5 pulses and 5 pulses of a laser beam having an energy density of 10 J / m 2 and 2 J / m 2 , respectively. The opening diameter was φ30 μm, the bottom diameter was φ18 μm, and the aspect ratio was 0.6. After laser processing, dross removal was performed by chemical polishing using a 30% sodium peroxodisulfate aqueous solution at 30 ° C. In addition, a 10% aqueous solution of potassium permanganate was used at 70 ° C. for desmear treatment.
[0047]
After DPS with a tin-palladium colloid, electrolytic plating was performed containing 225 g / L of copper sulfate, 55 g / L of sulfuric acid, 60 mg / L of chloride ions, and 20 mL of an additive while maintaining the bath temperature at 25 ° C. The bath was stirred using a spray nozzle for every 5 L. A current density of 1 A / dm 2 was applied, and electrolytic plating was performed for 20 minutes until the aspect ratio of the via hole became 0.3. Next, a current density of 2.5 A / dm 2 was applied for 10 minutes until the aspect ratio became 0, and a via hole (filled via) 6b was formed as shown in FIG. 3B.
[0048]
Next, the copper plating extra deposited on the conductor in the plating step is spray-sprayed for about 60 seconds using a 20% aqueous solution of ammonium peroxodisulfate at 30 ° C. to perform a soft etching treatment until the film thickness of the copper foil layer 2b becomes about 9 μm. Polished.
[0049]
Next, a positive type liquid resist was applied on the surface of the copper foil layer 2b by a roll coater, and post-baked at about 90 ° C. for about 5 minutes in a hot air and IR drying furnace to form a resist layer 5 having a thickness of 4 μm. .
[0050]
Next, as shown in FIG. 3C, the position of the through-hole 1 at the end of the polyimide substrate 2 with copper foil on both sides is recognized as an alignment mark by the CCD camera 7 by the alignment exposure device, The resist layer 5 was exposed after the correction position was aligned with the mark 8a. The exposure process was performed separately on the resist layers 5 on both surfaces of the polyimide substrate 2 with double-sided copper foil using photomasks 8 corresponding to each.
[0051]
Thereafter, as shown in FIG. 3 (d), the exposed portions of the resist layer 5 were removed by spray-development with an organic alkali-based developer for about 90 seconds on both sides at a time to form an etching resist.
[0052]
Next, as shown in FIG. 3E, a ferric chloride solution having a specific gravity of 1.36 and a liquid temperature of 50 ° C. is sprayed on the copper foil layers 2b on both surfaces of the polyimide substrate 2 with double-sided copper foil for about 30 seconds. It was sprayed and processed by etching.
[0053]
Next, as shown in FIG. 3 (f), a 4% aqueous solution of sodium hydroxide is spray-sprayed on the polyimide substrate 2 with double-sided copper foil for about 15 seconds to peel off the resist layer 5 and remove the resist layer 5 to a predetermined thickness of 9 μm. The inner circuit wiring board having the above circuit pattern was obtained.
[0054]
Next, in order to improve the adhesion between the conductor layer and the adhesive layer of the inner circuit wiring board, a hydrogen peroxide solution / sulfuric acid solution is spray-sprayed on both surfaces of the inner circuit board, thereby shaving the surface of the conductor layer by about 1 μm. Was done.
[0055]
Next, as shown in FIG. 3 (g), a polyimide substrate 3 with a single-sided copper foil (copper / polyimide → 12/13 μm configuration) was laminated on both sides of the internal circuit wiring substrate with an adhesive film 4 interposed therebetween. For this purpose, first, a rubber / epoxy adhesive film laminated on a release film of polyethylene terephthalate is used on one side of the interior circuit wiring board, and the adhesive (film) layer faces the inside of the wiring board at 180 ° C. Temporary pressure bonding with a laminator was performed at 3 kg / cm. Further, after the release film was peeled off, the polyimide tape substrate 3 with single-sided copper foil was arranged on the adhesive layer in such a manner that the copper foil face was directed to the outside of the wiring board, and was thermocompressed at 180 ° C. and 3 kg / cm using a laminator. After this laminating step was similarly performed on the opposite surface of the interior circuit wiring board, the obtained laminated board was cured by heating at 150 ° C. for 1 hour. The thickness of the adhesive film is 5 μm. At this time, as shown in FIG. 2, the polyimide substrate 3 with copper foil on one side and the adhesive film as the outer layer base material to be laminated have a width w2 = 90 mm, and the width of the internal circuit wiring board (polyimide substrate 2 with copper foil on both sides). They were bonded with a positional accuracy of ± 2 mm from the center in the direction so as not to cover the through holes 1 which are alignment marks formed at the ends of the inner layer circuit wiring plate.
[0056]
Thereafter, as shown in FIGS. 3H to 3M, a four-layer wiring circuit board was manufactured. As in the case of forming the internal circuit wiring board, first, a hole is formed in the polyimide substrate 3 with a single-sided copper foil laminated on both sides using the through hole 1 formed at the end of the internal circuit wiring board as an alignment mark (h), and a via hole is formed. Formed (i). Thereafter, the steps of resist exposure (j), etching resist formation (k), etching treatment (l), and resist stripping (m) were performed in the same manner as described above, and circuit formation was performed in the upper and lower parts, respectively, to produce a four-layer wiring circuit board. . Further, similarly, by repeating the steps from lamination of the single-sided copper foil polyimide substrate to circuit formation, a six-layer wiring circuit board can be prepared. In addition, the above-mentioned processes all used the roll-to-roll process.
[0057]
【The invention's effect】
In the method for manufacturing a multilayer circuit wiring board according to the present invention, in order to use a through hole formed at an end of the internal circuit wiring board as an alignment mark, an outer layer circuit formed by successively stacking on the front and back of the inner circuit wiring board is used. It is possible to use the same alignment marks formed on the inner circuit wiring board in forming the conductor wiring patterns and vias that electrically connect the outer and inner layers. Therefore, compared to the method of performing positioning based on the alignment mark formed on the immediately preceding conductor wiring pattern, it is not necessary to increase the size of a land portion or the like, thereby increasing the circuit density, and accumulating position errors. In addition, the alignment between the interior circuit wiring and the outer layer circuit wiring is good, the interlayer is hardly disconnected, and it is possible to manufacture a multilayer wiring circuit board corresponding to a fine wiring circuit pattern.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory view showing a substrate in a plane in an embodiment of a method for manufacturing a multilayer circuit wiring board of the present invention.
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a plan view of a substrate on which a polyimide substrate with a single-sided copper foil is laminated in the embodiment of the method for manufacturing a multilayer circuit wiring board of the present invention.
FIG. 3 is an explanatory view showing a cross section of an embodiment of the method for manufacturing a multilayer circuit wiring board of the present invention.
[Explanation of symbols]
1: Through hole 2: Polyimide substrate with double-sided copper foil (core substrate)
3: Outer layer base material, polyimide substrate 2a with copper foil on one side 2a, 3a: Polyimide layer 2b, 3b: Copper foil layer 4: Adhesive film 5: Resist layer 6a: Via hole 6b: Filled via 7: CCD camera 8: Photo Mask 8a: fiducial mark of photomask

Claims (3)

アライメントマークと導体配線パターンを有する内層回路配線板上に、接着剤を介して、絶縁層・導体層をその順に積層して外層とした後、外層の導体層に導体配線回路を形成して成るビルドアップ多層回路配線板の製造方法において、内層回路配線板に形成したアライメントマークを被覆しないように外層を積層して、内層回路配線板に形成したアライメントマークを基準として、外層回路の導体配線パターンおよび外層と内層を電気的に接続するビアを形成することを特徴とするビルドアップ多層回路配線板の製造方法。An insulating layer and a conductor layer are laminated in that order on an inner circuit wiring board having an alignment mark and a conductor wiring pattern via an adhesive to form an outer layer, and then a conductor wiring circuit is formed on the outer conductor layer. In a method for manufacturing a build-up multilayer circuit wiring board, an outer layer is laminated so as not to cover an alignment mark formed on an inner circuit wiring board, and a conductor wiring pattern of an outer circuit is formed based on the alignment mark formed on the inner circuit wiring board. And forming a via for electrically connecting an outer layer and an inner layer. 請求項1記載のビルドアップ多層回路配線板の製造方法において、
(a)前記内層回路配線板の絶縁樹脂が、ポリイミド樹脂からなり、内層回路配線板に2つ以上の複数個のアライメントマークとなる基準穴を、金型を使用した抜き加工で同時に形成する工程、
(b)前記内層回路配線板の露出した複数個の基準穴であるアライメントマークが被覆しないように、接着剤を介して、あらかじめ片面に導体層を有するポリイミド樹脂からなる絶縁樹脂を、外側が導体層になるように張り合わせて積み上げ外層とする工程、
(c)前記内層回路配線板のアライメントマークを基準として、外層の配線パターンおよび外層と内層を電気的に接続するビアを形成する工程、
を含むことを特徴とするビルドアップ多層配線回路配線板の製造方法。
The method for manufacturing a build-up multilayer circuit wiring board according to claim 1,
(A) a step in which the insulating resin of the inner circuit wiring board is made of a polyimide resin and reference holes serving as two or more alignment marks are simultaneously formed in the inner circuit wiring board by punching using a mold; ,
(B) an insulating resin made of a polyimide resin having a conductor layer on one side in advance through an adhesive, and a conductor on the outside, so as not to cover the alignment marks as the plurality of exposed reference holes of the inner circuit wiring board; A process of laminating layers to form an outer layer,
(C) forming an outer layer wiring pattern and a via for electrically connecting the outer layer and the inner layer with reference to the alignment mark of the inner layer circuit wiring board;
A method for manufacturing a build-up multilayer wiring circuit wiring board, comprising:
前記内層回路配線板と、前記片面に導体層を有する絶縁樹脂がテープ状の長尺基材により供給されることを特徴とする請求項1または2記載のビルドアップ多層回路配線板の製造方法。3. The method for manufacturing a build-up multilayer circuit wiring board according to claim 1, wherein the inner circuit wiring board and the insulating resin having a conductor layer on one surface are supplied by a tape-shaped long base material.
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